JPH06331494A - 光線路試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 最適な測定条件を自動的に設定し、極めて効
率的に試験を行うことができる光線路試験方法を実現す
る。 【作用】 予備測定を自動的に繰り返し実行すること
で、光パルスが入射される光線路の近端から遠端までの
間に発生するフレネル反射区間をサーチし、サーチされ
たフレネル反射区間の開始ポイントｆｓおよび終了ポイ
ントｆｅを該光線路のマスク位置として設定する。これ
により、本測定時のマスク位置が自動的に設定されこと
になり、極めて効率良い光線路試験となる。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

【０００１】この発明は、光パルス試験器を用いて光線
路のケーブルや、コネクタ及び融着点における接続損失
を測定する光線路試験方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１０は、従来の光線路試験システムの
構成を示すブロック図である。この図において、１は試
験光となる光パルスを発生する光パルス試験器である。
この光パルス試験器１は、後述するマスク機能を具備す
る。２ａ〜２ｄは、それぞれ光ファイバケーブル、３ａ
〜３ｃは各ケーブル２ａ〜２ｄをそれぞれ接続するコネ
クタ、４はケーブル端末である。

【０００３】上記構成において、光パルス試験器１から
出力される光パルスは、光線路の開始部分である光ファ
イバ２ａに入射する。この光パルスは光線路をその終端
部分であるケーブル端末４に向けて伝播する。この伝播
の際、光パルスは光線路内の各部において散乱および反
射され、これにより後方散乱光および反射光の総和とな
る応答光が光パルス試験器１側で受光される。光パルス
試験器１は、受光した応答光を解析して光線路各部の損
失を求める。

【０００４】従来、こうした光線路試験方法により光線
路の伝送損失を測定する場合には、光パルス幅、測定時
間、受光アッテネータの減衰量、マスクをかける位置等
の測定条件をマニュアル操作により最適な値に調整して
いた。これら測定条件の内、時に、マスク位置の設定は
正確な測定を実行するのに必須なものとなる。例えば、
光ファイバケーブルの接続点等に大きなフレネル反射量
が存在すると、このフレネル反射量で光パルス試験器１
の受光部が飽和してしまい、この結果、応答波形が歪ん
で正確な伝送特性を得ることができなくなる。そこで、
このような波形歪みを防ぐために、設定された区間の応
答光を遮光する機能として上述したマスク機能が必要に
なる訳である。

【０００５】マスク機能を備える光パルス試験器１の動
作について図１１を参照して説明する。光パルス試験器
１は、ＣＰＵ１４の制御の下に、光源１６の発光動作と
受光部１７の受光動作とを制御すると共に、光方向性結
合器１８、増幅回路１９、平均処理部２０、対数変換部
２１、表示部２２、駆動回路２３、タイミング発生部２
４を一定時間動作させる。以下、これについて概説して
おく。

【０００６】まず、タイミング発生部２４は、ＣＰＵ１
４から供給されるタイミング信号に応じて駆動信号を発
生し、この駆動信号に従って駆動回路２３が光源１６か
ら光パルスを順次発生させる。光源１６から出力される
光パルスは、光方向性結合器１８を介して測定ファイバ
２（あるいは６）に入射される。測定光ファイバ２に入
射した光パルスは、当該ファイバ２内の各部において散
乱または反射され、これが後方散乱光または反射光から
形成される応答光となって入射端へ戻る。

【０００７】この時、ＣＰＵ１４は、光方向性結合器１
８内に配備されるＡ／Ｏスイッチを切り替えて光路を遮
り、応答光が受光部１７へ入射しないようにマスキング
する。ここで、Ａ／Ｏスイッチの切り替えタイミング
は、予めメモリ１２に記憶されるものであって、ＣＰＵ
１４はこれを読み出し、光パルス出力後に戻ってくる応
答光が光方向性結合器１８を通過するタイミングでＡ／
Ｏスイッチを切り替える。

【０００８】こうしてマスキングがなされた後、応答光
は受光部１７（プリアンプを含む）によって受光され、
受光アッテネータ１５および増幅回路１９を経て平均処
理部２０に供給される。平均処理部２０は、光源１６が
一定時間内に出力する各光パルスに対応した各応答波形
を平均化する。この平均化によって得られた応答波形
が、対数変換部２１によってｄＢ（デシベル）値に変換
され、対数表現された応答波形が表示部２２に表示され
る。そして、ＣＰＵ１４は、対数変換部２１から出力さ
れる対数表現された波形データｙをサンプリングしてメ
モリ１２に書き込む。

【０００９】次に、上述したマスク位置の設定について
図１２および図１３を参照して説明する。図１２および
図１３は、光線路試験システムにおいて求められる応答
光波形を例示したものである。これらの応答光波形にお
いて、２ａ，２ｂ，２ｃおよび２ｄは、それぞれ光ファ
イバケーブル区間に存在する後方散乱光を表しており、
その傾きから各ファイバケーブル２ａ〜２ｄの損失が求
められる。３Ａ，３Ｂおよび３Ｃは、それぞれコネクタ
３ａ，３ｂ，３ｃにおけるフレネル反射光を表し、４Ａ
はケーブル端末４からのフレネル反射光を表す。

【００１０】図１２は、区間２ｂ，２ｃ，２ｄにフレネ
ル反射による波形歪みが生じた場合の応答波形を例示し
ており、このような飽和した波形歪みが生じると、正確
な各部損失を求めることができない。そこで、従来の光
線路試験方法においては、このような波形歪みが発生す
る場合、これらフレネル反射区間２ｂ，２ｃ，２ｄに対
応する区間Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３を測定した後、これら区間
Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３をマスキングした状態で応答光波形を
測定するようにしている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述した従
来の光線路試験方法では、マスク位置や受光アッテネー
タの減衰量等の測定条件が予備測定の結果に応じて手動
調整される。したがって、測定条件を最適化するには、
人手による予備測定を繰り返し行う必要があり、非効率
的なものになってしまうという問題がある。この発明は
上述した事情に鑑みてなされたもので、最適な測定条件
を自動的に設定し、極めて効率的な試験を行うことがで
きる光線路試験方法を提供することを目的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段】この発明は、近端と遠端
とを接続する光線路に該近端から光パルスを入射すると
共に、該光線路で発生する後方散乱光およびフレネル反
射光からなる応答光を受光し、受光した応答光波形から
該光線路の伝送損失を測定する光線路試験方法におい
て、受光レベルを最適とした予備測定により第１の応答
光波形を取得し、該第１の応答光波形に存在するフレネ
ル反射区間を検出する第１のステップと、前記第１の過
程で検出されたフレネル反射区間が前記縁端に対応する
ものであるか否かを判定する第２のステップと、前記縁
端に対応するフレネル反射区間でないと判定された場
合、当該フレネル反射区間の受光レベルを最適な値に調
整して第２の応答光波形を取得し、この第２の応答光波
形に存在する前記フレネル反射区間のレベルがノイズレ
ベルを超えているか否かを判定する第３のステップと、
前記フレネル反射区間のレベルが前記ノイズレベルを超
えていない場合には、このフレネル反射区間を遮光する
マクス位置とする第４のステップと、前記フレネル反射
区間を含めた該光線路の近端区間を、次回に行われる予
備測定時のマスク位置として設定する第５のステップと
を備え、前記遠端に対応するフレネル反射区間を検出す
るまで前記第１〜第５のステップを繰り返して該光線路
の各マスク位置を設定することを特徴としている。

【００１３】

【作用】この発明によれば、予備測定を自動的に繰り返
し実行することで、光線路の近端から遠端までの間に発
生するフレネル反射区間をサーチし、サーチされたフレ
ネル反射区間の開始点および終了点を該光線路のマスク
位置として順次設定する。これにより、本測定時にはマ
スク位置が自動的に設定され、極めて効率的に試験を行
うことができる。

【００１４】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１は、この発明による光線路試験方法が
適用される光線路試験システムの構成を示すブロック図
である。なお、この図に示す光線路試験システムは、本
願発明の出願人によって出願された特願昭６３−３６３
４号明細書に開示されている。

【００１５】図１において、５は光伝送端局、６はＮチ
ャンネル分の光ファイバケーブル、７は光カプラ、８は
１×Ｎ光スイッチである。１×Ｎ光スイッチ８は、制御
装置９から供給される選択信号に応じて測定すべき所定
チャンネルの光ファイバケーブルを選択する。光パルス
試験器１は、この１×Ｎ光スイッチ８を介してＮ個ある
光カプラ７の内のいずれか１つに接続される。このシス
テムでは、制御装置９から出力される選択信号に応じて
伝送特性を測定する光ファイバケーブル６が指定され、
指定された光ファイバケーブル６に対して光パルス試験
器１が制御装置９から供給される各種制御コマンドに応
じて後述する試験動作を実行する。

【００１６】すなわち、制御装置９と光パルス試験器１
とは、汎用インタフェースであるＧＰ−ＩＢインタフェ
ース１３（図１１参照）を介してデータ授受を行うよう
に構成されており、制御装置９から出力される制御コマ
ンドをＣＰＵ１４が解釈して図２〜図７のフローチャー
トに示す動作を実行する。そして、光パルス試験器１か
ら出力される測定結果は、制御装置９を介して表示装置
１０に表示される。

【００１７】以下、制御装置９から出力される制御コマ
ンドに応じた光パルス試験器１（ＣＰＵ１４）の動作に
ついて図２〜図９を参照して説明する。なお、図２〜図
７に示すフローチャートは、メモリ１２（図１１参照）
に制御プログラムとして予め記憶されているものとす
る。また、この実施例では、５０００ポイントのデータ
を測定することができる光パルス試験器１を使用する場
合を想定し、測定した波形データｙはｙ（１）、ｙ
（２）・・・ｙ（５０００）という各ポイントの受光レ
ベル［ｄＢ］を表示するものとする。

【００１８】まず、ＣＰＵ１４がＧＰ−ＩＢインタフェ
ース１３を介して制御装置９から測定開始を表すスター
トコマンドを受けると、ＣＰＵ１４はこれを解釈してメ
モリ１２から制御プログラムを読み出して実行する。こ
れにより、ＣＰＵ１４は、図２に示すステップＳＡ１に
処理を進める。ステップＳＡ１では、ＧＰ−ＩＢインタ
フェース１３を介して制御装置９から供給される予備測
定パラメータに従って光パルス試験器１の各部を初期設
定する。ここで言う予備測定パラメータとは、測定パル
ス幅、測定波長、分解能、コアの屈折比等である。

【００１９】こうして予備測定パラメータがセットされ
ると、ＣＰＵ１４は次のステップＳＡ２に処理を進め
る。ステップＳＡ２では、考察点ｉを該光線路開始ポイ
ント、すなわちｉ＝１に設定し、これをメモリ１２に書
き込む。この考察点ｉとは、後述するように、フレネル
反射区間を探す際に使用するポイントを示す。そして、
ステップＳＡ３に進むと、ＣＰＵ１４は該光線路開始ポ
イントの受光レベルｙ（１）がＸ０［ｄＢ］になるよう
に受光アッテネータ１５の減衰量を調整する。このＸ０
値は、予備測定時（後述するステップＳＡ４で行う）に
ダイナミックレンジを最大とすることができるレベルで
あり、予め実験等により定められる値である。

【００２０】ステップＳＡ４では、予備測定パラメータ
に基づいた予備測定を行い、これにより得られた応答光
の波形データｙをメモリ１２に書き込む。この予備測定
にあっては、図１１に示す構成を備える光パルス試験器
１が次のように動作する。すなわち、タイミング発生部
２４がＣＰＵ１４から供給されるタイミング信号に応じ
て駆動信号を発生し、駆動回路２３が光源１６を駆動し
て光パルスを順次発生させる。この光パルスは、光方向
性結合器１８を介して測定ファイバ２に入射され、当該
ファイバ２内において散乱または反射される。この結
果、後方散乱光または反射光の総和となる応答光が入射
端へ戻って行く。

【００２１】この時、ＣＰＵ１４は、光方向性結合器１
８内に配備されるＡ／Ｏスイッチを切り替えて光路を遮
り、応答光が受光部１７へ入射しないようにマスキング
する。このマスキングは、ステップＳＡ１においてメモ
リ１２に書込まれた予備測定パラメータに基づいてマス
ク位置が設定される。こうして予備的なマスキングが施
された応答波形は、受光部１７によって受光され、受光
アッテネータ１５および増幅回路１９を介し平均処理部
２０に取り込まれる。平均処理部２０は、各光パルスに
対応した各応答波形を平均化し、平均化された応答波形
が、対数変換部２１によってデシベル値に変換される。
そして、この対数表現された波形データｙは、ＣＰＵ１
４によってメモリ１２に書込まれると共に、ＧＰ−ＩＢ
インタフェース１３を介して制御装置９に伝送され、該
装置９が波形データｙを表示装置１０に表示する。

【００２２】こうして予備測定がなされると、ＣＰＵ１
４はステップＳＡ５に処理を進める。ステップＳＡ５で
は、波形データｙにおける考察点ｉの受光レベルｙ
（ｉ）がＸ１［ｄＢ］であるか否か判定する。このＸ１
値は、予備測定時（ステップＳＡ８）にダイナミックレ
ンジを最大とすることができるレベルであり、予め実験
等で決められているものである。ここで、ｙ（ｉ）＝Ｘ
１となる場合には、考察点ｉの受光レベルｙ（ｉ）がＸ
１［ｄＢ］になるように受光アッテネータの減衰量が調
整されたことを示すので、判断結果は「ＹＥＳ」とな
り、後述するステップＳＡ９（図３参照）へ進む。

【００２３】一方、考察点ｉの受光レベルｙ（ｉ）がＸ
１［ｄＢ］でない時には、ここでの判断結果が「ＮＯ」
となり、この場合、受光アッテネータ１５の減衰量を調
整するため、次のステップＳＡ６へ処理を進める。ステ
ップＳＡ６では、考察点ｉの受光レベルｙ（ｉ）をＸ１
［ｄＢ］とする受光アッテネータ１５の調整量を算出す
る。次いで、ステップＳＡ７に進むと、ＣＰＵ１４は算
出した調整量に従って受光アッテネータ１５の減衰量を
調整する。

【００２４】ステップＳＡ８では、上記ステップＳＡ７
において調整した受光アッテネータ１５の減衰量に基づ
き再度予備測定を行い、波形データｙを得てこれをメモ
リ１２に書き込む。そして、このステップＳＡ８の処理
が完了すると、ＣＰＵ１４は再び上述したステップＳＡ
５を実行し、波形データｙにおける考察点ｉの受光レベ
ルｙ（ｉ）がＸ１［ｄＢ］になるまでステップＳＡ５〜
ＳＡ８を繰り返す。そして、ｙ（ｉ）＝Ｘ１となると、
ＣＰＵ１４は図３に示すステップＳＡ９に処理を進め
る。

【００２５】ステップＳＡ９では、考察点ｉが波形デー
タｙのポイント範囲を越えていないかを判定する。本実
施例では、５０００ポイントのデータを測定することが
できる光パルス試験器を使用しているため、ステップＳ
Ａ９では５０００＞ｉであるかを判定する。ここで、考
察点ｉが波形データｙのポイント範囲を超えたとする
と、判断結果は「ＮＯ」になり、後述するステップＳＡ
２７に処理を進める。一方、考察点ｉがポイント範囲内
にあれば、ここでの判断結果は「ＹＥＳ」となり、次の
ステップＳＡ１０に処理を進める。

【００２６】ステップＳＡ１０に進むと、ＣＰＵ１４は
考察点ｉとその隣の考察点ｉ＋１との受光レベル差ｙ
（ｉ＋１）−ｙ（ｉ）がＸ２値より大きいか否かを判断
する。このＸ２値とは、フレネル反射区間を識別するた
めの値であって、予め実験等で求めておくものである。
受光レベル差ｙ（ｉ＋１）−ｙ（ｉ）がＸ２値より大き
い時には、考察点ｉがフレネル反射区間の開始点にある
と見做される。ここで、例えば、受光レベル差ｙ（ｉ＋
１）−ｙ（ｉ）がＸ２値より小であるとすると、判断結
果が「ＮＯ」となり、ステップＳＡ１１に処理が進む。

【００２７】ステップＳＡ１１では、フレネル反射区間
をサーチすべく考察点ｉを１インクリメントし、再びス
テップＳＡ９に戻る。そして、以後、上記ステップＳＡ
９〜ＳＡ１１の処理を繰り返すことで、所定ポイント範
囲内におけるフレネル反射区間をサーチし、フレネル反
射区間の開始ポイントが検出された時点でステップＳＡ
１０の判断結果が「ＹＥＳ」となり、ステップＳＡ１２
に処理を進める。

【００２８】ステップＳＡ１２では、検出したフレネル
反射区間の開始ポイントｆｓを考察点ｉとする。すなわ
ち、フレネル反射区間の開始ポイントｆｓ＝ｉとして次
のステップＳＡ１３に進む。ここで、例えば、図７に図
示するようなフレネル反射区間が検出されたとする。そ
うすると、ステップＳＡ１３では、フレネル反射区間の
終了ポイントｆｅを、考察点ｉより遠端方向へＪ１ポイ
ント分離間したポイントとする。すなわち、ｆｅ＝ｉ＋
Ｊ１とする。このＪ１とは、フレネル反射区間の幅をポ
イント数で表したものであり、これは光パルスのパルス
幅や波長等に応じて予め決まる値である。

【００２９】フレネル反射区間が特定されると、ＣＰＵ
１４の処理は図４に示すステップＳＡ１４に進む。ステ
ップＳＡ１４〜ＳＡ１５では、フレネル反射区間後にお
ける応答光波形の裾引き傾斜部分から当該フレネル反射
がケーブル端末によって発生したものであるか否を判定
する。すなわち、ステップＳＡ１４〜ＳＡ１５の動作
を、図８を参照して説明すると、まず、ステップＳＡ１
４では、ポイント（ｆｅ＋Ｊ２）における受光レベルｙ
（ｆｅ＋Ｊ２）と、ポイント（ｆｅ＋Ｊ３）の受光レベ
ルｙ（ｆｅ＋Ｊ３）と間の傾斜を最小２乗法で直線近似
し、これによりフレネル反射後の波形傾きｋを求める。
この傾きｋは、次式（１）で求められる。

【数１】 なお、上記Ｊ２およびＪ３は、フレネル反射後の裾引き
の区間を示すポイント数であり、予め実験等で求められ
る値である

【００３０】次に、ステップＳＡ１５では、上記（１）
式に基づき算出した傾きｋが傾き値Ｘ４より大きいか否
かを判断する。この傾き値Ｘ４とは、フレネル反射がケ
ーブル端末で発生したものか、若しくはコネクタ等の接
続点で発生したものかを判定するしきい値に相当し、予
め実験等で求められる値である。そして、例えば、傾き
ｋが傾き値Ｘ４より大きい場合には、フレネル反射がケ
ーブル端末によって発生したものと見做され、判断結果
が「ＹＥＳ」となって後述するステップＳＡ２７に進
む。

【００３１】一方、判断結果が「ＮＯ」、すなわち、傾
きｋが傾き値Ｘ４より小さい場合には、ステップＳＡ１
６に進む。ステップＳＡ１６では、図９に示すように、
ポイント（ｆｅ＋Ｊ４）からポイント（ｆｅ＋Ｊ５）ま
での区間の平均受光レベルｙ０を次式（２）に従って算
出する。

【数２】 ここで、上記Ｊ４，Ｊ５は、それぞれフレネル反射後の
区間を表すポイント数であり、予め実験から得られる値
である。

【００３２】上記（２）式に基づいて平均受光レベルｙ
０が求められると、ＣＰＵ１４はステップＳＡ１７に処
理を進める。ステップＳＡ１７では、求めた平均受光レ
ベルｙ０がＸ５より小さいか否かを判定する。この値Ｘ
５は、フレネル反射がケーブル端末によるものか、もし
くはコネクタ等の接続点によるものかを判定する平均受
光レベルのしきい値を表すものである。この値Ｘ５は、
予め実験値として求められるものであって、メモリ１２
に記憶しておく。

【００３３】そして、例えば、このステップＳＡ１７の
判断結果が「ＹＥＳ」の場合、フレネル反射はケーブル
端末によって発生したと判定されて、図６に示すステッ
プＳＡ２７へ進む。これに対し、判断結果が「ＮＯ」の
場合には、次のステップＳＡ１８へ進む。ステップＳＡ
１８では、波形データｙからフレネル反射区間の終了ポ
イントｆｅの受光レベルｙ（ｆｅ）がＸ６［ｄＢ］であ
るか否かを判断する。この値Ｘ６は、予備測定時にダイ
ナミックレンジを最大とすることができるレベルであ
り、予め実験等で決められるものである。

【００３４】ここで、フレネル反射区間の終了ポイント
ｆｅの受光レベルｙ（ｆｅ）がＸ６［ｄＢ］であるとす
る。つまり、フレネル反射区間の開始ポイントｆｅの受
光レベルｙ（ｆｅ）がＸ６［ｄＢ］になるよう受光アッ
テネータ１５の減衰量が調整されている場合には、判断
結果が「ＹＥＳ」となり、後述するステップＳＡ２２
（図５参照）に進む。一方、このステップＳＡ１８の判
断結果が「ＮＯ」の場合、すなわち、終了ポイントｆｅ
の受光レベルｙ（ｆｅ）がＸ６［ｄＢ］でない時にはス
テップＳＡ１９に進む。

【００３５】ステップＳＡ１９では、フレネル反射区間
の終了ポイントｆｅの受光レベルｙ（ｆｅ）をＸ６［ｄ
Ｂ］とする受光アッテネータ１５の調整量を算出する。
次いで、ステップＳＡ２０に進むと、ＣＰＵ１４は算出
した調整量に従って受光アッテネータ１５の減衰量を設
定する。次いで、ステップＳＡ２１では、上記ステップ
ＳＡ２０において調整した受光アッテネータ１５の減衰
量に基づき再度予備測定を行い、波形データｙを得てこ
れをメモリ１２に書き込む。そして、このステップＳＡ
２１の処理が完了すると、ＣＰＵ１４は再び上述したス
テップＳＡ１８を実行し、波形データｙにおけるフレネ
ル反射区間の終了ポイントｆｅの受光レベルｙ（ｆｅ）
がＸ６［ｄＢ］になるまでステップＳＡ１９〜ＳＡ２０
を繰り返す。そして、ｙ（ｆｅ）＝Ｘ６となると、ＣＰ
Ｕ１４は図５に示すステップＳＡ２２に処理を進める。

【００３６】ステップＳＡ２２では、上記ステップＳＡ
２０において調整した受光アッテネータ１５の減衰量に
基づいて一定時間予備測定し、波形データｙを得る。次
いで、ステップＳＡ２３に進むと、ＣＰＵ１４は、測定
した波形データｙ中に存在するフレネル反射開始ポイン
トｆｓから終了ポイントｆｅの区間でフレネル反射量が
ノイズレベルＬを越えているか否かを判断する。このノ
イズレベルＬとは、予め実験で取得される値であって、
このレベルＬ以下のフレネル反射量をノイズと見做すた
めのしきい値に相当するものである。

【００３７】ここで、フレネル反射区間のフレネル反射
量がノイズレベルＬを超えない場合には、判断結果が
「ＮＯ」となり、後述するステップＳＡ２５に進む。一
方、フレネル反射量がノイズレベルＬを超えた場合に
は、判断結果が「ＹＥＳ」となり、次のステップＳＡ２
４に処理が進む。ステップＳＡ２４では、開始ポイント
ｆｓから終了ポイントｆｅまでのフレネル反射区間を本
測定時のマスキング区間として設定し、ステップＳＡ２
５に進む。

【００３８】次いで、ステップＳＡ２５では、開始ポイ
ント１からフレネル反射区間の終了ポイントｆｅまでの
区間全体を、次回の予備測定時のマスク位置として設定
する。これは、次回になされる予備測定時、近端区間の
波形が飽和しないようにするために行われる。そして、
ステップＳＡ２６へ進むと、考察点ｉをフレネル反射区
間終了ポイントｆｅより遠端方向へ１ポイント移動、す
なわち考察点ｉ＝ｆｅ＋１に設定する。次いで、この
後、ステップＳＡ４（図２参照）に戻り、再び前述した
過程を繰り返す。

【００３９】すなわち、ステップＳＡ２６以後、ＣＰＵ
１４は考察点ｉをフレネル反射区間を超えた点（ｆｅ＋
１）とし、ここから考察点ｉを順次１ポイントづつ増加
させて次のフレネル反射区間をサーチする。このサーチ
過程で、考察点ｉが波形データのポイント範囲を超えた
場合、あるいはサーチしたフレネル反射がケーブル端末
によって発生したものと見做された場合、図６に示すス
テップＳＡ２７に処理を進める。ステップＳＡ２７で
は、予備測定時のマスキング位置や、受光アッテネータ
１５の減衰量等、メモリ１２に書き込まれた設定を解除
する。

【００４０】以上のように、この実施例によれば、予備
測定を自動的に繰り返し実行することで、光線路の近端
から遠端までの間に発生するフレネル反射区間をサーチ
し、サーチされたフレネル反射区間の開始ポイントｆｓ
および終了ポイントｆｅを該光線路のマスク位置として
設定するため、本測定時のマスク位置が自動的に設定さ
れことになり、極めて効率良い光線路試験を行うことが
可能になる。なお、本実施例においては、光パルス試験
器１がＧＰ−ＩＢインタフェース１３を介して外部から
コマンド制御できるため、各種測定条件を自動設定する
等、取扱いが極めて容易になるという利点もある。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、予備測定を自動的に繰り返し実行することで、光線
路の近端から遠端までの間に発生するフレネル反射区間
をサーチし、サーチされたフレネル反射区間の開始点お
よび終了点を該光線路のマスク位置として順次設定する
ので、マスク位置や減衰量などの各種測定条件が最適、
かつ、自動的に設定され、極めて効率的に試験を行うこ
とができるという効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例が適用される光線路試験シ
ステムの構成を示すブロック図。

【図２】同実施例における試験動作を説明するためのフ
ローチャートである。

【図３】同実施例における試験動作を説明するためのフ
ローチャートである。

【図４】同実施例における試験動作を説明するためのフ
ローチャートである。

【図５】同実施例における試験動作を説明するためのフ
ローチャートである。

【図６】同実施例における試験動作を説明するためのフ
ローチャートである。

【図７】同実施例におけるフレネル反射区間を説明する
ための波形図である。

【図８】同実施例におけるフレネル反射区間を説明する
ための波形図である。

【図９】同実施例におけるフレネル反射区間を説明する
ための波形図である。

【図１０】従来の光線路試験システムの構成を示すブロ
ック図である。

【図１１】光パルス試験器１の構成を示すブロック図で
ある。

【図１２】従来の光線路試験における応答波形の一例を
説明するための図である。

【図１３】従来の光線路試験における応答波形の一例を
説明するための図である。

【符号の説明】

１…光パルス試験器、 １２…メモリ、 １３…ＧＰ−ＩＢインタフェース、 １４…ＣＰＵ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 近端と遠端とを接続する光線路に該近端
   から光パルスを入射すると共に、該光線路で発生する後
   方散乱光およびフレネル反射光からなる応答光を受光
   し、受光した応答光波形から該光線路の伝送損失を測定
   する光線路試験方法において、 受光レベルを最適とした予備測定により第１の応答光波
   形を取得し、該第１の応答光波形に存在するフレネル反
   射区間を検出する第１のステップと、 前記第１の過程で検出されたフレネル反射区間が前記縁
   端に対応するものであるか否かを判定する第２のステッ
   プと、 前記縁端に対応するフレネル反射区間でないと判定され
   た場合、このフレネル反射区間の受光レベルを最適な値
   に調整して第２の応答光波形を取得し、この第２の応答
   光波形に存在する前記フレネル反射区間のレベルがノイ
   ズレベルを超えているか否かを判定する第３のステップ
   と、 前記フレネル反射区間のレベルが前記ノイズレベルを超
   えていない場合には、このフレネル反射区間を遮光する
   マスク位置とする第４のステップと、 前記フレネル反射区間を含めた該光線路の近端区間を、
   次回に行われる予備測定時のマスク位置として設定する
   第５のステップとを備え、 前記遠端に対応するフレネル反射区間を検出するまで前
   記第１〜第５のステップを繰り返して該光線路の各マス
   ク位置を設定することを特徴とする光線路試験方法。