JPH06216999A - Memory fault retrieval method in electronic exchange - Google Patents

Memory fault retrieval method in electronic exchange

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JPH06216999A
JPH06216999A JP411393A JP411393A JPH06216999A JP H06216999 A JPH06216999 A JP H06216999A JP 411393 A JP411393 A JP 411393A JP 411393 A JP411393 A JP 411393A JP H06216999 A JPH06216999 A JP H06216999A
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JP
Japan
Prior art keywords
package
memory
main memory
fault
electronic exchange
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP411393A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akiyoshi Taguchi
明美 田口
Yasuo Ogasawara
康夫 小笠原
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP411393A priority Critical patent/JPH06216999A/en
Publication of JPH06216999A publication Critical patent/JPH06216999A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Exchange Systems With Centralized Control (AREA)

Abstract

PURPOSE:To specify one package relating to a fault address in a very short time by retrieving a package to which a fault memory address of a main memory belongs by a 1st table on the occurrence of a memory error and retrieving mount information relating to the retrieved package with a 2nd table. CONSTITUTION:An upper column of a table is a 1st table 21 and a lower column is a 2nd table 22. When either CPU 12 diagnoses either main memory 11, suppose that a memory error is detected. An alarm is raised through the detection and a fault memory address AD is accessed by a specific block of the table 21 and the table 22 is retrieved. Mount location information of a package including a fault memory address is extracted in the table 22. As a result, the fault location is specified in a very short time and the fault recovery time is considerably reduced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子交換機におけるメモ
リ障害探索方法に関する。一般に情報通信網の信頼性を
向上するため、マスター系およびスレーブ系という2重
化構成を採用している。したがって、該情報通信網内の
重要な構成要素の1つである電子交換機も2重化構成と
なっており、その中のメインメモリもマスター系のメイ
ンメモリと、スレーブ系のメインメモリとから構成され
る。なお、両メインメモリには常に同一内容が保持さ
れ、現用のメインメモリに何らかの障害が発生したとき
は即座に予備系のメインメモリに切り換えて、通信を維
持するようになっている。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory fault searching method for an electronic exchange. Generally, in order to improve the reliability of the information communication network, a dual configuration of a master system and a slave system is adopted. Therefore, the electronic exchange, which is one of the important components in the information communication network, also has a dual structure, and the main memory therein is also composed of a master main memory and a slave main memory. To be done. The same contents are always held in both main memories, and when a failure occurs in the main memory in use, the main memory is immediately switched to the spare main memory to maintain communication.

【0002】この場合、もし、切り換えられた予備系の
メインメモリが正常でないとすれば、当該障害を救済す
ることができないので、両メインメモリに対する診断動
作は常に行われている。この診断中にメモリ障害が検出
されたときには、迅速にその部分を割り出し対応するハ
ードウェアの交換等を行う必要がある。
In this case, if the main memory of the spare system that has been switched is not normal, the failure cannot be remedied, so that the diagnostic operation for both main memories is always performed. When a memory failure is detected during this diagnosis, it is necessary to quickly identify that part and replace the corresponding hardware.

【0003】[0003]

【従来の技術】図4は2重化された電子交換機の一般的
な構成を示す図である。本図において、参照番号10は
電子交換機であり、マスター系とスレーブ系に2重化さ
れており、2重化された中央制御装置(CC)12と、
中央制御装置12によって制御される2重化された通話
路系(SP)13と、通話路系13を制御するために中
央制御装置12の配下に接続される2重化されたメイン
メモリ(MM)11とを少なくとも具備して構成され
る。おな、中央制御装置12はメインメモリ11に対す
る前述の診断をも実行する。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a diagram showing a general structure of a duplicated electronic exchange. In the figure, reference numeral 10 is an electronic exchange, which is duplicated in a master system and a slave system, and a duplicated central control unit (CC) 12;
A duplexed speech path system (SP) 13 controlled by the central controller 12, and a duplicated main memory (MM) connected under the central controller 12 to control the speech path system 13. ) 11 and at least. The central controller 12 also executes the above-mentioned diagnosis for the main memory 11.

【0004】本図中その他の構成は、チャネルコントロ
ーラCHC、ファイルメモリFM、磁気テープMTおよ
びコンソール等にも用いられるタイプライタTYP等で
ある。図5は従来のメモリ探索方法を表すフローチャー
トである。本図において、先ずステップS1において、
メモリエラーを検出したとする。メモリエラーを検出し
たとき、その障害発生アドレスは分かるが、その障害箇
所が実際にハードウェア上のどこに当たるのかは即座に
は分からない。したがって、新品へのリプレイス等の作
業を即座に開始できない。
In the figure, the other components are a typewriter TYP, which is also used for the channel controller CHC, the file memory FM, the magnetic tape MT, the console, and the like. FIG. 5 is a flowchart showing a conventional memory search method. In this figure, first in step S1,
Suppose a memory error is detected. When a memory error is detected, the failure occurrence address is known, but it is not immediately known where the failure location actually hits the hardware. Therefore, work such as replacement with a new product cannot be started immediately.

【0005】そこで、ステップS2において、全面リー
ド/ライト試験を実行する。この全面リード/ライト試
験は、メインメモリを構成する全てのメモリパッケージ
の1つ1つについて予め定めた既知のデータを先ず書き
込み、その次にこれを読み出すという操作を行う。ここ
に読み出したデータが、その既知のデータと一致すれば
異常なしと認められるが、もし、不一致であればその試
験中のメモリパッケージに障害ありと推定できる。
Therefore, in step S2, a full-face read / write test is executed. In this full-face read / write test, predetermined known data is first written into each of all the memory packages constituting the main memory, and then the read operation is performed. If the data read here matches the known data, it is recognized that there is no abnormality. If they do not match, it can be estimated that the memory package under test has a failure.

【0006】かくして、ステップS3にて、障害のある
メモリパッケージが特定され、全メモリパッケージから
該当のパッケージを切り出すことができる。
Thus, in step S3, the faulty memory package is specified, and the relevant package can be cut out from all the memory packages.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】前述したように、メモ
リ障害の除去は迅速に行わなければならない。ところ
が、前述のフローチャートのうち特にステップS2はメ
インメモリ全体の全アドレスに亘ってアクセスすること
から非常に時間がかかる、という問題がある。したがっ
て本発明は上記問題点に鑑み、メモリ障害箇所の切り分
けが迅速に行える、電子交換機におけるメモリ障害探索
方法を提供することを目的とするものである。
As mentioned above, the elimination of memory faults must be done quickly. However, there is a problem that particularly step S2 in the above-mentioned flowchart takes a very long time because it accesses all the addresses of the whole main memory. Therefore, in view of the above problems, it is an object of the present invention to provide a memory failure search method in an electronic exchange that can quickly isolate a memory failure location.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】図1は本発明によるメモ
リ障害探索を表すフローチャートである。本図に示すと
おり本発明は次のステップよりなる。電子交換機10
(図4)内のメモリ領域(メインメモリ11を流用して
も別途新たに設けてもよい)に形成された第1テーブル
(例えば図4のメインメモリ11内に形成された第1テ
ーブル21)に、メインメモリ11上のメモリアドレス
を前述したパッケージ毎に複数に分割したメモリアドレ
スとこれらの分割された各メモリアドレスの各々が属す
る各該パッケージとの対応関係を予め書き込み、前記の
メモリ領域に形成された第2テーブル(例えば図4のメ
インメモリ11内に形成された第2テーブル22)に、
各前記パッケージと各該パッケージが前述の架内におい
て配置されるそれぞれの実装位置との対応関係を予め書
き込み、 ステップS1:メインメモリ11にエラーが発生したこ
とが検出されたとき、当該障害メモリアドレスをインデ
ックスとして第1テーブル21より、対応するパッケー
ジを特定する。
FIG. 1 is a flowchart showing a memory fault search according to the present invention. As shown in this figure, the present invention comprises the following steps. Electronic exchange 10
A first table (for example, a first table 21 formed in the main memory 11 of FIG. 4) formed in a memory area (FIG. 4) (the main memory 11 may be diverted or may be newly provided) In advance, the correspondence relationship between the memory address obtained by dividing the memory address on the main memory 11 into a plurality of packages for each package and each package to which each of these divided memory addresses belongs is written in advance, and is written in the memory area. In the formed second table (for example, the second table 22 formed in the main memory 11 of FIG. 4),
The correspondence relationship between each package and each mounting position where each package is arranged in the above-mentioned rack is written in advance. Step S1: When an error is detected in the main memory 11, the faulty memory address Is used as an index to identify the corresponding package from the first table 21.

【0009】ステップS2:さらにその特定されたパッ
ケージをインデックスとして第2テーブル22より、当
該パッケージの前記実装位置を割り出す。 ステップS3:保守者にその障害パッケージを知らせる
ために、その障害パッケージ情報を出力する。この出力
先は図4のタイプライタTYPでもあるいはパソコンの
ディスプレイでもよい。
Step S2: Further, the mounting position of the package is calculated from the second table 22 by using the specified package as an index. Step S3: Output the faulty package information in order to inform the maintenance person of the faulty package. The output destination may be the typewriter TYP of FIG. 4 or the display of a personal computer.

【0010】[0010]

【作用】本発明においては、従来における全面リード/
ライト試験に代えて、テーブルによる検索操作を採用す
る。すなわち、メモリエラーが発生したら、メインメモ
リ上の障害メモリアドレスが属するパッケージを先ず第
1テーブルで検索し、次に検索されたパッケージに関す
る実装情報を第2テーブルで検索する。かくして、2段
階の検索で、障害メモリアドレスに該当する1つのパッ
ケージが極めて短時間のうちに特定される。
In the present invention, the entire surface lead /
Instead of the light test, a table search operation is adopted. That is, when a memory error occurs, the package to which the faulty memory address on the main memory belongs is searched first in the first table, and then the mounting information regarding the searched package is searched in the second table. Thus, in the two-step search, one package corresponding to the faulty memory address can be identified within a very short time.

【0011】[0011]

【実施例】図2は本発明に基づくテーブル構成の具体例
を示す図である。本図において、上欄は第1テーブル2
1であり、下欄は第2テーブルである。いずれか一方の
中央制御装置12によって、いずれか一方のメインメモ
リ11を診断したとき、メモリエラーが検出されたもの
とする。この検出によって、当該障害メモリアドレスと
共にアラームが発せられる。この障害メモリアドレス
は、図2においてADとして示される。一方、第1テー
ブル21には各パッケージ対応に第2テーブルのアドレ
スが登録されており、仮に、2つのメインメモリ11
が、1M単位のパッケージ4枚から組み立てられている
とすると、第1テーブル21は図示する4つのブロック
より構成される。なお、(h)はメインメモリのアドレ
スが16進表示されていることを示す。
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of a table structure according to the present invention. In this figure, the upper column is the first table 2
1 and the lower column is the second table. It is assumed that a memory error is detected when either one of the main memories 11 is diagnosed by the one central controller 12. This detection causes an alarm together with the faulty memory address. This faulty memory address is shown as AD in FIG. On the other hand, in the first table 21, the addresses of the second table are registered for each package, and two main memories 11 are temporarily stored.
However, if it is assembled from four 1M packages, the first table 21 is composed of the four blocks shown. Note that (h) indicates that the address of the main memory is displayed in hexadecimal.

【0012】上記障害メモリアドレスADが仮に「12
3400」であったとすると、この「123400」を
インデックスとして第1テーブル21の2段目のブロッ
クがアクセスされる。そこで、ここに示される第2テー
ブル22のアドレス(障害メモリアドレスを含むパッケ
ージを示す)をインデックスとして、第2テーブル22
をアクセス(検索)する。この場合、前記中央制御装置
12は、今障害を伴っているメインメモリ11が0系で
あるか1系であるかは既に認識しているので、さらにこ
れらのうちの一方にアクセスする。本図では1系をアク
セスしている例を示す。
If the faulty memory address AD is "12",
If it is "3400", the second block of the first table 21 is accessed using this "123400" as an index. Therefore, using the address of the second table 22 shown here (indicating the package including the faulty memory address) as an index, the second table 22
To access (search). In this case, the central control unit 12 has already recognized whether the main memory 11 having the fault now is the 0-system or the 1-system, and therefore further accesses one of these. This figure shows an example of accessing the 1st system.

【0013】第2テーブル22は、各パッケージの前記
架内での実装位置を詳細に記しており、ここに、障害メ
モリアドレスを含むパッケージの実装位置情報が取り出
せる。本図に示すところによれば、その実装位置情報と
して、装置タイプ、シェルフタイプ、フレーム番号、フ
レームタイプ、スロット番号、段番号が明らかにされ
る。なお、図中の「I」は、パッケージが未実装か実装
かを示す論理“1”,“0”のフラグである。上記の実
装位置情報についてはさらに図を用いて説明する。
The second table 22 describes the mounting position of each package in the rack in detail, and the mounting position information of the package including the faulty memory address can be retrieved here. According to the diagram, the device type, shelf type, frame number, frame type, slot number, and stage number are clarified as the mounting position information. In addition, "I" in the figure is a flag of logic "1" and "0" indicating whether the package is not mounted or mounted. The above mounting position information will be further described with reference to the drawings.

【0014】図3は架の具体的構成例を示す斜視図であ
る。本図において、参照番号30は架の全体を示し、図
では3つのフレーム(100.101.102)31
と、各フレーム31について4段のシェルフ32と、各
シェルフ32について多数のスロットに挿入されたパッ
ケージ33とからなる。本図の例において図中丸印を付
けたパッケージ33に障害メモリが含まれると仮定すれ
ば、前記のフレーム番号は100、段番号は2、スロッ
ト番号は5である。その他の装置タイプ、シェルフタイ
プおよびフレームタイプは保守者にとって便利な情報で
あり、装置タイプが例えば3であるとすると、これは当
該パッケージがメインメモリのみのICを搭載するもの
であることを意味し、シェルフタイプが例えば55であ
るとすると、これはI/OまわりのICを主として搭載
していることを意味し、フレームタイプが例えば10で
あるとすると、これは中央制御装置まわりのICを搭載
していることを意味する。
FIG. 3 is a perspective view showing a concrete example of the structure of the rack. In the figure, reference numeral 30 indicates the entire rack, and in the figure, three frames (100.101.102) 31
Each frame 31 includes four shelves 32, and each shelf 32 includes a package 33 inserted into a large number of slots. Assuming that the faulty memory is included in the package 33 marked with a circle in the figure, the frame number is 100, the stage number is 2, and the slot number is 5. Other device types, shelf types, and frame types are useful information for maintenance personnel, and if the device type is 3, this means that the package has an IC having only main memory. If the shelf type is, for example, 55, this means that the ICs around the I / O are mainly mounted, and if the frame type is 10, for example, this means that the ICs around the central control unit are mounted. It means doing.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、従
来に比べて障害箇所の特定が極めて短時間に行え、した
がって障害復旧時間は大幅に短縮されるので通信の信頼
性が一層向上する。
As described above, according to the present invention, the location of a fault can be specified in an extremely short time as compared with the prior art, and the fault recovery time is greatly shortened, so that the reliability of communication is further improved. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明によるメモリ障害探索を表すフローチャ
ートである。
FIG. 1 is a flowchart showing a memory fault search according to the present invention.

【図2】本発明に基づくテーブル構成の具体例を示す図
である。
FIG. 2 is a diagram showing a specific example of a table configuration based on the present invention.

【図3】架の具体的構成例を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing a specific configuration example of a rack.

【図4】2重化された電子交換機の一般的な構成を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a general configuration of a duplicated electronic exchange.

【図5】従来のメモリ探索方法を表すフローチャートで
ある。
FIG. 5 is a flowchart showing a conventional memory search method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10…電子交換機 11…メインメモリ 12…中央制御装置 13…通話路系 21…第1テーブル 22…第2テーブル 30…架 31…フレーム 32…シェルフ 33…パッケージ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Electronic exchange 11 ... Main memory 12 ... Central control device 13 ... Communication path system 21 ... First table 22 ... Second table 30 ... Rack 31 ... Frame 32 ... Shelf 33 ... Package

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 2重化された中央制御装置(12)と、
該中央制御装置によって制御される2重化された通話路
系(13)と、該通話路系を制御するために前記中央制
御装置の配下に接続される2重化されたメインメモリ
(11)とを少なくとも具備すると共にこれら中央制御
装置、通話路系およびメインメモリがそれぞれパッケー
ジ(33)単位で組み立てられ架(30)に実装される
電子交換機において、前記メインメモリの一方にエラー
が発生したときその障害箇所を特定するためのメモリ障
害探索方法であって、 前記電子交換機内のメモリ領域に形成された第1テーブ
ル(21)に、前記メインメモリ上のメモリアドレスを
前記パッケージ毎に複数に分割したメモリアドレスと該
分割された各メモリアドレスの各々が属する各該パッケ
ージとの対応関係を予め書き込み、 前記メモリ領域に形成された第2テーブル(22)に、
各前記パッケージと各該パッケージが前記架内において
配置されるそれぞれの実装位置との対応関係を予め書き
込み、 前記メインメモリにエラーが発生したことが検出された
とき、当該障害メモリアドレスをインデックスとして前
記第1テーブルより、対応する前記パッケージを特定
し、 さらにその特定されたパッケージをインデックスとして
前記第2テーブルより、当該パッケージの前記実装位置
を割り出すことを特徴とする電子交換機におけるメモリ
障害探索方法。
1. A central control unit (12) which is duplicated,
A dual channel system (13) controlled by the central controller, and a dual main memory (11) connected under the central controller to control the channel system. And an electronic exchange in which the central control unit, the communication path system and the main memory are respectively assembled in a package (33) unit and mounted on a rack (30), when an error occurs in one of the main memories. A memory failure search method for specifying the failure location, wherein a memory address on the main memory is divided into a plurality of pieces for each package in a first table (21) formed in a memory area in the electronic exchange. The corresponding relationship between each memory package and each package to which each of the divided memory addresses belongs, A second table formed (22),
The correspondence between each package and each mounting position where each package is arranged in the rack is written in advance, and when an error is detected in the main memory, the faulty memory address is used as an index. A method for searching for a memory failure in an electronic exchange, characterized in that the corresponding package is specified from the first table, and the mounting position of the package is calculated from the second table using the specified package as an index.
JP411393A 1993-01-13 1993-01-13 Memory fault retrieval method in electronic exchange Withdrawn JPH06216999A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08171520A (en) * 1994-12-20 1996-07-02 Nec Corp Faulty package detection system
KR100506248B1 (en) * 1997-12-29 2005-10-21 삼성전자주식회사 How to Diagnose Links in a Private Switching System

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