JPH06230287A - 反射屈折光学系 - Google Patents

反射屈折光学系

Info

Publication number
JPH06230287A
JPH06230287A JP5016275A JP1627593A JPH06230287A JP H06230287 A JPH06230287 A JP H06230287A JP 5016275 A JP5016275 A JP 5016275A JP 1627593 A JP1627593 A JP 1627593A JP H06230287 A JPH06230287 A JP H06230287A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical system
aperture stop
catadioptric
aperture
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5016275A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3690819B2 (ja
Inventor
Toshiro Ishiyama
敏朗 石山
Yutaka Suenaga
豊 末永
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP01627593A priority Critical patent/JP3690819B2/ja
Priority to US08/187,484 priority patent/US5592329A/en
Publication of JPH06230287A publication Critical patent/JPH06230287A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3690819B2 publication Critical patent/JP3690819B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems
    • G03F7/70225Optical aspects of catadioptric systems, i.e. comprising reflective and refractive elements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学設計上の自由度が高く、複数の光路が重
なる位置でも開口絞りを配置できる反射屈折光学系を提
供すること。 【構成】 正の屈折力を持ち物体Oの1次像I1 を形成
する第1部分光学系K1と、正の屈折力を持ち1次像か
らの光により2次像I2 を形成する第2部分光学系K2
とを有する反射屈折光学系において、第1部分光学系の
光路内に少なくとも1つの開口絞りS1 を設けると共
に、第2部分光学系の光路内に少なくとも1つの開口絞
りS2 を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、マスク上の回路パター
ンを感光基板上に投影転写するために好適な反射屈折光
学系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、LSI等の集積回路を製造する際
にウェハ上のフォトレジストにマスクパターンを投影露
光するために好適な光学系が例えば特開昭61-203419 号
公報に開示されている。この特開昭61-203419 号公報の
ものは、図7に示す如く、反射面M1 〜M3 を有し物体
Oの1次像I1 を形成する第1の部分光学系K1 と、反
射面M4 を有し、1次像I1 からの光により縮小像(2
次像)I2 を形成する第2の部分光学系K2 とを有する
ように構成される。
【0003】そして、このような反射屈折光学系におい
ても、光学系の開口数の設定及び入射瞳及び射出瞳位置
の設定のために、光学系内の光路を通過する光束の周縁
部を制限する開口絞りを設ける必要がある。ここで、図
7に示す反射屈折光学系においては、反射面M2,M4
位置が開口絞りとなる、即ち、主光線が反射面M2,M 4
にて光軸Axと交わるように構成されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、反射面
2,M4 の位置に開口絞りを設けることは、反射屈折光
学系の光学設計の自由度を著しく損なう問題点があっ
た。例えば、テレセントリック性を維持するにあたって
は、入射瞳位置と射出瞳位置とを無限遠に設定するよう
に屈折力配置を定めるが、上述の如く開口絞り位置があ
らかじめ定められていると、屈折力配置が一義的に定ま
り、良好な結像性能となる光学設計を行うことができな
い恐れがある。
【0005】また、反射面以外の位置に開口絞りを設け
ることも考えられるが、反射屈折光学系においては、反
射面によって光路が折り返されているため、開口絞り位
置にて光束が重なり合うことが多い。このとき、単一の
開口絞りにて光束の全ての周縁部を制限すると、他の光
束(反射面にて折り返された光束)を遮光してしまう問
題点がある。
【0006】そこで、本発明は、光学設計上の自由度の
高い反射屈折光学系を提供することを第1の目的とす
る。また、本発明は、複数の光路が重なる位置に開口絞
りを配置できる反射屈折光学系を提供することを第2の
目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明による反射屈折光学系は、以下の構成を有
する。例えば図1に示すごとく、物体側から順に、正の
屈折力を持ち物体Oの1次像I1 を形成する第1部分光
学系K1 と、正の屈折力を持ち1次像からの光により2
次像I2 を形成する第2部分光学系K2 とを有する反射
屈折光学系は、第1部分光学系の光路内に少なくとも1
つの開口絞りS1 を設けると共に、第2部分光学系の光
路内に少なくとも1つの開口絞りS2 を設けるように構
成される。
【0008】
【作用】上述の如き構成により、反射屈折光学系の光路
の物理的な配置の自由度がある箇所に開口絞りを配置し
て光束の一部を制限し、前記開口絞りとは異なる開口絞
りを別の位置に配置して、前記開口絞りにて制限されな
かった光束の残りを部分的に制限することにより、配置
の制約なしに、反射屈折光学系全体として開口絞りの作
用を達成することができる。これにより、反射屈折光学
系の光学設計上の自由度が上がるばかりか、この反射屈
折光学系を製作する上での空間的な余裕を持たせること
ができる。
【0009】また、互いに異なる開口径を有する開口絞
りをそれぞれ交換可能に設けるか、開口径を変化させる
構成にすれば、反射屈折光学系の開口数を変化させるこ
とができる。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明による実施例
を説明する。図1は、本発明による反射屈折光学系を投
影露光装置の投影光学系に適用した例の構成と光路とを
示す図である。なお、図1において、物体面Oを照明す
るための照明光学系は図示省略している。そして、図2
に示す如く、物体面OとしてのマスクMaには、所定の
回路パターン領域PAが形成されており、このマスクM
aと、図示なき照明光学系による円弧形状の照明領域L
Aとを走査方向に相対的に移動させて照明する。このと
き、図1の2次像I2 には、円弧形状の2次像が形成さ
れ、この2次像が形成される位置に、走査方向に可動な
感光基板を設ければ、走査露光、いわゆるステップ・ア
ンド・スキャン方式の投影露光を実現することができ
る。
【0011】ここで、図2に戻って、円弧形状の照明領
域LAは、反射屈折光学系の光軸(光軸Ax1 )を中心と
する所定の半径rの円弧と、光軸Ax1 から所定の幅a
(スリット幅a)だけずれた点Ax1'を中心とする半径r
の円弧と、間隔b(スリット長b)の直線とで囲まれる
領域となる。なお、円弧状の照明領域としては、光軸Ax
1 を中心とする同心円状の領域も考えられるが、スキャ
ン露光する際の露光量が光軸Ax3 と軸外とで異なるため
望ましくない。
【0012】図1に戻って、上述の如き照明領域にて照
明されたマスク面(物体面O)からの光は、光軸Ax1
沿って配置されたレンズ成分L1 〜L3 を介して、平面
反射鏡MP1 にて略45°偏向され、光軸Ax1 と垂直な
光軸Ax2 に沿って配置され凹面を光線の入射側に向けた
第1凹面反射鏡M1 にて反射される。そして、第1凹面
反射鏡M1 の反射側に、物体面Oの1次像I1 を形成す
る。ここで、レンズ成分L1 〜L3 と第1凹面反射鏡M
1 とが第1部分光学系K1 を構成している。
【0013】そして、1次像I1 からの光は、光軸Ax2
に沿って配置されたレンズ成分L4〜L6 を介して、平
面反射鏡MP2 にて略45°偏向される。この平面反射
鏡MP2 の反射側(光の射出側)には、光軸Ax2 と垂直
な(光軸Ax1 と平行な)光軸Ax3 に沿って、レンズ成分
7 と第2凹面反射鏡M2 とが配置されており、平面反
射鏡MP2 から射出した光は、レンズ成分L7 を介して
第2凹面反射鏡M2 にて反射された後、再びレンズ成分
7 を介してレンズ成分L8 〜L14へ向かう。このレン
ズ成分L8 〜L14は、全体として正の屈折力を有してお
り、レンズ成分L7 からの光によって、1次像I1 の縮
小像である2次像I2 を基板上に形成する。ここで、レ
ンズ成分L4 〜L6 、レンズ成分L7 、第2凹面反射鏡
2 及びレンズ成分L8 〜L14が第2部分光学系K2
構成している。
【0014】さて、円弧形状の照明領域にて照明された
物体面Oからの光束LB1 がレンズ成分L1 〜L3 及び
平面反射鏡MP1 を介して開口絞りS1 に達すると、そ
の光束断面は、図3(a) に示す如くほぼ円形状となる。
ここで、開口絞りS1 の位置にて光束を円形状となる如
く遮光することが望ましいが、この位置においては、上
述の如き光束LB1 が通過する他に、第1凹面反射鏡M
1 から1次像I1 へ向かう光束LB2 が通過する。この
ため、円形開口部を持つ従来の開口絞りでは、光束LB
2 を遮ることなく、効果的に光束LB1 を遮光すること
ができない。
【0015】また、第2部分光学系K2 中の第7レンズ
成分L7 から第8レンズ成分L8 へ向かう光束LB3
開口絞りS2 の位置を通過する際に、その光束断面形状
はほぼ円形状となる。ここで、開口絞りS2 の位置に、
円形状の開口部を持つ遮光枠を配置することも考えられ
るが、図3(b) に示す如く、この位置の近傍には平面反
射鏡MP2 が配置されており、空間の余裕がないため、
円形状の開口部を持つ遮光枠を設けることはできない。
【0016】そこで、本実施例においては、反射屈折光
学系の光路内の2ヶ所に、互いに異なる2つの開口絞り
1,S2 を配置するように構成している。具体的には、
図4(a) の如きほぼ半円形状の開口部を有する開口絞り
1 を第1部分光学系K1 の瞳面近傍に配置し、図4
(b) の如きほぼ半円形状の開口部を有する開口絞りS2
を第2部分光学系K2 の瞳面近傍に配置している。
【0017】即ち、図4(a) の如く、開口絞りS1 によ
って、光束LB1 の周縁部のうち、図中破線にて示す光
束LB2 と重ならない領域が遮光(制限)される。この
一部制限された光束LB1 が開口絞りS2 の位置に達す
ると光束LB3 となる。そして、図4(b) に破線にて示
す如き光束LB3 の制限されない領域は、開口絞りS 2
のほぼ半円形状の開口部によって遮光(制限)される。
【0018】なお、開口絞りS1 により制限される領域
と、開口絞りS2 により制限される領域とは、多少重な
ることが望ましい。ここで、本実施例における開口絞り
1,S2 は、反射屈折光学系の物体高(光軸Ax1 からの
距離)100mm における開口数が0.45となり、かつ両側テ
レセントリックが達成される如く設けられている。
【0019】このように、本実施例によると、第1部分
光学系K1 に設けられた開口絞りS 1 と、第2部分光学
系K2 に設けられた開口絞りS2 とによって、反射屈折
光学系を通過する光束を有効に制限しているので、これ
らの開口絞りS1,S2 の配置に何ら制約はない。また、
テレセントリック性を維持するための開口絞り位置に開
口絞りを配置することが物理的に困難である場合でも、
本実施例による反射屈折光学系においては、開口絞り位
置の自由度が多いので、良好にテレセントリック性が維
持できる光学設計ができる。
【0020】次に、図5を参照して、本発明による第2
実施例を説明する。図5は、本実施例の構成及び光路を
示す図である。そして、本実施例は、本発明を適用する
ために、米国特許4,747,678 号公報の第2実施例に開示
された反射屈折光学系の光路の取り回しを変更したもの
である。この図5において、物体面Oからの光束は、光
軸Ax1 に沿って配置されたレンズ成分L1,L2 を介し
て、光軸Ax1 に対して45°で斜設された平面反射鏡M
1 にて偏向され、光軸Ax1 と垂直な光軸Ax2 に曲率中
心を持ち光の入射側に凹面を向けた凹面反射鏡M1 にて
反射される。この凹面反射鏡M1 の反射側には、レンズ
成分L3 と、入射側に凸面を向けた凸面反射鏡M2 とが
配置されており、凹面反射鏡M1 からの光束は、レンズ
成分L3 を介して凸面反射鏡M2 にて反射され、再びレ
ンズ成分L3 を介して、光軸Ax2 に沿って配置され光の
入射側に凹面を向けた凹面反射鏡M3 に向かう。ここ
で、凸面反射鏡M2 の近傍には、開口絞りS1 が配置さ
れており、凸面反射鏡M2 から凹面反射鏡M3 へ向かう
光束LB 1 の開口絞りS1 側の周縁部を遮光(制限)し
ている。そして、開口絞りS1 を通過する光束LB
1 は、凹面反射鏡M3 にて反射され、再び開口絞りS1
近傍を通過する光束LB2 となる。従って、開口絞りS
1 近傍には、開口絞りS1 の位置の光束断面を示す図6
の如く、ほぼ円形状の光束断面の光束LB1 と、円弧形
状の光束LB2 とが位置する。ここで、開口絞りS
1 は、円周のほぼ2/3にわたる部分円形状の開口部を
有しており、光束LB2 を遮光することなく光束LB 1
の最周縁部を部分的に制限している。
【0021】図5に戻って、上記開口絞りS1 の近傍を
通過した光束LB2 は、光軸Ax2 に沿って配置されたレ
ンズ成分L4,L5 から射出して、同じく光軸Ax2 に沿っ
て配置されたレンズ成分L6 の近傍に物体の1次像I1
を形成する。ここで、レンズ成分L1,L2 、凹面反射鏡
1 、レンズ成分L3 、凸面反射鏡M2 、凹面反射鏡M
3 及びレンズ成分L4,L5 が第1部分光学系K1 を構成
する。
【0022】そして、上記1次像I1 からの光束は、レ
ンズ成分L6 〜L8 を介して、光軸Ax2 に対して45°
で斜設された平面反射鏡MP2 にて偏向され、この光軸
Ax2と垂直な光軸Ax3 に沿って配置された凹面反射鏡M
4 へ向かう如き光束LB3 となる。そして、光束LB3
は、凹面反射鏡M4 にて反射されて光束LB4 となる。
ここで、光束LB4 の進行方向(凹面反射鏡M4 の反射
側)には、開口絞りS 2 が配置されており、凹面反射鏡
4 からレンズ成分L9 へ向かう光束LB4 の開口絞り
2 側の周縁部を制限している。ここで、図6の如く、
開口絞りS2 の近傍を通過する光束LB3 は、光束LB
4 の周囲を覆うような円弧形状の光束断面を有してい
る。従って、開口絞りS2 は、光束LB3 を遮光するこ
となく光束LB4 を制限するために、円周のほぼ1/3
にわたる部分円形状の開口部を有する如く構成されてい
る。これにより、光束LB4 の最周縁部の略1/3に渡
る領域、すなわち開口絞りS1 にて制限されなかった領
域を制限している。
【0023】そして、図5に戻って、開口絞りS2 を介
した光束は、光軸Ax3 に沿って配置されたレンズ成分L
9 〜L11を介して、その射出側に物体の1次像I1 の縮
小像である2次像I2 を形成する。ここで、レンズ成分
6 〜L8 、凹面反射鏡M4及びレンズ成分L9 〜L11
が第2部分光学系K2 を形成する。このように、反射屈
折光学系から射出する光束は、開口絞りS1 と開口絞り
2 とによる結果として、全ての周縁部が制限されてい
る。従って、反射屈折光学系においては、所望の開口数
を得ること及び両側テレセントリックを維持することが
達成できる。なお、本実施例における開口数は、物体高
79mmにおいて、0.35である。
【0024】このように、本発明による反射屈折光学系
は、どのような光路の取り回しであっても開口絞りを配
置することができる。これにより、反射屈折光学系内を
通過する光束を制限することで、所望の開口数を得ると
同時に、テレセントリック性の維持をも達成している。
また、第1及び第2実施例において、開口絞りS1,S2
の開口部の径が可動となる如く構成すれば、反射屈折光
学系の開口数を可変とすることができる。例えば、図4
(a),(b) に示す如き開口絞りS1,S2 を図中矢印方向
(光束断面に沿った方向)に可動となる如く設ける。そ
して、開口絞りS1,S2 の開口部を通過する光束の径が
変化するように、それぞれの開口絞りS1,S2 を移動さ
せれば、反射屈折光学系全体の開口数を変化させること
ができる。また、開口数を変化させるにあたって、互い
に異なる開口径を持つ複数の開口絞りを交換可能に設け
ても良い。
【0025】なお、上述の各実施例において、開口絞り
1,S2 の開口部の形状は、部分円形状であれば良い。
このとき、結果として光束の周縁部の全周が制限されて
いれば良いため、各実施例の如き半円状の開口部や1/
3と2/3との部分円形状の開口部に限られることはな
い。また、本実施例においては、各部分光学系K1,K2
内に2組の開口絞りS1,S 2 を配置したが、2組以上の
開口絞りを設けても良いことは言うまでもない。例え
ば、物体の1次像を作る部分光学系と、この1次像をリ
レーして2次像を作る部分光学系と、2次像をリレーし
て3次像を作る部分光学系とを有する反射屈折光学系に
おいては、各部分光学系内に開口絞りを配置できる。こ
のとき、各部分光学系内の開口絞りの開口部の形状は、
部分円形状であれば良い。
【0026】
【発明の効果】上述の如き本発明によると、開口絞り位
置の自由度が多くなるため、光学設計上の制約が非常に
少ない反射屈折光学系を得ることができる。さらに、複
数の光路が重なる位置でも光路を遮ることなく開口絞り
を配置できる。これにより、所望の開口数を得ることが
でき、テレセントリック性の維持をも達成できる反射屈
折光学系を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による第1実施例の構成及び光路を示す
図。
【図2】物体面上の照明領域を示す平面図。
【図3】本発明による反射屈折光学系の開口絞りにおけ
る光束断面を示す図。
【図4】開口絞りの形状を示す平面図。
【図5】本発明による第2実施例の構成と光路とを示す
図。
【図6】第2実施例における光束断面と開口絞りとを示
す平面図。
【図7】従来の反射屈折光学系を示す図。
【符号の説明】
1 ‥‥ 第1部分光学系、 K2 ‥‥ 第2部分光学系、 O ‥‥ 物体面、 I1 ‥‥ 物体の1次像、 I2 ‥‥ 物体の2次像、

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】物体側から順に、正の屈折力を持ち前記物
    体の1次像を形成する第1部分光学系と、正の屈折力を
    持ち前記1次像からの光により2次像を形成する第2部
    分光学系とを有する反射屈折光学系において、 前記第1部分光学系の光路内に少なくとも1つの開口絞
    りを設けると共に、前記第2部分光学系の光路内に少な
    くとも1つの開口絞りを設けることを特徴とする反射屈
    折光学系。
  2. 【請求項2】前記反射屈折光学系は、前記物体の円弧形
    状の領域の2次像を形成することを形成することを特徴
    とする請求項1記載の反射屈折光学系。
  3. 【請求項3】前記開口絞りは、部分円形状の開口部を有
    することを特徴とする請求項1記載の反射屈折光学系。
JP01627593A 1993-02-03 1993-02-03 投影光学系、それを用いた露光装置及び露光方法 Expired - Lifetime JP3690819B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP01627593A JP3690819B2 (ja) 1993-02-03 1993-02-03 投影光学系、それを用いた露光装置及び露光方法
US08/187,484 US5592329A (en) 1993-02-03 1994-01-28 Catadioptric optical system

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP01627593A JP3690819B2 (ja) 1993-02-03 1993-02-03 投影光学系、それを用いた露光装置及び露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06230287A true JPH06230287A (ja) 1994-08-19
JP3690819B2 JP3690819B2 (ja) 2005-08-31

Family

ID=11912001

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP01627593A Expired - Lifetime JP3690819B2 (ja) 1993-02-03 1993-02-03 投影光学系、それを用いた露光装置及び露光方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3690819B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003504687A (ja) * 1999-07-07 2003-02-04 ケーエルエー−テンカー テクノロジィース コーポレイション ブロードバンド紫外線カタディオプトリックイメージングシステム
KR100532233B1 (ko) * 1998-03-25 2006-02-03 칼 짜이스 에스엠테 아게 반사굴절식마이크로리소그래프용축소대물렌즈
US6995833B2 (en) 2003-05-23 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US6995918B2 (en) 2000-02-16 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
JP2007502019A (ja) * 2003-08-12 2007-02-01 カール・ツアイス・エスエムテイ・アーゲー ミラーm3の前にレンズを伴う複数のミラーを含む投影対物レンズ
US7283294B2 (en) 2004-10-25 2007-10-16 Canon Kabushiki Kaisha Catadioptric projection optical system, exposure apparatus having the same, device fabrication method
JP2012154902A (ja) * 2011-01-28 2012-08-16 Lasertec Corp 検査装置、及び検査方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009081304A (ja) 2007-09-26 2009-04-16 Canon Inc 投影光学系、露光装置及びデバイス製造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100532233B1 (ko) * 1998-03-25 2006-02-03 칼 짜이스 에스엠테 아게 반사굴절식마이크로리소그래프용축소대물렌즈
JP2003504687A (ja) * 1999-07-07 2003-02-04 ケーエルエー−テンカー テクノロジィース コーポレイション ブロードバンド紫外線カタディオプトリックイメージングシステム
JP4761684B2 (ja) * 1999-07-07 2011-08-31 ケーエルエー−テンカー コーポレイション ブロードバンド紫外線カタディオプトリックイメージングシステム
US6995918B2 (en) 2000-02-16 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7075726B2 (en) 2000-02-16 2006-07-11 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7092168B2 (en) 2000-02-16 2006-08-15 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7239453B2 (en) 2000-02-16 2007-07-03 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US6995833B2 (en) 2003-05-23 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7053986B2 (en) 2003-05-23 2006-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2007502019A (ja) * 2003-08-12 2007-02-01 カール・ツアイス・エスエムテイ・アーゲー ミラーm3の前にレンズを伴う複数のミラーを含む投影対物レンズ
US7283294B2 (en) 2004-10-25 2007-10-16 Canon Kabushiki Kaisha Catadioptric projection optical system, exposure apparatus having the same, device fabrication method
JP2012154902A (ja) * 2011-01-28 2012-08-16 Lasertec Corp 検査装置、及び検査方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3690819B2 (ja) 2005-08-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1320854B1 (en) Illumination system particularly for microlithography
US10281824B2 (en) Microlithography projection objective
US6452661B1 (en) Illumination system and exposure apparatus and method
KR101854465B1 (ko) 투영 리소그라피용 조명 광학 시스템
KR101309880B1 (ko) 낮은 입사각을 갖는 육-미러 euv 프로젝션 시스템
US5592329A (en) Catadioptric optical system
KR20020031057A (ko) 8-거울 마이크로리소그래피 투사 대물렌즈
KR20070096965A (ko) 입구퓨필의 네거티브 백포커스를 갖는 투사대물렌즈 및투사노출장치
JP2001027727A5 (ja)
WO2006082738A1 (ja) オプティカルインテグレータ、照明光学装置、露光装置、および露光方法
JPH1090602A (ja) 射影リソグラフィー光学系
US4683524A (en) Illumination apparatus
US6122107A (en) Angular integrator
JPH06230287A (ja) 反射屈折光学系
KR20230036135A (ko) Euv 복사선을 안내하기 위한 광학 조명 시스템
JPS622539A (ja) 照明光学系
KR20200105915A (ko) 투영 리소그래피 시스템을 위한 동공 패싯 미러, 조명 광학 소자 및 광학 시스템
JPH06235863A (ja) 反射屈折光学系
US6947120B2 (en) Illumination system particularly for microlithography
USRE42065E1 (en) Illumination system particularly for microlithography
JP2002343695A (ja) 露光装置及びマイクロデバイスの製造方法
JP2000098231A (ja) 反射縮小結像光学系、該光学系を備えた露光装置および、該光学系を用いた露光方法
WO2016078964A1 (en) Illumination optical unit for illuminating an illumination field and projection exposure apparatus comprising such an illumination optical unit

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050412

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050614

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110624

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130624

Year of fee payment: 8