JPH0614002A - Test control system for transmitter - Google Patents

Test control system for transmitter

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Publication number
JPH0614002A
JPH0614002A JP4170666A JP17066692A JPH0614002A JP H0614002 A JPH0614002 A JP H0614002A JP 4170666 A JP4170666 A JP 4170666A JP 17066692 A JP17066692 A JP 17066692A JP H0614002 A JPH0614002 A JP H0614002A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
overhead information
test
data
path
signal
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4170666A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Naoki Aihara
直樹 相原
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP4170666A priority Critical patent/JPH0614002A/en
Publication of JPH0614002A publication Critical patent/JPH0614002A/en
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Abstract

PURPOSE:To execute simultaneously a notice representing a test state and a loopback test by using independent data for a test state signal informed to a destination transmitter and for test data looped back in the transmitter. CONSTITUTION:Plural overhead information insert sections OH-INS are provided onto an output line 1 and plural overhead information extract sections OH- DROP are provided onto an input line 2. Then after the final stage of the insert section INS, a pattern signal generating section 3 generating a test state signal P-AIS and a data path changeover means 4 to loop back test data to the input line 2. The means 4 uses a line switching instruction to feed back the test data from the output line 1 to the input line 2 and the signal P-AIS generated by the generating section 3 is sent to the opposite transmitter through the output line 1 to inform it that the transmitter at the sender side is being tested. Thus, the communication of the sender side testing state and the loopback test using test data are implemented simultaneously.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光通信等の高速伝送路
インターフェースにおける装置試験のための折り返し回
路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a loopback circuit for testing a device in a high speed transmission line interface such as optical communication.

【0002】[0002]

【従来の技術】通信の高速化の需要にともなって、光同
期型ネットワーク(SONET:Synchoronous Optical NETwor
k)や、デジタル同期型ハイアラーキー(SDH:Synchronous
Digital Hierachy)等の伝送形式が研究されてきてい
る。
2. Description of the Related Art With the demand for high-speed communication, optical synchronous networks (SONET: Synchronous Optical Network)
k) and digital synchronous hierarchy (SDH: Synchronous
Transmission formats such as Digital Hierachy have been studied.

【0003】前記SONETに準拠した伝送装置では、当該
装置が終端するレイヤにより、セクション終端装置(ST
E:Section Terminating Equipment)、線終端装置(LTE:L
ine Terminating Equipment)およびパス終端装置(PTE:P
ath Terminating Equipment)が機能する。
In the SONET-compliant transmission device, the section termination device (ST
E: Section Terminating Equipment), line termination equipment (LTE: L
ine Terminating Equipment) and path termination equipment (PTE: P
ath Terminating Equipment) works.

【0004】前記セクション終端装置(STE)は、SONETフ
レーム内のセクションオーバヘッド情報(SOH:Section O
verHead)を処理し、前記線終端装置(PTE)は、前記セク
ションオーバヘッド情報(SOH)に加えて、ラインオーバ
ヘッド情報(LOH:Line OverHead)を処理し、前記パス終
端装置(PTE)は、前記セクションオーバヘッド情報(SOH)
およびラインオーバヘッド情報(LOH)に加えて、パスオ
ーバヘッド情報(POH:PathOverHead)を処理する。
The section terminating equipment (STE) is provided with section overhead information (SOH: Section O) in the SONET frame.
verHead), the line terminator (PTE) processes line overhead information (LOH: Line OverHead) in addition to the section overhead information (SOH), and the path terminator (PTE) processes the section. Overhead information (SOH)
In addition to the line overhead information (LOH), the path overhead information (POH: PathOverHead) is processed.

【0005】なお、デジタル同期型ハイアラーキー(SD
H)におけるSDHフレーム内にも前記と同様のオーバヘッ
ド情報があり、前記SONETフレームと同様の処理が行わ
れるようになっている。
A digital synchronous hierarchy (SD
The overhead information similar to the above is also included in the SDH frame in H), and the same processing as that of the SONET frame is performed.

【0006】これらのSONETフレームや、SDHフレームに
おけるオーバヘッド情報は通信網の保守を目的に使用さ
れ、フレームにおいてこれらのオーバヘッド情報(SOH,L
OH,POH)を除外した部分に、本来伝送するためのデータ
が格納され、ペイロード部(Payload)が構成されてい
る。
The overhead information in these SONET frames and SDH frames is used for the purpose of maintenance of the communication network, and these overhead information (SOH, L
Data to be originally transmitted is stored in a portion excluding (OH, POH) to form a payload portion (Payload).

【0007】ところで、この種のインターフェース装置
では伝送路の正常性を試験するために、装置内に折り返
し回路を有しているものが一般的であった。これは送信
データを受信データとして装置の内部で折り返して送信
データと受信データとを比較することにより装置の状態
を確認するものである。このように装置内部に折り返し
回路を保有することによって、障害発生時に障害箇所が
装置内部であるか外部であるかを識別し、迅速な障害復
旧の実現に寄与しようとするものである。
By the way, in this kind of interface device, in order to test the normality of the transmission path, it is general that the device has a loopback circuit. This is to confirm the state of the device by returning the transmitted data as received data inside the device and comparing the transmitted data with the received data. By thus holding the folding circuit inside the device, it is intended to identify whether the failure location is inside or outside the device when a failure occurs, and to contribute to the realization of quick failure recovery.

【0008】このような目的から折り返し回路はできる
だけ装置内のデータの入出力側(伝送路側)に設けるのが
望ましく、またこの折り返し回路を用いた試験中には対
向する相手側伝送装置5aに対して何らかの手段で当該
装置が試験中であることを通知しておく必要があった。
For this purpose, the loopback circuit is preferably provided on the data input / output side (transmission path side) in the device as much as possible, and during the test using this loopback circuit, the counter transmission device 5a is opposed to the opposite transmission device 5a. It was necessary to notify that the device was under test by some means.

【0009】この点に関して、図5は従来技術における
パス終端装置(PTE)で採用されている折り返し回路の一
例を示している。同図において、E/Oは出力側の光電変
換部、O/Eは入力側の光電変換部、POH−INS,LOH−INSお
よびSOH−INSはそれぞれパスオーバヘッド情報挿入部、
ラインオーバヘッド情報挿入部およびセクションオーバ
ヘッド情報挿入部を示している。また、POH−DROP,LOH
−DROPおよびSOH−DROPはそれぞれパスオーバヘッド情
報取出部、ラインオーバヘッド情報取出部およびセクシ
ョンオーバヘッド情報取出部をそれぞれ示している。
In this regard, FIG. 5 shows an example of a folding circuit used in a path terminating device (PTE) in the prior art. In the figure, E / O is a photoelectric conversion unit on the output side, O / E is a photoelectric conversion unit on the input side, POH-INS, LOH-INS and SOH-INS are path overhead information insertion unit, respectively.
The line overhead information insertion part and the section overhead information insertion part are shown. In addition, POH-DROP, LOH
-DROP and SOH-DROP respectively indicate a path overhead information extractor, a line overhead information extractor and a section overhead information extractor.

【0010】また、SELはセレクタであり、経路切換命
令(LOOP)により伝送装置1内のデータを装置内で強制的
に折り返す機能を有している。一方、相手側伝送装置5
aへの試験中であることの通知は、パス試験中信号(P-A
IS:Path Alarm Indication Signal)を送出することによ
って行われる。そして、このパス試験中信号(P−AIS)は
SONETフレームのペイロード部(Payload)の全ビットを"
1"とすることにより行われる。すなわち、相手側伝送装
置5aでは、ペイロード部(Payload)の全ビットに"1"が
格納されたSONETフレームが到着した場合には、対向す
る発信側の伝送装置5が折り返し試験中であることを認
識できる。
Further, SEL is a selector and has a function of forcibly returning the data in the transmission device 1 in the device by a path switching command (LOOP). On the other hand, the other side transmission device 5
a is notified that the test is in progress, the path under test signal (PA
This is done by sending IS: Path Alarm Indication Signal). And this path test signal (P-AIS) is
All bits of the payload section (Payload) of the SONET frame are set to "
1 ". That is, when the SONET frame in which" 1 "is stored in all bits of the payload section (Payload) arrives at the partner transmission device 5a, the transmission device on the opposite transmission side It can be recognized that 5 is undergoing a turnback test.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところが、図5におけ
る折り返し回路の構成では、パス試験中信号(P−AIS)と
して出力されたデータがそのまま折り返って入力側の各
オーバヘッド情報取出部に戻るため、そのペイロード部
(Payload)の全ビットに"1"が登録されたデータが戻って
来ることになり、事実上任意の試験データをペイロード
部(Payload)に格納することができなくなるという問題
があった。そのために、折り返し試験の柔軟性に欠ける
という問題点があった。
However, in the configuration of the loopback circuit in FIG. 5, since the data output as the in-path test signal (P-AIS) is looped back as it is and returned to each overhead information extraction section on the input side. , Its payload part
There is a problem that data in which "1" is registered in all bits of (Payload) is returned, and virtually any test data cannot be stored in the payload section (Payload). Therefore, there is a problem that the folding back test lacks flexibility.

【0012】このような点に鑑みて、図6に示すように
折り返し回路として機能するセレクタ(SEL)をセクショ
ンオーバヘッド情報処理部(SOH−INS,SOH−DROP)の前段
(出力側からみて)に配置して、データを折り返した後に
パス試験中信号(P−AIS)が出力できるようにした回路構
成が提案されている。
In view of such a point, as shown in FIG. 6, a selector (SEL) functioning as a folding circuit is provided at the front stage of the section overhead information processing unit (SOH-INS, SOH-DROP).
A circuit configuration has been proposed which is arranged (as viewed from the output side) so that the signal under path test (P-AIS) can be output after the data is folded back.

【0013】ところが、パス試験中信号(P−AIS)を出力
するためには、ペイロード部(Payload)に格納されたフ
レームパルス(FP−P)を認識する必要があるが、これは
本来パスオーバヘッド情報挿入部(POH−INS)でのみ可能
であり、これを後段のセクションオーバヘッド情報挿入
部(SOH−INS)で行うためにはペイロード部(Payload)の
フレームパルス(FP−P)を後段のセクションオーバヘッ
ド情報挿入部(SOH−INS)までさらに延長して伝達しなく
てはならず、回路構成が複雑になるばかりか、レイヤ毎
に閉じた回路構成が実現できないために障害発生時の発
生箇所の区分けが難しくなる等の保守上の問題があっ
た。
However, in order to output the in-path test signal (P-AIS), it is necessary to recognize the frame pulse (FP-P) stored in the payload section (Payload), which is originally the path overhead. It is possible only in the information insertion part (POH-INS), and in order to do this in the section overhead information insertion part (SOH-INS) in the subsequent stage, the frame pulse (FP-P) of the payload part (Payload) is set in the subsequent section. The overhead information insertion section (SOH-INS) must be further extended and transmitted, which not only complicates the circuit configuration, but also makes it impossible to realize a closed circuit configuration for each layer, so that the location of occurrence of a failure is There was a maintenance problem such as difficulty in classification.

【0014】本発明は、このような点に着目してなされ
たものであり、その目的は、簡単な回路構成で、相手側
伝送装置に対して発信側の伝送装置が試験中である旨の
通知を行うとともに、所望の試験データを用いた装置内
の折り返し試験を実現できる技術を提供することにあ
る。
The present invention has been made by paying attention to such a point, and an object thereof is that the transmission device on the transmission side is under test with respect to the transmission device on the other side with a simple circuit configuration. It is an object of the present invention to provide a technique capable of performing notification and performing a loopback test in an apparatus using desired test data.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明は、レイヤ毎のオ
ーバヘッド情報(OH)をフレームに挿入する複数のオーバ
ヘッド情報挿入部(OH-INS)を出力路1上に設け、またこ
れらのオーバヘッド情報(OH)をフレームから取り出す複
数のオーバヘッド情報取出部(SOH-DROP)を入力路2上に
設けるとともに、前記出力路1上のオーバヘッド情報挿
入部(OH-INS)の最終段以降には試験中信号(P-AIS)を発
生するパターン信号発生部3と、試験データを折り返し
て入力路2側に戻すためのデータ経路切換手段4とを備
えた構成とした。
According to the present invention, a plurality of overhead information insertion units (OH-INS) for inserting the overhead information (OH) for each layer into a frame are provided on the output path 1, and these overhead information are also provided. A plurality of overhead information extraction units (SOH-DROP) for extracting (OH) from the frame are provided on the input path 2, and testing is performed after the final stage of the overhead information insertion section (OH-INS) on the output path 1. The pattern signal generator 3 for generating the signal (P-AIS) and the data path switching means 4 for returning the test data to the input path 2 side are provided.

【0016】[0016]

【作用】本発明にれよば、前記データ経路切換手段4
は、外部からの経路切換命令(LOOP)により出力路1から
の試験データを入力路2に帰還させるとともに、前記パ
ターン信号発生部3で発生された試験中信号(P-AIS)を
前記出力路1を通じて相手側伝送装置に送出し、発信側
の伝送装置が試験中であることを通知する。
According to the present invention, the data path switching means 4 is provided.
The test data from the output path 1 is fed back to the input path 2 by a path switching command (LOOP) from outside, and the in-test signal (P-AIS) generated by the pattern signal generating section 3 is sent to the output path. 1 to the transmission device on the other side to notify that the transmission device on the transmission side is under test.

【0017】このように、装置内で折り返す試験データ
と、相手側伝送装置に送出する試験中信号(P-AIS)とが
独立しているため、試験データに任意の値を登録するこ
とができ、折り返し試験の柔軟性を高めることができ、
かつ相手側伝送装置に対して、当該発信側の伝送装置が
試験中であることを確実に伝えることができる。
As described above, since the test data looped back inside the device and the in-test signal (P-AIS) sent to the partner transmission device are independent, any value can be registered in the test data. Can increase the flexibility of the loopback test,
In addition, it is possible to reliably notify the transmission device of the other party that the transmission device of the transmission side is under test.

【0018】[0018]

【実施例】図2は、本発明の実施例を示している。同図
に示す伝送装置はパス終端装置(PTE)であり、セクショ
ンオーバヘッド情報(SOH)、ラインオーバヘッド情報(LO
H)およびパスオーバヘッド情報(POH)を処理する機能を
有している。
FIG. 2 shows an embodiment of the present invention. The transmission equipment shown in the figure is a path termination equipment (PTE), and has section overhead information (SOH) and line overhead information (LO).
H) and the path overhead information (POH).

【0019】同図において、E/OおよびO/Eは光電変換部
であり、それぞれ電気信号を光信号に、光信号を電気信
号に変換する機能を有している。また、前記各オーバヘ
ッド情報処理部と光電変換部との間には図2において破
線で囲まれたデータ折返処理部6が設けられている。こ
のデータ折返処理部6については後で詳述する。
In the figure, E / O and O / E are photoelectric conversion units, each having a function of converting an electric signal into an optical signal and an optical signal into an electric signal. Further, a data loopback processing unit 6 surrounded by a broken line in FIG. 2 is provided between each overhead information processing unit and the photoelectric conversion unit. The data loopback processing unit 6 will be described in detail later.

【0020】前記出力路1上には、オーバヘッド情報処
理部として、パスオーバヘッド情報挿入部(POH−INS)、
ラインオーバヘッド情報挿入部(LOH−INS)およびセクシ
ョンオーバヘッド情報挿入部(SOH−INS)がそれぞれ設け
られている。また入力路2上には、同じくオーバヘッド
情報処理部として、セクションオーバヘッド情報取出部
(SOH−DROP)、ラインオーバヘッド情報取出部(LHO−DRO
P)およびパスオーバヘッド情報取出部(POH−DROP)が設
けられている。
On the output path 1, a path overhead information insertion section (POH-INS), as an overhead information processing section,
A line overhead information insertion unit (LOH-INS) and a section overhead information insertion unit (SOH-INS) are provided respectively. Also, on the input path 2, a section overhead information extracting section is also provided as an overhead information processing section.
(SOH-DROP), line overhead information extractor (LHO-DRO)
P) and a path overhead information extraction unit (POH-DROP) are provided.

【0021】これらのオーバヘッド情報処理部の機能に
ついて簡単に説明すると、まず図示しない発信端末から
出力されたデータ(Payload)は、ペイロード・フレーム
パルス(FP−P)とともに、先ず、パスオーバヘッド情報
挿入部(POH−INS)においてパスオーバヘッド情報(POH)
が付加され、次にラインオーバヘッド情報挿入部(LOH−
INS)においてラインオーバヘッド情報(LOH)が付加され
た後、ペイロード・フレームパルスに基づいて生成され
たSONETフレームパルスとともにセクションオーバヘッ
ド情報挿入部(SOH−INS)に入力されてセクションオーバ
ヘッド情報(SOH)が付加される。通常の通信状態におい
ては、以上のようにしてデータ(Payload)に各種のオー
バヘッド情報(POH,LOH,SOH)が付加された後に、光電変
換部(E/O)において光信号に変換されたデータ信号が相
手側伝送装置5aに対して出力される。
The functions of these overhead information processing units will be briefly described. First, the data (Payload) output from a transmission terminal (not shown) together with the payload frame pulse (FP-P) are first stored in the path overhead information insertion unit. Path overhead information (POH) in (POH-INS)
Is added, and then the line overhead information insertion part (LOH-
After the line overhead information (LOH) is added in (INS), the section overhead information (SOH) is input to the section overhead information insertion unit (SOH-INS) together with the SONET frame pulse generated based on the payload frame pulse. Is added. In a normal communication state, after various overhead information (POH, LOH, SOH) is added to the data (Payload) as described above, the data converted into an optical signal in the photoelectric conversion unit (E / O) The signal is output to the partner transmission device 5a.

【0022】一方、相手側伝送装置5aから受信された
データ信号は、入力路2側の光電変換部(O/E)で電気信
号に変換された後、まずセクションオーバヘッド情報取
出部(SOH−DROP)においてセクションオーバヘッド情報
(SOH)が取り出され、次にラインオーバヘッド情報取出
部(LOH−DROP)においてラインオーバヘッド情報(LOH)が
取り出され、さらにパスオーバヘッド情報取出部(POH−
DROP)においてパスオーバヘッド情報(POH)が取り出され
てデータ(Payload)とペイロード・フレームパルス(FP−
P)のみが端末装置(図示せず)に入力される。
On the other hand, the data signal received from the partner transmission device 5a is converted into an electric signal by the photoelectric conversion unit (O / E) on the input path 2 side, and then the section overhead information extraction unit (SOH-DROP). ) Section overhead information
(SOH) is extracted, then line overhead information (LOH-DROP) extracts line overhead information (LOH), and path overhead information extraction (POH-DROP)
Path overhead information (POH) is extracted in DROP) and data (Payload) and payload frame pulse (FP−
Only P) is input to the terminal device (not shown).

【0023】次に、本実施例の特徴であるデータ折返処
理部6について説明する。このデータ折返処理部6は、
1つのパターン信号発生部3と2つのセレクタ4a,4
bで構成されており、このセレクタ4a,4bがデータ
経路切換手段4として機能する。
Next, the data loopback processing unit 6, which is a feature of this embodiment, will be described. The data loopback processing unit 6
One pattern signal generator 3 and two selectors 4a, 4
b, and the selectors 4a and 4b function as the data path switching means 4.

【0024】パターン信号発生部3の詳細な構成を示し
たものが図3である。同図に示すように、パターン信号
発生部3は、ここでは信号パターンを登録した複数のRO
M(Read Only Memory)が並列に接続されており、このROM
の入力側にはカウンタ(CNT:Counter)と、分周回路7と
が設けられている。そしてこの分周回路7の出力は、前
記各ROMの後段に設けられたフリップフロップ素子(FF)
のクロック(CLK)に入力されている。これらのフリップ
フロップ素子(FF)からの出力はマルチプレクサ(MUX:Mul
tiplexer)で多重化されて第1セレクタ4aに出力され
るようになっている。
FIG. 3 shows a detailed configuration of the pattern signal generator 3. As shown in the figure, the pattern signal generator 3 is configured to detect a plurality of ROs in which signal patterns are registered.
M (Read Only Memory) is connected in parallel, and this ROM
A counter (CNT: Counter) and a frequency dividing circuit 7 are provided on the input side of. The output of the frequency dividing circuit 7 is the flip-flop element (FF) provided in the subsequent stage of each ROM.
Input to the clock (CLK) of. The outputs from these flip-flop elements (FF) are multiplexers (MUX: Mul:
It is multiplexed by a tip lexer) and output to the first selector 4a.

【0025】前記ROMには、パス試験中信号(P-AIS)であ
る、PAYLOAD部の全ビットを"1"にしたSONETの1フレー
ム分の信号パターンが登録されている。ところで、ROM
の読み出し速度が十分に高速な場合には、前記ROMは複
数設ける必要はなく単一のもので足りるが、一般にSONE
T伝送路の伝送速度は前記ROMの読み出し速度よりははる
かに高速であるため、パス試験中信号(P-AIS)の出力速
度を前記SONET伝送路の速度に適合させるために、ROMを
複数用いているのである。
In the ROM, a signal pattern for one frame of SONET in which all bits of the PAYLOAD part are "1", which is a signal under path test (P-AIS), is registered. By the way, ROM
If the reading speed of the ROM is sufficiently high, it is not necessary to provide multiple ROMs and a single ROM is sufficient.
Since the transmission speed of the T transmission line is much faster than the read speed of the ROM, multiple ROMs are used to match the output speed of the path test signal (P-AIS) with the speed of the SONET transmission line. -ing

【0026】すなわち、複数のROMによって発生させる
信号パターンの上位ビット、中位ビット、下位ビットを
それぞれ分担させてロードし、これをマルチプレクサ(M
UX)で多重化させることによって、SONET伝送路の伝送速
度に適合したパス試験中信号(P-AIS)を生成しているの
である。
That is, the upper bits, the middle bits, and the lower bits of the signal pattern generated by a plurality of ROMs are shared and loaded, and this is loaded by the multiplexer (M
UX), the path under test signal (P-AIS) suitable for the transmission speed of the SONET transmission line is generated.

【0027】前記データ折返処理部6の動作を簡単に説
明すると、まずカウンタ(CNT)はセクションオーバヘッ
ド情報挿入部(SOH-INS)から受け取ったソネットフレー
ムパルス(FP-S)に基づいて同期をとり、それぞれのROM
の読み出し分担ビットをカウントしながら、ソネットフ
レームパルス(FP-S)に合わせて各ROMよりパス試験中信
号(P-AIS)のパターンを読み出す。ここで読み出された
信号パターンは、伝送路のクロックに同期されたフリッ
プフロップ素子(FF)で一旦ラッチされて整形され、その
後マルチプレクサ(MUX)で多重化された後、第1セレク
タ4aに対して出力される。ここで第1セレクタ4aは
セクションオーバヘッド情報挿入部(SOH-INS)からのデ
ータと、前記データ折返処理部6からのパス試験中信号
(P-AIS)とを選択的に外部に送出する機能を有してお
り、通常の状態では入力としてセクションオーバヘッド
情報挿入部(SOH-INS)からのデータ側が選択されるよう
になっている。しかし、折り返し試験を行っている場合
には、前記マルチプレクサ(MUX)からのパス試験中信号
(P-AIS)を選択的に入力して、これを光電変換部(E/O)を
通じて光信号として相手側に通知し、これによって相手
側伝送装置5aは、当方の装置が試験中であることを認
識できるようになっている。
The operation of the data loopback processing unit 6 will be briefly described. First, the counter (CNT) synchronizes on the basis of the SONET frame pulse (FP-S) received from the section overhead information insertion unit (SOH-INS). , Each ROM
While counting the read sharing bits of, the pattern of the path test signal (P-AIS) is read from each ROM in synchronization with the SONET frame pulse (FP-S). The signal pattern read here is once latched and shaped by the flip-flop element (FF) synchronized with the clock of the transmission path, and then multiplexed by the multiplexer (MUX), and then to the first selector 4a. Is output. Here, the first selector 4a uses the data from the section overhead information insertion unit (SOH-INS) and the path test signal from the data loopback processing unit 6.
(P-AIS) is selectively transmitted to the outside. In the normal state, the data side from the section overhead information insertion unit (SOH-INS) is selected as an input. However, when performing a loopback test, the signal under path test from the multiplexer (MUX)
(P-AIS) is selectively input, and this is notified to the other side as an optical signal through the photoelectric conversion unit (E / O), whereby the other side transmission device 5a is being tested by our device. You can recognize that.

【0028】入力路2側に設けられた第2セレクタ4b
は、前記出力路1のセクションオーバヘッド情報挿入部
(SOH-INS)から出力されるデータと相手側伝送装置5a
からのデータとを選択的に入力路2に導く機能を有して
おり、通常の状態では入力として光電変換部(O/E)、す
なわち相手側伝送装置5aからのデータを選択するよう
になっている。
The second selector 4b provided on the input path 2 side
Is a section overhead information insertion unit of the output path 1.
Data output from (SOH-INS) and the other party's transmission device 5a
It has a function of selectively guiding the data from the input path 2 to the input path 2. In a normal state, the photoelectric conversion section (O / E), that is, the data from the partner transmission device 5a is selected as an input. ing.

【0029】本装置において、装置内の折り返し試験が
開始された時には、経路切換命令(LOOP)が第1セレクタ
4aおよび第2セレクタ4bに通知される。これによ
り、第1セレクタ4aは入力としてパターン信号発生部
3からの出力を、第2セレクタ4bは入力としてセクシ
ョンオーバヘッド情報挿入部(SOH-INS)からのデータを
それぞれ選択して出力するように切り替わる。
In the present apparatus, when the loopback test in the apparatus is started, the path switching instruction (LOOP) is notified to the first selector 4a and the second selector 4b. As a result, the first selector 4a is switched so as to select and output the output from the pattern signal generator 3 as an input and the second selector 4b as the input to select and output the data from the section overhead information inserter (SOH-INS). .

【0030】これによって、出力路1側の各オーバヘッ
ド情報挿入部(POH-INS,LOH-INS,SOH-INS)を経たデータ
は第2セレクタ4bを通じて入力路2側の各オーバヘッ
ド情報取出部(SOH-DROP,LOH-DROP,POH-DROP)側に折り返
される。
As a result, the data that has passed through the overhead information insertion units (POH-INS, LOH-INS, SOH-INS) on the output path 1 side is passed through the second selector 4b to the overhead information extraction section (SOH) on the input path 2 side. -Drop, LOH-DROP, POH-DROP) side.

【0031】このとき、対向する相手側伝送装置5aに
対しては、第1セレクタ4aを通じてパターン信号発生
部3からのパス試験中信号(P-AIS)が送出されている。
なお、図3で説明したパターン信号発生部3は、各伝送
装置5の伝送路インターフェース毎に設けるのではな
く、図4に示すように複数の伝送路インターフェースで
共有して設けるようにしてもよい。
At this time, the path test in-progress signal (P-AIS) from the pattern signal generator 3 is sent to the opposite transmission device 5a facing the other side through the first selector 4a.
The pattern signal generator 3 described with reference to FIG. 3 may not be provided for each transmission line interface of each transmission device 5, but may be shared by a plurality of transmission line interfaces as shown in FIG. .

【0032】このように、本実施例では、装置内で折り
返し試験に用いる試験データと、相手側に通知するため
のパス試験中信号(P-AIS)とを独立した別個のデータと
することができる。したがって、折り返し試験のための
折り返しデータには任意の試験データをそのPAYLOAD部
に登録することができ、折り返し試験の柔軟性を高める
ことができる。
As described above, in the present embodiment, the test data used for the loopback test in the apparatus and the path test in-progress signal (P-AIS) for notifying the other party may be independent and independent data. it can. Therefore, any test data can be registered in the PAYLOAD section as the return data for the return test, and the flexibility of the return test can be enhanced.

【0033】また本実施例によれば、試験データの折り
返しは、装置の出口間際で行われるため、装置内の正常
性確認の範囲をより広くとることができ、試験による障
害箇所特定の切り分けに優れている。
Further, according to the present embodiment, since the return of the test data is performed just before the exit of the device, the range of the normality confirmation in the device can be widened, and the fault location can be identified by the test. Are better.

【0034】なお、実施例では伝送装置5の例として、
パス終端装置(PTE)で説明したが、レイヤによってライ
ン終端装置(LTE)あるいはセクション終端装置(STE)であ
ってもよい。ライン終端装置(LTE)の場合には、セクシ
ョンオーバヘッド情報(SOH)とラインオーバヘッド情報
(LOH)を処理するために、セクションオーバヘッド情報
処理部(SOH−INS,SOH−DROP)とラインオーバヘッド情報
処理部(LOH−INS,LOH−DROP)とを備えている。
In the embodiment, as an example of the transmission device 5,
Although the path terminating device (PTE) has been described, it may be a line terminating device (LTE) or a section terminating device (STE) depending on the layer. For line terminator (LTE), section overhead information (SOH) and line overhead information
In order to process (LOH), a section overhead information processing unit (SOH-INS, SOH-DROP) and a line overhead information processing unit (LOH-INS, LOH-DROP) are provided.

【0035】また、セクション終端装置(STE)である場
合には、セクションオーバヘッド情報(SOH)を処理する
ためにセクションオーバヘッド情報処理部(SOH−INS,SO
H−DROP)を有している。これらの終端装置の場合にも、
各オーバヘッド情報処理部の構成が異なるが、パターン
信号発生部3と、データ経路切換手段4とは同様に適用
することができる。
In the case of the section terminating equipment (STE), the section overhead information processing unit (SOH-INS, SO) for processing the section overhead information (SOH).
H-DROP). For these end devices,
Although the configuration of each overhead information processing unit is different, the pattern signal generation unit 3 and the data path switching unit 4 can be applied similarly.

【0036】[0036]

【発明の効果】本発明によれば、簡単な回路構成で、相
手側伝送装置に対して通知するパス試験中信号と、装置
内で用いる折り返しデータとを別個の独立したデータと
することができるため、相手側伝送装置への試験中であ
る旨の通知と、試験データを用いた装置内の任意の折り
返し試験とを同時に実現することができる。
According to the present invention, with a simple circuit configuration, the path test signal notified to the transmission device on the other side and the return data used in the device can be made into independent data. Therefore, it is possible to simultaneously realize the notification to the partner transmission device that the test is in progress and an arbitrary loopback test in the device using the test data.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の原理図FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【図2】本発明の一実施例である伝送装置の折り返し回
路を示すブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing a folding circuit of a transmission device according to an embodiment of the present invention.

【図3】実施例の折り返し回路の内部構成を示すブロッ
ク図
FIG. 3 is a block diagram showing an internal configuration of a folding circuit according to an embodiment.

【図4】実施例の折り返し回路の内部構成の変形例を示
すブロック図
FIG. 4 is a block diagram showing a modification of the internal configuration of the folding circuit according to the embodiment.

【図5】従来技術における伝送装置の折り返し回路を示
すブロック図
FIG. 5 is a block diagram showing a folding circuit of a transmission device in the related art.

【図6】従来技術における伝送装置の折り返し回路を示
すブロック図
FIG. 6 is a block diagram showing a folding circuit of a transmission device in the related art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・出力路 2・・入力路 3・・パターン信号発生部 4・・データ経路切換手段 4a・・第1セレクタ 4b・・第2セレクタ 5・・伝送装置 5a・・相手側伝送装置 6・・データ折返処理部 7・・分周回路 POH-INS・・パスオーバヘッド情報挿入部 LOH-INS・・ラインオーバヘッド情報挿入部 SOH-INS・・セクションオーバヘッド情報挿入部 POH-DROP・・パスオーバヘッド情報取出部 LOH-DROP・・ラインオーバヘッド情報取出部 SOH-DROP・・セクションオーバヘッド情報取出部 E/O,O/E・・光電変換部 FP-P・・ペイロード・フレームパルス FP-S・・ソネット・フレームパルス LOOP・・経路切換命令 P-AIS・・試験中信号 ROM・・記憶手段 MUX・・多重化手段 1 ... Output path 2 ... Input path 3 ... Pattern signal generation section 4 ... Data path switching means 4a ... First selector 4b ... Second selector 5 ... Transmission device 5a ... Opponent transmission device 6 ...・ Data loopback processing unit 7 ・ ・ Dividing circuit POH-INS ・ ・ Path overhead information insertion unit LOH-INS ・ ・ Line overhead information insertion unit SOH-INS ・ ・ Section overhead information insertion unit POH-DROP ・ ・ Path overhead information extraction Section LOH-DROP .. line overhead information extraction section SOH-DROP .. section overhead information extraction section E / O, O / E .. photoelectric conversion section FP-P .. payload frame pulse FP-S .. SONET frame Pulse LOOP ··· Path switching instruction P-AIS ··· Signal under test ROM · · Storage means MUX · · Multiplexing means

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 出力路(1)上に設けられレイヤ毎のオ
ーバヘッド情報(OH)をフレームに挿入する複数のオーバ
ヘッド情報挿入部(OH-INS)と、 入力路(2)上に設けられレイヤ毎の前記オーバヘッド
情報(OH)をフレームから取り出す複数のオーバヘッド情
報取出部(SOH-DROP)と、 前記出力路(1)上の各オーバヘッド情報挿入部(OH-IN
S)の最終段以降に設けられ、試験中信号(P-AIS)を発生
するパターン信号発生部(3)と、 出力路(1)上の試験データを入力路2側に折り返すデ
ータ経路切換手段(4)とを有し、 前記データ経路切換手段(4)は、外部からの経路切換
命令(LOOP)により出力路(1)からの試験データを入力
路(2)に帰還させるとともに、前記パターン信号発生
部(3)で発生された試験中信号(P-AIS)を前記出力路
(1)を通じて相手側伝送装置(5a)に送出し、発信
側の伝送装置(5)が試験中であることを通知すること
を特徴とする伝送装置の試験制御方式。
1. A plurality of overhead information insertion units (OH-INS) provided on an output path (1) for inserting overhead information (OH) for each layer into a frame, and a layer provided on an input path (2). A plurality of overhead information extraction units (SOH-DROP) for extracting the overhead information (OH) for each frame from the frame, and overhead information insertion units (OH-IN) on the output path (1).
A pattern signal generator (3) which is provided after the last stage of S) and generates a signal under test (P-AIS), and a data path switching means for returning the test data on the output path (1) to the input path 2 side. (4), the data path switching means (4) feeds back the test data from the output path (1) to the input path (2) by a path switching command (LOOP) from the outside, and the pattern The signal under test (P-AIS) generated by the signal generator (3) is sent to the partner transmission device (5a) through the output path (1), and the transmission device (5) on the transmission side is under test. A test control method for a transmission device characterized by notifying that
【請求項2】 前記データ経路切換手段(4)は、前記
出力路(1)上のパターン信号発生部(3)の後段に設
けられ、パターン信号発生部(3)からの試験中信号(P
-AIS)と、前記オーバヘッド情報挿入部(OH-INS)からの
送信用データ信号とを選択して外部に出力する第1の経
路切換手段(4a)と、 前記入力路(2)上の前記オーバヘッド情報取出部(SOH
-DROP)の前段の設けられ、外部からのデータ信号と、前
記出力路(1)からの試験データとを選択してオーバヘ
ッド情報取出部(SOH-DROP)に入力する第2の経路切換手
段(4b)とからなることを特徴とする請求項1記載の
伝送装置の試験制御方式。
2. The data path switching means (4) is provided after the pattern signal generating section (3) on the output path (1), and the in-test signal (P) is output from the pattern signal generating section (3).
-AIS) and a first path switching means (4a) for selecting and outputting the transmission data signal from the overhead information insertion section (OH-INS) to the outside, and the above-mentioned on the input path (2) Overhead information extractor (SOH
-DROP), which is provided in the preceding stage, selects the data signal from the outside and the test data from the output path (1) and inputs it to the overhead information extracting section (SOH-DROP). 4. The test control method for a transmission device according to claim 1, further comprising:
【請求項3】 前記パターン信号発生部(3)は、試験
中信号(P-AIS)を生成するために少なくとも1フレーム
分のデータを登録し、各々が並列に配置された2以上の
記憶手段(ROM)と、 前記2以上の記憶手段(ROM)の出力側に接続され各記憶
手段(ROM)からの出力信号を多重化する多重化手段(MUX)
とを備えていることを特徴とする請求項1記載の伝送装
置の試験制御方式。
3. The pattern signal generating section (3) registers data for at least one frame to generate a signal under test (P-AIS), and two or more storage means arranged in parallel with each other. (ROM) and multiplexing means (MUX) connected to the output side of the two or more storage means (ROM) and for multiplexing output signals from each storage means (ROM)
The test control system for a transmission apparatus according to claim 1, further comprising:
JP4170666A 1992-06-29 1992-06-29 Test control system for transmitter Withdrawn JPH0614002A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004051899A1 (en) * 2002-11-29 2004-06-17 Fujitsu Limited Path trace method and apparatus

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