JPH06251184A - 光学的情報読取装置 - Google Patents
光学的情報読取装置Info
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- JPH06251184A JPH06251184A JP5036863A JP3686393A JPH06251184A JP H06251184 A JPH06251184 A JP H06251184A JP 5036863 A JP5036863 A JP 5036863A JP 3686393 A JP3686393 A JP 3686393A JP H06251184 A JPH06251184 A JP H06251184A
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Abstract
響を受けず、確実に光学的情報を読み取ることのできる
光学的情報読取装置を提供する。 【構成】 レーザ光源2からバーコードラベル6に光を
照射し、その反射光を集光レンズ12を介して光検出器
10に集光し、光検出器10から出力される受光信号を
2値化した後、その信号から光学的情報を読み取る装置
において、互いに異なる位置に二つの光検出器10a、
10bを配設し、ここから出力される受光信号毎に設け
られた2値化回路20a、20bにより、受光信号に鏡
面反射の影響があるか否かを判定する。この判定結果に
基づき信号選択制御部24が鏡面反射の影響を受けてい
ない受光信号を一つだけ選択し、信号選択回路22を制
御してこれを出力する。この選択された受光信号から光
学的情報を読み取ることにより、鏡面反射の影響を受け
ないで光学的情報の読取作業を行うことができる。
Description
情報が記載された読取対象から光学的情報を読み取る光
学的情報読取装置に関する。
読み取る光学的情報読取装置として、例えば図5に示す
ように、レーザ光源62から発光されたレーザ光をコリ
メーティングレンズ64で平行光線にし、ステッピング
モータ66によって図に示す矢印方向に往復回動される
スキャンミラー68に照射することにより、バーコード
が印刷されているバーコードラベル70を走査し、この
走査によってバーコードラベル70から反射してくる反
射光を再度スキャンミラー68で反射し、集光レンズ7
2を介して、受光光量に応じた電気信号を発生する光検
出器74に導くように構成された光学系と、光検出器7
4から出力される微弱な電気信号を必要な大きさまで増
幅する増幅回路76、増幅回路76により増幅された信
号を2値化する2値化回路78、2値化回路78から出
力される2値化信号の幅をカウントすることによりバー
コードのナローバーとワイドバーを判断するカウント部
80、および、カウント部80からの出力信号に基づき
バーコードを復号(デコード)し、そのデコード結果を
出力端子82aを介して外部に出力するデコード部82
からなる信号処理系と、ステッピングモータ66を駆動
するミラー駆動回路84、レーザ光源62を駆動する駆
動するレーザ駆動回路86等からなる駆動系と、レーザ
駆動回路86を介してレーザ光源62からレーザ光を発
光させ、ミラー駆動回路84を介してステッピングモー
タ66を駆動することによりスキャンミラー68を所定
周期(約50Hz)で往復回動させる制御部88からな
る制御系と、により構成されたバーコード読取装置60
が知られている。
82、および制御部88は、CPU、ROM、RAM等
を中心とするマイクロコンピュータからなる電子制御装
置(ECU)の一処理として実現される。
ード読取装置においては、光沢のある上質紙、ビニー
ル、ガラス等のような、光が照射された際に正反射成分
が大きい部材にバーコードが印刷されている場合、光が
照射される角度によっては、光検出器はバーコードが印
刷されている部材からの鏡面反射による光(正反射成
分)を受光するため、バーコードを正確に読み取ること
ができないことがあった。また、鏡面反射の影響を受け
て読み取りに失敗したときは、鏡面反射の影響を受けな
いように読取角度を変えて再度読み取りを試みることが
行われているが、何度も失敗する場合もあり、バーコー
ド読取装置の使い勝手が大きく損なわれているという問
題もあった。
ために、光学的情報の読取作業において鏡面反射の影響
を受けず、確実に光学的情報を読み取ることのできる光
学的情報読取装置を提供することを目的とする。
になされた請求項1に記載の発明は、図1に例示するよ
うに、光学的情報が記載された読取対象に光を照射する
光源手段と、前記読取対象から反射してくる反射光を受
光し、該受光した反射光に応じた受光信号を出力する受
光手段と、該受光手段からの受光信号より上記光学的情
報を読み取る読取手段と、を備えた光学的情報読取装置
において、上記受光手段を互いに異なる位置に複数配設
し、該各受光手段からの受光信号毎に、該受光信号が上
記読取対象が鏡面反射を起こしたことによる影響を受け
ているか否かを判定する鏡面反射判定手段と、該鏡面反
射判定手段により、鏡面反射の影響を受けていないと判
定された受光信号のうちの一つを上記読取手段に選択的
に入力する信号選択手段と、を備えたことを特徴とする
光学的情報読取装置を要旨としている。
に記載の光学的情報読取装置において、上記鏡面反射判
定手段が、上記各受光手段からの受光信号毎に、該受光
信号を積分し、更に該積分された受光信号に所定電圧を
加えることにより鏡面反射判定用の基準電圧を設定する
基準電圧設定手段と、該基準電圧設定手段により設定さ
れた基準電圧と上記受光信号とを大小比較し、上記受光
信号が上記基準電圧より大きいときに上記受光信号は鏡
面反射の影響を受けていると判定する判定手段と、を備
えたことを特徴とする光学的情報読取装置を要旨として
いる。
的情報読取装置においては、光源手段が光学的情報が記
載された読取対象に光を照射し、受光手段がその光の照
射によって読取対象から反射してくる反射光を受光し、
その反射光に応じた受光信号を出力する。また受光手段
は互いに異なった位置に複数配設されており、鏡面反射
判定手段は、これら複数の受光手段から出力される受光
信号毎に、受光信号が鏡面反射の影響を受けているか否
かを判定する。そしてこの判定結果に従い、信号選択手
段は、鏡面反射による影響を受けていない受光信号の中
から一つの受光信号を選択し、読取手段へ入力する。読
取手段は、この選択された受光信号より光学的情報を読
み取る。
置によれば、基準電圧設定手段により受光信号を積分し
更に所定電圧を加えることで設定される基準電圧を、受
光信号と共に判定手段に入力し、受光信号と基準電圧と
を大小比較することにより受光信号が鏡面反射の影響を
受けているか否かの判定を行なう。
る。図1は、本発明が適用された実施例のバーコード読
取装置全体の構成を表す説明図である。
読取装置1は、携帯型の装置であり本体下部にはグリッ
プ部1aが形成されている。そしてその光学系は、本体
上部に設けられ、前記図5のバーコード読取装置と同様
に、レーザ光を発生するレーザ光源2と、レーザ光源2
からのレーザ光を平行光線にするコリメーティングレン
ズ4と、コリメーティングレンズ4を透過してきたレー
ザ光を走査してバーコードが印刷されたバーコードラベ
ル6に照射するスキャンミラー8と、入射光量に応じた
電気信号(すなわちバーコードのバー部分とスペース部
分との反射率の違いが電気信号の電圧の大小となって現
れる)を発生する受光手段としての二つの光検出器10
a、10bと、バーコードラベル6から反射し、さらに
スキャンミラー8に反射してくるレーザ光(散乱光)を
各光検出器10a、10bに集光させる集光レンズ12
a、12bとから構成されている。
ば50Hz)で往復回動を行なうステッピングモータ1
4の回転軸に装着されている。また光検出器10a、1
0bは、バーコード読取装置1内において互いに離れた
位置に配設されており、集光レンズ12a、12bもそ
れに応じた光経路上に配設されている。
号処理系は、回路基板16に形成されており、各光検出
器10a、10bに対応して、光検出器10a、10b
から出力される微弱な電気信号を必要な大きさまで増幅
する増幅回路18a、18bと、増幅回路18a、18
bにより増幅された受光信号を2値化すると共に、受光
信号が鏡面反射による影響を受けているか否かを判定し
判定信号を出力する鏡面反射判定手段としての鏡面反射
判定回路を内蔵した2値化回路20a、20bと、を備
えている。
0a、20bから入力される2値化信号のうちどちらか
一方を選択的に出力する信号選択回路22、各2値化回
路20a、20bに内蔵された鏡面反射判定回路からの
判定信号を監視し、この判定結果に基づき信号選択回路
22から出力すべき2値化信号を選択し、選択した2値
化信号が出力されるように信号選択回路22を制御する
信号選択制御部24、信号選択回路22から出力される
2値化信号の幅をカウントすることによりバーコードの
ナローバーとワイドバーを判断するカウント部26、お
よび、カウント部26からの出力信号に基づきバーコー
ドを復号(デコード)し、そのデコード結果を出力端子
28aを介して外部装置に出力するデコード部28が備
えられている。
6およびデコード部28は、CPU,ROM,RAM等
を中心とするマイクロコンピュータからなる電子制御装
置(ECU)の一処理として実現されている。一方、本
実施例のバーコード読取装置1の駆動系は、スキャンミ
ラー8をステッピングモータ14で駆動するミラー駆動
回路30と、レーザ光源2を駆動するレーザ駆動回路3
2とから構成され、また制御系は、ミラー駆動回路3
0、レーザ駆動回路32およびデコード部28の動作を
制御し、ECUの一処理として実現される制御部34か
らなる。そして、バーコード読取装置1本体の下方に形
成されたグリップ部1aの内部には、上述した各部へ電
源供給を行うための電源36が収納されている。
なお図2は、鏡面反射手段としての鏡面反射判定回路を
内蔵した2値化回路20の構成を表す電気回路図であ
る。図2に示すように、2値化回路20は、受光信号S
Aを積分する抵抗器R1およびコンデンサC1からなる
積分回路42と、受光信号SAおよびこの積分された受
光信号(以下、2値化判定しきい値)SBの大小を比較
し、受光信号SAの方が大きい場合にハイレベルとなる
2値化信号SCを出力する電圧比較器40と、電源に接
続された抵抗器R2およびダイオードD1,D2からな
り、抵抗器R2から供給される電流により発生するダイ
オードD1,D2の順方向電圧降下を利用して2値化判
定しきい値SBに所定電圧を加えるバイアス回路48
と、受光信号SAおよび所定電圧が加えられた2値化判
定しきい値(以下、鏡面反射判定しきい値)SDの大小
を比較し、受光信号SAの方が大きい場合にハイレベル
となる判定信号SEを出力する電圧比較器46とからな
る。
0の動作について説明する。なお図4において(A)
は、鏡面反射52が生じているバーコードラベルを表し
ている。同じく(B)は(A)のバーコードラベルが矢
印Xに示した方向に走査された場合の受光信号SA、2
値化判定しきい値SB、および鏡面反射判定しきい値S
Dの波形を表している。同じく(C)および(D)は2
値化回路10から出力される2値化信号SCおよび判定
信号SEを表している。
査することにより、2値化回路20に入力される受光信
号SAは、電圧比較器40において、受光信号SAを積
分して得られる2値化判定しきい値SBを基準としてそ
の大小が比較される。その結果、受光信号SAは2値化
され、2値化回路20からは2値化信号SCが出力され
る。
器46において、2値化判定しきい値SBより所定電圧
分だけ高い鏡面反射判定しきい値SDを基準としてその
大小が比較される。なお、所定電圧は、バイアス回路4
8におけるダイオードの接続個数により自由に設定で
き、鏡面反射の影響を受けていない受光信号SAより、
鏡面反射判定しきい値SDの方が常に大きくなるように
設定されている。ここで鏡面反射が発生した場合には、
正反射成分により通常より強い光が光検出器10により
検出されるため、2値化回路10に入力される受光信号
SAも、鏡面反射の影響を受けている部分の電圧レベル
は、鏡面反射判定しきい値SDより大きなものとなる。
号SAが鏡面反射の影響を受けたときに判定信号SEが
出力される。これら一連の動作は、各光検出器18から
出力される受光信号SAa、SAb毎に2値化回路20
a、20bで行なわれ、各2値化回路20a、20bか
ら出力される2値化信号SCa、SCbは信号選択回路
22に、また判定信号SEa、SEbは信号選択制御部
24に入力されている。
御処理について図4に示すフローチャートを用いて説明
する。なお、ミラー駆動回路30およびレーザ駆動回路
32は、バーコード読取装置の電源投入後に駆動される
ため、レーザ駆動回路32により駆動されたレーザ光源
2より出射されたレーザ光は、ミラー駆動回路32によ
り駆動されたステッピングモータ14の回転軸に取り付
けられ往復運動を行っているスキャンミラー8により所
定の周期で常に往復走査している。
30およびレーザ駆動回路32が正常に駆動されていて
読取が可能の状態であることを確認する。ステップ12
0では、レーザ光がバーコードラベル6を走査し、その
反射光を光検出器10a、10bが受光した結果、2値
化回路20a、20bより出力される判定信号SEa、
SEbを読み取る。
SEaにより鏡面反射の影響が検出されているか否かを
判断する。もし検出されていなければ、受光信号SAa
は鏡面反射の影響を受けていないと判定され、ステップ
140に進む。ステップ140では、受光信号SAaを
2値化した信号SCaが信号選択回路22から出力され
るように信号選択回路22を制御する。
ら出力される2値化信号SCを読み取り、ステップ16
0では、読み取った2値化信号SCのバーの幅をカウン
トすることで、バー、スペースの幅を数値化し、ステッ
プ170では、数値化されたデータからバーコード信号
の情報を復元し、出力端子28aから外部装置へ出力し
て一連の制御を終了する。
Eaにより鏡面反射の影響が検出されている場合、ステ
ップ180へ進む。ステップ180では、読み取った判
定信号SEbにより鏡面反射の影響が検出されているか
否かを判断する。もし検出されていなければ、受光信号
SAbは鏡面反射の影響を受けていないと判定され、ス
テップ190に進む。
値化した信号SCbが、信号選択回路22から出力され
るように信号選択回路22を制御してステップ150に
進み、以下信号選択回路22から出力される2値化信号
SCを読み取り、読み取った2値化信号SCを数値化
し、数値化されたデータからバーコード信号の情報を復
元し、外部装置へ出力して一連の制御を終了する。
Ebにより鏡面反射の影響が検出されている場合、ステ
ップ200へ進む。ステップ200では、制御部により
制御される図示しないブザーにより読み取り失敗を表示
するエラー音を発生させて一連の制御を終了する。
読取装置1においては、バーコードラベル6から反射し
てくる反射光を、互いに異なる位置に配設された二つの
光検出器10a、10bにより受光し、各光検出器10
a、10bから出力される受光信号SAa、SAb毎
に、2値化回路20a、20bが受光信号SAa、SA
bが鏡面反射による影響を受けているか否かを判定す
る。そして2値化回路20a、20bから出力される判
定信号SEa、SEbにより、二つの受光信号の中から
鏡面反射の影響を受けていない受光信号を選択し、その
選択された受光信号から光学的情報を読み取るようにさ
れている。また、どちらの受光信号も鏡面反射の影響を
受けているときは、読取エラー音を発生させるだけで鏡
面反射の影響を受けた受光信号から光学的情報を読み取
ることはしないようにされている。
に鏡面反射の影響を受けていない信号を使用して行われ
るため、光学的情報を正確に読み取ることができる。ま
た互いに異なった位置に配設された二つの光検出器で受
光することにより、両方の受光信号が同時に鏡面反射の
影響を受ける可能性は低いため読取エラーの発生を少な
くすることができる。
おいて、受光信号SAと、受光信号SAを積分し所定電
圧を加えることで生成される鏡面反射判定しきい値SD
とを大小比較することにより鏡面反射の影響の有無を判
定するようにされている。このため、鏡面反射判定しき
い値SDは受光信号SAに応じて設定されるので受光信
号SAの平均レベルの大小に関係なく確実に判定するこ
とができる。またこの判定を行なう2値化回路20は、
受光信号SA以外に入力信号を必要としないので、構成
が簡単である。
が、本発明の構成は上記実施例で説明したものに限定さ
れるものではなく、以下のような構成においても上記実
施例と同様の効果を得ることができる。例えば、上記実
施例においては、集光レンズ12a、12bおよび光検
出器10a10bは、夫々別体のものを使用している
が、例えば複数の集光レンズおよび光検出器を1パッケ
ージに収めたものを使用しても良い。
その反射光の強弱により光学的情報を再生する装置につ
いて説明したが、反射光を撮像素子でイメージとして受
光する装置についても同様に適用できる。また上記実施
例においては、光検出器を2個使用しているが、受光器
の数を増やせばより読取エラーの少ない装置を構成する
ことができる。
光学的情報読取装置によれば、互いに異なる位置に複数
配設した受光手段により読取対象からの反射光を受光
し、各受光手段から出力される受光信号毎に、鏡面反射
による影響を受けているか否かを判定して、これら受光
信号の中から鏡面反射による影響を受けていない受光信
号を一つだけ選択し、この選択された受光信号から光学
的情報を読み取るようにされている。
に鏡面反射の影響を受けていない信号を使用して行われ
るため、光学的情報を正確に読み取ることができる。ま
た複数の受光手段で受光することにより、すべての受光
信号が同時に鏡面反射の影響を受ける可能性は低いた
め、読取エラーの発生を少なくすることができる。
置においては、受光手段より出力される受光信号を積分
し、その積分された受光信号に所定電圧を加えることで
鏡面反射判定用の基準電圧を生成し、この基準電圧と受
光手段より出力される受光信号とを大小比較することに
より鏡面反射の影響の有無を判定するようにしている。
定されるため、受光信号の平均レベルの大小に関係なく
鏡面反射の影響の有無を確実に判定することができる。
またこの判定には受光信号以外の信号を必要としないの
で、鏡面反射判定手段の構成を簡単にすることができ
る。
を表す概略構成図である。
気回路図である。
よる2値化回路の動作を説明する説明図である。
取制御処理を表すフローチャートである。
す概略構成図である。
4…コリメータレンズ 6…バーコードラベル 8…スキャンミラー 1
0…光検出器 12…集光レンズ 14…ステッピングモータ
Claims (2)
- 【請求項1】 光学的情報が記載された読取対象に光を
照射する光源手段と、 前記読取対象から反射してくる反射光を受光し、該受光
した反射光に応じた受光信号を出力する受光手段と、 該受光手段からの上記受光信号より上記光学的情報を読
み取る読取手段と、 を備えた光学的情報読取装置において、 上記受光手段を互いに異なる位置に複数配設し、 該各受光手段からの受光信号毎に、該受光信号が上記読
取対象が鏡面反射を起こしたことによる影響を受けてい
るか否かを判定する鏡面反射判定手段と、 該鏡面反射判定手段により、鏡面反射の影響を受けてい
ないと判定された受光信号のうちの一つを上記読取手段
に選択的に入力する信号選択手段と、 を備えたことを特徴とする光学的情報読取装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の光学的情報読取装置に
おいて、上記鏡面反射判定手段が、 上記各受光手段からの受光信号毎に、該受光信号を積分
し、更に該積分された受光信号に所定電圧を加えること
で鏡面反射判定用の基準電圧を設定する基準電圧設定手
段と、 該基準電圧設定手段により設定された基準電圧と上記受
光信号とを大小比較し、上記受光信号が上記基準電圧よ
り大きいときに上記受光信号は鏡面反射の影響を受けて
いると判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする光学的情報読取装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05036863A JP3104455B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 光学的情報読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05036863A JP3104455B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 光学的情報読取装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06251184A true JPH06251184A (ja) | 1994-09-09 |
JP3104455B2 JP3104455B2 (ja) | 2000-10-30 |
Family
ID=12481627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP05036863A Expired - Lifetime JP3104455B2 (ja) | 1993-02-25 | 1993-02-25 | 光学的情報読取装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3104455B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008511917A (ja) * | 2004-08-31 | 2008-04-17 | シンボル テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 鏡面反射を除去するためのスキャナーおよび方法 |
US8800873B2 (en) | 2006-06-22 | 2014-08-12 | Denso Wave Incorporated | Apparatus for optically reading information stored in graphic symbol |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0556665U (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-27 | 西川ゴム工業株式会社 | ウェザーストリップ |
-
1993
- 1993-02-25 JP JP05036863A patent/JP3104455B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008511917A (ja) * | 2004-08-31 | 2008-04-17 | シンボル テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 鏡面反射を除去するためのスキャナーおよび方法 |
US8800873B2 (en) | 2006-06-22 | 2014-08-12 | Denso Wave Incorporated | Apparatus for optically reading information stored in graphic symbol |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3104455B2 (ja) | 2000-10-30 |
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