JPH06167377A - フロートバスにおける溶融錫レベルの測定方法 - Google Patents

フロートバスにおける溶融錫レベルの測定方法

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JPH06167377A
JPH06167377A JP31890892A JP31890892A JPH06167377A JP H06167377 A JPH06167377 A JP H06167377A JP 31890892 A JP31890892 A JP 31890892A JP 31890892 A JP31890892 A JP 31890892A JP H06167377 A JPH06167377 A JP H06167377A
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JP
Japan
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molten tin
displacement
level
camera
tin
Prior art date
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Pending
Application number
JP31890892A
Other languages
English (en)
Inventor
Shinichi Okamura
岡村真一
Mitsuhiko Oda
織田光彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Central Glass Co Ltd
Original Assignee
Central Glass Co Ltd
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Publication date
Application filed by Central Glass Co Ltd filed Critical Central Glass Co Ltd
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Publication of JPH06167377A publication Critical patent/JPH06167377A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B18/00Shaping glass in contact with the surface of a liquid
    • C03B18/02Forming sheets

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】従来困難であったフロートバスにおける溶融錫
のレベルを光源、カメラを自由に配置して自動的に測定
する方法を提供することを目的とする。 【構成】フロート法ガラス製板におけるフロートバスの
溶融錫レベル測定方法において、溶融錫面にレーザース
ポット光を照射して、照射された部分の散乱光を撮像
し、その変位量を求め、その変位量から錫レベルに換算
するようにしたことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、フロート法ガラス製板
におけるフロートバスの溶融錫のレベルを自動的に測定
する方法に関する。
【0002】
【従来技術とその問題点】従来、フロートバスの溶融錫
面のレベル測定は、ハウジングの側面の一部を開放し、
耐熱性の測定目盛り付きの治具等を浸漬させて測定して
いたが、高温場所での作業であり、危険を伴う作業であ
った。
【0003】また、測定時は側面の測定用窓を開放する
必要があり、通常オンラインでの測定は成形中のガラス
の品質に悪影響を与えるため困難で、板厚切り換え時な
どに限られていた。
【0004】また、類似技術としてガラス溶融窯内の溶
融ガラスの素地面のレベルを測定する技術として特開昭
57−49814号などに示される棒状電極をガラス表
面上で昇降させ、金属棒とガラスとの接触時に通電し、
そのときの電流を検出することにより測定する方法、特
開平3−287020号などに示されるように1対の検
出用電極を浸漬させ電極間の抵抗変化により測定する方
法があるが、これらの方法を溶融錫のレベル測定に転用
しても、錫の付着や高温による検出端の劣化によって、
検出精度の低下、検出端の消耗は避けられない。
【0005】さらに、特開昭55−32705号などに
示されるようにレーザー光を溶融ガラス素地面に照射し
て、その反射像を撮像して像の変位量により測定する方
法が提案されているが、これらの方法を溶融錫のレベル
の測定に転用しても、溶融ガラスに比べ溶融錫は粘性が
低く、ガラス板の引き出しにより波打つため、反射像を
捉えるのが困難である。
【0006】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、従来困難であったフロートバスにおける溶融
錫のレベルを自動的に測定する方法を提供することを目
的とする。
【0007】
【問題点を解決するための手段】本発明は、フロート法
ガラス製板におけるフロートバスの溶融錫レベル測定方
法において、溶融錫面にレーザースポット光を照射し
て、照射された部分の散乱光を撮像し、その変位量から
錫レベルに換算するようにしたこと特徴とする。
【0008】
【作用】本発明者らは、溶融錫がガラス板の引き出しに
より波打つため、反射像を捉える従来の方法ではレベル
測定が困難であり、レーザー光を錫面に照射して、その
散乱光をカメラで撮像して、その変位量から錫レベルの
測定ができることを見出し本発明をなしたものであり、
散乱光により測定するものであるから、レーザー光源と
カメラを自由に取りつけることができ、両側に同じ高さ
に設けられた監視用窓を利用して両側に配置したり、実
施例のように同じ側に配置して測定することもできる。
【0009】また、レーザー光源は固体レーザー、気体
レーザーでもよいが、小型で安価の半導体レーザーが好
ましい。また、レーザー光源とカメラの位置について、
レーザー光とカメラの中心軸(レーザー光に照射された
スポットとカメラを結ぶ直線)とがなす角度は90°の
ときに、錫レベルの変化に対してカメラに撮像された像
の変位量が最大となり、分解能が最大となるので、測定
精度が最も高くなり、測定精度が要求される場合にはレ
ーザー光とカメラの中心軸がなす角度は90°±20°
の範囲にするとよい。
【0010】また、溶融錫は表面が波打つことによって
短時間に測定場所(レーザー光が照射されたスポット)
が刻々と変わっているので、光源、カメラとも水平面に
対して小さな角度になるように配設すると、異なった場
所に照射し、異なった場所における散乱光を撮像するこ
とになり、誤差の原因となるので、精度が要求される場
合には30°以上の角度に配設した方がよい。
【0011】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明を詳細に説明す
る。図1は、本発明方法を実施するための1例を示すの
測定装置の要部側断面図、図2は本発明の測定方法を説
明するための要部概略図である。
【0012】まず検査装置について説明する。図1に示
すように、フロートガラスの製板において、図示しない
窯で溶融されたガラス1はフロートティンバス2の溶融
錫3上に導入され成形される。
【0013】このようなフロートティンバスには監視用
の窓4が両側に設けられているが、一般的に同じ高さで
あり、中央部分にはガラスがあるために、従来のレーザ
ー光を照射してその反射光をカメラで撮像する方法では
溶融錫のレベルは測定することができない。
【0014】本発明では、例えば720nmの赤外線を
発振するレーザー光源5、先端に不要な光をカットする
バンドパスフィルターを装着したCCD2次元カメラ6
を同じボックス7に収納する。このボックス7には冷却
空気または冷却水を循環させて光源、2次元カメラなど
の温度上昇を防ぐようにする。
【0015】CCD2次元カメラの出力は別置される画
像処理装置8、パソコン9、モニターTV10などに接
続する。このような装置によって溶融錫レベルの測定に
ついて述べると、図2に示すようにレーザー光源5から
のスポット光が水平面(溶融錫面)に対してα+β(β
はレーザー光とカメラの中心軸(レーザー光に照射され
たスポットとカメラを結ぶ直線)とがなす角度)なる角
度で、レベルがS1 なる溶融錫面に照射すると、P1
る点において散乱された光を、水平面に対してカメラの
中心軸がαなる角度に配設された2次元カメラ6により
撮像する。
【0016】つぎに溶融錫面のレベルがS2 に変わると
2 なる点で散乱された光を2次元カメラにより撮像す
るが、2次元カメラには錫面の変位量S1 −S2 ではな
く、P2 aの長さとして撮像されているので、画像処理
装置において、実際の変位量P1 bは P1 2 =P2 a/sinβ・・・・・・・・・・・(1) P1 b=P1 2 ・sin(α+β)・・・・・・・(2) であるから、 P1 b=P2 a・sin(α+β)/sinβ・・・(3) として求められ、(3)式から求めた変位量を実寸法に
換算することにより実際のレベルの変位量を求めること
ができる。
【0017】この場合に例えばレベルS1 を基準のレベ
ルとすると、基準のレベルに対する変位量は勿論、基準
レベルの絶対量(ティンバスの底からの高さ)も分かる
ので、絶対量の変化としてオンラインで自動的に測定す
ることができ、モニターTVで常時監視できるのは勿
論、レベルが低下したときに自動的に警報をだしたり、
生産管理用コンピュータに入力して種々の管理を行うこ
とができる。
【0018】以上好適な実施例により説明したが、本発
明はこれらに限定されるものではなく、種々の応用が可
能である。レーザー光源と2次元カメラの配置につい
て、実施例のように片側の監視用窓を利用して配置する
以外に両側の監視用窓を利用して分けて配置しても勿論
よく、監視用窓が低い位置にあって、その窓を利用した
のでは充分な精度が得られない場合には、高い位置に別
の測定用窓を新設して、その窓を利用するようにすると
測定精度が向上する。
【0019】レーザー光源について、半導体レーザーが
小型で安価であるので、好ましいが、CCDカメラなど
で検出可能な波長(一般には400〜1000nm)で
あり、連続発振可能なレーザーであればアルゴンレーザ
ーなどの気体レーザー、ルビーレーザーなどの固体レー
ザーなども使用することができる。
【0020】カメラについて、CCDを使用した2次元
カメラが好ましいが、1次元カメラを使用し信号を記憶
して2次元的に処理する方式をとっても良い。また、ズ
ームレンズ付きカメラにすると調整が容易であり好まし
い。さらに焦点距離を標準より大きくして散乱スポット
を拡大して撮像した方がよいのは言うまでもない。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、レーザー光源のスポッ
ト光を照射して、その散乱光を撮像して処理するもので
あるから、光源の位置、カメラの位置を自由に配置する
ことができ、しかもオンラインで自動的に溶融錫のレベ
ルを測定することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明方法を実施するための1例を示す測定装
置の要部側断面図である。
【図2】本発明の測定方法を説明するための要部概略図
である。
【符号の説明】
1 ガラス 2 ティンバス 3 溶融錫 4 監視用窓 5 レーザー光源 6 2次元カメラ 8 画像処理装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】フロート法ガラス製板におけるフロートバ
    スの溶融錫レベル測定方法において、溶融錫面にレーザ
    ースポット光を照射して、照射された部分の散乱光を撮
    像し、その変位量を求め、その変位量から錫レベルに換
    算するようにしたことを特徴とするフロートバスにおけ
    る溶融錫レベルの測定方法。
JP31890892A 1992-11-27 1992-11-27 フロートバスにおける溶融錫レベルの測定方法 Pending JPH06167377A (ja)

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