JPH0633073U - Coaxial probe contact pin connection terminal - Google Patents

Coaxial probe contact pin connection terminal

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JPH0633073U
JPH0633073U JP7062392U JP7062392U JPH0633073U JP H0633073 U JPH0633073 U JP H0633073U JP 7062392 U JP7062392 U JP 7062392U JP 7062392 U JP7062392 U JP 7062392U JP H0633073 U JPH0633073 U JP H0633073U
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JP
Japan
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contact pin
probe contact
connection terminal
tube
conductor
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Withdrawn
Application number
JP7062392U
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Inventor
和成 菅
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 外径を減少せしめて実装密度を向上した同軸
プローブコンタクトピン接続端子を提供する。 【構成】 内導体であるプローブコンタクトピン10の
ソケットチューブ31の外径と外導体であるアウターチ
ューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケ
ットチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペー
サ60により保持して空洞にすることにより内導体と外
導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめた同軸プ
ローブコンタクトピン接続端子。
(57) [Summary] [Purpose] To provide a coaxial probe contact pin connection terminal with an improved outer diameter and a reduced mounting density. An insulator in which the outer diameter of the socket tube 31 of the probe contact pin 10 which is an inner conductor and the inner diameter of the outer tube 22 which is an outer conductor are provided at two positions between the outer tube 22 and the socket tube 31. A coaxial probe contact pin connection terminal in which the overall relative permittivity ε r between the inner conductor and the outer conductor is reduced by holding it by the spacer 60 to form a cavity.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この考案は、同軸プローブコンタクトピン接続端子に関し、特に、外径を小と した同軸プローブコンタクトピン接続端子に関する。 The present invention relates to a coaxial probe contact pin connecting terminal, and more particularly to a coaxial probe contact pin connecting terminal having a small outer diameter.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

高精度の電気信号を伝送する場合、同軸プローブコンタクトピン接続端子につ いてもその特性インピーダンスを厳密に維持する必要がある。 ここで、特性インピーダンス:Z0 は下記の通りである。 Z0 =(60/√εr )ln R2/R1 (1) ここで、R1 :内導体の外径、R2 :外導体の内径、εr :絶縁体の比誘電率 である。When transmitting a highly accurate electric signal, it is necessary to maintain the characteristic impedance of the coaxial probe contact pin connection terminal strictly. Here, the characteristic impedance: Z 0 is as follows. Z 0 = (60 / √ε r ) ln R 2 / R 1 (1) where R 1 is the outer diameter of the inner conductor, R 2 is the inner diameter of the outer conductor, and ε r is the relative permittivity of the insulator. .

【0003】 同軸プローブコンタクトピン接続端子の実装密度を向上するために、接続端子 の外径を小としなければならない。接続端子の外径を小とする場合、即ちその内 径R2 を小とするに際して特性インピーダンスZ0 はそのまま一定に保持しなけ ればならないことは言うまでもない。式(1)において、内径R2 を減少せしめ て特性インピーダンスZ0 はそのまま一定に保持するには、外径R1 および絶縁 体の比誘電率εr を減少傾向にする必要がある。In order to improve the packaging density of the coaxial probe contact pin connection terminal, the outer diameter of the connection terminal must be small. It goes without saying that the characteristic impedance Z 0 must be kept constant as it is when the outer diameter of the connection terminal is made small, that is, when the inner diameter R 2 is made small. In the formula (1), in order to reduce the inner diameter R 2 and keep the characteristic impedance Z 0 constant, it is necessary to decrease the outer diameter R 1 and the relative permittivity ε r of the insulator.

【0004】 外径R1 を減少傾向にするというが、これは同軸プローブコンタクトピン接続 端子1においてそのプローブコンタクトピンの外径を減少せしめることである。 しかし、プローブコンタクトピンとして、従来、図3に示される様なものが使用 されていて、その外径を減少することは種々の理由で容易なことでははい。 これを図3を参照して説明するに、1は同軸プローブコンタクトピン接続端子 全体を示す。この同軸プローブコンタクトピン接続端子1は、同軸ケーブル40 の内導体41に接続する内導体用コンタクト部であるプローブコンタクトピン1 0、同軸ケーブル40の外導体42に接続する外導体用コンタクト部20、およ びプローブコンタクトピン10と外導体用コンタクト部20との間に介在して両 者を電気的に絶縁する絶縁体30より成る。31はソケットチューブであり、プ ローブコンタクトピン10に電気的機械的に結合すると共にこれを保持し、更に 同軸ケーブル40の内導体41が例えば半田付けにより電気的に接続せしめられ る。The outer diameter R 1 has a tendency to decrease. This means to reduce the outer diameter of the probe contact pin in the coaxial probe contact pin connection terminal 1. However, the probe contact pin shown in FIG. 3 has been conventionally used, and it is not easy to reduce the outer diameter of the probe contact pin for various reasons. This will be described with reference to FIG. 3. Reference numeral 1 denotes the entire coaxial probe contact pin connection terminal. The coaxial probe contact pin connection terminal 1 includes a probe contact pin 10 which is an inner conductor contact portion which is connected to an inner conductor 41 of the coaxial cable 40, an outer conductor contact portion 20 which is connected to an outer conductor 42 of the coaxial cable 40, And an insulator 30 interposed between the probe contact pin 10 and the outer conductor contact portion 20 to electrically insulate the two. Reference numeral 31 denotes a socket tube, which is electrically and mechanically coupled to and holds the probe contact pin 10, and the inner conductor 41 of the coaxial cable 40 is electrically connected by, for example, soldering.

【0005】 プローブコンタクトピン10は、先端にチップを有するプランジャ11、ボー ル121 、スプリング13、ボール122 、およびこれらを図示される通りに軸 方向に摺動可能に配列保持するはチューブ14より成る。スプリング13はプラ ンジャ11をボール121 を介してチューブ14に関して相対的に左方に駆動す るバイアス用のスプリングである。The probe contact pin 10 includes a plunger 11 having a tip at its tip, a ball 12 1 , a spring 13, a ball 12 2 , and a tube 14 for holding these in an axially slidable arrangement as shown in the drawing. Consists of The spring 13 is a biasing spring that drives the plunger 11 relatively leftward with respect to the tube 14 via the ball 12 1 .

【0006】 外導体用コンタクト部20はアウターリング21、アウターチューブ22、お よびアウタースプリング23より成る。アウタースプリング23はアウターリン グ21をアウターチューブ22に関して相対的に左方に駆動するスプリングであ る。アウターチューブ22には同軸ケーブル40の外導体42が例えば半田付け により電気的に接続せしめられる。The outer conductor contact portion 20 includes an outer ring 21, an outer tube 22, and an outer spring 23. The outer spring 23 is a spring that drives the outer ring 21 relatively leftward with respect to the outer tube 22. The outer conductor 42 of the coaxial cable 40 is electrically connected to the outer tube 22 by, for example, soldering.

【0007】[0007]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

上述のプローブコンタクトピン10は、プランジャ11、ボール121 、スプ リング13、ボール122 、およびこれらを図示される通りに軸方向に摺動可能 に配列保持するはチューブ14より成るものであって形状構造の複雑なものであ るところから、その外径を減少することは一般に容易なことではない。Probe contact pins 10 described above, the plunger 11, the ball 12 1, spray ring 13, ball 12 2, and is slidably arranged and held in the axial direction as illustrated them be those made of tubes 14 Due to the complexity of the geometric structure, it is generally not easy to reduce its outer diameter.

【0008】 この考案は、同軸プローブコンタクトピン接続端子の内導体と外導体との間に 存在する絶縁体の比誘電率εr を減少傾向にすることにより外径を減少した同軸 プローブコンタクトピン接続端子を提供するものである。The present invention is directed to a coaxial probe contact pin connection in which the outer diameter is reduced by decreasing the relative permittivity ε r of the insulator existing between the inner conductor and the outer conductor of the coaxial probe contact pin connection terminal. It provides a terminal.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】 内導体であるプローブコンタクトピン10のソケットチューブ31の外径と外 導体であるアウターチューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して空洞にす ることにより内導体と外導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめた同軸プ ローブコンタクトピン接続端子を構成した。[Means for Solving the Problem] Between the outer diameter of the socket tube 31 of the probe contact pin 10 which is the inner conductor and the inner diameter of the outer tube 22 which is the outer conductor, there are two portions between the outer tube 22 and the socket tube 31. A coaxial probe contact pin connection terminal was constructed in which the overall relative permittivity ε r between the inner and outer conductors was reduced by holding it in a cavity with an insulator spacer provided at the location.

【0010】[0010]

【実施例】【Example】

この考案の実施例を図1を参照して説明する。 内導体であるプローブコンタクトピン10のソケットチューブ31の外径と外 導体であるアウターチューブ22の内径との間をアウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して空洞にす ることにより内導体と外導体との間の全体の比誘電率εr を減少せしめる。An embodiment of this invention will be described with reference to FIG. The outer diameter of the socket tube 31 of the probe contact pin 10 which is the inner conductor and the inner diameter of the outer tube 22 which is the outer conductor are held by insulating spacers provided at two positions between the outer tube 22 and the socket tube 31. Then, by forming a cavity, the overall relative permittivity ε r between the inner conductor and the outer conductor is reduced.

【0011】 そして、プローブコンタクトピン10としては、最近当該実用新案登録出願人 の開発した図2に示される様なプローブコンタクトピンも採用することができる 。ここで、11はプランジャ、15はスパイラルスプリング、16はシャフト、 31はソケットチューブである。As the probe contact pin 10, a probe contact pin recently developed by the applicant for the utility model as shown in FIG. 2 can be adopted. Here, 11 is a plunger, 15 is a spiral spring, 16 is a shaft, and 31 is a socket tube.

【0012】[0012]

【考案の効果】[Effect of device]

以上の通りであって、この考案の同軸プローブコンタクトピン接続端子はアウ ターチューブ22とソケットチューブ31との間の2箇所に設けた絶縁体スペー サ60により両者間の絶縁間隙を保持するものであるからその大部分は大気によ り占有され、間隙が大気以外の絶縁体により占有される場合と比較して間隙全体 の比誘電率を小さくすることができる。従って、アウターチューブ22とソケッ トチューブ31との間の間隙全体の比誘電率を小さくすることができた分だけ、 これに対応して同軸プローブコンタクトピン接続端子の外径を減少せしめること ができる。これは同軸プローブコンタクトピン接続端子の実装密度を向上するこ とにつながる。 As described above, the coaxial probe contact pin connecting terminal of the present invention maintains the insulating gap between the outer tube 22 and the socket tube 31 by the insulating spacers 60 provided at two positions. Therefore, most of it is occupied by the atmosphere, and the relative permittivity of the entire gap can be made smaller than when the gap is occupied by an insulator other than the atmosphere. Therefore, as the relative permittivity of the entire gap between the outer tube 22 and the socket tube 31 can be reduced, the outer diameter of the coaxial probe contact pin connecting terminal can be correspondingly reduced. This leads to an increase in the packaging density of coaxial probe contact pin connection terminals.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この考案の同軸プローブコンタクトピン接続端
子を示す図。
FIG. 1 is a view showing a coaxial probe contact pin connection terminal of the present invention.

【図2】プローブコンタクトピンの一例を示す図。FIG. 2 is a view showing an example of a probe contact pin.

【図3】従来例を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 内導体であるプローブコンタクトピン 22 外導体であるアウターチューブ 31 ソケットチューブ 60 絶縁体スペーサ 10 Probe contact pin which is an inner conductor 22 Outer tube which is an outer conductor 31 Socket tube 60 Insulator spacer

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 内導体であるプローブコンタクトピンの
ソケットチューブの外径と外導体であるアウターチュー
ブの内径との間をアウターチューブとソケットチューブ
との間の2箇所に設けた絶縁体スペーサにより保持して
空洞にすることにより内導体と外導体との間の全体の比
誘電率を減少せしめたことを特徴とする同軸プローブコ
ンタクトピン接続端子。
1. An insulator spacer provided between the outer diameter of the socket tube of the probe contact pin, which is the inner conductor, and the inner diameter of the outer tube, which is the outer conductor, is provided at two locations between the outer tube and the socket tube. The coaxial probe contact pin connecting terminal is characterized in that the relative permittivity of the whole between the inner conductor and the outer conductor is reduced by forming a hollow.
JP7062392U 1992-10-09 1992-10-09 Coaxial probe contact pin connection terminal Withdrawn JPH0633073U (en)

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JP7062392U JPH0633073U (en) 1992-10-09 1992-10-09 Coaxial probe contact pin connection terminal

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JPH0633073U true JPH0633073U (en) 1994-04-28

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JP7062392U Withdrawn JPH0633073U (en) 1992-10-09 1992-10-09 Coaxial probe contact pin connection terminal

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073451A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 Matsushita Electric Works, Ltd. High frequency circuit impedance measuring probe for inner-layer-containing laminated sheet used for multi-layer printed board

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001073451A1 (en) * 2000-03-28 2001-10-04 Matsushita Electric Works, Ltd. High frequency circuit impedance measuring probe for inner-layer-containing laminated sheet used for multi-layer printed board

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