JPH06256475A - Epoxy resin composition for photosemiconductor element sealing - Google Patents

Epoxy resin composition for photosemiconductor element sealing

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JPH06256475A
JPH06256475A JP4787493A JP4787493A JPH06256475A JP H06256475 A JPH06256475 A JP H06256475A JP 4787493 A JP4787493 A JP 4787493A JP 4787493 A JP4787493 A JP 4787493A JP H06256475 A JPH06256475 A JP H06256475A
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JP
Japan
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epoxy resin
bisphenol
resin composition
element sealing
tert
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Application number
JP4787493A
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Japanese (ja)
Inventor
Masahiko Kosaka
正彦 小坂
Satoru Tsuchida
悟 土田
Kozo Hirokawa
孝三 広川
Kohei Yasuzawa
興平 安沢
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Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To provide a photosemiconductor device excellent in resistance to humidity and thermal shock and significantly improved in transparency. CONSTITUTION:The objective composition comprises an epoxy resin, a bisphenolic novolak, a curing accelerator, and at least one of an organophosphorus compound, a thioether, and a hindered phenol.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、耐湿信頼性、耐熱衝撃
信頼性および透明性に優れた光半導体装置に適するエポ
キシ樹脂組成物に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an epoxy resin composition suitable for optical semiconductor devices having excellent humidity resistance, thermal shock resistance reliability and transparency.

【0002】[0002]

【従来の技術】発光素子および受光素子などの光半導体
素子の封止材料として、透明性、耐熱性、電気特性など
に優れるという観点から、一般にエポキシ樹脂組成物が
使用されている。この際、硬化剤としては透明性、成形
性に優れることから酸無水物が多用されている。
2. Description of the Related Art Epoxy resin compositions are generally used as a sealing material for optical semiconductor elements such as light emitting elements and light receiving elements, from the viewpoint of excellent transparency, heat resistance and electrical characteristics. At this time, an acid anhydride is often used as a curing agent because of its excellent transparency and moldability.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、硬化剤
として酸無水物を使用した場合、硬化体の耐湿性、耐熱
衝撃性が不十分であった。一方フェノールノボラックを
使用した場合、耐湿性、耐熱衝撃性には優れているが、
熱により著しく着色するという欠点を有している。 本
発明の目的は、耐湿信頼性、耐熱衝撃信頼性に優れ、か
つ透明性が著しく改善された光半導体装置を提供するこ
とにある。
However, when an acid anhydride is used as a curing agent, the moisture resistance and thermal shock resistance of the cured product are insufficient. On the other hand, when phenol novolac is used, it has excellent moisture resistance and thermal shock resistance,
It has the drawback of being markedly colored by heat. An object of the present invention is to provide an optical semiconductor device which is excellent in moisture resistance reliability and thermal shock resistance reliability and whose transparency is remarkably improved.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、
(A)エポキシ樹脂、(B)ビスフェノール系ノボラッ
ク樹脂、(C)硬化促進剤および下記(D)〜(F)成
分のうち少なくとも一成分を含有してなる光半導体素子
封止用エポキシ樹脂組成物である。 (D)有機りん化合物 (E)チオエーテル化合物 (F)ヒンダードフェノール化合物 本発明者らは、耐湿性、耐熱衝撃性に優れるフェノール
ノボラック樹脂に着目し、熱による着色を防止するため
一連の研究を重ねる中で、フェノールノボラック樹脂の
分子構造中に熱酸化を起こし易い構造があるのではない
かと着想し、これを中心に研究を進めた。その結果、上
記ビスフェノール系ノボラック樹脂を用いると、熱酸化
が起こりにくく、熱による硬化体の着色が低減されるこ
とがわかった。さらに、酸化防止剤として知られている
数種類の化合物を併せて用いることにより、硬化体の着
色がほとんど起こらなくなることを見出し本発明に到達
した。
That is, the present invention is as follows.
(A) Epoxy resin, (B) Bisphenol-based novolac resin, (C) Curing accelerator, and epoxy resin composition for optical semiconductor element encapsulation containing at least one of the following components (D) to (F) Is. (D) Organophosphorus compound (E) Thioether compound (F) Hindered phenol compound The present inventors focused their attention on a phenol novolac resin excellent in moisture resistance and thermal shock resistance, and conducted a series of researches for preventing coloring due to heat. During the process, I thought that the molecular structure of the phenol novolac resin may have a structure that is prone to thermal oxidation, and proceeded with this research. As a result, it was found that when the above bisphenol novolac resin is used, thermal oxidation is unlikely to occur and coloring of the cured product due to heat is reduced. Furthermore, they have found that the use of several kinds of compounds known as antioxidants in combination causes almost no coloration of the cured product, and has reached the present invention.

【0005】本発明に使用されるエポキシ樹脂(A成
分)としては、特に制限されないが、硬化体の光学特性
を考慮して着色の少ないものが好ましい。例えば、ビス
フェノールA型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型
エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェ
ノールノボラック型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹
脂、トリグルシジルイソシアヌレート等の含複素環エポ
キシ樹脂等が挙げられ、単独でもしくは併せて用いられ
る。
The epoxy resin (component A) used in the present invention is not particularly limited, but it is preferable that the epoxy resin is less colored in consideration of the optical characteristics of the cured product. Examples thereof include bisphenol A type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, and heterocyclic epoxy resin containing triglycidyl isocyanurate. , Alone or in combination.

【0006】本発明に使用されるビスフェノール系ノボ
ラック樹脂(B成分)は、通常のフェノールノボラック
樹脂と同様の方法で合成される。すなわち、ビスフェノ
ール類とホルムアルデヒドを触媒存在下で加熱、縮合重
合させ、反応後脱水によりビスフェノール系ノボラック
樹脂が得られる。このビスフェノール系ノボラック樹脂
の合成に使用されるビスフェノール類としては、好まし
くはビスフェノールA、水添ビスフェノールA、ビスフ
ェノールAF、ビスフェノールC、ビスフェノールZ等
が挙げられる。ホルムアルデヒド源としては、ホルマリ
ン、パラホルムアルデヒド等、特に限定するものではな
い。ビスフェノールのフェノール性水酸基に対するホル
ムアルデヒドのモル比は0.3〜1.0、好ましくは
0.5〜0.7にする必要がある。モル比が0.3以下
であると未反応ビスフェノールが多く残り、酸化物の架
橋密度や耐熱性などが低下し、1.0以上では樹脂合成
中にゲル化することがある。ビスフェノール系ノボラッ
ク樹脂合成触媒としては、ノボラック合成触媒であるな
らば特に限定するものではない。例えば、シュウ酸、ア
ルカリ土類金属の水酸化物、酢酸塩またはその他金属の
ハロゲン化物等が挙げられる。エポキシ樹脂とビスフェ
ノール系ノボラック樹脂の配合割合は、エポキシ基1.
0当量に対して、フェノール性水酸基が0.7〜2.0
当量、好ましくは0.9〜1.2当量になるようにする
のが望ましい。この範囲を越えた場合、反応が不十分と
なり硬化体の物性が低下するためである。
The bisphenol type novolak resin (component B) used in the present invention is synthesized by the same method as that for ordinary phenol novolac resin. That is, bisphenols and formaldehyde are heated in the presence of a catalyst for condensation polymerization, and after the reaction, dehydration gives a bisphenol novolac resin. The bisphenols used in the synthesis of the bisphenol novolac resin are preferably bisphenol A, hydrogenated bisphenol A, bisphenol AF, bisphenol C and bisphenol Z. The formaldehyde source is not particularly limited and includes formalin and paraformaldehyde. The molar ratio of formaldehyde to the phenolic hydroxyl group of bisphenol should be 0.3 to 1.0, preferably 0.5 to 0.7. If the molar ratio is 0.3 or less, a large amount of unreacted bisphenol remains, and the crosslink density and heat resistance of the oxide decrease, and if 1.0 or more, gelation may occur during resin synthesis. The bisphenol-based novolac resin synthesis catalyst is not particularly limited as long as it is a novolac synthesis catalyst. Examples thereof include oxalic acid, hydroxides of alkaline earth metals, acetates, and halides of other metals. The mixing ratio of the epoxy resin and the bisphenol-based novolac resin is 1.
Phenolic hydroxyl group is 0.7 to 2.0 with respect to 0 equivalent.
It is desirable that the equivalent, preferably 0.9 to 1.2 equivalent. If it exceeds this range, the reaction becomes insufficient and the physical properties of the cured product deteriorate.

【0007】本発明に使用される硬化促進剤(C成分)
としては従来公知のものでよく、例えばイミダゾール
類、DBUおよびその塩、三級アミン、四級アンモニウ
ム塩、四級ホスホニウム塩などが挙げられる。その使用
量は、エポキシ樹脂とビスフェノール系ノボラック樹脂
との合計量に対して0.05〜10%、より好ましくは
0.1〜5%にすればよい。
Curing accelerator used in the present invention (component C)
Examples of the known compound include imidazoles, DBU and salts thereof, tertiary amines, quaternary ammonium salts, and quaternary phosphonium salts. The amount used may be 0.05 to 10%, more preferably 0.1 to 5%, based on the total amount of the epoxy resin and the bisphenol-based novolac resin.

【0008】さらに、本発明に使用される(D)〜
(F)成分は、エポキシ樹脂、ビスフェノール系ノボラ
ック樹脂の熱により着色を防ぐための酸化防止剤であ
る。これらの成分は、特にエポキシ樹脂、ビスフェノー
ル系ノボラック樹脂との相溶性の良いものが好適であ
る。
Further, (D) to be used in the present invention
The component (F) is an antioxidant for preventing the epoxy resin and the bisphenol novolac resin from being colored by heat. As these components, those having good compatibility with the epoxy resin and the bisphenol-based novolac resin are particularly preferable.

【0009】有機りん化合物(D成分)としては、ジフ
ェニルイソデシルホスファイト、ジイソデシルペンタエ
リスリトールジイソホスファイト、3,9−ビス〔1,
1−ジメチル−2−{β−(3−tert−ブチル−4
−ヒドロキシ−トリフェニルホスファイト、トリスノニ
ルフェニルホスファイト、トリス(2,4−ジ−ter
t−ブチルフェニル)ホスファイト、9,10−ジヒド
ロ−9−オキサ−10−ホスファフェナントレン−10
−オキシド等を挙げることができる
As the organic phosphorus compound (component D), diphenylisodecyl phosphite, diisodecyl pentaerythritol diisophosphite, 3,9-bis [1,
1-dimethyl-2- {β- (3-tert-butyl-4
-Hydroxy-triphenylphosphite, trisnonylphenylphosphite, tris (2,4-di-ter)
t-Butylphenyl) phosphite, 9,10-dihydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10
-Oxide and the like can be mentioned

【0010】チオエーテル化合物(E成分)としては、
ジミリスチル−3,3′−チオジプロピオネート、ジス
テアリル−3,3′−チオジプロピオネート、ペンタエ
リスリトール−テトラキス(β−ラウリルチオプロピオ
ネート)、テトラキス〔メチレン−3−(ドデシルチ
オ)プロピオネート〕メタン、ビス〔2−メチル−4−
{3−n−ミリスチルチオプロピオニルオキシ}−5−
tert−ブチルフェニル〕スルフィド等を挙げること
ができる。
As the thioether compound (component E),
Dimyristyl-3,3'-thiodipropionate, distearyl-3,3'-thiodipropionate, pentaerythritol-tetrakis (β-laurylthiopropionate), tetrakis [methylene-3- (dodecylthio) propionate] Methane, bis [2-methyl-4-
{3-n-myristylthiopropionyloxy} -5-
Examples include tert-butylphenyl] sulfide.

【0011】またヒンダードフェノール化合物(F成
分)としては、2,6−ジ−tert−ブチル−4−メ
チルフェノール、2,2′−メチレン−ビス(4−メチ
ル−6−tert−ブチルフェノール、1,3,5−ト
リス(4−tert−ブチル−3−ヒドロキシ−2,6
−ジメチルベンジル)イソシアヌレート、テトラキス
〔メチレン−3−(3′,5′−ジ−tert−ブチル
−4′−ヒドロキシフェニル)プロピオネート〕メタ
ン、3,9−ビス〔1,1−ジメチル−2−{β−(3
−tert−ブチル−4−ヒドロキシ−5−メチルフェ
ニル〕プロピオニルオキシ}エチル〕−2,4,8,1
0−テトラオキサスピロ〔5.5〕ウンデカン、トリエ
チレングリコール−ビス〔3−(3−tert−ブチル
−5−メチル−4−ヒドロキシフェニル)プロピオネー
ト〕、1,6−ヘキサンジオール−ビス〔3−(3,5
−ジ−tert−ブチル−4−ヒドロキシフェニル)プ
ロピオネート〕、2,2−チオビス(4−メチル−6−
tert−ブチルフェノール)等を挙げることができ
る。
As the hindered phenol compound (F component), 2,6-di-tert-butyl-4-methylphenol, 2,2'-methylene-bis (4-methyl-6-tert-butylphenol), 1 , 3,5-Tris (4-tert-butyl-3-hydroxy-2,6
-Dimethylbenzyl) isocyanurate, tetrakis [methylene-3- (3 ', 5'-di-tert-butyl-4'-hydroxyphenyl) propionate] methane, 3,9-bis [1,1-dimethyl-2- {Β- (3
-Tert-butyl-4-hydroxy-5-methylphenyl] propionyloxy} ethyl] -2,4,8,1
0-tetraoxaspiro [5.5] undecane, triethylene glycol-bis [3- (3-tert-butyl-5-methyl-4-hydroxyphenyl) propionate], 1,6-hexanediol-bis [3- (3,5
-Di-tert-butyl-4-hydroxyphenyl) propionate], 2,2-thiobis (4-methyl-6-
(tert-butylphenol) and the like.

【0012】また、上記(D)〜(F)成分はそれぞれ
単独で使用しても良いが併せて用いることにより、より
優れた着色防止効果を得ることができる。なお、上記エ
ポキシ樹脂組成物には、上記成分以外に必要に応じて従
来公知の離型剤、着色剤、紫外線吸収剤、可視光線吸収
剤、赤外線吸収剤、変性剤、無機充填剤等の添加剤が用
いられる。
The components (D) to (F) may be used alone, but by using them in combination, a more excellent coloring preventing effect can be obtained. In addition to the above components, a conventionally known release agent, colorant, ultraviolet absorber, visible light absorber, infrared absorber, modifier, inorganic filler, etc. are added to the epoxy resin composition as required. Agents are used.

【0013】[0013]

【実施例】本発明を実施例により、さらに詳細に説明す
るが、本発明はこれに限定されるものではない。なお、
以下の実施例における試験法を下記に示す。 (1)光透過率 分光光度計(日立製U−2000型)を使用し、厚さ2
mmの成形品について波長400〜600nmにおける
光透過率を測定した。 (2)ガラス転移温度 直径2mm、長さ20mmの成形品についてTMA(理
学社製TMA−8140型)を用い、5℃/分で昇温し
た時の成形品の伸び率が急変する温度とした。 (3)吸水率 直径50mm、厚さ2mmの成形品を純水中で1時間煮
沸したときの重量増加率とした。 (4)耐湿信頼性試験 上記エポキシ樹脂組成物で封止した評価用IC(外形寸
法:20×6.3×2.3mm)、ビン数:16)をプ
レッシャークッカー試験(PCT)処理後(121℃、
85%)導通試験を行い、断線したものを不良品とし
た。 (5)耐熱衝撃信頼性試験 (4)と同様の評価用ICをヒートサイクル処理後(−
40〜125℃:各30分)導通試験を行い、断線した
ものを不良品とした。
EXAMPLES The present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited thereto. In addition,
The test methods in the following examples are shown below. (1) Light transmittance Using a spectrophotometer (Hitachi U-2000 type), thickness 2
The light transmittance at a wavelength of 400 to 600 nm was measured for the molded product of mm. (2) Glass transition temperature TMA (TMA-8140 type manufactured by Rigaku Co., Ltd.) was used for a molded product having a diameter of 2 mm and a length of 20 mm, and the temperature was set to a temperature at which the elongation of the molded product suddenly changed when the temperature was raised at 5 ° C / min. . (3) Water absorption rate The weight increase rate when a molded product having a diameter of 50 mm and a thickness of 2 mm was boiled in pure water for 1 hour was used. (4) Moisture resistance reliability test After the evaluation cooker sealed with the above epoxy resin composition (outer dimensions: 20 × 6.3 × 2.3 mm, number of bottles: 16) was processed by the pressure cooker test (PCT) (121 ℃,
(85%) Conduction test was performed, and the broken product was regarded as a defective product. (5) Thermal shock reliability test The same evaluation IC as in (4) was subjected to heat cycle treatment (-
Conductivity test was performed at 40 to 125 ° C. for 30 minutes each, and the broken wire was regarded as a defective product.

【0014】実施例1〜2 ビスフェノールA900g、37%ホルマリン200
g、シュウ酸9gを窒素ガスを流しながら4時間加熱還
流して反応させた後、120℃で2時間加熱し、常圧濃
縮する。さらに減圧脱水し、ビスフェノールAノボラッ
ク樹脂〔A〕を得た。これを下記の表1に従って配合
し、90℃の熱ロールにて10〜30分間混練後、冷却
粉砕し目的とする微粉末状のエポキシ樹脂組成物を得
た。次にこれらの樹脂組成物を各試験用金型を用い、成
形温度170℃でトランスファ成形(成形時間4分)
し、さらに170℃で3時間アフターキュアした。得ら
れた各種成形品の特性結果を併せて表1に示す。
Examples 1 and 2 900 g of bisphenol A, 37% formalin 200
g and 9 g of oxalic acid are heated and refluxed for 4 hours under a nitrogen gas flow to react, and then heated at 120 ° C. for 2 hours and concentrated under atmospheric pressure. Further, it was dehydrated under reduced pressure to obtain a bisphenol A novolac resin [A]. This was blended according to the following Table 1, kneaded with a hot roll at 90 ° C. for 10 to 30 minutes, and then cooled and pulverized to obtain a target fine powdery epoxy resin composition. Next, transfer molding of these resin compositions at a molding temperature of 170 ° C. (molding time of 4 minutes) using respective test dies
And further after-cured at 170 ° C. for 3 hours. Table 1 also shows the characteristic results of the various molded products obtained.

【0015】[0015]

【表1】 [Table 1]

【0016】比較例1〜2 表1に従って各原料を配合し、90℃の熱ロールにて2
0分間混練後冷却粉砕し、目的とする微粉末状のエポキ
シ樹脂組成物を得た。次にこれらの樹脂組成物を各試験
用金型を用い、成形温度170℃でトランスファ成形
(成形時間4分)し、さらに170℃で3時間アフター
キュアした。得られた各種成形品の特性結果を併せて表
1に示す。
Comparative Examples 1 and 2 The respective raw materials were blended in accordance with Table 1, and the ingredients were mixed with a hot roll at 90 ° C.
After kneading for 0 minutes, the mixture was cooled and ground to obtain the desired fine powdery epoxy resin composition. Next, these resin compositions were subjected to transfer molding (molding time: 4 minutes) at a molding temperature of 170 ° C. using each test mold, and after-cured at 170 ° C. for 3 hours. Table 1 also shows the characteristic results of the various molded products obtained.

【0017】比較例3 表1に従って各原料を配合し、90℃の熱ロールにて1
0分間混練後冷却粉砕し、目的とする微粉末状のエポキ
シ樹脂組成物を得た。次にこれらの樹脂組成物を各試験
用金型を用い、成形温度150℃でトランスファ成形
(成形時間4分)し、さらに150℃で3時間アフター
キュアした。得られた各種成形品の特性結果を併せて表
1に示す。
Comparative Example 3 Each raw material was blended in accordance with Table 1 and heated at 90.degree.
After kneading for 0 minutes, the mixture was cooled and ground to obtain the desired fine powdery epoxy resin composition. Next, these resin compositions were subjected to transfer molding (molding time 4 minutes) at a molding temperature of 150 ° C. by using each test mold, and after-cured at 150 ° C. for 3 hours. Table 1 also shows the characteristic results of the various molded products obtained.

【0018】以上の実施例及び比較例によって得られた
エポキシ樹脂組成物を用い、評価用ICをトランスファ
ーモールドし、さらにアフターキュアすることにより半
導体装置を得た。この半導体装置をPCT及びヒートサ
イクル試験した時の断線不良発生経過を、それぞれ第1
図および第2図に示す。また、第3図にそれぞれのエポ
キシ樹脂組成物の400〜600nmにおける光透過率
を示す。
Using the epoxy resin compositions obtained in the above Examples and Comparative Examples, the evaluation ICs were transfer-molded and after-cured to obtain semiconductor devices. The progress of disconnection failure during PCT and heat cycle tests of this semiconductor device
Shown in Figures and FIG. Further, FIG. 3 shows the light transmittance of each epoxy resin composition at 400 to 600 nm.

【0019】[0019]

【発明の効果】表1および第1〜3図の結果から明らか
なように、本発明によれば、耐熱性、耐湿性に優れ、か
つ光透過性の著しく改善された光半導体封止用エポキシ
樹脂組成物を得ることができ、これにより耐湿信頼性、
耐熱衝撃信頼性に優れ、かつ光透過性の著しく改善され
た光半導体装置を提供することができる。
As is clear from the results of Table 1 and FIGS. 1 to 3, according to the present invention, an epoxy for encapsulating an optical semiconductor, which is excellent in heat resistance and moisture resistance, and has remarkably improved light transmittance. It is possible to obtain a resin composition, and thereby the moisture resistance reliability,
It is possible to provide an optical semiconductor device having excellent thermal shock resistance reliability and significantly improved light transmittance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 PCT放置時間と不良発生率を示す線図であ
る。
FIG. 1 is a diagram showing a PCT leaving time and a failure occurrence rate.

【図2】 ヒートサイクル回数と不良発生率を示す線図
である。
FIG. 2 is a diagram showing the number of heat cycles and the defect occurrence rate.

【図3】 エポキシ樹脂組成物の400〜600nmに
おける光透過率を示す線図である
FIG. 3 is a diagram showing the light transmittance of an epoxy resin composition at 400 to 600 nm.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 23/29 23/31 (72)発明者 安沢 興平 茨城県結城市大字鹿窪1772−1 日立化成 工業株式会社南結城工場内─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (51) Int.Cl. 5 Identification number Internal reference number FI Technical indication location H01L 23/29 23/31 (72) Inventor Kohei Yasawa 1772-1 Kagoku, Yuki-shi, Ibaraki Hitachi Chemical Kogyo Minami Yuki Factory

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 (A)エポキシ樹脂、(B)ビスフェノ
ール系ノボラック樹脂、(C)硬化促進剤および下記
(D)〜(F)成分のうち少なくとも一成分を含有して
なることを特徴とする光半導体素子封止用エポキシ樹脂
組成物。 (D)有機りん化合物 (E)チオエーテル化合物 (F)ヒンダードフェノール化合物
1. A resin composition comprising (A) an epoxy resin, (B) a bisphenol novolac resin, (C) a curing accelerator, and at least one of the following components (D) to (F). An epoxy resin composition for encapsulating an optical semiconductor element. (D) Organophosphorus compound (E) Thioether compound (F) Hindered phenol compound
JP4787493A 1993-03-09 1993-03-09 Epoxy resin composition for photosemiconductor element sealing Pending JPH06256475A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6933332B2 (en) * 2001-12-27 2005-08-23 3M Innovative Properties Company Powdered epoxy composition
DE19534594B4 (en) * 1995-09-19 2007-07-26 Delo Industrieklebstoffe Gmbh & Co. Kg Cationic curing, flexible epoxy resin compositions and their use for applying thin layers

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