JPH06296334A - バックアップ・コンデンサ・チェック回路 - Google Patents

バックアップ・コンデンサ・チェック回路

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JPH06296334A
JPH06296334A JP5105043A JP10504393A JPH06296334A JP H06296334 A JPH06296334 A JP H06296334A JP 5105043 A JP5105043 A JP 5105043A JP 10504393 A JP10504393 A JP 10504393A JP H06296334 A JPH06296334 A JP H06296334A
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JP
Japan
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backup capacitor
check circuit
voltage
circuit
set value
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JP5105043A
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Hiroyuki Saito
宏行 齋藤
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 各種の電子装置においてメモリ等の電子回路
の電源をバックアップするバックアップ・コンデンサの
正常/異常をチェックするバックアップ・コンデンサ・
チェック回路に関するものであり、チェックを行うこと
でメモリの格納内容が失われることのない簡単な回路構
成のバックアップ・コンデンサ・チェック回路を提供す
ることを目的とする。 【構成】 電子回路52の電源をバックアップするバッ
クアップ・コンデンサ51の正常/異常をチェックする
ものであって、バックアップ・コンデンサ51の端子電
圧が所定の第1の設定値を超えるか否かを検出する第1
のチェック回路53と、バックアップ・コンデンサ51
の端子電圧が所定の第2の設定値を超えるか否かを検出
する第2のチェック回路54とを備え、電源投入直後に
第1のチェック回路53で検出した電圧が第1の設定値
以下であり、かつ電源投入から所定時間経過後に第2の
チェック回路54で検出した電圧が第2の設定値以上で
あった場合にバックアップ・コンデンサ51を異常と判
定するように構成されたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、各種の電子装置におい
てメモリ等の電子回路の電源をバックアップするバック
アップ・コンデンサの正常/異常をチェックするバック
アップ・コンデンサ・チェック回路に関するものであ
る。
【0002】図6には、バックアップ・コンデンサを備
えた電子装置の一例として、無線通信用の監視制御装置
の構成が示される。図中、41はCPU盤、42はバッ
クアップメモリ盤、43はI/Oボードである。ここ
で、CPU盤41はCPU411、IPLプログラム等
を格納するローカルROM412、ローカルRAM41
3等を含み構成される。バックアップメモリ盤42はバ
ックアップ・コンデンサ1が付いたRAM2を含み構成
され、このRAM2にはCPU411を動作させるため
のソフトウェアおよび監視制御動作のために必要な局デ
ータ等が格納されている。バックアップ・コンデンサ1
は電源の瞬断等に致してこのRAM2の電源をバックア
ップするものである。
【0003】この監視制御装置においては、電源オン時
などに、CPU411は、CPU盤41内のローカルR
OM412に格納されているIPLプログラムに従って
バックアップメモリ盤42から上記ソフトウェアおよび
データを読み出し、これらをCPU盤41内のローカル
RAM413に展開した後に、監視制御動作を開始す
る。
【0004】この監視制御装置においては、保守などの
ために装置の電源がオフされたときには、バックアップ
メモリ盤42内のバックアップ・コンデンサ1が動作
し、このバックアップ・コンデンサ1の充電電圧がRA
M2への電源電圧となってRAM2をある時間にわたり
バックアップし、RAM2内のソフトウェアやデータが
失われないようにしている。
【0005】このため、万が一、バックアップ・コンデ
ンサ1に容量抜け等の異常が生じた場合には、電源オフ
後もある時間にわたりRAM2の内容を保持することが
できなくなってしまう。よって、適宜、このようなバッ
クアップ・コンデンサ1の異常の有無を調べ、異常があ
るときにはオペレータに通知し、しかるべき対策処置を
とれるようにする必要がある。
【0006】
【従来の技術】図7には、かかるバックアップ・コンデ
ンサ1の正常/異常を検査する従来のバックアップ・コ
ンデンサ・チェック回路の例が示される。図中、1はバ
ックアップ・コンデンサ、2はRAMからなるメモリ、
45は充電遮断回路46と充電回路47を含む定電流充
電回路、48は切替え回路、49はチェック回路であ
る。
【0007】この従来回路では、定期的あるいは必要に
応じてなど、あるタイミングで、切替え回路48によっ
て定電流充電回路45を制御してバックアップ・コンデ
ンサ1への充電を止め、バックアップ・コンデンサ1に
蓄えられた電荷をチェック回路49に放電し、電圧の降
下の速度等を調べてバックアップ・コンデンサ1の容量
抜け等の異常を検出している。例えば、充電電流遮断状
態でバックアップ・コンデンサ1の端子電圧が急速に降
下する場合にはバックアップ・コンデンサ1が容量抜け
しているものと判定することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】したがって、従来のバ
ックアップ・コンデンサ・チェック回路は、チェックの
ために定電流充電回路内の充電遮断回路あるいは切替え
回路といった回路を設ける必要があり、回路規模が大き
くなってしまう。
【0009】また、上述したバックアップ・コンデンサ
1の放電チェックを電子装置運用状態のままで定期的に
行っている。このため、バックアップ・コンデンサ1に
実際に容量抜けなどの異常があるとバックアップ・コン
デンサ1の端子電圧が放電チェックにより著しく低下す
ることになるので、メモリ2に印加する電圧が装置運用
中にもかかわらず著しく低下してしまい、その結果、メ
モリ盤2の記憶内容が失われてしまうおそれがある。
【0010】本発明は上述の問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、チェックを行うこ
とでメモリの格納内容が失われることのない簡単な回路
構成のバックアップ・コンデンサ・チェック回路を提供
することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】図1は本発明に係る原理
説明図である。本発明のバックアップ・コンデンサ・チ
ェック回路は、電子回路52の電源をバックアップする
バックアップ・コンデンサ51の正常/異常をチェック
するものであって、バックアップ・コンデンサ51の端
子電圧が所定の第1の設定値を超えるか否かを検出する
第1のチェック回路53と、バックアップ・コンデンサ
51の端子電圧が所定の第2の設定値を超えるか否かを
検出する第2のチェック回路54とを備え、電源投入直
後に第1のチェック回路53で検出した電圧が第1の設
定値以下であり、かつ電源投入から所定時間経過後に第
2のチェック回路54で検出した電圧が第2の設定値以
上であった場合にバックアップ・コンデンサ51を異常
と判定するように構成されたものである。
【0012】上述のバックアップ・コンデンサ・チェッ
ク回路は、第1のチェック回路53が第1の設定値を発
生する抵抗分圧回路とこの第1の設定値をバックアップ
・コンデンサ51の端子電圧と比較する第1の比較器と
からなり、また第2のチェック回路54が第2の設定値
を発生する抵抗分圧回路とこの第2の設定値を該バック
アップ・コンデンサ51の端子電圧と比較する第2の比
較器とからなり、第1、第2のチェック回路53、54
の出力信号をそれぞれ保持するための第1、第2のフリ
ップフロップと、電源投入後の所定時間経過を計数する
カウンタとを備え、第1のフリップフロップは電源投入
直後に第1のチェック回路53の出力信号を保持し、第
2のフリップフロップは第1のフリップフロップの出力
信号によって動作可能となると共にカウンタからの電源
投入後所定時間経過時の出力信号によって第2のチェッ
ク回路54の出力信号を保持するように構成することが
できる。
【0013】また上述のバックアップ・コンデンサ・チ
ェック回路は、第1のチェック回路53が第1の設定値
を発生する抵抗分圧回路とこの第1の設定値をバックア
ップ・コンデンサ51の端子電圧と比較する第1の比較
器とからなり、また第2のチェック回路54が第2の設
定値を発生する抵抗分圧回路とこの第2の設定値を該バ
ックアップ・コンデンサの端子電圧と比較する第2の比
較器とからなり、第1、第2のチェック回路53、54
の出力信号をそれぞれ保持するためのレジスタとCPU
とを備え、このCPUからの制御により第1のチェック
回路53の出力信号をレジスタに保持すると共に、その
内容がバックアップ・コンデンサ51の端子電圧が第1
の設定値以下であることを示すものであれば電源投入か
ら所定時間経過後に第2のチェック回路54の出力信号
をレジスタに保持し、レジスタの内容がバックアップ・
コンデンサ51の端子電圧が第2の設定値を超えるもの
である場合にバックアップ・コンデンサ51に異常があ
ると判定するように構成することができる。
【0014】さらに上述のバックアップ・コンデンサ・
チェック回路は、第1、第2のチェック回路53、54
が、バックアップ・コンデンサ51の端子電圧をそれぞ
れ第1、第2の設定値と比較するための第1、第2の比
較器に代えて後段のフリップフロップまたはレジスタを
TTL構成とするようになっており、これらフリップフ
ロップまたはレジスタの入力側のスレッショルド電圧特
性を利用してバックアップ・コンデンサの端子電圧を第
1、第2の設定値と比較できるように構成することがで
きる。
【0015】
【作用】本発明のバックアップ・コンデンサ・チェック
回路では、電源投入直後にバックアップ・コンデンサ5
1の端子電圧を第1のチェック回路53で検出し、その
検出電圧が第1の設定値以下であった場合には、さらに
電源投入から所定時間経過後に第2のチェック回路54
によってバックアップ・コンデンサ51の端子電圧を検
出し、その検出した電圧が第2の設定値以上であった場
合には、バックアップ・コンデンサ51を異常と判定す
る。
【0016】このようにするのは、バックアップ・コン
デンサ51に容量抜け等の異常があった場合、まず電源
投入時にその端子電圧が大きく降下していることが予想
されるので、これを第1のチェック回路53で検出し、
端子電圧が大きく降下していた場合には、さらにバック
アップ・コンデンサ51を所定時間にわたり充電してそ
の充電の様子によりバックアップ・コンデンサ51に異
常があるか否かをさらに判断する。つまり、所定時間充
電したときの電圧上昇が大きい場合には、バックアップ
・コンデンサ1に容量抜け等の異常が生じているために
急速に充電されてしまったものと考えることができるの
で、それを第2の設定値を目安として第2のチェック回
路54で検出してアラームを発する。
【0017】電源投入直後および電源投入後の所定時間
経過時点で第1、第2のチェック回路によりバックアッ
プ・コンデンサ51の端子電圧をチェックする仕方とし
ては、第1、第2のフリップフロップおよびカウンタを
用い、電源投入直後に第1のフリップフロップに第1の
チェック回路53の出力信号を保持し、この第1のフリ
ップフロップの出力信号によって第2のフリップフロッ
プを動作可能とすると共に、カウンタからの電源投入後
所定時間経過時の出力信号によって第2のチェック回路
54の出力信号を保持するようにすればよい。
【0018】また上記の他の方法として、レジスタとC
PUとを用い、このCPUからの制御により、第1のチ
ェック回路53の出力信号をレジスタに保持すると共
に、その内容がバックアップ・コンデンサ51の端子電
圧が第1の設定値以下であることを示すものであれば、
電源投入から所定時間経過後に第2のチェック回路54
の出力信号をレジスタに保持し、レジスタの内容がバッ
クアップ・コンデンサ51の端子電圧が第2の設定値を
超えるものである場合にバックアップ・コンデンサ51
に異常があると判定するようにすればよい。
【0019】さらに、第1、第2のチェック回路53、
54として、バックアップ・コンデンサ51の端子電圧
をそれぞれ第1、第2の設定値と比較するための第1、
第2の比較器に代えて後段のフリップフロップまたはレ
ジスタをTTLにより構成するようにすれば、それらフ
リップフロップまたはレジスタの入力側のスレッショル
ド電圧特性を利用してバックアップ・コンデンサの端子
電圧を抵抗分圧回路の第1、第2の設定値と比較でき、
これにより回路を簡素化することができる。
【0020】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図2には本発明の一実施例としてのバックアップ
・コンデンサ・チェック回路が示される。図2におい
て、1は静電容量C0のバックアップ・コンデンサ、2
はSRAM等からなるメモリである。バックアップ・コ
ンデンサ1とメモリ2は抵抗器R0とダイオードD1か
らなる電流充電回路を介して電源電圧の供給を受けるよ
うになっている。
【0021】チェック回路3は、電源投入直後の電源電
圧Vccが所定の電圧(例えばVcc=+5V)に達して安
定した時点で、バックアップ・コンデンサ1の端子電圧
が所定のリファレンス電圧V1(例えばSRAMの内容
保証保持電圧でV1=+2V)以下かどうかを検出する
回路である。このチェック回路3は比較器CMP1とリ
ファレンス電圧V1を発生するための電圧分割用の抵抗
器R2、R3からなり、比較器CMP1は抵抗器R2と
R3の抵抗比で決まるリファレンス電圧V1をバックア
ップ・コンデンサ1の端子電圧と比較し、端子電圧がリ
ファレンス電圧V1以上であると“1”の出力信号をフ
リップフロップ5のデータ端子Dに出力する。
【0022】またチェック回路4はチェック回路3で検
出した電圧が所定のリファレンス電圧V1以下であった
場合に、一定時間にわたりバックアップ・コンデンサ1
に充電後に、その電圧が所定のリファレンス電圧V2以
下かどうかを検出する回路である。このチェック回路4
は比較器CMP2とリファレンス電圧V2を発生するた
めの電圧分割用の抵抗器R4、R5からなり、比較器C
MP2は抵抗器R4とR5の抵抗比で決まるリファレン
ス電圧V2をバックアップ・コンデンサ1の端子電圧と
比較し、端子電圧がリファレンス電圧V2以上であると
“1”の出力信号をフリップフロップ6のデータ端子D
に出力する。
【0023】抵抗器R1とコンデンサC1は平滑回路を
構成しており、コンデンサC1の端子電圧はバッファ回
路7に入力される。バッファ回路7は入力電圧があるし
きい値を超えたとき(抵抗器R1とコンデンサC1の時
定数をT0とすると電源投入からT0秒後)、出力信号
が“0”から“1”に変化するよう動作する。
【0024】バッファ回路7の出力信号はフリップフロ
ップ5のクロック端子CKとカウンタ回路8のリセット
端子RSTに入力される。またカウンタ回路8の出力信
号Qn がフリップフロップ6のクロック端子CKに入力
される。このカウンタ出力信号Qn はリセットRSTが
解除されてからT1秒後に出力される。
【0025】フリップフロップ5は電源投入直後(T0
に相当)のチェック回路3の出力状態を保持するための
RSフリップフロップからなる回路であり、バッファ回
路7からの“1”の出力信号がクロック端子CKに入力
されたタイミングで、データ端子Dに入力されているチ
ェック回路3の出力信号をラッチする。
【0026】一方、フリップフロップ6は電源投入後の
所定時間が経過した時点(T1に相当)でのチェック回
路4の出力状態を保持するためのRSフリップフロップ
からなる回路であり、カウンタ8から“1”の出力信号
Qn がクロック端子CKに入力されたタイミングで、デ
ータ端子Dに入力されているチェック回路4の出力信号
をラッチする。このフリップフロップ6のR端子にはフ
リップフロップ5からの出力信号Qが入力されており、
また自身の出力信号Qはアラーム信号ALMとして出力
される。
【0027】この実施例回路の動作を以下に説明する。
いま、バックアップ・コンデンサの正常/異常をチェッ
クするため、電源を一旦、オフにして再び投入したもの
とする。この場合、抵抗器R1、コンデンサC1の時定
数をT0秒とすると、電源投入からT0秒後にバッファ
回路7の出力が“0”から“1”に変化し、それにより
カウンタ8のリセット端子RSTに入力されているリセ
ット信号がオフ(“0”から“1”に変化)になり、同
カウンタ8がリセット解除されてカウントを開始する。
【0028】これと同時に、このバッファ回路7の出力
信号はフリップフロップ5のクロック端子CKにクロッ
クとして入力されるので、このタイミングでチェック回
路3の比較器CMP1の出力信号がフリップフロップ5
にラッチされる。したがって、電源投入直後のバックア
ップ・コンデンサ1の端子電圧が抵抗器R2、R3で定
めたリファレンス電圧V1よりも低い場合(すなわちバ
ックアップ・コンデンサ1に容量抜け等の異常が生じて
いる可能性がある場合)には、フリップフロップ5の出
力信号Qが“1”となり、この出力信号Qがフリップフ
ロップ6のR端子に入力されるので、フリップフロップ
6が動作できるようになり、それによりチェック回路4
によってバックアップ・コンデンサ1の更なるチェック
を行うことが可能になる。
【0029】カウンタ8が動作を始めてからT1 秒後に
はその出力信号Qn が“0”→“1”となってフリップ
フロップ6のクロック端子CKにクロックとして入力さ
れるので、このタイミングでチェック回路4の比較器C
MP2の出力信号がフリップフロップ6にラッチされ
る。よって、T1 秒経過後に、バックアップ・コンデン
サ1の端子電圧が抵抗器R4、R5で定めたリファレン
ス電圧V2よりも高い場合は、フリップフロップ6の出
力信号Qが“1”となり、それがアラーム信号ALMと
して送出されることになる。
【0030】このように、実施例回路では、装置に電源
が投入された直後、電源電圧Vccが所定の電圧(=5
V)に達した時点(T0秒後)で、バックアップ・コン
デンサ1の端子電圧が所定のリファレンス電圧V1(例
えばSRAMの内容保持保証電圧で+2V)以下かどう
かをチェック回路5で検査する。端子電圧がリファレン
ス電圧V1よりも低い場合は、バックアップ・コンデン
サ1に容量抜け等の異常が生じていたため電源投入に先
立って電源をオフした時点でバックアップ・コンデンサ
1の端子電圧が急速に下降したと考えることができるの
で、さらにバックアップ・コンデンサ1をチェックする
ために、バックアップ・コンデンサ1を一定時間(T1
秒)充電した後に、チェック回路4によりその端子電圧
が所定のリファレンス電圧V2以上であるかどうかを検
査する。
【0031】ここで、リファレンス電圧V2の値は次の
式で与えられる。 V2 =5(1−e-T1/R0.C0 )+V1・e-T1/R0.C0 但し、電源電圧Vcc=5Vであり、R0は充電回路の抵
抗器R0の抵抗値、C0はバックアップ・コンデンサ1
の静電容量である。T1秒経過後に、バックアップ・コ
ンデンサ1の端子電圧が抵抗器R4、R5で定めたリフ
ァレンス電圧V2よりも高くなっている場合(VBC>V
1)は、バックアップ・コンデンサ1に容量抜け等の異
常が生じていたため急速に充電されてしまって短時間
(T1秒)のうちにその端子電圧が上昇したものと考え
ることができるので、その時にはアラーム信号ALMを
発する。
【0032】この実施例回路のような構成にすると、装
置運用中に電源電圧を一旦オフにして再投入することに
より、バックアップ・コンデンサの正常/異常を簡単に
チェックすることができる。しかも、バックアップ・コ
ンデンサの検査を実施した場合、従来のようにバックア
ップ・コンデンサの充電電荷を積極的に放電していない
ので、バックアップ・コンデンサの端子電圧がリファレ
ンス電圧V1(つまりメモリの内容保証保持電圧)以下
に下がる確率は低く、このリファレンス電圧V1以下に
下がらないかぎりメモリの記憶内容は消失しないので、
バックアップ・コンデンサの検査によりメモリの内容が
失われる確率を従来に比べて格段に低くすることができ
る。
【0033】図3には本発明の他の実施例としてのバッ
クアップ・コンデンサ・チェック回路が示される。図3
において、バックアップ・コンデンサ1、メモリ2、チ
ェック回路3、4、バッファ回路7等の構成は前述の実
施例のものと同じである。相違点として、ワンチップC
PU10、レジスタ11、ラッチ12、バス13等を備
えており、バッファ回路7の出力信号はCPU10のリ
セット端子RSTに入力される。レジスタ11はチェッ
ク回路3、4の出力信号をそれぞれ格納するビットを有
する。バス13はデータバス、アドレスバス、制御バス
からなる。
【0034】この実施例回路の動作を以下に説明する。
抵抗器R1とコンデンサC1の時定数をT0とすると、
電源投入からT0秒後にCPU10へのリセット信号が
オフになり、バックアップ・メモリ盤内部に設けられた
CPU10が動作を開始する。
【0035】CPU10は動作開始直後にレジスタ11
にアクセスしてチェック回路3、4からの出力信号を取
り込ませる。そして、チェック回路3の比較器CMP1
の出力状態を見る。もし、その出力状態が“1”であれ
ば、電源投入直後のバックアップ・コンデンサ1の端子
電圧が抵抗器R2、R3で定まるリファレンス電圧V1
よりも低い場合であるから異常の可能性があるので、さ
らにバックアップ・コンデンサ1を検査するために、T
1秒後(すなわちT1秒にわたりバックアップ・コンデ
ンサ1を充電した後)に、レジスタ11を再度アクセス
して、今度はチェック回路4の比較器CMP2の出力状
態を見る。もし、その出力状態が“1”であれば、T1
秒後のバックアップ・コンデンサ1の端子電圧が抵抗器
R4、R5で定まるリファレンス電圧V2よりも高い場
合であるので、前述のようにバックアップ・コンデンサ
1に異常があると考えることができ、よってラッチ12
に“1”を設定するようアクセスして、ラッチ12から
アラーム信号ALMを送出する。
【0036】図5には本発明のまた他の実施例としての
バックアップ・コンデンサ・チェック回路が示される。
図5において、充電回路の抵抗器R0、ダイオードD
1、平滑回路の抵抗器R1、コンデンサC1、バックア
ップ・コンデンサ1、メモリ2バッファ回路7、カウン
タ回路8は前述の図2の実施例で説明したものと同じも
のである。相違点として、バックアップ・コンデンサ1
の端子電圧をそれぞれリファレンス電圧V1、V2と比
較するためのチェック回路21、22の構成が異なって
いる。
【0037】すなわち、端子電圧をリファレンス電圧V
1(例えば2V)と比較するためのチェック回路21
は、抵抗器R2、R3と、その分圧電圧がデータ端子D
に入力されるTTL(Transistor Transistor Logic)構
成のフリップフロップ23とからなる。このフリップフ
ロップ23のクロック端子CKにはバッファ回路7の出
力信号が入力されている。ここで、TTL型フリップフ
ロップ23のスレッショルド電圧は約1.6Vであるか
ら、 1.6/V1=R3/(R2+R3) となるように、抵抗器R2、R3の抵抗値を決めると、
バックアップ・コンデンサ1の端子電圧がV1以下であ
った場合にフリップフロップ23の反転出力信号*Qが
“1”となる。
【0038】同じく、バックアップ・コンデンサ1の端
子電圧をリファレンス電圧V2と比較するためのチェッ
ク回路22は、抵抗器R3、R4と、その分圧電圧がデ
ータ端子Dに入力されるTTL構成のフリップフロップ
24とからなる。このフリップフロップ24のR端子に
はフリップフロップ23の反転出力信号*Qが入力さ
れ、またクロック端子CKにはカウンタ回路8の出力信
号Qn が入力され、その出力信号Qはアラーム信号AL
Mとなるようになっている。ここで、TTL型フリップ
フロップ24のスレッショルド電圧も約1.6Vである
から、 1.6/V2=R5/(R4+R5) となるように抵抗器R4、R5の抵抗値を決めると、バ
ックアップ・コンデンサ1の端子電圧がV2以上であっ
た場合に、フリップフロップ24の出力信号Qが“1”
となる。
【0039】この図4の実施例回路の動作を以下に説明
する。抵抗器R1とコンデンサC1の時定数をT0秒と
すると、電源投入からT0秒後にカウンタ回路8に入っ
ているリセット信号RSTがオフ(“0”→“1”)に
なり、このタイミングでチェック回路21のフリップフ
ロップ23にバックアップ・コンデンサ1の端子電圧の
状態が取り込まれる。上述したように、バックアップ・
コンデンサ1の端子電圧がリファレンス電圧V1以下で
あった場合(異常の可能性がある場合)には、フリップ
フロップ23の反転出力信号*Qが“1”となり、これ
がフリップフロップ24のR端子に入力されるので、こ
の時点からフリップフロップ24が動作可能となり、バ
ックアップ・コンデンサ1の端子電圧をリファレンス電
圧V2と比較できるようになる。
【0040】カウンタ回路8が動作を始め、T1秒後に
はそのカウンタ出力信号Qn が“0”→“1”となり、
このタイミングでチェック回路22のフリップフロップ
24のデータ入力状態(すなわちバックアップ・コンデ
ンサ1の端子電圧の状態)がフリップフロップ24にラ
ッチされる。バックアップ・コンデンサ1の端子電圧が
リファレンス電圧V2以上であった場合、フリップフロ
ップ24の出力信号Qは“1”となり、これがアラーム
信号ALMとして送出される。
【0041】このように、この図4の実施例は、図2の
実施例と比較すると、フリップフロップ23、24自体
が比較器CMP1、CMP2の役割をするので、回路を
簡素化することができる。
【0042】図5には本発明のさらに他の実施例として
のバックアップ・コンデンサ・チェック回路が示され
る。この実施例回路は、図3の実施例回路と同様にCP
U、レジスタ、ラッチ等を用いて回路を構成したもので
あるが、図3の実施例との相違点として、レジスタ33
はTTL構成の回路からなり、その入力のスレッショル
ド電圧は約1.6Vであり、このスレッショルド特性を
用いてバックアップ・コンデンサ1の端子電圧をリファ
レンス電圧V1、V2と比較するように構成されている
ことである。したがって、チェック回路31、32には
比較器CMP1、CMP2が設けられておらず、チェッ
ク回路31は、 1.6/V1=R3(R2+R3) となるように抵抗器R2、R3の抵抗値が定められ、ま
たチェック回路32は、 1.6/V2=R5(R4+R5) となるように抵抗器R4、R5の抵抗値が定められる。
【0043】この実施例回路の動作を以下に説明する。
抵抗器R0とコンデンサC1の時定数をT0秒とする
と、電源投入からT0秒後にCPU10へのリセット信
号RSTがオフにより、バックアップ・メモリ盤内部に
設けられたワンチップCPU10が動作を開始する。
【0044】CPU10は動作開始直後にレジスタ33
をアクセスしてチェック回路31の出力状態を取り込ま
せてチェック回路31の状態を見る。レジタス31はT
TL構成となっていて1.6Vのスレッショルド入力電
圧を持っているので、前述同様にこれを利用してバック
アップ・コンデンサ1の端子電圧を所定のリファレンス
電圧V1と比較するようにする。
【0045】バックアップ・コンデンサ1の端子電圧が
リファレンス電圧V1以下であった場合、レジスタ33
からはチェック回路31の状態が“0”に見える。従っ
て、CPU10は、レジスタ33を介して見たチェック
回路31の出力状態が“0”であれば、T1秒経過後
(バックアップ・コンデンサ1をT1秒間充電後)にレ
ジスタ33を再度アクセスして、今度はチェック回路3
2の出力状態を見る。
【0046】バックアップ・コンデンサ1の端子電圧が
リファレンス電圧V2以上であった場合、レジスタ33
ではチェック回路32の出力状態が“1”に見えるの
で、その場合にはラッチ12に“1”を設定するようア
クセスして、このラッチ12からアラーム信号ALMを
送出するようにする。
【0047】本発明の実施にあたっては種々の変形形態
が可能である。例えば上述の実施例では、バックアップ
・コンデンサによりバックアップする電子回路をメモリ
としたが、本発明はこれに限られるものではなく、他の
微小消費電力の電子回路をバックアップするものであっ
てもよい。
【0048】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれ
ば、装置運用中に電源を一旦オフにして再投入すること
により、バックアップ・コンデンサの異常を装置運用中
に簡単に検査することができるので、バックアップ・コ
ンデンサが異常であるにもかかわらず装置をオフにして
バックアップメモリ盤内のプログラムあるいはデータを
消失してしまうことを未然に防げ、これにより不用意に
システム的動作に危機を与えることを防げる。
【0049】また、バックアップ・コンデンサのチェッ
クを行っても、バックアップ・コンデンサの端子電圧が
所定のリファレンス電圧(内容保証保持電圧など)以下
にならないかぎりメモリはその内容を保証できるので、
従来のように積極的にバックアップ・コンデンサの充電
電荷を放電させる方法に比べて本発明はメモリの内容が
消失する確率を低くすることが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る原理説明図である。
【図2】本発明の一実施例としてのバックアップ・コン
デンサ・チェック回路を示すブロック図である。
【図3】本発明の他の実施例としてのバックアップ・コ
ンデンサ・チェック回路を示すブロック図である。
【図4】本発明のまた他の実施例としてのバックアップ
・コンデンサ・チェック回路を示すブロック図である。
【図5】本発明のさらに他の実施例としてのバックアッ
プ・コンデンサ・チェック回路を示すブロック図であ
る。
【図6】バックアップ・コンデンサ・チェック回路が適
用される無線通信用監視制御装置の構成を示す図であ
る。
【図7】バックアップ・コンデンサ・チェック回路の従
来例を示す図である。
【符号の説明】
1 バックアップ・コンデンサ 2 メモリ 3、4、21、22、31、32、49 チェック回路 5、6、23、24 フリップフロップ 7 バッファ回路 8 カウンタ回路 10 CPU 11、33 レジスタ 12 ラッチ 13 バス 41 CPU盤 42 バックアップメモリ盤 43 I/Oボード 45 定電流充電回路 46 充電遮断回路 47 充電回路 48 切替え回路 R0〜R5 抵抗器 C1 コンデンサ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子回路(52)の電源をバックアップ
    するバックアップ・コンデンサ(51)の正常/異常を
    チェックするバックアップ・コンデンサ・チェック回路
    であって、 該バックアップ・コンデンサの端子電圧が所定の第1の
    設定値を超えるか否かを検出する第1のチェック回路
    (53)と、 該バックアップ・コンデンサの端子電圧が所定の第2の
    設定値を超えるか否かを検出する第2のチェック回路
    (54)とを備え、 電源投入直後に該第1のチェック回路で検出した電圧が
    該第1の設定値以下であり、かつ電源投入から所定時間
    経過後に該第2のチェック回路で検出した電圧が該第2
    の設定値以上であった場合に該バックアップ・コンデン
    サを異常と判定するように構成されたバックアップ・コ
    ンデンサ・チェック回路。
  2. 【請求項2】 上記第1のチェック回路は第1の設定値
    を発生する抵抗分圧回路とこの第1の設定値を該バック
    アップ・コンデンサの端子電圧と比較する第1の比較器
    とからなり、 上記第2のチェック回路は第2の設定値を発生する抵抗
    分圧回路とこの第2の設定値を該バックアップ・コンデ
    ンサの端子電圧と比較する第2の比較器とからなり、 該第1、第2のチェック回路の出力信号をそれぞれ保持
    するための第1、第2のフリップフロップと、電源投入
    後の所定時間経過を計数するカウンタとを備え、 第1のフリップフロップは電源投入直後に該第1のチェ
    ック回路の出力信号を保持し、第2のフリップフロップ
    は第1のフリップフロップの出力信号によって動作可能
    となると共に該カウンタからの電源投入後所定時間経過
    時の出力信号によって該第2のチェック回路の出力信号
    を保持するように構成された請求項1記載のバックアッ
    プ・コンデンサ・チェック回路。
  3. 【請求項3】 該第1のチェック回路は第1の設定値を
    発生する抵抗分圧回路とこの第1の設定値を該バックア
    ップ・コンデンサの端子電圧と比較する第1の比較器と
    からなり、 該第2のチェック回路は第2の設定値を発生する抵抗分
    圧回路とこの第2の設定値を該バックアップ・コンデン
    サの端子電圧と比較する第2の比較器とからなり、 該第1、第2のチェック回路の出力信号をそれぞれ保持
    するためのレジスタとCPUとを備え、 このCPUからの制御により該第1のチェック回路の出
    力信号をレジスタに保持すると共に、その内容がバック
    アップ・コンデンサの端子電圧が第1の設定値以下であ
    ることを示すものであれば電源投入から所定時間経過後
    に該第2のチェック回路の出力信号をレジスタに保持
    し、該レジスタの内容がバックアップ・コンデンサの端
    子電圧が第2の設定値を超えるものである場合に該バッ
    クアップ・コンデンサに異常があると判定するように構
    成された請求項1記載のバックアップ・コンデンサ・チ
    ェック回路。
  4. 【請求項4】 該第1、第2のチェック回路は、バック
    アップ・コンデンサの端子電圧をそれぞれ第1、第2の
    設定値と比較するための第1、第2の比較器に代えて後
    段のフリップフロップまたはレジスタをTTL構成とす
    るようになっており、これらフリップフロップまたはレ
    ジスタの入力側のスレッショルド電圧特性を利用してバ
    ックアップ・コンデンサの端子電圧を第1、第2の設定
    値と比較できるようにした請求項2または3記載のバッ
    クアップ・コンデンサ・チェック回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008310718A (ja) * 2007-06-18 2008-12-25 Denso Corp 電源瞬停保護回路

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JP4697746B2 (ja) * 2007-06-18 2011-06-08 株式会社デンソー 電源瞬停保護回路

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