JPH06314339A - 画像の直線成分抽出装置 - Google Patents
画像の直線成分抽出装置Info
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- JPH06314339A JPH06314339A JP5135718A JP13571893A JPH06314339A JP H06314339 A JPH06314339 A JP H06314339A JP 5135718 A JP5135718 A JP 5135718A JP 13571893 A JP13571893 A JP 13571893A JP H06314339 A JPH06314339 A JP H06314339A
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/48—Extraction of image or video features by mapping characteristic values of the pattern into a parameter space, e.g. Hough transformation
Abstract
(57)【要約】
［目的］ 画素構成による画像のエッジ点列に対してハ
フ変換を施し、そのハフ変換の関数値にしたがうヒスト
グラムを作成し、そのヒストグラムのなかからピーク点
を順次検出して画像中に存在する複数の直線成分を抽出
していくに際して、ヒストグラムのなかから偽のピーク
点を効率良く除去して、真のピーク点のみを検出する。 ［構成］ ヒストグラムのなかのある注目ピーク点がそ
のヒストグラムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄
与量とを求めて、その範囲内において、求められた寄与
量にしたがって、他のピーク点のヒストグラム頻度を修
正してヒストグラムを部分的に書き換えていくようにす
る。
フ変換を施し、そのハフ変換の関数値にしたがうヒスト
グラムを作成し、そのヒストグラムのなかからピーク点
を順次検出して画像中に存在する複数の直線成分を抽出
していくに際して、ヒストグラムのなかから偽のピーク
点を効率良く除去して、真のピーク点のみを検出する。 ［構成］ ヒストグラムのなかのある注目ピーク点がそ
のヒストグラムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄
与量とを求めて、その範囲内において、求められた寄与
量にしたがって、他のピーク点のヒストグラム頻度を修
正してヒストグラムを部分的に書き換えていくようにす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ハフ （Ｈｏｕｇｈ）
変換を利用して画像のなかから直線成分を抽出する画像
の直線成分抽出装置に関する。
変換を利用して画像のなかから直線成分を抽出する画像
の直線成分抽出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図６に示すように、いま、Ｘ−Ｙ座標上
における直線Ｌを構成する画素の点列の各点（ｘ，ｙ）
をそれぞれハフ関数（ρ＝ｘ＊ｃｏｓθ＋ｙ＊ｓｉｎ
θ）であらわされる曲線に変換すると、図７に示すよう
になり、そのハフ座標ρ−θ上の点Ｐｏ（ρｏ，θｏ）
で交わり、その交点ＰｏがＸ−Ｙ座標上の直線Ｌを代表
するものとなる。
における直線Ｌを構成する画素の点列の各点（ｘ，ｙ）
をそれぞれハフ関数（ρ＝ｘ＊ｃｏｓθ＋ｙ＊ｓｉｎ
θ）であらわされる曲線に変換すると、図７に示すよう
になり、そのハフ座標ρ−θ上の点Ｐｏ（ρｏ，θｏ）
で交わり、その交点ＰｏがＸ−Ｙ座標上の直線Ｌを代表
するものとなる。
【０００３】したがって、直線Ｌ上の各点のハフ変換の
関数値を算出してヒストグラムを作成し、そのヒストグ
ラム頻度が最大となるピーク点を検出すれば、その交点
Ｐｏを求めることができる。そして、その交点Ｐｏ（ヒ
ストグラム上のピーク点）を通過する各ハフ関数曲線に
対応するＸ−Ｙ座標上の点列が直線Ｌであると判定する
ことができる。
関数値を算出してヒストグラムを作成し、そのヒストグ
ラム頻度が最大となるピーク点を検出すれば、その交点
Ｐｏを求めることができる。そして、その交点Ｐｏ（ヒ
ストグラム上のピーク点）を通過する各ハフ関数曲線に
対応するＸ−Ｙ座標上の点列が直線Ｌであると判定する
ことができる。
【０００４】このような考え方にもとづいて、画素構成
によるデジタル画像を微分処理することによつて得られ
る画像エッジの点列に対してハフ変換を施し、そのハフ
変換の関数値にしたがうヒストグラムを作成し、そのヒ
ストグラム頻度のピーク点を検出して、画像のなかから
その検出されたピーク点に対応する直線成分を抽出する
ようにした画像の直線成分抽出装置が開発されている。
によるデジタル画像を微分処理することによつて得られ
る画像エッジの点列に対してハフ変換を施し、そのハフ
変換の関数値にしたがうヒストグラムを作成し、そのヒ
ストグラム頻度のピーク点を検出して、画像のなかから
その検出されたピーク点に対応する直線成分を抽出する
ようにした画像の直線成分抽出装置が開発されている。
【０００５】しかして、このようなものにあっては、画
像のなかに複数の直線成分が存在する場合、各線分のハ
フ関数曲線が互いに干渉しあってヒストグラム中に偽の
ピーク点が局所的にあらわれて、真のピーク点に対応す
る直線成分の抽出を妨害するようになる。
像のなかに複数の直線成分が存在する場合、各線分のハ
フ関数曲線が互いに干渉しあってヒストグラム中に偽の
ピーク点が局所的にあらわれて、真のピーク点に対応す
る直線成分の抽出を妨害するようになる。
【０００６】すなわち、画像中に複数の直線成分が存在
すると、各線分のハフ関数曲線の交点によるそれぞれの
真のピーク点以外に、各線分のハフ関数曲線が相互に交
叉することによる偽のピーク点が真のピーク点の近傍に
あらわれてしまう。
すると、各線分のハフ関数曲線の交点によるそれぞれの
真のピーク点以外に、各線分のハフ関数曲線が相互に交
叉することによる偽のピーク点が真のピーク点の近傍に
あらわれてしまう。
【０００７】いま、図８に示すようなＸ−Ｙ座標上の複
数の直線Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃにおける各線分の両端の点Ｑ
１〜Ｑ４をそれぞれハフ変換すると、図９に示すような
ハフ座標ρ−θにおけるハフ関数曲線Ｃ１〜Ｃ４が得ら
れる。
数の直線Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃにおける各線分の両端の点Ｑ
１〜Ｑ４をそれぞれハフ変換すると、図９に示すような
ハフ座標ρ−θにおけるハフ関数曲線Ｃ１〜Ｃ４が得ら
れる。
【０００８】ここで、点Ｑ１がハフ関数曲線Ｃ１に、点
Ｑ２がハフ関数曲線Ｃ２に、点Ｑ３がハフ関数曲線Ｃ３
に、点Ｑ４がハフ関数曲線Ｃ４にそれぞれ対応してい
る。また、直線Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃにそれぞれ対応するヒ
ストグラム上の真のピーク点はＰａ，Ｐｂ，Ｐｃであ
る。
Ｑ２がハフ関数曲線Ｃ２に、点Ｑ３がハフ関数曲線Ｃ３
に、点Ｑ４がハフ関数曲線Ｃ４にそれぞれ対応してい
る。また、直線Ｌａ，Ｌｂ，Ｌｃにそれぞれ対応するヒ
ストグラム上の真のピーク点はＰａ，Ｐｂ，Ｐｃであ
る。
【０００９】そして、そのヒストグラム上には、図９中
▲黒四角▼印で示すように、多数の偽のピーク点があら
われる。それらの偽のピーク点は、各直線Ｌａ，Ｌｂ，
Ｌｃに対応した真のピーク点Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃの影響が
重なりあっている領域に多くみられる。これらの偽のピ
ークのなかには、真のピーク点Ｐａ，Ｐｃよりも大きな
ヒストグラム頻度をもつものがある。
▲黒四角▼印で示すように、多数の偽のピーク点があら
われる。それらの偽のピーク点は、各直線Ｌａ，Ｌｂ，
Ｌｃに対応した真のピーク点Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃの影響が
重なりあっている領域に多くみられる。これらの偽のピ
ークのなかには、真のピーク点Ｐａ，Ｐｃよりも大きな
ヒストグラム頻度をもつものがある。
【００１０】したがって、ヒストグラムのなかから頻度
の大きな順にピーク点を検出して画像中に存在する複数
の線分を順次抽出しようとすると、実際に画像中に存在
する直線成分に対応する真のピーク点よりも頻度の大き
な偽のピーク点が検出されてしまうことがある。
の大きな順にピーク点を検出して画像中に存在する複数
の線分を順次抽出しようとすると、実際に画像中に存在
する直線成分に対応する真のピーク点よりも頻度の大き
な偽のピーク点が検出されてしまうことがある。
【００１１】そのため、従来では、ヒストグラム中の最
大のピーク点は間違いなく画像中の１つの直線成分に対
応していることに着目して、偽のピーク点を除去するべ
く、ヒストグラム中の最大のピーク点を検出したとき
に、その検出されたピーク点を通過する全てのハフ関数
曲線を求めて、それをヒストグラム中から除去した新た
なヒストグラムを作成して、次に、その更新されたヒス
トグラムのなかかから最大のピーク点を検出していくよ
うにしている（特開昭６４−７４６８０号公報参照）。
大のピーク点は間違いなく画像中の１つの直線成分に対
応していることに着目して、偽のピーク点を除去するべ
く、ヒストグラム中の最大のピーク点を検出したとき
に、その検出されたピーク点を通過する全てのハフ関数
曲線を求めて、それをヒストグラム中から除去した新た
なヒストグラムを作成して、次に、その更新されたヒス
トグラムのなかかから最大のピーク点を検出していくよ
うにしている（特開昭６４−７４６８０号公報参照）。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】解決しようとする問題
点は、偽のピーク点を除去するために、ヒストグラムの
なかの最大のピーク点を検出するごとにヒストグラム全
体を作り直していくのでは、そのつど多大な計算量を必
要として、その処理負担が大きくなってしまうことであ
る。
点は、偽のピーク点を除去するために、ヒストグラムの
なかの最大のピーク点を検出するごとにヒストグラム全
体を作り直していくのでは、そのつど多大な計算量を必
要として、その処理負担が大きくなってしまうことであ
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明は、ヒストグラム
のなかからピーク点を順次検出して画像中に存在する複
数の直線成分を次々と抽出していくに際して、ヒストグ
ラムのなかから偽のピーク点を効率良く除去していくべ
く、ヒストグラムのなかの真のピーク点の近傍に偽のピ
ーク点が局所的に生ずる点に着目して、ヒストグラムの
なかのある注目ピーク点がそのヒストグラムの頻度分布
に影響を与えている範囲と寄与量とを求めて、その範囲
内において、求められた寄与量にしたがって、他のピー
ク点のヒストグラム頻度を修正してヒストグラムを部分
的に書き換えていく手段をとるようにしている。
のなかからピーク点を順次検出して画像中に存在する複
数の直線成分を次々と抽出していくに際して、ヒストグ
ラムのなかから偽のピーク点を効率良く除去していくべ
く、ヒストグラムのなかの真のピーク点の近傍に偽のピ
ーク点が局所的に生ずる点に着目して、ヒストグラムの
なかのある注目ピーク点がそのヒストグラムの頻度分布
に影響を与えている範囲と寄与量とを求めて、その範囲
内において、求められた寄与量にしたがって、他のピー
ク点のヒストグラム頻度を修正してヒストグラムを部分
的に書き換えていく手段をとるようにしている。
【００１４】
【実施例】本発明による画像の直線成分抽出装置は、そ
の基本的な構成が、図１に示すように、撮像部１と、そ
の撮像部１から送られてくる画素構成によるデジタル画
像を微分処理することによって画像のエッジを検出する
エッジ検出部２と、その検出された画像エッジの点列を
ハフ変換するハフ変換処理部３と、そのハフ変換の関数
値にしたがうヒストグラムを作成するヒストグラム作成
部４と、そのヒストグラム頻度のピーク点を検出し、そ
の検出されたピーク点を通過する各ハフ関数曲線に対応
する画像エッジの点列が直線であると判定して、画像の
なかから直線成分を抽出するとともに、全体の制御を集
中的に行うマイクロコンピュータからなる直線成分抽出
部５とからなっている。
の基本的な構成が、図１に示すように、撮像部１と、そ
の撮像部１から送られてくる画素構成によるデジタル画
像を微分処理することによって画像のエッジを検出する
エッジ検出部２と、その検出された画像エッジの点列を
ハフ変換するハフ変換処理部３と、そのハフ変換の関数
値にしたがうヒストグラムを作成するヒストグラム作成
部４と、そのヒストグラム頻度のピーク点を検出し、そ
の検出されたピーク点を通過する各ハフ関数曲線に対応
する画像エッジの点列が直線であると判定して、画像の
なかから直線成分を抽出するとともに、全体の制御を集
中的に行うマイクロコンピュータからなる直線成分抽出
部５とからなっている。
【００１５】本発明は、このように構成されたものにあ
って、特に、直線成分抽出部５において、ヒストグラム
作成部４で作成されたヒストグラム上で検出された複数
のピーク点のなかの処理対象となる注目ピーク点が、そ
のヒストグラムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄
与量とを求める手段と、注目ピーク点以外の他の検出ピ
ーク点がその範囲内にあるか否かを判定する手段と、そ
の寄与量にしたがって、その範囲内にあると判定された
他の検出ピーク点のヒストグラム頻度を修正する手段と
をとるようにしたことを特徴としている。
って、特に、直線成分抽出部５において、ヒストグラム
作成部４で作成されたヒストグラム上で検出された複数
のピーク点のなかの処理対象となる注目ピーク点が、そ
のヒストグラムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄
与量とを求める手段と、注目ピーク点以外の他の検出ピ
ーク点がその範囲内にあるか否かを判定する手段と、そ
の寄与量にしたがって、その範囲内にあると判定された
他の検出ピーク点のヒストグラム頻度を修正する手段と
をとるようにしたことを特徴としている。
【００１６】具体的には、予め直線成分抽出部５に設定
されているプログラムにしたがって、まず、ヒストグラ
ム作成部４において作成されたヒストグラムのなかから
最大のピーク点を検出して、それに対応した直線成分を
抽出したうえで、その最大のピーク点がそのヒストグラ
ムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄与量とを求め
て、その範囲内において、求められた寄与量にしたがっ
て、他のピーク点のヒストグラム頻度を修正し、次に、
その部分的に修正されたヒストグラムを用いて、次に大
きなピーク点を検出して、それに対応した直線成分を抽
出し、以下同様の処理を順次行っていくようにする。
されているプログラムにしたがって、まず、ヒストグラ
ム作成部４において作成されたヒストグラムのなかから
最大のピーク点を検出して、それに対応した直線成分を
抽出したうえで、その最大のピーク点がそのヒストグラ
ムの頻度分布に影響を与えている範囲と寄与量とを求め
て、その範囲内において、求められた寄与量にしたがっ
て、他のピーク点のヒストグラム頻度を修正し、次に、
その部分的に修正されたヒストグラムを用いて、次に大
きなピーク点を検出して、それに対応した直線成分を抽
出し、以下同様の処理を順次行っていくようにする。
【００１７】ヒストグラム上の注目ピーク点がそのヒス
トグラムの頻度分布に影響を与えている範囲および寄与
量は、具体的に以下のようにして求められる。
トグラムの頻度分布に影響を与えている範囲および寄与
量は、具体的に以下のようにして求められる。
【００１８】図２に示すＸ−Ｙ座標上の直線Ｌの両端の
点Ｑｓ（Ｘｓ，Ｙｓ），Ｑｅ（Ｘｅ，Ｙｅ）をそれぞれ
ハフ変換すると、図３に示すようなハフ座標ρ−θにお
けるハフ関数曲線Ｃｓ，Ｃｅが得られる。ここで、点Ｑ
ｓがハフ関数曲線Ｃｓに、点Ｑｅがハフ関数曲線Ｃｅに
それぞれ対応している。
点Ｑｓ（Ｘｓ，Ｙｓ），Ｑｅ（Ｘｅ，Ｙｅ）をそれぞれ
ハフ変換すると、図３に示すようなハフ座標ρ−θにお
けるハフ関数曲線Ｃｓ，Ｃｅが得られる。ここで、点Ｑ
ｓがハフ関数曲線Ｃｓに、点Ｑｅがハフ関数曲線Ｃｅに
それぞれ対応している。
【００１９】いま、θｏからｄθだけ離れたθ＝θｏ＋
ｄθ上におけるハフ関数曲線ＣｓとＣｅとの間の線分を
Ｋとすると、直線Ｌ上の点列の各ハフ関数曲線は線分Ｋ
上で等間隔に並ぶので、その線分Ｋ上のヒストグラム頻
度はρの値に関係なく一定となる。
ｄθ上におけるハフ関数曲線ＣｓとＣｅとの間の線分を
Ｋとすると、直線Ｌ上の点列の各ハフ関数曲線は線分Ｋ
上で等間隔に並ぶので、その線分Ｋ上のヒストグラム頻
度はρの値に関係なく一定となる。
【００２０】したがって、線分Ｋの長さをｌとしたと
き、次式（１）が成立し、点Ｐｏに応じたヒストグラム
頻度が線分Ｋの範囲にわたって一様に分散していると考
えることができる。
き、次式（１）が成立し、点Ｐｏに応じたヒストグラム
頻度が線分Ｋの範囲にわたって一様に分散していると考
えることができる。
【００２１】
【数１】
【００２２】また、点Ｐｏに応じたヒストグラム上のピ
ーク点が周囲に影響を及ぼす範囲の境界は直線Ｌの両端
の点Ｑｓ，Ｑｅに応じたハフ関数曲線Ｃｓ，Ｃｅである
から、線分Ｋの長さｌは、次式（２）によって与えられ
る。
ーク点が周囲に影響を及ぼす範囲の境界は直線Ｌの両端
の点Ｑｓ，Ｑｅに応じたハフ関数曲線Ｃｓ，Ｃｅである
から、線分Ｋの長さｌは、次式（２）によって与えられ
る。
【００２３】
【数２】
【００２４】したがって、（２）式を（１）式に代入す
ることにより、ハフ座標ρ−θ上における点Ｐｏ（ρ
ｏ，θｏ）がＫの範囲内で任意の点Ｐ（ρ，θ）に影響
を与えている寄与量を算出することができる。
ることにより、ハフ座標ρ−θ上における点Ｐｏ（ρ
ｏ，θｏ）がＫの範囲内で任意の点Ｐ（ρ，θ）に影響
を与えている寄与量を算出することができる。
【００２５】図４は、本発明により、画像中の各直線成
分に対応している真のピーク点だけをヒストグラムのな
かから順次選出するときの処理のフローを示している。
分に対応している真のピーク点だけをヒストグラムのな
かから順次選出するときの処理のフローを示している。
【００２６】その処理フローとしては、まず、〔１〕の
プロセスにおいて、ヒストグラムのなかから、３×３の
領域の中心点のヒストグラム頻度が最大であるような点
を、ローカルピーク点として全てとり出す。
プロセスにおいて、ヒストグラムのなかから、３×３の
領域の中心点のヒストグラム頻度が最大であるような点
を、ローカルピーク点として全てとり出す。
【００２７】例えば、図５に示すように、ハフ座標ρ−
θ上のピーク点Ｐ１のヒストグラム頻度「４８９」はそ
の周囲に隣接する８個の近傍点の各ヒストグラム頻度よ
りも大きいので、その点Ｐ１はローカルピーク点として
とリ出される。点Ｐ２，Ｐ３についても同様である。
θ上のピーク点Ｐ１のヒストグラム頻度「４８９」はそ
の周囲に隣接する８個の近傍点の各ヒストグラム頻度よ
りも大きいので、その点Ｐ１はローカルピーク点として
とリ出される。点Ｐ２，Ｐ３についても同様である。
【００２８】そして、〔２〕，〔３〕のプロセスによ
り、そのとり出されたピーク点のなかから値の大きな上
位Ｎ個のピーク点を選び出し、それらをピーク配列に整
理する。
り、そのとり出されたピーク点のなかから値の大きな上
位Ｎ個のピーク点を選び出し、それらをピーク配列に整
理する。
【００２９】次いで、〔４〕〜〔１２〕のプロセスにお
いて、以下の処理が実行される。
いて、以下の処理が実行される。
【００３０】最初のピーク配列のなかの最大のピーク点
を真のピーク点とし、その真のピーク点に対応する直線
成分を抽出する。そして、その直線成分における両端の
点の各ハフ関数曲線にはさまれたエリアに存在する他の
ピーク点とその周囲に隣接する８個の近傍点からその最
大ピーク点の影響を取り除く修正を行う。次に修正され
たピーク配列のなかの最大ピーク点を次の真のピーク点
として選び出して、残りのピーク点からその最大ピーク
点の影響を取り除く修正を行う。これを繰り返して、次
の最大のピーク点の大きさが最初に選んだＮ個のピーク
配列のなかのＮ番目の最小のピーク点よりも小さくなっ
たとき、処理を終了する。あるいは、次の最大ピーク点
の大きさが予め定めたしきい値より小さくなったとき
に、処理を終了するようにしてもよい。
を真のピーク点とし、その真のピーク点に対応する直線
成分を抽出する。そして、その直線成分における両端の
点の各ハフ関数曲線にはさまれたエリアに存在する他の
ピーク点とその周囲に隣接する８個の近傍点からその最
大ピーク点の影響を取り除く修正を行う。次に修正され
たピーク配列のなかの最大ピーク点を次の真のピーク点
として選び出して、残りのピーク点からその最大ピーク
点の影響を取り除く修正を行う。これを繰り返して、次
の最大のピーク点の大きさが最初に選んだＮ個のピーク
配列のなかのＮ番目の最小のピーク点よりも小さくなっ
たとき、処理を終了する。あるいは、次の最大ピーク点
の大きさが予め定めたしきい値より小さくなったとき
に、処理を終了するようにしてもよい。
【００３１】なお、最大のピーク点が残リのピーク点に
与える影響は、前記（１）から計算できる。また、
〔３〕のプロセスで注目ピーク点を中心とした３×３の
領域を考えるのは、最大ピーク点の影響を除去する修正
を行った結果、偽のピーク点のなかにはローカルピーク
点でなくなってしまうものもあるからである。
与える影響は、前記（１）から計算できる。また、
〔３〕のプロセスで注目ピーク点を中心とした３×３の
領域を考えるのは、最大ピーク点の影響を除去する修正
を行った結果、偽のピーク点のなかにはローカルピーク
点でなくなってしまうものもあるからである。
【００３２】この処理のアルゴリズムの要点としては、
以下のとおりである。 ピーク配列のなかの最大のピーク点で、それに対応す
る直線成分が画像中に存在するものは真のピーク点とす
る。 修正後にローカルピーク点でなくなったもの、あるい
は値が小さくなったピーク点は対象から外す。
以下のとおりである。 ピーク配列のなかの最大のピーク点で、それに対応す
る直線成分が画像中に存在するものは真のピーク点とす
る。 修正後にローカルピーク点でなくなったもの、あるい
は値が小さくなったピーク点は対象から外す。
【００３３】
【発明の効果】以上、本発明による画像の直線成分抽出
装置にあっては、画像のエッジ情報に基いてそれをハフ
変換することによって作成されたヒストグラムのなかか
らピーク点を順次検出して、画像中に存在する複数の直
線成分を次々と抽出していくに際して、処理対象となる
注目ピーク点がそのヒストグラムの頻度分布に影響を与
えている範囲と寄与量とを定量的に求めて、ヒストグラ
ムを部分的に修正していくようにしているので、ヒスト
グラムのなかから偽のピーク点を効率良く除去していく
ことができる。
装置にあっては、画像のエッジ情報に基いてそれをハフ
変換することによって作成されたヒストグラムのなかか
らピーク点を順次検出して、画像中に存在する複数の直
線成分を次々と抽出していくに際して、処理対象となる
注目ピーク点がそのヒストグラムの頻度分布に影響を与
えている範囲と寄与量とを定量的に求めて、ヒストグラ
ムを部分的に修正していくようにしているので、ヒスト
グラムのなかから偽のピーク点を効率良く除去していく
ことができる。
【００３４】したがって、予め選んだピーク点に関して
だけヒストグラムの修正を部分的に行い、またヒストグ
ラム作成のための計算をくり返して行わないために、処
理負担の軽減を有効に図りながら、画像のなかから複数
の直線成分の抽出を精度良く迅速に行わせることができ
るようになる。
だけヒストグラムの修正を部分的に行い、またヒストグ
ラム作成のための計算をくり返して行わないために、処
理負担の軽減を有効に図りながら、画像のなかから複数
の直線成分の抽出を精度良く迅速に行わせることができ
るようになる。
【００３５】その際、特に本発明によれば、ヒストグラ
ムの修正に際して、ある強いピーク点がヒストグラムの
頻度分布に影響を与えている範囲と寄与量とを定量的に
評価しているので、偽のピーク点を取り除きながら真の
ピーク点を正確に検出することができ、ハフ座標ρ−θ
面上でピーク点が近接しているが、画像上では別である
各直線成分を区別して、それぞれの直線成分を確実に抽
出することができるようになる。
ムの修正に際して、ある強いピーク点がヒストグラムの
頻度分布に影響を与えている範囲と寄与量とを定量的に
評価しているので、偽のピーク点を取り除きながら真の
ピーク点を正確に検出することができ、ハフ座標ρ−θ
面上でピーク点が近接しているが、画像上では別である
各直線成分を区別して、それぞれの直線成分を確実に抽
出することができるようになる。
【図１】本発明による画像の直線成分抽出装置の一構成
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図２】Ｘ−Ｙ座標上における直線Ｌを示す図である。
【図３】図２の直線Ｌの両端の点をそれぞれハフ変換し
たときのハフ関数曲線を示す図である。
たときのハフ関数曲線を示す図である。
【図４】画像中の各直線成分に対応している真のピーク
点だけをヒストグラムのなかから順次選出するときの処
理のフローを示す図である。
点だけをヒストグラムのなかから順次選出するときの処
理のフローを示す図である。
【図５】ヒストグラムにおける現在処理の対象となる注
目ピーク点を中心とした３×３の領域を示す図である。
目ピーク点を中心とした３×３の領域を示す図である。
【図６】Ｘ−Ｙ座標上の直線Ｌを示す図である。
【図７】図６の直線Ｌ上の各点をハフ変換したときのハ
フ関数曲線を示す図である。
フ関数曲線を示す図である。
【図８】Ｘ−Ｙ座標上の３つの直線を示す図である。
【図９】図８の３つの直線の各両端の点をそれぞれハフ
変換したときの各ハフ関数曲線を示す図である。
変換したときの各ハフ関数曲線を示す図である。
１ 撮像部 ２ エッジ検出部 ３ ハフ変換処理部 ４ ヒストグラム作成部 ５ 直線成分抽出部
Claims (1)
- 【請求項１】 画素構成によるデジタル画像から画像エ
ッジの画素の点列をとり出して、その点列に対してハフ
変換を施し、そのハフ変換の関数値にしたがうヒストグ
ラムを作成し、そのヒストグラム頻度のピーク点を検出
して、画像のなかからその検出されたピーク点に対応す
る直線成分を抽出する画像の直線成分抽出装置におい
て、前記ヒストグラム上で検出された複数のピーク点の
なかの処理対象となる注目ピーク点がそのヒストグラム
の頻度分布に影響を与えている範囲と寄与量とを求める
手段と、注目ピーク点以外の他の検出ピーク点がその範
囲内にあるか否かを判定する手段と、その寄与量にした
がって、その範囲内にあると判定された他の検出ピーク
点およびその近傍点のヒストグラム頻度を修正する手段
とをとるようにしたことを特徴とする画像の直線成分抽
出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5135718A JPH06314339A (ja) | 1993-04-27 | 1993-04-27 | 画像の直線成分抽出装置 |
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