JPH06299349A - イオン注入装置 - Google Patents

イオン注入装置

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JPH06299349A
JPH06299349A JP5088436A JP8843693A JPH06299349A JP H06299349 A JPH06299349 A JP H06299349A JP 5088436 A JP5088436 A JP 5088436A JP 8843693 A JP8843693 A JP 8843693A JP H06299349 A JPH06299349 A JP H06299349A
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JP
Japan
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wafer
cleaning
particles
chamber
air lock
Prior art date
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JP5088436A
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English (en)
Inventor
Shiro Shiojiri
史郎 塩尻
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Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 本イオン注入装置では、所定電位に帯電した
クリーニングウエハ15が、ロボット6・7・10・1
1によってイオン照射対象物としてのウエハ5の装置内
搬送経路を搬送される。ウエハ5の装置内搬送経路にあ
るターゲットチャンバ1、ローダ側エアーロックチャン
バ2およびアンローダ側エアーロックチャンバ3の内部
に存在するパーティクルが、クリーニングウエハ15に
吸着され、クリーニングウエハ15と共に装置外へ排出
される。 【効果】 手作業の洗浄だけでは充分に排除することが
出来なかったウエハ5の装置内搬送経路に存在するパー
ティクルを、装置外へ排出することが可能となる。クリ
ーニングウエハ15を用いた装置内クリーニングを定期
的に行なえば、装置内パーティクルの滞留量の増加を防
止することができ、装置の信頼性が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウエハ等のイオン照射
対象物内に不純物イオンを注入するイオン注入装置に関
し、特に、イオン照射対象物の搬送経路にあるエアーロ
ックチャンバやターゲットチャンバ内に存在するパーテ
ィクルを減少させることができるイオン注入装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】イオン注入装置は、真空中でイオンを発
生させた後、イオンビームとして引出し、これを磁界を
用いた質量分析法により所望のイオンビームのみを選択
的に取り出し、さらに上記イオンビームを所定のエネル
ギーまで加速してシリコンウエハ等のイオン照射対象物
に照射することで、イオン照射対象物内に不純物イオン
を注入するものであり、半導体プロセスにおいてデバイ
スの特性を決定する不純物を任意の量および深さに制御
性良く注入できることから、現在の集積回路の製造に重
要な装置になっている。
【0003】上記イオン注入装置において、イオン照射
対象物は、高真空状態に保たれたターゲットチャンバ内
にセットされて、イオンビームの照射を受ける。通常、
このターゲットチャンバに隣接して、内部が選択的に大
気圧と真空とに切り換わるエアーロックチャンバが設け
られており、ターゲットチャンバ内を常に高真空状態に
保ったまま、大気側のイオン照射対象物をターゲットチ
ャンバ内に搬入出できるようになっている。
【0004】イオン照射対象物の搬入出が行なわれる上
記ターゲットチャンバやエアーロックチャンバ内にパー
ティクル(微細な塵埃)が存在すれば、デバイスの不良
を招来することになるため、イオン注入装置を製造した
メーカーは、これらのチャンバ内に所定以上のパーティ
クルが存在しないように、これらのチャンバ内を手作業
で洗浄して、ユーザーに納品している。
【0005】また、上記イオン注入装置においては、上
記ターゲットチャンバおよびエアーロックチャンバが設
けられたエンドステーションにクリーンルームを直結し
て、エンドステーションへのウエハの搬入および搬出時
に、できるだけ装置外部からパーティクルが侵入しない
ようにしている。また、例えばガス導入ラインにフィル
タ等のパーティクル除去手段を設けることによって、装
置内部を高真空から大気圧に戻す際に、パーティクルが
装置内部に侵入するのを防止するようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
ウエハの素子構造が年々微細化され、パーティクルのウ
エハへの付着低減が極めて重要視されている中、従来の
ようにチャンバ内を手作業で洗浄しただけでは、チャン
バ内からパーティクルを充分に排除することは困難であ
る。
【0007】また、イオン注入装置の運転中、ターゲッ
トチャンバ内でイオンビームがイオン照射対象物に照射
されると、イオン注入と共に、スパッタリングが生じる
ことになり、このスパッタリングによって放出されたス
パッタ粒子は、チャンバ内を浮遊したり、チャンバ壁に
付着することによって、ターゲットチャンバ内に滞留す
ることになる。また、イオン照射対象物がターゲットチ
ャンバやエアーロックチャンバに搬入出される際、イオ
ン照射対象物の表面に塗布されているレジストが擦れて
剥離し、これらのチャンバ内に滞留する。また、僅かな
がらクリーンルーム内に存在するパーティクルがイオン
照射対象物に付着して、ターゲットチャンバやエアーロ
ックチャンバ内に侵入することもある。
【0008】上記従来の構成では、大気側に存在する塵
埃がイオン注入装置内に侵入することを防止するように
はなっているが、装置内部で発生したパーティクルを除
去することはできない。このため、イオン照射対象物の
搬送経路であるエアーロックチャンバやターゲットチャ
ンバ内に存在するパーティクルは、その滞留量がイオン
注入装置の運転時間と共に増大し、ひいてはデバイスの
不良率を増大させることになる。
【0009】本発明は、上記に鑑みなされたものであ
り、その目的は、装置内のイオン照射対象物の搬送経路
に存在するパーティクルを充分に排除することができ、
デバイスの不良率の増加を防止することができるイオン
注入装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のイオン注入装置
は、イオン照射対象物の装置内搬送を行なう搬送手段
(例えば、搬送ロボット)を備えているものであり、上
記課題を解決するために、以下の手段を講じたことを特
徴としている。
【0011】即ち、上記イオン注入装置は、上記搬送手
段によって上記イオン照射対象物の装置内搬送経路を搬
送される、パーティクルを吸着するパーティクル吸着部
材(例えば、表面部が所定電位に帯電したクリーニング
ウエハ)を有している。
【0012】
【作用】上記の構成によれば、パーティクル吸着部材
が、搬送手段によってイオン照射対象物の装置内搬送経
路を搬送されると、この装置内搬送経路に存在するパー
ティクルが、パーティクル吸着部材に吸着される。そし
て、装置内搬送後にパーティクル吸着部材を装置外へと
搬出すれば、イオン照射対象物の装置内搬送経路に存在
していたパーティクルは、パーティクル吸着部材と共に
装置外へ排出されることになる。
【0013】これにより、手作業の洗浄だけでは充分に
排除することが出来なかった量のパーティクルを、装置
外へと排出することができる。また、イオン注入装置の
運転が開始された後、上記パーティクル吸着部材を用い
た装置内クリーニングを定期的に行なえば、イオン照射
対象物の装置内搬送経路におけるパーティクルの滞留量
の増加を防止することができるため、イオン照射対象物
に形成されるデバイスの不良率を運転当初の低減した状
態に維持でき、装置の信頼性が向上する。
【0014】
【実施例】本発明の一実施例を図1および図2に基づい
て説明すれば、以下の通りである。
【0015】本実施例に係るイオン注入装置は、基本的
には、注入元素をイオン化し、引出電源によりイオンビ
ームとして引き出すイオン源部、所定の注入イオンのみ
を選別して取り出す質量分析部、ビームを輸送する中で
ビーム形状を整形すると共に、静電的に走査するビーム
ライン部、およびイオン注入処理を行うエンドステーシ
ョンとから構成される装置本体と、装置本体各部の動作
を制御する制御部とから構成されている。
【0016】図1に示すように、上記エンドステーショ
ンは、イオン照射対象物としてのウエハ5がセットされ
て実際のイオン注入が行なわれるターゲットチャンバ1
と、上記ターゲットチャンバ1のウエハ搬入部に隣接し
て設けられているローダ側エアーロックチャンバ2と、
上記ターゲットチャンバ1のウエハ搬入部に隣接して設
けられているアンローダ側エアーロックチャンバ3とを
有している。
【0017】上記のターゲットチャンバ1の内部には、
ウエハ5を保持するウエハ保持部材4と、上記ローダ側
エアーロックチャンバ2内のウエハ5を上記ウエハ保持
部材4へと搬送する真空側ローダロボット(搬送手段)
6と、上記ウエハ保持部材4上のウエハ5を上記アンロ
ーダ側エアーロックチャンバ3内へと搬送する真空側ア
ンローダロボット(搬送手段)7とが設けられている。
【0018】上記ローダ側およびアンローダ側エアーロ
ックチャンバ2・3は、内部が選択的に大気圧と真空と
に切り換わり、ターゲットチャンバ1内を常に高真空状
態に保ったまま、大気側のウエハ5をターゲットチャン
バ1内に搬入出できるようになっている。
【0019】また、上記エンドステーションの大気側に
は、複数のキャリアエレベータ8…と、オリエンテーシ
ョンフラット合わせ部(以下、O/F部と称する)9
と、大気側ローダロボット(搬送手段)10と、大気側
アンローダロボット(搬送手段)11とが設けられてい
る。
【0020】上記キャリアエレベータ8は、複数枚のウ
エハ5…を収容可能なウエハカセット12が載置される
ステージを有し、該ステージが上下移動するようになっ
ている。上記O/F部9は、ウエハ5のセンタリングお
よびオリエンテーションフラット合わせを行なうステー
ションである。上記大気側ローダロボット10は、上記
キャリアエレベータ8上のウエハカセット12からウエ
ハ5を取り出して上記O/F部9へと搬送すると共に、
上記O/F部9上のウエハ5をローダ側エアーロックチ
ャンバ2へと搬送する搬送ロボットである。上記大気側
ローダロボット10は、アンローダ側エアーロックチャ
ンバ3内のウエハ5を上記キャリアエレベータ8上のウ
エハカセット12へと搬送する搬送ロボットである。
【0021】上記ウエハカセット12には、上記ウエハ
5と略同一サイズのパーティクル吸着部材としてのクリ
ーニングウエハ15を収納可能であり、また、上記各ロ
ボット6・7・10・11は、上記クリーニングウエハ
15を搬送可能となっている。
【0022】上記クリーニングウエハ15は、少なくと
もその表面部が誘電性部材で形成されたものであり、例
えば所定の直流電圧(例えばDC+1000V)が印加
されたテーブル上に数秒間載置されることによって、そ
の表面部が所定電位に帯電されている。
【0023】上記の構成において、上記クリーニングウ
エハ15を用いたイオン注入装置のクリーニング動作を
以下に説明する。
【0024】先ず、表面部が所定の正電位に帯電された
複数のクリーニングウエハ15…が、ウエハカセット1
2に収納され、キャリアエレベータ8のステージに載置
されることになる。上記ウエハカセット12内のクリー
ニングウエハ15は、最下段のものより順次、大気側ロ
ーダロボット10によって取り出され、O/F部9へと
搬送される。この後、クリーニングウエハ15は、上記
大気側ローダロボット10によってO/F部9から、大
気側の搬入口を開口したローダ側エアーロックチャンバ
2内に搬送される。そして、クリーニングウエハ15が
搬入されると、ローダ側エアーロックチャンバ2が搬入
口を密閉し、真空排気を開始することになる。
【0025】上記ローダ側エアーロックチャンバ2内に
存在しているパーティクルは、真空排気によって舞い上
がり、チャンバ内を任意の方向に移動する。このローダ
側エアーロックチャンバ2内において、クリーニングウ
エハ15に衝突および近傍に位置した負極性のパーティ
クルは、正電位に帯電されたクリーニングウエハ15に
引き付けられてその表面部に付着することになり、再び
ローダ側エアーロックチャンバ2内を任意方向に移動す
ることがない。
【0026】この後、ローダ側エアーロックチャンバ2
内の圧力が真空排気によってターゲットチャンバ1内の
真空度まで減圧されると、ローダ側エアーロックチャン
バ2のターゲットチャンバ1側の搬出口が開口され、真
空側ローダロボット6によってローダ側エアーロックチ
ャンバ2内からクリーニングウエハ15が抜脱される。
そして、クリーニングウエハ15は、真空側ローダロボ
ット6によってターゲットチャンバ1内に搬入され、ウ
エハ保持部材4上に載置される。
【0027】クリーニングウエハ15がターゲットチャ
ンバ1内に搬入さることにより、ターゲットチャンバ1
内に浮遊している負極性のパーティクルは、クリーニン
グウエハ15に衝突および近傍に位置した際に、クリー
ニングウエハ15に引き付けられてその表面部に付着す
ることになり、再びターゲットチャンバ1内を浮遊する
ことがない。
【0028】この後、上記クリーニングウエハ15は、
真空側アンローダロボット7により、ウエハ保持部材4
から、真空側の搬入口を開口した真空状態のアンローダ
側エアーロックチャンバ3内に搬送される。そして、ク
リーニングウエハ15が搬入されると、アンローダ側エ
アーロックチャンバ3が搬入口を密閉し、窒素ガス等の
ベントガスを導入してチャンバ内を大気圧まで戻すベン
ト動作を開始することになる。
【0029】上記アンローダ側エアーロックチャンバ3
内に存在しているパーティクルは、ベントによって舞い
上がり、チャンバ内を任意の方向に移動する。このアン
ローダ側エアーロックチャンバ3内において、クリーニ
ングウエハ15に衝突および近傍に位置した負極性のパ
ーティクルは、正電位に帯電されたクリーニングウエハ
15に引き付けられてその表面部に付着することにな
り、再びアンローダ側エアーロックチャンバ3内を任意
方向に移動することがない。
【0030】この後、アンローダ側エアーロックチャン
バ3内の圧力がベントによって大気圧まで戻されると、
アンローダ側エアーロックチャンバ3の大気側の搬出口
が開口され、大気側アンローダロボット11により、ア
ンローダ側エアーロックチャンバ3内からクリーニング
ウエハ15が大気側へ搬出される。そして、クリーニン
グウエハ15は、大気側アンローダロボット11によ
り、空のウエハカセット12の最上段より順にカセット
内に収納される。
【0031】このように、本実施例のイオン注入装置で
は、パーティクルを吸着するクリーニングウエハ15
が、搬送手段としての各ロボット6・7・10・11に
よってイオン照射対象物としてのウエハ5の装置内搬送
経路を搬送されることにより、ウエハ5の装置内搬送経
路にあるターゲットチャンバ1、ローダ側エアーロック
チャンバ2およびアンローダ側エアーロックチャンバ3
の内部に存在するパーティクルを、クリーニングウエハ
15と共に装置外部に排出することができるようになっ
ている。
【0032】尚、一度使用して汚れたクリーニングウエ
ハ15は、純水にて洗浄することにより、再度使用可能
である。
【0033】上記クリーニングウエハ15を用いたイオ
ン注入装置内部のクリーニングは、イオン注入装置が製
造されたときに行なうことが望ましく、その一例を次に
示す。
【0034】図2に示すように、イオン注入装置が完成
すれば(S1)、ターゲットチャンバ1、ローダ側エア
ーロックチャンバ2およびアンローダ側エアーロックチ
ャンバ3の内部を手作業で洗浄し(S2)、パーティク
ルチェックを行なう(S3)。尚、上記パーティクルチ
ェックとは、予めパーティクルの付着数を測定しておい
た試験用ウエハを、上記各ロボット6・7・10・11
によって搬送させた後、再びそのパーティクルの付着数
を測定し、装置内搬送前と搬送後とのパーティクルの付
着数を比較して、付着パーティクルの増加量をみる試験
である。
【0035】上記パーティクルチェックの結果、付着パ
ーティクルの増加量が基準値(例えば、0.3μm以上の
付着パーティクル数の増加が15)を越えていた場合
(S3においてYES)、所定枚数(例えば250枚)
のクリーニングウエハ15を、上述のようにして装置内
に搬送する(S4)。尚、パーティクルチェックの結果
(そのときの付着パーティクルの増加量)に応じた枚数
のクリーニングウエハ15を、装置内に搬送するように
してもよい。
【0036】そして、上記クリーニングウエハ15を用
いたイオン注入装置内部のクリーニング(S4)を、パ
ーティクルチェック(S3)で付着パーティクルの増加
量が目標値以下となるまで繰り返し行なう。
【0037】これにより、手作業の洗浄だけでは充分に
排除することが出来なかった量のパーティクルを、装置
外へと排出することができる。そして、ウエハの素子構
造がより微細化されて基準が厳しくなっても、上記クリ
ーニングウエハ15を用いたクリーニングの回数を増や
す(クリーニングウエハ15の搬送枚数を増やす)こと
によって対応可能である。
【0038】また、イオン注入装置の運転が開始された
後、上記クリーニングウエハ15を用いた装置内部のク
リーニングを定期的に行なえば、エンドステーション内
におけるパーティクルの滞留量の増加を防止することが
できるため、ウエハ5に形成されるデバイスの不良率を
運転当初の低減した状態に維持でき、装置の信頼性が向
上する。
【0039】尚、本実施例では、パーティクルが負極性
に帯電していることが多いため、負極性に帯電したクリ
ーニングウエハ15を使用しているが、これに限定され
ることはなく、例えば、負極性に帯電したクリーニング
ウエハ15と正極性に帯電したクリーニングウエハ15
とを混合して装置内へ搬送してもよい。
【0040】上記実施例は、あくまでも、本発明の技術
内容を明らかにするものであって、そのような具体例に
のみ限定して狭義に解釈されるべきものではなく、本発
明の精神と特許請求の範囲内で、いろいろと変更して実
施することができるものである。
【0041】
【発明の効果】本発明のイオン注入装置は、以上のよう
に、イオン照射対象物の装置内搬送を行なう搬送手段を
備えているものであって、上記搬送手段によって上記イ
オン照射対象物の装置内搬送経路を搬送される、パーテ
ィクルを吸着するパーティクル吸着部材を有ている構成
である。
【0042】それゆえ、手作業の洗浄だけでは充分に排
除することが出来なかったイオン照射対象物の装置内搬
送経路に存在するパーティクルを、装置外へ排出するこ
とが可能となる。そして、イオン注入装置の運転が開始
された後、上記パーティクル吸着部材を用いた装置内ク
リーニングを定期的に行なえば、イオン照射対象物の装
置内搬送経路におけるパーティクルの滞留量の増加を防
止することができるため、イオン照射対象物に形成され
るデバイスの不良率を運転当初の低減した状態に維持で
きるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すものであり、イオン注
入装置のエンドステーションの要部を示す概略の構成図
である。
【図2】上記イオン注入装置が製造されたときに行なう
クリーニング手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1 ターゲットチャンバ 2 ローダ側エアーロックチャンバ 3 アンローダ側エアーロックチャンバ 4 ウエハ保持部材 5 ウエハ(イオン注入対象物) 6 真空側ローダロボット(搬送手段) 7 真空側アンローダロボット(搬送手段) 10 大気側ローダロボット(搬送手段) 11 大気側アンローダロボット(搬送手段) 15 クリーニングウエハ(パーティクル吸着部材)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】イオン照射対象物の装置内搬送を行なう搬
    送手段を備えているイオン注入装置において、 上記搬送手段によって上記イオン照射対象物の装置内搬
    送経路を搬送される、パーティクルを吸着するパーティ
    クル吸着部材を有していることを特徴とするイオン注入
    装置。
JP5088436A 1993-04-15 1993-04-15 イオン注入装置 Pending JPH06299349A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5088436A JPH06299349A (ja) 1993-04-15 1993-04-15 イオン注入装置

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JP5088436A JPH06299349A (ja) 1993-04-15 1993-04-15 イオン注入装置

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ID=13942748

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008534731A (ja) * 2005-03-31 2008-08-28 ク リム,ドク 多分子成形品の表面処理装置
US8647442B2 (en) 2008-03-27 2014-02-11 Tokyo Electron Limited Cleaning substrate and cleaning method

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