JPH06309437A - パターン検査装置 - Google Patents
パターン検査装置Info
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- JPH06309437A JPH06309437A JP5214569A JP21456993A JPH06309437A JP H06309437 A JPH06309437 A JP H06309437A JP 5214569 A JP5214569 A JP 5214569A JP 21456993 A JP21456993 A JP 21456993A JP H06309437 A JPH06309437 A JP H06309437A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数の文字及び/又は図形からなる印字パタ
ーンのパターン検査装置に関し、切れのある印字パター
ンやどのような向きの印字パターンでも自動的に検査す
る。 【構成】 検査手段8は、面積算出手段7により算出さ
れた被検査文字パターンの各領域の面積と、存在範囲算
出手段6により算出されたそれぞれの存在範囲とから、
これら存在範囲内の被検査文字パターンの各領域の面積
の総和をそれぞれ算出するとともに、総和を第1のラベ
ル値に基づいて面積算出手段7により算出された標準文
字パターンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合
することで被検査文字パターンのパターンの良否を検査
する。
ーンのパターン検査装置に関し、切れのある印字パター
ンやどのような向きの印字パターンでも自動的に検査す
る。 【構成】 検査手段8は、面積算出手段7により算出さ
れた被検査文字パターンの各領域の面積と、存在範囲算
出手段6により算出されたそれぞれの存在範囲とから、
これら存在範囲内の被検査文字パターンの各領域の面積
の総和をそれぞれ算出するとともに、総和を第1のラベ
ル値に基づいて面積算出手段7により算出された標準文
字パターンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合
することで被検査文字パターンのパターンの良否を検査
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はパターン検査装置に係
り、特にパターンマッチングにより被検査文字パターン
の良否を検査するパターン検査装置に関する。
り、特にパターンマッチングにより被検査文字パターン
の良否を検査するパターン検査装置に関する。
【0002】複数の文字及び図形、または複数の文字又
は図形からなる文字パターンを手本となる標準文字パタ
ーンと比較照合することで文字パターンの良否を検査す
る、いわゆるパターンマッチングによるパターン検査装
置は、たとえば半導体装置などの種々様々な工業製品に
付与される製品コード等の印字の良否判定に利用されて
いる。
は図形からなる文字パターンを手本となる標準文字パタ
ーンと比較照合することで文字パターンの良否を検査す
る、いわゆるパターンマッチングによるパターン検査装
置は、たとえば半導体装置などの種々様々な工業製品に
付与される製品コード等の印字の良否判定に利用されて
いる。
【0003】しかしながら近年、これらの工業製品は品
種が膨大な数に増大しており、またパッケージ等は標準
化された同一の外観形状のものが数品種にわたって使用
されるので、品種を識別するための製品コード等の印字
品質は高品質のものが要望されている。そこで、これら
の印字の良否判定を自動的に、より正確に行なうパター
ン検査装置への要求が高まっている。
種が膨大な数に増大しており、またパッケージ等は標準
化された同一の外観形状のものが数品種にわたって使用
されるので、品種を識別するための製品コード等の印字
品質は高品質のものが要望されている。そこで、これら
の印字の良否判定を自動的に、より正確に行なうパター
ン検査装置への要求が高まっている。
【0004】
【従来の技術】パターンマッチングにより文字パターン
の検査を行なうパターン検査装置には、大別して2つの
方式のものが従来から知られている。なお、ここで文字
パターンとは、複数の文字及び図形、または複数の文字
又は図形からなるものであって、たとえば文字列、商標
などの簡単な図形、または文字列と商標などの簡単な図
形からなる。
の検査を行なうパターン検査装置には、大別して2つの
方式のものが従来から知られている。なお、ここで文字
パターンとは、複数の文字及び図形、または複数の文字
又は図形からなるものであって、たとえば文字列、商標
などの簡単な図形、または文字列と商標などの簡単な図
形からなる。
【0005】パターン検査装置の一方式は、いわゆるラ
ベリングの技法を用いたものである。図6は、このラベ
リングの技法を説明する図である。
ベリングの技法を用いたものである。図6は、このラベ
リングの技法を説明する図である。
【0006】すなわち、半導体装置等に印字された文字
パターンをITV(Industrial TV)カメラで撮像して
得た画像信号を二値化して、画像信号の各画素の値(以
下、画素値と記す)から、隣接画素の画素値が等しい場
合には同一のラベル値を、異なる場合には別のラベル値
を付与する。
パターンをITV(Industrial TV)カメラで撮像して
得た画像信号を二値化して、画像信号の各画素の値(以
下、画素値と記す)から、隣接画素の画素値が等しい場
合には同一のラベル値を、異なる場合には別のラベル値
を付与する。
【0007】この結果、たとえば文字「A」,「B」,
及び「C」からなる文字列に対しては、図16のとおり
文字「A」には2、文字「B」には4、文字「C」には
7、背景の部分には1、文字「A」の間の背景の部分に
は3、文字「B」の間の背景の部分には5と6なるラベ
ル値が付与される。
及び「C」からなる文字列に対しては、図16のとおり
文字「A」には2、文字「B」には4、文字「C」には
7、背景の部分には1、文字「A」の間の背景の部分に
は3、文字「B」の間の背景の部分には5と6なるラベ
ル値が付与される。
【0008】このようにして、被検査文字パターンと正
しく印字された手本となる標準文字パターンに対してラ
ベリングを行い、同一のラベル値を有する領域の面積を
両文字パターンについてそれぞれ算出する。そして、標
準文字パターンの一領域の面積とこれに対応する被検査
文字パターンの一領域の面積とを比較照合し、その差が
所定範囲を越えた場合に被検査文字パターンを印字不良
と判定する。
しく印字された手本となる標準文字パターンに対してラ
ベリングを行い、同一のラベル値を有する領域の面積を
両文字パターンについてそれぞれ算出する。そして、標
準文字パターンの一領域の面積とこれに対応する被検査
文字パターンの一領域の面積とを比較照合し、その差が
所定範囲を越えた場合に被検査文字パターンを印字不良
と判定する。
【0009】また、パターン検査装置の他の方式は、い
わゆるテンプレートマッチングの技法を用いたものであ
る。これは、標準文字パターンのパターンを画像として
表現し、この画像のパターンをテンプレートとして被検
査文字パターンの画像を走査し、被検査文字パターンの
画像と標準文字パターンの画像のパターンの類似度を調
べることによって被検査文字パターンの位置を求める方
法である。
わゆるテンプレートマッチングの技法を用いたものであ
る。これは、標準文字パターンのパターンを画像として
表現し、この画像のパターンをテンプレートとして被検
査文字パターンの画像を走査し、被検査文字パターンの
画像と標準文字パターンの画像のパターンの類似度を調
べることによって被検査文字パターンの位置を求める方
法である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
パターン検査装置では、被検査文字パターンの文字の連
続すべき領域が印字のかすれ等で切れていた場合には、
本来は一つの領域に異なる2つ以上のラベル値が付与さ
れることになる。よって、各領域の面積の比較照合を標
準文字パターンの各領域と正しく対応させて行なうこと
ができないため、印字の良否判定ができないという問題
がある。
パターン検査装置では、被検査文字パターンの文字の連
続すべき領域が印字のかすれ等で切れていた場合には、
本来は一つの領域に異なる2つ以上のラベル値が付与さ
れることになる。よって、各領域の面積の比較照合を標
準文字パターンの各領域と正しく対応させて行なうこと
ができないため、印字の良否判定ができないという問題
がある。
【0011】また、後者のパターン検査装置では、印字
された工業製品が生産ラインのコンベア等で搬送される
うちに所定の位置、向きと異なった際に、被検査文字パ
ターンが平行にずれて移動した場合はその位置を決定で
きるが、回転して移動した場合にはその位置を決定でき
ないため、印字の良否判定ができないという問題があ
る。
された工業製品が生産ラインのコンベア等で搬送される
うちに所定の位置、向きと異なった際に、被検査文字パ
ターンが平行にずれて移動した場合はその位置を決定で
きるが、回転して移動した場合にはその位置を決定でき
ないため、印字の良否判定ができないという問題があ
る。
【0012】そこで本発明は、文字がある程度切れてい
ても、またその向きにかかわらず、文字パターンのパタ
ーンの良否判定を行えるパターン検査装置を提供するこ
とを目的とする。
ても、またその向きにかかわらず、文字パターンのパタ
ーンの良否判定を行えるパターン検査装置を提供するこ
とを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明では、上記の問題
を解決するために図1の原理図のとおり構成した。
を解決するために図1の原理図のとおり構成した。
【0014】すなわち、複数の文字及び/又は図形から
なる文字パターンをから文字パターンの濃淡に応じた二
値化画像信号を生成する信号生成手段3と、二値化画像
信号に基づいて文字パターンの各領域に固有のラベル値
を付与するラベリング手段4と、ラベル値で示される領
域の面積を算出する面積算出手段7と、上記信号生成手
段3乃至上記ラベリング手段4によって標準文字パター
ンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与された第
1のラベル値より、標準文字パターンの各領域相互の相
対的な位置関係を算出する標準位置算出手段5と、この
各領域相互の相対的な位置関係と、上記信号生成手段3
乃至上記ラベリング手段4によって被検査文字パターン
の複数の文字/及び又は図形の各領域に付与された第2
のラベル値とに基づいて、被検査文字パターンの各領域
のうち標準文字パターンの一領域に対応する領域の存在
範囲を、標準文字パターンの各領域について算出する存
在範囲算出手段6と、第2のラベル値に基づいて上記面
積算出手段7により算出された被検査文字パターンの各
領域の面積と存在範囲算出手段6により算出された存在
範囲とから、標準文字パターンの一領域に対応する被検
査文字パターンの各領域の面積の総和を算出するととも
に、総和を上記第1のラベル値に基づいて上記面積算出
手段7により算出された標準文字パターンの対応する領
域の面積とそれぞれ比較照合して被検査文字パターンの
パターンの良否を検査する検査手段8とにより構成し
た。
なる文字パターンをから文字パターンの濃淡に応じた二
値化画像信号を生成する信号生成手段3と、二値化画像
信号に基づいて文字パターンの各領域に固有のラベル値
を付与するラベリング手段4と、ラベル値で示される領
域の面積を算出する面積算出手段7と、上記信号生成手
段3乃至上記ラベリング手段4によって標準文字パター
ンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与された第
1のラベル値より、標準文字パターンの各領域相互の相
対的な位置関係を算出する標準位置算出手段5と、この
各領域相互の相対的な位置関係と、上記信号生成手段3
乃至上記ラベリング手段4によって被検査文字パターン
の複数の文字/及び又は図形の各領域に付与された第2
のラベル値とに基づいて、被検査文字パターンの各領域
のうち標準文字パターンの一領域に対応する領域の存在
範囲を、標準文字パターンの各領域について算出する存
在範囲算出手段6と、第2のラベル値に基づいて上記面
積算出手段7により算出された被検査文字パターンの各
領域の面積と存在範囲算出手段6により算出された存在
範囲とから、標準文字パターンの一領域に対応する被検
査文字パターンの各領域の面積の総和を算出するととも
に、総和を上記第1のラベル値に基づいて上記面積算出
手段7により算出された標準文字パターンの対応する領
域の面積とそれぞれ比較照合して被検査文字パターンの
パターンの良否を検査する検査手段8とにより構成し
た。
【0015】
【作用】上記構成の本発明によれば、標準位置算出手段
5は標準文字パターンの複数の文字及び/又は図形の各
領域に固有に付与された第1のラベル値よりそれらの各
領域相互の相対的な位置関係を算出し、また、存在範囲
算出手段6はこの相対的な位置関係と被検査文字パター
ンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与された第
2のラベル値とに基づいてこれらの各領域のうち標準文
字パターンの一領域に対応する領域の存在範囲を標準文
字パターンの各領域について算出し、さらに、面積算出
手段7はラベル値で示される領域の面積を算出するが、
検査手段8は、第2のラベル値に基づいて算出された被
検査文字パターンの各領域の面積と、存在範囲算出手段
6により算出されたそれぞれの存在範囲とから、標準文
字パターンの一領域に対応する被検査文字パターンの各
領域の面積の総和をそれぞれ算出するとともに、この総
和を第1のラベル値に基づいて算出された標準文字パタ
ーンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合して被
検査文字パターンのパターンの良否を検査する。
5は標準文字パターンの複数の文字及び/又は図形の各
領域に固有に付与された第1のラベル値よりそれらの各
領域相互の相対的な位置関係を算出し、また、存在範囲
算出手段6はこの相対的な位置関係と被検査文字パター
ンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与された第
2のラベル値とに基づいてこれらの各領域のうち標準文
字パターンの一領域に対応する領域の存在範囲を標準文
字パターンの各領域について算出し、さらに、面積算出
手段7はラベル値で示される領域の面積を算出するが、
検査手段8は、第2のラベル値に基づいて算出された被
検査文字パターンの各領域の面積と、存在範囲算出手段
6により算出されたそれぞれの存在範囲とから、標準文
字パターンの一領域に対応する被検査文字パターンの各
領域の面積の総和をそれぞれ算出するとともに、この総
和を第1のラベル値に基づいて算出された標準文字パタ
ーンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合して被
検査文字パターンのパターンの良否を検査する。
【0016】したがって、各文字パターンがたとえば複
数の文字からなる文字列であり、かつ、各文字はアルフ
ァベットなどのように一領域からなるものとすると、標
準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関係に基づ
いて、被検査文字パターンの各文字の各領域のうち標準
文字パターンの一文字に対応する領域の存在範囲が算出
され、これに基づいて標準文字パターンと被検査文字パ
ターンの比較照合が行われる。
数の文字からなる文字列であり、かつ、各文字はアルフ
ァベットなどのように一領域からなるものとすると、標
準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関係に基づ
いて、被検査文字パターンの各文字の各領域のうち標準
文字パターンの一文字に対応する領域の存在範囲が算出
され、これに基づいて標準文字パターンと被検査文字パ
ターンの比較照合が行われる。
【0017】すなわち、標準文字パターンの一文字に対
応する領域の存在範囲内の各領域の面積の総和が算出さ
れ、標準文字パターン1の一文字に対応する被検査文字
パターン2の一文字分の領域がたとえば印字不良などに
よって複数の領域に切れ切れになっている場合でも、被
検査文字パターン2の一文字分の存在範囲内の切れ切れ
になった各領域の総和に基づいて面積が比較照合される
よう作用する。
応する領域の存在範囲内の各領域の面積の総和が算出さ
れ、標準文字パターン1の一文字に対応する被検査文字
パターン2の一文字分の領域がたとえば印字不良などに
よって複数の領域に切れ切れになっている場合でも、被
検査文字パターン2の一文字分の存在範囲内の切れ切れ
になった各領域の総和に基づいて面積が比較照合される
よう作用する。
【0018】
【実施例】図2は本発明の一実施例の全体構成図であ
る。同図は光学式文字読取り装置(Optical Character R
eader;OCR)の構成を概略的に示しており、ITVカ
メラ13と画像入力部14とで上記の信号生成手段を構
成している。以下、図面を参照して本発明の一実施例に
ついて説明する。
る。同図は光学式文字読取り装置(Optical Character R
eader;OCR)の構成を概略的に示しており、ITVカ
メラ13と画像入力部14とで上記の信号生成手段を構
成している。以下、図面を参照して本発明の一実施例に
ついて説明する。
【0019】たとえば、工場の生産ラインにおいて図に
表れないベルトコンベアにより搬送される工業製品11
には、製品コード、商標などの図形を含む文字パターン
12が印字されている。そして、検査工程でたとえばC
CD(Charge Coupled Device;電荷結合素子)カメラな
どのITVカメラ13でこの文字パターン12を撮像し
て得た画像信号Va が画像入力部14に入力される。
表れないベルトコンベアにより搬送される工業製品11
には、製品コード、商標などの図形を含む文字パターン
12が印字されている。そして、検査工程でたとえばC
CD(Charge Coupled Device;電荷結合素子)カメラな
どのITVカメラ13でこの文字パターン12を撮像し
て得た画像信号Va が画像入力部14に入力される。
【0020】この画像信号Va は文字パターン12の濃
淡に応じてレベルが変化するアナログ画像信号であり、
標準画像入力部20においてディジタル画像信号Vd と
されてフレームメモリ16に格納されるとともに、本発
明装置の要部である検査部15へ供給されて種々の処理
を施される。
淡に応じてレベルが変化するアナログ画像信号であり、
標準画像入力部20においてディジタル画像信号Vd と
されてフレームメモリ16に格納されるとともに、本発
明装置の要部である検査部15へ供給されて種々の処理
を施される。
【0021】検査部15において処理された信号Vp は
いったんフレームメモリ16に格納され、検査部15
は、この信号Vp とディジタル画像信号Vd を逐次読み
出して、以下に詳述するとおり文字パターンの検査を行
なう。
いったんフレームメモリ16に格納され、検査部15
は、この信号Vp とディジタル画像信号Vd を逐次読み
出して、以下に詳述するとおり文字パターンの検査を行
なう。
【0022】図3は図2の要部を具体的に示すブロック
図である。画像入力部14は、標準画像入力部20、被
検査画像入力部21、ノイズ除去部22及び23、二値
化部24及び25により構成されている。
図である。画像入力部14は、標準画像入力部20、被
検査画像入力部21、ノイズ除去部22及び23、二値
化部24及び25により構成されている。
【0023】文字等の切れやかすれ、印字部分のむらな
どがなく鮮明で、手本とされる文字パターン(以下、標
準文字パターンと記す)が印字された工業製品を用意
し、これを撮像して得られた画像信号Va(S)は、標準画
像入力部20においてアナログディジタル変換されてデ
ィジタル画像信号Vd(S)とされる。
どがなく鮮明で、手本とされる文字パターン(以下、標
準文字パターンと記す)が印字された工業製品を用意
し、これを撮像して得られた画像信号Va(S)は、標準画
像入力部20においてアナログディジタル変換されてデ
ィジタル画像信号Vd(S)とされる。
【0024】このとき、たとえば図4に示すような、文
字「A」,「B」,「C」,「D」が縦方向に千鳥状に
配置された文字列をITVカメラ(13)で撮像して得
た画像信号Va(S)は、各文字に対して文字「A」,
「B」,「C」,「D」の順序でラベリングされるよう
にするために、図中矢印で示す方向に入力される。この
入力方向は、被検査画像入力部21も同様である。
字「A」,「B」,「C」,「D」が縦方向に千鳥状に
配置された文字列をITVカメラ(13)で撮像して得
た画像信号Va(S)は、各文字に対して文字「A」,
「B」,「C」,「D」の順序でラベリングされるよう
にするために、図中矢印で示す方向に入力される。この
入力方向は、被検査画像入力部21も同様である。
【0025】また、以降の処理はすべてディジタル的に
行われるので、ディジタル画像信号を単に画像信号と略
記する。
行われるので、ディジタル画像信号を単に画像信号と略
記する。
【0026】画像信号Vd(S)は、周知のメディアンフィ
ルタを有してなるノイズ除去部22において、たとえば
3(画素)×3(画素)の大きさのマスクで走査され、
マスク内の画素値の中間にある値がマスク中央の値にさ
れることでノイズを除去される。
ルタを有してなるノイズ除去部22において、たとえば
3(画素)×3(画素)の大きさのマスクで走査され、
マスク内の画素値の中間にある値がマスク中央の値にさ
れることでノイズを除去される。
【0027】ノイズを除去された画像信号Vd(S)′は、
つづく二値化部24において、照明による印字面の照度
などの文字パターンの撮像条件に応じて最適の二値化を
行なうために適当な閾値に基づき二値化され、二値化画
像信号V2(S)とされる。このときの閾値は固定された値
であってもよいが、たとえば良く知られた動的閾値法に
よれば、以下のアルゴリズムにしたがって最適値が定め
られる。
つづく二値化部24において、照明による印字面の照度
などの文字パターンの撮像条件に応じて最適の二値化を
行なうために適当な閾値に基づき二値化され、二値化画
像信号V2(S)とされる。このときの閾値は固定された値
であってもよいが、たとえば良く知られた動的閾値法に
よれば、以下のアルゴリズムにしたがって最適値が定め
られる。
【0028】まず、画像信号Vd(S)′の各画素値に対し
てその値を持つ画素数を数え、全画素数で正規化した濃
度ヒストグラムを作成する。つづいて、この濃度ヒトス
グラムから次式より全部の画素値の平均μと、分散σと
を算出する。
てその値を持つ画素数を数え、全画素数で正規化した濃
度ヒストグラムを作成する。つづいて、この濃度ヒトス
グラムから次式より全部の画素値の平均μと、分散σと
を算出する。
【0029】すなわち、各画素値の度数をHIST(k) とす
ると平均μは、
ると平均μは、
【0030】
【数1】で与えられる。
【0031】そして、次式で表される分散σ2(k)を最大
にする閾値k(0〜max)を求める。
にする閾値k(0〜max)を求める。
【0032】
【数2】画像信号Vd(S)′は、このようにして求めた閾
値kに基づき標準文字パターンの濃淡に応じて1、また
は0に二値化され、二値化画像信号V2(S)が生成され
る。なお、この値は1,0に限らず、16進表示のFF
(16),00(16)でも構わない。
値kに基づき標準文字パターンの濃淡に応じて1、また
は0に二値化され、二値化画像信号V2(S)が生成され
る。なお、この値は1,0に限らず、16進表示のFF
(16),00(16)でも構わない。
【0033】また、両画像入力部20及び21、両ノイ
ズ除去部22及び23、さらに両二値化部24及び25
はそれぞれ同一構成とされており、検査対象の工業製品
に印字された文字パターン(以下、被検査文字パターン
と記す)を撮像して得られた画像信号Va(T)に対して
は、被検査画像入力部23、ノイズ除去部23、及び二
値化部25において上記と同様の処理が行われ、二値化
画像信号V2(T)が生成される。
ズ除去部22及び23、さらに両二値化部24及び25
はそれぞれ同一構成とされており、検査対象の工業製品
に印字された文字パターン(以下、被検査文字パターン
と記す)を撮像して得られた画像信号Va(T)に対して
は、被検査画像入力部23、ノイズ除去部23、及び二
値化部25において上記と同様の処理が行われ、二値化
画像信号V2(T)が生成される。
【0034】したがって、画像信号Va(S)とVa(T)に対
して、1組の画像入力部とノイズ除去部と二値化部とで
処理するよう構成しても構わない。
して、1組の画像入力部とノイズ除去部と二値化部とで
処理するよう構成しても構わない。
【0035】両二値化画像信号V2(S)及びV2(T)は、そ
れぞれ図3には表れないフレームメモリ(16)に格納
されるとともに、二値化画像信号V2(S)はラベリング部
27へ、二値化画像信号V2(T)はラベル補正手段である
拡張収縮部26へと供給される。
れぞれ図3には表れないフレームメモリ(16)に格納
されるとともに、二値化画像信号V2(S)はラベリング部
27へ、二値化画像信号V2(T)はラベル補正手段である
拡張収縮部26へと供給される。
【0036】すなわち、これらの拡張収縮部26、ラベ
リング部27及び28、特徴抽出部29、さらにあては
め部30によって図2の検査部(15)を構成してい
る。なお、ラベリング部27及び28は上記ラベリング
手段、特徴抽出部29は上記標準位置算出手段であり、
上記存在範囲算出手段、上記面積算出手段、及び検査手
段はあてはめ部30に含まれる構成である。
リング部27及び28、特徴抽出部29、さらにあては
め部30によって図2の検査部(15)を構成してい
る。なお、ラベリング部27及び28は上記ラベリング
手段、特徴抽出部29は上記標準位置算出手段であり、
上記存在範囲算出手段、上記面積算出手段、及び検査手
段はあてはめ部30に含まれる構成である。
【0037】ところで、拡張収縮部26は検査対象の被
検査文字パターンを撮像して得られた二値化画像信号V
2(T)に対して以下のとおりの演算を行ない、印字の切れ
などが判読可能な程度に二値化画像信号V2(T)を補正す
る。
検査文字パターンを撮像して得られた二値化画像信号V
2(T)に対して以下のとおりの演算を行ない、印字の切れ
などが判読可能な程度に二値化画像信号V2(T)を補正す
る。
【0038】次に示す図5(A)〜(C)は拡張収縮部
26での処理を説明する図であり、図5(A)から図5
(B)で拡張処理を、図5(B)から図5(C)で収縮
処理を説明する。図5では、説明を簡単にするために、
二値化画像信号V2(T)を7(画素)×9(画素)からな
る信号として示している。
26での処理を説明する図であり、図5(A)から図5
(B)で拡張処理を、図5(B)から図5(C)で収縮
処理を説明する。図5では、説明を簡単にするために、
二値化画像信号V2(T)を7(画素)×9(画素)からな
る信号として示している。
【0039】たとえば同図(A)は、印字切れのある図
形を撮像して得られた二値化画像信号V2(T)の値をパタ
ーン的に表したもので、白い背景の部分の画素値は0、
斜線部分の画素値は1とされている。
形を撮像して得られた二値化画像信号V2(T)の値をパタ
ーン的に表したもので、白い背景の部分の画素値は0、
斜線部分の画素値は1とされている。
【0040】まず拡張処理について説明すると、拡張収
縮部26に入力される二値化画像信号V2(T)(図5
(A))の各画素値に対し、次式の演算を行って二値化画
像信号EX2 を生成する。
縮部26に入力される二値化画像信号V2(T)(図5
(A))の各画素値に対し、次式の演算を行って二値化画
像信号EX2 を生成する。
【0041】
【数3】ただし、mは1≦m≦7なる整数、nは1≦n
≦9なる整数であり、(m,n)は図中左上隅を原点と
し、横方向をx軸、縦方向をy軸とする座標値である。
≦9なる整数であり、(m,n)は図中左上隅を原点と
し、横方向をx軸、縦方向をy軸とする座標値である。
【0042】すなわち、式 (5)において、f(m,n
) は被検査文字パターンの二値化画像信号V2(T)の各
画素値、gEX(m,n)は拡張処理された二値化画像信号
EX2の各画素値を表わす。また、4近傍とは、座標
(m,n ) に対して上下左右に隣接する座標(m+1,
n),(m−1,n), (m,n+1),(m,n−1) の4
画素の画素値を意味している。
) は被検査文字パターンの二値化画像信号V2(T)の各
画素値、gEX(m,n)は拡張処理された二値化画像信号
EX2の各画素値を表わす。また、4近傍とは、座標
(m,n ) に対して上下左右に隣接する座標(m+1,
n),(m−1,n), (m,n+1),(m,n−1) の4
画素の画素値を意味している。
【0043】このように拡張処理を行った結果、図5
(A)の二値化画像信号V2(T)から図5(B)の二値化
画像信号EX2 が得られる。図5(B)中、梨地の部分
は式 (5)の処理によって新たに画素値を1とされた部
分を表し、印字切れのあった部分が新たに1とされる。
(A)の二値化画像信号V2(T)から図5(B)の二値化
画像信号EX2 が得られる。図5(B)中、梨地の部分
は式 (5)の処理によって新たに画素値を1とされた部
分を表し、印字切れのあった部分が新たに1とされる。
【0044】つづいて、二値化画像信号EX2 の各画素
値に対し、次式の演算を行って二値化画像信号COM2
を生成して収縮処理を行なう。
値に対し、次式の演算を行って二値化画像信号COM2
を生成して収縮処理を行なう。
【0045】
【数4】式 (6)において、gCOM (m,n)は収縮処理
された二値化画像信号COM2の各画素値を表す。式
(6)に基づいて収縮処理された二値化画像信号COM2
は同図(C)に示すとおりとなり、先の拡張処理で新た
に1とされた部分の画素値の一部は0とされる。しか
し、座標(2,6),(4,4),(4,5),(5,4),
(5,5),(5,6)の画素値は1のままとされる。
された二値化画像信号COM2の各画素値を表す。式
(6)に基づいて収縮処理された二値化画像信号COM2
は同図(C)に示すとおりとなり、先の拡張処理で新た
に1とされた部分の画素値の一部は0とされる。しか
し、座標(2,6),(4,4),(4,5),(5,4),
(5,5),(5,6)の画素値は1のままとされる。
【0046】したがって、当初の印字切れ部分のうち画
素値が1とされる部分があるために印字切れが補正さ
れ、切れのない図形として判読される。
素値が1とされる部分があるために印字切れが補正さ
れ、切れのない図形として判読される。
【0047】また、次式
【0048】
【数5】に基づいて、座標(m,n ) に対し上下左右、
及び斜め4方向に隣接する全部で8画素の画素値に基づ
いて同様に拡張収縮処理することも考えられる。このよ
うな拡張収縮処理により、一方向に連続する最高2画素
までの印字切れを補正することが可能である。
及び斜め4方向に隣接する全部で8画素の画素値に基づ
いて同様に拡張収縮処理することも考えられる。このよ
うな拡張収縮処理により、一方向に連続する最高2画素
までの印字切れを補正することが可能である。
【0049】このように補正された二値化画像信号CO
M2 はラベリング部28へ供給され、従来と同様のラベ
リング技法によって被検査文字パターンのラベル画像L
(T)が生成される。よって、上記のように印字切れを補
正された被検査文字パターンの連続する各領域に、それ
ぞれ固有のラベル値(第2のラベル値)が付与される。
M2 はラベリング部28へ供給され、従来と同様のラベ
リング技法によって被検査文字パターンのラベル画像L
(T)が生成される。よって、上記のように印字切れを補
正された被検査文字パターンの連続する各領域に、それ
ぞれ固有のラベル値(第2のラベル値)が付与される。
【0050】一方、手本の標準文字パターンから得られ
た二値化画像信号V2(S)は、ラベリング部27へ供給さ
れ、従来と同様のラベリング技法によってラベル画像L
(S)が生成される。これにより、文字等の切れやかす
れ、印字部分のむらなどがなく鮮明に印字された標準文
字パターンの各領域に、それぞれ固有のラベル値(第1
のラベル値)が付与される。
た二値化画像信号V2(S)は、ラベリング部27へ供給さ
れ、従来と同様のラベリング技法によってラベル画像L
(S)が生成される。これにより、文字等の切れやかす
れ、印字部分のむらなどがなく鮮明に印字された標準文
字パターンの各領域に、それぞれ固有のラベル値(第1
のラベル値)が付与される。
【0051】これらの各文字パターンの各領域、すなわ
ち、一つのラベル値が付与されており、連続する一領域
をラベル領域と記す。
ち、一つのラベル値が付与されており、連続する一領域
をラベル領域と記す。
【0052】そして、この標準文字パターンの各ラベル
領域のラベル値より、特徴抽出部29において標準文字
パターンの各ラベル領域相互の相対的な位置関係などの
特徴が抽出される。また、あてはめ部30では、この相
対的な位置関係と被検査文字パターンの各ラベル領域の
ラベル値をもとに、被検査文字パターンの各ラベル領域
のパターンが標準文字パターンの対応するラベル領域の
パターンと比較照合され、その良否が検査される。
領域のラベル値より、特徴抽出部29において標準文字
パターンの各ラベル領域相互の相対的な位置関係などの
特徴が抽出される。また、あてはめ部30では、この相
対的な位置関係と被検査文字パターンの各ラベル領域の
ラベル値をもとに、被検査文字パターンの各ラベル領域
のパターンが標準文字パターンの対応するラベル領域の
パターンと比較照合され、その良否が検査される。
【0053】ところで、英文のアルファベットは一文字
が一つのラベル領域で構成されるが、和文の文字などで
は一文字が二つ以上のラベル領域からなるものがある。
たとえば、平仮名の「あ」は一つのラベル領域からなる
が、平仮名の「い」は二つのラベル領域、平仮名の
「に」は三つのラベル領域からなる。また、漢字ではさ
らに多くのラベル領域で一文字が構成されるものもあ
り、さらに商標などの図形では、一つのパターンが多く
のラベル領域で構成される場合がある。
が一つのラベル領域で構成されるが、和文の文字などで
は一文字が二つ以上のラベル領域からなるものがある。
たとえば、平仮名の「あ」は一つのラベル領域からなる
が、平仮名の「い」は二つのラベル領域、平仮名の
「に」は三つのラベル領域からなる。また、漢字ではさ
らに多くのラベル領域で一文字が構成されるものもあ
り、さらに商標などの図形では、一つのパターンが多く
のラベル領域で構成される場合がある。
【0054】そこで、特徴抽出部29では、標準文字パ
ターン中の各文字、またはパターンのこれら各ラベル領
域同士の相対的な位置関係を、4つのパラメータとして
抽出する。以下、標準文字パターンが文字「A」,
「B」,「C」,「D」で構成される場合について、図
6に基づいて説明する。
ターン中の各文字、またはパターンのこれら各ラベル領
域同士の相対的な位置関係を、4つのパラメータとして
抽出する。以下、標準文字パターンが文字「A」,
「B」,「C」,「D」で構成される場合について、図
6に基づいて説明する。
【0055】まず、図6(A)に示す各文字「A」,
「B」,「C」,「D」の重心GA ,GB , GC , GD
それぞれの座標(xA ,yA ),(xB ,yB ),(xC ,
yC ),(xD ,yD ) を算出する。これらの重心座標
は、各文字固有のラベル値に対応する画素の座標値の平
均値として求められる。なお、一文字、または一つのパ
ターンが複数のラベル領域で構成される場合には各ラベ
ル領域の重心座標を算出し、この重心座標に基づいて以
下と同様の処理を行なう。
「B」,「C」,「D」の重心GA ,GB , GC , GD
それぞれの座標(xA ,yA ),(xB ,yB ),(xC ,
yC ),(xD ,yD ) を算出する。これらの重心座標
は、各文字固有のラベル値に対応する画素の座標値の平
均値として求められる。なお、一文字、または一つのパ
ターンが複数のラベル領域で構成される場合には各ラベ
ル領域の重心座標を算出し、この重心座標に基づいて以
下と同様の処理を行なう。
【0056】つづいて、重心座標のxA 〜xD の値の平
均値XS と、yA 〜yD の値の平均値YS とを算出し、
各文字重心全体での重心PS ( XS,YS ) の位置を求め
る。ここでは、重心PS をパターン重心と称する。
均値XS と、yA 〜yD の値の平均値YS とを算出し、
各文字重心全体での重心PS ( XS,YS ) の位置を求め
る。ここでは、重心PS をパターン重心と称する。
【0057】次に、xA 〜xD 、yA 〜yD 、XS 、及
びYS の値から、パターン重心PSと各文字重心GA ,
GB , GC , GD との距離dA , dB , dC , dD を算
出する。さらに、パターン重心PS を通るx軸に平行な
線を基準として、各重心GA, GB , GC , GD とパタ
ーン重心PS を結ぶ線の角度θA , θB , θC , θDを
算出する。
びYS の値から、パターン重心PSと各文字重心GA ,
GB , GC , GD との距離dA , dB , dC , dD を算
出する。さらに、パターン重心PS を通るx軸に平行な
線を基準として、各重心GA, GB , GC , GD とパタ
ーン重心PS を結ぶ線の角度θA , θB , θC , θDを
算出する。
【0058】標準文字パターンの各文字の絶対的な位置
は各座標値で定められ、検査対象の手本となる各文字の
相対的な位置関係は、これらの距離dA 〜dD と角度θ
A 〜θD で定められる。
は各座標値で定められ、検査対象の手本となる各文字の
相対的な位置関係は、これらの距離dA 〜dD と角度θ
A 〜θD で定められる。
【0059】また、特徴抽出部29では、図6(B)に
斜線部で示す標準文字パターンの各文字「A」,
「B」,「C」,「D」の面積SAS〜SDSと、破線で示
すそれぞれの存在範囲RAS〜RDSを算出する。この面積
は各ラベル値を有する画素の画素数から求められ、存在
範囲は、各文字重心の座標と各文字のラベル値を有する
画素のうち文字重心から最も遠い位置にある画素の座標
から求められる。
斜線部で示す標準文字パターンの各文字「A」,
「B」,「C」,「D」の面積SAS〜SDSと、破線で示
すそれぞれの存在範囲RAS〜RDSを算出する。この面積
は各ラベル値を有する画素の画素数から求められ、存在
範囲は、各文字重心の座標と各文字のラベル値を有する
画素のうち文字重心から最も遠い位置にある画素の座標
から求められる。
【0060】次に、あてはめ部30では、以上4つのパ
ラメータdA 〜dD 、θA 〜θD 、SAS〜SDS、RAS〜
RDSと、被検査文字パターンから得られたラベル画像L
(T)のラベル値とをもとに、図7乃至図8に示すフロー
チャートにしたがって被検査文字パターンのパターンの
良否が検査される。
ラメータdA 〜dD 、θA 〜θD 、SAS〜SDS、RAS〜
RDSと、被検査文字パターンから得られたラベル画像L
(T)のラベル値とをもとに、図7乃至図8に示すフロー
チャートにしたがって被検査文字パターンのパターンの
良否が検査される。
【0061】図7のステップ71において、ラベリング
部28からラベル画像L(T) を入力し、つづくステップ
72で、ラベル画像L(T) に付与されているラベル値か
ら被検査文字パターンのラベル領域の数を算出し、上記
面積SAS〜SDSの算出と同様に各ラベル領域の面積を算
出する。
部28からラベル画像L(T) を入力し、つづくステップ
72で、ラベル画像L(T) に付与されているラベル値か
ら被検査文字パターンのラベル領域の数を算出し、上記
面積SAS〜SDSの算出と同様に各ラベル領域の面積を算
出する。
【0062】ステップ73では、このラベル領域の数を
予めわかっている標準文字パターンの文字の数と比較す
る。これが等しければ(Yes) 、各文字に切れなどが生
じることなく、一文字が連続する一ラベル領域で印字さ
れていることになる。
予めわかっている標準文字パターンの文字の数と比較す
る。これが等しければ(Yes) 、各文字に切れなどが生
じることなく、一文字が連続する一ラベル領域で印字さ
れていることになる。
【0063】そこで、つづくステップ74において、ス
テップ72で既に算出した各ラベル領域(すなわち、文
字)の面積と特徴抽出部29において算出された標準文
字パターンの対応する各文字の面積SAS〜SDSとの差を
算出し、これらの差の最大値が所定値以下であるかを比
較する。この所定値は、最大値がこの値以下であれば、
印字された文字(図形など)が容易に判読可能で良品と
して許容される程度に実験的に定められるものである。
テップ72で既に算出した各ラベル領域(すなわち、文
字)の面積と特徴抽出部29において算出された標準文
字パターンの対応する各文字の面積SAS〜SDSとの差を
算出し、これらの差の最大値が所定値以下であるかを比
較する。この所定値は、最大値がこの値以下であれば、
印字された文字(図形など)が容易に判読可能で良品と
して許容される程度に実験的に定められるものである。
【0064】したがって、ステップ74の比較で差が所
定値以下(Yes) ならば、ステップ75に進み合格判定
を行って検査を終了する。また、ステップ74の比較で
差が所定値以上(No)ならば、印字切れはないもののあ
るラベル領域(すなわち、文字)の面積が許容される以
上に小さく、正しく判読するのが困難であると判断し、
ステップ76に進み不合格判定を行って検査を終了す
る。
定値以下(Yes) ならば、ステップ75に進み合格判定
を行って検査を終了する。また、ステップ74の比較で
差が所定値以上(No)ならば、印字切れはないもののあ
るラベル領域(すなわち、文字)の面積が許容される以
上に小さく、正しく判読するのが困難であると判断し、
ステップ76に進み不合格判定を行って検査を終了す
る。
【0065】また、ステップ73において、被検査文字
パターンのラベル領域の数が標準文字パターンの文字数
と異なっていれば(No)、いずれかの文字に印字切れが
生じており、複数のラベル領域で印字されている文字が
あることになる。
パターンのラベル領域の数が標準文字パターンの文字数
と異なっていれば(No)、いずれかの文字に印字切れが
生じており、複数のラベル領域で印字されている文字が
あることになる。
【0066】このため、標準文字パターンの各文字の存
在範囲を求めて被検査文字パターンの切れ切れになった
複数のラベル領域をあてはめるなどして、標準文字パタ
ーンの各文字と被検査文字パターンの各文字を比較照合
するステップ77以降の処理を実行する。ステップ77
〜ステップ79、及び図8のステップ80があてはめ処
理、ステップ81以降が比較処理である。
在範囲を求めて被検査文字パターンの切れ切れになった
複数のラベル領域をあてはめるなどして、標準文字パタ
ーンの各文字と被検査文字パターンの各文字を比較照合
するステップ77以降の処理を実行する。ステップ77
〜ステップ79、及び図8のステップ80があてはめ処
理、ステップ81以降が比較処理である。
【0067】ステップ77では、被検査文字パターンの
ラベル画像L(T) のたとえば上2つのラベル領域の面積
と標準文字パターンの対応する文字「A」と文字「B」
の面積との差をそれぞれ算出し、これらがそれぞれ所定
値以下であるかどうかを比較する。あるいは、下2つの
ラベル領域の面積を文字「C」と文字Dの面積と比較し
てもよい。
ラベル画像L(T) のたとえば上2つのラベル領域の面積
と標準文字パターンの対応する文字「A」と文字「B」
の面積との差をそれぞれ算出し、これらがそれぞれ所定
値以下であるかどうかを比較する。あるいは、下2つの
ラベル領域の面積を文字「C」と文字Dの面積と比較し
てもよい。
【0068】上2つのラベル領域と各文字との面積差の
少なくともどちらかが所定値以下でない(No)場合は、
被検査文字パターンの上2つのラベル領域は文字「A」
と文字「B」ではなく、いずれかの文字に印字切れが生
じていると判断されるので、ステップ76に進み不合格
判定を行って検査を終了する。
少なくともどちらかが所定値以下でない(No)場合は、
被検査文字パターンの上2つのラベル領域は文字「A」
と文字「B」ではなく、いずれかの文字に印字切れが生
じていると判断されるので、ステップ76に進み不合格
判定を行って検査を終了する。
【0069】一方、ステップ77において上記面積差の
いずれもが所定値以下(Yes) の場合には、上2つのラ
ベル領域は文字「A」と文字「B」が判読可能に正しく
印字されたものであると判断される。
いずれもが所定値以下(Yes) の場合には、上2つのラ
ベル領域は文字「A」と文字「B」が判読可能に正しく
印字されたものであると判断される。
【0070】そこで、つづくステップ78の処理におい
て、両文字(ラベル領域)の重心座標の値(x(1),y
(1))、(x(2),y(2))を、ラベル画像L(T) のラベル値
から標準文字パターンの重心座標の算出と同様に算出す
る。
て、両文字(ラベル領域)の重心座標の値(x(1),y
(1))、(x(2),y(2))を、ラベル画像L(T) のラベル値
から標準文字パターンの重心座標の算出と同様に算出す
る。
【0071】つづいてステップ79において、被検査文
字パターンの両文字(ラベル領域)の重心座標の値(x
(i),y(i))(x=1,2)、標準文字パターンの文字
「A」及び「B」の特徴から、被検査文字パターンの他
のラベル領域の重心座標を求める。
字パターンの両文字(ラベル領域)の重心座標の値(x
(i),y(i))(x=1,2)、標準文字パターンの文字
「A」及び「B」の特徴から、被検査文字パターンの他
のラベル領域の重心座標を求める。
【0072】すなわち、前述の標準文字パターンの特徴
のうち距離をd(i) 、角度をθ(i)とすると、重心座標
の値は x(i) =d(i)cos(θ(i)+α) +XT (9) y(i) =d(i)cos(θ(i)+α) +YT (10) で表される。
のうち距離をd(i) 、角度をθ(i)とすると、重心座標
の値は x(i) =d(i)cos(θ(i)+α) +XT (9) y(i) =d(i)cos(θ(i)+α) +YT (10) で表される。
【0073】ただし、i=1のときはd(1) =dA 、θ
(2) =θA である。また、i=2のときはd(2) =
dB 、θ(2) =θB であり、それぞれ既知の値である。
(2) =θA である。また、i=2のときはd(2) =
dB 、θ(2) =θB であり、それぞれ既知の値である。
【0074】なお、(XT,YT ) は被検査文字パターン
全体のパターン重心PT の座標値、αは被検査文字パタ
ーンの標準文字パターンに対する回転角であり、それぞ
れ未知の値である。したがって、仮にパターン重心PT
が標準文字パターンのパターン重心PS と等しいとすれ
ば、図9(A)に示す二重斜線部の被検査文字パターン
が図中αだけ傾いていることが上式で示される。また、
標準文字パターンに対して横方向にXT 、縦方向にYT
平行移動されていることが上式で示される。
全体のパターン重心PT の座標値、αは被検査文字パタ
ーンの標準文字パターンに対する回転角であり、それぞ
れ未知の値である。したがって、仮にパターン重心PT
が標準文字パターンのパターン重心PS と等しいとすれ
ば、図9(A)に示す二重斜線部の被検査文字パターン
が図中αだけ傾いていることが上式で示される。また、
標準文字パターンに対して横方向にXT 、縦方向にYT
平行移動されていることが上式で示される。
【0075】したがって、 (9) 式及び (10) 式に距離
dA ,dB 及び角度θA ,θB を代入することで、文字
「A」の座標値は、 x(1) =dA cos(θA +α) +XT (11) y(1) =dA cos(θA +α) +YT (12) また、文字「B」の座標値は、 x(2) =dB cos(θB +α) +XT (13) y(2) =dB cos(θB +α) +YT (14) となる。
dA ,dB 及び角度θA ,θB を代入することで、文字
「A」の座標値は、 x(1) =dA cos(θA +α) +XT (11) y(1) =dA cos(θA +α) +YT (12) また、文字「B」の座標値は、 x(2) =dB cos(θB +α) +XT (13) y(2) =dB cos(θB +α) +YT (14) となる。
【0076】そして、上記 (11) 〜 (14) 式の連立方程
式を解くことで、3つの未知数XT,YT 、及びαが求め
られる。
式を解くことで、3つの未知数XT,YT 、及びαが求め
られる。
【0077】したがって、ここで求めたXT,YT 、及び
αと、特徴抽出部29において算出した標準文字パター
ンの他のラベル領域の距離及び角度を上記 (9) 及び
(11)式に代入することにより、被検査文字パターンの対
応するラベル領域の重心座標の値(x(i),y(i))(i=
3,4,…)が求められる。
αと、特徴抽出部29において算出した標準文字パター
ンの他のラベル領域の距離及び角度を上記 (9) 及び
(11)式に代入することにより、被検査文字パターンの対
応するラベル領域の重心座標の値(x(i),y(i))(i=
3,4,…)が求められる。
【0078】つづいて図8のステップ80の処理に進
み、ステップ79において求めた被検査文字パターンの
各ラベル領域の重心座標(x(i),y(i))(i=1,2,
…)で表される位置を中心位置として、特徴抽出部29
により算出された標準文字パターンの文字「A」,
「B」,「C」,「D」の存在範囲RAS〜RDSを当ては
める。そして、これらの各存在範囲を被検査文字パター
ンの各文字の正しい存在範囲として決定する。
み、ステップ79において求めた被検査文字パターンの
各ラベル領域の重心座標(x(i),y(i))(i=1,2,
…)で表される位置を中心位置として、特徴抽出部29
により算出された標準文字パターンの文字「A」,
「B」,「C」,「D」の存在範囲RAS〜RDSを当ては
める。そして、これらの各存在範囲を被検査文字パター
ンの各文字の正しい存在範囲として決定する。
【0079】つづくステップ81では、各文字の正しい
存在範内の全てのラベル領域の面積の総和を、ステップ
72において算出した各ラベル領域の面積に基づいてそ
れぞれ求め、これらを各文字の面積SAT〜SDTとする。
これらの面積は、本来は一文字を構成する切れ切れにな
った複数のラベル領域の面積の和であり、印字された各
文字の正しい面積である。
存在範内の全てのラベル領域の面積の総和を、ステップ
72において算出した各ラベル領域の面積に基づいてそ
れぞれ求め、これらを各文字の面積SAT〜SDTとする。
これらの面積は、本来は一文字を構成する切れ切れにな
った複数のラベル領域の面積の和であり、印字された各
文字の正しい面積である。
【0080】そこで、つづくステップ82において、こ
れら各文字の正しい面積と標準文字パターンの対応する
各文字の予め算出した面積との差を算出し、これらの差
の最大値が所定値以下であるかを比較する。この所定値
は、前述したとおり、各文字が容易に判読可能であるか
どうかを示す値である。
れら各文字の正しい面積と標準文字パターンの対応する
各文字の予め算出した面積との差を算出し、これらの差
の最大値が所定値以下であるかを比較する。この所定値
は、前述したとおり、各文字が容易に判読可能であるか
どうかを示す値である。
【0081】たとえば、図9(B)に示すように印字切
れのある文字「C」及び「D」の面積は、存在範囲RCS
及びRDS内の梨地部分のラベル領域の面積の和として求
められ、標準文字パターンの対応する各文字の面積SCS
及びSDS(図9(B)参照)と比較される。
れのある文字「C」及び「D」の面積は、存在範囲RCS
及びRDS内の梨地部分のラベル領域の面積の和として求
められ、標準文字パターンの対応する各文字の面積SCS
及びSDS(図9(B)参照)と比較される。
【0082】したがって、ステップ82の比較で差が所
定値以下(Yes) ならば、被検査文字パターンの各文字
(または商標などの図形)は判読可能に印字されている
と判断し、ステップ83に進み合格判定を行って検査を
終了する。また、ステップ82の比較で差が所定値以上
(No)ならば、判読不可能な文字等があると判断し、ス
テップ84に進み不合格判定を行って検査を終了する。
定値以下(Yes) ならば、被検査文字パターンの各文字
(または商標などの図形)は判読可能に印字されている
と判断し、ステップ83に進み合格判定を行って検査を
終了する。また、ステップ82の比較で差が所定値以上
(No)ならば、判読不可能な文字等があると判断し、ス
テップ84に進み不合格判定を行って検査を終了する。
【0083】以上説明したとおり本実施例によれば、被
検査文字パターンの各ラベル領域のうち、標準文字パタ
ーンの一文字の存在範囲に対応する各ラベル領域の存在
範囲が標準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関
係に基づいて算出され、さらにこれに基づいて標準文字
パターンと被検査文字パターンの比較照合が行われる。
したがって、被検査文字パターンが手本の標準文字パタ
ーンに対して平行、かつ傾いてずれている場合でも自動
的に検査を行うことが出来る。
検査文字パターンの各ラベル領域のうち、標準文字パタ
ーンの一文字の存在範囲に対応する各ラベル領域の存在
範囲が標準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関
係に基づいて算出され、さらにこれに基づいて標準文字
パターンと被検査文字パターンの比較照合が行われる。
したがって、被検査文字パターンが手本の標準文字パタ
ーンに対して平行、かつ傾いてずれている場合でも自動
的に検査を行うことが出来る。
【0084】また、印字不良などによって一文字の存在
範囲に複数のラベル領域が切れ切れになっている場合で
も、この存在範囲内の各ラベル領域の総和を算出してこ
の総和に基づいて面積が比較照合される。したがって、
印字切れのある文字パターンも自動的に検査することが
出来て、判読可能な程度の印字切れを合格とすることが
できる。
範囲に複数のラベル領域が切れ切れになっている場合で
も、この存在範囲内の各ラベル領域の総和を算出してこ
の総和に基づいて面積が比較照合される。したがって、
印字切れのある文字パターンも自動的に検査することが
出来て、判読可能な程度の印字切れを合格とすることが
できる。
【0085】ところで、各文字パターンが近い場合には
図10に示す如く、各文字の存在範囲RLS,RTSが互い
に重なりを生じる場合がある。この場合、図8のステッ
プ81で存在範囲RLSに含まれるラベル領域R1 ,
R2 ,R3 ,R4 の面積の総和が文字Lの正しい面積と
され、存在範囲RTSに含まれるラベル領域R3 ,R4 ,
R 5 ,R6 の面積の総和が文字Tの正しい面積とされ
る。つまり、存在範囲RLSでは余分なラベル領域R4 の
面積が加算され、存在範囲RTSでは余分なラベル領域R
3 の面積が加算されるために、存在範囲RLS,RTS夫々
の文字L,Tは不合格となり、正確な判定ができなくな
る。
図10に示す如く、各文字の存在範囲RLS,RTSが互い
に重なりを生じる場合がある。この場合、図8のステッ
プ81で存在範囲RLSに含まれるラベル領域R1 ,
R2 ,R3 ,R4 の面積の総和が文字Lの正しい面積と
され、存在範囲RTSに含まれるラベル領域R3 ,R4 ,
R 5 ,R6 の面積の総和が文字Tの正しい面積とされ
る。つまり、存在範囲RLSでは余分なラベル領域R4 の
面積が加算され、存在範囲RTSでは余分なラベル領域R
3 の面積が加算されるために、存在範囲RLS,RTS夫々
の文字L,Tは不合格となり、正確な判定ができなくな
る。
【0086】これを解決しようとするのが図11に示す
他の実施例である。図11において図3と同一部分には
同一符号を付し、その説明を省略する。図11におい
て、あてはめ部40は図7及び図8に示すフローチャー
トのうち、ステップ71〜80までを実行し、ステップ
81〜84を実行せずに処理を終了する。このステップ
81〜84に対応する処理は図11内の文字面積統合部
41及び合否判定部42で行われる。
他の実施例である。図11において図3と同一部分には
同一符号を付し、その説明を省略する。図11におい
て、あてはめ部40は図7及び図8に示すフローチャー
トのうち、ステップ71〜80までを実行し、ステップ
81〜84を実行せずに処理を終了する。このステップ
81〜84に対応する処理は図11内の文字面積統合部
41及び合否判定部42で行われる。
【0087】図12は文字面積統合部41が実行する統
合処理の一実施例のフローチャートを示す。ここでは図
13に示す如く、各文字の存在範囲RLS,RTSが略縦方
向に並んでいるものとする。この場合、図12の処理は
上側の存在範囲から順に行われる。ステップ100では
統合面積Sをゼロリセットし、次のステップ102で各
存在範囲内の未確定のラベル領域を上側から順に1つだ
け取り出し、このラベル領域の面積を統合面積Sに加算
する。
合処理の一実施例のフローチャートを示す。ここでは図
13に示す如く、各文字の存在範囲RLS,RTSが略縦方
向に並んでいるものとする。この場合、図12の処理は
上側の存在範囲から順に行われる。ステップ100では
統合面積Sをゼロリセットし、次のステップ102で各
存在範囲内の未確定のラベル領域を上側から順に1つだ
け取り出し、このラベル領域の面積を統合面積Sに加算
する。
【0088】ステップ104では統合面積Sの値が標準
文字パターンの対応する文字の面積に許容値αを加算し
た値より大きいか否かを判別し、統合面積Sが小なる場
合はステップ102に戻ってラベル領域の面積を統合面
積Sに加算する。また統合面積Sが大なる場合はステッ
プ106で統合面積Sから直前のステップ102で加算
されたラベル領域の面積を減算し、ステップ108では
この直前のステップ102で加算されたラベル領域を除
き統合面積Sに加算された各ラベル領域を当該存在範囲
のラベル領域として確定すると共に統合面積Sの値を当
該文字の正しい面積として処理を終了する。
文字パターンの対応する文字の面積に許容値αを加算し
た値より大きいか否かを判別し、統合面積Sが小なる場
合はステップ102に戻ってラベル領域の面積を統合面
積Sに加算する。また統合面積Sが大なる場合はステッ
プ106で統合面積Sから直前のステップ102で加算
されたラベル領域の面積を減算し、ステップ108では
この直前のステップ102で加算されたラベル領域を除
き統合面積Sに加算された各ラベル領域を当該存在範囲
のラベル領域として確定すると共に統合面積Sの値を当
該文字の正しい面積として処理を終了する。
【0089】このため、図13に示す存在範囲RLSのラ
ベル領域R1 ,R2 ,R3 ,R4 を統合面積Sに加算し
たとき、統合面積Sが標準文字パターンの対応する文字
の面積に許容値αを加算した値より大となり、存在範囲
RLSではラベル領域R1 〜R 3 が確定される。次の存在
範囲RTSの統合処理は未確定のラベル領域R4 から開始
され、同様にしてラベル領域R4 〜R6 が確定される。
ベル領域R1 ,R2 ,R3 ,R4 を統合面積Sに加算し
たとき、統合面積Sが標準文字パターンの対応する文字
の面積に許容値αを加算した値より大となり、存在範囲
RLSではラベル領域R1 〜R 3 が確定される。次の存在
範囲RTSの統合処理は未確定のラベル領域R4 から開始
され、同様にしてラベル領域R4 〜R6 が確定される。
【0090】図14は統合処理の他の実施例のフローチ
ャートを示す。この処理は任意の存在範囲を選択して順
次行われる。ステップ110では統合面積Sをゼロリセ
ットし、次のステップ112で選択した存在範囲内の各
ラベル領域の重心夫々から文字重心までの距離を算出す
る。ステップ114では存在範囲内のラベル領域を上記
距離が小さい順にソートする。ステップ116ではソー
ト順に未確定のラベル領域を1つだけ取り出し、このラ
ベル領域の面積を統合面積Sに加算する。
ャートを示す。この処理は任意の存在範囲を選択して順
次行われる。ステップ110では統合面積Sをゼロリセ
ットし、次のステップ112で選択した存在範囲内の各
ラベル領域の重心夫々から文字重心までの距離を算出す
る。ステップ114では存在範囲内のラベル領域を上記
距離が小さい順にソートする。ステップ116ではソー
ト順に未確定のラベル領域を1つだけ取り出し、このラ
ベル領域の面積を統合面積Sに加算する。
【0091】ステップ118では統合面積Sの値が標準
文字パターンの対応する文字の面積に許容値αを加算し
た値より大きいか否かを判別し、統合面積Sが小なる場
合はステップ116に戻ってラベル領域の面積を統合面
積Sに加算する。また統合面積Sが大なる場合はステッ
プ120で統合面積Sから直前のステップ116で加算
されたラベル領域の面積を減算し、ステップ122では
この直前のステップ116で加算されたラベル領域を除
き統合面積Sに加算された各ラベル領域を当該存在範囲
のラベル領域として確定すると共に統合面積Sの値を当
該文字の正しい面積として処理を終了する。
文字パターンの対応する文字の面積に許容値αを加算し
た値より大きいか否かを判別し、統合面積Sが小なる場
合はステップ116に戻ってラベル領域の面積を統合面
積Sに加算する。また統合面積Sが大なる場合はステッ
プ120で統合面積Sから直前のステップ116で加算
されたラベル領域の面積を減算し、ステップ122では
この直前のステップ116で加算されたラベル領域を除
き統合面積Sに加算された各ラベル領域を当該存在範囲
のラベル領域として確定すると共に統合面積Sの値を当
該文字の正しい面積として処理を終了する。
【0092】このため、図15に示す存在範囲RLSでは
ラベル領域R1 〜R4 の重心G1 〜G4 夫々と文字重心
GL との距離が小さい順、つまりラベル領域R2 ,
R3 ,R 1 ,R4 の順に各ラベル領域の面積が統合面積
Sに加算されたラベル領域R1 ,R2 ,R3 が存在範囲
RLSとして確定される。存在範囲RTSでは未確定のラベ
ル領域R4 〜R6 が重心G4 〜G6 夫々と文字重心GT
との距離が小さい順、つまりR5 ,R4 ,R6 の順にラ
ベル領域の面積が統合面積Sに加算されてラベル領域R
TSとして確定される。
ラベル領域R1 〜R4 の重心G1 〜G4 夫々と文字重心
GL との距離が小さい順、つまりラベル領域R2 ,
R3 ,R 1 ,R4 の順に各ラベル領域の面積が統合面積
Sに加算されたラベル領域R1 ,R2 ,R3 が存在範囲
RLSとして確定される。存在範囲RTSでは未確定のラベ
ル領域R4 〜R6 が重心G4 〜G6 夫々と文字重心GT
との距離が小さい順、つまりR5 ,R4 ,R6 の順にラ
ベル領域の面積が統合面積Sに加算されてラベル領域R
TSとして確定される。
【0093】合否判定部41は図8に示すフローチャー
トのステップ82〜84と同一の判定処理を行う。つま
り、ステップ82において、各文字の正しい面積と標準
文字パターンの対応する各文字の予め算出した面積との
差を算出し、これらの差の最大値が所定値以下であるか
を比較する。この所定値は、各文字が容易に判読可能で
あるかどうかを示す値である。
トのステップ82〜84と同一の判定処理を行う。つま
り、ステップ82において、各文字の正しい面積と標準
文字パターンの対応する各文字の予め算出した面積との
差を算出し、これらの差の最大値が所定値以下であるか
を比較する。この所定値は、各文字が容易に判読可能で
あるかどうかを示す値である。
【0094】ステップ82の比較で差が所定値以下(Y
es) ならば被検査文字パターンの各文字(または商標な
どの図形)は判読可能に印字されていると判読し、ステ
ップ83に進み合格判定を行って検査を終了する。ま
た、ステップ82の比較で差が所定値以上(No)なら
ば、判読不可能な文字等があると判断し、ステップ84
に進み不合格判定を行って検査を終了する。
es) ならば被検査文字パターンの各文字(または商標な
どの図形)は判読可能に印字されていると判読し、ステ
ップ83に進み合格判定を行って検査を終了する。ま
た、ステップ82の比較で差が所定値以上(No)なら
ば、判読不可能な文字等があると判断し、ステップ84
に進み不合格判定を行って検査を終了する。
【0095】このように、各文字の存在範囲が互いに重
なった場合にも、各存在範囲内でその文字を構成するラ
ベル領域が正確に統合され、標準文字パターンと比較照
合が行われるため、正確な判定を行うことができる。
なった場合にも、各存在範囲内でその文字を構成するラ
ベル領域が正確に統合され、標準文字パターンと比較照
合が行われるため、正確な判定を行うことができる。
【0096】なお、上記実施例ではアルファベットから
なる文字列に対する検査について説明したが、検査対象
の文字パターンは、漢字、仮名、数字などの文字列はも
ちろん、商標または図形でも構わない。
なる文字列に対する検査について説明したが、検査対象
の文字パターンは、漢字、仮名、数字などの文字列はも
ちろん、商標または図形でも構わない。
【0097】
【発明の効果】上述の如く本発明装置は、標準位置算出
手段により標準文字パターンの複数の文字及び/又は図
形の各領域に固有に付与された第1のラベル値よりそれ
らの各領域相互の相対的な位置関係を算出し、また、存
在範囲算出手段によりこの相対的な位置関係と被検査文
字パターンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与
された第2のラベル値とに基づいてこれらの各領域のう
ち標準文字パターンの一領域に対応する領域の存在範囲
を標準文字パターンの各領域について算出し、さらに、
ラベル値で示される領域の面積を面積算出手段により算
出するが、検査手段は、第2のラベル値に基づいて算出
された被検査文字パターンの各領域の面積と存在範囲算
出手段により算出されたそれぞれの存在範囲とから、標
準文字パターンの一領域に対応する被検査文字パターン
の各領域の面積の総和をそれぞれ算出するとともに、こ
の総和を第1のラベル値に基づいて算出された標準文字
パターンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合し
て被検査文字パターンのパターンの良否を検査する構成
であるため、各文字パターンがたとえば複数の文字から
なる文字列であり、各文字は一つの領域からなるものと
すると、被検査文字パターンの各領域のうち、標準文字
パターンの一文字の存在範囲に対応する各領域の存在範
囲が標準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関係
に基づいて算出され、さらにこれに基づいて標準文字パ
ターンと被検査文字パターンの比較照合が行われる。し
たがって、被検査文字パターンが手本の標準文字パター
ンに対して平行、かつ傾いてずれていてどのような位
置、どのような向きにある場合でも自動的に検査を行う
ことが出来る。
手段により標準文字パターンの複数の文字及び/又は図
形の各領域に固有に付与された第1のラベル値よりそれ
らの各領域相互の相対的な位置関係を算出し、また、存
在範囲算出手段によりこの相対的な位置関係と被検査文
字パターンの複数の文字及び/又は図形の各領域に付与
された第2のラベル値とに基づいてこれらの各領域のう
ち標準文字パターンの一領域に対応する領域の存在範囲
を標準文字パターンの各領域について算出し、さらに、
ラベル値で示される領域の面積を面積算出手段により算
出するが、検査手段は、第2のラベル値に基づいて算出
された被検査文字パターンの各領域の面積と存在範囲算
出手段により算出されたそれぞれの存在範囲とから、標
準文字パターンの一領域に対応する被検査文字パターン
の各領域の面積の総和をそれぞれ算出するとともに、こ
の総和を第1のラベル値に基づいて算出された標準文字
パターンの対応する各領域の面積とそれぞれ比較照合し
て被検査文字パターンのパターンの良否を検査する構成
であるため、各文字パターンがたとえば複数の文字から
なる文字列であり、各文字は一つの領域からなるものと
すると、被検査文字パターンの各領域のうち、標準文字
パターンの一文字の存在範囲に対応する各領域の存在範
囲が標準文字パターンの各文字相互の相対的な位置関係
に基づいて算出され、さらにこれに基づいて標準文字パ
ターンと被検査文字パターンの比較照合が行われる。し
たがって、被検査文字パターンが手本の標準文字パター
ンに対して平行、かつ傾いてずれていてどのような位
置、どのような向きにある場合でも自動的に検査を行う
ことが出来る。
【0098】また、印字不良などによって一文字の存在
範囲に複数の領域が切れ切れになっている場合でも、こ
の存在範囲内の各領域の総和を算出してこの総和に基づ
いて面積が比較照合されるため、印字切れのある文字パ
ターンも自動的に検査することが出来る。
範囲に複数の領域が切れ切れになっている場合でも、こ
の存在範囲内の各領域の総和を算出してこの総和に基づ
いて面積が比較照合されるため、印字切れのある文字パ
ターンも自動的に検査することが出来る。
【0099】更に各文字パターンの存在範囲が重なった
場合もラベル領域を所定順序で標準文字パターンの文字
面積と同程度となるまで加算して統合するため、存在範
囲が重なった各文字パターンを正確にかつ自動的に検査
することが出来るなどの特長がある。
場合もラベル領域を所定順序で標準文字パターンの文字
面積と同程度となるまで加算して統合するため、存在範
囲が重なった各文字パターンを正確にかつ自動的に検査
することが出来るなどの特長がある。
【図1】本発明の原理図である。
【図2】本発明の一実施例の全体構成図である。
【図3】本発明の一実施例の具体的なブロック図であ
る。
る。
【図4】標準画像入力部20での画像信号入力を説明す
る図である。
る図である。
【図5】拡張収縮部26での演算を説明する図である。
【図6】文字特徴抽出部26の動作を説明する図であ
る。
る。
【図7】あてはめ部30の処理のフローチャート(その
1)である。
1)である。
【図8】あてはめ部30の処理のフローチャート(その
2)である。
2)である。
【図9】あてはめ部30の動作を説明する図である。
【図10】存在範囲の重なりを説明するための図であ
る。
る。
【図11】本発明の他の実施例の具体的なブロック図で
ある。
ある。
【図12】文字面積統合部41の処理の一実施例のフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図13】図11の処理の動作を説明するための図であ
る。
る。
【図14】文字面積統合部41の処理の他の実施例のフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図15】図14の処理の動作を説明するための図であ
る。
る。
【図16】ラベリング技法を説明する図である。
1 標準文字パターン 2 被検査文字パターン 3 信号生成手段 4 ラベリング手段 5 標準位置算出手段 6 存在範囲算出手段 7 面積算出手段 8 検査手段 13 ITVカメラ 14 画像入力部 26 拡張収縮部(ラベル補正手段) 27,28 ラベリング部 29 特徴抽出部 30,40 あてはめ部 41 文字面積統合部 42 合否判定部
Claims (6)
- 【請求項1】 複数の文字及び/又は図形からなる文字
パターンから該文字パターンの濃淡に応じた二値化画像
信号を生成する信号生成手段(3)と、 該二値化画像信号に基づいて該文字パターンの各領域に
固有のラベル値を付与するラベリング手段(4)とを具
備したパターン検査装置において、 該ラベル値で示される領域の面積を算出する面積算出手
段(7)と、 前記信号生成手段(3)乃至前記ラベリング手段(4)
によって標準文字パターンの複数の文字及び/又は図形
の各領域に付与された第1のラベル値より、該標準文字
パターンの該各領域相互の相対的な位置関係を算出する
標準位置算出手段(5)と、 該各領域相互の相対的な位置関係と、前記信号生成手段
(3)乃至前記ラベリング手段(4)によって被検査文
字パターンの複数の文字/及び又は図形の各領域に付与
された第2のラベル値とに基づいて、該被検査文字パタ
ーンの該各領域のうち前記標準文字パターンの一領域に
対応する領域の存在範囲を、前記標準文字パターンの各
領域について算出する存在範囲算出手段(6)と、 該第2のラベル値に基づいて前記面積算出手段(7)に
より算出された該被検査文字パターンの各領域の面積と
該存在範囲算出手段(6)により算出された該存在範囲
とから、前記標準文字パターンの一領域に対応する該被
検査文字パターンの各領域の面積の総和を算出するとと
もに、該総和を前記第1のラベル値に基づいて前記面積
算出手段(7)により算出された前記標準文字パターン
の対応する領域の面積とそれぞれ比較照合して該被検査
文字パターンのパターンの良否を検査する検査手段
(8)とを具備したことを特徴とするパターン検査装
置。 - 【請求項2】 前記存在範囲算出手段(6)は、前記被
検査文字パターンの複数の文字及び/又は図形の各領域
のうち前記標準文字パターンの対応する領域と面積が等
しい2領域の位置を算出し、該2領域の位置に基づい
て、前記標準文字パターンの一領域に対応する前記被検
査文字パターンの各領域の存在範囲を算出することを特
徴とする請求項1記載のパターン検査装置。 - 【請求項3】 前記被検査文字パターンから前記信号生
成手段(3)により生成された二値化画像信号に所定の
演算を行って前記被検査文字パターンの所定距離内にあ
る各領域には前記ラベリング手段(28)によって同一
のラベル値が付与されるように補正した補正二値化画像
信号を生成し、該補正二値化画像信号を前記ラベリング
手段(28)に付与するラベル補正手段(26)を具備
したことを特徴とする請求項1又は請求項2記載のパタ
ーン検査装置。 - 【請求項4】 前記検査手段(8)は、前記存在範囲内
の第2のラベル値に基づいて算出された前記被検査文字
パターンの各領域の面積を所定の順序で、かつ前記標準
文字パターンの対応する領域の面積を越える直前まで加
算して、前記標準文字パターンの一領域に対応する該被
検査文字パターンの各領域の面積の総和を算出すること
を特徴とする請求項1又は請求項2又は請求項3記載の
パターン検査装置。 - 【請求項5】 前記検査手段(8)は前記存在範囲内の
第2のラベル値に基づいて算出された前記被検査文字パ
ターンの各領域の面積を、前記被検査文字パターンの文
字の並び方向に沿って順次加算することを特徴とする請
求項4記載のパターン検査装置。 - 【請求項6】 前記検査手段(8)は前記存在範囲内の
第2のラベル値に基づいて算出された前記被検査文字パ
ターンの各領域の面積を、前記各領域の重心と前記存在
範囲の重心との距離が小さい順に加算することを特徴と
する請求項4記載のパターン検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5214569A JPH06309437A (ja) | 1993-02-26 | 1993-08-30 | パターン検査装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3868593 | 1993-02-26 | ||
JP5-38685 | 1993-02-26 | ||
JP5214569A JPH06309437A (ja) | 1993-02-26 | 1993-08-30 | パターン検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06309437A true JPH06309437A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=26377965
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5214569A Pending JPH06309437A (ja) | 1993-02-26 | 1993-08-30 | パターン検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06309437A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006518101A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-08-03 | テスト アドバンテージ, インコーポレイテッド | データ分析用の装置および方法 |
JP2009231871A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
US7672022B1 (en) | 2000-04-07 | 2010-03-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Methods and apparatus for analyzing an image |
-
1993
- 1993-08-30 JP JP5214569A patent/JPH06309437A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7672022B1 (en) | 2000-04-07 | 2010-03-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Methods and apparatus for analyzing an image |
JP2006518101A (ja) * | 2003-02-14 | 2006-08-03 | テスト アドバンテージ, インコーポレイテッド | データ分析用の装置および方法 |
JP2009231871A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Fuji Xerox Co Ltd | 画像処理装置及び画像処理プログラム |
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