JPH0618345A - 圧力センサの製造方法 - Google Patents

圧力センサの製造方法

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Publication number
JPH0618345A
JPH0618345A JP17531192A JP17531192A JPH0618345A JP H0618345 A JPH0618345 A JP H0618345A JP 17531192 A JP17531192 A JP 17531192A JP 17531192 A JP17531192 A JP 17531192A JP H0618345 A JPH0618345 A JP H0618345A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diaphragm
pressure
pressure sensor
silicon substrate
reference chamber
Prior art date
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Pending
Application number
JP17531192A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyoshi Furuta
一吉 古田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 高圧下でも高感度な圧力センサを製造できる
ようにする。 【構成】 半導体圧力センサにおいて、ダイアフラム1
が過剰に変位しないようにメサ3の部分を低くして、ガ
ラス基板1とはりあわせる。また、シリコンウエハ9と
ガラスウエハで基準室4を形成する場合に測定圧力付近
の圧力雰囲気で陽極接合する。 【効果】 高圧下で高感度で低圧下でも破損しない圧力
センサの製造ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、気体、液体および固
体の圧力の変化をダイアフラムの変化量として受け止
め、その変化量を電気信号に変えて出力する圧力センサ
の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、図3に示すように、ダイアフラム
構造を持つ圧力センサはシリコンウエハ9とガラス基板
1とをはりあわせた二層構造をしていた。これは、ピエ
ゾ抵抗型、静電容量型、接点スイッチ型ともに同じであ
る。
【0003】例えば、特開平2ー249936号公報に
静電容量型の一般的な構造が開示され、また、特開昭6
1ー501233号公報に接点スイッチ型のこのような
構造が開示されている。そして、これらの例では、基準
室内は真空であるか、もしくは、大気圧であるかのいず
れかである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の構造で
は、シリコンダイアフラムとガラス基板で形成される基
準室内の圧力が外圧より高くなりシリコンダイアフラム
の変位量が降伏限界を越えるとダイアフラムが破損して
しまいセンサとしての機能しなくなってしまうという課
題があった。この課題を回避するため従来のセンサでは
ダイアフラムの厚みを厚くして耐圧性をあげていた。し
かし、式(1)に示すようにダイアフラムの厚みが厚く
なると、同一圧力でのダイアフラムの変位量は小さくな
り感度の低下を招くという課題があった。
【0005】 W=K(a4 /h3 )P ・・・式(1) W・・・ダイアフラムの変位量 K・・・ポアソン比、ヤング率を含む物質固有の定数 a・・・ダイアフラムの一辺の長さ h・・・ダイアフラムの厚み また、ダイアフラムを低圧測定用と同等の厚みにする
と、感度は同じであるが、外圧が高圧になるとダイアフ
ラムがガラスに接触し測定不可となってしまうという課
題があった。
【0006】そこで、この発明の目的は、従来のこのよ
うな課題を解決するため、ダイアフラムの厚みを薄いま
まで高圧の測定ができるセンサを得るための製造方法を
提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明は、ダイアフラムを形成した後に、メサの
頂点を除いてシリコン基板の両面に耐エッチング性の膜
を形成し、メサの部分のみをエッチングする。次に、ス
トッパーとなるガラス基板を陽極接合によって接合し、
さらに、高圧下でシリコン基板と対向電極を有するガラ
ス基板を陽極接合するという方法で圧力センサを製造す
ることにより、高圧領域においても低圧領域と同様の感
度が得られ、しかもダイアフラムを破損することがない
ような圧力センサの製造を可能とするものである。
【0008】
【実施例】以下に、この発明の実施例を図に基づいて説
明する。図1において、本発明による圧力センサ(静電
容量型)の断面図を示す。ただし、図1(a)の状態は
外圧が測定領域にある場合である。また、図1(b)は
外圧が大気圧の場合である。
【0009】図2に本圧力センサ(静電容量型)のプロ
セスの概略を示す。まず結晶方位が(100)で厚みが
300μmのn型シリコンウエハ9にフォトリソグラフ
ィの手法を用いて基準室4の部分として1μmのエッチ
ングをし、次に、マスク材として使用したSiO2 を剥
離し、SiNx10を形成し、同様にメサ3付きダイア
フラム2形成のためのエッチングをする。なお。今回作
製したダイアフラムの厚みは30μmである。ここで、
ダイアフラムの形成が終了する直前にエッチングを中断
し、メサの表面にあるSiNxをドライエッチングで剥
離する。この場合、メサ表面以外の部分はレジスト12
をスクリーン印刷にて塗布しておく。レジストを除去し
た後に再度KOH溶液にて所望のダイアフラム厚みまで
エッチングする。次に、電極としてボロンの拡散層6を
ダイアフラム表面(基準室側)に形成し、接合防止膜1
1としてのSiO2 をダイアフラム表面とメサの表面に
形成する。
【0010】一方、厚み300μmのパイレックスガラ
スウエハ1上に対向電極7としてAlパターンを形成し
たもの(以下ガラス基板と記す)と、超音波加工により
外気導入穴8をあけた300μmのパイレックスガラス
ウエハ(以下ストッパー5と記す)を用意する。
【0011】次に、シリコンウエハ9とストッパー5を
陽極接合によって接合する。ただし、この場合の接合雰
囲気圧力は大気圧である。この接合品とガラス基板を再
度陽極接合により接合する。ただし、この場合の接合雰
囲気は測定レンジの圧力(今回は8kg/cm2 )であ
る。以上の工程で圧力センサのセンサチップができあが
り、以降通常の方法で容量計と配線し、加圧減圧テスト
をおこなった。この結果7.5kg/cm2 から8.5
kg/cm2 の圧力変化に対して。約35pFの容量変
化を得ることができた。
【0012】一方、図3に示す従来の方法で製作したメ
サ付きで本実施例と同様構造の圧力センサ(すなわち、
本圧力センサの構造からストッパーを除いた構造)で同
様の加圧減圧テストを課したところ7.5kg/cm2
から8.5kg/cm2 の圧力変化に対して、わずか4
pFの容量変化しか得られなかった。
【0013】また、従来のセンサ構造を製作する過程で
陽極接合を8kg/cm2 に加圧しながら行ったもの
は、大気圧に戻す途中で破壊した。さらに、従来の圧力
センサの構造でダイアフラムの厚みを40μmにしたも
のを同様の加圧減圧テストを行ったところ同一レンジで
の容量変化は12pFであった。
【0014】最後に、従来の圧力センサの構造のものを
作製し、1.5kg/cm2 から2.5kg/cm2
でのレンジで加圧減圧テストを実施したところ容量変化
は約30pFであった。上記の製造方法の内、メサの部
分を余分にエッチングする替わりに、ストッパーガラス
基板5にダイアフラムの変位量分だけ金とクロムのマス
クを用いて、フッ酸と硝酸の混合液でエッチングした基
板を用いた場合も同様な結果が得られた。
【0015】
【発明の効果】この発明は、以上説明したように、基準
室内を測定レンジの圧力とし、なおかつ、ストッパーに
よりダイアフラムが破壊限界を越えないという構成とし
たので、高圧な測定レンジにおいて、低圧用と同等な感
度で感圧できる圧力センサを製造できるという効果があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の圧力センサの実施例を示した説明図で
ある。
【図2】本発明による圧力センサ製造プロセスの説明図
である。
【図3】従来の圧力センサの構造を示した説明図であ
る。
【符号の説明】
1 ガラス基板 2 ダイアフラム 3 メサ 4 基準室 5 ストッパー 6 拡散層 7 対向電極 8 外気導入穴 9 シリコンウエハ 10 SiNx膜 11 接合防止膜 12 レジスト

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 シリコン基板の一部に形成したダイアフ
    ラムの圧力変化による撓み量を電気信号に変換して圧力
    値を検出する半導体圧力センサにおいて、前記シリコン
    基板の一方の面に基準室となる凹部を設けてダイアフラ
    ムを形成し、該ダイアフラムの基準室に相対する裏面
    に、外気導入穴を形成して設けられたストッパーを設
    け、前記ストッパーに相対するダイアフラム裏面に、前
    記ダイアフラムの変移量分の隙間をもってメサ部を形成
    すると共に、前記基準室側のシリコン基板の上面に圧力
    センサの所望の測定レンジの圧力雰囲気中でガラス基板
    を陽極接合したことを特徴とする圧力センサの製造方
    法。
  2. 【請求項2】 シリコン基板のメサ部分に、予めダイア
    フラムの変移量分だけエッチングによる穴を形成したこ
    とを特徴とする請求項1記載の圧力センサの製造方法。
JP17531192A 1992-07-02 1992-07-02 圧力センサの製造方法 Pending JPH0618345A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6495389B2 (en) 2000-09-05 2002-12-17 Denso Corporation Method for manufacturing semiconductor pressure sensor having reference pressure chamber
US8148792B2 (en) 2008-10-09 2012-04-03 Rohm Co., Ltd. Pressure sensor and method for manufacturing the pressure sensor
US8359928B2 (en) 2010-03-11 2013-01-29 Rohm Co., Ltd. Pressure sensor and method for manufacturing the pressure sensor
WO2016056053A1 (ja) * 2014-10-06 2016-04-14 株式会社Pfu 原稿搬送装置
US20160251179A1 (en) * 2015-02-27 2016-09-01 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Sheet Feeder Capable of Reliably Conveying Sheet

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WO2016056053A1 (ja) * 2014-10-06 2016-04-14 株式会社Pfu 原稿搬送装置
US20160251179A1 (en) * 2015-02-27 2016-09-01 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Sheet Feeder Capable of Reliably Conveying Sheet

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