JPH06216251A - 半導体回路 - Google Patents

半導体回路

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JPH06216251A
JPH06216251A JP5261322A JP26132293A JPH06216251A JP H06216251 A JPH06216251 A JP H06216251A JP 5261322 A JP5261322 A JP 5261322A JP 26132293 A JP26132293 A JP 26132293A JP H06216251 A JPH06216251 A JP H06216251A
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JP
Japan
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channel transistor
channel
power supply
buffer
semiconductor circuit
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JP5261322A
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Masaya Kitagawa
雅也 北川
Shigeru Fujii
滋 藤井
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板上に2列型ニットセルとバッファとを配
列させる場合、バッファの両チャンネルのトランジスタ
の駆動能力を殆ど同一に維持し且つ回路全体の高い集積
度を維持する。 【構成】 基板上に、VDD電源線20、20及びVSS
源線21、21を、VDD電源線30、30を外側にして
平行に形成。2列型ユニットセル等の第1のセルUCを
形成するPチャンネル・トランジスタ22とNチャンネ
ル・トランジスタ23を2列、電源線20…21に直交
状態で配列。バッファ等の第2のセルBFのPチャンネ
ル・トランジスタ32は第1のセルUCのそれと同じ幅
で且つVDD電源線20、20に直交状態で配列。第2の
セルBFのNチャンネル・トランジスタ33は、第1の
セルUCのそれと同じ幅ながら、2本のVSS電源線2
1、21に掛け渡した直交状態で中央部に配列する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体回路のレイアウト
に関する。詳しくは、基板上に、ASIC(Applicatio
n Specific IC )回路を構成する2列型ユニットセルと
一緒に、ASICとしてのLSI内の負荷の大きい信号
線(例えばクロック線)やASICとしてのMCM(Mu
lti Chip Module )の信号線を駆動するバッファを配列
するときのレイアウトに関する。
【0002】ASICは設計方式の点からは、自動設計
によるセミカスタムICと、人手設計によるフルカスタ
ムICとに分類される。この内、セミカスタムICには
ゲートアレイ方式とスタンダード・セル方式があり、い
ずれの方式のICもその大部分が、Pチャンネル、Nチ
ャンネルのトランジスタを一つずつ有する1列型セルを
2列並べて構成する2列型ユニットセル(ユニットセル
を構成するのに最小の組み合わせ)により形成されてい
る。
【0003】
【従来の技術】一般に、ASICを製造するに際して、
(i):ユニットセルをいかに作成し易く(配線し易
く)するか、(ii):チップ内にいかに多くのユニッ
トセルを詰め込むことができるか、という条件を考慮し
たレイアウトが大切である。
【0004】この内、(i)の条件は、上述した2列型
ユニットセルを採用することにより良好に満足されてい
る。これに対し、(ii)の条件は、ユニットセルのト
ランジスタ幅をいかに小さく形成できるか、またユニッ
トセル同士の間隔をいかに狭めたチップレイアウトにで
きるかという問題に帰着する。設計基準によれば、メタ
ル配線の最小間隔は規定されている。またユニットセル
内の配線は、トランジスタの上層に形成された配線領域
を利用する。このため、トランジスタ幅を小さくすれば
トランジスタ上(上層)の配線チャンネルが減るため、
ユニットセルが構成し難くなるという欠点がある。した
がって、トランジスタ幅は、Pチャンネル、Nチャンネ
ルとも様々なユニットセルを構成できる範囲で適正な最
小値が選択される。
【0005】図15には、そのような検討の結果実現さ
れた2列型ユニットセルのレイアウトの一例を示す。同
図中、符号1がVDD電源を、符号2がVSS電源を示す。
また符号5、6が夫々Pチャンネル・トランジスタ、N
チャンネル・トランジスタを示す。Pチャンネル・トラ
ンジスタ5のトランジスタ幅WP 及びNチャンネル・ト
ランジスタのトランジスタ幅WN はWP =WN になって
いる。尚、梨地は配線を示す。
【0006】ところで、ユニットセル同士の間隔を狭く
する課題は、近年、オーバーセルルーティングと呼ばれ
る方式を採用することにより次第に解消されつつあり、
さらなる高集積化が可能になりつつある。この方式は、
ユニットセル上層に配線チャンネルが存在すれば、その
配線チャンネルをチップレイアウトの配線時に使用する
という手法である。
【0007】しかし、高集積化を目指して設計された図
15のレイアウトではあるが、図からも分かるように、
Pチャンネル、Nチャンネル共にそのトランジスタ幅W
P =WN は最小限で且つ同一サイズに設定されているた
め、両チャンネルのトランジスタに駆動能力が差が生じ
てしまう。これは、同一サイズの場合、実効質量の大き
い正孔電子をキャリアとするPチャンネルに比べ、実効
質量の小さい電子をキャリアとするNチャンネルの方の
モビリティーが大きいとこに起因している。
【0008】この駆動能力の差は、同じくPチャンネル
及びNチャンネルのトランジスタで構成されるバッファ
にも言えることである。このため、両チャンネルのトラ
ンジスタ幅が同一のバッファで信号線を駆動した場合、
駆動能力に差があるから、信号波形の立上りに要する時
間(Trise)とその立下がりに要する時間(Tfall)に
もやはり差が生じ、例えば図16に示すように、Trise
>Tfallとなる。この時間差は、例えば、負荷の軽いL
SI内の信号線を駆動する場合にそんなに問題にならな
いが、LSI内の負荷の大きいクロック線を駆動するバ
ッファやMCM(Multi Chip Module )の信号線を駆動
する出力バッファの場合は、パルスのデューティ比が変
わってくるなどの問題を引き起こし、システムの設計が
難しくなる。
【0009】この問題を回避するには、一例として、P
チャンネルのトランジスタ幅をNチャンネルのそれより
も2倍にすれば良いことが経験上分かっており、そのた
めのレイアウトとしては例えば図17及び図18に示す
ものが知られている(これらの図において、図15と同
一の構成要素には同一符号を用いる)。図17、18に
示すレイアウトには、2列型ユニットセルUCの他に、
バッファBFが電源線1、1、2、2を共有して配列さ
れている。この内、図17に示すレイアウトにおいて、
バッファBFのPチャンネルのトランジスタ7の幅WP
を紙面上方(ここでは、紙面上の縦方向をY方向とす
る)に延ばし、Nチャンネルのトランジスタ8の幅WN
に比べて単純に2倍の高さになっている。また、図18
に示すレイアウトは、Pチャンネルのトランジスタ7を
Nチャンネルのそれに比べて紙面横方向(ここではX方
向)に2倍のサイズに延ばしたものである。このように
レイアウトすることにより、係るバッファBFで駆動さ
れる信号波形の立上り時間T rise及び立下がり時間T
fallは図19に示すように、殆どrise=Tfallに改善さ
れる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た図17のレイアウトにあっては、Pチャンネルのトラ
ンジスタ7をY方向に延ばしただけであるから、その高
さがユニットセルUCのPチャンネルを構成するトラン
ジスタ5からみても2倍の高さになり、VDD電源線1か
らY方向に食み出した、高さHの凸部が形成されてしま
う。この凸部は、他のユニットセルとの間隔を狭くする
上で邪魔になり、LSI全体の集積度が低下してしまう
という新たな問題が生じる。
【0011】また、上述した図18のレイアウトでは、
Nチャンネル・トランジスタ8のX方向の横であって、
Pチャンネル・トランジスタ7のY方向の下に空き領域
Rができてしまう。この空き領域Rの大きさはNチャン
ネル・トランジスタ8の約2倍もある。とくに、クロッ
ク線やMCM信号線を駆動するバッファは、LSI内部
の配線を駆動するバッファに比べて大きなサイズを必要
とするため、そのような空き領域の存在は集積度向上の
観点から無視できないものとなる。
【0012】本発明は、上述した従来のレイアウトの問
題に鑑みてなされたもので、回路上に2列型ニットセル
とバッファとを配列させる場合、バッファのPチャンネ
ル・トランジスタとNチャンネル・トランジスタの駆動
能力を殆ど同一に維持し且つ回路全体の高い集積度を維
持できる半導体回路を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明に係る半導体回路は、互いに平行に配列さ
れた複数の第1の電源線(20)と、互いに平行に配列
され、第1の電源線(20)とは異なる電源電圧を供給
すると共に、第1の電源線(20)と平行に第1の方向
に延在する第2の電源線(21)と、同じ大きさを有
し、夫々第1及び第2の電源線(20,21)に接続さ
れると共に、第2の方向に交互に配置された同数の第1
のPチャンネル・トランジスタ(22)及び第1のNチ
ャンネル・トランジスタ(23)からなる第1のセル
(UC)と、夫々第1及び第2の電源線(20,21)
に接続されると共に第2の方向に交互に配置された異な
る数の第2のPチャンネル・トランジスタ(32)及び
第2のNチャンネル・トランジスタ(33)からなる第
2のセル(BF)とを備え、第2のPチャンネル・トラ
ンジスタ(32)は所定の駆動能力を有するように電気
的に並列に接続されている。
【0014】
【作用】第1のセル(UC)に電力を供給するために平
行に配列してある、2組の電源(VDD電源、VSS電源)
の線(20,21,21,20)を兼用して、第2のセ
ル(BF)を形成するPチャンネル、Nチャンネルのト
ランジスタ(32…33)を、第1のセル(UC)のP
チャンネル、Nチャンネルのトランジスタ(22…2
3)に、電源線走行方向の横並びの位置に配列できる。
この結果、第1のセル(UC)の幅領域から第2のセル
(BF)のトランジスタが飛び出たり、第2のセル内部
に無駄な空き領域を形成することもなく、回路全体とし
て高い集積度を確保できる。また、第2のセル(BF)
の両チャンネルのトランジスタは、例えば、電源線に直
交する方向の両端部に位置する2個のPチャンネル・ト
ランジスタ(32,32)とそれらの中央部に位置する
1個のNチャンネル・トランジスタ(33)とで形成さ
れ、キャリアのモビリティの違いから、両者の駆動能力
が等しくなる。このとき、2個のPチャンネル・トラン
ジスタ(32,32)とそれらの中央部に位置する1個
のNチャンネル・トランジスタ(33)のトランジスタ
幅を等しくすることで、回路全体の高い集積化を維持し
たまま、両チャンネルのトランジスタ間の距離を大きく
とることができ、ラッチアップ現象の防止上有利にな
る。
【0015】
【実施例】以下、本発明の第1実施例を、図1〜図3に
基づき説明する。本実施例では、本発明がMCM構造及
び/又はクロックバッファを有する半導体回路に適用さ
れている。
【0016】MCM構造及び/又はクロックバッファで
は、半導体基板上に複数個のLSIチップが搭載される
とともに、複数個の入出力バッファが搭載されるもので
ある。LSIチップの各々には、2列型ユニットセルが
多数形成されている。また、入出力バッファの各々は等
価的には図3に示すように、各1個のMOS型のPチャ
ンネル・トランジスタ及びNチャンネル・トランジスタ
により構成されている。
【0017】上記2列型ユニットセルとMCMを駆動す
る出力バッファ(入出力バッファの一つ)のレイアウト
の一例を図1に示す。同図に示す回路には、VDD電源の
電源線20及びVSS電源の電源線21が2組平行に配列
されている。いま、電源線20、21に平行な方向をX
方向、直交する方向をY方向とすると、VDD電源線2
0、20のY方向内側を、VSS電源線21、21がX方
向に走行している。
【0018】2列型ユニットセルUCは各々、従来と同
様にY方向に配列され、VDD電源線20、20に各々接
続されたPチャンネル・トランジスタ22、22及びV
SS電源線21、21に各々接続されたNチャンネル・ト
ランジスタ23、23を有し、2列の基本セル列で構成
されている。なお、Pチャンネル・トランジスタ22及
びNチャンネル・トランジスタ23のトランジスタ幅は
同じで、WP =WN である。
【0019】これに対してバッファBFは、VDDは電源
線20、20に各々接続された2つのPチャンネル・ト
ランジスタ32、32と、VSS電源線21、21に跨が
って接続された1つのNチャンネル・トランジスタ33
とから成り、それらのトランジスタがY方向に配列され
ている。Pチャンネル・トランジスタ32の個々の幅W
P とNチャンネル・トランジスタ33の幅WN はWP
N であり、しかも2列型ユニットセルUCの対応する
チャンネルのトランジスタ幅とも等しい。
【0020】これにより、Pチャンネルのトランジスタ
32、22は、2列型ユニットセルUC及びバッファB
Fの間でY方向の位置が一致している。Nチャンネルの
トランジスタ33、23については、出力バッファBF
のトランジスタ33の方が2列型ユニットセルUCの2
つのトランジスタ23、23よりも1個少なく、且つ、
Y方向中央寄りに位置している。なお、バッファBFの
2つのPチャンネル・トランジスタ33、33はゲート
配線35により共通化されており、電気的には並列に接
続されている。
【0021】上記2列型ユニットセルUCの等価回路を
図2(a)に、バッファBFの等価回路を図2(b)に
各々示す。
【0022】このように配列することにより、バッファ
BFのPチャンネル・トランジスタ32、32はNチャ
ンネル・トランジスタ33に比べて、実効上、2倍のト
ランジスタ幅「2・WP 」を有することになる。このた
め、Pチャンネル及びNチャンネルで両トランジスタの
駆動能力は同等になるから、信号の立ち上り時間及び立
ち下がり時間もほぼ同じになり、システムの設計の容易
化が図られる。
【0023】また、バッファBFの各トランジスタは、
2列型ユニットセルUCの電源線20、20、21、2
1を共有し、しかも、そのセルUCの各トランジスタの
X方向で横並びの状態でレイアウトできる。これによ
り、バッファBFのトランジスタがY方向に飛び出して
凸部を形成したり、内部に顕著な空き領域を形成すると
いうこともない。したがって、バッファBFと2列型ユ
ニットセルUCとを混在させる場合でも、前述した2列
型ユニットセルの単独レイアウト時の高い集積度を維持
できる。
【0024】さらに、2列型ユニットセルUCにおける
両チャンネル・トランジスタ22、23間のY方向の距
離d1 に対して、バッファBFの両チャンネル・トラン
ジスタ32、33間のY方向の距離d2 はd1 <d2
なる。この結果、ラッチアップ現象を発生し難くなると
いう利点もある。
【0025】図1に示したレイアウトの具体例を図4に
示す。同図中、梨地は配線を示す。
【0026】さらに、本発明の他の応用例として、上述
したバッファBFでは、Pチャンネル・トランジスタ3
2のゲートがVDD電源にクリップされ、Nチャンネル・
トランジスタ33のそれがVSS電源にクリップされ、回
路的には動作しないが、図5に示す如くこのバッファを
入力バッファのESD(静電保護)対策のダイオードと
して使用できる。
【0027】続いて、本発明の第2実施例を図6に基づ
き説明する。同図中、図1と同一部分には同一符号を付
し、その説明は省略する。
【0028】図6に示すバッファBFは、バッファ自体
の駆動能力を高め、大きい負荷に対処するために、両チ
ャンネル・トランジスタ32、33のX方向のサイズを
前述した第1実施例のものの約2倍にしたものである。
そのほかの構成は図1のものと同一である。
【0029】次に、本発明の第3実施例を図7と共に説
明する。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、
その説明は省略する。
【0030】図7では、電源VDDの電源線20、20と
電源VSSの電源線21、21とのY方向の位置が、前述
した第1実施例のものとは反対になっている。これに伴
い、2列型ユニットセルUCのPチャンネル・トランジ
スタ22とNチャンネル・トランジスタ23の位置が第
1実施例のものとは反対になっており、バッファBFは
1つのPチャンネル・トランジスタ32と2つのNチャ
ンネル・トランジスタ33とにより構成される。Nチャ
ンネル・トランジスタ33はゲート配線35を介して接
続されており、2つのNチャンネル・トランジスタ33
は電気的に並列に接続されている。又、Pチャンネル・
トランジスタ32とNチャンネル・トランジスタ33の
各々のX方向の長さ及びPチャンネル・トランジスタ3
2のY方向の幅は夫々第1実施例の場合の約2倍となっ
ている。これにより、バッファBF自体の駆動能力を高
め、大きい負荷に対処することができる。
【0031】尚、Pチャンネル・トランジスタ22及び
Nチャンネル・トランジスタ23、33のY方向の長さ
は同じであり、両チャンネル・トランジスタ22、23
のX方向の幅は同じである。その他の構成は図1のもの
と同一である。
【0032】次に、本発明の第4実施例を図8と共に説
明する。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、
その説明は省略する。
【0033】図8では、電源VDDの電源線20、20と
電源VSSの電源線21、21とのY方向の位置が、前述
した第1実施例のものとは反対になっている。これに伴
い2列型ユニットセルUCのPチャンネル・トランジス
タ22とNチャンネル・トランジスタ23の位置が第1
実施例のものとは反対になっており、バッファBFは1
つのPチャンネル・トランジスタ32と2つのNチャン
ネル・トランジスタ33とにより構成される。Nチャン
ネル・トランジスタ33はゲート配線35を介して接続
されており、2つのNチャンネル・トランジスタ33は
電気的に並列に接続されている。又、両チャンネル・ト
ランジスタ32、33のX方向の長さは第1実施例の場
合と同じであり、Pチャンネル・トランジスタ32のY
方向の幅は第1実施例の場合の約2倍となっている。こ
れにより、バッファBF自体の駆動能力を高め、大きい
負荷に対処することができる。その他の構成は図1のも
のと同一である。
【0034】図9(a)は、図7及び図8に示す第3及
び第4実施例における2列型ユニットセルUCの等価回
路を示す。又、図9(b)は、図7及び図8に示す第3
及び第4実施例におけるバッファBFの等価回路を示
す。
【0035】上記第2,第3及び第4実施例によれば、
半導体基板上にバッファBF及び2列型ユニットセルU
Cが混在していても、スペースを有効に利用しているの
で、レイアウトパターン中に2列型ユニットセルだけが
配置されている場合に実現できる高い集積度を維持でき
る。
【0036】尚、本発明はMCMを駆動するバッファへ
の適用に限定されるものではない。本発明は、LSI内
のクロック線のような負荷の大きい信号線を駆動するバ
ッファにも適用可能であり、この場合も上記のレイアウ
トパターンを用いることにより上述したのと同様の効果
を得ることができる。つまり、本発明は図5に示したE
SD保護回路の入力バッファや、LSI内のクロックバ
ッファ等にも適用可能である。
【0037】次に、本発明の第5及び第6実施例を説明
する。これらの実施例では、本発明がゲートアレイに適
用されている。
【0038】図10は、ゲートアレイのバルク構造を示
す。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、その
説明は省略する。
【0039】図10中、Pチャンネル・トランジスタ2
2及びNチャンネル・トランジスタ23は夫々X方向に
沿って配列されており、Y方向に沿っては交互に設けら
れている。両チャンネル・トランジスタ22,23は、
各々X方向の長さが同じであり、又、Y方向の幅も同じ
である。
【0040】CMOS回路を設計する際、一般に同じ数
のPチャンネル・トランジスタとNチャンネル・トラン
ジスタとが用いられる。しかし、例えば信号波形の立上
り時間及び立下り時間を略同一として入出力バッファで
の好ましくない遅延を防止したり、クロックドライバで
の信号のデューティー比を一定に保つには、Nチャンネ
ル・トランジスタより多くのPチャンネル・トランジス
タを使用する必要がある。ところが、Nチャンネル・ト
ランジスタより多くのPチャンネル・トランジスタを使
用する場合であっても、使用されないトランジスタ及び
使用さない領域(空き領域)がゲートアレイ上できるだ
け少くなるような効率の良いレイアウトパターンを実現
する必要がある。
【0041】第5実施例では、図11に破線で示す如
く、ユニットセルUC1を図10中の第1及び第2の行
R1,R2の同数のPチャンネル・トランジスタ22及
びNチャンネル・トランジスタ23により構成できる。
同様にして、図11に破線で示す如く、ユニットセルU
C2を図10中の第2及び第3の行R2,R3の同数の
Pチャンネル・トランジスタ22及びNチャンネル・ト
ランジスタ23により構成きる。つまり、ユニットセル
UC1,UC2のY方向上の位置をずらすことができ
る。これにより、ゲートアレイ上に異なる数のPチャン
ネル・トランジスタ22及びNチャンネル・トランジス
タ23を用いるバッファ等が形成された場合でも、ユニ
ットセルの位置を適宜ずらすことにより、この様なバッ
ファ等が設けられることにより従来発生していた空き領
域をなくすことができる。
【0042】図12は、第5実施例が適用された回路の
レイアウトパターンを示す。この場合、バッファ(又は
セル)BFは、Nチャンネル・トランジスタ23に比べ
て2倍の数のPチャンネル・トランジスタ22を用い
る。しかし、同図に示す如く、ユニットセルUCのY方
向上の位置は必要に応じてずらして配置可能なので、ゲ
ートアレイ上での空き領域は最小とすることができる。
つまり、バッファBFを設けても、ゲートアレイ上の空
き領域を増加させることはない。
【0043】図13は、ゲートアレイの他のバルク構造
を示す。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、
その説明は省略する。
【0044】図13中、Pチャンネル・トランジスタ2
2及びNチャンネル・トランジスタ23は夫々Y方向に
沿って配列されており、X方向に沿っては交互に設けら
れている。両チャンネル・トランジスタ22,23は、
各々X方向の長さが同じであり、又、Y方向の幅も同じ
である。更に、Y方向に細長い形状を有する図10の両
チャンネル・トランジスタ22,23と比較すると、図
13に示す両チャンネル・トランジスタ22,23はX
方向に細長い形状を有する。
【0045】図14は、第6実施例が適用された回路の
レイアウトパターンを示す。この場合、バッファ(セ
ル)BFは、Nチャンネル・トランジスタ23に比べて
2倍の数のPチャンネル・トランジスタ22を用いる。
しかし、同図に示す如く、ユニットセルUCのX方向上
の位置は必要に応じてずらして配置可能なので、ゲート
アレイ上での空き領域は最小とすることができる。つま
り、バッファBFを設けても、ゲートアレイ上の空き領
域を増加させることはない。
【0046】上記第5及び第6実施例によれば、レイア
ウトパターン中任意の隣接する行のPチャンネル・トラ
ンジスタ22及びNチャンネル・トランジスタ23が対
称的に使用されるようにユニットセルUC及びハッファ
BFが形成される。これにより、或るセル,バッファ等
により用いられる両チャンネル・トランジスタ22,2
3の数の比にかかわらず、高いゲート利用効率を実現し
得る。
【0047】言うまでもないが、図10〜図14におい
て、両チャンネル・トランジスタ22,23はトランジ
スタではなくゲートであっても良い。
【0048】以上、本発明を実施例により詳細に説明し
たが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
く、種々の変形又は改良が可能であることは言うもまで
もない。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体回路のレイアウトによれば、第1のセルと第2のセル
とを電源線を共有して同一トランジスタ幅内に収めた状
態で配列させることができ、無駄な空き領域も殆ど排除
できるから、第1のセル(例えば2列型ユニットセル)
を単独にレイアウトする場合と同等の高い集積度を維持
できるのみならず、第2のセル(例えばバッファ)の
P,N両チャンネルのトランジスタの駆動能力を同じに
設定でき、システム設計上の容易化を図ることができ
る。とくに、バッファのNチャンネル・トランジスタを
回路内側に配置する場合、その両チャンネルのトランジ
スタ幅をユニットセルのそれと同じに設定でき、駆動能
力の同一化と共に、バッファの両チャンネルのトランジ
スタ間の距離を大きくとることができ、ラッチアップ現
象を回避する上で有利になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係る半導体回路の概要を
示すレイアウト図である。
【図2】(a),(b)は第1実施例の2列型ユニット
セル及びバッファの等価回路図である。
【図3】バッファの回路図である。
【図4】実施例のレイアウト法を適用した回路の詳細な
レイアウト図である。
【図5】バッファの応用例を示す回路図である。
【図6】本発明の第2実施例に係る半導体回路の概要を
示すレイアウト図である。
【図7】本発明の第3実施例に係る半導体回路の概要を
示すレイアウト図である。
【図8】本発明の第4実施例に係る半導体回路の概要を
示すレイアウト図である。
【図9】(a),(b)は第3及び第4実施例の2列型
ユニットセル及びバッファの等価回路図である。
【図10】半導体回路のバルク構造のレイアウトパター
ンを示す平面図である。
【図11】図10のバルク構造を用いた本発明の第5実
施例のユニットセルのレイアウトパターンを示す平面図
である。
【図12】第5実施例が適用された回路のレイアウトパ
ターンを示す平面図である。
【図13】半導体回路の他のバルク構造のレイアウトパ
ターンを示す平面図である。
【図14】図13のバルク構造を用いた本発明の第6実
施例のユニットセルのレイアウトパターンを示す平面図
である。
【図15】2列型ユニットセルを単独に配列した場合の
詳細なレイアウト図である。
【図16】Pチャンネル、Nチャンネルのトランジスタ
の駆動能力の違いを説明する波形図である。
【図17】従来の配置の一例のレイアウト図である。
【図18】従来の配置の別の例を示すレイアウト図であ
る。
【図19】Pチャンネル、Nチャンネルのトランジスタ
の駆動能力の同一化を説明する波形図である。
【符号の説明】
20 VDD電源線 21 VSS電源線 22 2列型ユニットセルのPチャンネル・トランジス
タ 23 2列型ユニットセルのNチャンネル・トランジス
タ 32 バッファのPチャンネル・トランジスタ 33 バッファのNチャンネル・トランジスタ

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに平行に配列された複数の第1の電
    源線(20)と、 互いに平行に配列され、該第1の電源線(20)とは異
    なる電源電圧を供給すると共に、該第1の電源線(2
    0)と平行に第1の方向に延在する第2の電源線(2
    1)と、 同じ大きさを有し、夫々該第1及び第2の電源線(2
    0,21)に接続されると共に、第2の方向に交互に配
    置された同数の第1のPチャンネル・トランジスタ(2
    2)及び第1のNチャンネル・トランジスタ(23)か
    らなる第1のセル(UC)と、 夫々第1及び第2の電源線(20,21)に接続される
    と共に第2の方向に交互に配置された異なる数の第2の
    Pチャンネル・トランジスタ(32)及び第2のNチャ
    ンネル・トランジスタ(33)からなる第2のセル(B
    F)とを備え、 該第2のPチャンネル・トランジスタ(32)が所定の
    駆動能力を有するように電気的に並列に接続された、半
    導体回路。
  2. 【請求項2】 前記第2のPチャンネル・トランジスタ
    (32)及び第2のNチャンネル・トランジスタ(3
    3)は、前記第1のPチャンネル・トランジスタ(2
    2)及び第1のNチャンネル・トランジスタと同じ大き
    さを有する、請求項1記載の半導体回路。
  3. 【請求項3】 前記第2のPチャンネル・トランジスタ
    (32)及び第2のNチャンネル・トランジスタ(3
    3)は、前記第1のPチャンネル・トランジスタ(2
    2)及び第1のNチャンネル・トランジスタ(23)よ
    り前記第1の方向上の長さが長い、請求項1記載の半導
    体回路。
  4. 【請求項4】 前記第2のPチャンネル・トランジスタ
    (32)は、前記第1のPチャンネル・トランジスタ
    (22)及び第1のNチャンネル・トランジスタ(2
    3)より前記第1の方向と直交する方向上の幅が大き
    い、請求項3記載の半導体回路。
  5. 【請求項5】 前記第2のPチャンネル・トランジスタ
    (32)は、前記第1のPチャンネル・トランジスタ
    (22)及び第1のNチャンネル・トランジスタ(2
    3)より前記第1の方向と直交する方向上の幅が大き
    い、請求項1記載の半導体回路。
  6. 【請求項6】 前記第2のNチャンネル・トランジスタ
    (33)は、前記第1のPチャンネル・トランジスタ
    (22)及び第1のNチャンネル・トランジスタ(2
    3)と同じ大きさを有し、前記第2のPチャンネル・ト
    ランジスタ(32)は、前記第1のPチャンネル・トラ
    ンジスタ(22)、第1のNチャンネル・トランジスタ
    (23)及び第2のNチャンネル・トランジスタ(3
    3)と前記第1の方向上の長さが同じである、請求項5
    記載の半導体回路。
  7. 【請求項7】 前記第2のPチャンネル・トランジスタ
    (32)の前記所定の駆動能力は、前記第2のNチャン
    ネル・トランジスタ(33)の駆動能力と同等である、
    請求項1〜6のうちいずれか一項記載の半導体回路。
  8. 【請求項8】 前記第2の方向は、前記第1の方向と直
    交する方向である、請求項1〜7のうちいずれか一項記
    載の半導体回路。
  9. 【請求項9】 2本の第2の電源線(21)は2本の第
    1の電源線(20)の間に設けられており、前記第2の
    Nチャンネル・トランジスタ(33)は2つの第2のP
    チャンネル・トランジスタ(32)の間にある該2本の
    第2の電源線(21)と一部重なるように配置されてい
    る、請求項8記載の半導体回路。
  10. 【請求項10】 2本の第1の電源線(20)は2本の
    第2の電源線(21)の間に設けられており、前記第2
    のPチャンネル・トランジスタ(32)は2つの第2の
    Nチャンネル・トランジスタ(33)の間にある該2本
    の第1の電源線(20)と一部重なるように配置されて
    いる、請求項8記載の半導体回路。
  11. 【請求項11】 前記第1のセルは、任意の互いに隣接
    する第1のセルの前記第2の方向上の位置がずらされて
    配置されている、請求項8記載の半導体回路。
  12. 【請求項12】 前記第2の方向は、前記第1の方向と
    平行な方向である、請求項1記載の半導体回路。
  13. 【請求項13】 前記第1のセルは、任意の互いに隣接
    する第1のセルの前記第1の方向上の位置がずらされて
    配置されている、請求項12記載の半導体回路。
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