JPH06310111A - 電球内真空度不良検査方法 - Google Patents
電球内真空度不良検査方法Info
- Publication number
- JPH06310111A JPH06310111A JP12361093A JP12361093A JPH06310111A JP H06310111 A JPH06310111 A JP H06310111A JP 12361093 A JP12361093 A JP 12361093A JP 12361093 A JP12361093 A JP 12361093A JP H06310111 A JPH06310111 A JP H06310111A
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- JP
- Japan
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- bulb
- light bulb
- vacuum
- high voltage
- vacuum degree
- Prior art date
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- Pending
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】従来目視で行っていた電球内の真空度の適否の
判別を機械的に実施する。 【構成】電球１のフィラメント部と、電球から適宜なギ
ャップを有せしめて設けた電極４１との間に所定の高電
圧を印加し、前記ギャップに紫外線センサ６を臨ませ
て、紫外線の有無で電球表面と電極との間の火花放電発
生の有無を検出して電球内の真空度の適否を判別する。
判別を機械的に実施する。 【構成】電球１のフィラメント部と、電球から適宜なギ
ャップを有せしめて設けた電極４１との間に所定の高電
圧を印加し、前記ギャップに紫外線センサ６を臨ませ
て、紫外線の有無で電球表面と電極との間の火花放電発
生の有無を検出して電球内の真空度の適否を判別する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電球の製造における真空
度不良球を除去するための電球内真空度不良検査方法に
関するものである。
度不良球を除去するための電球内真空度不良検査方法に
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】電球等は、内部フィラメントの発光高温
時の酸化を防止するため、電球等の内部を真空としてい
るか或は不活性ガスを充填している。
時の酸化を防止するため、電球等の内部を真空としてい
るか或は不活性ガスを充填している。
【０００３】ところで前記の真空度のチェックは、当然
その電球製造時の真空形成時に行われるが、製造時の不
具合や、電球の微小なクラックやその他の原因で真空度
不良の製品となる場合もある。
その電球製造時の真空形成時に行われるが、製造時の不
具合や、電球の微小なクラックやその他の原因で真空度
不良の製品となる場合もある。
【０００４】そこで従来では製造後に再度真空度のチェ
ックを行っているもので、その手法は、電球の内部フィ
ラメントと電球から所定距離離した電極との間にテスラ
変圧器を使用して高電圧を印加し、電球と電極との間に
火花放電を発生させ、電球内部の放電色即ち電球の発色
を人間の目視で確認して内部の真空度の適否を判別して
いたものである。
ックを行っているもので、その手法は、電球の内部フィ
ラメントと電球から所定距離離した電極との間にテスラ
変圧器を使用して高電圧を印加し、電球と電極との間に
火花放電を発生させ、電球内部の放電色即ち電球の発色
を人間の目視で確認して内部の真空度の適否を判別して
いたものである。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前記した電球製造後の
内部真空度の検査手段は、一種のガイスラー管の原理を
応用したもので、真空度が良好であると全体が青白く発
色し、不良品は赤みかかった色調を呈するので、その色
調を目視で判別しているが、電球が透明であれば発色状
況が明確であるが、塗装電球のように内部の放電色調が
外部から判別し難い場合は人間の経験に頼らければなら
く、而も人間の目視の場合には不注意による見逃しや、
検査する者の個人差等により、確実な検査手段とは言い
難い。
内部真空度の検査手段は、一種のガイスラー管の原理を
応用したもので、真空度が良好であると全体が青白く発
色し、不良品は赤みかかった色調を呈するので、その色
調を目視で判別しているが、電球が透明であれば発色状
況が明確であるが、塗装電球のように内部の放電色調が
外部から判別し難い場合は人間の経験に頼らければなら
く、而も人間の目視の場合には不注意による見逃しや、
検査する者の個人差等により、確実な検査手段とは言い
難い。
【０００６】また検査手段が人間の目視の場合には、作
業性の向上並びに検査工程の自動化の障害となる。そこ
で本発明は機械的に電球内部真空度不良を検査できる新
規な手段を提案したものである。
業性の向上並びに検査工程の自動化の障害となる。そこ
で本発明は機械的に電球内部真空度不良を検査できる新
規な手段を提案したものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係る電球内真空
度不良検査方法は、電球のフィラメント部と、電球から
適宜距離離して設けた電極との間に所定の高電圧を印加
し、電球表面と電極との間の火花放電発生の有無を検出
して電球内の真空度の適否を判別することを特徴とする
ものである。
度不良検査方法は、電球のフィラメント部と、電球から
適宜距離離して設けた電極との間に所定の高電圧を印加
し、電球表面と電極との間の火花放電発生の有無を検出
して電球内の真空度の適否を判別することを特徴とする
ものである。
【０００８】また特に前記の火花放電発生の有無を、電
球表面と電極間の側方位置に紫外線センサを配し、紫外
線量に基づいて検出することを特徴とするものである。
球表面と電極間の側方位置に紫外線センサを配し、紫外
線量に基づいて検出することを特徴とするものである。
【０００９】
【作用】気中放電の放電破壊電圧は略一定であるが、真
空中の放電開始電圧（絶縁破壊電圧）は真空度で大きく
変化する。例えばギャップ４．０６ｍｍで気圧１０-2Ｔ
ｏｒｒ程度の真空では１ｋｖ程度で放電を開始するが、
１０-3Ｔｏｒｒとなると放電開始電圧は１００ｋｖ以上
となる。また電球の真空度も１０-3Ｔｏｒｒ程度であ
る。
空中の放電開始電圧（絶縁破壊電圧）は真空度で大きく
変化する。例えばギャップ４．０６ｍｍで気圧１０-2Ｔ
ｏｒｒ程度の真空では１ｋｖ程度で放電を開始するが、
１０-3Ｔｏｒｒとなると放電開始電圧は１００ｋｖ以上
となる。また電球の真空度も１０-3Ｔｏｒｒ程度であ
る。
【００１０】電球のフィラメント部と、電球から適宜距
離離して設けた電極との間に高電圧を印加し、通電状態
即ち放電がなされると、その回路は、内部フィラメント
と電球のガラス面との間の真空放電、ガラス内部のイオ
ン伝導、ガラス面と電極の気中放電で構成されることに
なる。
離離して設けた電極との間に高電圧を印加し、通電状態
即ち放電がなされると、その回路は、内部フィラメント
と電球のガラス面との間の真空放電、ガラス内部のイオ
ン伝導、ガラス面と電極の気中放電で構成されることに
なる。
【００１１】そこで、印加電圧を電球内部の真空度が不
良のとき真空放電が生じ、真空度が充分なときに真空放
電が開始しない程度としておくと、真空度不良の電球は
ガラス面と電極の間に気中放電が発生し、真空度が充分
であれば、電球ガラス面と電極との間の電圧が低くなり
気中放電が生じない。
良のとき真空放電が生じ、真空度が充分なときに真空放
電が開始しない程度としておくと、真空度不良の電球は
ガラス面と電極の間に気中放電が発生し、真空度が充分
であれば、電球ガラス面と電極との間の電圧が低くなり
気中放電が生じない。
【００１２】従って同一条件下での火花放電の有無で電
球内部の真空度の適否を判別できるものである。
球内部の真空度の適否を判別できるものである。
【００１３】また図５は適宜なギャップ（５ｍｍ）に異
なる高電圧を印加し、気中火花放電をさせた場合の放電
部分からの放射される各波長のエネルギー分布（分光
量）のグラフである。即ち電圧が低い（イ−ライン）と
放電は生ぜず、電圧が高い（ロ−ライン，ハ−ライン）
と火花放電が発生し、その放射波長は、２２０ｎｍ付近
にピークがあり、また３００〜４００ｎｍ付近に幾つか
のピークがある。
なる高電圧を印加し、気中火花放電をさせた場合の放電
部分からの放射される各波長のエネルギー分布（分光
量）のグラフである。即ち電圧が低い（イ−ライン）と
放電は生ぜず、電圧が高い（ロ−ライン，ハ−ライン）
と火花放電が発生し、その放射波長は、２２０ｎｍ付近
にピークがあり、また３００〜４００ｎｍ付近に幾つか
のピークがある。
【００１４】従って紫外線量を計測することで、火花放
電の発生の有無を容易に検出できるものである。
電の発生の有無を容易に検出できるものである。
【００１５】
【実施例】次に本発明方法の実施例について説明する。
実施例は実験的に行ったもので、図２に例示するよう
に、被検査対象たる電球１と、電球保持部材２と、高電
圧発生装置（衝撃電流発生器３とテスラ変圧器４）と、
分光器５で構成し、電球保持部材２に電球１を保持さ
せ、テスラ変圧器４の電極４１を電球１に適当なギャッ
プ長で設け、高電圧発生装置３，４を動作させて電球１
の内部フィラメントと電極４１との間に所定の高電圧を
印加すると共に、分光器５の受光部（受光面１．３Φ，
受光角２３°）５１をギャップに臨ませる。
実施例は実験的に行ったもので、図２に例示するよう
に、被検査対象たる電球１と、電球保持部材２と、高電
圧発生装置（衝撃電流発生器３とテスラ変圧器４）と、
分光器５で構成し、電球保持部材２に電球１を保持さ
せ、テスラ変圧器４の電極４１を電球１に適当なギャッ
プ長で設け、高電圧発生装置３，４を動作させて電球１
の内部フィラメントと電極４１との間に所定の高電圧を
印加すると共に、分光器５の受光部（受光面１．３Φ，
受光角２３°）５１をギャップに臨ませる。
【００１６】同一条件（ギャップ長及び電圧）で曇り塗
装電球の真空度不良電球と真空度良好電球とに高電圧印
加を実施し、その際の分光器５で検出した波長毎の分光
量は、図３に例示した結果となった。尚実施は各１０個
行い、各実施毎の最大値と最低値をグラフとし、全ての
実施結果は斜線範囲に含まれるものてある。
装電球の真空度不良電球と真空度良好電球とに高電圧印
加を実施し、その際の分光器５で検出した波長毎の分光
量は、図３に例示した結果となった。尚実施は各１０個
行い、各実施毎の最大値と最低値をグラフとし、全ての
実施結果は斜線範囲に含まれるものてある。
【００１７】また図４も透明電球について実施したグラ
フである。前記の結果から真空度不良の電球では、２２
０ｎｍの波長の部分にピークが認められ、真空度良好の
電球は何等変化しないことか認められる。
フである。前記の結果から真空度不良の電球では、２２
０ｎｍの波長の部分にピークが認められ、真空度良好の
電球は何等変化しないことか認められる。
【００１８】従ってテスラ変圧器４の印加電圧を予め真
空度良品の場合には放電がなされずに不良品の場合に火
花放電が発生する電圧に設定しておき、分光器の代わり
に紫外線検知型センサ（たとえばＵＶトロン，感度ピー
クが２２０ｎｍである）６を設けておくと、センサの検
知タイミングと高電圧印加のタイミングを同期させる
と、センサの紫外線検出の有無で電球の真空度の良否を
連続的且つ確実に実施できるものである。
空度良品の場合には放電がなされずに不良品の場合に火
花放電が発生する電圧に設定しておき、分光器の代わり
に紫外線検知型センサ（たとえばＵＶトロン，感度ピー
クが２２０ｎｍである）６を設けておくと、センサの検
知タイミングと高電圧印加のタイミングを同期させる
と、センサの紫外線検出の有無で電球の真空度の良否を
連続的且つ確実に実施できるものである。
【００１９】また火花放電箇所にセンサを隣設できない
ときは、紫外線透過型の光ファイバーを利用し、ファイ
バー端子を火花放電箇所に隣接させておくと、センサ部
分は任意の箇所に設けることができる。
ときは、紫外線透過型の光ファイバーを利用し、ファイ
バー端子を火花放電箇所に隣接させておくと、センサ部
分は任意の箇所に設けることができる。
【００２０】
【発明の効果】以上のように本発明は、電球の真空度の
良否の検出を、電球に近接して設けた電極との間の火花
放電の有無で検出するものであり、また特に前記火花放
電の検知を明確な差異として検出できる紫外線の検知を
採用したものであるから、従来の目視検査に比して確実
に且つ簡単に実施できるものである。
良否の検出を、電球に近接して設けた電極との間の火花
放電の有無で検出するものであり、また特に前記火花放
電の検知を明確な差異として検出できる紫外線の検知を
採用したものであるから、従来の目視検査に比して確実
に且つ簡単に実施できるものである。
【図１】本発明方法の実施の基本的構成図。
【図２】同実施例の構成図。
【図３】同実施例の塗装電球の場合の分光分布グラフ。
【図４】同実施例の透明電球の場合の分光分布グラフ。
【図５】気中火花放電の分光分布グラフ。
１ 電球 ２ 電球保持部材 ３ 衝撃電流発生器 ４ テスラ変圧器 ４１ 電極 ５ 分光器 ５１ 受光部 ６ 紫外線検知型センサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 三村 和弘 新潟県新潟市鐙西１丁目11番１号 新潟県 工業技術センター内
Claims (2)
- 【請求項１】 電球のフィラメント部と、電球から適宜
距離離して設けた電極との間に所定の高電圧を印加し、
電球表面と電極との間の火花放電発生の有無を検出して
電球内の真空度の適否を判別することを特徴とする電球
内真空度不良検査方法。 - 【請求項２】 請求第１項記載の電球内真空度不良検査
方法に於いて、電球表面と電極間の側方位置に紫外線セ
ンサを配し、紫外線量に基づいて火花放電の発生の有無
を検出することを特徴とする電球内真空度不良検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12361093A JPH06310111A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 電球内真空度不良検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12361093A JPH06310111A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 電球内真空度不良検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06310111A true JPH06310111A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=14864870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12361093A Pending JPH06310111A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 電球内真空度不良検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06310111A (ja) |
-
1993
- 1993-04-26 JP JP12361093A patent/JPH06310111A/ja active Pending
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