JPH06285464A - Method and apparatus for treating recovered water to obtain recycled water - Google Patents

Method and apparatus for treating recovered water to obtain recycled water

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JPH06285464A
JPH06285464A JP7692793A JP7692793A JPH06285464A JP H06285464 A JPH06285464 A JP H06285464A JP 7692793 A JP7692793 A JP 7692793A JP 7692793 A JP7692793 A JP 7692793A JP H06285464 A JPH06285464 A JP H06285464A
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recovered water
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silica component
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敏樹 真鍋
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和彦 川田
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寛 矢目
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Abstract

PURPOSE:To provide a method for recycling effectively used high purity water by ionizing a nonionic silica component, which does not react with a molybdic acid reagent, contained in the water recovered from the used high purity water and removing the ionized silica component with a reverse osmosis membrane apparatus. CONSTITUTION:In a method for treating recovered water, an ionization apparatus 1 oxidizes the recovered water by a method in which the water recovered from ultra- high purity water used for washing semiconductor and others is introduced into an ozone diffusing tank 11 from its lower part while ozone gas being injected from the lower part. The recovered water from the upper part of the tank 11 is then introduced into an ultraviolet irradiation apparatus 12 from its lower part and irradiated with an ultraviolet lamp set in a transparent glass tube 13. In this way, a nonionic silica component, which does not react with a molybdic acid reagent, contained in the recovered water is ionized, while organic compounds in the recovered water is decomposed. The recovered water from the ionization apparatus 1 is fed into a reverse osmosis membrane apparatus 2, so that the water passed through the membrane is used as recycled water.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、代表的には、半導体製
造産業の設備や薬品製造産業の設備等で洗浄などの用途
に使用されている高純度水(一般的には純水あるいは超
純水と呼ばれる高純度水)を、その使用後に、付属する
設備に再利用水として用いる場合に有効な回収水の処理
方法及び装置、あるいは、主要設備で用いる上記高純度
水の製造に用いる原水として再利用する場合に有効な回
収水の処理方法及び装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention is typically applied to high-purity water (generally pure water or ultrapure water) used for cleaning purposes in equipment for the semiconductor manufacturing industry, chemical manufacturing industry, etc. High-purity water, which is called pure water), is a method and device for treating recovered water that is effective when used as reused water in the attached equipment after use, or raw water used in the production of the high-purity water used in major equipment. The present invention relates to a method and an apparatus for treating recovered water, which is effective when reused as.

【0002】[0002]

【発明の背景と従来技術】近時においては、例えば半導
体製造設備等で近時広く採用されているように、純水や
超純水と呼ばれる高純度水を洗浄水として使用すること
が普及しつつあり、そしてこれらの高純度水として要望
されている水質の基準は、現状の工業的規模の製造設備
であっても不純物の含有量がppmレベル以下というの
が通常であり、特に、製品歩留りの向上ひいては製品コ
ストの低減化等が厳しく要求されている分野では、数十
ppb〜数ppbレベルを基準とした極めて微小量の不
純物さえも含まない水を用いることが要望されるように
なってきている。このために高純度水製造に有効な種々
の提案もされている。
BACKGROUND OF THE INVENTION Recently, it has become popular to use high-purity water, which is called pure water or ultrapure water, as washing water, as has been widely used recently in, for example, semiconductor manufacturing facilities. The standard of water quality required for these high-purity waters is that the content of impurities is usually below the ppm level even in the current industrial-scale manufacturing facilities. In the field where the improvement of the product cost and the reduction of the product cost are strictly demanded, it is required to use water which does not contain an extremely minute amount of impurities based on the level of several tens of ppb to several ppb. ing. For this reason, various proposals effective for producing high-purity water have been made.

【0003】また上記のような高純度な水が求められる
実際の工業的な製造設備では、主設備に付属した装置に
も種々の用途で水が利用されており、例えば、半導体製
造設備で言えば、種々のボイラー,熱交換器が付属設備
として用いられているのが普通であり、現実の工業的設
備ではこれ以外にも種々の用途で水が利用されている。
Further, in the actual industrial manufacturing equipment that requires high-purity water as described above, water is also used for various purposes in the equipment attached to the main equipment. For example, it can be said in semiconductor manufacturing equipment. For example, various boilers and heat exchangers are usually used as auxiliary equipment, and in actual industrial equipment, water is used for various purposes other than this.

【0004】ところで、主たる製造ラインで利用してい
る純水あるいは超純水という高純度水は、これを洗浄等
の用途に使用した後であっても一般的な工業用水や市水
に比べて水質的に良好である場合が多いので、上記の純
水や超純水の製造用の水としてあるいは熱交換器のよう
な工業的には付属設備に分類される装置に用いられる水
として、上記の主たる製造ラインで利用した後の使用済
み排水を再利用水として用いることが一般に行われてい
る。これは、工業設備からの排水をできるだけ削減する
という観点からも好ましいものであり、また、地下水等
を原水として利用する工業的設備では、その使用が量的
に制限されることも多いので、そのような地域での工業
的設備では排水の再利用が強く求められる。
By the way, the high-purity water called pure water or ultrapure water used in the main production line is still compared to general industrial water or city water even after it is used for cleaning purposes. Since it is often good in water quality, it can be used as water for producing pure water or ultrapure water as described above, or as water used in devices industrially classified as auxiliary equipment such as heat exchangers, as described above. It is common practice to use the used wastewater as reused water after it has been used in the main production line of. This is also preferable from the viewpoint of reducing wastewater from industrial equipment as much as possible, and in industrial equipment that uses groundwater or the like as raw water, its use is often limited in quantity, so In industrial facilities in such areas, reuse of wastewater is strongly required.

【0005】しかし、洗浄等に用いられた水は、当然な
がら洗浄対象物に付着しているゴミなどを除去するもの
であるから、使用前の高純度水に比べて水質は低下し、
そのまま再利用水とするには、その用途が大きく制約さ
れる。そこで回収水を再利用するためには従来一般に一
定の処理が行なわれている。
However, since the water used for cleaning and the like is of course used to remove dust and the like adhering to the object to be cleaned, the water quality is lower than that of high-purity water before use,
If it is reused as it is, its use is greatly restricted. Therefore, in order to reuse the recovered water, a certain amount of treatment has been generally performed conventionally.

【0006】従来から行なわれているこのような高純度
水の使用済み排水の再利用のための処理としては、例え
ば図4に示すように、回収水を活性炭槽101に通して
有機物を吸着除去し、更に強酸性陽イオン交換樹脂と弱
塩基性陰イオン交換樹脂を充填した脱塩塔102に通し
てイオン成分を除去することが行なわれており、これに
よってトータル有機物量(TOC)が1ppm程度、ト
ータルカチオンが500ppm程度の水質である回収水
を、TOCで0.1ppm程度、トータルカチオン10
ppm程度の再利用水として再生させている場合が多
い。
As a conventional treatment for reusing used waste water of such high-purity water, as shown in FIG. 4, for example, recovered water is passed through an activated carbon tank 101 to remove organic substances by adsorption. In addition, the ionic component is removed by passing through a desalting tower 102 filled with a strongly acidic cation exchange resin and a weakly basic anion exchange resin, whereby the total amount of organic matter (TOC) is about 1 ppm. The total cation content is about 500 ppm, and the recovered water is about 0.1 ppm in TOC.
It is often regenerated as reused water of about ppm.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな再利用水を作り出す従来の処理では、例えば、活性
炭槽を用いるために処理能力がせいぜいSV5〜10程
度に制限されるために、大量に高純度水を使用する製造
設備に適用する場合には、回収水の処理設備も大型化す
ることが避けられないという問題があった。
However, in the conventional treatment for producing such recycled water, for example, since the treatment capacity is limited to about SV5 to 10 due to the use of the activated carbon tank, a large amount of high water is required. When it is applied to a manufacturing facility that uses pure water, there is a problem that the facility for treating the recovered water is inevitably increased in size.

【0008】また、再利用水の用途により、例えばこれ
をクーリングタワー等の熱交換装置の利用水とする場合
には従来スケール付着防止のために適当な薬品を添加し
ているが、上記の回収水に含まれる微量な無機微粒子、
特にスケール発生に大きな影響のあるコロイド状のシリ
カ成分は、図4の従来の処理装置では除去できないた
め、これを除去できる工夫が望まれていた。
Further, depending on the use of the reused water, for example, when this water is used for a heat exchange device such as a cooling tower, an appropriate chemical is conventionally added to prevent scale adhesion. Minute amount of inorganic fine particles contained in
In particular, colloidal silica components, which have a great influence on scale generation, cannot be removed by the conventional processing apparatus shown in FIG. 4, and a device for removing them has been desired.

【0009】本発明者は、以上のような現状に鑑みて本
発明を提案するものであり、その目的の一つは、高純度
水を使用した設備に、これに使用した後の高純度水を処
理して有効に再利用水として用いるのに適した処理方法
及び装置を提供するところにある。
The present inventor proposes the present invention in view of the above-mentioned present situation, and one of the purposes thereof is to provide equipment using high-purity water and high-purity water after using it. The present invention provides a treatment method and apparatus suitable for treating water and effectively using it as recycled water.

【0010】また本発明の別の目的は、熱交換器やボイ
ラー等の供給水,補給水として上記再利用水を用いる場
合に、スケール付着の原因となるコロイド状のシリカ成
分をこの再利用水中から除去することができる処理方法
及び装置を提供するところにある。
Another object of the present invention is to use a colloidal silica component, which causes scale adhesion, when the above-mentioned reused water is used as feed water and make-up water for heat exchangers and boilers. It is an object of the present invention to provide a processing method and device that can be removed from

【0011】本発明の更に別の目的は、高純度水を使用
する設備における水の利用率,回収再利用率を向上させ
て、ランニングコストの低減、資源の有効利用、周囲環
境に対する影響の低減を実現できる処理方法及び装置を
提供するところにある。
Still another object of the present invention is to improve the utilization rate and recovery / reuse rate of water in equipment using high-purity water to reduce running costs, effective use of resources, and influence on the surrounding environment. There is provided a processing method and apparatus capable of realizing the above.

【0012】更に本発明の他の目的は、半導体製造設備
等の主ラインから排水される洗浄排水等を、この主ライ
ンの洗浄水に用いる原水として再利用する場合に有効な
処理方法及び装置の提供を目的とするところにある。
Still another object of the present invention is to provide a treatment method and apparatus which are effective when the cleaning wastewater discharged from the main line of a semiconductor manufacturing facility or the like is reused as raw water used for the cleaning water of this main line. It is for the purpose of providing.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明者は、上記の目的
を達成するために、高純度水の使用済み排水を回収して
再利用する場合の処理法、特にこの回収水中に含まれる
非イオン状のシリカ成分が例えばスケールの大きな原因
の一つとなっていることから、これをできるだけ除去で
きる処理法につき鋭意検討した。
In order to achieve the above-mentioned object, the present inventor has proposed a treatment method for recovering and reusing used waste water of high-purity water, especially a non-contained water contained in the recovered water. Since the ionic silica component is one of the major causes of scale, for example, the treatment method that can remove it as much as possible was earnestly studied.

【0014】このような方法として、従来から例えば、
超純水中の蒸発残渣の原因となる無機質微粒子(コロイ
ダル状物質)をオゾンで強制酸化して酸化状固形微粒子
にし、除去する提案("A Mechanistic Study of Ozone-
Induced Particle Destabilization",JOURNAL AWWA, 19
91)があるが、この方法では、微粒子化するコロイド状
のシリカ成分の割合が少ない。
As such a method, conventionally, for example,
Proposal to remove inorganic fine particles (colloidal substances) that cause evaporation residue in ultrapure water by forced oxidation with ozone to form solid oxide fine particles ("A Mechanistic Study of Ozone-
Induced Particle Destabilization ", JOURNAL AWWA, 19
91), but with this method, the proportion of colloidal silica components that become fine particles is small.

【0015】ところが、強制酸化と紫外線照射を組み合
わせて回収水を処理すると、従来は全く予想されていな
かったコロイド状シリカのイオン化が起こることを本発
明者は見出した。
However, the present inventor has found that when the recovered water is treated by combining forced oxidation and ultraviolet irradiation, ionization of colloidal silica, which has hitherto not been expected, occurs.

【0016】本発明はかかる知見に基づいてなされたも
のであり、その特徴の一つは、半導体洗浄等に用いた高
純度水の使用済み排水を回収して、この回収水に含まれ
るモリブデン酸試薬に反応しない非イオン性のシリカ成
分をイオン化させ、次いでイオン状のシリカ成分を逆浸
透膜装置で膜排除して除去する再利用水を得るための回
収水の処理方法にある。
The present invention has been made on the basis of such findings, and one of its characteristics is to collect used wastewater of high-purity water used for cleaning semiconductors and the like, and obtain molybdic acid contained in the recovered water. This is a treatment method of recovered water for obtaining recycled water by ionizing a nonionic silica component that does not react with a reagent, and then removing the ionic silica component by membrane removal with a reverse osmosis membrane device.

【0017】上記において、非イオン性のシリカ成分を
イオン化するには、回収水に酸化剤としてオゾンガスを
接触させる工程と、回収水に紫外線を照射する工程を、
同時又は順次の工程として行うことがよい。オゾンガス
を用いる場合のその濃度は0.5ppm以上、好ましく
は1ppm以上、最適には3〜4ppmとすることがよ
く、また紫外線照射は発光波長が170〜400nmと
し、光量として0.35WH/l以上、好ましくは0.
7WH/l以上とするとよい。酸化剤の注入は、回収水
の配管に直接注入するか、回収水の貯槽に酸化剤を注入
することができ、また紫外線照射は、限定されるもので
はないが、例えば透明なケース内に紫外線発光灯を収容
してそのケース周囲に近接して回収水が流れるようにし
た装置を好ましく用いることができる。
In the above, in order to ionize the nonionic silica component, a step of bringing recovered water into contact with ozone gas as an oxidant and a step of irradiating the recovered water with ultraviolet rays are carried out.
It may be carried out simultaneously or sequentially. When ozone gas is used, its concentration is 0.5 ppm or more, preferably 1 ppm or more, optimally 3 to 4 ppm, and the ultraviolet irradiation has an emission wavelength of 170 to 400 nm and a light amount of 0.35 WH / l or more. , Preferably 0.
It is preferable to set it to 7 WH / l or more. The oxidant can be injected directly into the recovered water pipe or into the recovered water storage tank, and the ultraviolet irradiation can be, for example, but not limited to, ultraviolet light in a transparent case. It is possible to preferably use a device that accommodates a light emitting lamp and allows collected water to flow near the periphery of the case.

【0018】また上記構成において原水として用いられ
る高純度水の使用済み排水とは、限定されるものではな
いが、半導体や液晶デバイス製造設備のメッキ工程又は
洗浄工程で用いられた使用済み洗浄水、あるいは薬品製
造業において例えばアンプルの洗浄水などを代表的に挙
げることができる。
The used waste water of high-purity water used as raw water in the above structure is not limited, but used cleaning water used in the plating process or cleaning process of semiconductor or liquid crystal device manufacturing equipment, Alternatively, in the chemical manufacturing industry, for example, water for washing ampoules can be cited as a representative example.

【0019】本発明によって処理され再利用水として利
用される原水としての回収水としては、特に限定される
ものではないが、一般的にはトータル有機物量(TO
C)が1ppm程度、トータルカチオンが500ppm
程度の水質のものであることが好ましい。
The recovered water as raw water which is treated by the present invention and used as recycled water is not particularly limited, but generally the total amount of organic matter (TO
C) is about 1 ppm, total cation is 500 ppm
It is preferable that the water quality is about the same.

【0020】モリブデン酸試薬に反応しないとは、JI
S K 0101のモリブデン酸黄吸光度法の測定を行
なう場合に用いられる試薬をいう。
Not reacting with molybdic acid reagent means JI
It refers to a reagent used in the measurement of SK 0101 by the molybdic acid yellow absorbance method.

【0021】上記においてイオン状のシリカ成分を膜排
除する逆浸透膜装置は、膜の性能によって必ずしも一律
に決められるものではないが、イオン状のシリカ成分の
膜排除能の優れたものを用いることがよく、後述の実施
例で示す逆浸透膜装置によれば60%以上、好ましくは
80%以上の高い効率でイオン状のシリカ成分を除去で
きるものを使用するとよい。逆浸透膜装置は膜モジュー
ルを一段であっても2段に設けてもよい。
The above-mentioned reverse osmosis membrane device for removing the ionic silica component from the membrane is not necessarily uniformly determined by the performance of the membrane, but it is necessary to use a device having an excellent ability to remove the ionic silica component from the membrane. According to the reverse osmosis membrane device described in the examples below, it is preferable to use a device capable of removing ionic silica components with high efficiency of 60% or more, preferably 80% or more. The reverse osmosis membrane device may be provided with the membrane module in one stage or in two stages.

【0022】またこのような処理方法を実施する装置と
しての本発明の特徴は、高純度水を使用する設備で発生
する使用済み高純度水の排水を集水して回収水処理手段
に送る送水手段と、送水された回収水を処理する回収水
処理手段と、該回収水処理手段を経た処理水を再利用水
として後段の設備に配水する配水手段とからなり、上記
回収水処理手段は、送水された回収水に含まれるモリブ
デン酸試薬に反応しない非イオン性のシリカ成分をイオ
ン化させるイオン化処理装置、及びこのイオン化処理装
置の後段に設置されて回収水中のイオン状シリカ成分の
膜排除能をもつ逆浸透膜装置とを有すると共に、上記イ
オン化処理装置は、回収水にオゾンガスを注入する酸化
剤注入手段、及び回収水に紫外線を照射する紫外線照射
手段を備えた構成をなすところにある。
The feature of the present invention as an apparatus for carrying out such a treatment method is that the waste water of used high-purity water generated in a facility using high-purity water is collected and sent to the recovered water treatment means. Means, a recovered water treatment means for treating the recovered water that has been sent, and a water distribution means for distributing the treated water that has passed through the recovered water treatment means to the subsequent facility as reused water. An ionization treatment device that ionizes nonionic silica components that do not react with the molybdic acid reagent contained in the recovered water that has been sent, and a membrane removal capability for the ionic silica components in the collected water that is installed after this ionization treatment device. In addition to the reverse osmosis membrane device, the ionization treatment device includes an oxidant injection unit for injecting ozone gas into the recovered water and an ultraviolet irradiation unit for irradiating the recovered water with ultraviolet rays. There where the eggplant.

【0023】この装置の再利用水の配水手段は、例え
ば、半導体製造設備などに付属装置として設けられるク
ーリングタワー等の熱交換器への補給水供給管、各種雑
用水の補給水供給管、各種ボイラーへの補給水供給管等
に接続される。また半導体製造設備における超純水等の
高純度水製造装置への原水の一部として循環再利用する
こともできる。
The means for distributing recycled water of this apparatus is, for example, a makeup water supply pipe for a heat exchanger such as a cooling tower provided as an accessory device in a semiconductor manufacturing facility, a makeup water supply pipe for various kinds of miscellaneous water, and various boilers. It is connected to the make-up water supply pipe to the. It can also be circulated and reused as a part of raw water for a high-purity water manufacturing apparatus such as ultrapure water in a semiconductor manufacturing facility.

【0024】本発明の上記処理装置においては、イオン
化処理装置と逆浸透膜装置の間に活性炭槽やパラジウム
触媒の充填槽を設けたり、あるいは中間貯槽を設けて還
元剤(チオ硫酸ナトリウムや亜硫酸ナトリウム等)を添
加して残留するオゾンを除去するように構成することも
できる。
In the above treatment apparatus of the present invention, a reducing agent (sodium thiosulfate or sodium sulfite) is provided between the ionization treatment apparatus and the reverse osmosis membrane apparatus by providing an activated carbon tank or a palladium catalyst filling tank. Etc.) may be added to remove residual ozone.

【0025】[0025]

【実施例】以下本発明を図面に基づいて更に説明する。 実施例1 第1図は、本発明による装置の一例を示した図であり、
例えば図示しない超純水を半導体等の洗浄に用いた後の
使用済み洗浄水を、集水回収して送水管3を介してイオ
ン化処理装置1に送る。
The present invention will be further described below with reference to the drawings. Example 1 FIG. 1 is a diagram showing an example of an apparatus according to the present invention,
For example, used cleaning water after using ultrapure water (not shown) for cleaning semiconductors or the like is collected and sent to the ionization processing apparatus 1 via the water supply pipe 3.

【0026】本例では、この送水管3の経路の途中に測
定装置4を設けて、回収水の例えば電導度,TOC濃度
を測定し、これらの値が予め定めた所定の基準値以下の
場合には上記イオン化処理装置1に送るが、基準値を上
回っている場合には再利用には不適な水としてそのまま
排水するように、切換弁5,6の開閉を切換えるように
設けているが、このような構成は必須のものではない。
In this example, a measuring device 4 is provided in the middle of the path of the water pipe 3 to measure, for example, the electric conductivity and TOC concentration of the recovered water, and when these values are below a predetermined reference value. Although it is sent to the above-mentioned ionization treatment device 1, if it exceeds the reference value, it is provided to switch the opening and closing of the switching valves 5 and 6 so that the water is drained as it is as unsuitable for reuse. Such a configuration is not essential.

【0027】本例における上記イオン化処理装置1は、
オゾン散気槽11の下部から上部に回収水を通流しなが
ら、該槽11の下部からオゾンガスを注入して回収水の
酸化処理を行なう。次ぎにこのオゾン散気槽11の上部
から出た回収水は、紫外線照射装置12の下部から上部
に向かって通流されながら透明なガラス管13に内蔵さ
れた紫外線発光灯により紫外線が照射される。以上によ
って、回収水に含まれる非イオン状のシリカ成分がイオ
ン化され、また回収水に含まれている有機物の分解も行
なわれる。
The ionization processing apparatus 1 in this example is
While passing the recovered water from the lower part to the upper part of the ozone diffusion tank 11, ozone gas is injected from the lower part of the tank 11 to oxidize the recovered water. Next, the recovered water discharged from the upper part of the ozone diffusing tank 11 is irradiated with ultraviolet rays by the ultraviolet light emitting lamp built in the transparent glass tube 13 while flowing from the lower part to the upper part of the ultraviolet irradiation device 12. . As described above, the non-ionic silica component contained in the recovered water is ionized, and the organic matter contained in the recovered water is decomposed.

【0028】イオン化処理装置1を出た回収水は次ぎに
逆浸透膜装置2に供給され、膜を透過した処理水は再利
用水として、例えば第2図に示すクーリングタワー20
の補給水としてその補給水管に供給される。
The recovered water that has left the ionization treatment device 1 is then supplied to the reverse osmosis membrane device 2, and the treated water that has permeated the membrane is reused water, such as the cooling tower 20 shown in FIG.
Is supplied to the makeup water pipe as makeup water.

【0029】第2図のクーリングタワー20は既知のも
のであり、熱交換器21との間で循環する冷却水によっ
て、適宜配管系22の媒体を冷却するものであり、この
冷却水が循環するタワー底部23や、配管24内、ある
いは熱交換器の配管にスケールが付着するので、これを
防止するためにスケール防止剤等が通常薬注されている
が、上記第1図の装置で処理した再利用水を補給する場
合には、水中のシリカ成分が極めて少ないためにそのま
までもスケールの付着が軽減され、また薬品を注入する
場合にもその量を大幅に削減できる。
The cooling tower 20 shown in FIG. 2 is a known one, and the medium in the piping system 22 is appropriately cooled by the cooling water circulating with the heat exchanger 21, and the tower in which this cooling water circulates. Since scale adheres to the bottom portion 23, the inside of the pipe 24, or the pipe of the heat exchanger, a scale inhibitor or the like is usually dosed to prevent this, but the scale treated with the device shown in FIG. When replenishing water for use, the amount of silica in the water is extremely small, so that scale adhesion can be reduced as it is, and the amount can also be greatly reduced when injecting chemicals.

【0030】実施例2 第3図は、第1図の装置を、超純水製造装置を有する半
導体製造設備の洗浄水回収系に適用した例を示したもの
であり、工業用水30を、1次系純水装置31、循環槽
32を介して2次系純水装置33の順に通して超純水を
製造して、これをユースポイント(U.P.)で半導体
の洗浄に用いた後、集水回収して送水管34によりイオ
ン化処理装置1に送って、オゾン散気、紫外線照射によ
る非イオン状のシリカ成分のイオン化を行ない、ついで
逆浸透膜装置2で膜排除して処理水(再利用水)を得る
ようにしている。
Embodiment 2 FIG. 3 shows an example in which the apparatus of FIG. 1 is applied to a cleaning water recovery system of a semiconductor manufacturing facility having an ultrapure water manufacturing apparatus. After manufacturing the ultrapure water by passing through the secondary pure water device 31 and the secondary pure water device 33 through the circulation tank 32 in this order, and using this for cleaning the semiconductor at the use point (UP) The collected water is collected and sent to the ionization treatment apparatus 1 through the water supply pipe 34 to perform ionization of the nonionic silica component by ozone diffusion and ultraviolet irradiation, and then the reverse osmosis membrane apparatus 2 eliminates the membrane to treat the treated water ( I try to get recycled water.

【0031】得られた処理水は、上記第2図の装置の補
給水等として利用することも出来るが、その水質は高純
度であるため、1次系純水装置31あるいは2次系純水
装置の原水として利用するように純水製造ラインに循環
して戻す、例えば1次系純水装置のほぼ最終処理工程と
して用いられる混床式ポリシャーの入口側の位置に戻す
ようにすることもできる。
The treated water thus obtained can be used as makeup water for the apparatus shown in FIG. 2, but since the quality of the water is high, the primary system deionizer 31 or the secondary system deionized water is used. It may be circulated back to the pure water production line so as to be used as raw water for the apparatus, for example, returned to the position on the inlet side of the mixed bed polisher used as almost the final treatment step of the primary system pure water apparatus. .

【0032】試験例 第1図の装置を用いて、回収水の処理を以下の条件で行
なった。 注入オゾン濃度 ・・・・104 g/Mm3 オゾン注入量 ・・・・ 4 リットル/mi
n 試料水中のオゾン濃度 ・・・ 2.5〜3ppm 試料水としては半導体製造工程で使用された濃厚排水
(更新薬液)を用いた。逆浸透膜としてはSU710
(東レ社製)を用いた。なお、全シリカ成分は誘導結合
プラズマ質量分析装置ICP−MS(横川電機製)を用
いて測定し、イオン状のシリカ成分は、シリカ計SA−
500(東レ社製)を用いて測定した。
Test Example Using the apparatus shown in FIG. 1, the recovered water was treated under the following conditions. Injected ozone concentration ・ ・ ・ 104 g / Mm 3 Ozone injection amount ・ ・ ・ 4 liters / mi
n Ozone concentration in sample water: 2.5-3 ppm Concentrated waste water (renewal chemical solution) used in the semiconductor manufacturing process was used as sample water. SU710 as reverse osmosis membrane
(Manufactured by Toray) was used. The total silica component was measured using an inductively coupled plasma mass spectrometer ICP-MS (manufactured by Yokogawa Electric Corp.), and the ionic silica component was a silica meter SA-.
It measured using 500 (made by Toray).

【0033】また比較のために、オゾン散気のみを行な
って紫外線照射を行なわなかった場合、紫外線照射のみ
を行なってオゾン散気を行なわなかった場合、いずれも
行なわない無処理の場合のシリカ成分の濃度を夫々測定
した。これらの結果を下記表1に示す。
For comparison, a silica component in the case of no treatment, in which only ozone diffusion was performed and ultraviolet irradiation was not performed, or only ultraviolet irradiation was performed and ozone diffusion was not performed, was not performed. Were measured respectively. The results are shown in Table 1 below.

【0034】[0034]

【表1】この表1の結果から、試料水中には500pp
bの非イオン性のシリカが存在するが、オゾン散気の
み、UV照射のみ、無処理では、該イオン性のシリカに
は変化がなく、かつ逆浸透膜処理すると、300ppb
の非イオン性のシリカが漏洩する。
[Table 1] From the results of Table 1, 500 pp in sample water
Although the nonionic silica of b exists, the ozone effusion only, the UV irradiation only, and no treatment did not change the ionic silica, and the reverse osmosis membrane treatment resulted in 300 ppb.
Non-ionic silica leaks.

【0035】一方本発明ではオゾン散気と紫外線照射処
理により、非イオン性シリカが20ppbに低下し、か
つこれを逆浸透膜処理することにより、非イオン性のシ
リカが10ppbに減少し、本発明によって非イオン性
のシリカが大幅に低下した処理水の得られることが分か
る。
On the other hand, in the present invention, the nonionic silica is reduced to 20 ppb by the ozone diffusion and the ultraviolet irradiation treatment, and the nonionic silica is reduced to 10 ppb by the reverse osmosis membrane treatment. It can be seen that the treated water in which the nonionic silica is greatly reduced can be obtained.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、使用済みの高純度水を
処理して有効に再利用水として用いることができるの
で、水の利用率,回収再利用率が向上し、しかも再利用
した熱交換器やボイラー等においてのスケール付着が効
果的に抑制,軽減されるという効果がある。したがっ
て、熱交換器等において従来使用していたスケール防止
剤の薬注量を少なくでき、ランニングコストを低減でき
るなどの効果も得られる。
According to the present invention, since used high-purity water can be treated and effectively used as recycled water, the utilization rate of water and the recovery / reuse rate are improved, and the recycled water is reused. This has the effect of effectively suppressing and reducing scale adhesion on heat exchangers and boilers. Therefore, it is possible to reduce the amount of scale-injecting agent conventionally used in a heat exchanger or the like, and to reduce running costs.

【0037】また、半導体製造設備等の主ラインから排
水される洗浄排水等をこの主ラインの洗浄水に用いる原
水として再利用すれば、水の利用効率が向上し、また設
備からの排水量を低減できるという効果もある。
Further, by reusing the cleaning drainage discharged from the main line of the semiconductor manufacturing facility as the raw water used for the cleaning water of this main line, the water utilization efficiency is improved and the amount of drainage from the facility is reduced. There is also an effect that you can.

【0038】また本発明の回収水の処理装置によれば、
従来の装置に比べて、その処理速度を速くすることがで
き、したがって単位処理量当たりの設置面積を小さくす
ることができるという効果もある。
According to the treatment apparatus for recovered water of the present invention,
There is also an effect that the processing speed can be increased as compared with the conventional apparatus, and therefore the installation area per unit processing amount can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1図は、本発明よりなる回収水処理装置の一
実施例の構成概要を示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration outline of an embodiment of a recovered water treatment apparatus according to the present invention.

【図2】第2図は、第1図の装置で処理された再利用水
を、クーリングタワーの補給水として用いた場合の例を
示した図である。
FIG. 2 is a view showing an example in which the reused water treated by the apparatus of FIG. 1 is used as makeup water for the cooling tower.

【図3】第3図は、超純水製造装置からの回収水を処理
するように設けた設備の構成概要を示した図である。
[Fig. 3] Fig. 3 is a diagram showing an outline of a configuration of equipment provided so as to treat water recovered from an ultrapure water producing apparatus.

【図4】第4図は、従来の回収水を再利用水として処理
する装置の一例を示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a conventional device for treating recovered water as reused water.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・イオン化処理装置、2・・・逆浸透膜装置、1
1・・・オゾン散気槽、12・・・紫外線照射装置。
1 ... Ionization treatment device, 2 ... Reverse osmosis membrane device, 1
1 ... Ozone diffuser, 12 ... Ultraviolet irradiation device.

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成6年3月28日[Submission date] March 28, 1994

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0006[Correction target item name] 0006

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0006】従来から行なわれているこのような高純度
水の使用済み排水の再利用のための処理としては、例え
ば図4に示すように、回収水を活性炭槽101に通して
有機物を吸着除去し、更に強酸性陽イオン交換樹脂と弱
塩基性陰イオン交換樹脂を充填した脱塩塔装置102に
通してイオン成分を除去することが行なわれており、こ
れによってトータル有機物量(TOC)が1ppm程
度、トータルカチオンが500ppm程度の水質である
回収水を、TOCで0.1ppm程度、トータルカチオ
ン10ppm程度の再利用水として再生させている場合
が多い。
As a conventional treatment for reusing used waste water of such high-purity water, as shown in FIG. 4, for example, recovered water is passed through an activated carbon tank 101 to remove organic substances by adsorption. In addition, the ionic components are removed by passing through a desalting tower apparatus 102 filled with a strongly acidic cation exchange resin and a weakly basic anion exchange resin, whereby the total amount of organic matter (TOC) is 1 ppm. In many cases, the recovered water having a water quality of about 500 ppm of total cations is regenerated as recycled water of about 0.1 ppm in TOC and about 10 ppm of total cations.

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0017[Correction target item name] 0017

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0017】上記において、非イオン性のシリカ成分を
イオン化するには、回収水に酸化剤としてオゾンガスを
接触させる工程と、回収水に紫外線を照射する工程を、
同時又は順次の工程として行うことがよい。オゾンガス
を用いる場合のその濃度は0.5ppm以上、好ましく
は1ppm以上、最適には3〜4ppmとすることがよ
く、また紫外線照射は発光波長が170〜400nmと
し、光量として30WH/m3 以上、好ましくは70W
H/m3 以上とするとよい。酸化剤の注入は、回収水の
配管に直接注入するか、回収水の貯槽に酸化剤を注入す
ることができ、また紫外線照射は、限定されるものでは
ないが、例えば透明なケース内に紫外線発光灯を収容し
てそのケース周囲に近接して回収水が流れるようにした
装置を好ましく用いることができる。
In the above, in order to ionize the nonionic silica component, a step of bringing recovered water into contact with ozone gas as an oxidant and a step of irradiating the recovered water with ultraviolet rays are carried out.
It may be carried out simultaneously or sequentially. When ozone gas is used, its concentration is 0.5 ppm or more, preferably 1 ppm or more, optimally 3 to 4 ppm, and the ultraviolet irradiation has an emission wavelength of 170 to 400 nm and a light amount of 30 WH / m 3 or more. Preferably 70W
H / m 3 or more is preferable. The oxidant can be injected directly into the recovered water pipe or into the recovered water storage tank, and the ultraviolet irradiation can be, for example, but not limited to, ultraviolet light in a transparent case. It is possible to preferably use a device that accommodates a light emitting lamp and allows collected water to flow near the periphery of the case.

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0020[Correction target item name] 0020

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0020】モリブデン酸試薬に反応しないとは、JI
S K 0101のモリブデン酸黄吸光度法の測定を行
なう場合に用いられる試薬に反応しないことをいう。
Not reacting with molybdic acid reagent means JI
It means that it does not react with the reagent used for the measurement of SK 0101 by the molybdate yellow absorption method.

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0031[Correction target item name] 0031

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0031】得られた処理水は、上記第2図の装置の補
給水等として利用することも出来るが、その水質は高純
度であるため、1次系純水装置31あるいは2次系純水
装置の原水として利用するように純水製造ラインに循環
して戻す例えば1次系純水装置のほぼ最終処理工程と
して用いられる混床式ポリシャーの入口側の位置に戻す
ようにすることもできる。
The treated water thus obtained can be used as makeup water for the apparatus shown in FIG. 2, but since the quality of the water is high, the primary system deionizer 31 or the secondary system deionized water is used. It is circulated back to the pure water production line for use as raw water for the equipment . For example, it can be returned to the position on the inlet side of the mixed bed polisher used as almost the final treatment step of the primary water purifier.

【手続補正5】[Procedure Amendment 5]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0032[Name of item to be corrected] 0032

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0032】試験例 第1図の装置を用いて、回収水の処理を以下の条件で行
なった。 注入オゾン濃度 ・・・・104 g/3 オゾン注入量 ・・・・ 4 リットル/mi
n 試料水中のオゾン濃度 ・・・ 2.5〜3ppm 試料水としては半導体製造工程で使用された濃厚排水
(更新薬液)を用いた。逆浸透膜としてはSU710
(東レ社製)を用いた。なお、全シリカ成分は誘導結合
プラズマ質量分析装置ICP−MS(横川電機製)を用
いて測定し、イオン状のシリカ成分は、シリカ計SA−
500(東レ社製)を用いて測定した。
Test Example Using the apparatus shown in FIG. 1, the recovered water was treated under the following conditions. Injected ozone concentration ······· 104 g / N m 3 ozone injection amount ····· 4 liter / mi
n Ozone concentration in sample water: 2.5-3 ppm Concentrated waste water (renewal chemical solution) used in the semiconductor manufacturing process was used as sample water. SU710 as reverse osmosis membrane
(Manufactured by Toray) was used. The total silica component was measured using an inductively coupled plasma mass spectrometer ICP-MS (manufactured by Yokogawa Electric Corp.), and the ionic silica component was a silica meter SA-.
It measured using 500 (made by Toray).

【手続補正6】[Procedure correction 6]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0034[Correction target item name] 0034

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0034】[0034]

【表1】 この表1の結果から、試料水中には5000ppbの非
イオン性のシリカが存在するが、オゾン散気のみ、UV
照射のみ、無処理では、該イオン性のシリカには変化が
なく、かつ逆浸透膜処理すると、300ppbの非イオ
ン性のシリカが漏洩する。
[Table 1] From the results shown in Table 1, although 5000 ppb of nonionic silica is present in the sample water, only ozone diffuser, UV
The irradiation does not change the ionic silica without treatment, and the reverse osmosis membrane treatment leaks 300 ppb of nonionic silica.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体洗浄等に用いた高純度水の使用済
み排水を回収して、この回収水に含まれるモリブデン酸
試薬に反応しない非イオン性のシリカ成分をイオン化さ
せ、次いでイオン状のシリカ成分を逆浸透膜装置で膜排
除して除去することを特徴とする再利用水を得るための
回収水の処理方法。
1. A used wastewater of high-purity water used for cleaning semiconductors and the like is recovered, a nonionic silica component which does not react with a molybdic acid reagent contained in the recovered water is ionized, and then ionic silica. A method for treating recovered water for obtaining reused water, which comprises removing components by removing them with a reverse osmosis membrane device.
【請求項2】 請求項1において、非イオン性のシリカ
成分のイオン化が、回収水にオゾンガスを接触させる工
程と、回収水に紫外線を照射する工程と、からなること
を特徴とする再利用水を得るための回収水の処理方法。
2. The reused water according to claim 1, wherein the ionization of the nonionic silica component comprises a step of bringing recovered water into contact with ozone gas and a step of irradiating the recovered water with ultraviolet rays. Method of processing recovered water to obtain water.
【請求項3】 請求項1又は2において、高純度水の使
用済み排水としての回収水が、半導体や液晶デバイス製
造設備のメッキ工程又は洗浄工程で用いられた使用済み
洗浄水であることを特徴とする再利用水を得るための回
収水の処理方法。
3. The method according to claim 1, wherein the recovered water as used waste water of the high-purity water is used cleaning water used in a plating step or a cleaning step of a semiconductor or liquid crystal device manufacturing facility. Reclaimed water treatment method to obtain reused water.
【請求項4】 高純度水を使用する設備で発生する使用
済み高純度水の排水を集水して回収水処理手段に送る送
水手段と、送水された回収水を処理する回収水処理手段
と、該回収水処理手段を経た処理水を再利用水として後
段の設備に配水する配水手段とからなり、上記回収水処
理手段は、送水された回収水に含まれるモリブデン酸試
薬に反応しない非イオン性のシリカ成分をイオン化させ
るイオン化処理装置、及びこのイオン化処理装置の後段
に設置されて回収水中のイオン状シリカ成分の膜排除能
をもつ逆浸透膜装置とを有すると共に、上記イオン化処
理装置は、回収水に酸化剤を注入する酸化剤注入手段、
及び回収水に紫外線を照射する紫外線照射手段を備えて
いることを特徴とする再利用水を得るための回収水の処
理装置。
4. A water supply means for collecting wastewater of used high-purity water generated in equipment using high-purity water and sending it to the recovered-water treatment means, and a recovered-water treatment means for treating the sent-recovered water. And a water distribution means for distributing the treated water that has passed through the recovered water treatment means to the subsequent facility as reused water, wherein the recovered water treatment means is a non-ion which does not react with the molybdic acid reagent contained in the recovered water sent. With a reverse osmosis membrane device having an ionization treatment device for ionizing a water-soluble silica component, and a membrane removing ability of the ionic silica component in the recovered water, which is installed in a subsequent stage of the ionization treatment device, and the ionization treatment device comprises: An oxidant injection means for injecting an oxidant into the recovered water,
And an apparatus for irradiating the recovered water with an ultraviolet ray, the apparatus for treating recovered water for obtaining recycled water.
【請求項5】 請求項4において、酸化剤注入手段で回
収水に注入する酸化剤が、オゾンガスであることを特徴
とする再利用水を得るための回収水の処理装置。
5. The treatment apparatus for recovered water for obtaining recycled water according to claim 4, wherein the oxidant injected into the recovered water by the oxidant injection means is ozone gas.
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005205323A (en) * 2004-01-22 2005-08-04 Fuji Xerox Co Ltd Waste water treating method
JP2006198472A (en) * 2005-01-18 2006-08-03 Miura Co Ltd Waste water treatment apparatus
CN102423871A (en) * 2011-07-01 2012-04-25 上海华力微电子有限公司 Recycling method of polishing solution
CN103420539A (en) * 2012-05-24 2013-12-04 北京华晨吉光科技有限公司 Integrated sewage treatment unit and method
JP2020133952A (en) * 2019-02-14 2020-08-31 三浦工業株式会社 Method of producing hot water and recycling waste hot water
JP2020133953A (en) * 2019-02-14 2020-08-31 三浦工業株式会社 Method of producing hot water and recycling waste hot water

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005205323A (en) * 2004-01-22 2005-08-04 Fuji Xerox Co Ltd Waste water treating method
JP4525083B2 (en) * 2004-01-22 2010-08-18 富士ゼロックス株式会社 Wastewater treatment method
JP2006198472A (en) * 2005-01-18 2006-08-03 Miura Co Ltd Waste water treatment apparatus
CN102423871A (en) * 2011-07-01 2012-04-25 上海华力微电子有限公司 Recycling method of polishing solution
CN103420539A (en) * 2012-05-24 2013-12-04 北京华晨吉光科技有限公司 Integrated sewage treatment unit and method
JP2020133952A (en) * 2019-02-14 2020-08-31 三浦工業株式会社 Method of producing hot water and recycling waste hot water
JP2020133953A (en) * 2019-02-14 2020-08-31 三浦工業株式会社 Method of producing hot water and recycling waste hot water

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