JPH06288864A - 光及び構造の複合解析システム - Google Patents

光及び構造の複合解析システム

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JPH06288864A
JPH06288864A JP5079266A JP7926693A JPH06288864A JP H06288864 A JPH06288864 A JP H06288864A JP 5079266 A JP5079266 A JP 5079266A JP 7926693 A JP7926693 A JP 7926693A JP H06288864 A JPH06288864 A JP H06288864A
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JP
Japan
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optical
equation
structural
deformation
coordinate
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Application number
JP5079266A
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English (en)
Inventor
Kanako Nemoto
佳奈子 根本
Hironori Shiohata
宏規 塩幡
Toru Shibata
徹 柴田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】光学部品を含む製品の設計において、光学部品
を搭載する各種の形状の部材の熱変形により発生する光
学部品の位置,傾きの変化を考慮して光学系解析を行
う。 【構成】構造系データ100をもとに熱・構造解析部1
01において計算を実行して得られる解析結果102と
変形前の光学系のデータ103を取り込み、変換部104
で構造系の変形により発生する光学部品のずれ,傾きを
計算し、出力として得られる変形後の光学系のデータ1
05をもとに光学系解析部106で計算を実行し、表示
部107で熱・構造解析部101,変換部104,光学
系解析部106の結果を表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学部品を有する製品
の設計支援システムに係り、特に、光学系および光学部
品を載せる部材の熱変形の影響を予測する光及び構造の
複合解析に関する。
【0002】
【従来の技術】光学系を含む製品、たとえば光ヘッドの
光学系の性能は温度変化の影響を受けやすく、これを改
善するための方式が従来種々提案されている。その例と
しては光学部品を載せる部材および保持する部材の熱膨
張率を選択して、熱膨張を抑制するようにした特開昭60
−107743号,特開昭62−110635号公報に記載のものがあ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの発明
は温度分布が一様な場合についてのみしか適用できず、
また光学部品を載せる部材や保持する部材の形状が特定
のものにしか適用できないという不具合があった。
【0004】本発明の目的は、様々な温度条件下におけ
る種々の形状をした光学部品を載せる部材(構造系)が
変形することにより生じる光学部品のずれが光学系の性
能に及ぼす影響を予測して部品の設計を支援する光及び
構造の複合解析システムを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、光学部品を
載せる部材の変形を求める熱および構造解析部と光学部
品間を通過する光の軌跡を解析する光学解析部から構成
されるシステムにおいて、熱・構造解析部によって求め
られる部材の変形より、熱変形によって発生する光学部
品のずれを計算により求め、求められたずれを光学部品
の初期の位置に加えて補正する変換部を、熱・構造解析
部と光学解析部との間に設けることにより達成される。
【0006】
【作用】熱・構造解析部は形状・材料特性と境界条件
(温度分布・荷重・拘束)から光学部品を載せる部材
(構造系)の変形を求める。変換部は構造系の変形によ
り発生する光学部品のずれ量(頂点変位・傾き)を熱・
構造解析部の解析結果(変位)をもとに計算により求め、
初期の光学部品の位置・傾きにずれ量を加え、変形後の
光学部品の位置・傾きを求める。得られた変形後の光学
部品の位置・傾き、屈折率等の光学系データをもとに光
学解析部において解析を実行することにより変形後の光
学系の性能(光軸の位置,受光素子上の光スポット,光
検出器の出力)を求めることができる。
【0007】
【実施例】本発明では、光学部品を載せる部材を構造系
と呼ぶ。また、光学部品の構成面を光学面と呼ぶ。
【0008】本発明の一実施例を図1に示す。構造系デ
ータ100(形状,材料特性,境界条件)をもとに熱・
構造解析部101で計算を実行することにより得られる
解析結果102と初期の光学系データ103(頂点位
置,面傾き,屈折率,焦点距離,曲率)を、変換部10
4は取り込み、構造系の変形により発生する光学面のず
れ量(傾き・頂点位置)を計算により求める。更に、初
期の光学面の位置に求めたずれ量を加え、変形後の光学
面の位置および傾きを求める。光学解析部106は変換
部104の出力として得られる変形後の光学系データ1
05をもとに光学系の解析(光線追跡,光軸の位置,受
光素子上の光スポット,光検出器の出力の計算)を実行
する。表示部107は、熱・構造解析部101,変換部
104および光学解析部106における各演算結果を表
示する。
【0009】本発明の主要な部分である変換部104で
実行している計算は以下のとおりである。
【0010】光学面の位置関係を表すのに図2に示す二
つの全体座標系と、二つの要素座標系を用いる。
【0011】全体座標系には構造系の座標系(U−V−
W座標系)と光学系の座標系(X−Y−Z座標系)とを
有している。また、光学面ごとに定義される座標系を要
素座標系と呼ぶ。この要素座標系にも構造系の要素座標
系(u−v−w座標系)と光学系の要素座標系(x−y
−z座標系)とがある。
【0012】本発明では光学面の傾きを座標変換マトリ
ックスで表す。構造系の座標系において、図3に示すよ
うに光学面mの座標変換マトリックスをSm 、光学面の
頂点位置をQm とし、点Pの全体座標系における座標値
をA、要素座標系における座標値をaとする。座標変換
マトリックスSm が直交マトリックスであることを用い
ると全体座標系と要素座標系の間には次式の関係が成り
立つ。
【0013】
【数1】 A=Sma+Qm …(数1)
【0014】
【数2】
【0015】また、光学系の座標系において、図4に示
すように光学面mの座標変換マトリックスをTm、光学
面の頂点位置をRmとし、点Pの全体座標系における座
標値をA、要素座標系における座標値をaとすると構造
系の座標系のときと同様に数3,数4の関係が成り立
つ。
【0016】
【数3】 A=Tma+Rm …(数3)
【0017】
【数4】
【0018】光学系の座標系から構造系の座標系への変
換マトリックスをB、光学系の原点の構造系座標系にお
ける座標値をbとすると数5〜数8の関係が成り立つ。
【0019】
【数5】 Sm=BTm …(数5)
【0020】
【数6】 Qm=BRm+b …(数6)
【0021】
【数7】
【0022】
【数8】
【0023】一つの光学部品には複数の光学面がある。
本発明では、光学面のうち構造系に取り付けられる面を
主面と呼び、主面に対して一定の位置関係を保ったまま
主面の位置や傾きの変化に従属して移動する面を従属面
と呼ぶ。
【0024】図5に主面と従属面の例を示す。この例で
は光学部品には光学面mと光学面sがある。光学面sは
光学面mに平行で、光学面sの頂点Psは光学面mの頂
点Pmから面の法線方向にdだけ離れた位置に存在す
る。
【0025】たとえば、構造系の変形により、取り付け
面である光学面mが光学面mの頂点Pm を中心にY軸回
りにθだけ回転したとする。それに対して、光学面sは
光学面mに平行で、光学面mの頂点Pm から面の法線方
向にdだけ離れるという関係を保ったまま回転する。
【0026】変形後の光学面の傾き・頂点位置を求める
計算手順を図6に示す。計算は光学面が構造系に搭載さ
れている光学部品に含まれる場合と構造系の外部に存在
する光学部品に含まれる場合の二通りに分かれている。
以下に、計算の詳しい内容について述べる。
【0027】まず、構造系に搭載される光学部品に含ま
れる光学面の変形後の頂点位置および座標変換マトリッ
クスを求める。
【0028】主面となる光学面mの傾きは、主面を代表
する構造系の三つの節点の座標値から定まる座標変換マ
トリックスによって表される。光学面mの座標変換マト
リックスSmは次のようにして求められる。
【0029】図7に示すように変形後の三節点Ni
j,Nkの座標値を[Ui,Vi,Zi],[Uj,Vj
j],[Uk,Vk,Wk]の転置とする。三節点により
定義される平面の単位法線ベクトルuは次式により求め
られる。
【0030】
【数9】
【0031】
【数10】
【0032】
【数11】 u=v×n …(数11) ベクトルu,vに垂直なベクトルwは数12で求められ
る。
【0033】
【数12】 w=u×v …(数12) 光学面mの座標変換マトリックスSmは次式にて求めら
れる。
【0034】
【数13】 Sm=[uvw] …(数13) 解析結果から光学面mの頂点の変位ΔQm を求める方法
は種々あるが代表的なものとして以下の方法がある。
【0035】 二節点の中点の変位 節点Ni,Nj,Nkで囲まれた三角形の外心の変位 指定した節点の変位 光学系の全体座標系としてレーザ光の発光面の座標変換
マトリックスを単位マトリックスとする座標系を採用す
る。
【0036】構造系の座標系における発光面の座標変換
マトリックスをSo 、光学面mの座標変換マトリックス
をSm とすると、光学面mの光学系の座標系における座
標変換マトリックスTm は数14で求められる。
【0037】
【数14】
【0038】また、光学面mの光学系の座標系における
変位ΔRm は数15で求められる。
【0039】
【数15】
【0040】光学面m,sの初期の頂点の位置を
m′,Rs′,座標変換マトリックスをTm′,Ts′と
する。
【0041】変形後の主面mの頂点位置Rmは数16で
求められる。
【0042】
【数16】 Rm=Rm′+ΔRm …(数16) 次に従属面sの座標変換マトリックスと頂点位置を求め
る。
【0043】主面mの初期の座標変換マトリックスをT
m′と変形後の座標変換マトリックスTmとの間に数17
の関係があるものとする。
【0044】
【数17】 Tm=CTm′ …(数17) マトリックスCは構造系の変形によって発生した光学面
の傾きの変化量を表すマトリックスである。マトリック
スCは数18で求められる。
【0045】
【数18】
【0046】従属面sは主面mと同様に傾くので座標変
換マトリックスTs は次式にて求められる。
【0047】
【数19】 Ts=CTs′ …(数19) また、従属面sの頂点座標は数20で求められる。
【0048】
【数20】 Rs=C(Rs′+ΔRm−Rm)+Rm …(数20) 次に、構造系に搭載されない光学部品に含まれる光学面
hの座標変換マトリックスおよび頂点位置を求める。
【0049】まず、発光面が構造系の変形により発光面
の座標変換マトリックスがSo′からSoに変化したとす
る。発光面の傾きの変化量を表すマトリックスをDとす
ると、数21の関係が成り立つ。
【0050】
【数21】 So=DSo′ …(数21) マトリックスDは数22で求められる。
【0051】
【数22】
【0052】マトリックスD,初期の光学面hの座標変
換マトリックスSh′ を用いて、変形後の光学面hの座
標変換マトリックスShは数23で求められる。
【0053】
【数23】
【0054】また、変形後の光学面hの頂点位置Rh
初期の光学面hの頂点位置Rh′、変形後の発光面の主
面の頂点位置Roを用いて数24で求められる。
【0055】
【数24】
【0056】上記計算によって求められた変形後の光学
面の位置および傾きを用いて光学解析部106において
光線追跡,光軸の位置,光検出器上の光スポットおよび
光検出器の出力の計算を実行する。
【0057】以下に、本発明による解析例を示す。
【0058】図8に光ディスク装置の構成例を示す。デ
ィスク装置では、光ディスク70の下部に光ヘッド79
が設けられている。
【0059】図9に光ヘッド79における光学部品の配
置の一例を示す。この光ヘッド79ではハウジング80
上にレーザダイオード71,回折格子78,ハーフミラ
ー72,受光素子77が搭載されており、これらの上方
に対物レンズ74が、対物レンズ74の上方には光ディ
スク70が設けられている。
【0060】解析対象となる光学面の配置を図10に示
す。本解析例では光線は光学面番号の順に通過する。光
路の行きと帰りの2回通過する面は、同一面に二つの光
学面番号が付いている。また、反射は屈折率の符号の反
転で表される。
【0061】対物レンズ74はディスク面75に焦点が
合った状態である。光学系はレーザダイオード71,ハ
ーフミラー72,反射鏡73,対物レンズ74,ディス
ク面75,凹レンズ76,受光素子77の光学部品から
成る。この光学系は、図9の光学系のハーフミラー72
と対物レンズ74との間に反射鏡73を置き、ハーフミ
ラー72と受光素子77との間に凹レンズ76を置き、
回折格子78を取り除いたものとなっている。
【0062】レーザダイオード71,ハーフミラー7
2,反射鏡73,凹レンズ76,受光素子77がプラス
チック製のハウジング80上に搭載されている。対物レ
ンズ74とディスク面75はハウジング80の外部に設
けられている。
【0063】図11に光学部品を載せる部材でありハウ
ジング80の有限要素モデル(構造系データ100)を
示す。これは、総節点数880,要素数367の8節点
ソリッドモデルである。図11のモデルに熱荷重を与
え、熱および構造解析部101で変形解析を行った結果
102を図12に示す。
【0064】ハウジング80上に搭載されている光学部
品の主面と従属面の関係を表1に示す。
【0065】
【表1】
【0066】主面はハウジング80への取り付け面の変
形に従って位置および傾きが変化し、従属面は主面に従
って位置および傾きが変化する。
【0067】初期の光学系データ103,解析結果10
2とを用いて変換部104により変形後の光学系データ
105を作成する。その後、光学解析部106において
計算を実行する。
【0068】初期の光学系の光線追跡結果を図13に、
ハウジング80が変形した後の光学系の光線追跡結果を
図14に示す。矢印はレーザ光110の進行方向を表
す。光線追跡結果からはレーザ光110が所定の軌跡を
描いて受光素子77上に到達していることが分かる。図
13,図14からはハウジング80の変形前後で光学面
の位置,傾きおよびレーザ光110の軌跡があまり変化
していないように見える。
【0069】しかし、スポットダイアグラム(受光素子
77と光線の交差面)を見ると、図15の初期の光学系
の光スポットは円形をしているのに対して、図16の変
形後の光学系の光スポットは楕円となっている。図15
と図16は、受光素子77の中心部を拡大した図で、四
角形は光検出器121である。田の字型の中心が受光素
子77の中心である。光源の中心から出た光(中心光
線)の受光素子77への到達位置は、初期には受光素子
77の中心であったものが、変形後には(8.9μm−
11.0μm)となっている。
【0070】光検出器121の出力例を表2に示す。
【0071】
【表2】
【0072】この解析例では光検出器121の各々の出
力をA1,A2,A3,A4とし、4D和,フォーカス
エラーを次式で定義している。
【0073】
【数25】 4D和=A1+A2+A3+A4 …(数25)
【0074】
【数26】 フォーカスエラー=(A1+A3)−(A2+A4) …(数26) フォーカスエラーはレンズの焦点が合っているときは理
想的には0.0 となる。初期の光学系ではフォーカスエ
ラーは−0.147 であったものが、熱変形後の光学系
では42.798 となる。
【0075】以上の計算結果から、熱変形により光学系
の光軸がずれ、フォーカスエラーの検出性能が低下する
ことがわかる。
【0076】なお、表2および図10から図16は本発
明を実施したときに表示部107に表示される画面の例
である。
【0077】本実施例によれば、熱変形後の光学面の傾
きと頂点の位置を熱および構造解析部の解析結果102
と初期のデータ103より求めることができる。さらに
は、この光学面の傾きと頂点位置を用いて光学解析部1
06において計算を実行することにより変形後の光学系
の性能を予測できる。
【0078】なお、構造系が熱変形する場合だけではな
く自重,荷重により変形する場合についても本発明は適
用可能で、同様の効果を得ることができる。
【0079】
【発明の効果】本発明によれば、光学部品を搭載する部
材の熱変形により生じる光学部品(光学面)の位置や傾
きの変化を予測することが可能となる。さらに予測され
た光学部品(光学面)の位置・傾きを用いて光学解析部
において計算を行うことにより、熱が光学系の性能に及
ぼす影響を予測することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すシステムのブロック
図。
【図2】本実施例で用いる構造系座標系と光学系座標系
との関係を表す説明図。
【図3】構造系の全体座標系と要素座標系との関係を表
す説明図。
【図4】光学系の全体座標系と要素座標系との関係を表
す説明図。
【図5】主面と従属面の関係を表す説明図。
【図6】変形後の光学面の頂点位置・傾きを計算する手
順を示すフローチャート。
【図7】光学面の傾きを表す説明図。
【図8】光ディスク装置の構成例を示す斜視図。
【図9】光ヘッドの光学部品の配置例を示す斜視図。
【図10】光学面の配置を表す説明図。
【図11】ハウジングの有限要素モデルを表す説明図。
【図12】ハウジングの熱・構造解析の結果を表す説明
図。
【図13】初期の光学系における光線追跡結果を表す説
明図。
【図14】ハウジングが変形した後の光学系における光
線追跡結果を表す説明図。
【図15】初期の光学系におけるスポットダイアグラム
の説明図。
【図16】ハウジングが変形した後の光学系におけるス
ポットダイアグラムの説明図。
【符号の説明】
100…構造系データ、101…熱・構造解析部、10
2…解析結果、103…初期の光学系データ、104…
変換部、105…変形後の光学系データ、106…光学
解析部、107…表示部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光学装置に搭載された光学部品を載置する
    部材の形状および材料定数を含む構造系データに基づい
    て部材の熱変形量を演算する熱および構造解析部と、前
    記光学装置に搭載した光学部品の位置や光学特性等を収
    納した光学系データをもとに前記光学部品間を通過する
    光の軌跡を解析する光学解析部とを備えた光学系の設計
    システムにおいて、前記熱および構造解析部から出力さ
    れる解析結果の前記光学系データの初期値に基づいて、
    前記部材に熱変形を生じた後の前記光学部品の位置を演
    算する変換部を設けたことを特徴とする光及び構造の複
    合解析システム。
JP5079266A 1993-04-06 1993-04-06 光及び構造の複合解析システム Pending JPH06288864A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008533550A (ja) 2005-01-19 2008-08-21 ドゥ ラブズ イメージ記録および/または再現デバイスを製造するための方法、および前記方法によって得られるデバイス
US8685603B2 (en) 2007-10-30 2014-04-01 Fuji Xerox Co., Ltd. Electrostatic charge image developer, process cartridge and image forming apparatus
CN105631122A (zh) * 2015-12-25 2016-06-01 鼎奇(天津)主轴科技有限公司 一种机床大件的热变形仿真分析与建模方法

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