JPH06178188A - オートフォーカス装置の合焦点捜査方法 - Google Patents

オートフォーカス装置の合焦点捜査方法

Info

Publication number
JPH06178188A
JPH06178188A JP5223814A JP22381493A JPH06178188A JP H06178188 A JPH06178188 A JP H06178188A JP 5223814 A JP5223814 A JP 5223814A JP 22381493 A JP22381493 A JP 22381493A JP H06178188 A JPH06178188 A JP H06178188A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lot
sample
variance
image
focusing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5223814A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2950531B2 (ja
Inventor
Masao Yajima
正男 矢島
Kazuo Higashiura
一雄 東浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nidec Instruments Corp
Original Assignee
Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd filed Critical Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
Priority to JP5223814A priority Critical patent/JP2950531B2/ja
Publication of JPH06178188A publication Critical patent/JPH06178188A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2950531B2 publication Critical patent/JP2950531B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 オートフォーカス装置を用いた測定装置にお
いて、被測定試料のロット内のデータからロットの分散
を推定し、このロットのスキャン範囲を狭くして、合焦
時間を短くすることである。 【構成】 オートフォーカス装置を起動してロット内の
所定数の合焦データをメモリする(ステップST10〜
ST14)。上記データを統計的に処理しロット内の分
散を推定し(ステップST15)、スキャン範囲を設定
する(ステップST16)。上記範囲に基づいてオート
フォーカスが行なわれる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は入力した試料の画像信号
に基づき上記試料に合焦させるオートフォーカス装置に
関し、特にそのオートフォーカス装置の合焦点捜査方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、画像処理装置は、試料の画像を
画像入力装置としてのテレビカメラを通じて取り込み、
取り込まれた画像を処理する装置であり、上記画像入力
装置に上記試料を合焦させるためにオートフォーカス装
置が使用されている。このオートフォーカス装置は、上
記テレビカメラの撮像レンズが、上記テレビカメラで映
し出された試料の像がぼけているときには試料固有の空
間周波数の低周波数成分しか通さず、ピントが合う(合
焦)につれて高周波数成分も通すようになるという撮像
レンズの周波数伝達特性に着目し、このテレビカメラか
らの映像信号の含まれる高周波数成分の量を利用して、
上記試料に合焦点を検出する装置である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】したがって、上記オー
トフォーカス装置では、上記テレビカメラの撮像レンズ
と上記試料との位置を相対的に移動させながら試料の画
像信号を取り込んでいる。従来は、上記オートフォーカ
ス装置の合焦点を捜査する方法として、上記テレビカメ
ラの撮像レンズの位置を移動させるスキャン範囲を予め
設定した範囲を行っていた。その結果、このスキャン範
囲として、試料のバラツキ、全ロットのバラツキをカバ
ーするスキャン範囲を設定する必要があり、合焦時間が
長くなるという問題があった。
【0004】本発明はこのような従来の問題点を解消す
るためになされたもので、スキャン範囲を変更可能に
し、直前の試料の合焦点データまたは予め定めた数の既
に検出された試料の合焦点データに基づいてスキャン範
囲を設定することにより、オートフォーカス装置の合焦
点の検出を効率良くし、画像処理しようとする試料への
合焦時間を短くする方法を提案することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、画像入力装置により試料の画像信号を入力し、所定
のスキャン範囲を移動するオートフォーカス装置によ
り、上記入力された画像信号に基づき上記画像入力装置
を上記試料に合焦させるに際し、上記試料のロット内の
上記合焦された試料の画像信号からそのロット内の分散
を推定し、この推定した分散から上記オートフォーカス
装置によるロットの上記所定のスキャン範囲を設定する
ことを特徴とするオートフォーカス装置の合焦点捜査方
法を要旨とする。
【0006】
【作用】複数の試料を有するロット内の測定において
は、ロット内の最初のいくつかの試料の画像データにつ
いてのみ、全ロットの分散(SA)を考慮した範囲をス
キャンさせて画像データを得、この合焦点の位置データ
からこのロット内の分散(S1)を推定し、このロット
内の分散(S1)の範囲でスキャンする。従って、本発
明の方法は、このような考えに基づいたものであり、ス
キャン範囲を変更あるいは狭くでき、合焦点の検出時間
を短縮できる。
【0007】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。まず、本発明の方法が適用されるオートフォーカ
ス装置が使用される画像処理装置について説明する。こ
の装置は、例えば、デジタル・オーディオ・テープレコ
ーダ(DAT)に用いられる磁気ヘッドを検査する画像
処理装置として構成されており、被測定物としての試料
は磁気ヘッドである。
【0008】図1は、上記磁気ヘッド1を検査する画像
処理装置の一例であり、図において、治具12の取付台
3の外周部には180度間隔で磁気ヘッド1,2がネジ
止めされている。取付台3は、モータ14によって回動
駆動される治具12と一体に回動する。
【0009】治具12の取付台3の上記磁気ヘッド1,
2に一つに対向させて顕微鏡4が配置されている。顕微
鏡4は、その対物レンズ41の光軸42が上記磁気ヘッ
ド1(図3では)の略中心部に位置するように精密なス
テージ6に取り付けられている。顕微鏡4で拡大して見
る試料は磁気ヘッド1,2であり、サブミクロンオーダ
ーの精度で計測することができる。ステージ6には、ま
た顕微鏡4の結像位置に画像入力装置としてのテレビカ
メラ5が取り付けられている。ステージ6は、モータ1
3により上記光軸42方向に駆動される。
【0010】テレビカメラ5によって得られる磁気ヘッ
ド1の画像信号は、モニタ8に入力されて磁気ヘッド1
の画像が映しだされると共に、オートフォーカス装置7
に入力される。オートフォーカス装置7は、テレビカメ
ラ5からの画像信号を効率よく、かつ、他からの干渉を
受けることなく画像処理部9に送るためのバッファ77
と、撮像画面中の合焦させたい部分、即ち、本実施例で
は、磁気ヘッドの合焦させたい部分の画像データだけを
取り出すために必要な部分を設定する検出域及び走査線
設定部73と、この検出及び走査線設定部73で設定さ
れた範囲の画像信号のみを通すためのゲート72と、こ
のゲート72からの画像信号の中から高周波成分を取り
出すためのハイパスフィルター74と、このハイパスフ
ィルター74からの出力信号を図示しないA/D変換器
によりアナログ信号よりデジタル信号に変換させ、この
デジタル信号のデータを記憶させるメモリ75と、この
メモリ75の記憶データから合焦点を求め、ステージ6
を移動させるための信号を出力させるオートフォーカス
用制御部76とを有している。
【0011】オートフォーカス装置7による合焦方式
は、上述したように、テレビカメラ5の撮像レンズの周
波数伝達特性に着目し、このテレビカメラ5からの映像
信号に含まれる高周波数成分の量(コントラスト)を利
用して、試料としての磁気ヘッドの合焦点を検出する方
法である。
【0012】図2は、撮像レンズ(対物レンズ)の位置
を移動させながら試料の映像信号に含まれる高周波数成
分の量の変化をオートフォーカス装置7の出力信号の変
化として示したものであり、出力信号は、合焦点におい
て最大となり、これを境にして低下することを示してい
る。したがって、出力信号が最大となる点をみつけるこ
とによって合焦点をみつけることができる。
【0013】上記オートフォーカス用制御部76は、ス
テージ6上の顕微鏡4及びテレビカメラ5の移動と共に
テレビカメラの各移動位置での画像のコントラストデー
タをメモリ75に取り込む。この画像のコントラストデ
ータは、図2に示すように変化するため、この出力信号
(例えば、本実施例では出力電圧)特性から合焦点を検
出し、この検出信号を用いて、モータ13を駆動してス
テージ6を対物レンズ41の光軸42方向に移動させ
る。ステージ6には、顕微鏡4とテレビカメラ5とが取
り付けられているため、ステージ6の移動と共に合焦位
置が変わる。オートフォーカス用制御部76は、顕微鏡
4が磁気ヘッド1への合焦点に達するまでモータ13を
駆動してステージ6を移動させることができる。
【0014】図3は、画像入力装置としてのテレビカメ
ラから入力される磁気ヘッド1(または磁気ヘッド2)
の入力画像を示す。磁気ヘッド1は、ヘッドギャップ2
5を挾んで配置されたセンダスト23,23と各センダ
スト23,23の各一側に配置されたフェライトコア2
2,22と、ヘッドギャップ25の各一端に配置された
一つの頂点としてセンダスト23とフェライトコア22
で囲まれた三角形の空間に配置されたガラス24,24
とを有してなる。画像入力装置からの上記磁気ヘッドの
画像信号は、画像処理部9に入力され、ヘッドギャップ
25の位置が一定の点を基準としてX−Y座標上の位置
として計測される。
【0015】上記画像処理部9は、図3に示すような画
像信号から、磁気ヘッド1のフェライトコア22、ガラ
ス24及びセンダスト23と交差するヘッドギャップ2
5の一方の交点の位置を計測する。この計測は、例え
ば、画面枠20の左隅を原点Oとして横軸をX、縦軸を
Yとしたとき、このX−Y座標上で上記ヘッドギャップ
の交点位置を計測することによって行なうことができ
る。また、画像処理部9は、一方の磁気ヘッド1のギャ
ップ位置データをX1,Y1で、他方の磁気ヘッド2のギ
ャップ位置データをX2,Y2で表わし、これを次に説明
するシステム制御部10の中に設けられたメモリ(図示
せず)に記憶させる。
【0016】システム制御部10は、治具12、オート
フォーカス装置7、画像処理部9等を含む全体の制御を
行なうものであり、磁気ヘッド1,2…のギャップ位置
1,Y1・X2,Y2…を順次、計測する。
【0017】さて、上述したような磁気ヘッドのギャッ
プ位置を計測する画像処理装置に使用されるオートフォ
ーカス装置7においては、各ロット内の磁気ヘッドのギ
ャップ位置を測定するために、このギャップ位置に合焦
させている。しかし、この測定において、上述したよう
に、オートフォーカス装置7の合焦点の位置の検出で
は、いくつかのバラツキがあり、次にバラツキについて
説明する。試料測定に際してのオートフォーカス装置7
の合焦点のバラツキは、同一の試料を繰返し測定した場
合に生じるバラツキと、ロット内の試料によるバラツキ
と、試料のバラツキに加えてロットの変化まで含んだ全
ロットのバラツキとに、分けることができる。
【0018】例えば、図4(a)は、ロット内の試料に
よるバラツキ(S1,S2)と、全ロットのバラツキ(S
A)を示しており、これは試料としての磁気ヘッドがも
つバラツキを示している。また、図4(b)は、同一試
料を繰返し測定した場合のバラツキ(SB)を示してお
り、換言すれば、使用しているオートフォーカス装置7
自体がもつバラツキを示している。なお、図4(a),
(b)では、「分散」という用語を使用しているが、こ
れは、データがどの位バラツイテいるかを示す指標であ
り、本発明では、バラツキと同意語として使用してい
る。
【0019】さて、図4(a),(b)から明らかなよ
うに、スキャン範囲を上記した分散を考慮してその都度
変更することにより、合焦点の検出を短時間で行うこと
ができる。即ち、従来は、全ての試料に対し、全ロット
の分散(SA)に基づいて、合焦点の位置の検出を行っ
てきたが、複数の試料を有するロット内、即ち同一ロッ
ト内の試料の測定においては、全ロットの分散
(SA)、即ち、試料のバラツキに加えてロットの変化
まで含んだ分散は、ほとんど考慮しなくてもよく、ロッ
ト内の最初のいくつかの試料の合焦点の位置データにつ
いてのみ、この全ロットの分散(SA)を考慮した範囲
をスキャンさせて合焦点の位置データを得、この合焦点
の位置データからこのロット内の分散(S1)を推定
し、このロット内の分散(S1)の範囲でスキャンすれ
ば、良いことがわかる。本発明の方法は、このような考
えに基づいたものであり、スキャン範囲を変更あるいは
狭くできるので、合焦点の位置の検出時間を短縮でき
る。
【0020】このようにしてスキャン範囲を設定するた
め、上記システム制御部(CPU)10は、図5に示す
各ステップで下記のようにしてスキャン範囲の設定変更
を行なう。STEPIでは、電源投入や試料のロット変
更の入力を行う。STEPIIでは、予め定めたスキャン
範囲、即ち、ロットの変化による分散(SA)に基づい
て合焦点の位置の検出を行う。STEPIIIでは、最初
の測定データを中心に、比較的広いスキャン範囲
(SA)で数個の試料を測定し、スキャン範囲を設定す
るためのデータをメモリ75に記憶する。STEPIVで
は、このデータのうち直前の定められた数のデータより
次の測定のためのスキャン範囲(S1)を設定し変更す
る。STEPVでは、このスキャン範囲で1回から定め
られた回数の間、オートフォーカス動作を行いながら、
合焦点の位置のデータを記憶する。
【0021】図6は、上述した原理に基づく本発明の一
実施例の方法として上記システム制御部10の具体的動
作の各ステップを示す。STEP1では、オートフォー
カス装置7が起動される。STEP2では、オートフォ
ーカス動作が行われる。STEP3では、合焦点の位置
データx(N)が格納される。この合焦点の位置データ
は上記システム制御部10内に設けられたリングバッフ
ァ等(図示せず)に配列格納される。
【0022】STEP4では、合焦点の位置データx
(N)の個数Nを(N+1)にする。STEP5では、
このカウント数Nを所定設定値M(同一スキャン範囲の
繰返し数)とを比較し、N<Mならば、上記STEP2
に戻り、オートフォーカス動作が行われる。また、N=
Mならば、次のSTEP6にいく。
【0023】STEP6では、得られた合焦点の位置デ
ータx(N)の統計処理が行われ、平均値χ、標準偏差
σ、スキャン範囲Rを求める。STEP7では、スキャ
ン範囲Rの変更を行う。例えば、スキャン範囲のスター
ト、エンドをそれぞれXs=χ−3σ、Xe=χ+3σと
するか、または、Xs=χ−A・R、Xe=χ+A・R
(ただし、Aは統計的に算出される数値)とし、これに
基づいてSTEP2のオートフォーカス動作のスキャン
範囲を定める。STEP17では、上記カウント値Nを
(N−L)にする。そして、STEP2に戻る。なお、
Lの値は、予め定めた値であり、例えば、「1」とし、
常に、直前のN個を参考にしてオートフォーカス動作が
行われるようにする。
【0024】なお、本発明の方法において、試料の同一
ロット内においても、少数の試料群毎に分散を推定し、
スキャン範囲をより狭くすることもできる。更には、直
前に測定した予め定めた数のデータより直前のスキャン
範囲を逐次求めるようにしてもよい。また、当然のこと
であるが、上述したように、スキャン範囲を変更してい
くが、途中で合焦点の位置の検出ができない場合には、
予め定めたスキャン範囲、即ち、ロットの変化による分
散(SA)に基づいて合焦点の検出を行う。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、下
記のような優れた効果が得られる。 (i)オートフォーカス動作のスキャン範囲を変更また
は狭くできるので、試料数の多いロットの測定時の合焦
時間を早くできる。 (ii)オートフォーカス駆動される高倍率顕微鏡を用い
る場合、従来であると温度変化によりスキャン範囲から
試料の合焦位置がはずれることがあっても、図7からわ
かるように、本発明の方法ではこの点を防止できる。 (iii)ロットを変更しても、オートフォーカスの原点
及びスキャン範囲は自動的に設定できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法が適用される位置計測装置を示す
ブロック図である。
【図2】上記装置中のオートフォーカス装置によって得
られる信号の例を示す波形図である。
【図3】上記装置中の画像処理部によって得られる画像
の例を示す正面図である。
【図4】上記装置による測定値の分散を示す図である。
(a)は、ロット内の試料による分散(S1,S2)と、
ロットの変化による分散(SA)を示す。また(b)
は、同一試料を繰返し測定した場合の分散(SB)を示
す。
【図5】本発明の方法の原理的動作説明用のフローチャ
ートである。
【図6】本発明の方法の一実施例を示すフローチャート
である。
【図7】温度変化がある時の本発明の方法における測定
値とスキャン範囲の関係を示す図である。
【符号の説明】
1,2 試料(磁気ヘッド) 4,5 画像入力装置 7 オートフォーカス装置 9 画像処理部 10 システム制御部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像入力装置により試料の画像信号を入
    力し、所定のスキャン範囲を移動するオートフォーカス
    装置により、上記入力された画像信号に基づき上記画像
    入力装置を上記試料に合焦させるに際し、上記試料のロ
    ット内の上記合焦された試料の画像信号からそのロット
    内の分散を推定し、この推定した分散から上記オートフ
    ォーカス装置によるロットの上記所定のスキャン範囲を
    設定することを特徴とするオートフォーカス装置の合焦
    点捜査方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のオートフォーカス装置の
    合焦点捜査方法において、スキャン範囲の変更の途中で
    合焦点の検出ができない場合には、予め定めたスキャン
    範囲に基づいて合焦点の検出を行うことを特徴とするオ
    ートフォーカス装置の合焦点捜査方法。
JP5223814A 1992-08-18 1993-08-17 オートフォーカス装置の合焦点捜査方法 Expired - Fee Related JP2950531B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5223814A JP2950531B2 (ja) 1992-08-18 1993-08-17 オートフォーカス装置の合焦点捜査方法

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4-242791 1992-08-18
JP24279192 1992-08-18
JP5223814A JP2950531B2 (ja) 1992-08-18 1993-08-17 オートフォーカス装置の合焦点捜査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06178188A true JPH06178188A (ja) 1994-06-24
JP2950531B2 JP2950531B2 (ja) 1999-09-20

Family

ID=26525701

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5223814A Expired - Fee Related JP2950531B2 (ja) 1992-08-18 1993-08-17 オートフォーカス装置の合焦点捜査方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2950531B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001255457A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Sony Corp 撮像装置
JP2005202064A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Ricoh Co Ltd 撮像装置、その合焦方法および記録媒体
JP2005345833A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Ricoh Co Ltd 撮像装置およびその合焦制御方法
US8233075B2 (en) 2007-05-24 2012-07-31 Gyrus Acmi, Inc. User-aided auto-focus

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001255457A (ja) * 2000-03-10 2001-09-21 Sony Corp 撮像装置
JP2005202064A (ja) * 2004-01-14 2005-07-28 Ricoh Co Ltd 撮像装置、その合焦方法および記録媒体
JP2005345833A (ja) * 2004-06-03 2005-12-15 Ricoh Co Ltd 撮像装置およびその合焦制御方法
JP4565549B2 (ja) * 2004-06-03 2010-10-20 株式会社リコー 撮像装置およびその合焦制御方法
US8233075B2 (en) 2007-05-24 2012-07-31 Gyrus Acmi, Inc. User-aided auto-focus

Also Published As

Publication number Publication date
JP2950531B2 (ja) 1999-09-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5662174B2 (ja) Afレンズユニットの特性検査装置およびその特性検査方法、制御プログラム、可読記憶媒体
JP3357210B2 (ja) 自動焦点検出方法
WO2020110712A1 (ja) 検査システム、検査方法およびプログラム
KR100350091B1 (ko) 현미경 초점맞춤 검출방법 및 장치
JP2950531B2 (ja) オートフォーカス装置の合焦点捜査方法
JPH0996513A (ja) 画像取得装置
JP4773198B2 (ja) 標本撮像装置及びこれを備える標本分析装置
JPH0580255A (ja) 光学顕微鏡システム装置
JPH05210042A (ja) 自動焦点調節装置
JP3282868B2 (ja) 解像度検査方法
JP2723914B2 (ja) レンズ鏡筒解像度検査装置
JPH07280537A (ja) 撮像式検査方法および装置
JPH05241066A (ja) 自動合焦装置
JP3043034B2 (ja) 画像入出力装置
JPH0226206B2 (ja)
JP3068704B2 (ja) 自動焦点調節装置
JP2938515B2 (ja) 自動合焦装置
JP2000292683A (ja) 撮像装置および自動合焦制御方法
JP2529688Y2 (ja) 位置計測装置
KR20030011636A (ko) 미소 치수 측정 장치
JPH10197226A (ja) 光学系および撮像手段を有する装置における検査方法
JPH087382Y2 (ja) オートフォーカス装置
JPS6111686Y2 (ja)
JP2000171686A (ja) 自動焦点制御装置および自動焦点制御方法
JPH05236315A (ja) コントラスト検出による自動焦点合せ方法

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees