JPH06282062A - Production of three-dimensional circuit board - Google Patents

Production of three-dimensional circuit board

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JPH06282062A
JPH06282062A JP14404993A JP14404993A JPH06282062A JP H06282062 A JPH06282062 A JP H06282062A JP 14404993 A JP14404993 A JP 14404993A JP 14404993 A JP14404993 A JP 14404993A JP H06282062 A JPH06282062 A JP H06282062A
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circuit board
photomask
light
exposure
parallel light
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Kunji Nakajima
勲二 中嶋
Toshiyuki Suzuki
俊之 鈴木
Atsuhiro Nakamoto
篤宏 中本
Yoshitaka Tezuka
義隆 手塚
Riyuuji Ootani
隆児 大谷
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Panasonic Electric Works Co Ltd
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Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

PURPOSE:To form circuits with high-density wirings on the three-dimensional circuit board having large ruggedness differences. CONSTITUTION:The three-dimensional circuit board is produced by including a stage for applying a photoresist 3 on the front surface of the three-dimensional circuit board 1 molded of a resin, superposing a photomask 4 thereon and exposing the photoresist with collimated beams of light, then developing the photoresist. The exposing is executed by using the photomask 4 formed with light transmission parts 4a subjected to the size adjustment meeting the spread of the collimated beams of light according to the spacing between the photomask 4 and the circuit forming surface of the circuit board 1 at this time. The process is so constituted that the exposure can be made by correcting the spread of the collimated beams of light by the spacing between the circuit board 1 and the photomask 4, by which the nonuniformity in the width size of the circuit 6 occurring in the ruggedness on the surface of the circuit board 1 is averted.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、立体的な表面に回路を
立体的に設けた立体回路板の製造方法に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a three-dimensional circuit board in which circuits are three-dimensionally provided on a three-dimensional surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】プリント配線板として、樹脂のモールド
成形品で回路基板を作成した立体回路板が提供されてい
る。この立体回路板は表面が平坦面であることを前提と
する従来の回路形成法をそのまま採用することはできな
いので、特開平1−298792号公報、特開平4−7
6985号公報、特開平1−206692号公報、米国
特許第3694080号公報等にみられるように種々の
工夫がなされている。
2. Description of the Related Art As a printed wiring board, there is provided a three-dimensional circuit board in which a circuit board is made of a resin molded product. This conventional three-dimensional circuit board cannot adopt the conventional circuit forming method, which is based on the assumption that the surface is a flat surface, as it is. Therefore, JP-A-1-298792 and JP-A-4-7 are used.
Various ideas have been made as seen in Japanese Patent No. 6985, Japanese Unexamined Patent Publication No. 1-206692, and US Pat. No. 3,694,080.

【0003】図3及び図4は立体回路板の製造の各工程
を示すものであり、図3及び図4に基づいて立体回路板
の製造の一例の概略を説明する。まず図3(a)のよう
に立体的に表面を有する回路基板1を樹脂成形すること
によって作成し、表面を粗面化した後に、無電解メッキ
をおこなって図3(b)のように回路基板1の表面の全
面に無電解メッキ層2を施し、次にこの上から図3
(c)のようにフォトレジスト3を全面に亘って塗着
し、図3(d)のようにフォトマスク4を被せて露光し
た後に現像し、回路形成部分のフォトレジスト3を除去
する。この後に無電解メッキ層2に通電して電気メッキ
をおこなうことによって、図4(a)のように無電解メ
ッキ層2のフォトレジスト3で覆われていない露出面に
電気メッキ層5を析出させ、さらにこの電気メッキ層5
の上に図4(b)のようにニッケルメッキや金メッキを
してこれらのメッキ層7を形成した後に、図4(c)の
ようにフォトレジスト3を剥離すると共に無電解メッキ
層2の不要部分をエッチングすることによって無電解メ
ッキ層2と電気メッキ層5及びニッケルと金のメッキ層
7で構成される回路6の形成をおこなうことができる。
そして図4(d)のようにワイヤー19をボンディング
することによって電子部品等の部品18を回路基板1に
実装することができる。
FIGS. 3 and 4 show each step of manufacturing the three-dimensional circuit board, and an outline of an example of manufacturing the three-dimensional circuit board will be described with reference to FIGS. 3 and 4. First, a circuit board 1 having a three-dimensional surface as shown in FIG. 3A is formed by resin molding, and after roughening the surface, electroless plating is performed to form a circuit as shown in FIG. 3B. The electroless plating layer 2 is applied to the entire surface of the substrate 1, and then from the top of FIG.
As shown in FIG. 3C, the photoresist 3 is applied over the entire surface, and as shown in FIG. 3D, the photoresist 3 is covered with the photomask 4, exposed, and developed to remove the photoresist 3 in the circuit forming portion. Then, the electroless plating layer 2 is energized to perform electroplating, thereby depositing the electroplating layer 5 on the exposed surface of the electroless plating layer 2 which is not covered with the photoresist 3 as shown in FIG. 4A. , And this electroplating layer 5
4 (b) is plated with nickel or gold to form these plating layers 7, and then the photoresist 3 is peeled off as shown in FIG. 4 (c) and the electroless plating layer 2 is not necessary. By etching the portion, the circuit 6 including the electroless plating layer 2, the electroplating layer 5, and the nickel and gold plating layer 7 can be formed.
Then, by bonding the wire 19 as shown in FIG. 4D, the component 18 such as an electronic component can be mounted on the circuit board 1.

【0004】上記のように回路形成をおこなうに際し
て、回路基板1の表面が立体的に形成されているため
に、平面状のフォトマスク4では回路基板1の表面に密
着させることができず、図3(d)のように回路基板1
の凹部9とフォトマスク4との間には隙間が生じること
になり、光漏れが生じて露光を正確におこなうことが難
しい。
When the circuit is formed as described above, since the surface of the circuit board 1 is three-dimensionally formed, the planar photomask 4 cannot be brought into close contact with the surface of the circuit board 1. Circuit board 1 as in 3 (d)
A gap is created between the concave portion 9 and the photomask 4, and light leakage occurs, which makes it difficult to perform accurate exposure.

【0005】このために前記特開平1−298792号
公報では、回路基板の表面の立体と雌雄関係の形状を有
する透光性の型に非透光性の配線パターンを施して立体
マスクを作成し、立体マスクを回路基板の表面に密着さ
せて露光をおこなうことを提案している。しかし回路基
板の表面の立体に合わせた立体形状にマスクを形成する
には非常な工数が必要になり、生産効率や生産コストの
面で実用上大きな問題がある。
For this reason, in Japanese Patent Laid-Open No. 1-298792, a three-dimensional mask is prepared by applying a non-light-transmitting wiring pattern to a light-transmitting mold having a shape of male and female relationship with the solid on the surface of the circuit board. , It is proposed that a three-dimensional mask be brought into close contact with the surface of the circuit board for exposure. However, in order to form a mask in a three-dimensional shape that matches the three-dimensional shape of the surface of the circuit board, a great number of man-hours are required, which poses a serious problem in practical use in terms of production efficiency and production cost.

【0006】また前記米国特許第3694080号公報
に開示されるものにも同様な問題がある。すなわちこの
ものは変換器のロータの曲面に導体パターンをフォトプ
リントする方法を開示するものであり、図30に示すよ
うに、フォトレジストで被覆した外部曲面30を持つロ
ータ31を割り出し台32に取付け、単一点光源33か
らの光をレンズ34に通して平行光線になし、ロータ3
1の外部曲面30に近接して(接触はしていない)配置
された副マスク35及び主マスク36を通してロータ3
1の外部曲面30のフォトレジストを露光するようにし
てある。図30において37はタイマ38によって作動
されるソレノイド39に連結されたシャッターである。
そしてこのものにあって、マスク35,36はロータ3
1の外部曲面30の曲面と同一形状の曲面に形成されて
おり、基本的にはマスク35,36とロータ31の外部
曲面30とは総ての面で平行になっているために、外部
曲面30への正確な露光が可能である。しかしこのもの
にあっても、露光をおこなう面が複雑な凹凸を持った立
体面であると、フォトマスクと回路形成表面との間の間
隔の変化に対して配慮がされていないので、平行光で露
光しても光の回折現象が発生し易く、適切な露光処理を
おこなうことができないという問題が生じるのである。
The problem disclosed in US Pat. No. 3,694,080 has the same problem. That is, this one discloses a method of photoprinting a conductor pattern on the curved surface of the rotor of the converter. As shown in FIG. 30, a rotor 31 having an external curved surface 30 coated with photoresist is attached to an indexing table 32. , The light from the single point light source 33 passes through the lens 34 to form parallel rays,
Rotor 3 through the sub-mask 35 and the main mask 36 which are arranged close to (not in contact with) the outer curved surface 30 of FIG.
The photoresist on the outer curved surface 30 of No. 1 is exposed. In FIG. 30, 37 is a shutter connected to a solenoid 39 operated by a timer 38.
And in this thing, the masks 35 and 36 are the rotor 3
The external curved surface 30 is formed to have the same shape as the curved surface of the external curved surface 30 of FIG. 1, and basically, since the masks 35 and 36 and the external curved surface 30 of the rotor 31 are parallel to each other on all surfaces, Accurate exposure to 30 is possible. However, even in this case, if the surface to be exposed is a three-dimensional surface with complicated irregularities, no consideration is given to changes in the distance between the photomask and the circuit formation surface, so parallel light is not considered. Even if the light is exposed to light, a light diffraction phenomenon is likely to occur, and a problem arises in that an appropriate exposure process cannot be performed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】そこで、前記特開平4
−76985号公報では、平面状のフォトマスク4を用
いて図3(d)のように露光をおこなうにあたって、平
行光をフォトマスク4に照射することによって、フォト
マスク4に形成されたパターンで露光をおこなうことが
できるようにしている。
[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Application Publication No.
According to Japanese Patent Laid-Open No. 76985, when the planar photomask 4 is used to perform the exposure as shown in FIG. 3D, the photomask 4 is irradiated with parallel light so that the pattern formed on the photomask 4 is exposed. To be able to do.

【0008】このように平行光を用いれば、回路基板1
の表面の凹凸差が小さいときには比較的正確なパターン
で露光をおこなうことができるが、図31(a)(b)
に示すように凹部9が深く形成されていてフォトマスク
4と回路基板1の回路形成表面との間の間隔が大きくな
ると、平行光であっても光の回折現象や光の僅かなズレ
で光が広がって光透過部4aから光非透過部4bの裏側
にも光が回り込み、光非透過部4bの裏側の一部におい
てもフォトレジスト3は露光されてしまうことになる。
この結果、回路基板1の表面のフォトレジスト3のうち
凹部9の底や斜面の箇所は未露光部分が細くなり、現像
する際に溶解する幅も狭くなって、図31(c)に示す
ように回路6は凹部9の部分の幅が細くなるものであっ
た。また回路基板1の平坦な面と傾斜する面とでは露光
量が不均一になるという問題もあった。
By using parallel light in this way, the circuit board 1
When the surface unevenness difference is small, the exposure can be performed with a relatively accurate pattern.
When the recess 9 is deeply formed as shown in FIG. 2 and the distance between the photomask 4 and the circuit forming surface of the circuit board 1 becomes large, even if the light is parallel light, the light may be diffracted by a light diffraction phenomenon or a slight deviation of the light. Spread and the light also circulates from the light transmitting portion 4a to the back side of the light non-transmitting portion 4b, and the photoresist 3 is exposed even on a part of the back side of the light non-transmitting portion 4b.
As a result, of the photoresist 3 on the surface of the circuit board 1, the unexposed portions of the bottoms and slopes of the recesses 9 are thinned, and the width of dissolution during development is narrowed, as shown in FIG. In the circuit 6, the width of the recess 9 is narrow. There is also a problem that the exposure amount becomes uneven on the flat surface and the inclined surface of the circuit board 1.

【0009】図31ではネガ型のフォトレジスト3を使
用する場合について説明したが、ポジ型フォトレジスト
3を使用する場合には図32のようになる。すなわちこ
の場合には、フォトマスク4の光透過部4aは図32
(b)のように回路基板1に形成する回路6と同じパタ
ーンに形成されるが、平行光を用いて露光するにあたっ
て、図32(a)(b)に示すようにフォトマスク4と
回路基板1の表面との間の間隔が大きくなる凹部9a,
9bの箇所では、上記と同様に光の回折現象等で光が広
がって光透過部4aから光非透過部4bの裏側にも光が
回り込み、光透過部4aの幅寸法よりも広い幅でフォト
レジスト3は露光されてしまうことになり、回路基板1
の表面のフォトレジスト3のうち凹部9a,9bの底や
斜面の箇所は露光幅が太くなって、現像する際に溶解す
る幅も太くなって、図32(c)に示すように回路6は
凹部9a,9bの部分の幅が太くなるものであった。
Although the case where the negative type photoresist 3 is used has been described with reference to FIG. 31, it becomes as shown in FIG. 32 when the positive type photoresist 3 is used. That is, in this case, the light transmitting portion 4a of the photomask 4 is shown in FIG.
It is formed in the same pattern as the circuit 6 formed on the circuit board 1 as shown in (b), but when exposure is performed using parallel light, as shown in FIGS. 32 (a) and 32 (b), the photomask 4 and the circuit board are formed. Concave portion 9a having a large distance from the surface of
At the location 9b, the light spreads due to the light diffraction phenomenon and the like as described above, and the light also circulates from the light transmitting portion 4a to the back side of the light non-transmitting portion 4b, so that the width is wider than the width dimension of the light transmitting portion 4a. The resist 3 will be exposed, and the circuit board 1 will be exposed.
In the photoresist 3 on the surface of the photoresist 3, the bottom of the recesses 9a, 9b and the sloped portion have a wider exposure width and a wider width to be dissolved during development. As shown in FIG. The width of the recesses 9a and 9b was increased.

【0010】そしてこのように回路基板1の表面に形成
される回路6の幅寸法を均一に形成することができない
結果、高密度配線ができなくなるという問題が生じるも
のであった。本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、回路基板の表面の凹凸が複雑で凹凸差が大きくて
も、高密度配線で正確に回路を形成することができる立
体回路板の製造方法を提供することを目的とするもので
ある。
As a result of the inability to uniformly form the width dimension of the circuit 6 formed on the surface of the circuit board 1 as described above, there arises a problem that high-density wiring cannot be performed. The present invention has been made in view of the above points, and a method for manufacturing a three-dimensional circuit board capable of accurately forming a circuit with high-density wiring even if the unevenness of the surface of the circuit board is complicated and the unevenness is large. It is intended to provide.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明に係る立体回路板
の製造方法は、樹脂成形された立体的な回路基板1の表
面にフォトレジスト3を塗着し、この上に平板状のフォ
トマスク4を重ねて平行光で露光した後に現像する工程
を含んで立体回路板を製造するにあたって、フォトマス
ク4と回路基板1の回路形成表面との間の間隔に伴う平
行光の広がりに応じた寸法調整をした光透過部4aを形
成したフォトマスク4を用いて露光をおこなうことを特
徴とするものである。
A method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to the present invention comprises applying a photoresist 3 on the surface of a resin-molded three-dimensional circuit board 1 and applying a flat photomask thereon. In manufacturing a three-dimensional circuit board including a step of stacking four layers, exposing them with parallel light, and then developing, a dimension corresponding to the spread of the parallel light with the space between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1. Exposure is performed using the photomask 4 having the adjusted light transmitting portion 4a formed therein.

【0012】また本発明に係る立体回路板の製造方法
は、樹脂成形された立体的な回路基板1の表面にフォト
レジスト3を塗着し、この上に平板状のフォトマスク4
を重ねて平行光で露光した後に現像する工程を含んで立
体回路板を製造するにあたって、フォトマスク4と回路
基板1の回路形成表面との間の間隔に応じて複数段に分
けてフォトマスク4を重ねて露光をおこなうことを特徴
とするものである。
In the method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to the present invention, a photoresist 3 is applied on the surface of a resin-molded three-dimensional circuit board 1, and a flat photomask 4 is applied thereon.
When manufacturing a three-dimensional circuit board including a step of overlapping and exposing with parallel light and then developing, the photomask 4 is divided into a plurality of stages according to the distance between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1. It is characterized in that exposure is carried out by superposing.

【0013】またこのように複数段のフォトマスク4で
露光をおこなうにあたって、フォトマスク4として、フ
ォトマスク4と回路基板1の回路形成表面との間の間隔
に伴う平行光の広がりに応じた寸法調整をした光透過部
4aを形成したフォトマスク4を用いることができる。
そして、上記の樹脂成形された立体的な回路基板1とし
て、樹脂成形時に凹部又は凸部を一体成形して位置合わ
せ部10を設けたものを用い、位置合わせ部10によっ
て位置合わせした状態でフォトマスク4を回路基板1に
重ねるようにすることができる。
Further, in performing the exposure with the photomasks 4 in a plurality of stages as described above, the size of the photomask 4 is determined according to the spread of the parallel light accompanying the space between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1. The photomask 4 having the adjusted light transmitting portion 4a can be used.
As the three-dimensional resin-molded circuit board 1 described above, one in which a concave portion or a convex portion is integrally molded at the time of resin molding and an alignment portion 10 is provided is used. The mask 4 may be superposed on the circuit board 1.

【0014】また、回路基板固定治具11に回路基板1
を位置決めしてセットし、フォトマスク4に脱着自在に
設けた支持棒12を回路基板固定治具11に結合させる
ことによって回路基板1にフォトマスク4を位置合わせ
した状態でフォトマスク4を回路基板1に重ねるように
することができる。さらに上記の複数段のフォトマスク
4のうち、一段のフォトマスク4に光透過部4aがパタ
ーンニングして設けられた露光マスク4′を用いると共
に他の段のフォトマスク4に光を透過しない遮光マスク
4″を用いて露光をおこない、順次露光マスク4′と遮
光マスク4″を入れ換えて複数回露光をおこなうように
することもできる。
The circuit board 1 is mounted on the circuit board fixing jig 11.
Is set and positioned, and the support bar 12 detachably provided on the photomask 4 is coupled to the circuit board fixing jig 11 so that the photomask 4 is aligned with the circuit board 1. It can be stacked on 1. Further, among the above-mentioned photomasks 4 in a plurality of stages, an exposure mask 4'where a light transmitting portion 4a is patterned on the photomask 4 in one stage is used, and light is not transmitted to the photomasks 4 in other stages. It is also possible to perform exposure using the mask 4 ″, and replace the sequential exposure mask 4 ′ with the light-shielding mask 4 ″ to perform exposure multiple times.

【0015】さらにこの複数段のフォトマスク4のう
ち、隣合うフォトマスク4の端部同士を平行光の照射方
向に重複させてフォトマスク4を配置するようにするこ
ともできる。またこのように隣合うフォトマスク4の端
部同士を平行光の照射方向に重複させてフォトマスク4
を配置するにあたって、重ね合わせる部分においてフォ
トマスク4同士の位置合わせをおこなうようにしてもよ
い。
Further, among the photomasks 4 in a plurality of stages, the photomasks 4 may be arranged so that the end portions of adjacent photomasks 4 overlap each other in the irradiation direction of the parallel light. Further, in this way, the end portions of the adjacent photomasks 4 are overlapped with each other in the irradiation direction of the parallel light so that the photomasks 4 are formed.
When arranging, the photomasks 4 may be aligned with each other in the overlapping portion.

【0016】また、上記のように平行光を用いて露光を
おこなうにあたって、コリメータ51によって平行度を
高めた平行光で露光をおこなうようにすることができ
る。さらに、同じ露光パターンを形成した平板状のフォ
トマスク4を複数枚用い、平行光の照射方向に各露光パ
ターンが揃うように所定間隔をおいて複数枚のフォトマ
スク4を平行光の照射方向に重ねて露光をおこなうこと
ができる。
When performing the exposure using the parallel light as described above, it is possible to perform the exposure with the parallel light whose parallelism is increased by the collimator 51. Further, a plurality of flat plate-shaped photomasks 4 on which the same exposure pattern is formed are used, and a plurality of photomasks 4 are arranged in the parallel light irradiation direction at predetermined intervals so that the respective exposure patterns are aligned in the parallel light irradiation direction. It is possible to carry out exposure in layers.

【0017】また表面と裏面にそれぞれ同じ露光パター
ンを設けて形成したフォトマスク4を用いて露光をおこ
なうようにしてもよい。さらに平行光を用いて露光をお
こなうにあたって、レーザー光56を光学レンズ52を
用いて光束を広げた平行光とし、この平行光で露光をお
こなうようにすることができる。
Further, the exposure may be performed using the photomask 4 formed by providing the same exposure pattern on the front surface and the back surface, respectively. Further, when performing exposure using parallel light, the laser light 56 can be converted into parallel light by expanding the light flux using the optical lens 52, and exposure can be performed using this parallel light.

【0018】またピンホール53を通過させた光を光学
レンズ54で平行光にし、この平行光で露光をおこなう
ようにしてもよい。また二次光を遮蔽板55で遮蔽しな
がら太陽光57を平行光として導入し、この太陽光57
の平行光で露光をおこなうようにしてもよい。
The light passing through the pinhole 53 may be converted into parallel light by the optical lens 54, and the parallel light may be used for exposure. The sunlight 57 is introduced as parallel light while the secondary light is shielded by the shield plate 55.
You may make it expose by parallel light.

【0019】[0019]

【作用】フォトマスク4と回路基板1の回路形成表面と
の間の間隔に伴う平行光の広がりに応じた寸法調整をし
た光透過部4aを設けて形成したフォトマスク4を用い
て露光をおこなうことによって、回路基板1とフォトマ
スク4との間の間隔が大きくてもこの間隔による平行光
の広がりを補正して露光をおこなうことができ、回路基
板1の表面の大きな凹凸差によって回路6の幅寸法が不
均一になることを回避することができる。
The exposure is carried out using the photomask 4 formed by providing the light transmitting portion 4a whose size is adjusted according to the spread of the parallel light due to the distance between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1. As a result, even if the distance between the circuit board 1 and the photomask 4 is large, it is possible to correct the spread of the parallel light due to this distance and perform exposure, and due to the large unevenness of the surface of the circuit board 1, It is possible to prevent the width dimension from becoming non-uniform.

【0020】また、フォトマスク4と回路基板1の回路
形成表面との間の間隔に応じて複数段に分けてフォトマ
スク4を重ねて露光をおこなうことによって、回路基板
1の表面の凹凸差が大きくても各フォトマスク4と回路
基板1の回路形成表面との間の間隔を小さくすることが
でき、回路基板1の表面の複雑な凹凸によって回路6の
幅寸法が不均一になることを回避することができる。
Further, by exposing the photomask 4 by superimposing the photomask 4 in a plurality of steps according to the distance between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1, unevenness of the surface of the circuit board 1 can be reduced. Even if it is large, the distance between each photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1 can be made small, and the width dimension of the circuit 6 is prevented from becoming non-uniform due to the complicated unevenness of the surface of the circuit board 1. can do.

【0021】さらに、複数段のフォトマスク4で同時に
露光をおこなうと、フォトマスク4のうち上下に重なり
合う部分ではフォトマスク4を通過する光量が若干減少
して露光量が不均一になるおそれがあるが、この複数段
のフォトマスク4のうち、一段のフォトマスク4に光透
過部4aがパターンニングして設けられた露光マスク
4′を用いると共に他の段のフォトマスク4に光を透過
しない遮光マスク4″を用いて露光をおこない、順次露
光マスク4′と遮光マスク4″を入れ換えて複数回露光
をおこなうことによって、露光量が不均一になることを
回避することができる。
Further, when the photomasks 4 of a plurality of stages are simultaneously exposed, the light amount passing through the photomask 4 may be slightly reduced in the portions of the photomask 4 which are vertically overlapped, and the exposure amount may be non-uniform. However, among the photomasks 4 of a plurality of stages, an exposure mask 4 ′ provided by patterning the light transmitting portion 4 a on the photomask 4 of one stage is used, and light is not transmitted to the photomasks 4 of other stages. It is possible to prevent the exposure amount from becoming non-uniform by performing the exposure using the mask 4 ″, and by sequentially replacing the exposure mask 4 ′ and the light-shielding mask 4 ″ and performing the exposure a plurality of times.

【0022】また、平行光で露光をおこなうにあたっ
て、コリメータ51によって平行度を高めた平行光を用
いたり、レーザー光を光学レンズ52によって光束を広
げた平行光として用いたり、ピンホール53を通過させ
た光を光学レンズ54で平行光にして用いたり、二次光
を遮蔽板55で遮蔽しながら太陽光57を平行光として
導入して用いたりすることによって、平行度の高い平行
光で精度の高い露光をおこなうことができる。
When performing exposure with parallel light, collimator 51 uses parallel light having a higher degree of parallelism, laser light is used as parallel light whose light flux is expanded by optical lens 52, or it passes through pinhole 53. The parallel light having a high degree of parallelism can be obtained by using the reflected light as parallel light by the optical lens 54 or by introducing the sunlight 57 as parallel light while shielding the secondary light by the shield plate 55. High exposure can be performed.

【0023】さらに、同じ露光パターンを形成した平板
状のフォトマスク4を複数枚用い、平行光の照射方向に
各露光パターンが揃うように所定間隔をおいて複数枚の
フォトマスク4を平行光の照射方向に重ねて露光をおこ
なうようにしたり、あるいは表面と裏面にそれぞれ同じ
露光パターンを設けて形成したフォトマスク4を用いて
露光をおこなうことによって、光源に近い側の露光パタ
ーンの光非透過部4aを光が廻り込んでも次の露光パタ
ーンの光非透過部4aでこの光はカットされることにな
り、高い精度で露光をおこなうことができる。
Further, a plurality of flat plate-shaped photomasks 4 having the same exposure pattern are used, and the plurality of photomasks 4 are arranged at a predetermined interval so that the respective exposure patterns are aligned in the irradiation direction of the parallel light. The light non-transmissive portion of the exposure pattern on the side closer to the light source is formed by performing the exposure in the irradiation direction or by using the photomask 4 formed by providing the same exposure pattern on the front surface and the back surface, respectively. Even if the light wraps around 4a, this light is cut by the light non-transmissive portion 4a of the next exposure pattern, and the exposure can be performed with high accuracy.

【0024】[0024]

【実施例】以下、本発明を実施例によって詳述する。図
3、図4は本発明の一実施例を示すものである。回路基
板1は立体的な表面を有する成形品によって形成される
ものであり、例えば樹脂としてポリプラスチック社製
「ベクトラC820」を用い、予備乾燥150℃、8時
間以上、射出時間4〜5秒、金型温度130℃、樹脂温
度310℃の条件で射出成形することによって、図3
(a)のように作成することができる。
EXAMPLES The present invention will be described in detail below with reference to examples. 3 and 4 show one embodiment of the present invention. The circuit board 1 is formed by a molded product having a three-dimensional surface. For example, "Vectra C820" manufactured by Polyplastics Co., Ltd. is used as a resin, pre-dried 150 ° C., 8 hours or more, injection time 4 to 5 seconds, By performing injection molding under conditions of a mold temperature of 130 ° C. and a resin temperature of 310 ° C., as shown in FIG.
It can be created as shown in (a).

【0025】上記のように成形した回路基板1に無電解
銅メッキ等の無電解メッキを施して、図3(b)に示す
ように回路基板1の表面の全面に無電解メッキ層2を形
成する。無電解メッキの処理工程の一例を説明すると、
まず奥野薬品社製「エースクリンA−220」の50g
/リットル溶液を用いて55℃、5分間の条件で脱脂す
ることによって、回路基板1の表面の油等を取り除き、
次にNaOHの500g/リットル溶液を用いて70
℃、30分間の条件でエッチングすることによって、メ
ッキの密着性を高めるために回路基板1の表面を粗面化
する。60℃、2分間の条件で湯洗してエッチングされ
た樹脂やフィラーを凹凸細部まで完全に取り除いた後
に、HCl(36%)の50ミリリットル/リットル溶
液を用いて室温下2分間処理することによって強アルカ
リを中和する。次に、奥野薬品社製「コンデイライザS
P」の150ミリリットル/リットル溶液を用いて40
℃、5分間の条件でコンディショナ処理をおこなって回
路基板1の表面の水濡れ性を良くし、さらに奥野薬品社
製「OPC−SALM」の250g/リットル溶液及び
奥野薬品社製「OPC−80キャタM」の40ミリリッ
トル/リットル溶液を用いて触媒付与処理を室温下5分
間おこなうことによって、パラジウムの触媒核を回路基
板1の表面に吸着させる。そして奥野薬品社製「OPC
−500アクセレMX−1」の100ミリリットル/リ
ットル溶液及び奥野薬品社製「OPC−500アクセレ
MX−2」の10ミリリットル/リットル溶液を用い
て、40℃、7分間の条件で活性化処理することによっ
て塩化パラジウムを金属パラジウムに還元した後に、奥
野薬品社製「OPC−750M A」の100ミリリッ
トル/リットル溶液、奥野薬品社製「OPC−750M
B」の100ミリリットル/リットル溶液、奥野薬品
社製「OPC−750M C」の2ミリリットル/リッ
トル溶液を用い、22℃、7分間の条件で無電解銅メッ
キをおこなうことによって、酸化還元反応で銅錯体化合
物を金属銅にして回路基板1の表面に析出させ、回路基
板1の全面に厚み0.5μmの無電解メッキ層2を形成
することができるものである。尚、上記のように粗面化
のエッチング処理をNaOH溶液を用いておこなうこと
によって、クロム酸を使用しない工法でおこなうことが
できるものである。
The circuit board 1 molded as described above is subjected to electroless plating such as electroless copper plating to form an electroless plating layer 2 on the entire surface of the circuit board 1 as shown in FIG. 3 (b). To do. Explaining an example of the electroless plating process,
50g of "Aesculin A-220" made by Okuno Yakuhin
/ Liter solution to remove oil and the like on the surface of the circuit board 1 by degreasing at 55 ° C for 5 minutes,
Then 70% with a 500 g / l solution of NaOH
The surface of the circuit board 1 is roughened in order to improve the adhesion of the plating by etching under conditions of 30 ° C. and 30 minutes. After removing the etched resin and filler by etching with hot water at 60 ° C for 2 minutes to completely remove the fine irregularities, a 50 ml / l solution of HCl (36%) is used for 2 minutes at room temperature. Neutralize strong alkali. Next, Okuno Yakuhin's "Condilyzer S"
40 with 150 ml / l solution of "P"
A conditioner treatment is performed under conditions of 5 ° C. for 5 minutes to improve the water wettability of the surface of the circuit board 1. Further, a 250 g / liter solution of “OPC-SALM” manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd. and “OPC-80” manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd. The catalyst application treatment is performed for 5 minutes at room temperature using a 40 ml / liter solution of "Cata M" to adsorb the palladium catalyst nuclei on the surface of the circuit board 1. And "OPC made by Okuno Yakuhin
-Activation treatment using a 100 ml / liter solution of "-500 Accele MX-1" and a 10 ml / liter solution of "OPC-500 Accele MX-2" manufactured by Okuno Chemical Industries, Ltd. at 40 ° C for 7 minutes. After reducing the palladium chloride to metallic palladium by the method, a 100 ml / liter solution of "OPC-750MA" manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd., "OPC-750M manufactured by Okuno Chemical Co., Ltd."
By using 100 ml / liter solution of "B" and 2 ml / liter solution of "OPC-750MC" manufactured by Okuno Chemical Industries, electroless copper plating is performed at 22 ° C. for 7 minutes, and thereby copper is oxidized and reduced. The complex compound can be converted to metallic copper and deposited on the surface of the circuit board 1 to form the electroless plating layer 2 having a thickness of 0.5 μm on the entire surface of the circuit board 1. In addition, by performing the etching treatment for surface roughening using the NaOH solution as described above, it is possible to perform the method without using chromic acid.

【0026】上記のようにして図3(b)のように回路
基板1の表面の全面に無電解メッキ層2を形成した後、
この上の全面に亘って図3(c)のようにフォトレジス
ト3を塗着する。フォトレジスト3としてはカチオン型
電着レジストを用い、電着塗装することによってフォト
レジスト3の塗着をおこなうものである。レジスト電着
工程の一例を説明すると、まず5%硫酸を用いて室温で
15秒間処理すると共に乳酸(10−5−1−0.2
%)を用いて室温で15秒間処理することによって、回
路基板1の表面を前処理する。次に回路基板1をシプレ
イ社製「イーグル」の電着レジスト液に浸漬すると共に
電着レジスト液に電極を差込み、回路基板1の表面に形
成した無電解メッキ層2を陰極に接続すると共に電極を
陽極に接続し、両者間に直流電流を流すことによって、
電着レジストによるフォトレジスト3を塗着することが
できる。浸漬は揺動5回で60秒間の条件でおこなうこ
とができ、また電着レジスト液を22℃に調整して50
V、40秒の条件で通電することによって電着塗装をお
こなうようにしている。
After the electroless plating layer 2 is formed on the entire surface of the circuit board 1 as shown in FIG. 3B, as described above,
A photoresist 3 is applied over the entire surface as shown in FIG. 3 (c). A cationic electrodeposition resist is used as the photoresist 3, and the photoresist 3 is applied by electrodeposition coating. An example of the resist electrodeposition step will be described. First, 5% sulfuric acid is used for 15 seconds at room temperature and lactic acid (10-5-1-0.2) is used.
%) For 15 seconds at room temperature to pretreat the surface of the circuit board 1. Next, the circuit board 1 is dipped in an electrodeposition resist solution of "Eagle" manufactured by Shipley Co., Ltd., an electrode is inserted into the electrodeposition resist solution, the electroless plating layer 2 formed on the surface of the circuit board 1 is connected to a cathode, and the electrode is formed. Is connected to the anode and a direct current is passed between them,
The photoresist 3 made of an electrodeposition resist can be applied. Immersion can be performed for 5 seconds with shaking for 60 seconds, and the electrodeposition resist solution is adjusted to 22 ° C. for 50 seconds.
The electrodeposition coating is performed by energizing under the conditions of V and 40 seconds.

【0027】上記のように電着塗装をおこなって回路基
板1の表面の全面にフォトレジスト3を塗着した後、室
温でトップコートをおこない、さらに80℃で5分間乾
燥する。そして次に、回路基板1の回路形成面に図3
(d)のようにフォトマスク4を被せ、600mJ(1
000カウント)の条件でフォトマスク4の上方から平
行光を照射して露光し、次にフォトレジスト4を外して
回路基板1の表面にシプレイ社製「イーグル現像液」を
45℃、90秒の条件でスプレーして現像をおこなうこ
とによって、回路形成部分のフォトレジスト3を溶解除
去し、60℃で10分間乾燥する。
After the electrodeposition coating is performed as described above and the photoresist 3 is applied on the entire surface of the circuit board 1, a top coat is performed at room temperature and further dried at 80 ° C. for 5 minutes. Then, next, as shown in FIG.
As shown in (d), the photomask 4 is covered, and 600 mJ (1
(000 count) and irradiate parallel light from above the photomask 4 to expose, then remove the photoresist 4 and apply "Eagle developer" manufactured by Shipley Co., Ltd. to the surface of the circuit board 1 at 45 ° C. for 90 seconds. By spraying and developing under the conditions, the photoresist 3 in the circuit forming portion is dissolved and removed, and dried at 60 ° C. for 10 minutes.

【0028】このようにして露光及び現像をおこなうこ
とができるが、本発明では平板状のフォトマスク4とし
て、回路基板1の回路形成表面とフォトマスク4との間
の間隔に応じて露光幅を調整したものを用いるものであ
る。すなわち、図1(a)に示すように回路基板1の表
面にフォトマスク4を被せるにあたって、フォトマスク
4と回路基板1の表面との間の間隔が大きくなる凹部9
の箇所では、フォトマスク4の光透過部4aを透過した
光は回折現象で広がって光非透過部4bの裏側の一部に
も回り込み、この光の回り込みはフォトマスク4と回路
基板1の表面との間の間隔が大きくなるに従って大きく
なる。そこで本発明では図1(b)に示すようにフォト
マスク4の光非透過部4bのうち凹部9に対応する部分
の幅を広くし、しかも凹部9の深さが深くなるほど光非
透過部4bの幅寸法を広くすることによって、光透過部
4aの幅をこの逆に凹部9に対応する部分の幅を狭くす
ると共に凹部9の深さが深くなるほど狭くなるように形
成したものを用い、光透過部4aを透過する平行光が凹
部9の部分で回折して広がって光非透過部4bの裏側に
回り込んでも、この光の回り込みは光非透過部4bの幅
を広くした寸法で吸収され、回路基板1の凹部9におい
ても他の箇所と同じ露光幅でフォトレジスト3を露光す
ることができるようにしてある。このように段差の大き
い凹部9を有する回路基板1であっても回路形成表面の
全面に露光幅を均一にして露光をおこなうことができる
ものであり、この結果、回路6と同パターンの未露光部
分の幅が均一になって現像する際に溶解除去するフォト
レジスト3の幅が均一になり、フォトレジスト3の溶解
除去部分において無電解メッキ層2に電気メッキをおこ
なうことによって作成する回路6を、図1(c)に示す
ように凹部9内も含めて均一な幅に形成することが可能
になるものである。
Although exposure and development can be carried out in this manner, in the present invention, the flat photomask 4 has an exposure width depending on the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the photomask 4. The adjusted one is used. That is, when the surface of the circuit board 1 is covered with the photomask 4 as shown in FIG. 1A, the concave portion 9 in which the distance between the photomask 4 and the surface of the circuit board 1 becomes large.
At this point, the light transmitted through the light transmitting portion 4a of the photomask 4 spreads due to a diffraction phenomenon and also wraps around to a part of the back side of the light non-transmitting portion 4b. It increases as the distance between and increases. Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 1B, the width of the portion of the light non-transmissive portion 4b of the photomask 4 corresponding to the concave portion 9 is widened, and the deeper the depth of the concave portion 9, the light non-transmissive portion 4b. The width of the light transmitting portion 4a is made wider by narrowing the width of the portion corresponding to the concave portion 9 and narrowing the deeper the concave portion 9, and Even if the parallel light transmitted through the transmissive portion 4a is diffracted by the concave portion 9 and spreads and spreads around to the back side of the light non-transmissive portion 4b, the sneak of the light is absorbed by the dimension in which the width of the light non-transmissive portion 4b is widened. In the recess 9 of the circuit board 1, the photoresist 3 can be exposed with the same exposure width as the other portions. Even with the circuit board 1 having the concave portion 9 having such a large step, it is possible to perform exposure with a uniform exposure width over the entire surface on which the circuit is formed. As a result, unexposed patterns having the same pattern as the circuit 6 are exposed. The width of the portion 3 becomes uniform and the width of the photoresist 3 to be dissolved and removed at the time of development becomes uniform, and the circuit 6 created by electroplating the electroless plating layer 2 in the dissolved and removed portion of the photoresist 3 is formed. As shown in FIG. 1C, it is possible to form a uniform width including the inside of the recess 9.

【0029】図1の実施例ではネガ型のフォトレジスト
3を使用する場合について説明したが、ポジ型フォトレ
ジスト3を使用する場合には図2のようになる。すなわ
ちこの場合には、フォトマスク4の光透過部4aは図2
(b)のように回路基板1に形成する回路6と同じパタ
ーンに形成されるが、図2(a)(b)のように、光透
過部4aのうち凹部9a,9bに対応する部分の幅を狭
くし、しかも凹部9a,9bの深さが深くなるほど光透
過部4aの幅寸法を狭くするようにしたフォトマスク4
を用い、光透過部4aを透過する平行光が凹部9a,9
bの部分で回折して広がって光非透過部4bの裏側に回
り込んでも、この光の広がりは光透過部4aの幅を狭く
した寸法で吸収され、回路基板1の凹部9a,9bにお
いても他の箇所と同じ露光幅でフォトレジスト3を露光
することができるようにしてある。このように段差の大
きい凹部9a,9bを有する回路基板1であっても回路
形成表面の全面に露光幅を均一にして露光をおこなうこ
とができるものであり、現像する際に溶解除去するフォ
トレジスト3の幅が均一になって、図2(c)に示すよ
うに凹部9a,9b内も含めて均一な幅に回路6を形成
することが可能になるものである。
In the embodiment of FIG. 1, the case where the negative type photoresist 3 is used has been described, but when the positive type photoresist 3 is used, it becomes as shown in FIG. That is, in this case, the light transmitting portion 4a of the photomask 4 is not shown in FIG.
As shown in FIG. 2B, it is formed in the same pattern as the circuit 6 formed on the circuit board 1. However, as shown in FIGS. 2A and 2B, a portion of the light transmitting portion 4a corresponding to the concave portions 9a and 9b is formed. A photomask 4 having a narrower width and a narrower width dimension of the light transmitting portion 4a as the depths of the recesses 9a and 9b become deeper.
Parallel light transmitted through the light transmitting portion 4a is used to form the concave portions 9a, 9
Even if the light is diffracted at the portion b and spreads and goes around to the back side of the light non-transmissive portion 4b, the spread of this light is absorbed by the dimension of the light transmissive portion 4a which is narrowed, and even in the concave portions 9a and 9b of the circuit board 1. The photoresist 3 can be exposed with the same exposure width as the other portions. Even with the circuit board 1 having the recesses 9a and 9b having large steps, it is possible to perform exposure with a uniform exposure width over the entire surface of the circuit formation, and the photoresist is dissolved and removed during development. The width of 3 becomes uniform, and as shown in FIG. 2C, the circuit 6 can be formed to have a uniform width including the inside of the recesses 9a and 9b.

【0030】フォトマスク4と回路基板1の表面との間
隔と回路基板1に形成される回路6の幅との関係は、フ
ォトマスク4の光透過部4aの幅寸法を一定にしてフォ
トマスク4と回路基板1の表面との間隔を変えて露光を
おこなって回路形成した際の、回路6の幅寸法を測定す
ることによって知ることができる。例えば、フォトマス
ク4の光透過部4aの幅寸法を200μmに設定し、3
00mJ/cm2 のUV照射エネルギーの露光量で平行
光を照射して露光をしたときの、フォトマスク4と回路
基板1の表面との間隔寸法と形成される回路6のライン
幅寸法との関係は次のようになる。 (フォトマスク4と回路基板1の表面との間隔寸法)(回路6のライン幅寸法) 0mm → 199μm 1.5mm → 206μm 3mm → 220μm 4.5mm → 245μm 6mm → 268μm 7.5mm → 294μm 9mm → 318μm 10.5mm → 357μm このような関係を求めて、これに応じてフォトマスク4
と回路基板1の表面との間隔に応じて光透過部4aの幅
寸法を狭くするように補正することによって、フォトマ
スク4と回路基板1の表面との間隔が変わっても均一な
ライン幅で回路6を形成することができるのである。
The relationship between the distance between the photomask 4 and the surface of the circuit board 1 and the width of the circuit 6 formed on the circuit board 1 is such that the width dimension of the light transmitting portion 4a of the photomask 4 is constant. This can be determined by measuring the width dimension of the circuit 6 when the circuit is formed by changing the distance between the surface of the circuit board 1 and the surface of the circuit board 1. For example, the width dimension of the light transmitting portion 4a of the photomask 4 is set to 200 μm, and
Relationship between the distance between the photomask 4 and the surface of the circuit board 1 and the width of the line 6 of the circuit 6 when parallel light is irradiated at an exposure amount of UV irradiation energy of 00 mJ / cm 2 for exposure. Is as follows. (Distance between photomask 4 and surface of circuit board 1) (Line width of circuit 6) 0 mm → 199 μm 1.5 mm → 206 μm 3 mm → 220 μm 4.5 mm → 245 μm 6 mm → 268 μm 7.5 mm → 294 μm 9 mm → 318 μm 10.5 mm → 357 μm By obtaining such a relationship, the photomask 4 is correspondingly obtained.
The width of the light transmitting portion 4a is corrected to be narrower in accordance with the distance between the surface of the circuit board 1 and the surface of the circuit board 1, so that even if the distance between the photomask 4 and the surface of the circuit board 1 changes, a uniform line width The circuit 6 can be formed.

【0031】上記のようにして露光・現像をおこなって
回路形成部分のフォトレジスト3を除去し、回路形成部
分の無電解メッキ層2を露出させた後、無電解メッキ層
2に通電して電気銅メッキなど電気メッキを施して回路
6の形成をおこなうことができる。電気メッキ工程の一
例を説明すると、まず「エースクリン」の50g/リッ
トル溶液を用いて40〜50℃、2秒の条件で脱脂した
後、硫酸の50g/リットル溶液を用いて室温、20秒
の条件で酸洗する。そして硫酸銅80g/リットル、硫
酸180g/リットル、塩素イオン50mg/リットル
の組成の「トップルチナ」をメッキ浴として用いて、室
温、50分の条件で電気メッキをおこない、図4(a)
のように無電解メッキ層2の露出部のみに電気メッキ層
5を15μmの厚みで析出させる。
After the exposure and development are performed as described above to remove the photoresist 3 in the circuit forming portion to expose the electroless plating layer 2 in the circuit forming portion, the electroless plating layer 2 is energized to generate electricity. The circuit 6 can be formed by electroplating such as copper plating. An example of the electroplating step will be described. First, degreasing is performed using a 50 g / liter solution of “Aesculin” at 40 to 50 ° C. for 2 seconds, and then using a 50 g / liter solution of sulfuric acid at room temperature for 20 seconds. Pickled under the conditions. Then, using "Toprutina" having a composition of 80 g / liter of copper sulfate, 180 g / liter of sulfuric acid, and 50 mg / liter of chlorine ion as a plating bath, electroplating was performed at room temperature for 50 minutes, as shown in FIG.
As described above, the electroplating layer 5 is deposited with a thickness of 15 μm only on the exposed portion of the electroless plating layer 2.

【0032】このようにして図4(a)のように電気メ
ッキをおこなったのちに、さらに無電解メッキ層2に通
電して電気メッキ層5の上に電気ニッケルメッキを施
す。電気ニッケルメッキは、「アクナB−40」の18
ミリリットル/リットル溶液、「アクナB−10」の1
ミリリットル/リットル溶液、硫酸ニッケルの270g
/リットル溶液、塩化ニッケルの50g/リットル溶液
をメッキ浴として用い、50℃、3A/dm2 、25分
の条件で通電して、電気メッキ層5の上にニッケルメッ
キを5μmの厚みで析出させることによっておこなうこ
とができる。
After electroplating as shown in FIG. 4A, the electroless plating layer 2 is further energized to perform electronickel plating on the electroplating layer 5. Electro nickel plating is 18 of "ACNA B-40"
Milliliter / liter solution, 1 of "ACNA B-10"
Milliliter / liter solution, 270 g of nickel sulfate
/ Liter solution and 50 g / liter solution of nickel chloride are used as a plating bath, and electricity is applied under the conditions of 50 ° C., 3 A / dm 2 and 25 minutes to deposit nickel plating on the electroplated layer 5 to a thickness of 5 μm. It can be done by

【0033】このようにニッケルメッキをおこなった後
に、さらに無電解メッキ層2に通電してニッケルメッキ
の上に電気金メッキを施す。電気金メッキは、「テンペ
レックス401(99.99%)」をメッキ浴として用
い、65℃、1A/dm2 、90秒の条件で通電して、
ニッケルメッキの上に金メッキを0.5μmの厚みで析
出させることによっておこなうことができる。
After nickel plating is performed in this way, the electroless plating layer 2 is further energized to perform electrogold plating on the nickel plating. The electro-gold plating uses "Temperex 401 (99.99%)" as a plating bath, and energizes it under the conditions of 65 ° C, 1 A / dm 2 and 90 seconds,
It can be performed by depositing gold plating with a thickness of 0.5 μm on nickel plating.

【0034】上記のようにして電気メッキをおこなった
後に、シプレイ社製「イーグル剥離液」を用いて回路基
板1を55℃の条件で1分間処理することによって、回
路基板1の表面のフォトレジスト3を剥離する。さらに
過硫酸アンモニウムを用いて40℃で1分間処理してソ
フトエッチングをおこなうことによって、回路形成部以
外の不要な無電解メッキ層2を回路基板1の表面から溶
解除去し、室温で15秒間純水洗した後、60℃で10
分間乾燥する。このようにして図4(c)に示すよう
に、無電解メッキ層2と電気メッキ層5及びニッケルと
金のメッキ層7からなる回路6のパターン形成をおこな
うことができるものであり、例えば傾斜角度70度、凹
凸の段差8mm、回路パターンのライン/スペース=2
00μm/200μmのワイヤーボンディング可能な立
体回路板を作成することができるものである。
After electroplating as described above, the photoresist on the surface of the circuit board 1 is treated by treating the circuit board 1 with "Eagle stripping solution" manufactured by Shipley at 55 ° C. for 1 minute. 3 is peeled off. Further, by using ammonium persulfate for 1 minute at 40 ° C. to perform soft etching, the unnecessary electroless plating layer 2 other than the circuit forming portion is dissolved and removed from the surface of the circuit board 1 and washed with pure water at room temperature for 15 seconds. And then 10 at 60 ℃
Dry for minutes. In this manner, as shown in FIG. 4C, the pattern of the circuit 6 including the electroless plating layer 2, the electroplating layer 5, and the nickel and gold plating layer 7 can be formed. Angle 70 degrees, uneven step 8 mm, circuit pattern line / space = 2
The three-dimensional circuit board capable of wire bonding of 00 μm / 200 μm can be produced.

【0035】そして上記図4(c)のように回路6の形
成をおこなった後に、LSIなど電子部品等の部品18
を搭載して回路6と部品18との間に金線等をワイヤー
19ボンディングすることによって、図4(d)や図5
に示すように回路基板1の上に部品18を実装すること
ができるものである。図6、図7は本発明の他の実施例
を示すものである。この実施例は図6(a)のように表
面の立体が複数段に形成された回路基板1に主として適
用されるものであり、まずこの回路基板1の表面を粗面
化した後に、既述した図3(b)の場合と同様にして図
6(b)のように回路基板1の表面に無電解メッキ層2
を形成し、また既述した図3(c)の場合と同様にして
図6(c)のように回路基板1の表面にフォトレジスト
3を塗着する。そしてこの実施例では露光を、図6
(d)に示すように、平板状のフォトマスク4を複数段
に分けると共に回路基板1の表面の各段1a,1bの上
に各フォトマスク4を重ね、この状態で既述した図3
(d)の場合と同様にフォトマスク4の上方から平行光
を照射することによっておこなうものである。ここで、
一枚の平面状のフォトマスク4を用いる場合には上の段
1aの上に重ねることになるが、このようにすると下の
段1bに形成される凹部9bとフォトマスク4との間隔
が大きくなる。これに対して図6(d)のようにフォト
マスク4を複数段に分けて回路基板1の各段1a,1b
の上に重ねるようにすると、各凹部9a,9bと各フォ
トマスク4,4との間の間隔は小さくなり、フォトマス
ク4と回路基板1の回路形成表面との間の間隔を小さく
した状態で露光をおこなうことができるものである。
After forming the circuit 6 as shown in FIG. 4C, a component 18 such as an electronic component such as an LSI is formed.
4 (d) and FIG. 5 by mounting a wire and bonding a gold wire or the like between the circuit 6 and the component 18 by wire 19.
The component 18 can be mounted on the circuit board 1 as shown in FIG. 6 and 7 show another embodiment of the present invention. This embodiment is mainly applied to the circuit board 1 in which the three-dimensional surface is formed in a plurality of stages as shown in FIG. 6 (a). Similarly to the case of FIG. 3B, the electroless plating layer 2 is formed on the surface of the circuit board 1 as shown in FIG. 6B.
Then, the photoresist 3 is applied to the surface of the circuit board 1 as shown in FIG. 6C in the same manner as in the case of FIG. In this embodiment, exposure is performed as shown in FIG.
As shown in (d), the flat photomask 4 is divided into a plurality of stages, and the photomasks 4 are superposed on the respective stages 1a and 1b on the surface of the circuit board 1, and the photomask 4 shown in FIG.
Similar to the case of (d), it is performed by irradiating parallel light from above the photomask 4. here,
When one flat photomask 4 is used, it is overlaid on the upper step 1a. However, in this case, the space between the recess 9b formed in the lower step 1b and the photomask 4 is large. Become. On the other hand, as shown in FIG. 6D, the photomask 4 is divided into a plurality of stages and each stage 1a, 1b of the circuit board 1 is divided.
If they are overlapped with each other, the distance between the concave portions 9a and 9b and the photomasks 4 and 4 becomes small, and the distance between the photomask 4 and the circuit forming surface of the circuit board 1 becomes small. It can be exposed.

【0036】このようにフォトマスク4と回路基板1の
回路形成表面との間の間隔を小さくすることができるた
めに、フォトマスク4としては従来から使用されている
図31(b)のものをそのまま用いても精度良く露光を
おこなうことができるものである。勿論、フォトマスク
4として図1(a)(b)や図2(a)(b)に示すよ
うな、フォトマスク4と回路基板1の回路形成表面との
間の間隔に伴う平行光の広がりに応じた寸法調整をした
光透過部4aを形成したフォトマスク4を用いるように
すれば、露光の精度をさらに高めることができるもので
ある。
Since the distance between the photomask 4 and the circuit forming surface of the circuit board 1 can be reduced in this manner, the photomask 4 shown in FIG. 31B, which has been conventionally used, is used. Even if it is used as it is, the exposure can be performed with high accuracy. Of course, as the photomask 4, as shown in FIGS. 1A and 1B and FIGS. 2A and 2B, the spread of the parallel light accompanying the space between the photomask 4 and the circuit formation surface of the circuit board 1. If the photomask 4 having the light transmitting portion 4a whose size is adjusted according to the above is used, the exposure accuracy can be further improved.

【0037】また、フォトマスク4を複数段に分けて用
いるにあたって、深い凹部9bのみに部分的なフォトマ
スク4Aを重ねるようにすることもできる。すなわち図
8に示すように回路基板1の深い凹部9bの平面形状に
合わせてフォトマスク4Aを作成し、またフォトマスク
4にはフォトマスク4Aの形状に合わせて光を透過させ
る光透過部4c(図8の破線の間の部分)が形成してあ
る。勿論これらのフォトマスク4,4Aには回路形成す
るための光透過部4aや光非透過部4bがパターン形状
に形成してある。そして、図9に示すようにフォトマス
ク4Aを回路基板1の深い凹部9bに重ねると共にフォ
トマスク4を回路基板1の上の段1aに重ねる。このと
き、フォトマスク4の光透過部4cがフォトマスク4A
に平行光の照射方向に対向するようにフォトマスク4と
フォトマスク4Aを位置合わせして配置するものであ
り、フォトマスク4Aは凹部9bの平面形状に合わせて
外形を形成してあるために凹部9bの形状に合わせてフ
ォトマスク4Aを置くことによって位置け決めすること
ができるが、フォトマスク4は図9の実施例では回路基
板固定治具11を用いて位置合わせするようにしてあ
る。すなわち、回路基板固定治具11は上面に回路基板
1の平面形状と適合する凹所20を設けて形成してあ
り、回路基板固定治具11の端部の上面にねじ穴21を
設けると共にフォトマスク4の四隅に位置決め孔22を
設け、そして凹所20に回路基板1をはめ込むことによ
って回路基板固定治具11に回路基板1を位置決めした
状態でセットし、また位置決め孔22に固定ねじ23を
通してねじ穴21に螺合することによってフォトマスク
4を回路基板固定治具11に位置決めした状態でセット
し、このように回路基板固定治具11に対して回路基板
1とフォトマスク4をそれぞれ位置決めすることによっ
て、回路基板固定治具11を介して回路基板1とフォト
マスク4を位置決めすることができるものである。尚、
フォトマスク4の位置決めは図9のように固定ねじ23
などの治具を用いる方法の他に、後述する図13、図1
4、図15、図16、図18、図19、図20などの方
法によっておこなうこともできる。そして、このように
フォトマスク4とフォトマスク4Aを位置決めすること
によってフォトマスク4とフォトマスク4Aを相互に位
置合わせすることができるのである。
When the photomask 4 is divided into a plurality of stages and used, the photomask 4A may be partially overlapped with only the deep recess 9b. That is, as shown in FIG. 8, a photomask 4A is formed according to the planar shape of the deep recess 9b of the circuit board 1, and the photomask 4 has a light transmitting portion 4c (which transmits light according to the shape of the photomask 4A). The portion between the broken lines in FIG. 8) is formed. Of course, these photomasks 4 and 4A are formed with a light transmitting portion 4a and a light non-transmitting portion 4b for forming a circuit in a pattern shape. Then, as shown in FIG. 9, the photomask 4A is superposed on the deep recess 9b of the circuit board 1 and the photomask 4 is superposed on the step 1a on the circuit board 1. At this time, the light transmitting portion 4c of the photomask 4 is changed to the photomask 4A.
The photomask 4 and the photomask 4A are aligned and arranged so as to face each other in the irradiation direction of the parallel light. The photomask 4A has an outer shape formed in accordance with the planar shape of the recess 9b. The photomask 4 can be positioned by placing the photomask 4A in conformity with the shape of 9b, but the photomask 4 is aligned using the circuit board fixing jig 11 in the embodiment of FIG. That is, the circuit board fixing jig 11 is formed by forming a recess 20 on the upper surface that matches the planar shape of the circuit board 1. The circuit board fixing jig 11 is provided with screw holes 21 on the upper surface of the end portion of the circuit board fixing jig 11. Positioning holes 22 are provided at the four corners of the mask 4, and the circuit board 1 is set in the circuit board fixing jig 11 by fitting the circuit board 1 into the recesses 20. Also, the fixing screws 23 are passed through the positioning holes 22. The photomask 4 is set in a state of being positioned on the circuit board fixing jig 11 by being screwed into the screw holes 21, and the circuit board 1 and the photomask 4 are respectively positioned with respect to the circuit board fixing jig 11 in this way. Thus, the circuit board 1 and the photomask 4 can be positioned via the circuit board fixing jig 11. still,
The positioning of the photomask 4 is performed by the fixing screw 23 as shown in FIG.
Other than the method using a jig such as FIG.
4, FIG. 15, FIG. 16, FIG. 18, FIG. 19, FIG. Then, by positioning the photomask 4 and the photomask 4A in this manner, the photomask 4 and the photomask 4A can be aligned with each other.

【0038】上記のようにして回路基板1にフォトマス
ク4とフォトマスク4Aを重ねた後、平行光を照射して
露光をおこなう。フォトマスク4の部分では光透過部4
aと光非透過部4bで露光をおこなうことができると共
に、フォトマスク4Aの部分ではフォトマスク4の光透
過部4cを透過した光によって、フォトマスク4Aの光
透過部4aと光非透過部4bで露光をおこなうことがで
きる。
After the photomask 4 and the photomask 4A are superposed on the circuit board 1 as described above, parallel light is irradiated to perform exposure. In the photomask 4 portion, the light transmitting portion 4
a and the light non-transmissive portion 4b can be exposed, and at the photomask 4A portion, the light transmitted through the light transmissive portion 4c of the photomask 4 causes the light transmissive portion 4a and the light non-transmissive portion 4b of the photomask 4A to be exposed. You can perform exposure with.

【0039】図10、図11は複数段に分けた平板状の
フォトマスク4を用いて露光をおこなう他の例を示すも
のであり、このものでは一つの段のみフォトマスク4と
して光透過部4aがパターンニングして設けられた露光
マスク4′を用い、他の段のフォトマスク4は光を透過
しない遮光マスク4″を用いて露光をおこなうようにし
てある。すなわち、図10(b)のように光透過部4a
と光非透過部4bとを設けて形成した露光マスク4′
と、全面を光非透過部4bとして形成した遮光マスク
4″を用い(図10(b)、図11(b)において光非
透過部4bを斜線で示す)、図10(a)のように露光
マスク4′を回路基板1の上の段1aに重ねると共に遮
光マスク4″を下の段1bに重ね、この状態で平行光を
照射する。この一回目の露光の際には、光は遮光マスク
4″を通過せず露光マスク4′の光透過部4aのみを光
が透過するために、図10(c)のように回路基板1の
表面の一部にのみ露光がおこなわれる(図10(c)、
図11(c)においてレジスト露光部3aをクロス斜線
で示す)。次に、図11(b)のような遮光マスク4″
と露光マスク4′を用い、図11(a)のように遮光マ
スク4″を回路基板1の上の段1aに重ねると共に下の
段1bに露光マスク4′を重ね、この状態で平行光を照
射する。この二回目の露光の際には、光は遮光マスク
4″を通過せず露光マスク4′の光透過部4aのみを光
が透過するために、図11(c)のように回路基板1の
他の部分にも露光がおこなわれて一回目の露光と合わせ
て回路基板1の全面を露光することができる。図10及
び図11の実施例ではフォトマスク4を二段に分けてい
るために二回の露光となるが、フォトマスク4を三段に
分けた場合には露光を三回繰り返すことになり、露光は
フォトマスク4の分割数に応じた回数をおこなうもので
ある。そしてこのように露光をおこなった後に、現像を
おこなって回路形成の処理をおこなうことによって、図
12のように回路基板1の表面に立体的に回路6を形成
することができるものである。
FIGS. 10 and 11 show another example in which exposure is performed using a flat plate-shaped photomask 4 divided into a plurality of steps. In this example, only one step is used as the photomask 4 for the light transmitting portion 4a. Is used for the exposure, and the photomasks 4 on the other stages are exposed by using a light-shielding mask 4 ″ that does not transmit light. That is, in FIG. Light transmission part 4a
And an exposure mask 4'formed by providing a light non-transmissive portion 4b
And a light-shielding mask 4 ″ whose entire surface is formed as a light non-transmissive portion 4b (FIG. 10 (b), the light non-transmissive portion 4b is indicated by diagonal lines in FIG. 11 (b)), as shown in FIG. 10 (a). The exposure mask 4'is superposed on the upper step 1a of the circuit board 1 and the light shielding mask 4 "is superposed on the lower step 1b, and parallel light is irradiated in this state. At the time of this first exposure, light does not pass through the light-shielding mask 4 ″ and is transmitted only through the light-transmitting portion 4 a of the exposure mask 4 ′, so that as shown in FIG. Only part of the surface is exposed (Fig. 10 (c),
In FIG. 11C, the resist exposure portion 3a is indicated by cross hatching. Next, a light-shielding mask 4 ″ as shown in FIG.
11A, a light-shielding mask 4 ″ is placed on the upper step 1a of the circuit board 1 and an exposure mask 4 ′ is placed on the lower step 1b as shown in FIG. During the second exposure, the light does not pass through the light-shielding mask 4 ″ and only passes through the light-transmitting portion 4a of the exposure mask 4 ′, so that the circuit shown in FIG. The other portion of the substrate 1 is also exposed, and the entire surface of the circuit board 1 can be exposed together with the first exposure. In the embodiment of FIGS. 10 and 11, the photomask 4 is divided into two stages, so that the exposure is performed twice. However, when the photomask 4 is divided into three stages, the exposure is repeated three times. The exposure is performed a number of times according to the number of divisions of the photomask 4. Then, after performing the exposure as described above, the development is performed and the processing for forming the circuit is performed, whereby the circuit 6 can be three-dimensionally formed on the surface of the circuit board 1 as shown in FIG.

【0040】図10、図11のようにしないで、複数段
のフォトマスク4として総て露光マスク4′を用いて一
度に露光をおこなうようにする場合、隣合うフォトマス
ク4の端部間から光が回折等で侵入することを防ぐため
に後述のようにこの隣合うフォトマスク4は端部同士を
平行光の照射方向に重ねる必要があるが、フォトマスク
4を重ねた部分では二枚のフォトマスク4の光透過部4
aを平行光が通過するために一枚のフォトマスク4の光
透過部4aを通過する他の箇所に比べて光量が若干減少
し、この結果、露光量が不均一になって回路形成に支障
が生じるおそれがあり、特に高密度ファインパターンを
形成することが困難になるおそれがある。このために図
10、図11の実施例ではフォトマスク4の分割数に応
じた回数で露光をおこなうようにして、高密度ファイン
パターンの形成を可能にしているものである。
When the exposure masks 4'are used as the photomasks 4 of a plurality of stages to perform exposure at a time without performing the steps shown in FIGS. In order to prevent light from entering due to diffraction or the like, the adjacent photomasks 4 need to be overlapped at their end portions in the irradiation direction of the parallel light as described later. Light transmitting portion 4 of mask 4
Since the parallel light passes through a, the amount of light is slightly reduced as compared with the other portions passing through the light transmitting portion 4a of the one photomask 4, and as a result, the exposure amount becomes non-uniform, which hinders circuit formation. May occur, and it may be difficult to form a high-density fine pattern. For this reason, in the embodiment of FIGS. 10 and 11, the exposure is performed a number of times corresponding to the number of divisions of the photomask 4 to enable the formation of a high-density fine pattern.

【0041】また、図10、図11の実施例では、露光
マスク4′として図1(b)に示したフォトマスク4と
同様に、光非透過部4bのうち凹部9a,9bに対応す
る部分の幅を広くし、しかも凹部9a,9bの深さが深
くなるほど光非透過部4bの幅寸法を広くすることによ
って、光透過部4aの幅をこの逆に凹部9a,9bに対
応する部分の幅を狭くすると共に凹部9a,9bの深さ
が深くなるほど狭くなるように形成したものを用いるよ
うにしており、光透過部4aを透過する平行光が凹部9
a,9bの部分で回折して広がって光非透過部4bの裏
側に回り込んでも、この光の回り込みを光非透過部4b
の幅を広くした寸法で吸収して、回路基板1の凹部9
a,9bにおいても他の箇所と同じ露光幅でフォトレジ
スト3を露光することができるようにしてある。この図
10、図11はネガ型のフォトレジスト3を使用する場
合について実施例であるが、ポジ型フォトレジスト3を
使用する場合には図2(b)に示したフォトマスク4と
同様な露光マスク4′を使用するようにすればよい。ま
た露光マスク4′と凹部9a,9bとの間隔が小さい場
合には、露光マスク4′としては従来から使用されてい
る図31(b)のフォトマスク4をそのまま用いること
ができる。上記各実施例のようにフォトマスク4を重ね
る際に、フォトマスク4のパターン形状に形成した光透
過部4aや光非透過部4bと回路基板1の表面の凹凸と
を位置合わせする必要がある。図13及び図14は回路
基板1にフォトマスク4を位置合わせして重ねる実施例
の一つを示すものであり、回路基板1の上面には回路基
板1を樹脂成形する際に同時に位置合わせ部10が一体
成形してある。この位置合わせ部10は凸部として形成
することもできるが、本実施例では図13(a)及び図
14(a)に示すように直径2mm、深さ3mm程度の
凹部として形成してある。またフォトマスク4にも図1
3(a)に示すように位置合わせ部10に対応して直径
2mm程度で2個の位置合わせ孔14が設けてある。そ
して回路基板1に既述の工程でフォトレジスト3を塗着
した後に、図14(b)のように回路基板1の位置合わ
せ部10とフォトマスク4の位置合わせ孔14を合わせ
て回路基板1の上にフォトマスク4を重ね、次に図13
(b)及び図14(c)のようにピン15を位置合わせ
孔14を通して位置合わせ部10に差し込むことによっ
てフォトマスク4を位置決めすることができ、回路基板
1の位置合わせ部10を基準にして回路基板1にフォト
マスク4を位置合わせして固定することができるもので
ある。このようにフォトマスク4を位置合わせして回路
基板1に重ねた後、露光をおこなうものである。
In the embodiment shown in FIGS. 10 and 11, as the exposure mask 4 ', like the photomask 4 shown in FIG. 1B, the portions of the light non-transmissive portion 4b corresponding to the recesses 9a, 9b. The width of the light non-transmissive portion 4b is increased as the depth of the recesses 9a and 9b is increased, so that the width of the light transmissive portion 4a is reversed to that of the portions corresponding to the recesses 9a and 9b. The width is narrowed and the recesses 9a and 9b are formed so that the deeper they are, the narrower the recesses 9a and 9b are formed.
Even if the light diffracts and spreads at the portions a and 9b and wraps around to the back side of the light non-transmissive portion 4b, the wraparound of this light is prevented by the light non-transmissive portion 4b.
The width of the concave portion 9 of the circuit board 1 is absorbed by the increased width.
Also in a and 9b, the photoresist 3 can be exposed with the same exposure width as the other portions. Although FIGS. 10 and 11 show examples in which the negative type photoresist 3 is used, when the positive type photoresist 3 is used, the same exposure as that of the photomask 4 shown in FIG. 2B is performed. The mask 4'may be used. When the distance between the exposure mask 4'and the recesses 9a and 9b is small, the photomask 4 of FIG. 31 (b) which has been conventionally used can be used as it is as the exposure mask 4 '. When the photomasks 4 are overlapped as in each of the above-described embodiments, it is necessary to align the light transmitting portions 4a and the light non-transmitting portions 4b formed in the pattern shape of the photomask 4 with the irregularities on the surface of the circuit board 1. . 13 and 14 show an embodiment in which the photomask 4 is aligned and superposed on the circuit board 1, and an alignment portion is simultaneously formed on the upper surface of the circuit board 1 when the circuit board 1 is resin-molded. 10 is integrally molded. The alignment portion 10 can be formed as a convex portion, but in this embodiment, as shown in FIGS. 13A and 14A, it is formed as a concave portion having a diameter of 2 mm and a depth of about 3 mm. The photomask 4 is also shown in FIG.
As shown in FIG. 3A, two alignment holes 14 having a diameter of about 2 mm are provided corresponding to the alignment portion 10. Then, after the photoresist 3 is applied to the circuit board 1 in the above-described process, the alignment portion 10 of the circuit board 1 and the alignment hole 14 of the photomask 4 are aligned as shown in FIG. Photomask 4 is placed on top of the
The photomask 4 can be positioned by inserting the pin 15 into the alignment portion 10 through the alignment hole 14 as shown in FIGS. 14B and 14C, and the alignment portion 10 of the circuit board 1 can be used as a reference. The photomask 4 can be aligned and fixed to the circuit board 1. In this way, the photomask 4 is aligned and superposed on the circuit board 1, and then exposed.

【0042】図15の実施例は位置合わせ部10を凸部
として形成するようにしたものであり、位置合わせ部1
0は例えば2mm角、高さ5mmで角柱状に形成するこ
とができる。またフォトマスク4には2mm角の角孔で
位置合わせ孔14が形成してあり、この位置合わせ孔1
4は図15(a)のように金属製補強金具16をかしめ
てはめ込むことによって補強してある。そして図15
(b)のように位置合わせ孔14に位置合わせ部10を
被挿して位置決めしつつフォトレジスト3を塗着した回
路基板1の上にフォトマスク4を重ねることによって、
回路基板1の位置合わせ部10を基準にして回路基板1
にフォトマスク4を位置合わせして固定することができ
る。
In the embodiment shown in FIG. 15, the alignment portion 10 is formed as a convex portion.
For example, 0 can be formed into a prismatic shape having a 2 mm square and a height of 5 mm. In addition, the photomask 4 is formed with a positioning hole 14 having a square hole of 2 mm square.
No. 4 is reinforced by caulking and fitting the metal reinforcing metal fitting 16 as shown in FIG. And FIG.
As shown in (b), the alignment portion 10 is inserted into the alignment hole 14 for positioning, and the photomask 4 is superposed on the circuit board 1 coated with the photoresist 3.
Circuit board 1 based on the alignment portion 10 of the circuit board 1
The photomask 4 can be aligned and fixed to the.

【0043】図16及び図17はフォトマスク4の位置
合わせの他の実施例を示すものであり、回路基板固定治
具11は上面に回路基板1の平面形状と適合する凹所2
0を設けて形成してあって、回路基板固定治具11の端
部の上面にはピン穴24が設けてある。またフォトマス
ク4の上側には2mm程度の直径の金属棒等でL字形に
屈曲して形成される支持棒12が取り付けてある。支持
棒12は図17(a)のように縦片12aの先端の雄ね
じ部をフォトマスク4の端部に差し通すと共に雄ねじ部
に螺合した一対のナット25,25でフォトマスク4の
表裏を挟持することによって、フォトマスク4に脱着自
在に取り付けるようにしてある。この支持棒12は図1
7(a)のように横片12bがフォトマスク4の外方へ
突出するように取り付けられるものであり、本実施例で
は各フォトマスク4に二本の支持棒12を取り付けるよ
うにしてある。また支持棒12の横片12bの先端には
図17(b)に示すように固定片26が設けてあり、固
定片26にピン通し孔27が穿設してある。
FIGS. 16 and 17 show another embodiment of the alignment of the photomask 4, in which the circuit board fixing jig 11 has a recess 2 on the upper surface which conforms to the planar shape of the circuit board 1.
0 is provided, and a pin hole 24 is provided on the upper surface of the end portion of the circuit board fixing jig 11. Further, on the upper side of the photomask 4, there is attached a support rod 12 which is formed by bending an L-shaped metal rod having a diameter of about 2 mm. As shown in FIG. 17 (a), the support bar 12 is formed by inserting the male screw portion at the tip of the vertical piece 12a into the end portion of the photomask 4 and by attaching a pair of nuts 25, 25 screwed to the male screw portion to the front and back of the photomask 4. By being sandwiched, it is detachably attached to the photomask 4. This support rod 12 is shown in FIG.
As shown in FIG. 7 (a), the horizontal piece 12b is attached so as to project to the outside of the photomask 4. In this embodiment, two support rods 12 are attached to each photomask 4. As shown in FIG. 17B, a fixing piece 26 is provided at the tip of the lateral piece 12b of the support rod 12, and a pin passing hole 27 is formed in the fixing piece 26.

【0044】そしてフォトレジスト3を塗着した回路基
板1を凹所20にはめ込むことによって回路基板固定治
具11に回路基板1を位置決めした状態でセットし、ま
た回路基板固定治具11のピン穴24に支持棒12のピ
ン通し孔27を位置合わせした状態でフォトマスク4を
回路基板1の上に重ね、ピン通し孔27を通してピン穴
24にピン15を差し込むことによって、フォトマスク
4を回路基板固定治具11に位置決めした状態でセット
する。このように回路基板固定治具11に対して回路基
板1とフォトマスク4をそれぞれ位置決めすることによ
って、回路基板固定治具11を介して回路基板1とフォ
トマスク4を位置決めすることができ、回路基板1にフ
ォトマスク4を位置合わせした状態で固定することがで
きるものである。このようにフォトマスク4を位置合わ
せして回路基板1に重ねた後、露光をおこなうものであ
る。
Then, the circuit board 1 coated with the photoresist 3 is fitted into the recess 20 to set the circuit board 1 on the circuit board fixing jig 11 in a positioned state, and the pin holes of the circuit board fixing jig 11 are set. The photomask 4 is superposed on the circuit board 1 with the pin through holes 27 of the support rod 12 aligned with the pin 24, and the pins 15 are inserted into the pin holes 24 through the pin through holes 27 to place the photomask 4 on the circuit board. Set in the fixed jig 11 in a positioned state. By positioning the circuit board 1 and the photomask 4 with respect to the circuit board fixing jig 11 in this manner, the circuit board 1 and the photomask 4 can be positioned via the circuit board fixing jig 11. The photomask 4 can be fixed to the substrate 1 in the aligned state. In this way, the photomask 4 is aligned and superposed on the circuit board 1, and then exposed.

【0045】また、回路基板1の表面に複数段に分けて
フォトマスク4を重ねるにあたって、前記図6(d)、
図10(a)、図11(a)、図14(c)、図16
(a)に示すように、隣合うフォトマスク4はその端部
同士を上下方向、すなわち平行光の照射方向に重なり合
うように重複させてフォトマスク4を配置するのがよ
い。このように隣合うフォトマスク4の各段差部に重ね
合わせ部を設けることによって、フォトマスク4の端部
間から光が回折等で侵入することを防ぐことができるも
のである。フォトマスク4の端部の重ね合わせ幅は、光
の平行度や回折の程度、フォトマスク4の上下間の距離
(段差)等を考慮して決定されるものである。尚、図6
(d)、図10(a)、図11(a)、図14(c)、
図16(a)の各実施例ではフォトマスク4を複数枚に
分割して複数段に分けて回路基板1に重ねるようにした
が、一枚のフォトマスク4を折り曲げるなどすることに
よって複数段に分けて回路基板1に重ねるようにしても
よい。
Further, when the photomask 4 is superposed on the surface of the circuit board 1 in a plurality of stages, as shown in FIG.
10 (a), 11 (a), 14 (c), 16
As shown in (a), it is preferable that the photomasks 4 adjacent to each other are arranged such that their end portions overlap each other in the vertical direction, that is, in the irradiation direction of the parallel light. By providing the overlapping portions at the step portions of the adjacent photomasks 4 in this way, it is possible to prevent light from entering from between the end portions of the photomask 4 due to diffraction or the like. The overlapping width of the end portion of the photomask 4 is determined in consideration of the parallelism of light, the degree of diffraction, the distance (step) between the top and bottom of the photomask 4, and the like. Incidentally, FIG.
(D), FIG. 10 (a), FIG. 11 (a), FIG. 14 (c),
In each embodiment of FIG. 16A, the photomask 4 is divided into a plurality of sheets and divided into a plurality of stages so as to be superposed on the circuit board 1. However, by folding one photomask 4 into a plurality of stages. You may make it divide and may overlap on the circuit board 1.

【0046】上記のように隣合うフォトマスク4をその
端部同士を重複させてフォトマスク4を配置するにあた
っては、両フォトマスク4を相互に位置合わせした状態
で回路基板1に位置決めして重ねるようにする必要があ
る。図18はその実施例を示すものであり、図18
(a)に示すように回路基板1の上面に直径2mm、深
さ2mm程度の凹穴28が2箇所形成してある。この凹
穴28は回路基板1を樹脂成形する際に同時成形で設け
たり、成形後に加工して設けたりすることができる。ま
た、隣合うように配置されるフォトマスク4は図18
(b)のように、各フォトマスク4の端部同士を重複さ
せた状態で結合治具29によって2箇所で結合固定させ
てある。この結合治具29は直径が2mm程度のボルト
29aとナット29bで形成してあり、各フォトマスク
4の重複させる端部に孔を設けてボルト29aを通し、
ナット29bをボルト29aに螺合することによって固
定するようにしてある。そして回路基板1に既述の工程
でフォトレジスト3を塗着した後に、このように結合治
具29で隣合うフォトマスク4を位置合わせして端部同
士重複させて結合させると共に、結合治具29の下端を
回路基板1の凹穴28に差し込み、回路基板1に対して
各フォトマスク4を位置合わせした状態で、図18
(c)のように回路基板1に各フォトマスク4を固定す
ることができるものである。
When arranging the photomasks 4 so that the ends of the adjacent photomasks 4 are overlapped with each other as described above, the photomasks 4 are positioned and overlapped with each other on the circuit board 1 while the photomasks 4 are aligned with each other. Need to do so. FIG. 18 shows an example thereof, and FIG.
As shown in (a), two concave holes 28 having a diameter of 2 mm and a depth of about 2 mm are formed on the upper surface of the circuit board 1. The recessed hole 28 can be provided by simultaneous molding when the circuit board 1 is molded with resin, or can be processed and provided after molding. Further, the photomasks 4 arranged adjacent to each other are shown in FIG.
As shown in (b), the photomasks 4 are joined and fixed at two locations by the joining jig 29 in a state where the end portions of the photomasks 4 overlap each other. The coupling jig 29 is formed by bolts 29a and nuts 29b having a diameter of about 2 mm, and holes are provided at the overlapping end portions of the photomasks 4 so that the bolts 29a can pass through.
The nut 29b is fixed to the bolt 29a by screwing. Then, after the photoresist 3 is applied to the circuit board 1 in the above-described process, the adjacent photomasks 4 are aligned by the joining jigs 29 and the ends are overlapped and joined together, and the joining jigs are joined together. 18 is inserted into the recess 28 of the circuit board 1 and the photomasks 4 are aligned with the circuit board 1.
As shown in (c), each photomask 4 can be fixed to the circuit board 1.

【0047】図19(c)は結合治具29の他の例を示
すものであって、この結合治具29は直径が3.5mm
程度のスペーサ部29cの上下両端に直径が2mm程度
のボルト部29dを突設して形成してあり、各フォトマ
スク4の重複させる端部に設けた孔にボルト部29dを
通して各ボルト部29dにナット29bを螺合すること
によって、ナット29bとスペーサ部29cの端面との
間に各フォトマスク4を挟着すると共にスペーサ部29
cで両フォトマスク4間に所定の間隔を保って、各フォ
トマスク4の端部同士を重複させた状態で結合治具29
によって2箇所で図19(b)のように結合固定させる
ようにしてある。このものでも同様にして図19(a)
のように結合治具29の下端のボルト部29dを回路基
板1の凹穴28に差し込んで回路基板1に対して各フォ
トマスク4を位置合わせした状態で、回路基板1に各フ
ォトマスク4を固定することができるものである。
FIG. 19 (c) shows another example of the connecting jig 29, which has a diameter of 3.5 mm.
A bolt portion 29d having a diameter of about 2 mm is formed so as to project from the upper and lower ends of the spacer portion 29c, and the bolt portion 29d is passed through the hole provided at the overlapping end portion of each photomask 4 to reach each bolt portion 29d. By screwing the nut 29b, the photomask 4 is sandwiched between the nut 29b and the end surface of the spacer portion 29c, and the spacer portion 29 is formed.
With a predetermined distance between both photomasks 4 by c, the coupling jigs 29 with the ends of the photomasks 4 overlapped with each other.
Thus, the two parts are joined and fixed as shown in FIG. Similarly, this one is also shown in FIG.
In the state where the bolts 29d at the lower end of the coupling jig 29 are inserted into the recessed holes 28 of the circuit board 1 and the photomasks 4 are aligned with respect to the circuit board 1 as shown in FIG. It can be fixed.

【0048】図20は隣合うフォトマスク4を位置合わ
せした状態で回路基板1に位置決めして重ねる他の実施
例を示すものであり、上面に回路基板1の平面形状と同
形状の凹部41を設けたトレイ42と、トレイ42の外
周形状に合わせた枠体43とで形成される図20(b)
のような露光用治具44を用いるようにしてある。露光
用治具44のトレイ42の外周部の上面にはねじ穴45
が、枠体43のこのねじ穴45に対応する箇所には通孔
46がそれぞれ設けてある。そしてフォトレジスト3を
既述した工程で塗着した回路基板1を凹所41にはめ込
むことによって、図20(c)のように露光用治具44
のトレイ42に回路基板1を位置決めした状態でセット
すると共に隣合う一対のフォトマスク4のうち一方のフ
ォトマスク4を回路基板1に重ねる。このフォトマスク
4の端部にはねじ通し穴47が穿設してあり、このねじ
通し穴47をトレイ42のねじ穴45に合わせることに
よってフォトマスク4をトレイ42を介して回路基板1
に位置決めすることができる。尚、図20の実施例では
図20(a)のように回路基板1に大きく突出する突出
部1cが設けてあるので、フォトマスク4に設けた開口
48をこの突出部1cに被挿することによってもフォト
マスク4を回路基板1に位置決めできるようになってい
る。次にねじ穴45に通孔46を合わせて図20(d)
のようにトレイ42の上にフォトマスク4を介して枠体
43を重ね、さらに隣合う一対のフォトマスク4のうち
他方のフォトマスク4を枠体43の上に重ねる。この他
方のフォトマスク4の端部にもねじ通し穴47が穿設し
てあり、このねじ通し穴47を枠体43の通孔46に合
わせることによってフォトマスク4を枠体43及びトレ
イ42を介して回路基板1に位置決めすることができ
る。この後に、図20(e)のように各フォトマスク4
のねじ通し穴47と枠体43の通孔46に固定ねじ49
を通してトレイ42のねじ穴45に固定ねじ49を螺合
することによって、枠体43をトレイ42に結合させる
と共に各フォトマスク4を固定することができるもので
ある。
FIG. 20 shows another embodiment in which adjacent photomasks 4 are positioned and overlapped on the circuit board 1 in a aligned state. A recess 41 having the same shape as the planar shape of the circuit board 1 is formed on the upper surface. FIG. 20B, which is formed by the tray 42 provided and a frame body 43 that matches the outer peripheral shape of the tray 42.
The exposure jig 44 as described above is used. A screw hole 45 is formed on the upper surface of the outer peripheral portion of the tray 42 of the exposure jig 44.
However, through holes 46 are provided in the frame body 43 at positions corresponding to the screw holes 45. Then, the circuit board 1 coated with the photoresist 3 in the above-described process is fitted into the recess 41 to expose the exposure jig 44 as shown in FIG.
The circuit board 1 is set in the tray 42 in a positioned state, and one photomask 4 of the pair of adjoining photomasks 4 is placed on the circuit board 1. A screw through hole 47 is formed in an end portion of the photomask 4, and the photomask 4 is mounted on the circuit board 1 via the tray 42 by aligning the screw through hole 47 with the screw hole 45 of the tray 42.
Can be positioned. In the embodiment of FIG. 20, since the circuit board 1 is provided with the projecting portion 1c which largely projects as shown in FIG. 20 (a), the opening 48 provided in the photomask 4 should be inserted into this projecting portion 1c. The photomask 4 can also be positioned on the circuit board 1 by the above. Next, align the through hole 46 with the screw hole 45, and then, as shown in FIG.
As described above, the frame body 43 is superposed on the tray 42 via the photomask 4, and the other photomask 4 of the pair of adjoining photomasks 4 is superposed on the frame body 43. A screw through hole 47 is also formed in the end portion of the other photomask 4, and the photomask 4 is attached to the frame body 43 and the tray 42 by aligning the screw through hole 47 with the through hole 46 of the frame body 43. It can be positioned via the circuit board 1. After this, as shown in FIG.
Fixing screw 49 to the screw through hole 47 of and the through hole 46 of the frame 43.
By screwing the fixing screw 49 into the screw hole 45 of the tray 42, the frame body 43 can be coupled to the tray 42 and each photomask 4 can be fixed.

【0049】以上のようにして露光をして現像をおこな
った後は、図4(a)の場合と同様にして無電解メッキ
層2に通電して電気メッキ等をおこなうことによって図
7(a)のように電気メッキ層5を設けると共にさらに
図4(b)の場合と同様にしてニッケルメッキや金メッ
キ等のメッキ層7を設け、この後に図4(c)の場合と
同様にしてフォトレジスト3を剥離すると共に回路形成
部以外の不要な無電解メッキ層2を除去することによっ
て図7(b)のように無電解メッキ層2と電気メッキ層
5とメッキ層7からなる回路6のパターン形成をおこな
うことができるものである。そしてこのように回路6の
形成をおこなった後に、電子部品等の部品18を搭載し
て回路6と部品18との間に金線等をワイヤー19ボン
ディングすることによって、図7(c)に示すように回
路基板1の上に部品18を実装することができるもので
ある。
After the exposure and the development as described above, the electroless plating layer 2 is energized to perform electroplating or the like in the same manner as in FIG. 4), an electroplating layer 5 is further provided, and a plating layer 7 such as nickel plating or gold plating is further provided in the same manner as in the case of FIG. 4B, and then the photoresist is formed in the same manner as in the case of FIG. 4C. The pattern of the circuit 6 including the electroless plating layer 2, the electroplating layer 5 and the plating layer 7 as shown in FIG. It can be formed. Then, after forming the circuit 6 in this way, a component 18 such as an electronic component is mounted and a gold wire or the like is bonded to the wire 19 between the circuit 6 and the component 18, as shown in FIG. Thus, the component 18 can be mounted on the circuit board 1.

【0050】上記図1乃至図20の各実施例において、
平行光を用いて露光をおこなうが、この平行光としてコ
リメータ51を用いて平行度を高めた平行光を使用する
ことができる。図21はその一例を示すものであり、一
次平行光L1 をコリメータ51に通し、平行でない光を
遮断して平行度を高めた二次平行光L2 を回路基板1に
重ねたフォトマスクフォトマスク4の上から照射するよ
うにしてある。一次平行光L1 としては水銀ランプから
照射した光をミラーで集光すると共に平行レンズを通し
て平行にしたものを用いることができる。またコリメー
タ51としては既知の任意のもの、例えば円筒又は二枚
グリッドを用いたものを使用することができる。コリメ
ータ51に光を通して露光するときには、露光量が均一
になるようにコリメータ51を照射方向と垂直な平面で
回転させながら露光をおこなうようにするのがよい。こ
のようにコリメータ51で平行度を高めた二次平行光L
2を用いて露光をおこなうことによって、回路基板1の
回路形成表面と平面状のフォトマスク4との間の間隔が
大きくてもこの間隔による平行光の広がりを低減するこ
とができ、回路基板1が凹凸の大きい立体表面に形成さ
れていても回路の幅寸法が不均一になることを防ぐこと
ができるものであり、回路を均一幅で形成して高密度配
線に回路を形成することが可能になるものである。
In each of the embodiments shown in FIGS. 1 to 20,
The parallel light is used for the exposure. As the parallel light, the collimator 51 can be used to increase the parallelism. FIG. 21 shows an example thereof. A photomask photo in which the primary parallel light L 1 is passed through the collimator 51 and the non-parallel light is cut off to increase the parallelism, and the secondary parallel light L 2 is superposed on the circuit board 1. Irradiation is performed from above the mask 4. As the primary parallel light L 1 , light emitted from a mercury lamp may be condensed by a mirror and parallelized through a parallel lens. Further, as the collimator 51, any known one, for example, one using a cylinder or a double grid can be used. When light is exposed to the collimator 51, it is preferable that the collimator 51 be rotated while being rotated in a plane perpendicular to the irradiation direction so that the exposure amount is uniform. In this way, the secondary parallel light L whose parallelism is increased by the collimator 51
By performing exposure using 2 , even if the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the planar photomask 4 is large, it is possible to reduce the spread of parallel light due to this distance. It is possible to prevent the width dimension of the circuit from becoming non-uniform even if it is formed on a three-dimensional surface with large unevenness, and it is possible to form the circuit with a uniform width and form the circuit on high-density wiring. It will be.

【0051】図22は複数枚のフォトマスク4を用いて
露光をおこなうようにした実施例を示すものであり、平
板状(平面状)に形成される複数枚(図の実施例では2
枚)の各フォトマスク4には同じ露光パターンで光透過
部4aと光非透過部4bが形成してある。そしてこの複
数枚のフォトマスク4のうち一枚のフォトマスク4を図
22(a)のように回路基板1に重ねると共に他のフォ
トマスク4を所定の一定間隔を隔てて前記フォトマスク
4に重ね、この状態で平行光を照射して露光をおこなう
ものである。このとき光透過部4bが平行光の照射方向
に正確に対向するように露光パターンを合わせて各フォ
トマスク4を重ねるようにするものである。このように
複数枚のフォトマスク4を間隔を隔てて重ねて使用する
と、図22(b)に示すように、一枚目のフォトマスク
4の光非透過部4bの裏側に光が回り込んでも、回り込
んだ光はこの光非透過部4bと同じパターンで形成され
ている二枚目のフォトマスク4の光非透過部4bで遮断
されることになり、平行光が広がって回路基板1の紫外
線感光フォトレジスト3に照射されることを低減するこ
とができるのである。従って、回路基板1の回路形成表
面とフォトマスク4との間の間隔が大きくても平行光の
広がりを低減することができるものであり、回路基板1
の凹凸が大きい場合でも回路の幅寸法が不均一になるこ
とを回避することができ、回路を均一幅で形成して高密
度配線に回路形成をすることが可能になるものである。
FIG. 22 shows an embodiment in which exposure is performed by using a plurality of photomasks 4, and a plurality of flat plates (planar) (in the embodiment shown in the drawing, 2) are formed.
On each of the photomasks 4), a light transmitting portion 4a and a light non-transmitting portion 4b are formed with the same exposure pattern. One photomask 4 of the plurality of photomasks 4 is overlaid on the circuit board 1 as shown in FIG. 22A, and another photomask 4 is overlaid on the photomask 4 at a predetermined constant interval. In this state, parallel light is irradiated to perform exposure. At this time, the photomasks 4 are overlapped by aligning the exposure patterns so that the light transmitting portions 4b accurately face each other in the irradiation direction of the parallel light. When a plurality of photomasks 4 are overlapped with each other at intervals as described above, as shown in FIG. 22B, even when light wraps around the back side of the light non-transmissive portion 4b of the first photomask 4, The circulated light is blocked by the light non-transmissive portion 4b of the second photomask 4 formed in the same pattern as the light non-transmissive portion 4b, so that the parallel light spreads and the parallel light of the circuit board 1 is spread. Irradiation of the UV-sensitive photoresist 3 can be reduced. Therefore, even if the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the photomask 4 is large, the spread of the parallel light can be reduced.
Even when the unevenness is large, it is possible to prevent the width dimension of the circuit from becoming nonuniform, and it is possible to form the circuit with a uniform width and form the circuit on the high-density wiring.

【0052】次に上記フォトマスク4において光非透過
部4bに光吸収材58を塗布するようにした実施例を説
明する。先ず図23(a)のように光透過部4aと光非
透過部4bを設けて露光パターンを形成したフォトマス
ク4の上面(平行光が入射する側の面)の全面にポジ型
のドライフィルムなどフォトレジスト59を塗着し、図
23(b)のようにフォトマスク4を上側にして露光し
た後、感光されていない光非透過部4bに対応する部分
のフォトレジスト59を図23(c)のように現像して
除去する。次に図23(d)のようにカーボン等の光吸
収材58をスプレーしてフォトレジスト59を除去した
部分においてフォトマスク4の表面に光吸収材58を塗
布した後、フォトレジスト59を除去することによっ
て、図23(e)のような光非透過部4bに光吸収材5
8を塗布したフォトマスク4を得ることができる。
Next, an embodiment in which the light absorbing material 58 is applied to the light non-transmissive portion 4b of the photomask 4 will be described. First, as shown in FIG. 23A, a positive dry film is formed on the entire upper surface (the surface on which parallel light is incident) of the photomask 4 on which an exposure pattern is formed by providing the light transmitting portions 4a and the light non-transmitting portions 4b. 23 (c) is applied, and the photomask 4 is exposed to the upper side as shown in FIG. 23 (b). Then, the photoresist 59 in a portion corresponding to the non-light-transmitting portion 4b which is not exposed is shown in FIG. 23 (c). ) And remove it. Next, as shown in FIG. 23D, the light absorbing material 58 such as carbon is sprayed to remove the photoresist 59, and then the light absorbing material 58 is applied to the surface of the photomask 4 at the portion where the photoresist 59 is removed, and then the photoresist 59 is removed. As a result, the light absorbing material 5 is applied to the light non-transmissive portion 4b as shown in FIG.
The photomask 4 coated with 8 can be obtained.

【0053】そして図24に示すように、光吸収材58
を塗布したフォトマスク4を光吸収材58が平行光の照
射側を向くように回路基板1に重ねると共に、光非透過
部4bが平行光の照射方向に正確に対向するように露光
パターンを合わせて、光吸収材58を塗布していないフ
ォトマスク4を所定の一定間隔を隔てて前記フォトマス
ク4に重ね、この状態で平行光を照射して露光をおこな
うものである。図24の実施例では光源60からの光を
光学レンズ61で平行光にして露光をおこなうようにし
ている。そしてこのものでは、一枚目のフォトマスク4
の光非透過部4bの裏側に回り込んだ光は二枚目のフォ
トマスク4の光非透過部4bで遮断されることになる
が、二枚目のフォトマスク4の光非透過部4bの表面に
光吸収材58が塗布してあるので、この回り込んだ光は
光吸収材58で吸収され、回路基板1のフォトレジスト
3に到達することを完全に防止することができるのであ
る。図24の実施例にあって、二枚目のフォトマスク4
と回路基板1の回路形成面との間隔をa、フォトマスク
4間の間隔をb、平行光起点となる光学レンズ61と一
枚目のフォトマスク4との間隔をcとすると、間隔a,
b,cのうち間隔bを変えることによって平行度が変わ
るが、間隔bを大きくするほど平行度が高くなるもので
ある。
Then, as shown in FIG. 24, the light absorbing material 58
The photomask 4 coated with is laminated on the circuit board 1 so that the light absorbing material 58 faces the parallel light irradiation side, and the exposure pattern is aligned so that the light non-transmissive portion 4b exactly faces the parallel light irradiation direction. Then, the photomask 4 not coated with the light absorbing material 58 is superposed on the photomask 4 at a predetermined constant interval, and in this state, parallel light is irradiated to perform exposure. In the embodiment shown in FIG. 24, the light from the light source 60 is converted into parallel light by the optical lens 61 for exposure. And in this one, the first photomask 4
The light circling to the back side of the light non-transmissive portion 4b is blocked by the light non-transmissive portion 4b of the second photomask 4, but the light non-transmissive portion 4b of the second photomask 4 is blocked. Since the light absorbing material 58 is applied to the surface, it is possible to completely prevent the circulated light from being absorbed by the light absorbing material 58 and reaching the photoresist 3 of the circuit board 1. In the embodiment of FIG. 24, the second photomask 4
And a circuit forming surface of the circuit board 1 are denoted by a, the spacing between the photomasks 4 is denoted by b, and the spacing between the optical lens 61 serving as a parallel light source and the first photomask 4 is denoted by c,
The parallelism changes by changing the distance b between b and c, but the parallelism increases as the distance b increases.

【0054】図25の実施例では、表面と裏面にそれぞ
れ同じ露光パターンを設けて形成したフォトマスク4を
用いて露光をおこなうようにしている。すなわち、光透
過性の厚いマスク62の表面と裏面にそれぞれ光非透過
部4bを同じパターンで対向させて設けることによって
フォトマスク4が形成してあり、光非透過部4bは光の
反射率の低い材料を用いて反射光をカットするようにし
てある。そしてこのフォトマスク4を図25(a)のよ
うに回路基板1に重ね、平行光を照射して露光をおこな
うと、図25(b)に示すように、フォトマスク4の表
面側の光非透過部4bの裏側に光が回り込んでも、回り
込んだ光はこの表面側の光非透過部4bと同じパターン
で形成されている裏面側の光非透過部4bで吸収されて
遮断されることになり、平行光が広がって回路基板1の
フォトレジスト4に照射されることを低減することがで
きるのである。従って、回路基板1の回路形成表面とフ
ォトマスク4との間の間隔が大きくても平行光の広がり
を低減することができるものであり、回路基板1の凹凸
が大きく回路形成表面とフォトマスク4との間の間隔が
大きい場合でも回路の幅寸法が不均一になることを回避
することができ、回路を均一幅で形成して高密度配線に
回路形成をすることが可能になるものである。ここで、
平行光の平行度はフォトマスク4の透明なマスク62の
厚み及びマスク62と回路基板1の回路形成面との間隔
によって調節するとができるものであり、マスク62の
厚みを大きくするほど平行度が高くなるものである。
In the embodiment shown in FIG. 25, exposure is performed using the photomask 4 formed by providing the same exposure pattern on the front surface and the back surface, respectively. That is, the photomask 4 is formed by disposing the light non-transmissive portions 4b on the front surface and the back surface of the light-transmissive thick mask 62 so as to face each other in the same pattern. A low material is used to cut off the reflected light. Then, when this photomask 4 is overlapped on the circuit board 1 as shown in FIG. 25A and exposed by performing parallel light irradiation, as shown in FIG. Even if light wraps around on the back side of the transmissive portion 4b, the wraparound light is absorbed and blocked by the back light non-transmissive portion 4b formed in the same pattern as the front light non-transmissive portion 4b. Therefore, it is possible to reduce the spread of the parallel light and the irradiation of the photoresist 4 on the circuit board 1. Therefore, even if the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the photomask 4 is large, the spread of the parallel light can be reduced, and the unevenness of the circuit board 1 is large and the circuit forming surface and the photomask 4 are large. Even if there is a large space between the circuit and the circuit, it is possible to avoid unevenness in the width dimension of the circuit, and it is possible to form the circuit with a uniform width and form the circuit on high-density wiring. . here,
The parallelism of the parallel light can be adjusted by the thickness of the transparent mask 62 of the photomask 4 and the distance between the mask 62 and the circuit forming surface of the circuit board 1. The parallelism increases as the thickness of the mask 62 increases. It will be high.

【0055】次に上記フォトマスク4の製造について説
明する。まず図26(a)のように厚い光透過性のフィ
ルムをマスク62として用い、図26(b)のようにマ
スク62の両面に光非透過部4bとなる部分を除いてド
ライフィルムなどフォトレジスト59をパターンイング
してマスキングし、次に図26(d)のようにカーボン
等の光の反射率の低い光吸収材58をスプレーしてフォ
トレジスト59でマスキングされていない部分において
マスク62の表面に光吸収材58を塗布した後、フォト
レジスト59を除去することによって、図26(e)の
ような光吸収材58によって光非透過部4bをマスク6
2の表面と裏面に設けて形成したフォトマスク4を得る
ことができる。
Next, the manufacture of the photomask 4 will be described. First, a thick light-transmissive film as shown in FIG. 26A is used as a mask 62, and a photoresist such as a dry film is used as shown in FIG. 59 is patterned and masked, and then a light absorbing material 58 having a low light reflectance such as carbon is sprayed as shown in FIG. 26 (d) to spray the surface of the mask 62 at a portion not masked by the photoresist 59. After applying the light absorbing material 58 on the mask 6 and removing the photoresist 59, the light non-transmitting portion 4b is masked by the light absorbing material 58 as shown in FIG.
It is possible to obtain the photomask 4 provided on the front surface and the back surface of No. 2.

【0056】また、上記各実施例のように平行光を用い
て露光をおこなうにあたって、レーザー光56を光学レ
ンズ52を用いて光束を広げた平行光とし、この平行光
で露光をおこなうことができる。図27はその一例を示
すものであり、波長360nmのArレーザーなど出力
分布を均一にしたレーザー光56の出力強度をまずフィ
ルター63を用いて均一にする。次にこの均一な強度分
布のレーザー光56を光学レンズ52を用いて光束を広
げた平行光にする。図27の実施例では光学レンズ52
として光拡散レンズ52aと平行レンズ52bを用い、
まずレーザー光56を光拡散レンズ52aに通してレー
ザー光56を広げ、次にこの広げたレーザー光56を平
行レンズ52bに通して平行光にする。そしてこの均一
な強度分布をもった平行光で平面状のフォトマスク4を
通して回路基板1の紫外線感光フォトレジスト3を露光
するものである。レーザー光56は平行度の高い光線で
あるものの、光束の面積を大きく得ることが難しいので
レーザー光56を直接照射して回路基板1の全面を露光
することは困難であるが、レーザー光56を光学レンズ
52を用いて光束を広げた平行光として用いることによ
って、レーザー光56による平行度の高い平行光で露光
をおこなうことができる。従って、回路基板1の回路形
成表面とフォトマスク4との間の間隔が大きくても平行
光の広がりを低減し、回路基板1の凹凸が大きい場合で
も回路の幅寸法が不均一になることを回避することがで
きるものであり、回路を均一幅で形成して高密度配線に
回路形成をすることが可能になるものである。
Further, when performing exposure using parallel light as in each of the above-described embodiments, the laser light 56 can be made into parallel light by expanding the light flux using the optical lens 52, and exposure can be performed with this parallel light. . FIG. 27 shows an example thereof, in which the output intensity of the laser light 56 such as an Ar laser having a wavelength of 360 nm and having a uniform output distribution is first made uniform by using the filter 63. Next, the laser light 56 having this uniform intensity distribution is converted into parallel light by expanding the light flux using the optical lens 52. In the embodiment of FIG. 27, the optical lens 52
As the light diffusion lens 52a and the parallel lens 52b,
First, the laser light 56 is passed through the light diffusion lens 52a to spread the laser light 56, and then the spread laser light 56 is passed through the parallel lens 52b to be a parallel light. Then, the ultraviolet light-sensitive photoresist 3 of the circuit board 1 is exposed through the planar photomask 4 with parallel light having this uniform intensity distribution. Although the laser light 56 is a light beam having a high degree of parallelism, it is difficult to directly irradiate the laser light 56 to expose the entire surface of the circuit board 1 because it is difficult to obtain a large area of the light flux. By using the optical beam from the optical lens 52 to expand the light beam as parallel light, it is possible to perform exposure with parallel light having a high degree of parallelism by the laser light 56. Therefore, even if the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the photomask 4 is large, the spread of the parallel light is reduced, and even if the circuit board 1 has large irregularities, the width dimension of the circuit becomes uneven. This can be avoided, and it becomes possible to form a circuit in a high-density wiring by forming the circuit with a uniform width.

【0057】また平行光を用いて露光をおこなうにあた
って、ピンホール53を通過させた光を光学レンズ54
で平行光にし、この平行光で露光をおこなうようにする
こともできる。図28はその一例を示すものであり、ま
ず紫外線感光型等のフォトレジスト3の感光に必要な波
長の光(紫外域の光など)を含んだ均一な強度の散乱光
64を水銀ランプ67等から照射して集光レンズ65で
集光する。この集光レンズ65と光遮蔽板66に設けた
ピンホール53との距離は、集光レンズ65における露
光に必要な波長(例えば360nm)の光の波長の焦点
距離に設定されるものであり、集光レンズ65で集光さ
れた光はピンホール53に集まって通過する。そして光
はピンホール53を点光源として平行レンズで形成され
る光学レンズ54に入射し、平行光に変換され、この平
行光で露光をおこなうことができるものである。光学レ
ンズ54とピンホール53との距離は、光学レンズ54
における露光に必要な波長の光の波長の焦点距離に設定
されるものであり、点光源となるピンホール53からの
光は光学レンズ54で平行度の高い平行光に変換される
ために、平行度の高い平行光で露光をおこなうことがで
きるものである。従って、回路基板1の回路形成表面と
フォトマスク4との間の間隔が大きくても平行光の広が
りを低減し、回路基板1の凹凸が大きい場合でも回路の
幅寸法が不均一になることを回避することができるもの
であり、回路を均一幅で形成して高密度配線に回路形成
をすることが可能になるものである。
When performing exposure using parallel light, the light that has passed through the pinhole 53 is passed through the optical lens 54.
It is also possible to make parallel light with and perform exposure with this parallel light. FIG. 28 shows an example thereof. First, scattered light 64 of uniform intensity including light having a wavelength necessary for the exposure of the photoresist 3 of the ultraviolet-sensitive type (light in the ultraviolet range or the like) is sent to the mercury lamp 67 or the like. It is irradiated from the light source and condensed by the condenser lens 65. The distance between the condenser lens 65 and the pinhole 53 provided on the light shield plate 66 is set to the focal length of the wavelength of light (for example, 360 nm) required for exposure in the condenser lens 65, The light condensed by the condenser lens 65 is collected in the pinhole 53 and passes through. Then, the light enters the optical lens 54 formed of a parallel lens using the pinhole 53 as a point light source, is converted into parallel light, and exposure can be performed with this parallel light. The distance between the optical lens 54 and the pinhole 53 is
Is set to the focal length of the wavelength of the light necessary for the exposure in, and the light from the pinhole 53, which serves as a point light source, is converted into parallel light with high parallelism by the optical lens 54. It is possible to perform exposure with highly parallel light. Therefore, even if the distance between the circuit forming surface of the circuit board 1 and the photomask 4 is large, the spread of the parallel light is reduced, and even if the circuit board 1 has large irregularities, the width dimension of the circuit becomes uneven. This can be avoided, and it becomes possible to form a circuit in a high-density wiring by forming the circuit with a uniform width.

【0058】また平行光を用いて露光をおこなうにあた
って、太陽光57を用いて露光をおこなうようにするこ
ともできる。太陽光57は無限遠にある点光源と考えら
れるので高い平行度をもった平行光であるが、地球上で
は反射光等の二次光73が存在するのでそのまま平行光
源として用いることはできない。そこで二次光73を遮
蔽板55で遮蔽しながら太陽光を平行光として導入する
ことによって、この太陽光の平行光で露光をおこなうこ
とが可能になる。図29はその一例を示すものであり、
光非透過性の円筒体等で遮光板55を作成し、遮光板5
5の内周にはシャッター69が設けてある。また露光台
70は傾斜角度を自在に調整できるように太陽追尾装置
71に支持してあり、平面状のフォトマスク4を重ねた
回路基板1をこの露光台70の上に載置すると共に遮光
板55を露光台70の上にセットして遮光板55で回路
基板1を覆う。このときシャッター69は閉じられてお
り、回路基板1は周囲を遮光板55で覆われていると共
にシャッター69でも遮光されているために、回路基板
1に設けたフォトレジスト3に光は作用しない。そして
太陽72からの太陽光57のフォトマスク4への入射角
が垂直になるように太陽追尾装置71を作動させて露光
台70の傾斜角度を調整し、この状態でシャッター69
を開くと、太陽72の方向を向く遮光板55の上端の開
口から入った太陽光71がシャッター69を通過して、
フォトマスク4の上から回路基板1のフォトレジスト3
を露光することができる。反射光等の二次光73は遮光
板55で遮断され、回路基板1に到達することがないた
めに、平行光である太陽光57のみで露光をおこなうこ
とができるものである。また遮光板55の内側にはシャ
ッター69の下側において露光量カウンター74を設け
てシャッター69を開いてからの露光量を測定するよう
にしてあり、目標露光量に達した時点でシャッター69
を閉じるようにしてある。ここで、フォトレジスト3と
しては紫外線感光レジストを用いることができるが、太
陽光57は広い波長範囲の光を均一に含んでいるので、
紫外線以外の波長で感光するレジストを用いることもで
きる。このように平行度の高い太陽光57で露光をおこ
なうことができるので、回路基板1の回路形成表面とフ
ォトマスク4との間の間隔が大きくても平行光の広がり
を低減し、回路基板1の凹凸が大きい場合でも回路の幅
寸法が不均一になることを回避することができるもので
あり、回路を均一幅で形成して高密度配線に回路形成を
することが可能になるものである。
When performing the exposure using the parallel light, it is possible to perform the exposure using the sunlight 57. The sunlight 57 is a parallel light having a high degree of parallelism because it is considered to be a point light source at infinity, but it cannot be used as it is as a parallel light source because secondary light 73 such as reflected light exists on the earth. Therefore, by introducing the sunlight as parallel light while shielding the secondary light 73 by the shielding plate 55, it becomes possible to perform exposure with the parallel light of this sunlight. FIG. 29 shows an example thereof,
The light-shielding plate 55 is made of a light-impermeable cylinder or the like, and the light-shielding plate 5
A shutter 69 is provided on the inner circumference of 5. The exposure table 70 is supported by the sun tracking device 71 so that the tilt angle can be freely adjusted, and the circuit board 1 on which the planar photomask 4 is stacked is placed on the exposure table 70 and the light shielding plate is provided. 55 is set on the exposure table 70, and the circuit board 1 is covered with the light shielding plate 55. At this time, the shutter 69 is closed, and the circuit board 1 is covered with the light shielding plate 55 on the periphery and is also shielded from light by the shutter 69. Therefore, light does not act on the photoresist 3 provided on the circuit board 1. Then, the sun tracking device 71 is operated so that the incident angle of the sun light 57 from the sun 72 to the photomask 4 becomes vertical, and the tilt angle of the exposure table 70 is adjusted.
When opened, the sunlight 71 entering from the opening at the upper end of the light shielding plate 55 facing the sun 72 passes through the shutter 69,
The photoresist 3 on the circuit board 1 from above the photomask 4
Can be exposed. The secondary light 73 such as reflected light is blocked by the light shielding plate 55 and does not reach the circuit board 1. Therefore, the exposure can be performed only by the sunlight 57 that is parallel light. An exposure amount counter 74 is provided below the shutter 69 inside the light shielding plate 55 to measure the exposure amount after the shutter 69 is opened. When the target exposure amount is reached, the shutter 69 is released.
Is closed. Here, an ultraviolet photosensitive resist can be used as the photoresist 3, but since the sunlight 57 uniformly contains light in a wide wavelength range,
It is also possible to use a resist that is sensitive to wavelengths other than ultraviolet light. Since the exposure can be performed with the sunlight 57 having a high degree of parallelism, the spread of the parallel light is reduced even if the distance between the circuit formation surface of the circuit board 1 and the photomask 4 is large, and the circuit board 1 Even when the unevenness of the circuit is large, it is possible to prevent the circuit from having a non-uniform width dimension, and it is possible to form the circuit with a uniform width and form the circuit on high-density wiring. .

【0059】[0059]

【発明の効果】上記のように本発明は、フォトマスクと
立体回路板の回路形成表面との間の間隔に伴う平行光の
広がりに応じた寸法調整をした光透過部を形成したフォ
トマスクを用いて露光をおこなうようにしたので、回路
基板とフォトマスクとの間の間隔が大きくてもこの間隔
による平行光の広がりを補正して露光をおこなうことが
でき、回路基板の凹凸差が大きい場合でも回路の幅寸法
が不均一になることを回避することができるものであ
り、回路を均一幅で形成して高密度配線に回路形成する
ことが可能になるものである。
As described above, the present invention provides a photomask having a light-transmitting portion whose size is adjusted according to the spread of parallel light with the distance between the photomask and the circuit forming surface of the three-dimensional circuit board. Since the exposure is performed using the circuit board, even if the distance between the circuit board and the photomask is large, it is possible to perform the exposure by correcting the spread of the parallel light due to this distance, and when the unevenness of the circuit board is large. However, it is possible to prevent the width dimension of the circuit from becoming non-uniform, and it becomes possible to form the circuit with a uniform width and form the circuit in high-density wiring.

【0060】また本発明は、フォトマスクと回路基板の
回路形成表面との間の間隔に応じて複数段に分けてフォ
トマスクを重ねて露光をおこなうようにしたので、回路
基板の表面の凹凸が複雑でも複数段に分けた各フォトマ
スクと回路基板の回路形成表面との間の間隔を小さくす
ることができ、回路基板の表面の大きな凹凸差によって
露光幅が異なることがなくなって回路の幅寸法が不均一
になることを回避することができるものであり、回路を
均一幅で形成して高密度配線に回路形成することが可能
になるものである。
Further, according to the present invention, since the photomask is divided into a plurality of stages and the photomasks are overlapped for exposure in accordance with the distance between the photomask and the circuit formation surface of the circuit board, the unevenness on the surface of the circuit board is Even if it is complicated, the distance between each photomask divided into multiple stages and the circuit formation surface of the circuit board can be reduced, and the exposure width does not differ due to the large unevenness of the surface of the circuit board. It is possible to avoid non-uniformity, and it becomes possible to form a circuit with a uniform width to form a circuit on high-density wiring.

【0061】このように複数段のフォトマスクで露光を
おこなうにあたって、フォトマスクとして、フォトマス
クと回路基板の回路形成表面との間の間隔に伴う平行光
の広がりに応じた寸法調整をした光透過部を形成したフ
ォトマスクを用いるようにすれば、露光幅を一層均一化
することができ、高い精度で高密度配線に回路形成する
ことが可能になるものである。
As described above, when performing exposure with a plurality of photomasks, as a photomask, light transmission is performed with the dimensions adjusted according to the spread of parallel light with the distance between the photomask and the circuit formation surface of the circuit board. By using a photomask having a portion formed therein, the exposure width can be made more uniform, and a circuit can be formed in high-density wiring with high accuracy.

【0062】また上記の樹脂成形された立体的な回路基
板として、樹脂成形時に凹部又は凸部を一体成形して位
置合わせ部を設けたものを用い、位置合わせ部によって
位置合わせした状態でフォトマスクを回路基板に重ねる
ようにすれば、回路基板の表面の凹凸とフォトマスクの
パターンとを正確に対応させることができ、回路基板に
立体回路を正確に形成することができるものである。
As the above-mentioned resin-molded three-dimensional circuit board, one in which a concave portion or a convex portion is integrally molded at the time of resin molding to provide an alignment portion is used, and the photomask is aligned by the alignment portion. By stacking on the circuit board, the irregularities on the surface of the circuit board and the pattern of the photomask can be accurately corresponded, and the three-dimensional circuit can be accurately formed on the circuit board.

【0063】また回路基板固定治具に回路基板を位置決
めしてセットし、フォトマスクに脱着自在に設けた支持
棒を回路基板固定治具に結合させることによって回路基
板にフォトマスクを位置合わせした状態でフォトマスク
を回路基板に重ねるようにしても、回路基板の表面の凹
凸とフォトマスクのパターンとを正確に対応させること
ができ、回路基板に立体回路を正確に形成することがで
きるものである。
Further, the circuit board is positioned and set on the circuit board fixing jig, and the photomask is aligned with the circuit board by connecting the supporting rod detachably attached to the photomask to the circuit board fixing jig. Even if the photomask is overlaid on the circuit board by using the method, the unevenness of the surface of the circuit board and the pattern of the photomask can be accurately corresponded, and the three-dimensional circuit can be accurately formed on the circuit board. .

【0064】さらに複数段のフォトマスクのうち、隣合
うフォトマスクの端部同士を平行光の照射方向に重複さ
せてフォトマスクを配置すれば、隣合うフォトマスクの
端部間から光が侵入することがなくなり、フォトマスク
を複数段に分けたにもかかわらず光の漏れ不良なく露光
をおこなうことができるものである。このように隣合う
フォトマスクの端部同士を平行光の照射方向に重複させ
てフォトマスクを配置するにあたって、重ね合わせる部
分においてフォトマスク同士の位置合わせをおこなうよ
うにすれば、隣合うフォトマスクの相互の位置ずれがな
くなって回路基板に立体回路を正確に形成することがで
きるものである。
Further, if the photomasks are arranged so that the ends of adjacent photomasks of the photomasks in a plurality of stages overlap in the irradiation direction of the parallel light, the light enters from between the ends of the adjacent photomasks. Therefore, even if the photomask is divided into a plurality of stages, it is possible to perform exposure without defective light leakage. In this way, when arranging the photomasks so that the ends of the adjacent photomasks overlap each other in the irradiation direction of the parallel light, the photomasks can be aligned in the overlapping portion. It is possible to accurately form a three-dimensional circuit on the circuit board by eliminating the mutual positional displacement.

【0065】また、複数段のフォトマスクで同時に露光
をおこなう場合には、フォトマスクの重なり合う部分で
はフォトマスクを通過する光量が他の部分よりも若干減
少して露光量が不均一になるおそれがあるが、複数段の
フォトマスクのうち、一段のフォトマスクに光透過部が
パターンニングして設けられた露光マスクを用いると共
に他の段のフォトマスクを光を透過しない遮光マスクを
用いて露光をおこない、順次露光マスクと遮光マスクを
入れ換えて複数回露光をおこなうようにすれば、フォト
マスクの段数に応じた回数で露光をおこなうことがで
き、露光量を均一化して高密度ファインパターンの形成
が可能になるものである。
Further, when exposure is performed simultaneously with a plurality of photomasks, the amount of light passing through the photomask in the overlapping portions of the photomasks may be slightly reduced as compared with the other portions, and the exposure amount may become uneven. However, of the photomasks of multiple stages, an exposure mask in which a light-transmitting portion is patterned on one photomask is used, and the photomasks of the other stages are exposed using a light-shielding mask that does not transmit light. If the exposure mask and the light-shielding mask are exchanged and the exposure is performed multiple times, the exposure can be performed as many times as the number of steps of the photomask, and the exposure amount can be made uniform to form a high-density fine pattern. It will be possible.

【0066】また、平行光で露光をおこなうにあたっ
て、コリメータによって平行度を高めた平行光を用いた
り、あるいはレーザー光を光学レンズによって光束を広
げた平行光として用いたり、さらにピンホールを通過さ
せた光を光学レンズで平行光にして用いたり、また二次
光を遮蔽板で遮蔽しながら太陽光を平行光として導入し
て用いたりすることによって、平行度の高い平行光で精
度の高い露光をおこなうことができるものであり、回路
基板とフォトマスクとの間隔が大きくても回路幅を均一
に形成して高密度ファインパターンの形成が可能になる
ものである。
Further, when performing exposure with parallel light, parallel light whose parallelism is increased by a collimator is used, or laser light is used as parallel light whose light flux is expanded by an optical lens, and further passed through a pinhole. By using light as parallel light with an optical lens, or by introducing sunlight as parallel light while blocking the secondary light with a blocking plate, highly accurate parallel light exposure is possible. Even if the distance between the circuit board and the photomask is large, the circuit width can be formed uniformly and a high-density fine pattern can be formed.

【0067】さらに、同じ露光パターンを形成した平板
状のフォトマスクを複数枚用い、平行光の照射方向に各
露光パターンが揃うように所定間隔をおいて複数枚のフ
ォトマスクを平行光の照射方向に重ねて露光をおこなう
ようにしたり、あるいは表面と裏面にそれぞれ同じ露光
パターンを設けて形成したフォトマスクを用いて露光を
おこなうことによって、光源に近い側の露光パターンの
光非透過部を光が回り込んでも次の露光パターンの光非
透過部でこの光をカットすることができ、高い精度で露
光をおこなうことができるものであり、回路基板とフォ
トマスクとの間隔が大きくても回路幅を均一に形成して
高密度ファインパターンの形成が可能になるものであ
る。
Further, a plurality of flat plate-shaped photomasks on which the same exposure pattern is formed are used, and a plurality of photomasks are arranged at predetermined intervals so that the exposure patterns are aligned in the parallel light irradiation direction. The light non-transmissive part of the exposure pattern on the side closer to the light source by exposing the same to the front surface and the back surface by using a photomask formed with the same exposure pattern. Even if it goes around, this light can be cut by the light non-transmissive part of the next exposure pattern, and it is possible to perform exposure with high accuracy. Even if the distance between the circuit board and the photomask is large, the circuit width can be reduced. It is possible to uniformly form a high-density fine pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明における露光工程の一実施例を示すもの
であり、(a)は回路基板にフォトマスクを被覆した状
態の断面図、(b)はフォトマスクの平面図、(c)は
形成された回路を示す平面図である。
1A and 1B show an embodiment of an exposure process in the present invention, in which FIG. 1A is a cross-sectional view of a circuit board covered with a photomask, FIG. 1B is a plan view of the photomask, and FIG. It is a top view which shows the formed circuit.

【図2】本発明における露光工程の他の実施例を示すも
のであり、(a)は回路基板にフォトマスクを被覆した
状態の断面図、(b)はフォトマスクの平面図、(c)
は形成された回路を示す平面図である。
2A and 2B show another embodiment of the exposure process of the present invention, in which FIG. 2A is a sectional view of a state in which a circuit board is covered with a photomask, FIG. 2B is a plan view of the photomask, and FIG.
FIG. 6 is a plan view showing a formed circuit.

【図3】本発明の立体回路板の製造工程の一例を示すも
のであり、(a)乃至(d)はその前半部の各工程の断
面図である。
FIG. 3 shows an example of a process for manufacturing a three-dimensional circuit board according to the present invention, and FIGS. 3 (a) to 3 (d) are cross-sectional views of each process of the first half thereof.

【図4】本発明の立体回路板の製造工程の一例を示すも
のであり、(a)乃至(d)はその後半部の各工程の断
面図である。
FIG. 4 shows an example of a process for manufacturing a three-dimensional circuit board according to the present invention, and FIGS. 4 (a) to 4 (d) are cross-sectional views of each process of the latter half thereof.

【図5】立体回路板の完成状態の斜視図である。FIG. 5 is a perspective view of a completed three-dimensional circuit board.

【図6】本発明の立体回路板の製造工程の他例を示すも
のであり、(a)乃至(d)はその前半部の各工程の断
面図である。
FIG. 6 shows another example of the manufacturing process of the three-dimensional circuit board of the present invention, and (a) to (d) are cross-sectional views of each process of the first half part thereof.

【図7】本発明の立体回路板の製造工程の他例を示すも
のであり、(a)乃至(c)はその後半部の各工程の断
面図である。
FIG. 7 shows another example of the manufacturing process of the three-dimensional circuit board of the present invention, and (a) to (c) are cross-sectional views of each process of the latter half thereof.

【図8】本発明におけるフォトマスクの位置合わせの一
実施例を示す分解斜視図である。
FIG. 8 is an exploded perspective view showing an example of alignment of the photomask according to the present invention.

【図9】同上の実施例の断面図である。FIG. 9 is a sectional view of the above-mentioned embodiment.

【図10】本発明における露光工程の第1回目の露光操
作を示すものであり、(a)は断面図、(b)は平面
図、(c)は露光後の平面図である。
FIG. 10 shows the first exposure operation of the exposure step in the present invention, (a) is a sectional view, (b) is a plan view, and (c) is a plan view after exposure.

【図11】同上における露光工程の第2回目の露光操作
を示すものであり、(a)は断面図、(b)は平面図、
(c)は露光後の平面図である。
FIG. 11 is a diagram showing a second exposure operation of the exposure step in the same as above, (a) is a sectional view, (b) is a plan view,
(C) is a plan view after exposure.

【図12】同上の露光によって回路形成された立体回路
板を示すものであり、(a)は正面図、(b)は平面図
である。
12A and 12B show a three-dimensional circuit board on which a circuit is formed by the above exposure, FIG. 12A being a front view and FIG. 12B being a plan view.

【図13】本発明におけるフォトマスクの位置合わせの
一実施例を示すものであり、(a)は分解斜視図、
(b)は斜視図である。
FIG. 13 shows an embodiment of alignment of a photomask according to the present invention, in which (a) is an exploded perspective view,
(B) is a perspective view.

【図14】同上の実施例を示すものであり(a),
(b),(b)はそれぞれ断面図である。
FIG. 14 shows an embodiment of the above (a),
(B), (b) is sectional drawing, respectively.

【図15】同上の他の実施例を示すものであり(a)は
フォトマスクの平面図、(b)は回路基板とフォトマス
クの一部の拡大した断面図である。
15A and 15B show another embodiment of the above, wherein FIG. 15A is a plan view of a photomask, and FIG. 15B is an enlarged cross-sectional view of a part of the circuit board and the photomask.

【図16】本発明におけるフォトマスクの位置合わせの
他の実施例を示すものであり、(a)は断面図、(b)
は平面図である。
16A and 16B show another embodiment of the alignment of the photomask according to the present invention, in which FIG. 16A is a sectional view and FIG.
Is a plan view.

【図17】同上の実施例に用いる支持棒を示すものであ
り、(a)はフォトマスクに取り付けた状態の正面図、
(b)は斜視図である。
FIG. 17 is a view showing a supporting rod used in the above-mentioned embodiment, FIG. 17 (a) is a front view showing a state where it is attached to a photomask,
(B) is a perspective view.

【図18】本発明におけるフォトマスクの位置合わせの
さらに他の実施例を示すものであり、(a)は回路基板
の斜視図、(b)はフォトマスクの斜視図、(c)は回
路基板にフォトマスクをセットした状態の斜視図であ
る。
18A and 18B show still another embodiment of alignment of a photomask according to the present invention, wherein FIG. 18A is a perspective view of a circuit board, FIG. 18B is a perspective view of a photomask, and FIG. It is a perspective view of the state which set the photomask to.

【図19】同上のさらに他の実施例を示すものであり、
(a)は断面図、(b)はフォトマスクの平面図、
(c)はフォトマスクの一部の拡大した断面図である。
FIG. 19 shows still another embodiment of the above,
(A) is a sectional view, (b) is a plan view of a photomask,
(C) is an enlarged sectional view of a part of the photomask.

【図20】本発明におけるフォトマスクの位置合わせの
さらに他の実施例を示すものであり、(a)乃至(e)
は断面図である。
FIG. 20 shows still another embodiment of the alignment of the photomask according to the present invention, which is (a) to (e).
Is a sectional view.

【図21】本発明におけるコリメータを用いて露光をお
こなうようにした実施例を示す断面図である。
FIG. 21 is a sectional view showing an example in which exposure is performed using the collimator according to the present invention.

【図22】本発明における複数枚のフォトマスクを用い
て露光をおこなうようにした実施例を示すものであり、
(a)は断面図、(b)は作用を説明する断面図であ
る。
FIG. 22 is a view showing an embodiment in which exposure is performed using a plurality of photomasks according to the present invention,
(A) is sectional drawing, (b) is sectional drawing explaining an effect | action.

【図23】同上のフォトマスクの製造を示すものであ
り、(a)乃至(e)は各工程の断面図である。
FIG. 23 is a view showing the manufacture of the above photomask, and FIGS. 23A to 23E are cross-sectional views of each step.

【図24】同上のフォトマスクを用いた実施例を示す断
面図である。
FIG. 24 is a cross-sectional view showing an example using the above photomask.

【図25】本発明における表裏に光非透過部を設けて形
成したフォトマスクを用いて露光をおこなうようにした
実施例を示すものであり、(a)は断面図、(b)は作
用を説明する断面図である。
FIG. 25 shows an embodiment in which a photomask formed by providing light non-transmissive portions on the front and back sides of the present invention is used for exposure, (a) is a cross-sectional view, and (b) shows the operation. It is sectional drawing explaining.

【図26】同上のフォトマスクの製造を示すものであ
り、(a)乃至(d)は各工程の断面図である。
FIG. 26 shows the manufacture of the above photomask, and FIGS. 26A to 26D are cross-sectional views of each step.

【図27】本発明におけるレーザー光を用いて露光をお
こなうようにした実施例を示す断面図である。
FIG. 27 is a cross-sectional view showing an example in which exposure is performed using laser light according to the present invention.

【図28】本発明におけるピンホールを用いて露光をお
こなうようにした実施例を示す断面図である。
FIG. 28 is a cross-sectional view showing an embodiment in which exposure is performed using pinholes according to the present invention.

【図29】本発明における太陽光を用いて露光をおこな
うようにした実施例を示す断面図である。
FIG. 29 is a sectional view showing an example in which exposure is performed using sunlight according to the present invention.

【図30】従来における露光工程の一例を示す概略図で
ある。
FIG. 30 is a schematic view showing an example of a conventional exposure process.

【図31】従来における露光工程の他例を示すものであ
り、(a)は回路基板にフォトマスクを被覆した状態の
断面図、(b)はフォトマスクの平面図、(c)は形成
された回路を示す平面図である。
FIG. 31 shows another example of a conventional exposure process, in which (a) is a cross-sectional view of a circuit board covered with a photomask, (b) is a plan view of the photomask, and (c) is formed. It is a top view which shows the circuit.

【図32】従来における露光工程のさらに他例を示すも
のであり、(a)は回路基板にフォトマスクを被覆した
状態の断面図、(b)はフォトマスクの平面図、(c)
は形成された回路を示す平面図である。
32A and 32B show another example of a conventional exposure process, in which FIG. 32A is a cross-sectional view of a state in which a circuit board is covered with a photomask, FIG. 32B is a plan view of the photomask, and FIG.
FIG. 6 is a plan view showing a formed circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 回路基板 3 フォトレジスト 4 フォトマスク 4a 光透過部 4b 光非透過部 4′ 露光マスク 4″ 遮光マスク 6 回路 10 位置合わせ部 11 回路基板固定治具 12 支持棒 51 コリメータ 52 光学レンズ 53 ピンホール 54 光学レンズ 55 遮光板 56 レーザー光 57 太陽光 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Circuit board 3 Photoresist 4 Photomask 4a Light transmitting part 4b Light non-transmitting part 4'Exposure mask 4 "Light shielding mask 6 Circuit 10 Positioning part 11 Circuit board fixing jig 12 Support bar 51 Collimator 52 Optical lens 53 Pinhole 54 Optical lens 55 Light shield 56 Laser light 57 Sunlight

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年8月9日[Submission date] August 9, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0037[Name of item to be corrected] 0037

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0037】また、フォトマスク4を複数段に分けて用
いるにあたって、深い凹部9bのみに部分的なフォトマ
スク4Aを重ねるようにすることもできる。すなわち図
8に示すように回路基板1の深い凹部9bの平面形状に
合わせてフォトマスク4Aを作成し、またフォトマスク
4にはフォトマスク4Aの形状に合わせて光を透過させ
る光透過部4c(図8の破線の間の部分)が形成してあ
る。勿論これらのフォトマスク4,4Aには回路形成す
るための光透過部4aや光非透過部4bがパターン形状
に形成してある。そして、図9に示すようにフォトマス
ク4Aを回路基板1の深い凹部9bに重ねると共にフォ
トマスク4を回路基板1の上の段1aに重ねる。このと
き、フォトマスク4の光透過部4cがフォトマスク4A
に平行光の照射方向に対向するようにフォトマスク4と
フォトマスク4Aを位置合わせして配置するものであ
り、フォトマスク4Aは凹部9bの平面形状に合わせて
外形を形成してあるために凹部9bの形状に合わせてフ
ォトマスク4Aを置くことによって位置決めすることが
できるが、フォトマスク4は図9の実施例では回路基板
固定治具11を用いて位置合わせするようにしてある。
すなわち、回路基板固定治具11は上面に回路基板1の
平面形状と適合する凹所20を設けて形成してあり、回
路基板固定治具11の端部の上面にねじ穴21を設ける
と共にフォトマスク4の四隅に位置決め孔22を設け、
そして凹所20に回路基板1をはめ込むことによって回
路基板固定治具11に回路基板1を位置決めした状態で
セットし、また位置決め孔22に固定ねじ23を通して
ねじ穴21に螺合することによってフォトマスク4を回
路基板固定治具11に位置決めした状態でセットし、こ
のように回路基板固定治具11に対して回路基板1とフ
ォトマスク4をそれぞれ位置決めすることによって、回
路基板固定治具11を介して回路基板1とフォトマスク
4を位置決めすることができるものである。尚、フォト
マスク4の位置決めは図9のように固定ねじ23などの
治具を用いる方法の他に、後述する図13、図14、図
15、図16、図18、図19、図20などの方法によ
っておこなうこともできる。そして、このようにフォト
マスク4とフォトマスク4Aを位置決めすることによっ
てフォトマスク4とフォトマスク4Aを相互に位置合わ
せすることができるのである。 ─────────────────────────────────────────────────────
When the photomask 4 is divided into a plurality of stages and used, the photomask 4A may be partially overlapped with only the deep recess 9b. That is, as shown in FIG. 8, a photomask 4A is formed according to the planar shape of the deep recess 9b of the circuit board 1, and the photomask 4 has a light transmitting portion 4c (which transmits light according to the shape of the photomask 4A). The portion between the broken lines in FIG. 8) is formed. Of course, these photomasks 4 and 4A are formed with a light transmitting portion 4a and a light non-transmitting portion 4b for forming a circuit in a pattern shape. Then, as shown in FIG. 9, the photomask 4A is superposed on the deep recess 9b of the circuit board 1 and the photomask 4 is superposed on the step 1a on the circuit board 1. At this time, the light transmitting portion 4c of the photomask 4 is changed to the photomask 4A.
The photomask 4 and the photomask 4A are aligned and arranged so as to face each other in the irradiation direction of the parallel light. The photomask 4A has an outer shape formed in accordance with the planar shape of the recess 9b. can position-decided Mesuru by placing a photomask 4A in accordance with the shape of 9b, the photomask 4 in the embodiment of FIG. 9 are so as to align with the circuit board fixing jig 11.
That is, the circuit board fixing jig 11 is formed by forming a recess 20 on the upper surface that matches the planar shape of the circuit board 1. The circuit board fixing jig 11 is provided with screw holes 21 on the upper surface of the end portion of the circuit board fixing jig 11. Positioning holes 22 are provided at the four corners of the mask 4,
Then, the circuit board 1 is set in the circuit board fixing jig 11 by fitting the circuit board 1 into the recess 20, and the fixing screw 23 is inserted into the positioning hole 22 and screwed into the screw hole 21 to form a photomask. 4 is set in a state where it is positioned on the circuit board fixing jig 11, and the circuit board 1 and the photomask 4 are respectively positioned with respect to the circuit board fixing jig 11 in this way. The circuit board 1 and the photomask 4 can be positioned with each other. In addition to positioning the photomask 4 by using a jig such as the fixing screw 23 as shown in FIG. 9, it will be described later with reference to FIGS. 13, 14, 15, 16, 18, 18, 19, and 20. It can also be done by the method. Then, by positioning the photomask 4 and the photomask 4A in this manner, the photomask 4 and the photomask 4A can be aligned with each other. ─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年10月21日[Submission date] October 21, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】図14[Name of item to be corrected] Fig. 14

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図14】同上の実施例を示すものであり(a),
(b),()はそれぞれ断面図である。
FIG. 14 shows an embodiment of the above (a),
(B), ( c ) is sectional drawing, respectively.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 手塚 義隆 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 大谷 隆児 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Yoshitaka Tezuka 1048, Kadoma, Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Works Co., Ltd. (72) Takako Otani, 1048, Kadoma, Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Works, Ltd.

Claims (14)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 樹脂成形された立体的な回路基板の表面
にフォトレジストを塗着し、この上に平板状のフォトマ
スクを重ねて平行光で露光した後に現像する工程を含ん
で回路基板を製造するにあたって、フォトマスクと回路
基板の回路形成表面との間の間隔に伴う平行光の広がり
に応じた寸法調整をした光透過部を形成したフォトマス
クを用いて露光をおこなうことを特徴とする立体回路板
の製造方法。
1. A circuit board including a step of coating a photoresist on the surface of a three-dimensional resin-molded circuit board, superimposing a flat photomask on the surface, exposing with parallel light, and then developing. In manufacturing, it is characterized in that exposure is performed using a photomask formed with a light transmitting portion whose size is adjusted according to the spread of parallel light with the distance between the photomask and the circuit forming surface of the circuit board. Manufacturing method of three-dimensional circuit board.
【請求項2】 樹脂成形された立体的な回路基板の表面
にフォトレジストを塗着し、この上に平板状のフォトマ
スクを重ねて平行光で露光した後に現像する工程を含ん
で回路基板を製造するにあたって、フォトマスクと回路
基板の回路形成表面との間の間隔に応じて複数段に分け
てフォトマスクを重ねて露光をおこなうことを特徴とす
る立体回路板の製造方法。
2. A circuit board including a step of coating a photoresist on the surface of a three-dimensional resin-molded circuit board, overlaying a flat photomask on the surface, exposing with parallel light, and then developing. A method of manufacturing a three-dimensional circuit board, characterized in that, in manufacturing, the photomask is divided into a plurality of stages according to the distance between the photomask and the circuit forming surface of the circuit board, and the photomasks are overlapped and exposed.
【請求項3】 請求項2のフォトマスクとして、フォト
マスクと回路基板の回路形成表面との間の間隔に伴う平
行光の広がりに応じた寸法調整をした光透過部を形成し
たフォトマスクを用いることを特徴とする立体回路板の
製造方法。
3. The photomask according to claim 2, wherein the photomask is formed with a light transmitting portion whose size is adjusted according to the spread of parallel light with the distance between the photomask and the circuit forming surface of the circuit board. A method for manufacturing a three-dimensional circuit board characterized by the above.
【請求項4】 請求項1乃至3項のいずれかに記載の樹
脂成形された立体的な回路基板として、樹脂成形時に凹
部又は凸部を一体成形して位置合わせ部を設けたものを
用い、位置合わせ部によって位置合わせした状態でフォ
トマスクを回路基板に重ねることを特徴とする立体回路
板の製造方法。
4. The three-dimensional resin-molded circuit board according to any one of claims 1 to 3, wherein a concave portion or a convex portion is integrally molded at the time of resin molding and an alignment portion is provided. A method for manufacturing a three-dimensional circuit board, comprising: stacking a photomask on a circuit board in a state of being aligned by an alignment unit.
【請求項5】 回路基板固定治具に回路基板を位置決め
してセットし、フォトマスクに脱着自在に設けた支持棒
を回路基板固定治具に結合させることによって回路基板
にフォトマスクを位置合わせした状態でフォトマスクを
回路基板に重ねることを特徴とする請求項1乃至3のい
ずれかに記載の立体回路板の製造方法。
5. A circuit board is positioned and set on a circuit board fixing jig, and a photomask is aligned with the circuit board by connecting a supporting rod detachably attached to the photomask to the circuit board fixing jig. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 1, wherein a photomask is superposed on the circuit board in this state.
【請求項6】 複数段の平板状のフォトマスクのうち、
一段のフォトマスクに光透過部がパターンニングして設
けられた露光マスクを用いると共に他の段のフォトマス
クを光を透過しない遮光マスクを用いて露光をおこな
い、順次露光マスクと遮光マスクを入れ換えて複数回露
光をおこなうことを特徴とする請求項2乃至5のいずれ
かに記載の立体回路板の製造方法。
6. Among a plurality of stages of flat photomasks,
Use an exposure mask with a light-transmitting portion patterned on one stage of the photomask, and perform exposure on a photomask of the other stage using a light-shielding mask that does not transmit light, and replace the exposure mask with the light-shielding mask in sequence. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 2, wherein the exposure is performed a plurality of times.
【請求項7】 複数段の平板状のフォトマスクのうち、
隣合うフォトマスクの端部同士を平行光の照射方向に重
複させてフォトマスクを配置することを特徴とする請求
項2乃至6のいずれかに記載の立体回路板の製造方法。
7. Among a plurality of flat photomasks,
7. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 2, wherein the photomasks are arranged such that the ends of adjacent photomasks overlap each other in the irradiation direction of the parallel light.
【請求項8】 隣合うフォトマスクの端部同士を平行光
の照射方向に重複させてフォトマスクを配置するにあた
って、重ね合わせる部分においてフォトマスク同士の位
置合わせをおこなうことを特徴とする請求項7に記載の
立体回路板の製造方法。
8. The photomasks are aligned in the irradiation direction of the parallel light by arranging the photomasks so that the end portions of the adjacent photomasks overlap each other, and the photomasks are aligned with each other in the overlapping portion. A method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to.
【請求項9】 コリメータによって平行度を高めた平行
光で露光をおこなうことを特徴とする請求項1乃至8の
いずれかに記載の立体回路板の製造方法。
9. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 1, wherein the exposure is carried out by parallel light whose parallelism is increased by a collimator.
【請求項10】 同じ露光パターンを形成した平板状の
フォトマスクを複数枚用い、平行光の照射方向に各露光
パターンが揃うように所定間隔をおいて複数枚のフォト
マスクを平行光の照射方向に重ねて露光をおこなうこと
を特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載の立体回
路板の製造方法。
10. A plurality of plate-shaped photomasks on which the same exposure pattern is formed are used, and a plurality of photomasks are arranged at a predetermined interval so that the exposure patterns are aligned in the parallel light irradiation direction. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to any one of claims 1 to 9, further comprising:
【請求項11】 表面と裏面にそれぞれ同じ露光パター
ンを設けて形成したフォトマスクを用いて露光をおこな
うことを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載
の立体回路板の製造方法。
11. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 1, wherein the exposure is performed using a photomask formed by providing the same exposure pattern on the front surface and the back surface, respectively.
【請求項12】 レーザー光を光学レンズを用いて光束
を広げた平行光とし、この平行光で露光をおこなうこと
を特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の立体
回路板の製造方法。
12. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 1, wherein the laser light is converted into parallel light obtained by expanding a light flux using an optical lens, and the parallel light is used for exposure. .
【請求項13】 ピンホールを通過させた光を光学レン
ズで平行光にし、この平行光で露光をおこなうことを特
徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載の立体回路
板の製造方法。
13. The method for manufacturing a three-dimensional circuit board according to claim 1, wherein the light passed through the pinhole is converted into parallel light by an optical lens, and the parallel light is used for exposure.
【請求項14】 二次光を遮蔽板で遮蔽しながら太陽光
を平行光として導入し、この太陽光の平行光で露光をお
こなうことを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに
記載の立体回路板の製造方法。
14. The method according to claim 1, wherein the sunlight is introduced as parallel light while the secondary light is blocked by the blocking plate, and the parallel light of the sunlight is used for exposure. Manufacturing method of three-dimensional circuit board.
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