JPH06134991A - インクジェット印字ヘッド - Google Patents
インクジェット印字ヘッドInfo
- Publication number
- JPH06134991A JPH06134991A JP5159864A JP15986493A JPH06134991A JP H06134991 A JPH06134991 A JP H06134991A JP 5159864 A JP5159864 A JP 5159864A JP 15986493 A JP15986493 A JP 15986493A JP H06134991 A JPH06134991 A JP H06134991A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- ink
- heating element
- pit
- heater
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 title description 18
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 20
- 230000008602 contraction Effects 0.000 claims description 7
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 7
- 238000002161 passivation Methods 0.000 abstract description 26
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract description 4
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 abstract description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 abstract description 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract description 2
- 229910007277 Si3 N4 Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 94
- 239000000976 ink Substances 0.000 description 70
- 239000005360 phosphosilicate glass Substances 0.000 description 34
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 12
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 7
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 7
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 5
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 2
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000000637 aluminium metallisation Methods 0.000 description 1
- BGTFCAQCKWKTRL-YDEUACAXSA-N chembl1095986 Chemical compound C1[C@@H](N)[C@@H](O)[C@H](C)O[C@H]1O[C@@H]([C@H]1C(N[C@H](C2=CC(O)=CC(O[C@@H]3[C@H]([C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O3)O)=C2C=2C(O)=CC=C(C=2)[C@@H](NC(=O)[C@@H]2NC(=O)[C@@H]3C=4C=C(C(=C(O)C=4)C)OC=4C(O)=CC=C(C=4)[C@@H](N)C(=O)N[C@@H](C(=O)N3)[C@H](O)C=3C=CC(O4)=CC=3)C(=O)N1)C(O)=O)=O)C(C=C1)=CC=C1OC1=C(O[C@@H]3[C@H]([C@H](O)[C@@H](O)[C@H](CO[C@@H]5[C@H]([C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](C)O5)O)O3)O[C@@H]3[C@H]([C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](CO)O3)O[C@@H]3[C@H]([C@H](O)[C@@H](CO)O3)O)C4=CC2=C1 BGTFCAQCKWKTRL-YDEUACAXSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1601—Production of bubble jet print heads
- B41J2/1604—Production of bubble jet print heads of the edge shooter type
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/14—Structure thereof only for on-demand ink jet heads
- B41J2/14016—Structure of bubble jet print heads
- B41J2/14088—Structure of heating means
- B41J2/14112—Resistive element
- B41J2/14129—Layer structure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1626—Manufacturing processes etching
- B41J2/1628—Manufacturing processes etching dry etching
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1626—Manufacturing processes etching
- B41J2/1629—Manufacturing processes etching wet etching
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/1631—Manufacturing processes photolithography
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/164—Manufacturing processes thin film formation
- B41J2/1642—Manufacturing processes thin film formation thin film formation by CVD [chemical vapor deposition]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/135—Nozzles
- B41J2/16—Production of nozzles
- B41J2/1621—Manufacturing processes
- B41J2/164—Manufacturing processes thin film formation
- B41J2/1646—Manufacturing processes thin film formation thin film formation by sputtering
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 熱効率を高め、寿命の長いインクジェット印
字ヘッド用の加熱素子。 【構成】 新規の加熱素子の設計は、オーバグレーズパ
ッシベーション層20、PSGステップ領域10、Ta
層14および誘電体絶縁層12の一部分、およびキャビ
テーション圧力に弱い接合部または領域を保護するピッ
ト層22を有する。さらに、ピット層22の内壁は加熱
器の実際の面積を定義し、ドーパントライン9は加熱器
の実際の面積および実効面積を定義し、内壁23とドー
パントライン9は加熱器の実際の面積と実効面積を定義
する。さらに、フルピットチャネル形状およびオープン
ピットチャネル形状を有する印字ヘッドに組み込むと、
ピット層の追加保護によって、1)加熱素子のパッシベ
ーション損傷およびキャビテーション損傷、および2)
加熱器の頑強性の劣化、ホットスポットの形成、および
109 のパルス範囲までの加熱器故障が防止されるの
で、印字ヘッドの動作寿命が延長される。キャリア形ま
たは全幅形のドロップオンデマンド印字システムに組み
込むことができる。
字ヘッド用の加熱素子。 【構成】 新規の加熱素子の設計は、オーバグレーズパ
ッシベーション層20、PSGステップ領域10、Ta
層14および誘電体絶縁層12の一部分、およびキャビ
テーション圧力に弱い接合部または領域を保護するピッ
ト層22を有する。さらに、ピット層22の内壁は加熱
器の実際の面積を定義し、ドーパントライン9は加熱器
の実際の面積および実効面積を定義し、内壁23とドー
パントライン9は加熱器の実際の面積と実効面積を定義
する。さらに、フルピットチャネル形状およびオープン
ピットチャネル形状を有する印字ヘッドに組み込むと、
ピット層の追加保護によって、1)加熱素子のパッシベ
ーション損傷およびキャビテーション損傷、および2)
加熱器の頑強性の劣化、ホットスポットの形成、および
109 のパルス範囲までの加熱器故障が防止されるの
で、印字ヘッドの動作寿命が延長される。キャリア形ま
たは全幅形のドロップオンデマンド印字システムに組み
込むことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、インクジェット印字シ
ステムに関し、さらに詳しくは、加熱素子付き印字ヘッ
ドを有するドロップオンデマンド形インクジェット印字
システムに関する。
ステムに関し、さらに詳しくは、加熱素子付き印字ヘッ
ドを有するドロップオンデマンド形インクジェット印字
システムに関する。
【0002】
【従来の技術】インクジェット印字システムは、2種類
に分類することができる。第1の種類は連続流インクジ
ェット印字システムであり、第2の種類はドロップオン
デマンド印字システムである。
に分類することができる。第1の種類は連続流インクジ
ェット印字システムであり、第2の種類はドロップオン
デマンド印字システムである。
【0003】連続流インクジェット印字システムの場
合、インクは圧力下で少なくとも1つのオリフィスまた
はノズルから連続した流れとして放出される。インクの
流れは摂動によって、オリフィスから一定の距離で中断
して小滴になる。中断点で小滴はディジタルデータ信号
に従って帯電された後、静電場を通過し、ここで各小滴
の軌跡が調整され、インク小滴は再循環用の側溝に向か
うか、あるいは記録媒体上の特定の位置へ向かう。
合、インクは圧力下で少なくとも1つのオリフィスまた
はノズルから連続した流れとして放出される。インクの
流れは摂動によって、オリフィスから一定の距離で中断
して小滴になる。中断点で小滴はディジタルデータ信号
に従って帯電された後、静電場を通過し、ここで各小滴
の軌跡が調整され、インク小滴は再循環用の側溝に向か
うか、あるいは記録媒体上の特定の位置へ向かう。
【0004】ドロップオンデマンド形インクジェット印
字システムの場合、小滴がオリフィスからディジタルデ
ータ信号に従って記録媒体上の位置に直接排出される。
小滴を記録媒体に置く必要が無いときは、小滴は形成あ
るいは排出されない。ドロップオンデマンドインクジェ
ット印字システムは、インクの回収、帯電または偏向の
必要が無いので、連続流インクジェット印字システムよ
りずっと単純である。したがって、インクジェット印字
システムでは、ドロップオンデマンド形インクジェット
印字システムが一般的である。
字システムの場合、小滴がオリフィスからディジタルデ
ータ信号に従って記録媒体上の位置に直接排出される。
小滴を記録媒体に置く必要が無いときは、小滴は形成あ
るいは排出されない。ドロップオンデマンドインクジェ
ット印字システムは、インクの回収、帯電または偏向の
必要が無いので、連続流インクジェット印字システムよ
りずっと単純である。したがって、インクジェット印字
システムでは、ドロップオンデマンド形インクジェット
印字システムが一般的である。
【0005】さらに、ドロップオンデマンド形インクジ
ェット印字システムは2種類ある。第1の種類は、圧電
変換器を利用して圧力パルスを生成することによって、
ノズルから小滴を排出する。第2の種類は、熱エネルギ
ーを利用して、インクが充填された流路に蒸気のバブル
を生成することによって、インク小滴を排出する。
ェット印字システムは2種類ある。第1の種類は、圧電
変換器を利用して圧力パルスを生成することによって、
ノズルから小滴を排出する。第2の種類は、熱エネルギ
ーを利用して、インクが充填された流路に蒸気のバブル
を生成することによって、インク小滴を排出する。
【0006】第1のタイプのドロップオンデマンド形イ
ンクジェット印字システムは、印字ヘッドにインク充填
流路、流路の端部のノズル、および圧力パルスを生成す
るために他端部付近の圧電変換器を備えている。比較的
大型の変換器はノズルの近接間隔配置を妨げ、また変換
器の物理的限界がインク滴下速度を低くしている。イン
ク滴下速度の低さは、滴下速度の変動および方向性の許
容差を狭め、システムの高品質コピーを作成する能力に
影響を及ぼす。さらに、圧電変換器を用いるドロップオ
ンデマンド印字システムは、印字速度が遅いという欠点
もある。
ンクジェット印字システムは、印字ヘッドにインク充填
流路、流路の端部のノズル、および圧力パルスを生成す
るために他端部付近の圧電変換器を備えている。比較的
大型の変換器はノズルの近接間隔配置を妨げ、また変換
器の物理的限界がインク滴下速度を低くしている。イン
ク滴下速度の低さは、滴下速度の変動および方向性の許
容差を狭め、システムの高品質コピーを作成する能力に
影響を及ぼす。さらに、圧電変換器を用いるドロップオ
ンデマンド印字システムは、印字速度が遅いという欠点
もある。
【0007】圧電変換器を用いる印字ヘッドの上記の欠
点のために、熱エネルギーを利用してインク充填流路に
蒸気のバブルを生成してインク小滴を排出させる印字ヘ
ッドを有するドロップオンデマンド形インクジェット印
字システムが、一般に使用されている。熱エネルギー発
生器または加熱素子は通常は抵抗器であるが、これは各
流路のノズルから所定の距離に配置される。抵抗器は、
電気パルスによって個別にアドレス指定されて熱を発生
し、それが抵抗器からインクに伝達される。
点のために、熱エネルギーを利用してインク充填流路に
蒸気のバブルを生成してインク小滴を排出させる印字ヘ
ッドを有するドロップオンデマンド形インクジェット印
字システムが、一般に使用されている。熱エネルギー発
生器または加熱素子は通常は抵抗器であるが、これは各
流路のノズルから所定の距離に配置される。抵抗器は、
電気パルスによって個別にアドレス指定されて熱を発生
し、それが抵抗器からインクに伝達される。
【0008】伝達された熱はインクを過熱させる。つま
り、インクの通常の沸点よりずっと高い温度に加熱され
る。例えば、水性インクはバブル核(bubble nucleatio
n) 生成の臨界温度である280℃に達する。核生成さ
れたバブルつまり蒸気は、インクを加熱素子から熱的に
分離し、抵抗器からインクへ熱がそれ以上伝達されるの
を阻止する。さらに、インクに蓄積された通常の沸点を
越える熱が全部拡散消失するか、あるいは液体を蒸気に
変えるのに使用される(これは、いうまでもなく、気化
熱のために熱を除去する)まで、核生成されたバブルは
膨脹する。蒸気のバブルの膨脹中に、インクはノズルか
ら膨れ出て、インクの表面張力によってメニスカスとし
て保持される。
り、インクの通常の沸点よりずっと高い温度に加熱され
る。例えば、水性インクはバブル核(bubble nucleatio
n) 生成の臨界温度である280℃に達する。核生成さ
れたバブルつまり蒸気は、インクを加熱素子から熱的に
分離し、抵抗器からインクへ熱がそれ以上伝達されるの
を阻止する。さらに、インクに蓄積された通常の沸点を
越える熱が全部拡散消失するか、あるいは液体を蒸気に
変えるのに使用される(これは、いうまでもなく、気化
熱のために熱を除去する)まで、核生成されたバブルは
膨脹する。蒸気のバブルの膨脹中に、インクはノズルか
ら膨れ出て、インクの表面張力によってメニスカスとし
て保持される。
【0009】過剰な熱がインクから除去されたとき、熱
発生電流はもう抵抗器に流れていないので、蒸気のバブ
ルは抵抗器のところでしぼむ。バブルがしぼみ始める
と、まだ流路のノズルとバブルの間にあったインクは、
しぼむバブルの方向に移動し、ノズルでのインクの体積
収縮が発生し、結果的に膨れ出し部分のインクがインク
小滴として分離される。バブルが成長するときにノズル
から膨れ出るインクの加速度により、インク小滴を紙な
どの記録媒体に向かって実質的に直線方向に排出する運
動量および速度が得られる。バブルの膨脹と収縮のサイ
クルは全体で約20マイクロ秒(μs)かかる。流路は
100ないし500μsの最小ドウェル時間後に再始動
して、流路にインクを再充填したり、また動的再充填フ
ァクターを幾分緩和することができる。
発生電流はもう抵抗器に流れていないので、蒸気のバブ
ルは抵抗器のところでしぼむ。バブルがしぼみ始める
と、まだ流路のノズルとバブルの間にあったインクは、
しぼむバブルの方向に移動し、ノズルでのインクの体積
収縮が発生し、結果的に膨れ出し部分のインクがインク
小滴として分離される。バブルが成長するときにノズル
から膨れ出るインクの加速度により、インク小滴を紙な
どの記録媒体に向かって実質的に直線方向に排出する運
動量および速度が得られる。バブルの膨脹と収縮のサイ
クルは全体で約20マイクロ秒(μs)かかる。流路は
100ないし500μsの最小ドウェル時間後に再始動
して、流路にインクを再充填したり、また動的再充填フ
ァクターを幾分緩和することができる。
【0010】図1は、従来の加熱素子デザインを示すの
拡大断面図である。従来の加熱素子2は、基板4、アン
ダグレーズ層6、抵抗層8、リンけい酸ガラス(PS
G)ステップ領域10、誘電体絶縁層12、タンタル
(Ta)層14、アドレス電極16、共通リターン電極
18、オーバグレーズパッシベーション層20、および
ピット層22から成る。実際の加熱器面積は、抵抗材の
長さLR によって決まる。しかし、実効加熱器面積は、
オーバグレーズパッシベーション層の傾斜内壁間の距離
LE によって決まる。別の従来の加熱素子デザイン(図
示せず)では、オーバグレーズパッシベーションの側壁
がPSGステップ領域の側壁に重複せず、実効加熱器面
積は、PSGステップ領域の内部側壁間の距離によって
決まる。加熱器の実際の面積と実効面積の間に比較的大
きな差LD があるので、使用されない加熱器面積で生成
される熱は損失となる。さらに、オーバグレーズパッシ
ベーション層20あるいはPSGステップ領域10だけ
で、腐食性イオンインクがアドレス電極、共通リターン
電極および/または抵抗器の端部に露出するのを防止し
ている。
拡大断面図である。従来の加熱素子2は、基板4、アン
ダグレーズ層6、抵抗層8、リンけい酸ガラス(PS
G)ステップ領域10、誘電体絶縁層12、タンタル
(Ta)層14、アドレス電極16、共通リターン電極
18、オーバグレーズパッシベーション層20、および
ピット層22から成る。実際の加熱器面積は、抵抗材の
長さLR によって決まる。しかし、実効加熱器面積は、
オーバグレーズパッシベーション層の傾斜内壁間の距離
LE によって決まる。別の従来の加熱素子デザイン(図
示せず)では、オーバグレーズパッシベーションの側壁
がPSGステップ領域の側壁に重複せず、実効加熱器面
積は、PSGステップ領域の内部側壁間の距離によって
決まる。加熱器の実際の面積と実効面積の間に比較的大
きな差LD があるので、使用されない加熱器面積で生成
される熱は損失となる。さらに、オーバグレーズパッシ
ベーション層20あるいはPSGステップ領域10だけ
で、腐食性イオンインクがアドレス電極、共通リターン
電極および/または抵抗器の端部に露出するのを防止し
ている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】インクジェット技術で
は一般に、インクジェット印字ヘッドの動作寿命は、加
熱素子が故障する前に耐えられる蒸気バブルの膨脹と収
縮のサイクル回数に正比例すると認識されている。さら
に、長時間使用した後は、加熱器の頑強性(robustnes
s)、つまり印字ヘッドが規定通りのインク小滴を生成
する能力が劣化する。加熱器の故障や加熱器の頑強性の
劣化は、加熱素子が高温、周波数関連性熱応力、大きい
電場、および蒸気バブルの膨脹・収縮時の大きいキャビ
テーション圧力に長時間さらされたためである。加熱素
子のこのような環境条件下では、加熱器の平均寿命は、
107 回の高位数字のパルスレンジ、すなわち生成され
るインク小滴回数であり、わずか3×107 回の低位数
字のパルスレンジで最初の加熱器の故障が発生する。
は一般に、インクジェット印字ヘッドの動作寿命は、加
熱素子が故障する前に耐えられる蒸気バブルの膨脹と収
縮のサイクル回数に正比例すると認識されている。さら
に、長時間使用した後は、加熱器の頑強性(robustnes
s)、つまり印字ヘッドが規定通りのインク小滴を生成
する能力が劣化する。加熱器の故障や加熱器の頑強性の
劣化は、加熱素子が高温、周波数関連性熱応力、大きい
電場、および蒸気バブルの膨脹・収縮時の大きいキャビ
テーション圧力に長時間さらされたためである。加熱素
子のこのような環境条件下では、加熱器の平均寿命は、
107 回の高位数字のパルスレンジ、すなわち生成され
るインク小滴回数であり、わずか3×107 回の低位数
字のパルスレンジで最初の加熱器の故障が発生する。
【0012】さらに、全ての加熱器の故障の大部分は、
インクを蒸発させる抵抗器8ではなく、抵抗器8と電極
16、18の間の接合部付近で発生する。特に、蒸気バ
ブルの収縮時の最高1000気圧の大きいキャビテーシ
ョン圧力は、加熱器のPSGステップ領域10およびオ
ーバグレーズパッシベーション層20付近の領域に影響
を及ぼす。大キャビテーション圧力の結果、タンタル
(Ta)層14および誘電体絶縁層12に摩損が発生
し、PSGステップ領域10の上を覆うオーバグレーズ
パッシベーション層20にも摩損つまり切欠き損傷が発
生する。さらに、腐食性であるイオンインクから電極1
6、18を保護しているのは、オーバグレーズパッシベ
ーション層20だけである。結局、Ta層14、誘電体
絶縁層12、および/またはパッシベーション層20に
穴が明くと、腐食性のイオンインクは加熱器の電極1
6、18に接触して、加熱器の頑強性の劣化やホットス
ポットの形成の原因となり、最終的に加熱器の故障を引
き起こす。
インクを蒸発させる抵抗器8ではなく、抵抗器8と電極
16、18の間の接合部付近で発生する。特に、蒸気バ
ブルの収縮時の最高1000気圧の大きいキャビテーシ
ョン圧力は、加熱器のPSGステップ領域10およびオ
ーバグレーズパッシベーション層20付近の領域に影響
を及ぼす。大キャビテーション圧力の結果、タンタル
(Ta)層14および誘電体絶縁層12に摩損が発生
し、PSGステップ領域10の上を覆うオーバグレーズ
パッシベーション層20にも摩損つまり切欠き損傷が発
生する。さらに、腐食性であるイオンインクから電極1
6、18を保護しているのは、オーバグレーズパッシベ
ーション層20だけである。結局、Ta層14、誘電体
絶縁層12、および/またはパッシベーション層20に
穴が明くと、腐食性のイオンインクは加熱器の電極1
6、18に接触して、加熱器の頑強性の劣化やホットス
ポットの形成の原因となり、最終的に加熱器の故障を引
き起こす。
【0013】さらに、加熱器の故障は、PSGステップ
領域10の上にTa層14の適正被覆(conformal cove
rage) の問題によって悪化する。適正被覆を得る問題
は、特別のテーパ処理段階によって修正され、これによ
り加熱器の寿命は108 の低位数字のパルス範囲にまで
伸びる。しかし、加熱器の故障はまだPSGステップ領
域10および/またはオーバグレーズパッシベーション
層20で発生し、製作費は、適正被覆を得るための特別
な処理によって増大する。
領域10の上にTa層14の適正被覆(conformal cove
rage) の問題によって悪化する。適正被覆を得る問題
は、特別のテーパ処理段階によって修正され、これによ
り加熱器の寿命は108 の低位数字のパルス範囲にまで
伸びる。しかし、加熱器の故障はまだPSGステップ領
域10および/またはオーバグレーズパッシベーション
層20で発生し、製作費は、適正被覆を得るための特別
な処理によって増大する。
【0014】キャビテーション圧力にたいする加熱器の
弱さを緩和するために、様々な印字ヘッドのデザイン法
や加熱器の構造が多くの先行特許に開示されているが、
PSGステップ領域10やオーバグレーズパッシベーシ
ョン層20が蒸気バブルの膨脹・収縮のサイクルや腐食
性イオンインクにさらされることがないように、オーバ
グレーズパッシベーション層20および/またはPSG
ステップ領域に起こりがちな故障を最終バブル収縮の領
域から除去する加熱器のデザインを開示している特許は
無い。
弱さを緩和するために、様々な印字ヘッドのデザイン法
や加熱器の構造が多くの先行特許に開示されているが、
PSGステップ領域10やオーバグレーズパッシベーシ
ョン層20が蒸気バブルの膨脹・収縮のサイクルや腐食
性イオンインクにさらされることがないように、オーバ
グレーズパッシベーション層20および/またはPSG
ステップ領域に起こりがちな故障を最終バブル収縮の領
域から除去する加熱器のデザインを開示している特許は
無い。
【0015】本発明の目的は、加熱器の頑強性、熱効率
および滴下生成を向上するために、新しい加熱素子デザ
インによる印字ヘッドを有するインクジェット印字シス
テムを提供することである。
および滴下生成を向上するために、新しい加熱素子デザ
インによる印字ヘッドを有するインクジェット印字シス
テムを提供することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記およびその他の目的
および利点を達成し、上述の欠点を克服するために、新
しい加熱素子デザインは、オーバグレーズパッシベーシ
ョン層、PSGステップ領域、Ta層および誘電体絶縁
層の一部分、およびキャビテーション圧力に弱い接合部
または領域を保護するピット層を有する。さらに、ピッ
ト層の内壁は加熱器の実効面積を定め、ドーパントライ
ンは加熱器の実際の面積を定義する。別の実施例では、
ドーパントラインは加熱器の実際の面積と実効面積を定
義し、内壁およびドーパントラインは加熱器の実際の面
積および実効面積を定義する。さらに、新しい加熱素子
デザインをフルピットチャネル形状およびオープンピッ
トチャネル形状を有する印字ヘッドに組み込んだ場合、
ピット層による追加保護により、1)加熱素子のパッシ
ベーション損傷およびキャビテーション損傷、および
2)加熱器の頑強性の劣化、ホットスポットの形成、お
よび109 の中位数字のパルス範囲まで加熱器故障が防
止されるので、印字ヘッドの作動寿命は延長される。新
しい加熱素子デザインを組み込んだ印字ヘッドは、キャ
リッジ形または全幅形のドロップオンデマンド印字シス
テムに組み込むことができる。
および利点を達成し、上述の欠点を克服するために、新
しい加熱素子デザインは、オーバグレーズパッシベーシ
ョン層、PSGステップ領域、Ta層および誘電体絶縁
層の一部分、およびキャビテーション圧力に弱い接合部
または領域を保護するピット層を有する。さらに、ピッ
ト層の内壁は加熱器の実効面積を定め、ドーパントライ
ンは加熱器の実際の面積を定義する。別の実施例では、
ドーパントラインは加熱器の実際の面積と実効面積を定
義し、内壁およびドーパントラインは加熱器の実際の面
積および実効面積を定義する。さらに、新しい加熱素子
デザインをフルピットチャネル形状およびオープンピッ
トチャネル形状を有する印字ヘッドに組み込んだ場合、
ピット層による追加保護により、1)加熱素子のパッシ
ベーション損傷およびキャビテーション損傷、および
2)加熱器の頑強性の劣化、ホットスポットの形成、お
よび109 の中位数字のパルス範囲まで加熱器故障が防
止されるので、印字ヘッドの作動寿命は延長される。新
しい加熱素子デザインを組み込んだ印字ヘッドは、キャ
リッジ形または全幅形のドロップオンデマンド印字シス
テムに組み込むことができる。
【0017】
【実施例】次に、本発明を、添付の図面を参照しながら
説明する。図中では、同様の要素は同様の符号で示して
いる。図2は、本発明を組み込んだ印字ヘッド32を有
するキャリッジ形ドロップオンデマンドインクジェット
印字システムの概略斜視図である。直線配列のインク小
滴生成チャネルが、往復キャリッジアセンブリの印字ヘ
ッド32内に収容されている。インク小滴34は、印字
ヘッド32が矢印42の方向に記録媒体36全体を一方
向に横切るたびに、ステップモータ38によって矢印4
0の方向にステップ移動する記録媒体36まで、予め選
択された距離を推進される。紙などの記録媒体36は繰
出しロール44に貯蔵されており、当業界で周知の方法
により、ステップモータ38によってロール46にステ
ップ移動して巻き取られる。さらに、当業界で周知の給
紙機構を使用することにより、枚葉紙を使用することも
できる。
説明する。図中では、同様の要素は同様の符号で示して
いる。図2は、本発明を組み込んだ印字ヘッド32を有
するキャリッジ形ドロップオンデマンドインクジェット
印字システムの概略斜視図である。直線配列のインク小
滴生成チャネルが、往復キャリッジアセンブリの印字ヘ
ッド32内に収容されている。インク小滴34は、印字
ヘッド32が矢印42の方向に記録媒体36全体を一方
向に横切るたびに、ステップモータ38によって矢印4
0の方向にステップ移動する記録媒体36まで、予め選
択された距離を推進される。紙などの記録媒体36は繰
出しロール44に貯蔵されており、当業界で周知の方法
により、ステップモータ38によってロール46にステ
ップ移動して巻き取られる。さらに、当業界で周知の給
紙機構を使用することにより、枚葉紙を使用することも
できる。
【0018】印字ヘッド32は、支持台48に固定的に
取り付けられており、往復キャリッジアセンブリ50を
構成する。往復キャリッジアセンブリ50は、2つの平
行ガイドレール52上で、記録媒体36がステップ移動
する方向に対して直角に滑動させることによって、記録
媒体36と平行してこれを横切るように左右に移動する
ことができる。印字ヘッド32の往復運動は、ケーブル
54および1対の回転可能なプーリ56によって達成さ
れる。プーリの一方は可逆モータ58によって駆動す
る。
取り付けられており、往復キャリッジアセンブリ50を
構成する。往復キャリッジアセンブリ50は、2つの平
行ガイドレール52上で、記録媒体36がステップ移動
する方向に対して直角に滑動させることによって、記録
媒体36と平行してこれを横切るように左右に移動する
ことができる。印字ヘッド32の往復運動は、ケーブル
54および1対の回転可能なプーリ56によって達成さ
れる。プーリの一方は可逆モータ58によって駆動す
る。
【0019】制御器62からのコンジット60は、各イ
ンクチャネルの個々の抵抗器に電流パルスを与える。イ
ンク小滴を生じる電流パルスは、電極64を介して制御
器62が受信したディジタルデータ信号に応答して生成
される。インク供給部68から伸びているホース66
は、印字システム30の作動中に、チャネルにインクを
供給する。
ンクチャネルの個々の抵抗器に電流パルスを与える。イ
ンク小滴を生じる電流パルスは、電極64を介して制御
器62が受信したディジタルデータ信号に応答して生成
される。インク供給部68から伸びているホース66
は、印字システム30の作動中に、チャネルにインクを
供給する。
【0020】図3は、図2に示した印字ヘッド32の拡
大アイソメトリック図であり、印字ヘッド32のチャネ
ル72の正面71のノズル70の配列を示す。線A−A
における断面図である図4および図6も併せて参照する
と、下部の電気絶縁基板4は、加熱素子1およびその表
面にパターン印刷された端子82を有しており、チャネ
ルプレート72は、一方向に伸長しチャネルプレート7
2の正面71まで貫通した並列溝74を有している。溝
74の他端は傾斜した壁76で終わる。
大アイソメトリック図であり、印字ヘッド32のチャネ
ル72の正面71のノズル70の配列を示す。線A−A
における断面図である図4および図6も併せて参照する
と、下部の電気絶縁基板4は、加熱素子1およびその表
面にパターン印刷された端子82を有しており、チャネ
ルプレート72は、一方向に伸長しチャネルプレート7
2の正面71まで貫通した並列溝74を有している。溝
74の他端は傾斜した壁76で終わる。
【0021】チャネルプレート72と溝74の表面は一
列に整列し、溝74および基板4によって形成される各
チャネル75に多数の加熱素子1が配置されるように、
基板4に接着する。印字ヘッド32は、加熱素子を制御
器62に接続するために用いられる絶縁電極80を含む
金属基板78に取り付ける。金属基板78は、印字ヘッ
ド32内で発生した熱を消失させるヒートシンクとして
機能する。基板4上の電極16、18は端子82で終端
する。チャネルプレート72は基板4より小さくして、
電極端子82を露出させ、かつ金属基板78上の電極8
0を介して制御器62に接続することができるようにす
る。
列に整列し、溝74および基板4によって形成される各
チャネル75に多数の加熱素子1が配置されるように、
基板4に接着する。印字ヘッド32は、加熱素子を制御
器62に接続するために用いられる絶縁電極80を含む
金属基板78に取り付ける。金属基板78は、印字ヘッ
ド32内で発生した熱を消失させるヒートシンクとして
機能する。基板4上の電極16、18は端子82で終端
する。チャネルプレート72は基板4より小さくして、
電極端子82を露出させ、かつ金属基板78上の電極8
0を介して制御器62に接続することができるようにす
る。
【0022】内部凹所は、インクチャネルのインク供給
マニホルド84として機能する。インク供給マニホルド
84は、インク充填穴86として使用される開口底を有
し、インクは充填穴86からマニホルド84に入り、毛
管作用によって各チャネル75に充填される。各ノズル
70におけるインクは、わずかな負圧でメニスカスを形
成し、インクがそこからこぼれるのを防止する。
マニホルド84として機能する。インク供給マニホルド
84は、インク充填穴86として使用される開口底を有
し、インクは充填穴86からマニホルド84に入り、毛
管作用によって各チャネル75に充填される。各ノズル
70におけるインクは、わずかな負圧でメニスカスを形
成し、インクがそこからこぼれるのを防止する。
【0023】図4および図8は、本発明の加熱素子デザ
インを組み込んだ、それぞれフルピットチャネル形状お
よびオープンピットチャネル形状を持つインクジェット
印字ヘッドの蒸気バブルを排出する印字小滴の成長を示
す。さらに、図5および図9は、本発明の加熱素子デザ
インを組み込んだ、それぞれフルピットチャネル形状お
よびオープンピットチャネル形状を持つプリンタで蒸気
バブルの収縮を起こすキャビテーション圧力を示す。
インを組み込んだ、それぞれフルピットチャネル形状お
よびオープンピットチャネル形状を持つインクジェット
印字ヘッドの蒸気バブルを排出する印字小滴の成長を示
す。さらに、図5および図9は、本発明の加熱素子デザ
インを組み込んだ、それぞれフルピットチャネル形状お
よびオープンピットチャネル形状を持つプリンタで蒸気
バブルの収縮を起こすキャビテーション圧力を示す。
【0024】図6の加熱素子デザインを組み込んだ、図
4および図5に示すフルピットチャネル形状では、厚膜
絶縁層22つまりピット層をパターン加工し、加熱素子
1をインクに露出させる共通凹所88およびピット24
を形成する。チャネル75は、加熱素子の下流の正面チ
ャネル長(Lf )、加熱素子の上流の後部チャネル長
(Lr)、およびチャネル75の加熱素子1を含む部分を
カバーするピット長(Lp )を備える。蒸気バブル90
の膨脹中、インクはピットから押し出されるので、イン
クは正面チャネル部から流れ出し、また矢印92で示す
ように、後部チャネル部の端部のインク溜めの方向にも
流れる。正面チャネル部へのインク流は、インクをノズ
ルから突起34Aとして膨れ出させる。
4および図5に示すフルピットチャネル形状では、厚膜
絶縁層22つまりピット層をパターン加工し、加熱素子
1をインクに露出させる共通凹所88およびピット24
を形成する。チャネル75は、加熱素子の下流の正面チ
ャネル長(Lf )、加熱素子の上流の後部チャネル長
(Lr)、およびチャネル75の加熱素子1を含む部分を
カバーするピット長(Lp )を備える。蒸気バブル90
の膨脹中、インクはピットから押し出されるので、イン
クは正面チャネル部から流れ出し、また矢印92で示す
ように、後部チャネル部の端部のインク溜めの方向にも
流れる。正面チャネル部へのインク流は、インクをノズ
ルから突起34Aとして膨れ出させる。
【0025】蒸気バブル90が収縮すると、図5に示す
ように、インク小滴34が排出される。さらに、インク
は、矢印94で示すように正面および後部チャネル部の
両方から、また矢印96で示すようにマニホルド84か
らも、ピット24内に移動する。Lr はLf より長く、
これらはどちらも同じフロー領域であるので、後部チャ
ネル部から流れ込むインクは、正面チャネル部から流れ
込むインクより流体抵抗が高い。その結果、正面チャネ
ル部からの方がより多くのインクがピット24に流れ込
み、このようなインク流により、収縮する蒸気バブル9
0は、抵抗器8とアドレス指定電極16とPSGステッ
プ領域10(図6および図7)の間の接合部に押し付け
られる。したがって、オーバグレーズパッシベーション
層20、PSGステップ領域10、アドレス指定電極1
6のPSGステップ領域10付近のTaおよび誘電体絶
縁層12、14の部分が大きいキャビテーション圧力を
受ける。
ように、インク小滴34が排出される。さらに、インク
は、矢印94で示すように正面および後部チャネル部の
両方から、また矢印96で示すようにマニホルド84か
らも、ピット24内に移動する。Lr はLf より長く、
これらはどちらも同じフロー領域であるので、後部チャ
ネル部から流れ込むインクは、正面チャネル部から流れ
込むインクより流体抵抗が高い。その結果、正面チャネ
ル部からの方がより多くのインクがピット24に流れ込
み、このようなインク流により、収縮する蒸気バブル9
0は、抵抗器8とアドレス指定電極16とPSGステッ
プ領域10(図6および図7)の間の接合部に押し付け
られる。したがって、オーバグレーズパッシベーション
層20、PSGステップ領域10、アドレス指定電極1
6のPSGステップ領域10付近のTaおよび誘電体絶
縁層12、14の部分が大きいキャビテーション圧力を
受ける。
【0026】図6および図7は、本発明の新規加熱素子
デザインの拡大断面図である。加熱素子は、基板4のア
ンダグレーズ層6上に形成する。ポリシリコンをアンダ
グレーズ層の頂面に蒸着し、エッチング加工して抵抗器
8を形成する。抵抗器はn形の軽量ドーピング領域8A
と、その両端に形成された2つのn形重量ドーピング領
域を有する。重量ドーピング領域と軽量ドーピング領域
の間の界面は、ドーパントライン9を形成する。ドーパ
ントライン9は、加熱素子の実際の加熱器面積を定義す
る。
デザインの拡大断面図である。加熱素子は、基板4のア
ンダグレーズ層6上に形成する。ポリシリコンをアンダ
グレーズ層の頂面に蒸着し、エッチング加工して抵抗器
8を形成する。抵抗器はn形の軽量ドーピング領域8A
と、その両端に形成された2つのn形重量ドーピング領
域を有する。重量ドーピング領域と軽量ドーピング領域
の間の界面は、ドーパントライン9を形成する。ドーパ
ントライン9は、加熱素子の実際の加熱器面積を定義す
る。
【0027】抵抗器8の上にリフローリンけい酸塩(ref
low phosphosilicate)ガラス(PSG)を形成し、エッ
チング加工して、アドレス指定および共通リターン電極
16、18の電極バイアス17、19および抵抗器8の
頂面に露出したPSGステップ領域10を形成する。ま
た、抵抗器をインクから電気的に絶縁するために、抵抗
器8の上に誘電体絶縁層(dielectric isolation layer)
12を形成する。さらに誘電体絶縁層12を加熱および
キャビテーション圧力から保護するために、誘電体絶縁
層12の上にタンタル(Ta)層14をスパッタ蒸着す
る。誘電体絶縁層12およびタンタル層14をエッチン
グ加工し、さらにアルミニウム(Al)を付着およびエ
ッチング加工して、アドレス指定電極16および共通リ
ターン電極18を形成する。オーバグレーズパッシベー
ション層20として、基板全体の上にリン蒸着CVD二
酸化けい素およびSi3N4の厚い複合層を蒸着し、Ta
層14を露出するようにエッチング加工する。最後に、
基板全体の上に厚い絶縁層を蒸着し、エッチング加工し
てピット層22を形成し、ピット24およびピット長L
P を定義する。
low phosphosilicate)ガラス(PSG)を形成し、エッ
チング加工して、アドレス指定および共通リターン電極
16、18の電極バイアス17、19および抵抗器8の
頂面に露出したPSGステップ領域10を形成する。ま
た、抵抗器をインクから電気的に絶縁するために、抵抗
器8の上に誘電体絶縁層(dielectric isolation layer)
12を形成する。さらに誘電体絶縁層12を加熱および
キャビテーション圧力から保護するために、誘電体絶縁
層12の上にタンタル(Ta)層14をスパッタ蒸着す
る。誘電体絶縁層12およびタンタル層14をエッチン
グ加工し、さらにアルミニウム(Al)を付着およびエ
ッチング加工して、アドレス指定電極16および共通リ
ターン電極18を形成する。オーバグレーズパッシベー
ション層20として、基板全体の上にリン蒸着CVD二
酸化けい素およびSi3N4の厚い複合層を蒸着し、Ta
層14を露出するようにエッチング加工する。最後に、
基板全体の上に厚い絶縁層を蒸着し、エッチング加工し
てピット層22を形成し、ピット24およびピット長L
P を定義する。
【0028】図6および図7に示す加熱素子デザインは
両方とも、ピット長Lp がピット層22の内壁23によ
って定義される。さらに、ピット層22は内壁の高さH
p が、一般の加熱素子デザインの内壁の高さより高い。
好適実施例では、内壁の高さは約35μmである。さら
に、新規の加熱素子デザインは、キャビテーション圧力
に弱い接合部や領域の破損を防止するための追加保護策
を提供するために、ピット層22の内壁を、オーバグレ
ーズパッシベーション層20、Ta層14、誘電体絶縁
層12、およびPSGステップ領域10の内端部より先
まで伸長させる。さらに、PSGステップ領域10およ
びオーバグレーズパッシベーション層20は、加熱器の
実効面積を定義しなくなった。好適実施例では、ピット
層22の内壁が加熱器の実効面積を定義し、ドーパント
ライン9が実際の加熱器の面積を定義する。
両方とも、ピット長Lp がピット層22の内壁23によ
って定義される。さらに、ピット層22は内壁の高さH
p が、一般の加熱素子デザインの内壁の高さより高い。
好適実施例では、内壁の高さは約35μmである。さら
に、新規の加熱素子デザインは、キャビテーション圧力
に弱い接合部や領域の破損を防止するための追加保護策
を提供するために、ピット層22の内壁を、オーバグレ
ーズパッシベーション層20、Ta層14、誘電体絶縁
層12、およびPSGステップ領域10の内端部より先
まで伸長させる。さらに、PSGステップ領域10およ
びオーバグレーズパッシベーション層20は、加熱器の
実効面積を定義しなくなった。好適実施例では、ピット
層22の内壁が加熱器の実効面積を定義し、ドーパント
ライン9が実際の加熱器の面積を定義する。
【0029】図6では、加熱器の実際の面積と実効面積
の差が、一般の加熱素子デザインに比べて減少してい
る。さらに、図7および図11に示すように、加熱器の
実効面積および実際の面積は、ドーパントライン9によ
って定義され、したがって使用されない加熱器の面積は
無くなる。このような加熱器の効率的な使用により、加
熱器によって生成された熱の損失量が少なくなり、熱発
生パルス電流が効率的に使用されるので、加熱素子の効
率が高まる。
の差が、一般の加熱素子デザインに比べて減少してい
る。さらに、図7および図11に示すように、加熱器の
実効面積および実際の面積は、ドーパントライン9によ
って定義され、したがって使用されない加熱器の面積は
無くなる。このような加熱器の効率的な使用により、加
熱器によって生成された熱の損失量が少なくなり、熱発
生パルス電流が効率的に使用されるので、加熱素子の効
率が高まる。
【0030】図10の加熱器デザインを組み込んだ、図
8および図9に示すオープンピットチャネル形状の場
合、後部チャネル部から厚膜絶縁層22が除去されてい
るので、後部チャネル部のフロー断面積は、正面チャネ
ル部より大きい。図6のフルピット形状の場合と同様
に、矢印92で示すように、インクは正面チャネル部お
よび後部チャネル部の両方に押し出される。しかし、バ
ブルの収縮時のインクの流れは異なる。オープンピット
チャネル形状の場合、後部チャネル部のインクは、正面
チャネル部のインクより流体抵抗が低い。その結果、よ
り多くのインクが後部チャネル部からピットに流れ込
み、こうしたインクの流れは、収縮する蒸気バブルを、
抵抗器8と共通リターン電極18との間の接合部及びP
SGステップ領域10付近の領域に押し付ける。したが
って、オーバグレーズパッシベーション層20とPSG
ステップ領域10、および共通リターン電極18のPS
Gステップ領域10付近のTaおよび誘電体絶縁層1
2、14の部分は、大きいキャビテーション圧力を受け
る。
8および図9に示すオープンピットチャネル形状の場
合、後部チャネル部から厚膜絶縁層22が除去されてい
るので、後部チャネル部のフロー断面積は、正面チャネ
ル部より大きい。図6のフルピット形状の場合と同様
に、矢印92で示すように、インクは正面チャネル部お
よび後部チャネル部の両方に押し出される。しかし、バ
ブルの収縮時のインクの流れは異なる。オープンピット
チャネル形状の場合、後部チャネル部のインクは、正面
チャネル部のインクより流体抵抗が低い。その結果、よ
り多くのインクが後部チャネル部からピットに流れ込
み、こうしたインクの流れは、収縮する蒸気バブルを、
抵抗器8と共通リターン電極18との間の接合部及びP
SGステップ領域10付近の領域に押し付ける。したが
って、オーバグレーズパッシベーション層20とPSG
ステップ領域10、および共通リターン電極18のPS
Gステップ領域10付近のTaおよび誘電体絶縁層1
2、14の部分は、大きいキャビテーション圧力を受け
る。
【0031】図10および図11は、オープンピットチ
ャネル形状用の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断
面図である。図から分かるように、これらのデザイン
は、アドレス指定電極16の上のピット層22が除去さ
れている以外は、図6および図7とほとんど同じであ
る。先に述べたように、ピット層の内壁23は、キャビ
テーション圧力に弱い接合部および領域の破損を防止す
るための追加保護を提供する。さらに、図10では、加
熱器の実効面積がピット層の内壁23およびアドレス指
定電極16のドーパントライン9によって定義されるの
で、使用されない加熱器の面積が比較的小さくなる。図
11では、加熱器の実効面積および実際の面積が、図9
と同様に、ドーパントライン9によって定義される。
ャネル形状用の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断
面図である。図から分かるように、これらのデザイン
は、アドレス指定電極16の上のピット層22が除去さ
れている以外は、図6および図7とほとんど同じであ
る。先に述べたように、ピット層の内壁23は、キャビ
テーション圧力に弱い接合部および領域の破損を防止す
るための追加保護を提供する。さらに、図10では、加
熱器の実効面積がピット層の内壁23およびアドレス指
定電極16のドーパントライン9によって定義されるの
で、使用されない加熱器の面積が比較的小さくなる。図
11では、加熱器の実効面積および実際の面積が、図9
と同様に、ドーパントライン9によって定義される。
【0032】図6、図7、図10、および図11の新規
の加熱器デザインでは、ドーパントライン9およびピッ
ト層22の内壁23を利用することによって、加熱素子
1のデザインの柔軟性が向上する。例えば、ドーパント
ライン9は、n形の重量ドーピング領域を形成するため
に、マスクの大きさによって横方向に移動することがで
きる。さらに、ピット層22の内壁23も横方向に移動
できる。ドーパントライン9および内壁23を横方向に
移動することにより、様々な印字ヘッド用に、異なる加
熱器面積が必要な様々な加熱素子を、素早く簡単にデザ
インすることができる。
の加熱器デザインでは、ドーパントライン9およびピッ
ト層22の内壁23を利用することによって、加熱素子
1のデザインの柔軟性が向上する。例えば、ドーパント
ライン9は、n形の重量ドーピング領域を形成するため
に、マスクの大きさによって横方向に移動することがで
きる。さらに、ピット層22の内壁23も横方向に移動
できる。ドーパントライン9および内壁23を横方向に
移動することにより、様々な印字ヘッド用に、異なる加
熱器面積が必要な様々な加熱素子を、素早く簡単にデザ
インすることができる。
【0033】次に、図6、図7、図10、および図11
に示したデザインの加熱素子を形成するために用いる様
々な方法および材料について説明する。図6、図7、図
10、および図11の加熱素子のデザインは、ピット層
以外は実質的に同一である。この加熱素子のデザインで
は、基板4はシリコンである。シリコンを使用すること
が望ましい理由は、それが電気を絶縁すると共に、加熱
素子によって発生する熱を除去するために優れた熱伝導
性を持つからである。基板は(100)両面研磨P形シ
リコンであり、厚さは525マイクロメータ(μm)で
ある。さらに、基板4は、例えば10オーム・cmの抵
抗に軽くドーピングするか、電流帰路ができるように
0.01ないし0.001オーム・cmの範囲の抵抗に
縮退ドーピングするか、あるいは能動電解効果トランジ
スタまたはバイポーラトランジスタが形成できるよう
に、2ないし25μmのエピタキシャル軽量ドーピング
表面層に縮退ドーピングすることができる。
に示したデザインの加熱素子を形成するために用いる様
々な方法および材料について説明する。図6、図7、図
10、および図11の加熱素子のデザインは、ピット層
以外は実質的に同一である。この加熱素子のデザインで
は、基板4はシリコンである。シリコンを使用すること
が望ましい理由は、それが電気を絶縁すると共に、加熱
素子によって発生する熱を除去するために優れた熱伝導
性を持つからである。基板は(100)両面研磨P形シ
リコンであり、厚さは525マイクロメータ(μm)で
ある。さらに、基板4は、例えば10オーム・cmの抵
抗に軽くドーピングするか、電流帰路ができるように
0.01ないし0.001オーム・cmの範囲の抵抗に
縮退ドーピングするか、あるいは能動電解効果トランジ
スタまたはバイポーラトランジスタが形成できるよう
に、2ないし25μmのエピタキシャル軽量ドーピング
表面層に縮退ドーピングすることができる。
【0034】アンダグレーズ層6は、二酸化けい素(S
iO2 )から形成することが望ましい。これはシリコン
基板の熱酸化によって成長する。しかし、他の適切な熱
酸化物層をアンダグレーズ層6に使用することもでき
る。アンダグレーズ層6は1ないし2μmの厚さを持
ち、好適実施例は1.5μmの厚さである。
iO2 )から形成することが望ましい。これはシリコン
基板の熱酸化によって成長する。しかし、他の適切な熱
酸化物層をアンダグレーズ層6に使用することもでき
る。アンダグレーズ層6は1ないし2μmの厚さを持
ち、好適実施例は1.5μmの厚さである。
【0035】抵抗材は、アンダグレーズ層の上に、10
00から6000オングストローム(Å)の厚さのポリ
シリコンの化学蒸着(CVD)によって蒸着し、抵抗器
8を形成する。好適実施例では、抵抗器8の厚さは40
00Åから5000Åの間であり、できれば4500Å
の厚さとする。ポリシリコンは、最初にイオン注入また
は拡散のどちらかを用いて軽くドーピングする。次に、
マスクを用いて、イオン注入または拡散により、抵抗器
8の両端部にさらに重量ドーピングする。さらに乾式ま
たは湿式エッチングにより、余分のポリシリコンを除去
して、適切な長さの抵抗器8にする。さらに、ポリシリ
コンを同時に使用して、電解効果トランジスタのゲート
やその他の第1層メタライズなど、関連能動回路機構の
素子を形成することができる。
00から6000オングストローム(Å)の厚さのポリ
シリコンの化学蒸着(CVD)によって蒸着し、抵抗器
8を形成する。好適実施例では、抵抗器8の厚さは40
00Åから5000Åの間であり、できれば4500Å
の厚さとする。ポリシリコンは、最初にイオン注入また
は拡散のどちらかを用いて軽くドーピングする。次に、
マスクを用いて、イオン注入または拡散により、抵抗器
8の両端部にさらに重量ドーピングする。さらに乾式ま
たは湿式エッチングにより、余分のポリシリコンを除去
して、適切な長さの抵抗器8にする。さらに、ポリシリ
コンを同時に使用して、電解効果トランジスタのゲート
やその他の第1層メタライズなど、関連能動回路機構の
素子を形成することができる。
【0036】PSGステップ領域10は、7.5wt%
のPSGから形成する。PSGを形成するためには、S
iO2 をCVDによって蒸着するか、熱酸化によって成
長させた後、SiO2 に7.5wt%のリンをドーピン
グする。PSGを加熱してPSGをリフローさせてプレ
ーナ面を作成し、アドレス電極16および共通リターン
電極18のためのアルミニウムのメタライズ用の平滑な
表面を提供する。さらに、PSG層をエッチング加工し
て、アドレス電極16および共通リターン電極用18の
バイアス17、19を形成すると共に、誘電体絶縁層1
2およびTa層14用の表面を提供する。
のPSGから形成する。PSGを形成するためには、S
iO2 をCVDによって蒸着するか、熱酸化によって成
長させた後、SiO2 に7.5wt%のリンをドーピン
グする。PSGを加熱してPSGをリフローさせてプレ
ーナ面を作成し、アドレス電極16および共通リターン
電極18のためのアルミニウムのメタライズ用の平滑な
表面を提供する。さらに、PSG層をエッチング加工し
て、アドレス電極16および共通リターン電極用18の
バイアス17、19を形成すると共に、誘電体絶縁層1
2およびTa層14用の表面を提供する。
【0037】誘電体絶縁層12は、窒化シリコン(Si
3N4)の熱分解化学蒸着およびSi 3N4のエッチングに
よって形成する。露出したポリシリコン抵抗器の上に直
接蒸着したSi3N4層は、500ないし2500Åの厚
さを持ち、好ましくは約1500Åの厚さを持つ。熱分
解窒化シリコンは非常に優れた熱伝導性を持ち、抵抗器
に直接接触して蒸着した場合、抵抗器とインクの間で熱
を効果的に伝達する。
3N4)の熱分解化学蒸着およびSi 3N4のエッチングに
よって形成する。露出したポリシリコン抵抗器の上に直
接蒸着したSi3N4層は、500ないし2500Åの厚
さを持ち、好ましくは約1500Åの厚さを持つ。熱分
解窒化シリコンは非常に優れた熱伝導性を持ち、抵抗器
に直接接触して蒸着した場合、抵抗器とインクの間で熱
を効果的に伝達する。
【0038】あるいはまた、誘電体絶縁層12は、ポリ
シリコン抵抗器の熱酸化によってSiO2 を形成するこ
とによって、形成することもできる。SiO2 の誘電体
層は、500Åないし1μmの厚さまで成長することが
でき、好適実施例では、1000ないし2000Åの厚
さを持つ。
シリコン抵抗器の熱酸化によってSiO2 を形成するこ
とによって、形成することもできる。SiO2 の誘電体
層は、500Åないし1μmの厚さまで成長することが
でき、好適実施例では、1000ないし2000Åの厚
さを持つ。
【0039】Ta層14は、誘電体絶縁層12の上に、
化学蒸着法によってスパッタ蒸着し、厚さは0.1ない
し1.0μmの間である。Ta層14はマスクを掛け、
エッチング処理によって余分なタンタルを除去する。次
に、アドレス電極16および共通リターン電極18をメ
タライズする前に、誘電体絶縁層12もエッチング加工
する。
化学蒸着法によってスパッタ蒸着し、厚さは0.1ない
し1.0μmの間である。Ta層14はマスクを掛け、
エッチング処理によって余分なタンタルを除去する。次
に、アドレス電極16および共通リターン電極18をメ
タライズする前に、誘電体絶縁層12もエッチング加工
する。
【0040】アドレス電極16および共通リターン電極
18は、電極バイアス17、19にアルミニウムを化学
蒸着し、余分なアルミニウムをエッチング処理すること
によって形成する。アドレス電極および共通リターン電
極の端子82は、チャネルプレート72を基板4に取り
付けた後で制御回路に電気接続するための隙間ができる
ように、所定の位置に配置する。アドレス電極16およ
び共通リターン電極18は、0.5ないし3μmの厚さ
に蒸着し、好適な厚さは1.5μmである。
18は、電極バイアス17、19にアルミニウムを化学
蒸着し、余分なアルミニウムをエッチング処理すること
によって形成する。アドレス電極および共通リターン電
極の端子82は、チャネルプレート72を基板4に取り
付けた後で制御回路に電気接続するための隙間ができる
ように、所定の位置に配置する。アドレス電極16およ
び共通リターン電極18は、0.5ないし3μmの厚さ
に蒸着し、好適な厚さは1.5μmである。
【0041】オーバグレーズパッシベーション層20
は、PSGと窒化シリコンSix Nyの複合層から形成
する。オーバグレーズパッシベーション層の累積厚さ
は、0.1から10μmの範囲とすることができ、好適
な厚さは1.5μmである。できれば4wt%のリンを
含むPSGを、低温化学蒸着法(LOTOX)によっ
て、5000Åの厚さに蒸着する。次に、窒化シリコン
をプラズマ化学蒸着法によって、厚さ1.0μmに蒸着
する。パッシベーションマスクを用いて、窒化シリコン
のプラズマエッチングおよびPSGの湿式エッチングを
行って加熱素子から除去し、制御器62に電気接続する
ために、Ta層22およびアドレス電極16と共通リタ
ーン電極18の端子82を露出させる。代替実施例とし
て、オーバグレーズパッシベーション層24は、完全に
PSGだけで形成することもできる。さらに、オーバグ
レーズパッシベーション層24は、上記の方法のどちら
かで形成した後、PSGまたは窒化シリコンの層の上
に、厚さ1ないし10μmのポリイミドの複合層を追加
することもできる。
は、PSGと窒化シリコンSix Nyの複合層から形成
する。オーバグレーズパッシベーション層の累積厚さ
は、0.1から10μmの範囲とすることができ、好適
な厚さは1.5μmである。できれば4wt%のリンを
含むPSGを、低温化学蒸着法(LOTOX)によっ
て、5000Åの厚さに蒸着する。次に、窒化シリコン
をプラズマ化学蒸着法によって、厚さ1.0μmに蒸着
する。パッシベーションマスクを用いて、窒化シリコン
のプラズマエッチングおよびPSGの湿式エッチングを
行って加熱素子から除去し、制御器62に電気接続する
ために、Ta層22およびアドレス電極16と共通リタ
ーン電極18の端子82を露出させる。代替実施例とし
て、オーバグレーズパッシベーション層24は、完全に
PSGだけで形成することもできる。さらに、オーバグ
レーズパッシベーション層24は、上記の方法のどちら
かで形成した後、PSGまたは窒化シリコンの層の上
に、厚さ1ないし10μmのポリイミドの複合層を追加
することもできる。
【0042】次に、例えばRISTON(登録商標)、
VACREL(登録商標)、PROBIMER52(登
録商標)、またはポリイミドなどの厚膜絶縁層を、基板
の表面全体の上に形成する。厚膜絶縁層22は、各加熱
素子1の上の厚膜絶縁層の部分をエッチングして除去で
きるようにフォトリソグラフィによって処理し、各加熱
素子1のピット層22を形成する。図6および図7の加
熱素子デザインでは、厚膜絶縁層22を除去して、ピッ
ト24および共通凹所88を形成する。図10および図
11の加熱素子のデザインでは、厚膜絶縁層22を除去
して、ピット24の一部とチャネル75を形成する。さ
らに、ピット層22の内壁23は、加熱器によって発生
した蒸気バブルが横方向に移動するのを防止し、したが
って暴噴現象を防止する。先に述べたように、ピット層
22の内壁23は、PSGステップ領域10およびオー
バグレーズパッシベーション層20の側壁より先まで伸
長して、キャビテーション圧力に対する追加保護を提供
する。
VACREL(登録商標)、PROBIMER52(登
録商標)、またはポリイミドなどの厚膜絶縁層を、基板
の表面全体の上に形成する。厚膜絶縁層22は、各加熱
素子1の上の厚膜絶縁層の部分をエッチングして除去で
きるようにフォトリソグラフィによって処理し、各加熱
素子1のピット層22を形成する。図6および図7の加
熱素子デザインでは、厚膜絶縁層22を除去して、ピッ
ト24および共通凹所88を形成する。図10および図
11の加熱素子のデザインでは、厚膜絶縁層22を除去
して、ピット24の一部とチャネル75を形成する。さ
らに、ピット層22の内壁23は、加熱器によって発生
した蒸気バブルが横方向に移動するのを防止し、したが
って暴噴現象を防止する。先に述べたように、ピット層
22の内壁23は、PSGステップ領域10およびオー
バグレーズパッシベーション層20の側壁より先まで伸
長して、キャビテーション圧力に対する追加保護を提供
する。
【0043】図6、図7、図10、および図11の加熱
素子デザインにより、109 パルス範囲におけるインク
小滴特性および安定性は、初期のインク小滴特性および
安定性と基本的に変わらなかった。図6に示す特定の形
状で試験した結果、1.6×109 パルスの後の小滴特
性は、1)速度10m/s、2)滴下量130ピコリッ
トル、3)速度ジッタ4%未満、4)印字ヘッド全体の
走行時間の変動5%未満、および5)スレショルド値の
わずかな増加によるクリスプスレショルド応答約9%で
あった。さらに、新しい加熱素子デザインは、109 の
中位数値のパルス範囲までキャビテーション圧力によっ
て発生する加熱器の故障の徴候は見られなかった。さら
に、新しい加熱素子デザインは、従来の加熱素子と同一
量の熱発生パルス電流が印加されたときに、より大きい
インク小滴を10−15%高速で生成する。
素子デザインにより、109 パルス範囲におけるインク
小滴特性および安定性は、初期のインク小滴特性および
安定性と基本的に変わらなかった。図6に示す特定の形
状で試験した結果、1.6×109 パルスの後の小滴特
性は、1)速度10m/s、2)滴下量130ピコリッ
トル、3)速度ジッタ4%未満、4)印字ヘッド全体の
走行時間の変動5%未満、および5)スレショルド値の
わずかな増加によるクリスプスレショルド応答約9%で
あった。さらに、新しい加熱素子デザインは、109 の
中位数値のパルス範囲までキャビテーション圧力によっ
て発生する加熱器の故障の徴候は見られなかった。さら
に、新しい加熱素子デザインは、従来の加熱素子と同一
量の熱発生パルス電流が印加されたときに、より大きい
インク小滴を10−15%高速で生成する。
【0044】上記の実施例は、説明のためのものであっ
て、発明を制限するものではない。例えば、本発明は、
全幅印字ヘッドを使用する印字システムにも適用するこ
とができる。したがって、請求の範囲に規定する本発明
の精神および範囲から逸脱することなく、様々な変化例
を形成することができる。
て、発明を制限するものではない。例えば、本発明は、
全幅印字ヘッドを使用する印字システムにも適用するこ
とができる。したがって、請求の範囲に規定する本発明
の精神および範囲から逸脱することなく、様々な変化例
を形成することができる。
【図1】従来の加熱素子デザインの拡大断面図である。
【図2】本発明を組み込んだ印字ヘッドを有するキャリ
ッジ形ドロップオンデマンドインクジェット印字システ
ムの略斜視図である。
ッジ形ドロップオンデマンドインクジェット印字システ
ムの略斜視図である。
【図3】図2に示す印字ヘッドの拡大概略アイソメトリ
ック図である。
ック図である。
【図4】図3の線A−Aにおける断面図であり、本発明
の新規加熱素子デザインによるフルピットチャネル形状
の印字ヘッドにおける蒸気バブルの膨脹を示す。
の新規加熱素子デザインによるフルピットチャネル形状
の印字ヘッドにおける蒸気バブルの膨脹を示す。
【図5】図3の線A−Aにおける断面図であり、本発明
の新規加熱素子デザインによるフルピットチャネル形状
の印字ヘッドにおける蒸気バブルの収縮を示す。
の新規加熱素子デザインによるフルピットチャネル形状
の印字ヘッドにおける蒸気バブルの収縮を示す。
【図6】フルピットチャネル形状の印字ヘッド用の本発
明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
【図7】フルピットチャネル形状の印字ヘッド用の本発
明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
【図8】図3の線A−Aにおける断面図であり、本発明
の新規加熱素子デザインを組み込んだオープンピットチ
ャネル形状の印字ヘッドにおける蒸気バブルの膨脹を示
す。
の新規加熱素子デザインを組み込んだオープンピットチ
ャネル形状の印字ヘッドにおける蒸気バブルの膨脹を示
す。
【図9】図3の線A−Aにおける断面図であり、本発明
の新規加熱素子デザインを組み込んだオープンピットチ
ャネル形状の印字ヘッドにおける蒸気バブルの収縮を示
す。
の新規加熱素子デザインを組み込んだオープンピットチ
ャネル形状の印字ヘッドにおける蒸気バブルの収縮を示
す。
【図10】オープンピットチャネル形状の印字ヘッド用
の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
【図11】オープンピットチャネル形状の印字ヘッド用
の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
の本発明の新規加熱素子デザインの拡大断面図である。
30 キャリッジ形ドロップオンデマンドインクジェ
ット印字システム 32 印字ヘッド 34 インク小滴 38 ステッパモータ 36 記録媒体 50 キャリッジアセンブリ 52 ガイドレール 58 可逆モータ 62 制御器 72 チャネルプレート
ット印字システム 32 印字ヘッド 34 インク小滴 38 ステッパモータ 36 記録媒体 50 キャリッジアセンブリ 52 ガイドレール 58 可逆モータ 62 制御器 72 チャネルプレート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ナラヤン ブイ.デシュパンド アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14526 ペンフィールド ハイリッジ ドライブ 101 (72)発明者 ウィリアム ジー.ホーキンズ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14580 ウェブスター ドラム ロード 575 (72)発明者 デイル アール.エムズ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14580 ウェブスター リトル ポンド ウェイ 926 (72)発明者 マイケル ピー.オ’ホロ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14450 フェアポート イーグルスフィールド ウェイ 11 (72)発明者 ゲーリー エイ.ニーゼル アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14580 ウェブスター ウッダード ロード 1819 (72)発明者 トーマス エイ.テリア アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14589 ウィリアムソン グリーンビュー レー ン 3 (72)発明者 アイヴァン レザンカ アメリカ合衆国 ニューヨーク州 14534 ピッツフォード スクワイア レーン 6
Claims (1)
- 【請求項1】 蒸気バブルの膨脹と収縮によってイン
クを記録媒体に排出する印字システムの印字ヘッド用の
加熱素子において、該加熱素子が基板と、 前記基板の頂面に形成された抵抗層と、 前記抵抗層に結合された接触手段と、 前記抵抗層とインクの接触を防止するために、前記抵抗
層の頂面に形成された絶縁手段と、 前記接触手段、前記絶縁手段の一部分、および前記抵抗
層を被覆し、少なくとも1つの内壁と、インクに露出さ
れる頂面とを有する絶縁膜であって、前記抵抗層で生成
されたエネルギーをインクに伝達し、かつ蒸気バブルの
収縮時に発生するキャビテーション圧力によって生じる
加熱器故障を防止するために、前記少なくとも1つの内
壁は前記絶縁手段の頂面を露出するようにした絶縁膜
と、を有するインクジェット印字ヘッド。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/963,969 US6315398B1 (en) | 1992-10-21 | 1992-10-21 | Thermal ink jet heater design |
US963969 | 1992-10-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06134991A true JPH06134991A (ja) | 1994-05-17 |
Family
ID=25507963
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5159864A Pending JPH06134991A (ja) | 1992-10-21 | 1993-06-30 | インクジェット印字ヘッド |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6315398B1 (ja) |
EP (1) | EP0594369B1 (ja) |
JP (1) | JPH06134991A (ja) |
BR (1) | BR9304302A (ja) |
DE (1) | DE69311874T2 (ja) |
MX (1) | MX9306481A (ja) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5831648A (en) * | 1992-05-29 | 1998-11-03 | Hitachi Koki Co., Ltd. | Ink jet recording head |
JP3573515B2 (ja) * | 1995-03-03 | 2004-10-06 | 富士写真フイルム株式会社 | インク噴射記録ヘッド、記録装置、およびインク噴射記録ヘッドの製造方法 |
JP2914218B2 (ja) | 1995-05-10 | 1999-06-28 | 富士ゼロックス株式会社 | サーマルインクジェットヘッドおよび記録装置 |
JP3194465B2 (ja) * | 1995-12-27 | 2001-07-30 | 富士写真フイルム株式会社 | インクジェット記録ヘッド |
US5820771A (en) * | 1996-09-12 | 1998-10-13 | Xerox Corporation | Method and materials, including polybenzoxazole, for fabricating an ink-jet printhead |
CH694453A5 (de) * | 1998-07-24 | 2005-01-31 | Genspec Sa | Mikromechanisch hergestellte Düse zur Erzeugung reproduzierbarer Tröpfchen. |
KR100513717B1 (ko) * | 2001-12-12 | 2005-09-07 | 삼성전자주식회사 | 버블젯 방식의 잉크젯 프린트 헤드 |
US6786575B2 (en) * | 2002-12-17 | 2004-09-07 | Lexmark International, Inc. | Ink jet heater chip and method therefor |
US20100231655A1 (en) * | 2007-11-24 | 2010-09-16 | Hewlett-Packard Developement Company, L.P. | Inkjet-printing device printhead die having edge protection layer for heating resistor |
TW201313490A (zh) * | 2011-09-29 | 2013-04-01 | Int United Technology Co Ltd | 噴墨頭加熱晶片及其製造方法 |
US9004652B2 (en) | 2013-09-06 | 2015-04-14 | Xerox Corporation | Thermo-pneumatic actuator fabricated using silicon-on-insulator (SOI) |
US9004651B2 (en) | 2013-09-06 | 2015-04-14 | Xerox Corporation | Thermo-pneumatic actuator working fluid layer |
EP3401001A1 (de) * | 2017-05-12 | 2018-11-14 | L'air Liquide, Société Anonyme Pour L'Étude Et L'exploitation Des Procédés Georges Claude | Verfahren und anlage zur abtrennung von begleitgasen aus einem rohsynthesegas |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1127227A (en) * | 1977-10-03 | 1982-07-06 | Ichiro Endo | Liquid jet recording process and apparatus therefor |
US4532530A (en) | 1984-03-09 | 1985-07-30 | Xerox Corporation | Bubble jet printing device |
US4638337A (en) | 1985-08-02 | 1987-01-20 | Xerox Corporation | Thermal ink jet printhead |
JPS62249747A (ja) * | 1986-04-24 | 1987-10-30 | Seiko Epson Corp | インクジエツト記録ヘツド |
US4774530A (en) | 1987-11-02 | 1988-09-27 | Xerox Corporation | Ink jet printhead |
US4835553A (en) | 1988-08-25 | 1989-05-30 | Xerox Corporation | Thermal ink jet printhead with increased drop generation rate |
US4935752A (en) | 1989-03-30 | 1990-06-19 | Xerox Corporation | Thermal ink jet device with improved heating elements |
US4951063A (en) * | 1989-05-22 | 1990-08-21 | Xerox Corporation | Heating elements for thermal ink jet devices |
US5041844A (en) | 1990-07-02 | 1991-08-20 | Xerox Corporation | Thermal ink jet printhead with location control of bubble collapse |
US5081473A (en) | 1990-07-26 | 1992-01-14 | Xerox Corporation | Temperature control transducer and MOS driver for thermal ink jet printing chips |
US5075250A (en) | 1991-01-02 | 1991-12-24 | Xerox Corporation | Method of fabricating a monolithic integrated circuit chip for a thermal ink jet printhead |
-
1992
- 1992-10-21 US US07/963,969 patent/US6315398B1/en not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-06-30 JP JP5159864A patent/JPH06134991A/ja active Pending
- 1993-10-15 DE DE69311874T patent/DE69311874T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-15 EP EP93308228A patent/EP0594369B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-19 MX MX9306481A patent/MX9306481A/es not_active IP Right Cessation
- 1993-10-20 BR BR9304302A patent/BR9304302A/pt not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69311874D1 (de) | 1997-08-07 |
US6315398B1 (en) | 2001-11-13 |
DE69311874T2 (de) | 1998-01-15 |
EP0594369A3 (ja) | 1994-08-03 |
EP0594369A2 (en) | 1994-04-27 |
EP0594369B1 (en) | 1997-07-02 |
MX9306481A (es) | 1994-06-30 |
BR9304302A (pt) | 1994-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4532530A (en) | Bubble jet printing device | |
US4935752A (en) | Thermal ink jet device with improved heating elements | |
US7263773B2 (en) | Method of manufacturing a bubble-jet type ink-jet printhead | |
EP0396315B1 (en) | Thermal ink jet printhead with bubble generating heating elements | |
JPH04226764A (ja) | サーマルインクジェット印字ヘッド | |
JP2001071502A (ja) | インクジェットのプリントヘッドを備えるプリント装置およびその製造方法、並びにプリント方法 | |
US4994826A (en) | Thermal ink jet printhead with increased operating temperature and thermal efficiency | |
US4931813A (en) | Ink jet head incorporating a thick unpassivated TaAl resistor | |
JPH06134991A (ja) | インクジェット印字ヘッド | |
US5041844A (en) | Thermal ink jet printhead with location control of bubble collapse | |
US6412920B1 (en) | Ink jet printing head, ink jet head cartridge and printing apparatus | |
US20030024897A1 (en) | Method of making an ink jet printhead having a narrow ink channel | |
JP2001071503A (ja) | インクジェットのプリントヘッドを備えるプリント装置およびその製造方法、並びにプリント方法 | |
JP2005014601A (ja) | インクジェットプリントヘッド | |
JPH06143581A (ja) | インクジェット印字ヘッド | |
JPH04261863A (ja) | サーマル・インク・ジェット変換器およびその製作方法 | |
US6457815B1 (en) | Fluid-jet printhead and method of fabricating a fluid-jet printhead | |
JPH106504A (ja) | プリントヘッド及びプリントヘッド形成方法 | |
US7178904B2 (en) | Ultra-low energy micro-fluid ejection device | |
US6109733A (en) | Printhead for thermal ink jet devices | |
TW202221854A (zh) | 晶圓結構 | |
TW202220854A (zh) | 晶圓結構 | |
TW202220063A (zh) | 晶圓結構 | |
JPH0820110A (ja) | サーマルインクジェットプリンタ | |
JP2907956B2 (ja) | 液体噴射記録ヘッド用基体、該基体を用いた液体噴射記録ヘッド及び該液体噴射記録ヘッドを備えた液体噴射記録装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030401 |