JPH06186343A - 検出器ゲイン安定化方式 - Google Patents

検出器ゲイン安定化方式

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JPH06186343A
JPH06186343A JP33835592A JP33835592A JPH06186343A JP H06186343 A JPH06186343 A JP H06186343A JP 33835592 A JP33835592 A JP 33835592A JP 33835592 A JP33835592 A JP 33835592A JP H06186343 A JPH06186343 A JP H06186343A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation source
pulser
scintillator
measurement
signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP33835592A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Higuchi
善教 樋口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi High Tech Control Systems Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Naka Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Naka Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP33835592A priority Critical patent/JPH06186343A/ja
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  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【構成】半減期が長く(通常の使用期間に対しその経時
的変動が無視できる程度の)、容量が法的規制外(3.
7MBq 以下)で、計測に利用される線源の信号と十
分識別できるようなエネルギー帯を有する線源(例えば
241Am−Be)を基準パルサーとして用い且つ、検出
要素のプラスチックシンチレータ(の先端部)に装着
し、検出系の温度変動や経時的変化に基づく測定系全体
のゲイン変動を制御する検出器ゲイン安定化方式。 【効果】シンチレータ,ホトマル,プリアンプという一
連の測定系全体の変動をモニターできる。また、温度変
化の影響もなく一定、且つ安定な参照信号を得ることが
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、測定条件(測定用線
源の照射強度や測定対象の状態)検出部の温度、要素の
経時的変動などにかかわりなく、常に一定の信号を送出
する基準パルサーを備えて、その基準パルスを常時モニ
ターすることにより、測定系のゲイン変動に基づく誤差
を自動補正し、常に計測が測定対象のみに依存して、正
しく計測できるように計ったγ線検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】図1のように広角のγ線ビームと棒状検
出器を用いて、ベッセル内容物のレベルを非接触式に測
定する方式において、検出器出力は、内容物のレベル変
化によるγ線の吸収量変化のみで一義的に定まり、他の
変動要因の依存度を極力押さえることが重要となる。
【0003】本例のように、棒状の長いシンチレータを
用いる場合、シンチレータ自体の温度,経時的変化の測
定値に対する影響度は特に重要となる。
【0004】このようなシンチレータ(SCT)とホト
マル(PM)よりなるシンチレーションカウンタ自体の
変動に基づく検出系のゲイン変動補正は、これまでにも
数多くの報告がなされているが、いずれにしても、参照
信号と設定値とのつき合せによる制御量にて、系にフィ
ードバック(FB)をかけて自動補正を与える方法が取
られている。
【0005】この中で、基準となる参照信号が外界条件
によって変動せず、常に一定値を維持することが重要
で、安定な程良い制御が得られることになる。
【0006】方式的には、 (a)一定な光パルスを参照信号として用いる。
【0007】標準光としてLEDを発光させ、その時の
検出出力が一定になるように検出部の高圧電源を制御す
る。
【0008】(b)補助的な放射線線源を別なシンチレ
ータとともに使用する。
【0009】シンチレータ(NaI)の表面、もしくは
内部に微少量のアルファ線源(241Am)を配置し、この
アルファ線によって生じるパルスの波高値が一定となる
ように増巾系のゲインを制御する。
【0010】(c)2種のシンチレータを用いる方法 2種類のシンチレータ(例えば、NaIとプラシン)で
直列接合型シンチレータを構成させる。これにγ線を当
てるとシンチレータはそれぞれ発光するが、NaIシン
チレータは、γ線の種類によりそれぞれ特有のスペクト
ル発光を呈する。
【0011】この光は、プラシン自体のγ線のスペクト
ルとともにPMに入射するが、これを分離して、NaI
の発光信号を基準信号として増巾系の変動の補正に利用
する。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】これらの方式は、測定
精度,用途,目的などによってその評価も異なってくる
が、一般的に各方式それぞれ下記のような問題がある。
【0013】(1)a方式においては、LED自体の温
度,経時的変化,装置装着上の幾何学的条件などの影響 (2)b方式においては、241Am 自体の経年変化は考
慮外となるが、NaI自体の温度影響,経年変化にとも
なう黄化現象の問題 (3)C方式においては、上記同様シンチレータ自体の
温度,経時的変化の問題が不可欠で、制御対象の変動と
の分離ができない。
【0014】などの本質的問題をそれぞれ抱えている。
【0015】
【課題を解決するための手段】シンチレータ,ホトマル
それに続くプリアンプという一連の測定系の変動を検出
し、ゲイン補正を自動的に行わせるには、当然のことな
がら、系の変動が他の変動と明確に分離し得て、検出で
きることが、絶対条件となる。従って、前項に述べたご
とく、系の変動を検出する制御系の変動がこれに関与す
るようなものは、好ましくない。そのため、参照信号を
与えるもの自体は、常に一定であることが前提となる。
【0016】このため、本発明では、参照信号を与える
手段として補助的な線源を用いる。但し、その線源に
は、下記のような条件を備えたものを利用する。
【0017】(a)線源の半減期が、装置の通常の使用
期間に対しその経時的変化が無視できる程長いこと。
【0018】(b)線源のエネルギースペクトル特性
が、測定信号のエネルギースペクトル特性と明確に分離
できるものであること。
【0019】(c)線源の出力が、容量に対して効率良
く得られるとともに、その容量は、法規制値の3.7M
Bq 以下にてその目的が得られるものであること。
【0020】
【作用】前項に述べたような条件を具備した補助線源
を、基準パルサーとして用いる。これを、検出器のシン
チレータのできるだけ先端部に装着する。先端部に装着
することにより、シンチレータ,ホトマル,プリアンプ
という一連の測定系全体の変動をモニターできる。本パ
ルサーは、半減期が非常に長い線源を用いるために経時
的変化はもとより、温度変化の影響もなく一定、且つ安
定な参照信号を得ることができる。
【0021】また、測定信号と参照信号は、そのスペク
トル特性が明確に分離できることから測定条件とは無関
係に取扱える。
【0022】更に、法規制値以下の容量の線源であるの
で、これを用いる特別な法規制上の問題は存在せず、ま
た半減期の長い線源を利用することにより、使用後回収
して再利用することも可能となる。
【0023】また、少容量線源の参照信号としての発生
パルス数の問題は、サンプリング時間の考慮からこれを
カバーすることは十分可能である。
【0024】
【実施例】本発明の実施例を、溶液や粉体を収納する容
器のレベル測定に用いられる装置を例に説明する。
【0025】まず、装置構成を図1(a)により説明す
る。1は、溶液や粉体を収納する通常ベッセルと呼ばれ
る容器で、装置は、この容器の内容物の貯蔵状態、つま
りベッセル内のレベル状態を非接触式に測定するのに用
いられる。その目的のため、ベッセルを挾んで、線源と
線源を収納している遮蔽容器2、それと相対する位置に
図に示すような検出器3が配置される。この検出器は、
ベッセル内の測定しようとするレベル範囲に沿って、長
さ方向に図のような棒状の形態をとっている。また、こ
の検出器からは、容器のレベルに対応した信号が、ケー
ブル4にて計器室に設置されている信号処理装置5へ伝
送されることになる。このような装置構成において、遮
蔽容器2からは、図示のように測定範囲を照射する形に
広角的にγ線ビームが照射されている。いま、ベッセル
内の内容物が、あるレベル位置にある場合、棒状の検出
器には、γ線ビームが内容物によって吸収される部分
と、されない部分のものが信号として検出されることと
なる。この信号が、ベッセル内のレベルと、ある関係で
対応することから、レベルを非接触式に測定できること
となる。即ち、γ線強度とレベルとの関係は次式のごと
く表わされる。
【0026】
【数1】
【0027】また、装置の特性例としては、図1(b)
のようになる。
【0028】このような装置において、レベルを正確に
測定するには、検出器出力が内容物レベル変化に対し、
γ線の吸収量変化のみに依存して一義的に定まり、他の
変動要因の介在が極力押さえられることが重要となる。
【0029】いま、この装置の検出器構成を見てみる
と、おおよそ図2に示すような構成となる。ここで、1
は、γ線を受けその強度に応じて光パルスを発光させる
棒状のシンチレータ、3は、その光信号を増巾し、光を
電気信号に変換し出力させるところの光電子増倍管、4
は、その出力を処理し易い信号に調整するところのプリ
アンプ部,各要素は、6の金属ケースに収納されて図示
のような棒状の検出器を構成している。
【0030】このような構成からなる検出器において、
各要素が特性的に安定で、外部条件の変動に対しても測
定信号のみに依存した安定な出力を取り出せれば良い
が、一般的には、それぞれ温度依存性,経時的変化の問
題があり、精度良い測定を維持するには何らかの対策が
必要となる。
【0031】このような目的のために本発明は、検出器
シンチレータ先端部に、前項で示したような条件を具備
した補助的な放射性線源を基準パルサーとして用い、各
要素の変動に対し、一定値が維持できるような補正方式
を提案するものである。
【0032】本例において、具体的な実施例として、
241Am−Be の中性子線源を用いる場合を考えてみ
る。周知のように、241Am−Be は中性子線源で、一
般的にそのエネルギースペクトルは、2MeV〜20M
eVを示す。半減期は、ほぼ450年程度である。また、
発生パルスは、2.2×106/sec・Ciとなる。
【0033】このような線源をいま、基準パルサーとし
てシンチレータの先端部に設ける。本パルサーは、エネ
ルギースペクトルが2〜20MeVと高いゆえに、通常
測定に用いられる137Cs(0.64MeV),60Co
(1.1,1.3MeV)と、明確に波高弁別が容易に計
れる。また、エネルギーが高いゆえ、2mを超える棒状
のプラスチックシンチレータの先端部に設置しても、シ
ンチレータ透過時の減衰が少なく、全長を通して測定系
全体の安定なモニター信号を供給できる。また、450
年という長半減期線源よりの放射エネルギーを利用する
ため、経時的,温度的影響を考慮する必要はなく、安定
した一定の参照信号を得ることができる。これを用いて
系の安定化を計るには、図3のスペクトルにおいて、図
示のようにディスクリを設定し、DS−2以下が測定信
号、以上が参照信号として取り出す。DS−2以上の参
照信号は、一般的に計数率が少ないことが考えられるた
め、その場合は、或る必要時間を積算することを考え
る。その積算値は、或るタイミングで設定値と比較し、
その増減に比例した制御量でもって、系のゲインを補正
するようにする。ゲイン安定化制御の一般的方式を図4
に示す。
【0034】
【発明の効果】本方式の効果は、 半減期の長い線源を用いるため、温度、または経時
的変化を考慮せず、安定な参照信号を得ることができ
る。
【0035】 Am−Beのような中性子を用いるこ
とによって、エネルギースペクトルが測定用と明確に分
離できるとともに、エネルギーが高いゆえ、長尺のプラ
スチック全長を透過しても、光パルスの減衰が小さく安
定な基準パルサーとなる。 法規制の3.7MBq 以下の容量を用いることによ
って、使用上の法的問題はなく、また長半減期線源ゆ
え、使用後も回収して再利用を計ることも可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】装置構成と計測特性例を示す図である。
【図2】棒状検出器の構成図である。
【図3】検出器スペクトルと計測特性例を示す図であ
る。
【図4】シンチレーションカウンタ安定化機構構成図で
ある。
【符号の説明】
1…ベッセル、2…遮蔽容器、3…棒状検出器、4…ケ
ーブル、5…信号処理装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】γ線ビームを広角的に照射する線源部と、
    測定対象(例えば、溶液や粉体を収納するベッセル)を
    挾んで相対して配置され、検出要素母体がプラスチック
    のシンチレータで構成されるγ線検出器において、半減
    期が長く(通常の使用期間に対しその経時的変動が無視
    できる程度の)、容量が法的規制外(3.7MBq 以
    下)で、計測に利用される線源の信号と十分識別できる
    ようなエネルギー帯を有する線源(例えば241Am−B
    e)を基準パルサーとして用い且つ、検出要素のプラス
    チックシンチレータ(の先端部)に装着し、検出系の温
    度変動や経時的変化に基づく測定系全体のゲイン変動を
    制御することを特徴とする検出器ゲイン安定化方式。
JP33835592A 1992-12-18 1992-12-18 検出器ゲイン安定化方式 Pending JPH06186343A (ja)

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JP (1) JPH06186343A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011247727A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Toshiba Corp 放射線モニタ
CN108871499A (zh) * 2017-05-10 2018-11-23 罗斯蒙特储罐雷达股份公司 用于减小的相对带宽的脉冲雷达料位计系统和方法
DE102022104550B3 (de) 2022-02-25 2023-06-22 Vega Grieshaber Kg Messgerät und Verfahren zur Bruchstellenbestimmung innerhalb eines Szintillators

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JP2011247727A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Toshiba Corp 放射線モニタ
CN108871499A (zh) * 2017-05-10 2018-11-23 罗斯蒙特储罐雷达股份公司 用于减小的相对带宽的脉冲雷达料位计系统和方法
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