JPH06150390A - テスト用ディスク及びその原盤の露光方法 - Google Patents
テスト用ディスク及びその原盤の露光方法Info
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- JPH06150390A JPH06150390A JP32498292A JP32498292A JPH06150390A JP H06150390 A JPH06150390 A JP H06150390A JP 32498292 A JP32498292 A JP 32498292A JP 32498292 A JP32498292 A JP 32498292A JP H06150390 A JPH06150390 A JP H06150390A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＣＤライターがＣＤ規格内にある、あらゆる
ＣＤ−Ｒディスクに対して正確な情報の記録、再生が行
えるよう調整用（テスト用）ディスクを得る。 【構成】 テスト用ディスクとして、（１）１枚のディ
スク基板の中でプリグループの深さ又はウォブル振幅を
変化させる。（２）プリグルーブの深さ、ウォブル振幅
又は溝幅の異なるディスク基板複数枚を１組として用い
る。（３）１枚のディスク基板の中でプリピットの深さ
又はウォブル振幅を変化させるか、あるいはプリピット
の深さ又は溝幅の異なるディスク基板複数枚を１組とし
て用いる。
ＣＤ−Ｒディスクに対して正確な情報の記録、再生が行
えるよう調整用（テスト用）ディスクを得る。 【構成】 テスト用ディスクとして、（１）１枚のディ
スク基板の中でプリグループの深さ又はウォブル振幅を
変化させる。（２）プリグルーブの深さ、ウォブル振幅
又は溝幅の異なるディスク基板複数枚を１組として用い
る。（３）１枚のディスク基板の中でプリピットの深さ
又はウォブル振幅を変化させるか、あるいはプリピット
の深さ又は溝幅の異なるディスク基板複数枚を１組とし
て用いる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク、特に記録可
能なコンパクトディスク（ＣＤ−Ｒ）及びＣＤ−Ｒ原盤
の露光方法に関する。
能なコンパクトディスク（ＣＤ−Ｒ）及びＣＤ−Ｒ原盤
の露光方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】音楽情報あるいは辞書等の文書情報をデ
ジタル化して光ディスクに記録した、いわゆるコンパク
トディスク（ＣＤ）及びＣＤプレーヤーが普及しつつあ
る。又、最近では、上記ＣＤに対して互換性をもつ記録
可能なＣＤ（ＣＤ−Ｒ）の開発が進められている。
ジタル化して光ディスクに記録した、いわゆるコンパク
トディスク（ＣＤ）及びＣＤプレーヤーが普及しつつあ
る。又、最近では、上記ＣＤに対して互換性をもつ記録
可能なＣＤ（ＣＤ−Ｒ）の開発が進められている。
【０００３】このＣＤ−Ｒには、全面追記可能なタイプ
（ＣＤ−ＷＯ）とＲＯＭ部と追記部があるハイブリッド
（ＨＢ）タイプがある。ＣＤ−ＷＯの基板上には、あら
かじめ絶対時間の情報を含んだウォブルした案内溝が螺
旋状に形成されている。又、ＨＢの基板上には、あらか
じめ、絶対時間の情報を含んだウォブルしたプリピット
と案内溝が螺旋状に形成されている。これらの基板上に
記録色素膜と、記録色素膜の上に金属反射膜を設けたの
がＣＤ−Ｒメディアである。光ディスク駆動装置でＣＤ
−Ｒメディアに情報が記録され、ＣＤ−ＲメディアはＣ
Ｄとして、ＣＤプレーヤーで再生が行われる。
（ＣＤ−ＷＯ）とＲＯＭ部と追記部があるハイブリッド
（ＨＢ）タイプがある。ＣＤ−ＷＯの基板上には、あら
かじめ絶対時間の情報を含んだウォブルした案内溝が螺
旋状に形成されている。又、ＨＢの基板上には、あらか
じめ、絶対時間の情報を含んだウォブルしたプリピット
と案内溝が螺旋状に形成されている。これらの基板上に
記録色素膜と、記録色素膜の上に金属反射膜を設けたの
がＣＤ−Ｒメディアである。光ディスク駆動装置でＣＤ
−Ｒメディアに情報が記録され、ＣＤ−ＲメディアはＣ
Ｄとして、ＣＤプレーヤーで再生が行われる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＣＤラ
イターは製造メーカーにより、光学系、回路系等が異な
るため、同一のＣＤ−Ｒディスクでも、ＣＤライターに
よって信号特性が異なってくる。そのため、あるＣＤラ
イターでは、情報の記録、再生を正確に行えるＣＤ−Ｒ
ディスクが別のＣＤライターでは、記録時にトラッキン
グはずれを起こしたり、再生信号のジッタが悪いという
不都合があった。一方、ＣＤ−Ｒディスクには、ＣＤ規
格があり、これに準拠していれば、記録後、市販のＣＤ
プレーヤーで再生することができるが、ディスク製造メ
ーカーによって、プリグルーブの溝形状や記録層の色素
材料が異なるため、上述のことが発生するおそれがあ
る。
イターは製造メーカーにより、光学系、回路系等が異な
るため、同一のＣＤ−Ｒディスクでも、ＣＤライターに
よって信号特性が異なってくる。そのため、あるＣＤラ
イターでは、情報の記録、再生を正確に行えるＣＤ−Ｒ
ディスクが別のＣＤライターでは、記録時にトラッキン
グはずれを起こしたり、再生信号のジッタが悪いという
不都合があった。一方、ＣＤ−Ｒディスクには、ＣＤ規
格があり、これに準拠していれば、記録後、市販のＣＤ
プレーヤーで再生することができるが、ディスク製造メ
ーカーによって、プリグルーブの溝形状や記録層の色素
材料が異なるため、上述のことが発生するおそれがあ
る。
【０００５】ＣＤ−Ｒディスクの製造工程は、レジスト
を塗布したガラス原盤にレーザを照射し、プリグルーブ
を露光後現像し、ＣＤ−Ｒと同じパターンを得る。これ
からＮｉスタンパを作製し射出成形によりポリカーボネ
ートのレプリカ基板を作る。この基板上に有機色素をス
ピンコート法により塗布し、記録層を形成し、この上に
Ａｕ膜を形成し反射層とする。更にこの上に樹脂による
保護層を形成し、ＣＤ−Ｒディスクとなる。
を塗布したガラス原盤にレーザを照射し、プリグルーブ
を露光後現像し、ＣＤ−Ｒと同じパターンを得る。これ
からＮｉスタンパを作製し射出成形によりポリカーボネ
ートのレプリカ基板を作る。この基板上に有機色素をス
ピンコート法により塗布し、記録層を形成し、この上に
Ａｕ膜を形成し反射層とする。更にこの上に樹脂による
保護層を形成し、ＣＤ−Ｒディスクとなる。
【０００６】しかし、ＣＤ−Ｒディスクは全面溝形状、
記録層等が均一になっているため、１種類のＣＤ−Ｒデ
ィスクではＣＤ規格に準拠した様々なタイプのＣＤ−Ｒ
ディスクに対応できないため、ＣＤライターの調整を行
うためには多くのメーカーのＣＤ−Ｒディスクを手に入
れなければならない。
記録層等が均一になっているため、１種類のＣＤ−Ｒデ
ィスクではＣＤ規格に準拠した様々なタイプのＣＤ−Ｒ
ディスクに対応できないため、ＣＤライターの調整を行
うためには多くのメーカーのＣＤ−Ｒディスクを手に入
れなければならない。
【０００７】そこで上記の問題を解決するために、ＣＤ
ライターがＣＤ規格内にあるあらゆるＣＤ−Ｒディスク
に対して、正確に情報の記録、再生が行えるように調整
用のサンプルが必要となる。本発明の目的は上記のよう
な調整用のサンプル、いわばテスト用ディスクを提供す
ることにある。
ライターがＣＤ規格内にあるあらゆるＣＤ−Ｒディスク
に対して、正確に情報の記録、再生が行えるように調整
用のサンプルが必要となる。本発明の目的は上記のよう
な調整用のサンプル、いわばテスト用ディスクを提供す
ることにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明によれば次に示す
ようないくつかのテスト用ディスクが提供される。 （１）１枚のディスクでＣＤライターの光学系、回路系
等の調整が容易に行えるようにするために、１枚のディ
スクの中でプリグルーブの深さを変化させたテスト用デ
ィスク。 （２）プリグルーブの深さの異なる複数枚を１組とした
テスト用ディスク。 （３）１枚のディスクでＣＤライターの調整が容易に行
えるようにするために、１枚のディスクの中でプリグル
ーブのウォブル振幅を変化させたテスト用ディスク。 （４）プリグルーブのウォブル振幅の異なる複数枚を１
組としたテスト用ディスク。 （５）プリグルーブの溝幅の異なる複数枚を１組とした
テスト用ディスク。 （６）プリピットの深さの異なる複数枚を１組としたテ
スト用ディスク。 （７）１枚のディスクの中でプリピットのウォブル振幅
を変化させたテスト用ディスク。 （８）プリピットの溝幅の異なる複数枚を１組としたテ
スト用ディスク。 （９）１枚のディスクでＣＤライターの光学系、回路系
等の調整が容易に行えるようにするために、１枚のディ
スクの中でプリピットの深さを変化させたテスト用ディ
スク。
ようないくつかのテスト用ディスクが提供される。 （１）１枚のディスクでＣＤライターの光学系、回路系
等の調整が容易に行えるようにするために、１枚のディ
スクの中でプリグルーブの深さを変化させたテスト用デ
ィスク。 （２）プリグルーブの深さの異なる複数枚を１組とした
テスト用ディスク。 （３）１枚のディスクでＣＤライターの調整が容易に行
えるようにするために、１枚のディスクの中でプリグル
ーブのウォブル振幅を変化させたテスト用ディスク。 （４）プリグルーブのウォブル振幅の異なる複数枚を１
組としたテスト用ディスク。 （５）プリグルーブの溝幅の異なる複数枚を１組とした
テスト用ディスク。 （６）プリピットの深さの異なる複数枚を１組としたテ
スト用ディスク。 （７）１枚のディスクの中でプリピットのウォブル振幅
を変化させたテスト用ディスク。 （８）プリピットの溝幅の異なる複数枚を１組としたテ
スト用ディスク。 （９）１枚のディスクでＣＤライターの光学系、回路系
等の調整が容易に行えるようにするために、１枚のディ
スクの中でプリピットの深さを変化させたテスト用ディ
スク。
【０００９】更に本発明によれば次のようなテスト用デ
ィスク原盤の露光方法が提供される。 （１）上記した１枚のディスクの中でプリグルーブの深
さを変化させたテスト用ディスク原盤の露光の際、半径
位置情報をモニターすることによって制御装置に入力し
た半径位置で記録レーザパワーの切換えを行い、プリグ
ルーブの深さを変化させる。 （２）上記した１枚のディスクの中でプリグルーブ又は
プリピットのウォブル振幅を変化させたテスト用ディス
ク原盤の露光の際、半径位置情報をモニターすることに
よって制御装置に入力した半径位置でウォブルＡ／Ｏ電
圧の切換えを行い、プリグルーブ又はプリピットのウォ
ブル振幅を変化させる。
ィスク原盤の露光方法が提供される。 （１）上記した１枚のディスクの中でプリグルーブの深
さを変化させたテスト用ディスク原盤の露光の際、半径
位置情報をモニターすることによって制御装置に入力し
た半径位置で記録レーザパワーの切換えを行い、プリグ
ルーブの深さを変化させる。 （２）上記した１枚のディスクの中でプリグルーブ又は
プリピットのウォブル振幅を変化させたテスト用ディス
ク原盤の露光の際、半径位置情報をモニターすることに
よって制御装置に入力した半径位置でウォブルＡ／Ｏ電
圧の切換えを行い、プリグルーブ又はプリピットのウォ
ブル振幅を変化させる。
【００１０】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。
る。
【００１１】〔実施例１〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さ400、700、1000Åのプリグルーブをそれぞれ
光ディスク原盤の内、中、外周に幅４mmで形成する（図
１参照）。図２に光ディスク原盤露光装置のブロック
図、図３（ｂ）に半径位置に対するプリグルーブの記録
パワーの変化を示す。プリグルーブ記録時にマグネスケ
ールの値を露光制御装置に送り、露光制御装置から図３
（ｂ）に示す記録パワーになるようにアナログＡ／Ｏへ
信号を送り露光する。なお、記録パワー、水準数、幅は
任意に変えることができる。この光ディスク原盤から前
述の方法でＣＤ−Ｒディスクを作り、ライターＡ、Ｂで
最適記録パワーでＥＦＭランダムパターンを記録後、１
１Ｔ変調度を測定したところ、図３（ａ）ようになっ
た。ライターＢはライターＡに比べて変調度が全体的に
低く、データ再生時の信頼性に欠ける。このようなライ
ターがデータを正確に記録、再生できるようにするため
のライター調整用及び改良用ディスクとして使用でき
る。
μｍ、深さ400、700、1000Åのプリグルーブをそれぞれ
光ディスク原盤の内、中、外周に幅４mmで形成する（図
１参照）。図２に光ディスク原盤露光装置のブロック
図、図３（ｂ）に半径位置に対するプリグルーブの記録
パワーの変化を示す。プリグルーブ記録時にマグネスケ
ールの値を露光制御装置に送り、露光制御装置から図３
（ｂ）に示す記録パワーになるようにアナログＡ／Ｏへ
信号を送り露光する。なお、記録パワー、水準数、幅は
任意に変えることができる。この光ディスク原盤から前
述の方法でＣＤ−Ｒディスクを作り、ライターＡ、Ｂで
最適記録パワーでＥＦＭランダムパターンを記録後、１
１Ｔ変調度を測定したところ、図３（ａ）ようになっ
た。ライターＢはライターＡに比べて変調度が全体的に
低く、データ再生時の信頼性に欠ける。このようなライ
ターがデータを正確に記録、再生できるようにするため
のライター調整用及び改良用ディスクとして使用でき
る。
【００１２】〔実施例２〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さ400、700、1000Åのプリグルーブをそれぞれ
全面均一に形成した。これらを１組としたテスト用ディ
スクでは、全面にわたって書き込みテストができるの
で、ライターのモーターの回転むら、送りむらのチェッ
クができる。
μｍ、深さ400、700、1000Åのプリグルーブをそれぞれ
全面均一に形成した。これらを１組としたテスト用ディ
スクでは、全面にわたって書き込みテストができるの
で、ライターのモーターの回転むら、送りむらのチェッ
クができる。
【００１３】〔実施例３〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さ700Å、ウォブル振幅（図11（ａ）参照）を
３水準振ったプリグルーブを光ディスク原盤の内、中、
外周に幅３mmで形成する。図４（ｂ）に光ディスク原盤
半径位置に対するウォブル電圧の変化を示す。プリグル
ーブ記録時に、マグネスケールの値を露光制御装置（図
２参照）に送り、露光制御装置から、図４（ｂ）に示す
ウォブル電圧をウォブルＡ／Ｏ（図２参照）に与え露光
する。なお、深さ、ウォブル振幅、その水準数、幅は任
意に変えることができる。この光ディスク原盤から前述
の方法でＣＤ−Ｒディスクを作り、ライターＣ、Ｄでそ
れぞれ規格化されたウォブル信号（Ｉw／｜Ｉ1−Ｉ2｜
pp、Ｉw＝ウォブル振幅、｜Ｉ1−Ｉ2｜pp＝プッシュプ
ル振幅のピークトゥピーク）を測定したところ、図４
（ａ）のようになり、最適記録パワーでＥＦＭランダム
パターンを記録したところ、ライターＤでは、ウォブル
電圧Ｖ1の領域でウォブル振幅が小さいためエラーが発
生し、この領域には記録できなかった。ライターＣは別
に問題はなかった。このＤのようなライターを調整、改
良するためのテスト用ディスクとして使用できる。
μｍ、深さ700Å、ウォブル振幅（図11（ａ）参照）を
３水準振ったプリグルーブを光ディスク原盤の内、中、
外周に幅３mmで形成する。図４（ｂ）に光ディスク原盤
半径位置に対するウォブル電圧の変化を示す。プリグル
ーブ記録時に、マグネスケールの値を露光制御装置（図
２参照）に送り、露光制御装置から、図４（ｂ）に示す
ウォブル電圧をウォブルＡ／Ｏ（図２参照）に与え露光
する。なお、深さ、ウォブル振幅、その水準数、幅は任
意に変えることができる。この光ディスク原盤から前述
の方法でＣＤ−Ｒディスクを作り、ライターＣ、Ｄでそ
れぞれ規格化されたウォブル信号（Ｉw／｜Ｉ1−Ｉ2｜
pp、Ｉw＝ウォブル振幅、｜Ｉ1−Ｉ2｜pp＝プッシュプ
ル振幅のピークトゥピーク）を測定したところ、図４
（ａ）のようになり、最適記録パワーでＥＦＭランダム
パターンを記録したところ、ライターＤでは、ウォブル
電圧Ｖ1の領域でウォブル振幅が小さいためエラーが発
生し、この領域には記録できなかった。ライターＣは別
に問題はなかった。このＤのようなライターを調整、改
良するためのテスト用ディスクとして使用できる。
【００１４】〔実施例４〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さ700Å、ウォブル電圧Ｖ1、Ｖ2、Ｖ3でそれぞ
れ全面均一にプリグルーブを形成し、これらを１組とし
たテスト用ディスクを作った。このディスクでは、全面
にわたって書き込みテストができるので、ライターのモ
ーターの回転むら、送りむらのチェックができる。
μｍ、深さ700Å、ウォブル電圧Ｖ1、Ｖ2、Ｖ3でそれぞ
れ全面均一にプリグルーブを形成し、これらを１組とし
たテスト用ディスクを作った。このディスクでは、全面
にわたって書き込みテストができるので、ライターのモ
ーターの回転むら、送りむらのチェックができる。
【００１５】〔実施例５〕ピッチ１.６μｍ、深さ700
Å、溝幅がそれぞれ０.３８、０.４５、０.５５μｍの
プリグルーブを形成し、これらを１組としたテスト用デ
ィスクを作った。これらのテスト用ディスクの記録前の
プッシュプル振幅（ＰＰＡ）をライターＥ、Ｆで測定し
たところ、図５のようになった。ライターＦは溝幅によ
る影響を受けやすく、溝幅の狭いプリグルーブの場合だ
と、トラッキングが不安定になり、データの記録、再生
の信頼性に欠ける。このようなライターがデータを正確
に記録、再生できるようにするための、ライター調整
用、および改良用ディスクとして使用できる。
Å、溝幅がそれぞれ０.３８、０.４５、０.５５μｍの
プリグルーブを形成し、これらを１組としたテスト用デ
ィスクを作った。これらのテスト用ディスクの記録前の
プッシュプル振幅（ＰＰＡ）をライターＥ、Ｆで測定し
たところ、図５のようになった。ライターＦは溝幅によ
る影響を受けやすく、溝幅の狭いプリグルーブの場合だ
と、トラッキングが不安定になり、データの記録、再生
の信頼性に欠ける。このようなライターがデータを正確
に記録、再生できるようにするための、ライター調整
用、および改良用ディスクとして使用できる。
【００１６】〔実施例６〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さそれぞれ1200、1450、1700Åのプリピット
（断面形状は図10（ｂ）参照）をレジストの膜厚を変え
て形成し、これらを１組としたテスト用ディスクを作っ
た。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の１１Ｔ変調
度（Ｉ11／Ｉ0）をライターＧ、Ｈで測定したところ、
図６のようになった。ライターＨは、プリピットの溝深
さによる影響を受けやすく、溝深さ1200Åのプリピット
では変調度が低く、データを正確に再生できない。この
ようなライターを調整、改良するためのテスト用ディス
クとして使用できる。
μｍ、深さそれぞれ1200、1450、1700Åのプリピット
（断面形状は図10（ｂ）参照）をレジストの膜厚を変え
て形成し、これらを１組としたテスト用ディスクを作っ
た。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の１１Ｔ変調
度（Ｉ11／Ｉ0）をライターＧ、Ｈで測定したところ、
図６のようになった。ライターＨは、プリピットの溝深
さによる影響を受けやすく、溝深さ1200Åのプリピット
では変調度が低く、データを正確に再生できない。この
ようなライターを調整、改良するためのテスト用ディス
クとして使用できる。
【００１７】〔実施例７〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０.４
μｍ、深さ1350Å、ウォブル振幅を３水準振ったプリピ
ットをＲＯＭ領域の内、中、外周に形成した。ＲＯＭ部
のウォブルＣ／ＮをライターＩ、Ｊで測定したところ、
図７のようになった。ライターＪは、ウォブルＣ／Ｎが
低く、データ再生の信頼性が低い。このようなライター
を調整、改良するためのテスト用ディスクとして使用で
きる。
μｍ、深さ1350Å、ウォブル振幅を３水準振ったプリピ
ットをＲＯＭ領域の内、中、外周に形成した。ＲＯＭ部
のウォブルＣ／ＮをライターＩ、Ｊで測定したところ、
図７のようになった。ライターＪは、ウォブルＣ／Ｎが
低く、データ再生の信頼性が低い。このようなライター
を調整、改良するためのテスト用ディスクとして使用で
きる。
【００１８】〔実施例８〕ピッチ１.６μｍ、深さ1350
Å、溝幅０.３８、０.４５、０.５５μｍのプリピット
をもつそれぞれの基板を作製し、テスト用ディスクを作
った。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の１１Ｔ変
調度をライターＫ、Ｌで測定したところ、図８のように
なった。ライターＬは全体的に変調度が低く、データを
確に再生できないおそれがある。このようなライターを
調整、改良するためのテスト用ディスクとして使用でき
る。
Å、溝幅０.３８、０.４５、０.５５μｍのプリピット
をもつそれぞれの基板を作製し、テスト用ディスクを作
った。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の１１Ｔ変
調度をライターＫ、Ｌで測定したところ、図８のように
なった。ライターＬは全体的に変調度が低く、データを
確に再生できないおそれがある。このようなライターを
調整、改良するためのテスト用ディスクとして使用でき
る。
【００１９】〔実施例９〕ピッチ１.６μｍ、溝幅０．
４μｍ、深さそれぞれ1100、1400、1600Åのプリピット
（断面形状は図10（ｃ）参照）を形成し、テスト用ディ
スクを作った。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の
１１Ｔ変調度をライターＭ、Ｎで測定したところ、図９
のようになった。ライターＮは、Ｍに比べて全体的に変
調度が低く、データ再生の信頼性が低い。このようなラ
イターを調整、改良するためのテスト用ディスクとして
使用できる。
４μｍ、深さそれぞれ1100、1400、1600Åのプリピット
（断面形状は図10（ｃ）参照）を形成し、テスト用ディ
スクを作った。これらのテスト用ディスクのＲＯＭ部の
１１Ｔ変調度をライターＭ、Ｎで測定したところ、図９
のようになった。ライターＮは、Ｍに比べて全体的に変
調度が低く、データ再生の信頼性が低い。このようなラ
イターを調整、改良するためのテスト用ディスクとして
使用できる。
【００２０】
【発明の効果】以上の如く本発明により得られる効果を
まとめると次のとおりである。 （１）テスト用ディスクとして、１枚のディスク基板の
中で、プリグルーブの深さ又はウォブル振幅を変化させ
たものを用いることによりＣＤライターの光学系、回路
系等の調整が容易に行うことができる。 （２）テスト用ディスクとしてプリグルーブの深さ、ウ
ォブル振幅又は溝幅のの異なるディスク基板複数枚を１
組として用いることによりＣＤライターのモータの回転
むら及び送りむらチェックを容易に行うことができる。 （３）テスト用ディスクとして１枚のディスク基板の中
でプリピットの深さ又はウォブル振幅を変化させたもの
を用いることにより、あるいはプリピットの深さ又は溝
幅の異なるディスク基板複数枚を１組として用いること
によりＣＤライターの光学系、回転系等の調整を容易に
行うことができる。 （４）上記１枚のディスク基板の中でプリグルーブの深
さを変化させたテスト用ディスク原盤並びに１枚のディ
スクの中でプリグルーブあるいはプリピットのウォブル
振幅を変化させたテスト用ディスク原盤を容易にかつ正
確に作製することができる。
まとめると次のとおりである。 （１）テスト用ディスクとして、１枚のディスク基板の
中で、プリグルーブの深さ又はウォブル振幅を変化させ
たものを用いることによりＣＤライターの光学系、回路
系等の調整が容易に行うことができる。 （２）テスト用ディスクとしてプリグルーブの深さ、ウ
ォブル振幅又は溝幅のの異なるディスク基板複数枚を１
組として用いることによりＣＤライターのモータの回転
むら及び送りむらチェックを容易に行うことができる。 （３）テスト用ディスクとして１枚のディスク基板の中
でプリピットの深さ又はウォブル振幅を変化させたもの
を用いることにより、あるいはプリピットの深さ又は溝
幅の異なるディスク基板複数枚を１組として用いること
によりＣＤライターの光学系、回転系等の調整を容易に
行うことができる。 （４）上記１枚のディスク基板の中でプリグルーブの深
さを変化させたテスト用ディスク原盤並びに１枚のディ
スクの中でプリグルーブあるいはプリピットのウォブル
振幅を変化させたテスト用ディスク原盤を容易にかつ正
確に作製することができる。
【図１】ＣＤ−Ｒディスクの断面図。
【図２】光ディスク原盤露光装置のブロック図。
【図３（ａ）】ディスク原盤に設けたプリグルーブの深
さとそれから作製したテスト用ディスクの１１Ｔ変調度
との関係を示す図。
さとそれから作製したテスト用ディスクの１１Ｔ変調度
との関係を示す図。
【図３（ｂ）】ディスク原盤の半径位置とプリグルーブ
の深さとの関係を示す図。
の深さとの関係を示す図。
【図４（ａ）】図４（ｂ）に示すウォブル電圧と光ディ
スクの規格化されたウォブル信号との関係を示す図。
スクの規格化されたウォブル信号との関係を示す図。
【図４（ｂ）】ディスク原盤の半径位置とウォブル電圧
との関係を示す図。
との関係を示す図。
【図５】基板プリグルーブの溝幅とそれから作製したテ
スト用ディスクの記録前ブッシュプル振幅との関係を示
す図。
スト用ディスクの記録前ブッシュプル振幅との関係を示
す図。
【図６】基板プリピットの深さとそれから作製したテス
ト用ディスクの１１Ｔ変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を
示す図。
ト用ディスクの１１Ｔ変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を
示す図。
【図７】基板ウォブル電圧とそれから作製したテスト用
ディスクのウォブルＣ／Ｎとの関係を示す図。
ディスクのウォブルＣ／Ｎとの関係を示す図。
【図８】基板プリピットの溝幅とそれから作製したテス
ト用ディスクの１１Ｔ変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を
示す図。
ト用ディスクの１１Ｔ変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を
示す図。
【図９】基板プリピットの深さとそれから作製した１１
変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を示す図。
変調度（Ｉ11／Ｉ0）との関係を示す図。
【図10（ａ）】ＣＤ−ＷＯ基板の断面図。
【図10（ｂ）】ＨＢ基板ＲＯＭ部の断面図。
【図10（ｃ）】ＨＢ基板ＲＯＭ部の断面図。
【図11（ａ）】ＣＤ−ＷＯ基板の平面図。
【図11（ｂ）】ＨＢ基板ＲＯＭ部の平面図。
１ プリグルーブ ２ 基板 ３ 記録層 ４ 反射層 ５ 保護層 ６ ミラー ７ 対物レンズ ８ レジスト原盤 ９ ターンテーブル ｄｇ プリグルーブの深さ Ｗｇ プリグルーブの溝幅 ｄｐ プリピットの深さ Ｗｐ プリピットの溝幅 Ａｇ プリグルーブのウォブル振幅 Ａｐ プリグルーブのウォブル振幅 ＰＰ プリピット ＰＧ プリグルーブ
Claims (11)
- 【請求項１】 透光性を有する基板上に時間情報を含ん
だウォブルしたプリグルーブを形成し、この基板上に有
機色素からなる記録層、光反射層及び保護層をこの順で
設けた光ディスクにおいて、１枚の基板の中でプリグル
ーブの深さを変化させることを特徴とするテスト用ディ
スク。 - 【請求項２】 上記光ディスクを用いてＣＤライターを
評価する際、プリグルーブの深さが全面均一で、それぞ
れ深さの異なる複数枚を１組としたことを特徴とするテ
スト用ディスク。 - 【請求項３】 上記光ディスクにおいて、１枚の基板の
中でプリグルーブのウォブル振幅を変化させることを特
徴とするテスト用ディスク。 - 【請求項４】 上記光ディスクにおいて、プリグルーブ
のウォブル振幅が全面均一で、それぞれウォブル振幅の
異なる複数枚を１組としたことを特徴とするテスト用デ
ィスク。 - 【請求項５】 上記光ディスクにおいて、プリグルーブ
の溝幅の異なる複数枚を１組としたことを特徴とするテ
スト用ディスク。 - 【請求項６】 上記光ディスクにおいて、プリピットの
深さの異なる複数枚を１組としたことを特徴とするテス
ト用ディスク。 - 【請求項７】 上記光ディスクにおいて、１枚の光ディ
スク基板の中でプリピットのウォブル振幅を変化させる
ことを特徴とするテスト用ディスク。 - 【請求項８】 上記光ディスクにおいて、プリピットの
溝幅の異なる複数枚を１組としたことを特徴とするテス
ト用ディスク。 - 【請求項９】 上記光ディスクにおいて、１枚の光ディ
スク基板の中でプリピットの深さを変化させることを特
徴とするテスト用ディスク。 - 【請求項10】 請求項１記載のテスト用ディスクの原盤
露光の際、半径位置情報をモニターすることによって、
制御装置に入力した半径位置で記録レーザパワーの切換
えを行い、プリグルーブの深さを変化させることを特徴
とするテスト用ディスク原盤露光方法。 - 【請求項11】 請求項３又は７記載のテスト用ディスク
の原盤露光の際、半径位置情報をモニターすることによ
って制御装置に入力した半径位置でウォブルＡ／Ｏ電圧
の切換えを行い、プリグルーブ及びプリピットのウォブ
ル振幅を変化させることを特徴とするテスト用ディスク
原盤露光方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32498292A JPH06150390A (ja) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | テスト用ディスク及びその原盤の露光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32498292A JPH06150390A (ja) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | テスト用ディスク及びその原盤の露光方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06150390A true JPH06150390A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=18171810
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32498292A Pending JPH06150390A (ja) | 1992-11-10 | 1992-11-10 | テスト用ディスク及びその原盤の露光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06150390A (ja) |
-
1992
- 1992-11-10 JP JP32498292A patent/JPH06150390A/ja active Pending
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