JPH06311033A - アナログ電圧読取装置 - Google Patents

アナログ電圧読取装置

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JPH06311033A
JPH06311033A JP9803893A JP9803893A JPH06311033A JP H06311033 A JPH06311033 A JP H06311033A JP 9803893 A JP9803893 A JP 9803893A JP 9803893 A JP9803893 A JP 9803893A JP H06311033 A JPH06311033 A JP H06311033A
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JP
Japan
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analog voltage
voltage
value
pulse
counter
Prior art date
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JP9803893A
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English (en)
Inventor
Shigezo Kuriyama
茂三 栗山
Taro Ando
太郎 安藤
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 入力と出力を絶縁すると共に、簡単・安価に
構成したアナログ電圧読取装置を提供する。 【構成】 電圧−パルス列変換回路2は、読取対象アナ
ログ電圧値に応じた周波数のパルス列を出力する。フォ
トカプラ3は、パルス列を絶縁して、カウンタ4に入力
する。カウンタ4は、パルス列のパルス数をカウントす
る。CPU6は、カウンタ4のカウント値をメモリ5に
記憶した基準パルス数により校正して、読取対象アナロ
グ電圧値に応じたデジタル値を得る。 【効果】 フォトカプラで絶縁しているため、外来ノイ
ズの影響を受けにくくなる。1チャネルに1つのフォト
カプラでよいため、構成が簡単・安価となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、読取対象アナログ電
圧をデジタル値に変換して読み取るアナログ電圧読取装
置に関し、特に、アナログ電圧値に応じて運転状態が指
令される装置に用いるアナログ電圧読取装置として有用
である。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来のアナログ電圧読取装置の
一例を示すブロック図である。このアナログ電圧読取装
置51において、A/Dコンバータ52は、入力端子T
Pに与えられた読取対象アナログ電圧を、デジタル値に
変換する。そして、CPU53は、そのデジタル値を読
み取り、そのデジタル値に応じた処理を実行する。
【0003】なお、この種のアナログ電圧読取装置に関
連する従来技術として、例えば実開平1−86731号
公報に開示のA/D変換回路がある。このA/D変換回
路は、1チャネルにつき2つのフォトカプラを用いて、
入力と出力を絶縁するように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図5に示す従来のアナ
ログ電圧読取装置51では、入力と出力が絶縁されてい
ないため、外来ノイズが侵入し、CPU53が暴走する
場合がある問題点があった。一方、実開平1−8673
1号公報に開示のA/D変換回路では、入力と出力が絶
縁されているが、1チャネルにつき2つのフォトカプラ
が必要であり、構成が複雑・高価になる問題点があっ
た。そこで、この発明の目的は、入力と出力を絶縁する
と共に、簡単・安価に構成したアナログ電圧読取装置を
提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】第1の構成のアナログ電
圧読取装置は、読取対象アナログ電圧値に応じた周波数
のパルス列を出力する電圧−パルス列変換手段と、前記
パルス列のパルス数をカウントするカウンタと、前記電
圧−パルス列変換手段の出力側と前記カウンタの入力側
とを絶縁するフォトカプラと、前記カウンタのカウント
値を読み取る処理手段とを具備したものである。
【0006】第2の構成のアナログ電圧読取装置は、上
記第1の構成に加えて、基準アナログ電圧の電圧値に対
応した基準値を記憶する記憶手段をさらに具備し、処理
手段は、カウンタのカウント値を前記記憶手段に記憶し
た基準値により校正するものである。
【0007】第3の構成のアナログ電圧読取装置は、上
記第2の構成に加えて、電圧−パルス列変換手段の前段
に、測定対象アナログ電圧または基準アナログ電圧のい
ずれかを選択するアナログスイッチをさらに具備したも
のである。
【0008】第4の構成のアナログ電圧読取装置は、上
記第1の構成から第3の構成において、電圧−パルス列
変換手段に代えて、読取対象アナログ電圧値に応じたパ
ルス幅のパルスを出力する電圧−パルス幅変換手段を用
いると共に、カウンタに代えて、前記パルス幅を計測す
るタイマを用いたものである。
【0009】
【作用】上記第1の構成のアナログ電圧読取装置では、
読取対象アナログ電圧を、その電圧値に応じた周波数の
パルス列に変換し、そのパルス列をフォトカプラを介し
てカウンタに入力し、カウンタでパルス数をカウントす
ることにより読取対象アナログ電圧をデジタル値に変換
し、それを処理手段で読み取る。フォトカプラで絶縁し
ているため、外来ノイズの影響を受けにくくなる。ま
た、1チャネルに1つのフォトカプラでよいため、構成
が簡単・安価となる。
【0010】上記第2の構成のアナログ電圧読取装置で
は、カウンタのカウント値を基準アナログ電圧値に対応
した基準値により校正する。そこで、電圧−パルス列変
換手段の特性によってカウント値にバラツキが生じて
も、正確なデジタル値を得ることが出来る。
【0011】上記第3の構成のアナログ電圧読取装置で
は、アナログスイッチにより測定対象アナログ電圧また
は基準アナログ電圧のいずれかを選択して電圧−パルス
列変換手段に入力することが出来る。そこで、任意の時
点で、基準アナログ電圧を選択して、正しい基準パルス
数を記憶できるようになる。
【0012】上記第4の構成のアナログ電圧読取装置で
は、読取対象アナログ電圧を、その電圧値に応じたパル
ス幅のパルスに変換し、そのパルスをフォトカプラを介
してタイマに入力し、タイマでパルス幅を測定すること
により読取対象アナログ電圧をデジタル値に変換し、そ
れを処理手段で読み取る。フォトカプラで絶縁している
ため、外来ノイズの影響を受けにくくなる。また、1チ
ャネルに1つのフォトカプラでよいため、構成が簡単・
安価となる。また、フォトカプラ等の特性により計測値
にバラツキが生じても、正確なデジタル値を得ることが
出来る。また、任意の時点で、基準アナログ電圧を選択
して、正しい基準パルス幅を記憶できるようになる。
【0013】
【実施例】実施例1 図1は、この発明の実施例1のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。このアナログ電圧読取装置1
は、電圧−パルス列変換回路2と、フォトカプラ3と、
カウンタ4と、メモリ5と、CPU6とから構成されて
いる。
【0014】電圧−パルス列変換回路2は、入力端子T
Pに与えられた読取対象アナログ電圧値に応じた周波数
のパルス列を出力する。フォトカプラ3は、電圧−パル
ス列変換回路2から出力されたパルス列を、絶縁して、
カウンタ4に入力する。カウンタ4は、パルス列の所定
時間当たりのパルス数をカウントする。メモリ5(例え
ばEEPROM)は、基準アナログ電圧に対応した基準
パルス数を予め記憶している。CPU6は、カウンタ4
のカウント値を、基準パルス数により校正して、読取対
象アナログ電圧値に応じたデジタル値を得る。そして、
そのデジタル値に応じた処理を実行する。
【0015】次に、このアナログ電圧読取装置1の動作
を説明する。なお、メモリ5には、基準パルス数とし
て、読取可能な最小電圧Vminに対応した最小パルス
数Cminと,読取可能な最大電圧Vmaxに対応した
最大パルス数Cmaxとが記憶されているものとする。
まず、電圧−パルス列変換回路2は、測定対象アナログ
電圧値に応じた周波数のパルス列を出力する。カウンタ
4は、所定時間当たりのパルス数Crdをカウントす
る。次に、CPU6は、次の演算、 Vi=(Vmax−Vmin)・(Crd−Cmin)/(Cmax−Cmin)+Vmin により、測定対象アナログ電圧値Viをデジタル値で算
出する。そして、そのデジタル値に応じた処理を実行す
る。
【0016】上記実施例1によれば、フォトカプラ3で
絶縁しているため、外来ノイズの影響を受けにくくな
る。また、1チャネルに1つのフォトカプラでよいた
め、構成が簡単・安価となる。さらに、測定対象アナロ
グ電圧値を基準パルス数により校正して算出するので、
電圧−パルス列変換回路2の特性によってパルス数にバ
ラツキが生じても、測定対象アナログ電圧値を正確に得
られる。
【0017】実施例2 図2は、この発明の実施例2のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。このアナログ電圧読取装置11
は、電圧−パルス幅変換回路12と、フォトカプラ3
と、タイマ14と、メモリ15と、CPU16とから構
成されている。
【0018】電圧−パルス幅変換回路12は、入力端子
TPに与えられた読取対象アナログ電圧の電圧値に応じ
たパルス幅のパルスを出力する。フォトカプラ3は、電
圧−パルス幅変換回路12から出力されたパルスを、絶
縁して、タイマ14に入力する。タイマ14は、パルス
幅を計測する。メモリ15(例えばEEPROM)は、
基準アナログ電圧に対応した基準パルス幅を予め記憶し
ている。CPU16は、タイマ14の計測値を、基準パ
ルス幅により校正して、読取対象アナログ電圧値に応じ
たデジタル値を得る。そして、そのデジタル値に応じた
処理を実行する。
【0019】次に、このアナログ電圧読取装置11の動
作を説明する。なお、メモリ15には、基準パルス幅と
して、読取可能な最小電圧Vminに対応した最小パル
ス幅Tminと,読取可能な最大電圧Vmaxに対応し
た最大パルス幅Tmaxとが記憶されているものとす
る。まず、電圧−パルス幅変換回路12は、測定対象ア
ナログ電圧値に応じたパルス幅のパルスを出力する。タ
イマ14は、パルス幅Trdを計測する。次に、CPU
16は、次の演算、 Vi=(Vmax−Vmin)・(Trd−Tmin)/(Tmax−Tmin)+Vmin により、測定対象アナログ電圧値Viをデジタル値で算
出する。そして、そのデジタル値に応じた処理を実行す
る。
【0020】上記実施例2によれば、フォトカプラ3で
絶縁しているため、外来ノイズの影響を受けにくくな
る。また、1チャネルに1つのフォトカプラでよいた
め、構成が簡単・安価となる。さらに、測定対象アナロ
グ電圧値を基準パルス幅により校正して算出するので、
電圧−パルス幅変換回路12やフォトカプラ3の特性に
よってパルス幅にバラツキが生じても、測定対象アナロ
グ電圧値を正確に算出できる。
【0021】実施例3 図3は、この発明の実施例3のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。このアナログ電圧読取装置21
は、アナログスイッチ22と、電圧−パルス列変換回路
2と、フォトカプラ3と、カウンタ4と、メモリ25
と、CPU26とから構成されている。
【0022】アナログスイッチ22は、入力端子TPに
与えられた読取対象アナログ電圧または基準アナログ電
圧Vrのいずれかを選択する。電圧−パルス列変換回路
2は、測定対象アナログ電圧または基準アナログ電圧V
rに応じた周波数のパルス列を出力する。フォトカプラ
3は、電圧−パルス列変換回路2から出力されたパルス
列を、絶縁して、カウンタ4に入力する。カウンタ4
は、パルス列の所定時間当たりのパルス数をカウントす
る。メモリ25(例えばEEPROM)は、基準アナロ
グ電圧Vrに対応した基準パルス数を記憶する。CPU
26は、アナログスイッチ22の選択を制御する。ま
た、カウンタ4のカウント値を、基準パルス数により校
正して、読取対象アナログ電圧値に応じたデジタル値を
得る。そして、そのデジタル値に応じた処理を実行す
る。
【0023】次に、このアナログ電圧読取装置21の動
作を説明する。なお、基準アナログ電圧Vrとして、読
取可能な最小電圧Vminと最大電圧Vmaxを入力す
るものとする。まず、CPU26は、アナログスイッチ
22に基準アナログ電圧Vrを選択させ、最小電圧Vm
inに対応した周波数のパルス列を電圧−パルス列変換
回路2から出力させる。カウンタ4は、所定時間当たり
のパルス数をカウントして最小パルス数Cminを求め
る。CPU26は、最小パルス数Cminをメモリ25
に記憶する。同様にして、CPU26は、最大電圧Vm
axに対応した最大パルス数Cmaxをメモリ25に記
憶する。次に、CPU26は、アナログスイッチ22に
測定対象アナログ電圧を選択させ、測定対象アナログ電
圧値に応じた周波数のパルス列を電圧−パルス列変換回
路2から出力させる。カウンタ4は、所定時間当たりの
パルス数Crdをカウントする。さらに、CPU26
は、次の演算、 Vi=(Vmax−Vmin)・(Crd−Cmin)/(Cmax−Cmin)+Vmin により、測定対象アナログ電圧値Viをデジタル値で算
出する。そして、そのデジタル値に応じた処理を実行す
る。
【0024】上記実施例3によれば、フォトカプラ3で
絶縁しているため、外来ノイズの影響を受けにくくな
る。また、1チャネルに1つのフォトカプラでよいた
め、構成が簡単・安価となる。さらに、測定対象アナロ
グ電圧値を、基準パルス数により校正して算出するの
で、電圧−パルス列変換回路2から出力されるパルス数
が温度ドリフトしても、測定対象アナログ電圧値を正確
に算出できる。しかも、任意の時点で基準アナログ電圧
を実測して基準パルス数を更新・記憶できるので、測定
対象アナログ電圧値をより正確に算出できる。
【0025】実施例4 図4は、この発明の実施例4のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。このアナログ電圧読取装置31
は、アナログスイッチ22と、電圧−パルス幅変換回路
12と、フォトカプラ3と、タイマ14と、メモリ35
と、CPU36とから構成されている。
【0026】アナログスイッチ22は、入力端子TPに
与えられた読取対象アナログ電圧または基準アナログ電
圧Vrのいずれかを選択する。電圧−パルス幅変換回路
12は、アナログ電圧または基準アナログ電圧Vrの電
圧値に応じたパルス幅のパルスを出力する。フォトカプ
ラ3は、電圧−パルス幅変換回路12から出力されたパ
ルスを、絶縁して、タイマ14に入力する。タイマ14
は、パルス幅を計測する。メモリ35(例えばEEPR
OM)は、基準アナログ電圧Vrに対応した基準パルス
幅を記憶する。CPU36は、アナログスイッチ22の
選択を制御する。また、タイマ14の計測値を、基準パ
ルス幅により校正して、読取対象アナログ電圧値に応じ
たデジタル値を得る。そして、そのデジタル値に応じた
処理を実行する。
【0027】次に、このアナログ電圧読取装置31の動
作を説明する。なお、基準電圧Vrとして、読取可能な
最小電圧Vminと最大電圧Vmaxを入力するものと
する。まず、CPU36は、アナログスイッチ22に基
準アナログ電圧Vrを選択させ、最小電圧Vminに対
応したパルス幅のパルスを電圧−パルス幅変換回路12
から出力させる。タイマ14は、そのパルス幅を計測し
て最小パルス幅Tminを求める。CPU36は、最小
パルス幅Tminをメモリ35に記憶する。同様にし
て、CPU36は、最大電圧Vmaxに対応した最大パ
ルス幅Tmaxを求め、メモリ35に記憶する。次に、
CPU36は、アナログスイッチ22に測定対象アナロ
グ電圧を選択させ、測定対象アナログ電圧値に応じたパ
ルス幅のパルスを電圧−パルス幅変換回路12から出力
させる。タイマ14は、パルス幅Trdを計測する。さ
らに、CPU26は、次の演算、 Vi=(Vmax−Vmin)・(Trd−Tmin)/(Tmax■−Tmin)+Vmin により、測定対象アナログ電圧値Viをデジタル値で算
出する。そして、そのデジタル値に応じた処理を実行す
る。
【0028】上記実施例4によれば、フォトカプラ3で
絶縁しているため、外来ノイズの影響を受けにくくな
る。また、1チャネルに1つのフォトカプラでよいた
め、構成が簡単・安価となる。さらに、測定対象アナロ
グ電圧値を、基準パルス幅により校正して算出するの
で、フォトカプラ3の応答特性の温度ドリフト等により
パルス幅が変化しても、測定対象アナログ電圧値を正確
に算出できる。しかも、任意の時点で基準アナログ電圧
を実測して基準パルス数を更新・記憶できるので、測定
対象アナログ電圧値をより正確に算出できる。
【0029】
【発明の効果】第1の構成のアナログ電圧読取装置によ
れば、フォトカプラで絶縁しているため、外来ノイズの
影響を受けにくくなる。また、1チャネルに1つのフォ
トカプラでよいため、構成が簡単・安価となる。
【0030】第2の構成のアナログ電圧読取装置によれ
ば、上記第1の構成の効果に加えて、基準アナログ電圧
値に対応した基準パルス数によりカウンタのカウント値
を校正するので、測定対象アナログ電圧値を正確なデジ
タル値で得られる。
【0031】第3の構成のアナログ電圧読取装置によれ
ば、上記第1の構成および第2の構成の効果に加えて、
任意の時点で基準アナログ電圧を実測して基準値を更新
・記憶できるので、測定対象アナログ電圧値をより正確
なデジタル値で得られる。
【0032】第4の構成のアナログ電圧読取装置によれ
ば、フォトカプラで絶縁しているため、外来ノイズの影
響を受けにくくなる。また、1チャネルに1つのフォト
カプラでよいため、構成が簡単・安価となる。また、フ
ォトカプラ等の特性により計測値にバラツキが生じて
も、正確なデジタル値を得ることが出来る。また、任意
の時点で、基準アナログ電圧を選択して、正しい基準パ
ルス幅を記憶できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例1のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。
【図2】この発明の実施例2のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。
【図3】この発明の実施例3のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。
【図4】この発明の実施例4のアナログ電圧読取装置を
示すブロック図である。
【図5】従来のアナログ電圧読取装置の一例を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
1,11,21,31,51 アナログ電圧読取装置 2 電圧−パルス列変換回路 3 フォトカプラ 4 カウンタ 5,15,25,35 メモリ 6,16,26,36,53 CPU 12 電圧−パルス幅変換回路 14 タイマ 22 アナログスイッチ 52 A/Dコンバータ TP 入力端子

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 読取対象アナログ電圧をデジタル値に変
    換して読み取るアナログ電圧読取装置において、 読取対象アナログ電圧値に応じた周波数のパルス列を出
    力する電圧−パルス列変換手段と、前記パルス列のパル
    ス数をカウントするカウンタと、前記電圧−パルス列変
    換手段の出力側と前記カウンタの入力側とを絶縁するフ
    ォトカプラと、前記カウンタのカウント値を読み取る処
    理手段とを具備したことを特徴とするアナログ電圧読取
    装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のアナログ電圧読取装置
    において、基準アナログ電圧値に対応した基準値を記憶
    する記憶手段をさらに具備すると共に、処理手段は、カ
    ウンタのカウント値を前記記憶手段に記憶している基準
    値により校正することを特徴とするアナログ電圧読取装
    置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載のアナログ電圧読取装置
    において、電圧−パルス列変換手段の前段に、読取対象
    アナログ電圧または基準アナログ電圧のいずれかを選択
    するアナログスイッチをさらに具備したことを特徴とす
    るアナログ電圧読取装置。
  4. 【請求項4】 請求項1から請求項3のいずれかに記載
    のアナログ電圧読取装置において、電圧−パルス列変換
    手段に代えて、読取対象アナログ電圧値に応じたパルス
    幅のパルスを出力する電圧−パルス幅変換手段を用いる
    と共に、カウンタに代えて、前記パルス幅を計測するタ
    イマを用いたことを特徴とするアナログ電圧読取装置。
JP9803893A 1993-04-23 1993-04-23 アナログ電圧読取装置 Pending JPH06311033A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013033455A (ja) * 2011-07-29 2013-02-14 Trendon Touch Technology Corp 電極アレイを検出するための制御回路、方法、及びこれを用いたタッチ制御検出システム
JP2013037680A (ja) * 2011-08-05 2013-02-21 Trendon Touch Technology Corp 検出電極アレイの制御回路、方法及びこれを用いたタッチ制御検出システム

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