JPH0615015B2 - 触媒サンプリング装置 - Google Patents

触媒サンプリング装置

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JPH0615015B2
JPH0615015B2 JP59236824A JP23682484A JPH0615015B2 JP H0615015 B2 JPH0615015 B2 JP H0615015B2 JP 59236824 A JP59236824 A JP 59236824A JP 23682484 A JP23682484 A JP 23682484A JP H0615015 B2 JPH0615015 B2 JP H0615015B2
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catalyst
reactor
sampling
bracket
performance
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芳郎 稲恒
勇人 森田
富久 石川
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Mitsubishi Power Ltd
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Babcock Hitachi KK
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    • B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01D—SEPARATION
    • B01D53/00—Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
    • B01D53/34—Chemical or biological purification of waste gases
    • B01D53/74—General processes for purification of waste gases; Apparatus or devices specially adapted therefor
    • B01D53/86—Catalytic processes
    • B01D53/8621—Removing nitrogen compounds
    • B01D53/8625—Nitrogen oxides
    • B01D53/8631—Processes characterised by a specific device

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  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Exhaust Gas Treatment By Means Of Catalyst (AREA)
  • Treating Waste Gases (AREA)
  • Solid-Sorbent Or Filter-Aiding Compositions (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は脱硝装置等に用いられる触媒層の性能を検知す
る装置に関する。
＜従来の技術及びその問題点＞ 脱硝装置に使用される触媒は、同装置の運転の経過にと
もない、経時的に活性が低下してしまうための触媒寿命
を予測し触媒交換の時期を決定する手段が必要となる。
また突発的に事故等により触媒性能が低下した場合、そ
の原因を究明し対策を早急にたてることが重要になる。
いずれの場合も、装置全体の性能挙動と共に、触媒自体
の性能調査が有力な手がかりとなる。このため従来から
定期的にあるいは必要時に触媒をサンプリングして性状
を調査する方法がとられている。
ところが、装置内に充填されている触媒は、ガスリーフ
防止の目的のため、触媒パツケージ間がすき間なく固定
された一体構造となつており、調査に必要な少量の抜き
出すのにも多大な労力と時間を要する。そこで第６図に
示すように必要量だけをパツケージ６として触媒層３内
に設置するように方法がとられていた。このような方法
で触媒をサンプリングする場合でも、反応器内に人が入
らなければならず、そのためには脱硝装置内のガス流を
完全に停止しガス温度が室温程度にまで低下するのを待
つ必要があり、１回のサンプリングに多大の時間を要
し、事故等の緊急時に対策が遅れる可能性があつた。ま
たサンプリングの際に脱硝装置を数日間にわたつて停止
させるためのその経費が多額となる欠点があつた。
また第６図に示すように触媒交換を容易にするため触媒
層は多段に分割されている。これらを通過するガス量は
同じであるが、排ガス中に含まれる触媒劣化成分は触媒
層に吸着するものもあり、反応器入口付近と出口付近で
はガス性状による触媒活性への影響が異なる。従つて反
応器内の充填位置によつて触媒劣化状態も異なつてくる
ため、触媒交換等の際に、より細かい触媒劣化分布のデ
ータがあれば劣化したもののみを取り換える等、経済的
な管理ができることになる。しかしながら従来のサンプ
リング方法によると、反応器内のいたるところにサンプ
リング触媒パツケージを設けることになり、構造が複雑
になると共にサンプリング触媒回収に多大の労力時間を
要し、事実上実施不可能であつた。
＜本発明の目的＞ 本発明は上述した問題点に鑑み、触媒のサンプリングが
容易に実施し得る装置を提供するものである。
＜手段の概要＞ 要するに本発明は触媒層とは別個に、サンプリング用触
媒を特別のサポートに収納し、かつこのサポートを煙道
外部から着脱し得るよう構成したものである。
＜実施例＞ 以下本発明の実施例につき説明する。
第１図，第２図に垂直流反応器における本発明の実施例
を示す。第１図に示すように、テストピート用の触媒６
は充填触媒３と分離され、ブラケツト４に収納されてい
る。このブラケツト４の一端は反応器２の内壁側にあ
り、排ガス流に垂直に交わるように設置されている。第
３図にブラケツト４の詳細を示す。ブラケツトはフラン
ジ10にＬ鋼のサポート５を取り付けたもので、排ガスＧ
はブラケツト内を容易に通過できるようになつている。
このブラケツトは第４図に示すように、反応器外部にケ
ーシング９にフランジ10を介して取りはずし可能な構造
で固定されている。従つて触媒をサンプリングする場合
は、フランジサポート（ボルトナツト等）11をはずすこ
とにより反応器外側からブラケツト４を引き出し、触媒
テストピース６をサンプリングすることになる。一方図
示触媒テストピース６はプレート状触媒を示し、例えば
100mm平方程度の大きさのものである。但し、触媒サイ
ズ、触媒種類及びその形状は、特に限定するものではな
い。また符号７は内部ケーシング、８は断熱材である。
第５図はこのようにしてサンプリングした触媒テストピ
ース６の性能の平均値と、反応器全体の脱硝性能とを同
一条件となるよう換算して比較した実験結果である。反
応器全体の脱硝性能すなわち充填触媒の性能を示す線図
13と個々の触媒テストピースの性能12とは、それらのス
ケールが異なるにもかかわらずよく一致するのが確認で
きた。従つて触媒テストピースの性能は反応器内に充填
されている触媒の性能をよく表わしており、触媒テスト
ピースを調査することにより、充填触媒の性能を把握す
ることができるといえる。
＜効果＞ 以上述べたサンプリング装置を用いると、反応器内に、
入ることなしに外側から触媒のサンプリングに実施する
ことができる。従つて、反応器内のガス流を停止し、ガ
ス温が高い場合でも、サンプリングが可能である。特
に、運転中反応器内が大気に比べて負圧となる脱硝装置
では燃焼ガスが外部に漏出する虞れがないので運転中も
サンプリングが可能となる。
またブラケツト数は簡単に増設できるため、反応器内の
任意の位置で触媒性能を比較調査し反応器内における触
媒劣化度の分布を測り触媒交換のための情報を得ること
ができる。一方、触媒テストピースの出入が容易なこと
から、種々の仕様の触媒を入れ寿命試験を行う等、巾広
い利用法が考えられ、触媒開発に関するデータを容易に
得ることもできる。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明による触媒テストピースブラケツトの配
置を示す正面図、第２図はその側面図、第３図は触媒テ
ストピースブラケツトの構造図、第４図はその設置図、
第５図は触媒テストピース性能と装置性能の比較図、第
６図は従来のサンプリング方法を示す図である。 ２……反応器 ３……充填触媒 ４……ブラケツト ６……触媒テストピース

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】燃焼ガス通過部に配置した触媒層の性能を
    検知するものにおいて、触媒テストピースを収納した１
    以上のブラケットを、燃焼ガス通過部外部から着脱可能
    なように同燃焼ガス通過部内に配置したことを特徴とす
    る触媒サンプリング装置。
JP59236824A 1984-11-12 1984-11-12 触媒サンプリング装置 Expired - Lifetime JPH0615015B2 (ja)

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DE8585114318T DE3578897D1 (de) 1984-11-12 1985-11-11 Apparat zum entfernen von stickoxiden.
EP85114318A EP0190413B1 (en) 1984-11-12 1985-11-11 Apparatus for removing nitrogen oxides
AT85114318T ATE54837T1 (de) 1984-11-12 1985-11-11 Apparat zum entfernen von stickoxiden.

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