JPH06319732A - 超音波診断装置 - Google Patents

超音波診断装置

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JPH06319732A
JPH06319732A JP5112588A JP11258893A JPH06319732A JP H06319732 A JPH06319732 A JP H06319732A JP 5112588 A JP5112588 A JP 5112588A JP 11258893 A JP11258893 A JP 11258893A JP H06319732 A JPH06319732 A JP H06319732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
ultrasonic probe
mos
control
probe
Prior art date
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Pending
Application number
JP5112588A
Other languages
English (en)
Inventor
Akifumi Akama
昭文 赤間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP5112588A priority Critical patent/JPH06319732A/ja
Publication of JPH06319732A publication Critical patent/JPH06319732A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 C−MOS−ICへの電源供給用のI/Oピ
ンがなくても、超音波プローブに内蔵のC−MOS−I
Cを動作させることができる超音波診断装置を提供する
ことにある。 【構成】 装置本体2から超音波プローブ1へ送出され
る制御信号によって電荷がチャージされるデカップリン
グコンデンサ4をROM5及び制御回路6とともにC−
MOS−IC3Aに組込むことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばプローブ情報や
送受信条件等の機能を超音波プローブに付加することに
より使い勝手が向上されたものとなる超音波診断装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の超音波診断装置は、超音
波プローブに付加すべく適宜選定したプローブ情報や送
受信条件等の機能を実行するための情報が格納された記
憶手段及びこの記憶手段に対し読出し制御を行って上記
した機能を実行させる制御手段をプローブヘッドあるい
はプローブコネクタに搭載した超音波プローブを、装置
本体に対し接離可能に設けることにより、前述のように
使い勝手の向上を図れるようにしていた。
【0003】特に、近年では、C−MOS−ICが低消
費電力というすぐれた特徴を持つことに着目して、上記
の記憶手段及び制御手段がC−MOS−ICに組込むよ
うになった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実装上
の制約から装置本体と超音波プローブとの間に、C−M
OS−ICを動作させる電源を供給するためのI/Oピ
ンを確保することができないことも多い。そして、この
ようにI/Oピンを確保するこてができない場合、プロ
ーブ情報や送受信条件等の機能を超音波プローブに付加
することができないという不具合が生じた。
【0005】本発明は、上記した事情に着目してなされ
たもので、その目的とするところは、C−MOS−IC
への電源供給用のI/Oピンがなくても、超音波プロー
ブに内蔵のC−MOS−ICを動作させることができる
超音波診断装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、超音波プローブに付加すべく適宜選定し
た機能を実行するための情報が格納される記憶手段及び
該記憶手段に対し読出し制御を行って前記機能を実行さ
せる制御手段を搭載した超音波プローブと、該超音波プ
ローブによる超音波の送受波にて得られる受信信号を基
に超音波像を作成して表示することができる装置本体と
を備えた超音波診断装置において、前記超音波プローブ
は、前記装置本体から受ける信号によって充電される電
荷蓄積手段を前記記憶手段及び前記制御手段とともにC
−MOS−ICに組込み、当該C−MOS−ICでは、
前記電荷蓄積手段の充電電荷を電源として前記制御手段
を動作させることを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明による超音波診断装置であれば、C−M
OS−ICでは装置本体から超音波プローブへ加わる制
御信号によって電荷が充電される電荷蓄積手段を記憶手
段及び制御手段とともに組込んでいるので、電荷蓄積手
段に充電される電荷を電源として制御手段を動作させる
ことになる。従って、C−MOS−ICへの電源供給用
のI/Oピンを別途設けなくても、超音波プローブに付
加すべく適宜選定した例えばプローブ情報や送受信条件
等の機能を実行させることができる。
【0008】
【実施例】図1及び図2は、本発明が適用された超音波
診断装置における第1及び第2の各実施例の制御系の概
略をそれぞれ示す回路図である。この超音波診断装置
は、図3のように超音波プローブ1と装置本体2とを備
えており、また超音波プローブ1はプローブコネクタ1
Aからプローブヘッド1Bまでケーブル1Cにより接続
して構成される。また、超音波プローブ1のプローブコ
ネクタ1Aあるいはプローブヘッド1Bに、第1実施例
では、図1のようにC−MOS−IC3Aを、また第2
実施例では図2のようにC−MOS−IC3Bを備え
る。
【0009】そして、C−MOS−IC3A(3B)
は、装置本体2から受ける制御信号によって充電される
デカップリングコンデンサ4と、超音波プローブに付加
すべく適宜選定した機能を実行するための情報が格納さ
れるROM5と、このROM5に対し読出し制御を行っ
て上記の機能を実行させる制御回路6と、この制御回路
6の動作範囲を確保するために信号入力端子Sinと電源
端子Vccとの間に入力信号の過電圧保護用のダイオード
8を設けた入力保護回路7A(7B)とを備える。
【0010】更に、装置本体2から超音波プローブ1へ
は制御信号として、例えば図4のようなタイミングで送
信期間が受信期間を定める超音波レート信号RATEや
機能選択用の制御信号S1が送出される。
【0011】そこで、第1実施例の場合、機能選択用の
制御信号S1をデカップリングコンデンサ4へのチャー
ジ用に用いる。即ち、デカップリングコンデンサ4は、
制御信号S1から抵抗9、ダイオード8を介して電荷が
+5V−0.7V=+4.3Vにチャージされる。この
ようにデカップリングコンデンサ4にチャージされた電
荷を電源として次段の制御回路6を動作させ、ROM5
の読出し制御を行える。なお、制御回路6を動作させる
ために必要な電流は小さく、デカップリングコンデンサ
4の充電電荷で十分供給可能である。また、入力保護回
路7Aの入力段にシリーズに挿入された抵抗9は、ダイ
オード8を介してデカップリングコンデンサ4に流れ込
む電流を制限するもので、ダイオード8の過電流破壊を
防いでいる。例えばダイオード8を流れる電流を20m
A以下に制御するためには抵抗9の抵抗値Rを R=
(5−0.7)/20×10-3=215(Ω)とすれば
よい。
【0012】また、第2実施例の場合、超音波レート信
号RATEをデカップリングコンデンサ4へのチャージ
に用いる。即ち、デカップリングコンデンサ4は、超音
波レート信号RATEから外付けの抵抗11、ダイオー
ド10を介して電荷がチャージされる。なお、抵抗11
はダイオード10の過電流保護用のもので、上記第1実
施例における抵抗9とダイオード8との関係を満足する
様に定数を決定できる。以下、上記第1実施例と同様に
デカップリングコンデンサ4にチャージされた電荷を電
源として制御回路6を動作することができる。
【0013】前述の如く、本発明の各実施例によれば、
C−MOS−ICでは、装置本体からの制御信号によっ
てデカップリングコンデンサにチャージされた電荷を電
源として制御回路を動作させるため、装置本体から超音
波プローブへの電源供給用のI/Oピンを不要とするこ
とができる。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、装
置本体から超音波プローブへの電源供給用のI/Oピン
を不要とすることができるので、I/Oピンの数に制約
がある場合でも、プローブ情報や送受信条件等の機能を
超音波プローブに付加することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用された超音波診断装置における第
1実施例の制御系の概略を示す回路図である。
【図2】本発明が適用された超音波診断装置における第
2実施例の制御系の概略を示す回路図である。
【図3】超音波診断装置における超音波プローブと装置
本体との接続状態の概略を示す図である。
【図4】装置本体から超音波プローブへの制御信号の例
を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
1 超音波プローブ 2 装置本体 3A,3B C−MOS−IC 4 デカップリングコンデンサ 5 ROM 6 制御回路 7A,7B 入力保護回路 8 ダイオード 9 抵抗 10 ダイオード 11 抵抗

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波プローブに付加すべく適宜選定し
    た機能を実行するための情報が格納される記憶手段及び
    該記憶手段に対し読出し制御を行って前記機能を実行さ
    せる制御手段を搭載した超音波プローブと、該超音波プ
    ローブによる超音波の送受波にて得られる受信信号を基
    に超音波像を作成して表示することができる装置本体と
    を備えた超音波診断装置において、 前記超音波プローブは、前記装置本体から受ける制御信
    号によって充電される電荷蓄積手段を前記記憶手段及び
    前記制御手段とともにC−MOS−ICに組込み、当該
    C−MOS−ICでは、前記電荷蓄積手段の充電電荷を
    電源として前記制御手段を動作させることを特徴とする
    超音波診断装置。
JP5112588A 1993-05-14 1993-05-14 超音波診断装置 Pending JPH06319732A (ja)

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ID=14590502

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170096421A (ko) * 2016-02-16 2017-08-24 삼성메디슨 주식회사 빔포밍을 수행하는 방법 및 빔포머.

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170096421A (ko) * 2016-02-16 2017-08-24 삼성메디슨 주식회사 빔포밍을 수행하는 방법 및 빔포머.
WO2017142134A1 (ko) * 2016-02-16 2017-08-24 삼성메디슨 주식회사 빔포밍을 수행하는 방법 및 빔포머

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