JPH06203147A - 画像のシェーディング補正方法 - Google Patents

画像のシェーディング補正方法

Info

Publication number
JPH06203147A
JPH06203147A JP4361320A JP36132092A JPH06203147A JP H06203147 A JPH06203147 A JP H06203147A JP 4361320 A JP4361320 A JP 4361320A JP 36132092 A JP36132092 A JP 36132092A JP H06203147 A JPH06203147 A JP H06203147A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
density
value
density value
line
evaluation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4361320A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshiharu Morinaka
芳治 森中
Kenji Suzuki
健司 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Steel Corp
Original Assignee
Kawasaki Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kawasaki Steel Corp filed Critical Kawasaki Steel Corp
Priority to JP4361320A priority Critical patent/JPH06203147A/ja
Publication of JPH06203147A publication Critical patent/JPH06203147A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Picture Signal Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 撮像条件やシェーディング状態の影響を受け
ることなく、正確に且つ容易にシェーディングの補正を
行うことを可能とする。 【構成】 メモリ上に蓄えられた画像に対し、標準濃度
値を設定すると共に、画像内の任意の位置に装置10に
より評価線を設定し、装置12により評価線上の濃度勾
配を検出し、濃度勾配が所定の閾値以上の場合に、装置
14より該評価線に垂直な基準線を設定し装置16によ
り各基準線上の画素のヒストグラムを発生させ、装置1
8により各基準線のヒストグラムの標準偏差を算出し、
装置20により該偏差が最小のものを補正する基準線と
判定し、装置22によりその基準線について濃度値の平
均値等の評価濃度値を算出し、装置24により該評価濃
度値と前記標準濃度との比を求め、該比を用いて基準線
上の評価濃度値が全て等しく、且つ基準線間の領域では
基準線上の補正濃度の中間の濃度になるように補正す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像のシェーディング
補正方法、特にITVカメラ等の撮影装置によりコンピ
ュータのメモリ上に取り込んだ画像データを処理して、
画像中の物体の欠損等を検査する技術に適用して好適
な、照明装置による照明むらや処理対象物の温度の違い
等に起因して発生する画像の明るさの不均一性(シェー
ディング)を補正するための画像のシェーディング補正
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】画像のシェーディング補正方法として
は、例えば、特開平3−40178には、撮像対象のシ
ート表面に光をあて、所定領域における光の透過量又は
反射量を静止画像として複数回取り込み、この複数の静
止画像を平均化することによりシェーディング画像を求
めた後、対象とする静止画像をこのシェーディング画像
を用いて補正する方法が開示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記シ
ェーディング補正方法では、シェーディング画像を予め
求めておかなければならないために時間がかかってしま
う上に、撮像条件やシェーディング状態が常に一定でな
ければ、正確なシェーディング補正を行うことができな
い。従って、例えば、屋外で対象を撮像する場合には、
時間により照明条件が変わるために、撮像を行う度にシ
ェーディングの度合いが異なることになる。
【0004】又、前記シェーディング補正方法は、仮に
シェーディングがなければ、撮像対象の濃度値が画像中
の全画素の濃度値が一様であるものに対しては有効であ
るが、画像中の様々な位置に背景とは濃度が異なる物体
やパターンが現われる場合には、このシェーディング補
正方法ではうまく補正を行うことができないため、正し
いシェーディング画像を得ることができないという問題
がある。
【0005】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
く成されたもので、シェーディング画像を予め求めてお
く必要がなく、撮像条件やシェーディング状態の影響を
受けることなく、正確に且つ確実にシェーディングの補
正を行うことができる画像のシェーディング補正方法を
提供することを課題とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、画像のシェー
ディング補正方法において、メモリ上に蓄えられた画像
に対して標準濃度値を設定すると共に、画像内の任意の
位置にシェーディング評価線を設定し、該シェーディン
グ評価線上の任意の位置に、これに垂直な少なくとも2
本の基準線を設定し、該基準線上の画素について濃度値
ヒストグラムを作成し、画像中の隣り合う2本の基準線
に挾まれた区間毎に、各基準線上の画素に対しては、前
記濃度ヒストグラムより求まる、平均値、中間値又は最
大度数の濃度値等の評価濃度値と、前記標準濃度値との
比を乗じ、2本の基準線に挟まれた区間領域にある画素
に対しては、該2本の基準線における前記比を各画素か
らそれぞれの基準線迄の距離で内分した値を乗じること
により、各基準線においては、評価濃度値が基準線上の
全体に亘って等しくなるように濃度補正を行い、2本の
基準線に挟まれた区間領域においては、隣接する基準線
それぞれにおける補正濃度の中間的な濃度に補正を行う
ことにより、前記課題を達成したものである。
【0007】本発明は、又、画像のシェーディング補正
方法において、メモリ上に蓄えられた画像に対して標準
濃度値を設定すると共に、画像内の任意の位置にシェー
ディング評価線を設定し、該シェーディング評価線上の
任意の位置に、これに垂直な少なくとも2本の基準線を
設定し、該基準線上の画素について濃度値ヒストグラム
を作成し、画像中の隣り合う2本の基準線に挾まれた区
間毎に、各基準線上の画素に対しては、前記濃度ヒスト
グラムより求まる、平均値、中間値又は最大度数の濃度
値等の評価濃度値と、前記標準濃度値との差を加え、2
本の基準線に挟まれた区間領域にある画素に対しては、
該2つの基準線における前記差を、各画素からそれぞれ
の基準線迄の距離で内分した値を加えることにより、各
基準線上においては、評価濃度値が基準線上の全体に亘
って等しくなるように濃度補正を行い、2本の基準線に
挟まれた区間領域においては、隣接する基準線それぞれ
における補正濃度の中間的な濃度に補正を行うことによ
り、同様に前記課題を達成したものである。
【0008】本発明は、又、前記画像のシェーディング
補正方法において、階調数をn 、標準濃度値をm とし、
且つ、前記基準線k 上の上限濃度値を hk 、下限濃度値
を lk 、評価濃度値を ak 、実濃度値をNold-k 、変換
後の濃度値をNnew-k として、次式により濃度拡張を行
うと共に、 ak >Nold-k の時、 Nnew-k ={(n −m )/( hk − ak )}Nold-k +( hk m − ak n )/( hk − ak ) …(1) ak <Nold-k の時、 Nnew-k ={m /( ak − lk )}(Nold-k − lk ) …(2) 前記基準線k+1 上の上限濃度値を hk+1 、下限濃度値を
lk+1 、評価濃度値をak+1 とし、基準線k と基準線k+1
により挾まれた区間において、水平方向を、区間領域
ではパラメータXで表わし、基準線k 上ではXk 、基準
線k+1 上ではXk+1 として、該区間における濃度拡張を
行う範囲の上限値Hx 、下限値Lx 、評価濃度値Ax
それぞれ次式で設定し、 Hx ={( hk+1 − hk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ hk …(3) Lx ={( lk+1 − lk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ lk …(4) Ax ={( ak+1 − ak )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ ak …(5) 前記区間領域のX線上の実濃度値をNold-x 、変化後の
濃度値をNnew-x として、次式により濃度拡張を行い、 Ax >Nold-x の時 Nnew-x ={(n −m )/(Hx −Ax )}Nold-x +(Hx m −Ax n )/(Hx −Ax ) …(6) Ax <Nold-x の時 Nnew-x ={m /(Ax −Lx )}(Nold-x −Lx ) …(7) 且つ、変換後の濃度値Nnew-x が、上限を超えた(N
new-x >n )場合には、Nnew-x =n 、下限を超えた
(Nnew-x <0)場合には、Nnew-x =0にするように
したものである。
【0009】本発明は、又、前記シューディング補正方
法において、シェーディング評価線として設定した直線
上の濃度の傾きを、該評価線上の濃度値を最小二乗法に
より、該評価線上の座標を変数とする1次式に当て嵌め
て求め、その傾きが、予め決められた閾値よりも大きい
場合にのみ、シェーディング補正を行うようにしたもの
である。
【0010】本発明は、更に、前記シューディング補正
方法において、基準線上にバックグランド以外の特異領
域が存在する場合には、濃度値ヒストグラムを作成する
際に、予め決められた濃度閾値よりも高いか、又は低い
濃度値を除外して、特異領域の影響を取り除く処理を行
うようにしたものである。
【0011】
【作用】本発明においては、各基準線においては、濃度
ヒストグラムから求めた平均値、中間値又は最大度数の
濃度値等である評価濃度値と、予め設定してある標準濃
度値との比又は差を用いて、評価濃度値が基準線上の全
体に亘って等しくなるような濃度補正を行い、基準線間
の区間領域においては、隣接する2本の基準線上におけ
る補正後の濃度の中間的な濃度で補正を行うようにした
ので、補正対象の画像からシェーディング補正処理に用
いるデータを、画像入力の度に直接求めることが可能と
なり、わざわざ予めシェーディング画像を求めておく必
要がなくなる。又、撮像画像毎にその画像に適した補正
係数等を求めるようにしたことから、画像を必ずしも同
一条件で撮像する必要がなくなる。
【0012】即ち、撮影の都度シェーディングの度合い
が異なるような画像に対しても、例えば、シェーディン
グの傾きに対して垂直方向に複数本の基準線を自動的に
選択し、該基準線上の濃度値のヒストグラムを作成し、
これから求まる評価濃度値(平均値、中間値等)や標準
偏差等により、2本の基準線間の各区間毎に線形にシェ
ーディング補正を行うことにより、標準のサンプルや画
像以外の情報等を用いることなく、画像に存在する情報
のみでシェーディング補正を行うことが可能となり、画
像の改善を容易に図ることが可能となる。
【0013】従って、例えば、コークス炉の煉瓦のよう
に高温になっているものを撮影対象とする場合に得られ
る画像のように、照明によるものと同時に、高温に熱せ
られた煉瓦から赤外線の輻射が強く起こること等に起因
して、撮影の度にシェーディングの度合いが異なるよう
な画像に対しても、容易に正確なシェーディング補正を
行うことが可能となる。
【0014】又、本発明において、前記シェーディング
補正を行う際に、前記の濃度拡張を行う場合には、シェ
ーディング補正と同時に、十分な輝度をもたない画像に
対しては、濃度の拡張を行うことも可能となる。
【0015】又、本発明において、濃度拡張を前記
(1)〜(7)式を用いて行う場合には、後に詳述する
ように適切な濃度拡張を行うことが可能となる。
【0016】又、本発明において、シェーディング評価
線として設定した直線上の濃度値の傾きを、該評価線上
の濃度値を最小二乗法により、該評価線上の座標を変数
とする1次式に当て嵌めて求め、その傾きが、予め決定
された閾値よりも大きい場合にのみ、シェーディング補
正を行う場合には、画像上のシェーディングの程度に応
じてその補正を行うことが可能となる。
【0017】更に、本発明において、基準線上にバック
グランド以外の特異領域が存在する場合には、濃度値ヒ
トスグラムを作成する際に、予め決められた濃度領域値
よりも高いか、又は低い濃度値を除外して特異領域の影
響を取り除く処理を行う場合には、例えば基準線上の濃
度値ヒストグラムからその平均値を求める際に、極めて
濃度値が高いか、又は低い特異領域を除いて濃度値ヒト
スグラムを求めるとが可能となる。従って、シェーディ
ング補正を行うためのデータを、例えば物体等が存在す
る領域の影響を避けて背景領域のみの画像から求めるこ
とが可能となるため、背景領域のみのシェーディング補
正が可能となる。そのため、画像中の任意の位置に背景
と濃度が異なる物体やパターンが現われる対象について
も、最適なシェーディング補正が可能となる。
【0018】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
【0019】図1は、本発明に係る一実施例のシェーデ
ィング補正方法に適用される装置の基本構成を、その補
正処理の基本の流れと共に示したブロック図である。
【0020】図1のシェーディング補正装置は、以下に
詳述する各機能を有するシェーディング評価線発生装置
10、濃度勾配検出装置12、基準線発生装置14、ヒ
ストグラム発生装置16、標準偏差算定装置18、基準
線判定装置20、評価濃度値算定装置22及び濃度変換
装置24で構成され、矢印方向に処理が実行されるよう
になっている。
【0021】本実施例では、図2(A)に示した3つの
濃度勾配が存在する原画像に対してシェーディング補正
を行って、同図(B)に示した処理後の画像を作成する
場合について説明する。なお、図2(A)の3つの画像
は、上からそれぞれ濃度勾配が横方向、斜め方向、縦方
向に存在する場合の画像の例である。
【0022】本実施例では、大略図3のフローチャート
に従って処理が実行される。
【0023】まず、図1におけるシェーディング評価線
発生装置10により、画像内に任意の3点を設定し、各
点を含む互いに平行なシェーディング評価線を設定す
る。次いで、濃度勾配検出装置12により、それぞれの
シェーディング評価線上の画素の濃度値を最小二乗法に
より、前記シェーディング評価線上の座標を変数とする
1次式に当て嵌め、この1次直線の傾きを求める(ステ
ップ110)。
【0024】この傾きをシェーディングの傾きと定義
し、この傾きを調べることにより自動的に画面内のシェ
ーディング状態を検出する。即ち、それぞれのシェーデ
ィング評価線上の濃度プロファイルに対する傾きαi
求め、この傾きαi を予め決められた閾値TH1と比較
する(ステップ112)。なお、ここでi はプロファイ
ルの方向を示す。
【0025】上記TH1よりも前記傾きαi が小さい場
合については、その方向のシェーディング処理を行わ
ず、逆に、該閾値TH1よりも傾きαi が大きい場合に
は、シェーディング補正処理を実行する(ステップ11
4)。図4にシェーディグ補正を行う場合と行わない場
合の濃度プロァイルの傾きの例を示した。
【0026】このようなシェーディングの傾きを閾値と
比較する処理を、図2(A)の原画像について3方向全
てに対して行う(ステップ116)。以上のシェーディ
ング補正を必要な全ての方向について実行した後終了す
る。
【0027】次に、上記ステップ114で行うシェーデ
ィング補正の方法について説明する。基準線発生装置1
4によりプロファイル(シェーディング評価線)に対
し、垂直方向に左端よりある幅L1 でn (2以上)点の
予定基準線を自動的に選択する。それと共に、各予定基
準線上においてそれぞれ幅L2 の間隔でm 点のサンプリ
ングを行い、各予定基準線毎に各サンプリング点につい
ての濃度値のヒストグラムをヒストグラム発生装置16
により生成し、各ヒストグラムについて標準偏差算定装
置18により標準偏差σm (m :0−5)をそれぞれ算
出する。
【0028】次いで、基準線判定装置20により、算出
した前記標準偏差σm の中で一番小さいものを補正用の
基準線と決定する。但し、その際、標準偏差σm が0の
場合は除く。
【0029】次いで、上で決定した基準線が図5に示し
たようなk とk+1 であるとし、基準線k 上のX座標(評
価線に対して水平方向)をXk (k :0−4)とし、該
基準線に対して評価濃度値算定装置22によりそれぞれ
評価濃度値を求める。この評価濃度値は、濃度の平均
値、中間値又は最大の度数を持つ濃度値等であり、これ
らのうちのいずれかを選択することが可能となってい
る。図6にこれら各評価濃度値の関係を示した。以下、
評価濃度値として平均値を採用する場合について説明を
進める。
【0030】次いで、濃度変換装置24により、以下の
ようにして濃度変換を行う。対象画像の濃度値は2n 階
調であるとし、この2n 階調の画像に対して、基準線k
と k+1の間の区間において、k 点での平均値(評価濃
度値 ak )を avek 、標準偏差をσk 、同様に k+1点
での平均値及び標準偏差をそれぞれ avek+1 、σk+1
し、更に標準濃度値をn (2n の中間)、前記基準線k
上の上限濃度値、下限濃度値を hk 、 lk とし、同様に
基準戦k+1 上の上限濃度値、下限濃度値をそれぞれ h
k+1 、 lk+1 とすると、それぞれの次の(8)〜(1
1)となる。
【0031】 hk = avek +2σk …(8) lk = avek −2σk …(9) hk+1 = avek+1 +2σk+1 …(10) lk+1 = avek+1 −2σk+1 …(11)
【0032】ここで、平均値からの幅を2σとすること
により、全体の95.45%の範囲をカバーできる。但
し、3σとしてもよい。
【0033】又、基準線k 上で、変換前の濃度値をN
old-k 、変換後の濃度値をNnew-k とすると、 ak <N
old-k の時、前記(1)式より次の(12)式が得られ
る。
【0034】 Nnew-k = n(Nold-k +2σk − avek )/2σk …(12)
【0035】又、 ak >Nold-k の時、前記(2)式よ
り次の(13)式が得られる。
【0036】 Nnew-k = n(Nold-k +2σk − avek )/2σk …(13)
【0037】更に、前記図5に示したように基準線k と
k+1により挾まれた区間において水平方向を、区間領
域ではパラメータXで表わし、基準線k 上ではXk 、基
準線k+1ではXk+1 として、各区間における濃度拡張
を行う範囲の上限値をHx 、下限値をLx 、平均濃度値
をAvex とすると、それぞれ次の(14)、(15)、
(16)式で設定できる。なお、これらはそれぞれ前記
(3)〜(5)式に相当する。
【0038】 Hx ={( hk+1 − hk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ hk …(14) Lx ={( lk+1 − lk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ lk …(15) Avex ={( avek+1 − avek )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk ) + avek …(16)
【0039】前記区間領域のX線上の実濃度を
old-x 、変換後の濃度値をNnew-x とすると、Avex
<Nold-x の時、前記(6)式より次の(17)式が求
まる。
【0040】 Nnew-x = n(Nold-x +Hx −2Avex )/(Hx −Avex ) …(17)
【0041】又、Avex >Nold-x の時、前記(7)式
より次の(18)式が求まる。
【0042】 Nnew-x = n(Nold-x −Lx )/(Avex −Lx ) …(18)
【0043】上記(12)、(13)、(17)、(1
8)式を用いて新しい濃度値が得られる。なお、上記処
理を行う場合、上限濃度値((8)、(10)、(1
4))よりも大きい値は新しい濃度値を2n に、又、下
限濃度値((9)、(11)、(15))よりも小さい
値は新しい濃度値を0とする。更に、(12)、(1
3)、(17)、(18)式により得られた変換後の濃
度値が0より小さい場合は、変換後の濃度値を0に、2
n よりも大きい場合には、変換後の濃度値を2n とす
る。
【0044】以上の操作を全区間に亘って施すことによ
り、シェーティング補正を行うと共に、図7に示したよ
うに4σの範囲について濃度拡張が自動的に行うことが
できる。
【0045】又、図8に示されるように、ほぼ同じよう
なヒストグラムで、その濃度値がシフトしているような
場合、中心の基準線における評価濃度値を加・減算する
ことで目的とする濃度値に持っていき、基準線間の各区
間領域では、基準線からの距離の内分の比を掛けたシフ
ト量を加・減算することでシェーディング補正を行うこ
とができる。
【0046】又、対象画像内に、特異領域(極端に濃度
値の高い領域や低い領域)がある場合には、該特異領域
に引き摺られることが起こるため、特異領域の濃度値が
低い場合には、その区間全体の濃度値が高くなり、逆に
特異領域の濃度値が高い場合には、その区間全体の濃度
範囲が十分でないような処理結果となってしまう。
【0047】そこで、このような場合には、例外処理と
して、前記ヒストグラム発生時点において、判別分析法
等により算出した閾値TH2と、基準閾値TH3とを比
較し、いずれか大きいものを判定閾値とする。その結
果、前記ヒストグラム発生時点において、上記判定閾値
よりも高い濃度値は、ヒストグラムの要素から除外して
前述の処理を行うことにより、特異点に引き摺られて画
像全体がぼやけることを防止することが可能となる。
【0048】以上詳述した本実施例によれば、画像中の
背景領域に設定した基準線より補正係数を求めることに
より、画像中の物体等の影響に拘らず、良好なシェーデ
ィング補正及び濃度拡張を行うことが可能となる。
【0049】以上、本発明について具体的に説明した
が、本発明は、前記実施例に示したものに限られるもの
でなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であ
る。
【0050】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、シ
ェーディング画像を予め求めておく必要がなく、撮像条
件やシェーディング状態の影響を受けることなく、正確
に且つ容易にシェーディングの補正を行うことが可能と
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】一実施例に適用されるシェーディング補正装置
の概略構成を示すブロック図
【図2】上記実施例によるシェーディング補正の方法を
説明するための説明図
【図3】上記実施例によるシェーディング補正処理の大
略を示すフローチャート
【図4】評価線上の濃度の傾きと閾値との関係を示す説
明図
【図5】評価線と基準線との関係を示す説明図
【図6】3の濃度評価値の関係を示す線図
【図7】上記実施例による濃度拡張の結果を示す線図
【図8】シェーディング補正方法の説明図
【符号の説明】
10…シェーディング評価線発生装置 12…濃度勾配検出装置 14…基準線発生装置 16…ヒストグラム発生装置 18…標準偏差算定装置 20…基準線判定装置 22…評価量算定装置 24…濃度変換装置

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】メモリ上に蓄えられた画像に対して標準濃
    度値を設定すると共に、画像内の任意の位置にシェーデ
    ィング評価線を設定し、該シェーディング評価線上の任
    意の位置に、これに垂直な少なくとも2本の基準線を設
    定し、該基準線上の画素について濃度値ヒストグラムを
    作成し、画像中の隣り合う2本の基準線に挾まれた区間
    毎に、 各基準線上の画素に対しては、前記濃度ヒストグラムよ
    り求まる、平均値、中間値又は最大度数の濃度値等の評
    価濃度値と、前記標準濃度値との比を乗じ、 2本の基準線に挟まれた区間領域にある画素に対して
    は、該2本の基準線における前記比を各画素からそれぞ
    れの基準線迄の距離で内分した値を乗じることにより、 各基準線においては、評価濃度値が基準線上の全体に亘
    って等しくなるように濃度補正を行い、 2本の基準線に挟まれた区間領域においては、隣接する
    基準線それぞれにおける補正濃度の中間的な濃度に補正
    を行うことを特徴とする画像のシェーディング補正方
    法。
  2. 【請求項2】メモリ上に蓄えられた画像に対して標準濃
    度値を設定すると共に、画像内の任意の位置にシェーデ
    ィング評価線を設定し、該シェーディング評価線上の任
    意の位置に、これに垂直な少なくとも2本の基準線を設
    定し、該基準線上の画素について濃度値ヒストグラムを
    作成し、画像中の隣り合う2本の基準線に挾まれた区間
    毎に、 各基準線上の画素に対しては、前記濃度ヒストグラムよ
    り求まる、平均値、中間値又は最大度数の濃度値等の評
    価濃度値と、前記標準濃度値との差を加え、 2本の基準線に挟まれた区間領域にある画素に対して
    は、該2つの基準線における前記差を、各画素からそれ
    ぞれの基準線迄の距離で内分した値を加えることによ
    り、 各基準線上においては、評価濃度値が基準線上の全体に
    亘って等しくなるように濃度補正を行い、 2本の基準線に挟まれた区間領域においては、隣接する
    基準線それぞれにおける補正濃度の中間的な濃度に補正
    を行うことを特徴とする画像のシェーディング補正方
    法。
  3. 【請求項3】請求項1又は2において、 階調数をn 、標準濃度値をm とし、且つ、前記基準線k
    上の上限濃度値を hk、下限濃度値を lk 、評価濃度値
    を ak 、実濃度値をNold-k 、変換後の濃度値をN
    new-k として、次式により濃度拡張を行うと共に、 ak >Nold-k の時、 Nnew-k ={(n −m )/( hk − ak )}Nold-k +( hk m − ak n )/( hk − ak ) …(1) ak <Nold-k の時、 Nnew-k ={m /( ak − lk )}(Nold-k − lk ) …(2) 前記基準線k+1 上の上限濃度値を hk+1 、下限濃度値を
    lk+1 、評価濃度値をak+1 とし、基準線k と基準線k+1
    により挾まれた区間において、水平方向を、区間領域
    ではパラメータXで表わし、基準線k 上ではXk 、基準
    線k+1 上ではXk+1 として、該区間における濃度拡張を
    行う範囲の上限値Hx 、下限値Lx 、評価濃度値Ax
    それぞれ次式で設定し、 Hx ={( hk+1 − hk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ hk …(3) Lx ={( lk+1 − lk )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ lk …(4) Ax ={( ak+1 − ak )/(Xk+1 −Xk )}(X−Xk )+ ak …(5) 前記区間領域のX線上の実濃度値をNold-x 、変化後の
    濃度値をNnew-x として、次式により濃度拡張を行い、 Ax >Nold-x の時 Nnew-x ={(n −m )/(Hx −Ax )}Nold-x +(Hx m −Ax n )/(Hx −Ax ) …(6) Ax <Nold-x の時 Nnew-x ={m /(Ax −Lx )}(Nold-x −Lx ) …(7) 且つ、変換後の濃度値Nnew-x が、上限を超えた(N
    new-x >n )場合には、Nnew-x =n 、下限を超えた
    (Nnew-x <0)場合には、Nnew-x =0にすることを
    特徴とする画像のシェーディング補正方法。
  4. 【請求項4】請求項1又は2において、 シェーディング評価線として設定した直線上の濃度の傾
    きを、該評価線上の濃度値を最小二乗法により、該評価
    線上の座標を変数とする1次式に当て嵌めて求め、その
    傾きが、予め決められた閾値よりも大きい場合にのみ、
    シェーディング補正を行うことを特徴とする画像のシェ
    ーディング補正方法。
  5. 【請求項5】請求項1又は2において、 基準線上にバックグランド以外の特異領域が存在する場
    合には、濃度値ヒストグラムを作成する際に、予め決め
    られた濃度閾値よりも高いか、又は低い濃度値を除外し
    て、特異領域の影響を取り除く処理を行うことを特徴と
    する画像のシェーディング補正方法。
JP4361320A 1992-12-29 1992-12-29 画像のシェーディング補正方法 Pending JPH06203147A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4361320A JPH06203147A (ja) 1992-12-29 1992-12-29 画像のシェーディング補正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4361320A JPH06203147A (ja) 1992-12-29 1992-12-29 画像のシェーディング補正方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06203147A true JPH06203147A (ja) 1994-07-22

Family

ID=18473097

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4361320A Pending JPH06203147A (ja) 1992-12-29 1992-12-29 画像のシェーディング補正方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06203147A (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0868673A (ja) * 1994-08-31 1996-03-12 Toshiba Corp 分布計測データによる機器状態の監視方法
JP2008131981A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Fujifilm Corp 画質評価演算方法および装置ならびにプログラム
WO2010107420A1 (en) * 2009-03-16 2010-09-23 Gtech Corporation Optical reader quality factor
DE202013012027U1 (de) 2012-01-13 2015-02-09 Seiko Epson Corporation Kartusche, Druckmaterialzufuhrsystem, Druckvorrichtung, Flüssigkeitsaufnahmebehälter, ein Drucksystem und eine Anschlussverbindungsstruktur
KR20150137467A (ko) * 2014-05-29 2015-12-09 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0868673A (ja) * 1994-08-31 1996-03-12 Toshiba Corp 分布計測データによる機器状態の監視方法
JP2008131981A (ja) * 2006-11-27 2008-06-12 Fujifilm Corp 画質評価演算方法および装置ならびにプログラム
US8109442B2 (en) 2008-12-23 2012-02-07 Gtech Corporation Optical reader quality factor
WO2010107420A1 (en) * 2009-03-16 2010-09-23 Gtech Corporation Optical reader quality factor
DE202013012027U1 (de) 2012-01-13 2015-02-09 Seiko Epson Corporation Kartusche, Druckmaterialzufuhrsystem, Druckvorrichtung, Flüssigkeitsaufnahmebehälter, ein Drucksystem und eine Anschlussverbindungsstruktur
KR20150137467A (ko) * 2014-05-29 2015-12-09 삼성전자주식회사 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7853097B2 (en) Image processing apparatus and image processing program
US8295606B2 (en) Device and method for detecting shadow in image
US20110211098A1 (en) Noise filter for bayer pattern image data
JPH03160573A (ja) 画像閾値決定方法
JP2018128309A (ja) ひび割れ検出方法
CN114757853B (zh) 平场校正函数的获取方法及系统、平场校正方法及系统
JP5705711B2 (ja) ひび割れ検出方法
US4959869A (en) Method for determining binary coding threshold value
JP3040896B2 (ja) 画像処理装置
JP2005345290A (ja) 筋状欠陥検出方法及び装置
JP4244046B2 (ja) 画像処理方法および画像処理装置
JPH06203147A (ja) 画像のシェーディング補正方法
JPS6376578A (ja) 自動2値化方式
JP2004134861A (ja) 解像度評価方法、解像度評価プログラム、および光学機器
JP2004219291A (ja) 画面の線欠陥検出方法及び装置
JP4287603B2 (ja) 光学機器の調整および検査システム
JP4447464B2 (ja) 皮膚紋様の画像中の関心のある領域の決定方法
US7672519B2 (en) Use of frequency transforms in the analysis of image sensors
EP1014690A2 (en) Method of scanning photographic film images using selectively determined system response gain calibration
US6941027B1 (en) Method of and system for automatically determining a level of light falloff in an image
US11488286B2 (en) Method for determining Moire pattern, method for suppressing Moire pattern and circuit system thereof
JPH05172535A (ja) ピーク点検出方法及びキャリブレーション方法
JP3856235B2 (ja) 平面画像における傾斜被り補正方法
AU766343B2 (en) A method and apparatus for detecting focus of a digital image
JP2022166523A (ja) 画像処理装置、撮像センサ、画像処理方法、およびプログラム