JPH06288713A - ギャップ位置計測方法及び画像処理方法 - Google Patents
ギャップ位置計測方法及び画像処理方法Info
- Publication number
- JPH06288713A JPH06288713A JP5073335A JP7333593A JPH06288713A JP H06288713 A JPH06288713 A JP H06288713A JP 5073335 A JP5073335 A JP 5073335A JP 7333593 A JP7333593 A JP 7333593A JP H06288713 A JPH06288713 A JP H06288713A
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- JP
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- gap
- magnetic head
- straight line
- head
- face
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Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気ヘッドをヘッドベースに貼付る工程におい
て、磁気ヘッドの状態により計測方法を選択可能にする
ことで常に高精度で計測し、調整精度の向上、かつ高速
度で計測することにより合理的な生産手段とシステムを
提供する事にある。 【構成】磁気ヘッドの摺動面のギャップを測定するため
にパターン認識法を用いて測定し、その後、その摺動面
の状態により、ギャップの計測方法を自動的に選択す
る。また、磁気ヘッドの揺動による焦点方向のずれもあ
らかじめ予想し、光学系を移動する手段を組み込む。 【効果】ビデオヘッドのギャップ位置計測精度の向上と
貼付精度の安定化、そして装置の高速化によって原価低
減を図る事ができる。
て、磁気ヘッドの状態により計測方法を選択可能にする
ことで常に高精度で計測し、調整精度の向上、かつ高速
度で計測することにより合理的な生産手段とシステムを
提供する事にある。 【構成】磁気ヘッドの摺動面のギャップを測定するため
にパターン認識法を用いて測定し、その後、その摺動面
の状態により、ギャップの計測方法を自動的に選択す
る。また、磁気ヘッドの揺動による焦点方向のずれもあ
らかじめ予想し、光学系を移動する手段を組み込む。 【効果】ビデオヘッドのギャップ位置計測精度の向上と
貼付精度の安定化、そして装置の高速化によって原価低
減を図る事ができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＶＴＲ用磁気ヘッドとヘ
ッドベースの貼付方法及び、その装置に係わり、特に磁
気ヘッドをヘッドベースに対して、高精度に位置決めす
るために、磁気ヘッドの位置を高速、高精度に測定する
計測方法に関する。
ッドベースの貼付方法及び、その装置に係わり、特に磁
気ヘッドをヘッドベースに対して、高精度に位置決めす
るために、磁気ヘッドの位置を高速、高精度に測定する
計測方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来は特開昭６３−１３９２０４号公報
に示すように、ギャップ部分のみの計測でギャップ位置
を導いており、ギャップ下端面の左右の境界面は使用し
ていなかったので、ギャップ付近の汚れや、ギャップ左
右のずれ量が大きい場合には正確にギャップ位置を計測
できなかった。また、光学系に焦点自動調整装置もつい
ておらず、合焦点位置から磁気ヘッドがずれた場合に光
学系と磁気ヘッドの摺動面の焦点がずれ、正確にギャッ
プ位置が測定できず、ギャップの位置精度は高くなかっ
た。そして、計測方法が固定された１つの方法しかない
ために、磁気ヘッドの製品精度の変動について行けず、
計測不良が発生する可能性がある。
に示すように、ギャップ部分のみの計測でギャップ位置
を導いており、ギャップ下端面の左右の境界面は使用し
ていなかったので、ギャップ付近の汚れや、ギャップ左
右のずれ量が大きい場合には正確にギャップ位置を計測
できなかった。また、光学系に焦点自動調整装置もつい
ておらず、合焦点位置から磁気ヘッドがずれた場合に光
学系と磁気ヘッドの摺動面の焦点がずれ、正確にギャッ
プ位置が測定できず、ギャップの位置精度は高くなかっ
た。そして、計測方法が固定された１つの方法しかない
ために、磁気ヘッドの製品精度の変動について行けず、
計測不良が発生する可能性がある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来、磁気ヘッドの位
置決めでは、ギャップの計測精度が悪く、その為に磁気
ヘッドをヘッドベースに貼り付ける場合でも十分に位置
調整ができず、最終製品であるヘッドシリンダに取り付
ける際も、ギャップ位置を調整する為にあおりネジやス
ペーサーを必要として工程が複雑化していた。
置決めでは、ギャップの計測精度が悪く、その為に磁気
ヘッドをヘッドベースに貼り付ける場合でも十分に位置
調整ができず、最終製品であるヘッドシリンダに取り付
ける際も、ギャップ位置を調整する為にあおりネジやス
ペーサーを必要として工程が複雑化していた。
【０００４】本発明の１つの目標では磁気ヘッドの計測
精度の向上によって、貼付精度を向上しヘッドシリンダ
に無調整で組み付ける事を目標としている。
精度の向上によって、貼付精度を向上しヘッドシリンダ
に無調整で組み付ける事を目標としている。
【０００５】本発明のもう一つの目標は、現状の方式で
はギャップ位置を特定できない磁気ヘッドに関しても、
貼り付ける磁気ヘッドによって測定方式を自動選択する
事により、計測の精度を上げ、貼り付ける事を目標とし
ている。
はギャップ位置を特定できない磁気ヘッドに関しても、
貼り付ける磁気ヘッドによって測定方式を自動選択する
事により、計測の精度を上げ、貼り付ける事を目標とし
ている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、磁気ヘ
ッドの摺動面の材料の違いによるパターンを認識し、ギ
ャップ位置を測定できる計測手段が提供される。
ッドの摺動面の材料の違いによるパターンを認識し、ギ
ャップ位置を測定できる計測手段が提供される。
【０００７】また、本発明ではパターン認識で求められ
たギャップ位置から再計測をし、境界線を使うことによ
りギャップ端面の位置を正確に計測する計測手段が提供
される。
たギャップ位置から再計測をし、境界線を使うことによ
りギャップ端面の位置を正確に計測する計測手段が提供
される。
【０００８】また、本発明によれば、ギャップ位置計測
が正常に行なえなかったときの判断手段とその状況に応
じた計測手段が提供される。
が正常に行なえなかったときの判断手段とその状況に応
じた計測手段が提供される。
【０００９】また、本発明によれば光学系と磁気ヘッド
との焦点が初期に設定後、磁気ヘッドの調整のための揺
動に左右されず、常に一致する計測手段が提供される。
との焦点が初期に設定後、磁気ヘッドの調整のための揺
動に左右されず、常に一致する計測手段が提供される。
【００１０】更に本発明によれば磁気ヘッドの調整後の
位置を予想して計測範囲を限定して短時間でギャップ位
置を計測する手段が提供される。
位置を予想して計測範囲を限定して短時間でギャップ位
置を計測する手段が提供される。
【００１１】そして、本発明によれば磁気ヘッドの種別
による違いをギャップの角度により判別できる計測手段
が提供される。
による違いをギャップの角度により判別できる計測手段
が提供される。
【００１２】
【作用】本発明では、磁気ヘッドの摺動面のギャップ位
置を探索するために概略位置の計測をパターン認識で行
ない、計測時間の短縮と、不良磁気ヘッドの排除を行な
うことができる。そして、さらに高い精度で測定するた
めに前述の計測で求められたギャップとギャップ端面付
近の２本の境界線について画素を取り込み、再探査する
ので高精度でギャップ位置を計測することができる。そ
して、それらの３本の直線の交点によって高精度にギャ
ップの端面の位置を求めることができる。
置を探索するために概略位置の計測をパターン認識で行
ない、計測時間の短縮と、不良磁気ヘッドの排除を行な
うことができる。そして、さらに高い精度で測定するた
めに前述の計測で求められたギャップとギャップ端面付
近の２本の境界線について画素を取り込み、再探査する
ので高精度でギャップ位置を計測することができる。そ
して、それらの３本の直線の交点によって高精度にギャ
ップの端面の位置を求めることができる。
【００１３】また、本発明では直線の３交点の距離よ
り、ギャップの端面の交点の位置の正確さが判断でき、
計測が適当でないときには、問題のある一部の直線を使
わない計測手段が提供され、ギャップ位置を誤認識する
ことを防ぐことができる。
り、ギャップの端面の交点の位置の正確さが判断でき、
計測が適当でないときには、問題のある一部の直線を使
わない計測手段が提供され、ギャップ位置を誤認識する
ことを防ぐことができる。
【００１４】また、磁気ヘッドを上下に揺動し調整をす
る際にも常に光学系と磁気ヘッドとの焦点が一致してい
るため調整中の計測精度の低下が起こらない。
る際にも常に光学系と磁気ヘッドとの焦点が一致してい
るため調整中の計測精度の低下が起こらない。
【００１５】そして、接着された磁気ヘッドは貼り付け
精度が向上するので、後工程のシリンダへの組み込みの
際に無調整で組み込む事ができる。それによって現在シ
リンダの組み込み時に使用されている高さ調節の為のス
ペーサおよびあおりネジの廃止をはかることができる。
精度が向上するので、後工程のシリンダへの組み込みの
際に無調整で組み込む事ができる。それによって現在シ
リンダの組み込み時に使用されている高さ調節の為のス
ペーサおよびあおりネジの廃止をはかることができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の１実施例を詳細に説明する。
図１は、磁気ヘッド摺動面のギャップ位置計測方法、図
２は、本発明を磁気ヘッド貼り付け装置のハイト計測装
置に適用した場合の処理手順の１実施例を示すフローチ
ャートであり、図３、４は本発明とその周辺機器との構
成図であり、図５は、本発明で貼付けたは磁気ヘッドと
ヘッドベースの組立図及びヘッドシリンダへの組込図で
あり、図６は本発明が対象とする磁気ヘッドの摺動面の
拡大図であり、図７は磁気ヘッドの調整時の計測方法で
ある。
図１は、磁気ヘッド摺動面のギャップ位置計測方法、図
２は、本発明を磁気ヘッド貼り付け装置のハイト計測装
置に適用した場合の処理手順の１実施例を示すフローチ
ャートであり、図３、４は本発明とその周辺機器との構
成図であり、図５は、本発明で貼付けたは磁気ヘッドと
ヘッドベースの組立図及びヘッドシリンダへの組込図で
あり、図６は本発明が対象とする磁気ヘッドの摺動面の
拡大図であり、図７は磁気ヘッドの調整時の計測方法で
ある。
【００１７】図１は磁気ヘッド摺動面のギャップの計測
方法を示し、２０がアモルファス部、２１がフェライト
部、３６が補強ガラス部、パターンａ４０、パターンｂ
４１、頂点ａ４２、頂点ｂ４３、ギャップ計測範囲４
４、左境界線計測範囲４５、右境界線計測範囲４６、と
なっている。図３及び図４において、１はホストコンピ
ュータで、２は画像処理装置であり、オートフォーカス
装置３、光学系装置４の制御を行う。オートフォーカス
装置３は、光学系装置４を前後方向に動かし画面の焦点
を合わせる。画像処理装置２は、ヘッドベース１７のハ
イト高さ（図６に示す１９）を計測し、ホストコンピュ
ータにデータを受け渡す。５はロボットコントローラで
ＸＹロボット６、ロボットハンド部７を制御する。ＸＹ
ロボット６はロボットハンド部７を使いヘッドベース１
６、磁気ヘッド１７の運搬及び設置を行う。９は位置決
めユニットでヘッドベース１６をベース位置決めユニッ
ト１２、上下位置決め冶具１３による固定と、シリンダ
８を用いて上下調整冶具１４、上下押し付け冶具１５で
位置決めされた磁気ヘッド１７の揺動を行う。１０は接
着剤塗布ユニットで位置決めの終了した磁気ヘッド１７
とヘッドベース１６の間に紫外線硬化型接着剤３４を塗
布する。１１は紫外線照射装置で１０で塗布した接着剤
を硬化させる装置である。図５はヘッドベース１６に磁
気ヘッド１７を貼付た磁気ヘッド完成品３３及び磁気ヘ
ッド完成品を組み込むヘッドシリンダ３４、図６は磁気
ヘッド１７の拡大図および磁気ヘッド摺動面２５の状態
図で２０がアモルファス、２１がフェライトで構成さ
れ、２２がギャップ、２９がハイト計測点、そして、ア
モルファス２０、フェライト２１の境界線がそれぞれ、
アモルファス−フェライト左境界線２３、アモルファス
−フェライト右境界線２４となっている。そしてヘッド
ベース１６の磁気ヘッド１７の貼付面からハイト計測点
２９までの長さをハイト高さ１９とする。図７はハイト
修正の過程を示しており、磁気ヘッド摺動面の拡大図で
２０がアモルファス、２１がフェライト、３５が補強ガ
ラス、基準ハイト座標が３１、ハイト修正量が３２とな
っている。
方法を示し、２０がアモルファス部、２１がフェライト
部、３６が補強ガラス部、パターンａ４０、パターンｂ
４１、頂点ａ４２、頂点ｂ４３、ギャップ計測範囲４
４、左境界線計測範囲４５、右境界線計測範囲４６、と
なっている。図３及び図４において、１はホストコンピ
ュータで、２は画像処理装置であり、オートフォーカス
装置３、光学系装置４の制御を行う。オートフォーカス
装置３は、光学系装置４を前後方向に動かし画面の焦点
を合わせる。画像処理装置２は、ヘッドベース１７のハ
イト高さ（図６に示す１９）を計測し、ホストコンピュ
ータにデータを受け渡す。５はロボットコントローラで
ＸＹロボット６、ロボットハンド部７を制御する。ＸＹ
ロボット６はロボットハンド部７を使いヘッドベース１
６、磁気ヘッド１７の運搬及び設置を行う。９は位置決
めユニットでヘッドベース１６をベース位置決めユニッ
ト１２、上下位置決め冶具１３による固定と、シリンダ
８を用いて上下調整冶具１４、上下押し付け冶具１５で
位置決めされた磁気ヘッド１７の揺動を行う。１０は接
着剤塗布ユニットで位置決めの終了した磁気ヘッド１７
とヘッドベース１６の間に紫外線硬化型接着剤３４を塗
布する。１１は紫外線照射装置で１０で塗布した接着剤
を硬化させる装置である。図５はヘッドベース１６に磁
気ヘッド１７を貼付た磁気ヘッド完成品３３及び磁気ヘ
ッド完成品を組み込むヘッドシリンダ３４、図６は磁気
ヘッド１７の拡大図および磁気ヘッド摺動面２５の状態
図で２０がアモルファス、２１がフェライトで構成さ
れ、２２がギャップ、２９がハイト計測点、そして、ア
モルファス２０、フェライト２１の境界線がそれぞれ、
アモルファス−フェライト左境界線２３、アモルファス
−フェライト右境界線２４となっている。そしてヘッド
ベース１６の磁気ヘッド１７の貼付面からハイト計測点
２９までの長さをハイト高さ１９とする。図７はハイト
修正の過程を示しており、磁気ヘッド摺動面の拡大図で
２０がアモルファス、２１がフェライト、３５が補強ガ
ラス、基準ハイト座標が３１、ハイト修正量が３２とな
っている。
【００１８】次に図２のフローチャートに基づいて図１
の計測方法、図３、図４の各部の動作、図６、図７の調
整方法について説明する。
の計測方法、図３、図４の各部の動作、図６、図７の調
整方法について説明する。
【００１９】まず、（ステップ１０２）、（ステップ１
０４）に従いＸＹロボット６がロボットコントローラ５
の指令に基づいてロボットハンド部７にヘッドベース１
６、磁気ヘッド１７を把持した状態で位置決めユニット
９の上部に移動する。そして、ベース位置決めユニット
１２にヘッドベース１６を上下押し付け冶具１３で押し
付け固定する。次に、ヘッドベース１６上に磁気ヘッド
１７を搭載し、上下調整冶具１４、上下押し付け冶具１
５で上下に固定して左右揺動可能な状態とする。ただ
し、この状態で磁気ヘッド１７の摺動面２５が光学系ユ
ニット４の視野上、そしてオートフォーカス３の稼動範
囲に入っているものとする。
０４）に従いＸＹロボット６がロボットコントローラ５
の指令に基づいてロボットハンド部７にヘッドベース１
６、磁気ヘッド１７を把持した状態で位置決めユニット
９の上部に移動する。そして、ベース位置決めユニット
１２にヘッドベース１６を上下押し付け冶具１３で押し
付け固定する。次に、ヘッドベース１６上に磁気ヘッド
１７を搭載し、上下調整冶具１４、上下押し付け冶具１
５で上下に固定して左右揺動可能な状態とする。ただ
し、この状態で磁気ヘッド１７の摺動面２５が光学系ユ
ニット４の視野上、そしてオートフォーカス３の稼動範
囲に入っているものとする。
【００２０】次に揺動可能な状態で固定された状態の磁
気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２５に対して、（ステ
ップ１０６）で光学系ユニット４をオートフォーカス機
構３を利用して焦点を合わせる。まず、オートフォーカ
ス機構３に付属する光学系ユニット移動機構２６を利用
して指定した可動範囲内での各設定位置に停止し、それ
ぞれの画面を画像処理装置２で処理し、各画面のコント
ラストを測定する。そして、それぞれ微小で区切られた
位置の各コントラストを測定し、可動範囲内での最大コ
ントラストの位置を光学系ユニット４の焦点が合ったと
考える。そして、その位置をホストコンピュータ１に磁
気ヘッド１７の貼付データとして送ると同時に、光学系
ユニット４を光学系ユニット移動機構２６を使い、焦点
の合致位置に移動する。また、（ステップ１０８）のよ
うに、この場合のコントラストが規定値に達しない場合
には磁気ヘッド１７が規定範囲内に位置決めできていな
いと考え、不良と判断する。（ステップ１２８）そし
て、位置決めユニット９を開放し、（ステップ１２４）
により、ＸＹロボット６を使って排出する。
気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２５に対して、（ステ
ップ１０６）で光学系ユニット４をオートフォーカス機
構３を利用して焦点を合わせる。まず、オートフォーカ
ス機構３に付属する光学系ユニット移動機構２６を利用
して指定した可動範囲内での各設定位置に停止し、それ
ぞれの画面を画像処理装置２で処理し、各画面のコント
ラストを測定する。そして、それぞれ微小で区切られた
位置の各コントラストを測定し、可動範囲内での最大コ
ントラストの位置を光学系ユニット４の焦点が合ったと
考える。そして、その位置をホストコンピュータ１に磁
気ヘッド１７の貼付データとして送ると同時に、光学系
ユニット４を光学系ユニット移動機構２６を使い、焦点
の合致位置に移動する。また、（ステップ１０８）のよ
うに、この場合のコントラストが規定値に達しない場合
には磁気ヘッド１７が規定範囲内に位置決めできていな
いと考え、不良と判断する。（ステップ１２８）そし
て、位置決めユニット９を開放し、（ステップ１２４）
により、ＸＹロボット６を使って排出する。
【００２１】次に磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２
５について光学系ユニット４で測定し、そのデータを画
像処理ユニット２によって画像処理して、ハイト高さ１
９を測定する。（ユニット１１０） 磁気ヘッド摺動面２５は図１、図６、図７に示すように
アモルファス２０、フェライト２１、ギャップ２２から
できていてハイト高さ１９はギャップ２２の下端面を示
す。そこで、光学系ユニット４で測定した磁気ヘッド摺
動面２５をギャップ２２の位置を特定する為にまず、画
像処理ユニット２に摺動面２５の画像データを取り込
み、パターンａ４０、パターンｂ４１をパターンマッチ
ング法により捜索し、頂点ａ４２、頂点ｂ４３を計測す
る。そして、その２頂点を含む直線をテープ摺動方向に
対して一定値間をギャップ計測範囲２２として、ギャッ
プ方向に各画素の投影値を求め、しきい値を設定するこ
とでギャップ位置を測定し、その各点を直線近似法によ
り直線近似することによってギャップ２２を求める。そ
して、頂点ａ４２を含む左右のパターンａ４０の左右の
辺に関してもギャップ２２と同様に左境界線計測範囲４
５、右境界線計測範囲４６を定め、その範囲内にあるア
モルファス２０とフェライト２１の境界線を光の反射量
の差から直線近似して２本の直線、アモルファス−フェ
ライト左境界線２３、アモルファス−フェライト右境界
線２４、を得る。ここでこの３本の直線のデータをホス
トコンピュータ１におくりギャップ２２の直線とアモル
ファス−フェライト左境界線２３の交点、左境界線座標
２７を求め、そして、同時にギャップ２２の直線とアモ
ルファス−フェライト右境界線２４の交点、右境界線座
標２８を求める。（ユニット１１０） そして、（ユニ
ット１１２）の条件で、左境界線座標２７と右境界線座
標２８の２交点の座標の差がある一定値以下であれば、
正常にハイト高さが計測できたと考え、その２交点のう
ち、ギャップ２２に近い座標をハイト高さ１９のハイト
計測点２９とする。（ユニット１１２）の条件を満たさ
ないときは、アモルファス２０がギャップ２２を境に大
きくずれたか、ギャップ２２付近に傷や汚れなどの異物
がありギャップ２２を含む直線が正常に計測できなかっ
たと考え、（ユニット１３０）により、左境界線座標２
７、右境界線座標２８を使わず、アモルファス−フェラ
イト左境界線２３、アモルファス−フェライト右境界線
２４の２本の境界線の交点、境界線座標３０をハイト計
測点２９とする。（ユニット１３２） ここで、あらかじめハイト計測の目標の座標として入力
しておいた基準ハイト座標３１を使い、基準ハイト座標
３１とハイト計測点２９の差をハイト高さ１９のハイト
修正量３２とする。（ユニット１１４） ここで、（ユニット１１６）に従い、ハイト修正量３２
があらかじめ入力しておいた無調整でヘッドシリンダ１
８に組み付けられる値以下なら（ユニット１２２）に進
み調整を終了する。もし、その値以上ならばハイト高さ
１９を調整する必要があり、（ユニット１２０）に進
み、ハイト高さ１９を修正する。
５について光学系ユニット４で測定し、そのデータを画
像処理ユニット２によって画像処理して、ハイト高さ１
９を測定する。（ユニット１１０） 磁気ヘッド摺動面２５は図１、図６、図７に示すように
アモルファス２０、フェライト２１、ギャップ２２から
できていてハイト高さ１９はギャップ２２の下端面を示
す。そこで、光学系ユニット４で測定した磁気ヘッド摺
動面２５をギャップ２２の位置を特定する為にまず、画
像処理ユニット２に摺動面２５の画像データを取り込
み、パターンａ４０、パターンｂ４１をパターンマッチ
ング法により捜索し、頂点ａ４２、頂点ｂ４３を計測す
る。そして、その２頂点を含む直線をテープ摺動方向に
対して一定値間をギャップ計測範囲２２として、ギャッ
プ方向に各画素の投影値を求め、しきい値を設定するこ
とでギャップ位置を測定し、その各点を直線近似法によ
り直線近似することによってギャップ２２を求める。そ
して、頂点ａ４２を含む左右のパターンａ４０の左右の
辺に関してもギャップ２２と同様に左境界線計測範囲４
５、右境界線計測範囲４６を定め、その範囲内にあるア
モルファス２０とフェライト２１の境界線を光の反射量
の差から直線近似して２本の直線、アモルファス−フェ
ライト左境界線２３、アモルファス−フェライト右境界
線２４、を得る。ここでこの３本の直線のデータをホス
トコンピュータ１におくりギャップ２２の直線とアモル
ファス−フェライト左境界線２３の交点、左境界線座標
２７を求め、そして、同時にギャップ２２の直線とアモ
ルファス−フェライト右境界線２４の交点、右境界線座
標２８を求める。（ユニット１１０） そして、（ユニ
ット１１２）の条件で、左境界線座標２７と右境界線座
標２８の２交点の座標の差がある一定値以下であれば、
正常にハイト高さが計測できたと考え、その２交点のう
ち、ギャップ２２に近い座標をハイト高さ１９のハイト
計測点２９とする。（ユニット１１２）の条件を満たさ
ないときは、アモルファス２０がギャップ２２を境に大
きくずれたか、ギャップ２２付近に傷や汚れなどの異物
がありギャップ２２を含む直線が正常に計測できなかっ
たと考え、（ユニット１３０）により、左境界線座標２
７、右境界線座標２８を使わず、アモルファス−フェラ
イト左境界線２３、アモルファス−フェライト右境界線
２４の２本の境界線の交点、境界線座標３０をハイト計
測点２９とする。（ユニット１３２） ここで、あらかじめハイト計測の目標の座標として入力
しておいた基準ハイト座標３１を使い、基準ハイト座標
３１とハイト計測点２９の差をハイト高さ１９のハイト
修正量３２とする。（ユニット１１４） ここで、（ユニット１１６）に従い、ハイト修正量３２
があらかじめ入力しておいた無調整でヘッドシリンダ１
８に組み付けられる値以下なら（ユニット１２２）に進
み調整を終了する。もし、その値以上ならばハイト高さ
１９を調整する必要があり、（ユニット１２０）に進
み、ハイト高さ１９を修正する。
【００２２】（ユニット１２０）では、ハイト修正量３
２を使いハイト高さ１９を修正する。
２を使いハイト高さ１９を修正する。
【００２３】まず、ホストコンピュータ１を通して、サ
ーボモータ８をハイト修正量だけ移動させる。そして、
サーボモータ８は上下調整冶具１４を移動させ磁気ヘッ
ド１７を上下に揺動して、磁気ヘッド１７のハイト計測
点２９を移動する。ここで磁気ヘッド１７は下端面をヘ
ッドベース１６に接触したまま上下に揺動するのでハイ
ト修正量３２が大きい場合には、光学系ユニット４の焦
点深度以上に移動してしまう事がある。そこで（ステッ
プ１３４）で磁気ヘッド摺動面２５が光学系ユニット４
の焦点深度以上になったかハイト修正量３２から計算に
より判断し、焦点深度以上に移動した場合には下記（ス
テップ１３６）にすすむ。
ーボモータ８をハイト修正量だけ移動させる。そして、
サーボモータ８は上下調整冶具１４を移動させ磁気ヘッ
ド１７を上下に揺動して、磁気ヘッド１７のハイト計測
点２９を移動する。ここで磁気ヘッド１７は下端面をヘ
ッドベース１６に接触したまま上下に揺動するのでハイ
ト修正量３２が大きい場合には、光学系ユニット４の焦
点深度以上に移動してしまう事がある。そこで（ステッ
プ１３４）で磁気ヘッド摺動面２５が光学系ユニット４
の焦点深度以上になったかハイト修正量３２から計算に
より判断し、焦点深度以上に移動した場合には下記（ス
テップ１３６）にすすむ。
【００２４】（ステップ１３６）ではハイト修正量３２
が大きく、磁気ヘッド１７の前後移動量が光学系ユニッ
ト４の焦点深度より大きくなってしまった時の手順を示
している。まず、磁気ヘッド１７の揺動による磁気ヘッ
ド摺動面２５の光学系ユニット４の焦点方向に対する移
動量をホストコンピュータ１によって計算し、その値で
光学系移動ユニット２６を動かし、光学系ユニット４が
常に磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２５と焦点が合
致するようにする。この作業は、オートフォーカスに比
べ短時間で終了し、かつ磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺
動面２５に光学系ユニット４の焦点は合致しているた
め、ハイト計測点２９の測定の精度は常に高い値を保つ
事ができる。
が大きく、磁気ヘッド１７の前後移動量が光学系ユニッ
ト４の焦点深度より大きくなってしまった時の手順を示
している。まず、磁気ヘッド１７の揺動による磁気ヘッ
ド摺動面２５の光学系ユニット４の焦点方向に対する移
動量をホストコンピュータ１によって計算し、その値で
光学系移動ユニット２６を動かし、光学系ユニット４が
常に磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２５と焦点が合
致するようにする。この作業は、オートフォーカスに比
べ短時間で終了し、かつ磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺
動面２５に光学系ユニット４の焦点は合致しているた
め、ハイト計測点２９の測定の精度は常に高い値を保つ
事ができる。
【００２５】調整の終了した磁気ヘッド１７はもう一度
上記の計測法に従ってハイト計測点２９を測定する。光
学系ユニット４と磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２
５の焦点は（ステップ１３６）に従い常に光学系ユニッ
ト４の焦点深度以内に収まるため、この場合のオートフ
ォーカス（ステップ１０６）は省略できる。ここではハ
イト調整前の測定で、ギャップ２２を用いてハイト計測
点２９を計測したものは前回と同様に（ステップ１１
０）で計測し、ギャップ２２を用いずに境界線座標３０
を用いたものは、同じ計測法をとるために（ステップ１
３０）に進む。
上記の計測法に従ってハイト計測点２９を測定する。光
学系ユニット４と磁気ヘッド１７の磁気ヘッド摺動面２
５の焦点は（ステップ１３６）に従い常に光学系ユニッ
ト４の焦点深度以内に収まるため、この場合のオートフ
ォーカス（ステップ１０６）は省略できる。ここではハ
イト調整前の測定で、ギャップ２２を用いてハイト計測
点２９を計測したものは前回と同様に（ステップ１１
０）で計測し、ギャップ２２を用いずに境界線座標３０
を用いたものは、同じ計測法をとるために（ステップ１
３０）に進む。
【００２６】ここで計測したハイト計測点２９と基準ハ
イト座標３１の差が規定値より小さければ（ステップ１
１６）に従い、次の（ステップ１２２）に進み、大きい
ならば（ステップ１２０）に戻り、磁気ヘッド１７を揺
動する事によってハイト高さ１９の調整を繰り返す。た
だし、この繰り返しも２回までで、それ以上は（ステッ
プ１１８）に従い調整の失敗した磁気ヘッド１７として
（ステップ１２６）で取り扱う。
イト座標３１の差が規定値より小さければ（ステップ１
１６）に従い、次の（ステップ１２２）に進み、大きい
ならば（ステップ１２０）に戻り、磁気ヘッド１７を揺
動する事によってハイト高さ１９の調整を繰り返す。た
だし、この繰り返しも２回までで、それ以上は（ステッ
プ１１８）に従い調整の失敗した磁気ヘッド１７として
（ステップ１２６）で取り扱う。
【００２７】次に調整の終了した磁気ヘッド１７は（ス
テップ１２２）で接着剤塗布装置１０を用いて、紫外線
硬化型接着剤により、ヘッドベース１６に固定される。
この接着剤は嫌気性を持つために磁気ヘッド１７とヘッ
ドベース１６間の隙間に充填され、空気が遮断される事
により硬化する。
テップ１２２）で接着剤塗布装置１０を用いて、紫外線
硬化型接着剤により、ヘッドベース１６に固定される。
この接着剤は嫌気性を持つために磁気ヘッド１７とヘッ
ドベース１６間の隙間に充填され、空気が遮断される事
により硬化する。
【００２８】そして、硬化確認後、（ステップ１２４）
より、磁気ヘッド１７を貼り付けたヘッドベース１８を
位置決めブロック１２から開放し、ロボットハンド部７
でつかみ、ＸＹロボット６により、別ステーションにな
っている紫外線照射ユニット１１に送られ、表面を硬化
した後、磁気ヘッド完成品３３となる。この後、計測法
の違いにより磁気ヘッドの完成品をわけ、ギャップ２２
を使った計測法で測定した磁気ヘッド１７を精度の高い
ものとして選別する。また、調整の失敗した磁気ヘッド
も（ステップ１２４）によって別の箇所に収納する。
より、磁気ヘッド１７を貼り付けたヘッドベース１８を
位置決めブロック１２から開放し、ロボットハンド部７
でつかみ、ＸＹロボット６により、別ステーションにな
っている紫外線照射ユニット１１に送られ、表面を硬化
した後、磁気ヘッド完成品３３となる。この後、計測法
の違いにより磁気ヘッドの完成品をわけ、ギャップ２２
を使った計測法で測定した磁気ヘッド１７を精度の高い
ものとして選別する。また、調整の失敗した磁気ヘッド
も（ステップ１２４）によって別の箇所に収納する。
【００２９】そして、この装置で磁気ヘッド１７を計測
し、貼付を行った磁気ヘッド完成品３３は、無調整でヘ
ッドシリンダ１８に組み付ける事ができる。
し、貼付を行った磁気ヘッド完成品３３は、無調整でヘ
ッドシリンダ１８に組み付ける事ができる。
【００３０】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によって磁気
ヘッドをヘッドベースに貼付る際に高速度、高精度に安
定して貼付る事ができる。そのために、この装置による
原価低減だけではなく、貼付精度が向上するために磁気
ヘッドをヘッドシリンダに組み込む際に調整が不要にな
り、工程数が減少し価格低減を図る事ができる。また、
光学系ユニットと位置決めユニット、貼付ユニットを１
つのシステムおよび１つのステーションで行っているの
で貼付後の精度の低下を低減できる。
ヘッドをヘッドベースに貼付る際に高速度、高精度に安
定して貼付る事ができる。そのために、この装置による
原価低減だけではなく、貼付精度が向上するために磁気
ヘッドをヘッドシリンダに組み込む際に調整が不要にな
り、工程数が減少し価格低減を図る事ができる。また、
光学系ユニットと位置決めユニット、貼付ユニットを１
つのシステムおよび１つのステーションで行っているの
で貼付後の精度の低下を低減できる。
【図１】磁気ヘッドのギャップ位置の計測方法を示す図
である。
である。
【図２】本発明の処理手順の１実施例を示すフローチャ
ートである。
ートである。
【図３】本発明に係わるヘッド貼付装置のシステムブロ
ック図である。
ック図である。
【図４】本発明に係わるヘッド貼付装置の光学系付近の
構成図である。
構成図である。
【図５】本発明で製作したベースの斜視図及びシリンダ
の組み付け例を示す図である。
の組み付け例を示す図である。
【図６】図５の磁気ヘッド付近の拡大図である。
【図７】磁気ヘッドの拡大図およびその調整図である。
１…ホストコンピュータ、 ２…画像処理装置、 ３…オートフォーカス装置、 ４…光学系ユニット、 １３…上下位置決め冶具、 １４…上下調整冶具、 １５…上下押しつけ冶具、 １６…ヘッドベース、 １７…磁気ヘッド、 １８…ヘッドシリンダ、 １９…ハイト高さ、 ２０…アモルファス、 ２１…フェライト、 ２２…ギャップ、 ２３…アモルファス−フェライト左境界線、 ２４…アモルファス−フェライト右境界線、 ２５…磁気ヘッド摺動面、 ２６…光学系ユニット移動機構、 ２７…左境界線座標、 ２８…右境界線座標、 ２９…ハイト計測点、 ３０…境界線座標、 ３１…基準ハイト座標、 ３２…ハイト修正量、 ３３…磁気ヘッド完成品、 ３４…紫外線硬化型接着剤、 ３５…補強ガラス、 ４０…パターンａ、 ４１…パターンｂ、 ４２…頂点ａ、 ４３…頂点ｂ、 ４４…ギャップ計測範囲、 ４５…左境界線計測範囲、 ４６…右境界線計測範囲。
Claims (13)
- 【請求項１】ＶＴＲ磁気ヘッドの調整作業時のギャップ
端面の計測において、磁気ヘッドのギャップのテープ摺
動方向両側の補強ガラス面で構成される２つの三角形の
位置をパターンマッチング法により計測し、各三角形の
３つの頂点を求め、その２つの三角形に挟まれたギャッ
プをそれぞれの三角形のギャップ側の２点の位置により
直線を求め、２点間にあるギャップの位置の概略を求
め、次にそのギャップ位置を高精度で測定するために、
ギャップの両端の２頂点間の直線に、テープ摺動方向前
後一定値間の各画素の投影値を求め、ギャップを含む座
標を限定し、その座標を直線近似する事により、ギャッ
プを含む直線を高精度で導く、そして、三角形のギャッ
プ側の点の左右の線に、ギャップと同様の方法で、直線
を限定し、補強ガラスとギャップ左右の部材との２本の
境界線を得、それら２本の境界線とギャップを含む直線
との２交点のうち、磁気ヘッド中心に近い点をギャップ
の端面の点とすることを特徴とするギャップ位置計測方
法。 - 【請求項２】ＶＴＲ磁気ヘッドのギャップ端面の位置の
認識時にギャップ両端の部材と補強ガラスとの左右の２
本の境界線の交点を、ギャップ位置を含む直線上で選択
して、ギャップ端面位置を認識することを特徴とするギ
ャップ位置認識装置。 - 【請求項３】請求項１記載の計測方法において、磁気ヘ
ッドのギャップを含む１直線とアモルファスと補強ガラ
スの左右の境界を含む２直線との２交点がある値以上離
れたときに、磁気ヘッドのギャップ部分の直線を使わ
ず、アモルファスと補強ガラスの左右の２本の境界線の
交点を磁気ヘッドのギャップの端面の位置として仮定す
ることを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項４】請求項１記載の計測方法において、磁気ヘ
ッドのギャップを含む１直線とアモルファスと補強ガラ
スの左右の境界を含む２直線との２交点がある値以上離
れたときに、磁気ヘッドの右の境界線を使わずに、ギャ
ップを含む直線とアモルファスと補強ガラスの左の境界
線の交点を磁気ヘッドのギャップの端面の位置として仮
定することを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項５】請求項１記載の計測方法において、磁気ヘ
ッドのギャップを含む１直線とアモルファスと補強ガラ
スの左右の境界を含む２直線との２交点がある値以上離
れたときに、磁気ヘッドの左の境界線を使わずに、ギャ
ップを含む直線とアモルファスと補強ガラスの右の境界
線の交点を磁気ヘッドのギャップの端面の位置として仮
定することを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項６】磁気ヘッドのギャップにアジマス角度が違
うものが存在する場合に、ギャップの傾斜を算出してア
ジマス角度を判別し、そのアジマス角度によりギャップ
の計測方法を変更し、アジマスの違う磁気ヘッドが混在
した場合に、それを不良としてはじくことを特徴とする
ギャップ位置計測方法。 - 【請求項７】請求項１記載の計測方法において、ギャッ
プ高さの調整前のギャップ位置の下端の位置から、調整
後のギャップ位置の端面の位置を移動量から予想して、
ギャップ端面付近の小さく限定された範囲でのみ画像処
理をおこない短時間でギャップの端面の位置を算出する
ことを特徴とする画像処理方法。 - 【請求項８】請求項１記載の計測方法において、求めた
ギャップ位置に磁気ヘッドの検出位置を機構を介して一
致させるときに磁気ヘッドを上下に揺動する事によって
生じる前後方向のずれを演算する事によって光学系の焦
点を移動し、合焦点の位置を計測する時間を短縮できる
ことを特徴とするギャップ位置計測方法。 - 【請求項９】請求項１記載の計測方法において、磁気ヘ
ッドを上下に揺動する事によって生じる前後方向のずれ
を光学系装置の焦点深度以内に納めるように上下にあお
る範囲を限定することを特徴とするギャップ位置計測方
式。 - 【請求項１０】請求項１記載の計測方法で計測後に位置
を調整してヘッドベースに貼付るため、磁気ヘッドの厚
さ方向の寸法を高精度に加工する必要のないことを特徴
とする磁気ヘッド。 - 【請求項１１】請求項１において、光学系装置と、光学
系装置と垂直で、磁気ヘッドを上下にあおる機構を含む
位置決め装置、磁気ヘッドとヘッドベースを接着する紫
外線硬化型接着剤を塗布する接着剤塗布装置、塗布した
紫外線硬化型接着剤を硬化させる紫外線照射装置で構成
され、シリンダ組立時に無調整で組み上げられる為に必
要な精度以内で磁気ヘッドをヘッドベースに貼り付ける
ことを特徴とする磁気ヘッド貼付装置。 - 【請求項１２】請求項１１記載の装置で貼り付けられ、
無調整でシリンダに組込む為に必要な精度で貼り付られ
たことを特徴とする磁気ヘッド。 - 【請求項１３】請求項１０記載の高精度に貼付られた磁
気ヘッドを使うためにギャップの高さを合わせる部材を
必要としないことを特徴とするヘッドシリンダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5073335A JPH06288713A (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | ギャップ位置計測方法及び画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5073335A JPH06288713A (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | ギャップ位置計測方法及び画像処理方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06288713A true JPH06288713A (ja) | 1994-10-18 |
Family
ID=13515200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5073335A Pending JPH06288713A (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | ギャップ位置計測方法及び画像処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06288713A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180074768A (ko) | 2016-01-20 | 2018-07-03 | 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤 | 갭 계측 장치 및 갭 계측 방법 |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP5073335A patent/JPH06288713A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180074768A (ko) | 2016-01-20 | 2018-07-03 | 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤 | 갭 계측 장치 및 갭 계측 방법 |
| US11054253B2 (en) | 2016-01-20 | 2021-07-06 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Gap measurement device and gap measurement method |
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