JPH06213828A - Inspecting apparatus of vessel of complicated shape - Google Patents
Inspecting apparatus of vessel of complicated shapeInfo
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims abstract description 11
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、複雑形状容器の検査
装置に関し、さらに詳しくは、取手付プラスチックボト
ルや取手付ガラスボトルなどの複雑形状容器の傷や異物
の付着の有無を検査する複雑形状容器の検査装置に関す
る。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for inspecting a complex-shaped container, and more particularly to a complex-shaped container for inspecting a plastic container with a handle, a glass bottle with a handle, or the like for the presence of scratches or foreign substances. The present invention relates to a container inspection device.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来のボトルの検査装置では、図5に示
すように、ボトルPを異なる画像角度から撮像した画面
GA,GB,GC,GDに対して、ボトルPの要部だけ
をウィンドウWで切り取って、そのウィンドウW内での
傷Kや異物Iの付着の有無を検査している。これは、背
景BやボトルPの輪郭Lをマスクすることによって、処
理するデータ量を減らすと共に判定ミスを防止するため
である。2. Description of the Related Art In a conventional bottle inspection apparatus, as shown in FIG. 5, only the main part of the bottle P is displayed in a window W on screens GA, GB, GC, GD in which the bottle P is imaged from different image angles. Then, it is inspected for the presence of scratches K or foreign matter I in the window W. This is for masking the background B and the contour L of the bottle P to reduce the amount of data to be processed and prevent erroneous determination.
【0003】ウィンドウWは、図6に示すように、画面
Gを構成する水平走査線Hの数(実際には水平同期信号
数)をカウントしてウィンドウWの上縁,下縁を規定
し,水平同期信号からの水平走査量(実際には内部クロ
ック数)をカウントしてウィンドウWの左縁,右縁を規
定している。このため、ウィンドウWの形状は、四角形
である。なお、円形のウィンドウを用いる従来例もあ
る。As shown in FIG. 6, the window W counts the number of horizontal scanning lines H (actually the number of horizontal synchronizing signals) forming the screen G to define the upper and lower edges of the window W, The left and right edges of the window W are defined by counting the horizontal scanning amount (actually, the number of internal clocks) from the horizontal synchronizing signal. Therefore, the window W has a rectangular shape. There is also a conventional example that uses a circular window.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】取手付プラスチックボ
トルや取手付ガラスボトルなどの複雑形状容器では、容
器や取手の輪郭が複雑に入り組んでいたり,画像角度に
よって見え方が変ったりする。しかし、上記従来のボト
ルの検査装置では、ウィンドウWの形状が単純な四角形
(あるいは円形)であり,画像角度によらず一定であっ
たため、複雑形状容器に対応できない問題点があった。
そこで、この発明の目的は、複雑形状のウィンドウを容
易に設定でき,且つ,画像角度に応じてウィンドウ形状
を変更可能な複雑形状容器の検査装置を提供することに
ある。In the case of a container having a complicated shape such as a plastic bottle with a handle or a glass bottle with a handle, the contour of the container or the handle is complicated and the appearance may change depending on the image angle. However, in the conventional bottle inspection device described above, since the window W has a simple quadrangle (or a circle) and is constant regardless of the image angle, there is a problem that it cannot be applied to a container having a complicated shape.
Therefore, an object of the present invention is to provide an inspecting apparatus for a complex-shaped container in which a window having a complicated shape can be easily set and the window shape can be changed according to the image angle.
【0005】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明の複雑形状容器
の検査装置では、複数の異なる画像角度での複雑形状容
器の画像を入力する画像入力手段と、その画像入力手段
から直接に又は画像メモリを介して間接に得られるシリ
アル画像信号を所定の閾値と比較することにより正常部
を“L”とし,異常部を“H”として2値化した2値シ
リアル画像信号を出力する異常判定手段と、マスク部分
を“L”とし,ウインドウ部分を“H”とする2値マス
クデータからなる画像角度対応の複数のマスクパターン
を記憶するマスクメモリと、前記2値シリアル画像の画
像角度に対応したマスクパターンから2値マスクデータ
を読み出して前記2値シリアル画像信号に同期させて出
力する2値マスクデータ同期出力手段と、前記異常判定
手段の出力信号および前記2値マスクデータ同期出力手
段の出力の論理積を演算するAND回路とを具備したこ
とを構成上の特徴とするものである。In the inspection device for a complex shape container according to the present invention, an image input means for inputting images of the complex shape container at a plurality of different image angles, and an image memory directly or from the image input means. And an abnormality determining means for outputting a binary serial image signal binarized by comparing a serial image signal obtained indirectly via a predetermined threshold with "L" for a normal part and "H" for an abnormal part. , A mask memory for storing a plurality of mask patterns corresponding to image angles consisting of binary mask data in which the mask portion is "L" and the window portion is "H", and a mask corresponding to the image angle of the binary serial image Binary mask data synchronous output means for reading out binary mask data from the pattern and outputting in synchronization with the binary serial image signal, and output signals of the abnormality determining means. It is an aspect of the construction by comprising an AND circuit for calculating a logical product of the outputs of the fine the binary mask data synchronization output unit.
【0006】[0006]
【作用】この発明の複雑形状容器の検査装置において、
画像入力手段では、複数の異なる画像角度での複雑形状
容器(例えば、取っ手付きプラスチックボトルやガラス
瓶)の画像を入力する。すると、異常判定手段は、前記
画像入力手段から得られるシリアル画像信号を所定の閾
値と比較する。そして、正常部を“L”とし,異常部を
“H”として2値化した2値シリアル画像信号を出力す
る。次に、2値マスクデータ同期出力手段は、マスク部
分を“L”とし,ウインドウ部分を“H”とする2値マ
スクデータからなる画像角度対応の複数のマスクパター
ンを記憶するマスクメモリから、前記2値シリアル画像
の画像角度に対応したマスクパターンの2値マスクデー
タを読み出して前記2値シリアル画像信号に同期させて
出力する。そして、前記AND回路は、前記2値シリア
ル画像信号と前記2値マスクデータの論理積を演算す
る。この結果、マスクされていない部分の2値シリアル
画像信号だけがAND回路を通過し、異常検出信号とし
て出力される。In the inspecting apparatus for a complex shape container of the present invention,
The image input means inputs images of a complex-shaped container (for example, a plastic bottle with a handle or a glass bottle) at a plurality of different image angles. Then, the abnormality determination means compares the serial image signal obtained from the image input means with a predetermined threshold value. Then, the normal part is set to "L" and the abnormal part is set to "H", and the binarized binary image signal is output. Next, the binary mask data synchronous output means outputs from the mask memory, which stores a plurality of mask patterns corresponding to image angles, which is composed of binary mask data in which the mask portion is "L" and the window portion is "H". The binary mask data of the mask pattern corresponding to the image angle of the binary serial image is read and output in synchronization with the binary serial image signal. Then, the AND circuit calculates a logical product of the binary serial image signal and the binary mask data. As a result, only the binary serial image signal of the unmasked portion passes through the AND circuit and is output as the abnormality detection signal.
【0007】ここで、マスクパターンは、2値マスクデ
ータであるから複雑な形状でも作成でき、また、画像角
度対応に用意することが出来る。従って、複雑形状容器
でも、好適に検査可能になる。Since the mask pattern is binary mask data, it can be formed in a complicated shape and can be prepared corresponding to the image angle. Therefore, even a complex-shaped container can be suitably inspected.
【0008】[0008]
【実施例】以下、図に示す実施例によりこの発明をさら
に説明する。なお、これによりこの発明が限定されるも
のではない。図1は、この発明の一実施例の取手付プラ
スチックボトルの検査装置100の構成図である。この
取手付プラスチックボトルの検査装置100は、取手付
プラスチックボトルPを載置する回転台1と、その回転
台1を回転させるモータ2と、回転台1の回転量を計測
するロータリエンコーダ3と、投光器4と、受光器5
と、面光源6と、ビデオカメラ7と、信号処理装置10
とから構成されている。The present invention will be further described below with reference to the embodiments shown in the drawings. The present invention is not limited to this. FIG. 1 is a configuration diagram of a plastic bottle inspection device 100 according to an embodiment of the present invention. This inspection apparatus 100 for a plastic bottle with a handle includes a rotary table 1 on which a plastic bottle P with a handle is placed, a motor 2 for rotating the rotary table 1, a rotary encoder 3 for measuring the rotation amount of the rotary table 1, Emitter 4 and receiver 5
, Surface light source 6, video camera 7, and signal processing device 10
It consists of and.
【0009】前記投光器4と受光器5は、取手付プラス
チックボトルPの取手P’がビデオカメラ7に正対した
角度において光線が遮断されるように設置されている。The light projector 4 and the light receiver 5 are installed so that a light beam is blocked at an angle where a handle P'of a plastic bottle P with a handle faces the video camera 7.
【0010】図2は、前記信号処理装置10のブロック
図である。この信号処理装置10は、異常判定部11
と、マスクメモリ12と、2値マスクデータ同期出力部
13と、AND回路14とを有している。FIG. 2 is a block diagram of the signal processing apparatus 10. The signal processing device 10 includes an abnormality determination unit 11
, A mask memory 12, a binary mask data synchronization output unit 13, and an AND circuit 14.
【0011】異常判定部11は、前記ビデオカメラ7か
らのビデオ信号における傷や異物等による波形を強調す
る微分回路21と、不要なノイズを除去する積分回路2
2と、前記微分回路21および積分回路22で前処理さ
れたビデオ信号と閾値とをアナログ比較するアナログ比
較器23と、接地電位または閾値#A〜閾値#Dのいず
れかを選択する閾値セレクタ24と、閾値#A〜閾値#
Dを発生する閾値回路25とを有している。The abnormality determining section 11 includes a differentiating circuit 21 for emphasizing a waveform of a video signal from the video camera 7 due to scratches or foreign matters, and an integrating circuit 2 for removing unnecessary noise.
2, an analog comparator 23 for analog-comparing the video signal preprocessed by the differentiating circuit 21 and the integrating circuit 22 with a threshold value, and a threshold value selector 24 for selecting either the ground potential or the threshold values #A to #D. And threshold #A to threshold #
And a threshold circuit 25 for generating D.
【0012】マスクメモリ12は、マスクパターン#A
〜マスクパターン#Dを記憶している。マスクパターン
#A〜マスクパターン#Dは、ビデオ信号により形成さ
れる画面に対応するビットマップであり、マスク部分の
ビットは“L”,ウインドウ部分のビットは“H”であ
る。The mask memory 12 has a mask pattern #A.
~ Mask pattern #D is stored. The mask patterns #A to #D are bitmaps corresponding to the screen formed by the video signal, and the bits of the mask portion are “L” and the bits of the window portion are “H”.
【0013】2値マスクデータ同期出力部13は、セレ
クタコントローラ31と、同期回路32と、マスクセレ
クタ33とを有している。前記セレクタコントローラ3
1は、前記ロータリエンコーダ3からのアングル信号と
前記受光器5からのホーム信号とビデオ信号とに基づい
て、接地電位または閾値#A〜閾値#Dのいずれか,及
び,“L”レベルまたはマスクパターン#A〜マスクパ
ターン#Dのいずれか,を選択するためのセレクト信号
を生成する。前記同期回路32は、マスクメモリ12か
らマスクパターン#A〜マスクパターン#Dをビデオ信
号と同期して読み出すための同期信号を生成する。前記
マスクセレクタ33は、前記セレクト信号に基づいて、
マスクパターン#A〜マスクパターン#Dのいずれかを
選択する。The binary mask data synchronization output unit 13 has a selector controller 31, a synchronizing circuit 32, and a mask selector 33. The selector controller 3
1 is a ground potential or one of threshold values #A to #D, and an “L” level or a mask, based on the angle signal from the rotary encoder 3, the home signal from the photodetector 5 and the video signal. A select signal for selecting any of pattern #A to mask pattern #D is generated. The synchronization circuit 32 generates a synchronization signal for reading the mask patterns #A to #D from the mask memory 12 in synchronization with the video signal. The mask selector 33, based on the select signal,
Any one of mask pattern #A to mask pattern #D is selected.
【0014】AND回路14は、前記異常判定部11か
ら出力される2値シリアル画像信号と,前記2値マスク
データ同期出力部13から出力される2値マスクデータ
との論理積を演算し、その演算結果を検出信号として出
力する。The AND circuit 14 calculates the logical product of the binary serial image signal output from the abnormality determining section 11 and the binary mask data output from the binary mask data synchronization output section 13, and outputs the logical product. The calculation result is output as a detection signal.
【0015】次に、動作について説明する。初期状態で
は、セレクタコントローラ31は、閾値セレクタ24で
接地電位を選択し,マスクセレクタ33で“L”レベル
を選択している。このとき、AND回路14の検出出力
は“L”に保たれている。Next, the operation will be described. In the initial state, in the selector controller 31, the threshold selector 24 selects the ground potential and the mask selector 33 selects the “L” level. At this time, the detection output of the AND circuit 14 is kept at "L".
【0016】検査対象の取手付プラスチックボトルP
が、回転台1に載せられ、回転台1がモータ2により回
転されると、取手付ボトルPの取手P’がビデオカメラ
7に正対する角度になる。この時、投光器4からの光線
が取手P’により遮断されるため、受光器5はホーム信
号をセレクタコントローラ31へ出力する。セレクタコ
ントローラ31は、ホーム信号が入力されると、閾値セ
レクタ24で閾値#Aを選択し,マスクメモリ12およ
びマスクセレクタ33でマスクパターン#Aを選択す
る。Plastic bottle P with handle to be inspected
However, when the rotary table 1 is mounted on the rotary table 1 and the rotary table 1 is rotated by the motor 2, the handle P ′ of the bottle with handle P is at an angle facing the video camera 7. At this time, the light beam from the light projector 4 is blocked by the handle P ′, so that the light receiver 5 outputs a home signal to the selector controller 31. When the home signal is input, the selector controller 31 selects the threshold value #A with the threshold value selector 24, and selects the mask pattern #A with the mask memory 12 and the mask selector 33.
【0017】ビデオカメラ7は、図3の(a)に示すよ
うな取手P’が正面を向いた画面GAを構成するビデオ
信号を微分回路21に入力する。微分回路21は、異物
等による波形を強調した後、ビデオ信号を積分回路22
に入力する。積分回路22は、不要なノイズを除去した
後、ビデオ信号をアナログ比較器23に入力する。The video camera 7 inputs to the differentiating circuit 21 a video signal forming a screen GA in which the handle P'shows the front as shown in FIG. The differentiating circuit 21 emphasizes the waveform due to foreign matters and then integrates the video signal into the integrating circuit 22.
To enter. The integration circuit 22 removes unnecessary noise and then inputs the video signal to the analog comparator 23.
【0018】アナログ比較器23は、前処理されたビデ
オ信号と閾値#Aとを比較し、2値シリアル画像信号を
出力する。正常部では、ビデオ信号は閾値#Aより小さ
いため、2値シリアル画像信号は“L”となる。異常部
(例えば傷Kの部分)では、ビデオ信号は閾値#Aより
大きいため、2値シリアル画像信号は“H”となる。但
し、これは、背景Bや,ボトルPの輪郭Lや,取手P’
の輪郭では保証されない。The analog comparator 23 compares the preprocessed video signal with the threshold value #A and outputs a binary serial image signal. In the normal portion, since the video signal is smaller than the threshold value #A, the binary serial image signal becomes "L". In the abnormal portion (for example, the portion of the scratch K), the video signal is larger than the threshold value #A, so the binary serial image signal becomes “H”. However, this is the background B, the contour L of the bottle P, and the handle P ′.
Not guaranteed with the contours of.
【0019】一方、同期回路32は、ビデオ信号から垂
直同期信号および水平同期信号を抽出し、2値マスクデ
ータをビデオ信号に同期して読み出すための同期信号を
マスクメモリ12に与える。そこで、AND回路14
は、前記2値シリアル画像信号とマスクパターン#Aの
2値マスクデータの論理積を演算する。マスクパターン
#Aは、図3の(a)のような形状となっており、マス
ク部分の2値マスクデータは“L”あるから、背景Bや
取手付ボトルPの輪郭Lや取手P’の輪郭の部分では、
2値シリアル画像信号にかかわらず、AND回路14の
検出出力は“L”となる。すなわち、マスクされる。他
方、ウインドウWA内の2値マスクデータは“H”であ
るから、取手付ボトルPの要部では、AND回路14の
検出出力は、2値シリアル画像信号に依存し、2値シリ
アル画像信号が“L”なら“L”となり、2値シリアル
画像信号が“H”なら“H”となる。すなわち、傷Kが
存在すれば、そのとき検出信号は“H”となる。On the other hand, the synchronizing circuit 32 extracts a vertical synchronizing signal and a horizontal synchronizing signal from the video signal and gives a synchronizing signal for reading the binary mask data in synchronization with the video signal to the mask memory 12. Therefore, the AND circuit 14
Calculates the logical product of the binary serial image signal and the binary mask data of mask pattern #A. The mask pattern #A has a shape as shown in FIG. 3A, and since the binary mask data of the mask portion is “L”, the background B, the contour L of the bottle P with handle and the handle P ′ are In the outline part,
The detection output of the AND circuit 14 becomes "L" regardless of the binary serial image signal. That is, it is masked. On the other hand, since the binary mask data in the window WA is “H”, the detection output of the AND circuit 14 is dependent on the binary serial image signal in the essential part of the bottle P with a handle, and the binary serial image signal is If it is "L", it becomes "L", and if the binary serial image signal is "H", it becomes "H". That is, if the flaw K exists, the detection signal becomes "H" at that time.
【0020】図3の(a)の画面GAについての検査が
終わると、セレクタコントローラ31は、閾値セレクタ
24で接地電位を選択し,マスクセレクタ33で“L”
レベルを選択する。これにより、AND回路14の検出
出力は“L”に戻される。When the inspection of the screen GA shown in FIG. 3A is completed, the selector controller 31 selects the ground potential with the threshold selector 24 and "L" with the mask selector 33.
Select a level. As a result, the detection output of the AND circuit 14 is returned to "L".
【0021】次に、セレクタコントローラ31は、アン
グル信号を参照し、ホーム信号が入力されてから回転台
1が90゜回転したことを検知する。すると、閾値セレ
クタ24で閾値#Bを選択し,マスクメモリ12および
マスクセレクタ33でマスクパターン#Bを選択する。
ビデオカメラ7は、図3の(b)に示すような取手P’
が90゜右を向いた画面GBを構成するビデオ信号を微
分回路21に入力する。微分回路21は、異物等による
波形を強調した後、ビデオ信号を積分回路22に入力す
る。積分回路22は、不要なノイズを除去した後、ビデ
オ信号をアナログ比較器23に入力する。Next, the selector controller 31 refers to the angle signal and detects that the rotary base 1 has rotated 90 ° since the home signal was input. Then, the threshold value selector 24 selects the threshold value #B, and the mask memory 12 and the mask selector 33 select the mask pattern #B.
The video camera 7 has a handle P ′ as shown in FIG.
A video signal forming a screen GB having a right angle of 90 ° is input to the differentiating circuit 21. The differentiating circuit 21 inputs the video signal to the integrating circuit 22 after emphasizing the waveform due to foreign matter or the like. The integration circuit 22 removes unnecessary noise and then inputs the video signal to the analog comparator 23.
【0022】アナログ比較器23は、前処理されたビデ
オ信号と閾値#Bとを比較し、2値シリアル画像信号を
出力する。正常部では、ビデオ信号は閾値#Bより小さ
いため、2値シリアル画像信号は“L”となる。異常部
では、ビデオ信号は閾値#Bより大きいため、2値シリ
アル画像信号は“H”となる。The analog comparator 23 compares the preprocessed video signal with the threshold value #B and outputs a binary serial image signal. In the normal portion, since the video signal is smaller than the threshold value #B, the binary serial image signal becomes “L”. In the abnormal part, the video signal is larger than the threshold value #B, so that the binary serial image signal becomes “H”.
【0023】同期回路32は、ビデオ信号から垂直同期
信号および水平同期信号を抽出し、2値マスクデータを
ビデオ信号に同期して読み出すための同期信号をマスク
メモリ12に与える。AND回路14は、前記2値シリ
アル画像信号とマスクパターン#Bの2値マスクデータ
の論理積を演算する。マスクパターン#Bは、図3の
(b)のような形状となっており、背景Bや取手付ボト
ルPの輪郭Lや取手P’の輪郭の部分では、2値シリア
ル画像信号にかかわらず、AND回路14の検出出力は
“L”となる。他方、ウインドウWB内の取手付ボトル
Pの要部では、AND回路14の検出出力は、2値シリ
アル画像信号に依存し、2値シリアル画像信号が“L”
なら“L”となり、2値シリアル画像信号が“H”なら
“H”となる。The synchronizing circuit 32 extracts a vertical synchronizing signal and a horizontal synchronizing signal from the video signal, and gives a synchronizing signal for reading the binary mask data in synchronization with the video signal to the mask memory 12. The AND circuit 14 calculates the logical product of the binary serial image signal and the binary mask data of the mask pattern #B. The mask pattern #B has a shape as shown in FIG. 3B, and in the background B, the contour L of the bottle P with a handle and the contour of the handle P ′, regardless of the binary serial image signal. The detection output of the AND circuit 14 becomes "L". On the other hand, in the main part of the bottle P with a handle in the window WB, the detection output of the AND circuit 14 depends on the binary serial image signal, and the binary serial image signal is “L”.
If it is, it becomes "L", and if the binary serial image signal is "H", it becomes "H".
【0024】図3の(b)の画面GBについての検査が
終わると、セレクタコントローラ31は、閾値セレクタ
24で接地電位を選択し,マスクセレクタ33で“L”
レベルを選択する。これにより、AND回路14の検出
出力は“L”に戻される。When the inspection of the screen GB shown in FIG. 3B is completed, the selector controller 31 selects the ground potential with the threshold selector 24 and the mask selector 33 with "L".
Select a level. As a result, the detection output of the AND circuit 14 is returned to "L".
【0025】同様にして、図3の(c)に示すような取
手P’が後を向いた画面GCおよび図3の(d)に示す
ような取手P’が90゜左を向いた画面GDでも検査が
行われる。Similarly, a screen GC in which the handle P ′ shown in FIG. 3 (c) faces rearward, and a screen GD in which the handle P ′ shown in FIG. 3 (d) faces 90 ° leftward. But the inspection is done.
【0026】以上の取手付プラスチックボトルの検査装
置100によれば、画像角度に応じて閾値とマスクパタ
ーンとを変化させるから、複雑な形状の容器でも好適に
且つリアルタイムに検査することが出来る。According to the inspection apparatus 100 for a plastic bottle with a handle described above, since the threshold value and the mask pattern are changed according to the image angle, even a container having a complicated shape can be suitably inspected in real time.
【0027】他の実施例としては、図4に示す位置ずれ
補正部40を追加したものが挙げられる。この位置ずれ
補正部40では、画面GA〜GDを画像メモリ41に同
期書込回路42を用いて記憶する。また、各画面GA〜
GDを2値化回路43で2値化して、その2値化画面G
A’〜GD’を2値化画像メモリ44に記憶する。ま
た、位置ずれ算出回路45で、2値化画面GA’〜G
D’とマスクパターンの位置ずれを、エッジ抽出や重心
計測などにより算出する。そして、内部読出信号により
各画面GA〜GDを画像メモリ41から読み出す際に、
位置ずれ補正信号によりマスクメモリ12から読み出す
マスクパターンの位置を補正し、位置を整合させる。な
お、図4の読出ビデオ信号は、図3のビデオ信号と置換
される。As another embodiment, there is one in which the positional deviation correcting section 40 shown in FIG. 4 is added. In the positional deviation correction unit 40, the screens GA to GD are stored in the image memory 41 by using the synchronous writing circuit 42. In addition, each screen GA ~
The GD is binarized by the binarization circuit 43, and the binarized screen G
A ′ to GD ′ are stored in the binarized image memory 44. Further, the misalignment calculation circuit 45 uses the binarized screens GA ′ to G ′.
The positional shift between D ′ and the mask pattern is calculated by edge extraction, centroid measurement, or the like. Then, when each of the screens GA to GD is read from the image memory 41 by the internal read signal,
The position of the mask pattern read from the mask memory 12 is corrected by the position shift correction signal, and the positions are matched. The read video signal in FIG. 4 is replaced with the video signal in FIG.
【0028】[0028]
【発明の効果】この発明の複雑形状容器の検査装置によ
れば、2値マスクデータのマスクパターンを用いるか
ら、複雑な形状でも作成でき,また,画像角度対応に用
意することが出来る。従って、複雑形状容器でも、好適
に検査することが出来る。According to the inspecting apparatus for a complex shape container of the present invention, since the mask pattern of the binary mask data is used, it is possible to prepare a complicated shape and prepare it for the image angle. Therefore, even a complex-shaped container can be suitably inspected.
【図1】この発明の一実施例の取手付プラスチックボト
ルの検査装置の構成説明図である。FIG. 1 is a configuration explanatory view of a plastic bottle inspection device with a handle according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の取手付プラスチックボトルの検査装置に
おける信号処理装置のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of a signal processing device in the inspection device for a plastic bottle with a handle in FIG.
【図3】画像角度の異なる画面とマスクパターンの説明
図である。FIG. 3 is an explanatory diagram of a screen and a mask pattern having different image angles.
【図4】この発明の他の実施例にかかる位置ずれ補正部
40のブロック図である。FIG. 4 is a block diagram of a positional deviation correction unit 40 according to another embodiment of the present invention.
【図5】従来のボトルの検査の説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram of a conventional bottle inspection.
【図6】従来のマスクパターンの説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional mask pattern.
100 取手付プラスチックボトルの検査装置 1 回転台 2 モータ 3 ロータリエンコーダ 4 投光器 5 受光器 6 面光源 7 ビデオカメラ 10 信号処理装置 11 異常判定部 12 マスクメモリ 13 2値マスクデータ同期出力部 14 AND回路 P 取手付プラスチックボトル P’ 取手P’ 100 Plastic bottle inspection device with handle 1 Rotation table 2 Motor 3 Rotary encoder 4 Emitter 5 Light receiver 6 Surface light source 7 Video camera 10 Signal processing device 11 Abnormality determination unit 12 Mask memory 13 Binary mask data synchronization output unit 14 AND circuit P Plastic bottle with handle P'Handle P '
Claims (3)
の画像を入力する画像入力手段と、その画像入力手段か
ら直接に又は画像メモリを介して間接に得られるシリア
ル画像信号を所定の閾値と比較することにより正常部を
“L”とし,異常部を“H”として2値化した2値シリ
アル画像信号を出力する異常判定手段と、マスク部分を
“L”とし,ウインドウ部分を“H”とする2値マスク
データからなる画像角度対応の複数のマスクパターンを
記憶するマスクメモリと、前記2値シリアル画像の画像
角度に対応したマスクパターンから2値マスクデータを
読み出して前記2値シリアル画像信号に同期させて出力
する2値マスクデータ同期出力手段と、前記異常判定手
段の出力信号および前記2値マスクデータ同期出力手段
の出力の論理積を演算するAND回路とを具備したこと
を特徴とする複雑形状容器の検査装置。1. An image input unit for inputting images of a complex-shaped container at a plurality of different image angles, and a serial image signal obtained directly from the image input unit or indirectly via an image memory as a predetermined threshold value. By comparing, the normal portion is set to "L", the abnormal portion is set to "H", and an abnormality determining means for outputting a binary serial image signal binarized, the mask portion is set to "L", and the window portion is set to "H". And a mask memory for storing a plurality of mask patterns corresponding to the image angles, which are composed of binary mask data, and binary mask data are read from the mask patterns corresponding to the image angles of the binary serial images to obtain the binary serial image signals. And a binary mask data synchronous output means for outputting in synchronization with the output signal of the abnormality judging means and an output of the binary mask data synchronous output means. An inspecting device for a complex-shaped container, comprising an AND circuit for calculating.
置において、画像角度対応の複数の閾値を出力する閾値
出力手段をさらに具備したことを特徴とする複雑形状容
器の検査装置。2. The inspecting apparatus for a complex shape container according to claim 1, further comprising a threshold value output means for outputting a plurality of threshold values corresponding to image angles.
状容器の検査装置において、マスクパターンを記憶する
マスクメモリ画像入力手段がビデオカメラであり、シリ
アル画像信号がビデオ信号であり、リアルタイムに複雑
形状容器の検査を行うことを特徴とする複雑形状容器の
検査装置。3. The complex shape container inspection apparatus according to claim 1 or 2, wherein the mask memory image input means for storing the mask pattern is a video camera, and the serial image signal is a video signal, in real time. A device for inspecting a complex-shaped container, which inspects a complex-shaped container.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5004623A JP2896479B2 (en) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | Inspection device for complex shaped containers |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5004623A JP2896479B2 (en) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | Inspection device for complex shaped containers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06213828A true JPH06213828A (en) | 1994-08-05 |
JP2896479B2 JP2896479B2 (en) | 1999-05-31 |
Family
ID=11589183
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5004623A Expired - Lifetime JP2896479B2 (en) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | Inspection device for complex shaped containers |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2896479B2 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0396841A (en) * | 1989-09-11 | 1991-04-22 | Taisho Pharmaceut Co Ltd | Container inspecting device |
JPH03194454A (en) * | 1989-12-25 | 1991-08-26 | Fuji Electric Co Ltd | Container internal surface inspection device |
-
1993
- 1993-01-14 JP JP5004623A patent/JP2896479B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0396841A (en) * | 1989-09-11 | 1991-04-22 | Taisho Pharmaceut Co Ltd | Container inspecting device |
JPH03194454A (en) * | 1989-12-25 | 1991-08-26 | Fuji Electric Co Ltd | Container internal surface inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2896479B2 (en) | 1999-05-31 |
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