JPH0613862A - GaAsFET保護電源回路 - Google Patents

GaAsFET保護電源回路

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JPH0613862A
JPH0613862A JP4168105A JP16810592A JPH0613862A JP H0613862 A JPH0613862 A JP H0613862A JP 4168105 A JP4168105 A JP 4168105A JP 16810592 A JP16810592 A JP 16810592A JP H0613862 A JPH0613862 A JP H0613862A
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bias voltage
drain
gaas fet
voltage
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Shigeru Murata
茂 村田
Mitsuo Iwatake
満夫 岩竹
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NEC Engineering Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】GaAsFETを使用した電子回路の電源をオ
ン・オフする場合,ゲート電圧が0V状態下でドレイン
電圧のみが印加され,過電流でFETが破壊されること
を抑止する。 【構成】2分岐したマイナス電源−Vccの一方にR1,
C1から成る積分回路を挿入し,2分岐した他方にはト
ランジスタスイッチQを設け,トランジスタスイッチQ
を積分回路の出力端電圧で制御し,積分回路挿入系統と
トランジスタスイッチ挿入系統の出力間にある一定の時
間差を設ける。この時間差をGaAsFETのバイアス
印加のタイムシーケンスに利用し,GaAsFETの過
大電流による破壊を防止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はGaAsFET(ガリュ
ウムひ素電界効果トランジスタ)保護電源回路に関し,
特に超高周波を利用する無線通信機器における超高周波
GaAsFETを過電流による破壊から保護する機能を
付与したGaAsFET保護電源回路に関する。
【0002】
【従来の技術】超高周波GaAsFETを使用する場
合,ゲート,ソース,ドレイン各電極のバイアス印加順
序を誤まると,これを破壊することがある。
【0003】バイアスは,たとえば,一般的なドレイン
接地型で使用する場合,電源投入は,最初にゲートに制
御電圧を印加し,次にドレインに印加しなくてはならな
い。
【0004】また,この場合の電源断はまずドレインの
電圧をオフとし,次にゲートの電圧をオフとする順序で
行なわなければ,ドレインに過大電流が流れ,GaAs
FETを破壊するおそれがある。
【0005】従来は,ゲート,ドレインのバイアス供給
回路に時定数を持たせ,電源投入時にはドレイン電圧立
上りを遅らせる回路が使用されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】超高周波GaAsFE
T用の従来の電源回路では,ドレインまたはソースバイ
アス電源に時定数を持たせ,ドレインまたはソースバイ
アス電圧の立上りをゲートバイアス電圧の立上りよりも
遅らせているため,電源断時,このドレインまたはソー
スバイアス回路に存在する時定数の影響で,ゲートバイ
アス電圧が0Vになったにもかかわらずドレインまたは
ソースバイアス電圧が0Vになりきれず,ドレインまた
はソース電流が流れ,最悪の場合GaAsFETを破壊
するという問題点があった。
【0007】本発明の目的は上述した問題を解決し,電
源断時のドレインバイアス電圧とゲートバイアス電圧の
立下りの順序が,必ずドレイン電圧断の次にゲート電圧
断とさせ,ドレイン電圧のみが印加された状態で過大電
流が流れてGaAsFETが破壊されることを抑止した
GaAsFET保護電源回路を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明のGaAsFET
保護電源回路は,正負いずれか1系統の直流電源を入力
して2分岐し,一方を積分回路を介してGaAsFET
のゲートバイアス用電圧として出力し,他方を前記積分
回路の出力によって制御されるトランジスタスイッチ回
路を介して前記GaAsFETのドレインもしくはソー
スバイアス用電圧として出力し,かつ前記直流電源の投
入時には前記ゲートバイアス用電圧を前記ドレインもし
くはソースバイアス用電圧よりも早く立ち上げ,また前
記直流電源の断時には前記ドレインもしくはソースバイ
アス用電圧を前記ゲートバイアス用電圧よりも早く立ち
下げるようにして前記GaAsFETを保護する構成を
有する。
【0009】また本発明のGaAsFET保護電源回路
は,正負2系統の直流電源を入力として構成を有する。
【0010】
【実施例】次に,本発明について図面を参照して説明す
る。
【0011】図1は,本発明の第1の実施例の回路図
(A)および出力電圧特性図(B)である。
【0012】図1は,GaAsFETをドレイン接地方
式で使用した場合で,バイアス電圧としてソースにマイ
ナス,ゲートにもマイナスの電位を印加する場合を例と
している。
【0013】図1の(B)を参照して説明するに,マイ
ナス電源−Vccは2分岐され,一方はR1,C1より構
成される積分回路によって適当な時定数を持たせること
により,ゲートバイアス用電圧VG 特性1を得,a点の
電圧に達した時に他方のソース系統に構成されたトラン
ジスタスイッチQをオンとし,ソースバイアス用電圧V
s を発生する。
【0014】また,電源断時は,図1(B)のR1,C
1からなる積分回路出力電圧がb点に達した時,トラン
ジスタスイッチQを断とし,ソースバイアス用電圧Vs
は急激に降下して0Vとなる。
【0015】一方,ゲートバイアス用電圧VG は,R
1,C1による時定数でゆるやかに電圧が降下し,ソー
スバイアス用電圧Vs との間に時間差を生ずる。
【0016】この時間差は,積分回路のR1,C1およ
びトランジスタスイッチQのバイアス用抵抗R3および
R4を選択することにより,所望の時間を設定すること
ができる。
【0017】図2は本発明の第2の実施例の回路図
(A)および出力電圧特性図(B)である。
【0018】図2(A)に示す回路は,ソース接地方式
で使用できGaAsFETの保護電源回路であり,本実
施例の場合,ドレインバイアス用電圧VD の制御は前述
した図1と同じスイッチングトランジスタQで行なう。
【0019】図2に示すc点の電圧は,ツェナーダイオ
ードCRのツェナー電圧を適宜選択することにより決定
される。
【0020】抵抗R9,コンデンサC3からなる積分回
路は,図1のR1,C1と同様に所定の時定数を提供す
る。また抵抗R5は電流制限用,抵抗R6はスイッチン
グトランジスタQのバイアス点設定用,抵抗R7はツェ
ナーダイオードCRのバイアス点設定用で,さらにコン
デンサC2はドレインバイアス用VD の立上り時間を調
節し,抵抗R8はドレイン電圧VD の立下りを早くする
目的で利用される。
【0021】図2(B)に示す如く,ゲートバイアス用
電圧VG はゆるやかに電圧が降下し,一方ドレインバイ
アス用電圧VD は急激に電圧降下して,両電圧間には所
望の時間差が確保できるものとなっている。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように本発明は,超高周波
GaAsFETを動作させる場合,ある一定のゲートバ
イアス用電圧に達した時にソースまたはドレインバイア
ス用電圧が立ち上がるように制御し,かつゲートバイア
ス用電圧がGaAsFETのゲートに印加されてない限
りドレイン電圧およびソースバイアス用電圧が印加され
ないように制御することにより,ドレインバイアス用電
圧およびソースバイアス用電圧のみの印加による過大電
流を抑止し,GaAsFETの破壊を防止することがで
きる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の回路図(A)および出
力電圧特性図(B)である。
【図2】本発明の第2の実施例の回路図(A)および出
力電圧特性図(B)である。
【符号の説明】
1 ゲートバイアス用電圧VG 特性 2 ソースバイアス用電圧Vs 特性 3 ドレインバイアス用電圧VD 特性 4 ゲートバイアス用電圧VG 特性 C1〜C3 コンデンサ CR ツェナーダイオード Q スイッチングトランジスタ R1〜R9 抵抗

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 正負いずれか1系統の直流電源を入力し
    て2分岐し,一方を積分回路を介してGaAsFETの
    ゲートバイアス用電圧として出力し,他方を前記積分回
    路の出力によって制御されるトランジスタスイッチ回路
    を介して前記GaAsFETのドレインもしくはソース
    バイアス用電圧として出力し,かつ前記直流電源の投入
    時には前記ゲートバイアス用電圧を前記ドレインもしく
    はソースバイアス用電圧よりも早く立ち上げ,また前記
    直流電源の断時には前記ドレインもしくはソースバイア
    ス用電圧を前記ゲートバイアス用電圧よりも早く立ち下
    げるようにして前記GaAsFETを保護することを特
    徴とするGaAsFET保護電源回路。
  2. 【請求項2】 正負2系統の直流電源を入力として構成
    したことを特徴とする請求項1記載のGaAsFET保
    護電源回路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006041087A1 (ja) 2004-10-13 2006-04-20 Sony Corporation 高周波集積回路
JP2010103796A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 New Japan Radio Co Ltd 高周波回路のスイッチング方法及び高周波回路
JP2013229017A (ja) * 2012-03-30 2013-11-07 Furukawa Electric Co Ltd:The シーケンス装置
CN104298290A (zh) * 2014-08-12 2015-01-21 上海航天电子通讯设备研究所 宇航用GaAsMMIC器件加电装置

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