JPH0612510B2 - 座標入力装置 - Google Patents
座標入力装置Info
- Publication number
- JPH0612510B2 JPH0612510B2 JP61221078A JP22107886A JPH0612510B2 JP H0612510 B2 JPH0612510 B2 JP H0612510B2 JP 61221078 A JP61221078 A JP 61221078A JP 22107886 A JP22107886 A JP 22107886A JP H0612510 B2 JPH0612510 B2 JP H0612510B2
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- Japan
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- capacitance
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Description
【発明の詳細な説明】 ［概要］ タッチパネルに手で接触したとき静電容量の変化を検出
し、接触した点の座標を中央処理装置に入力するとき、
急激な環境の変化が起こって、大きく変化した容量測定
値が得られたとき、その経過時間を測定して、長時間変
化のないとき容量測定値を、次の測定値に対する基準値
として設定する座標入力装置である。
し、接触した点の座標を中央処理装置に入力するとき、
急激な環境の変化が起こって、大きく変化した容量測定
値が得られたとき、その経過時間を測定して、長時間変
化のないとき容量測定値を、次の測定値に対する基準値
として設定する座標入力装置である。
［産業上の利用分野］ 本発明はタッチパネルに接触したときの静電容量の変
化を検出し、接触点の座標を得る座標入力装置に関す
る。
化を検出し、接触点の座標を得る座標入力装置に関す
る。
従来、前述の座標入力装置について急激な環境変化が起
こると、人体の接触がないときに恰もあったように動作
して、座標入力の能率の低下することがあった。その解
決策を見出すことが要望された。
こると、人体の接触がないときに恰もあったように動作
して、座標入力の能率の低下することがあった。その解
決策を見出すことが要望された。
［従来の技術］ 第４図は従来の座標入力装置を一部斜視図で、残部をブ
ロック図で示すものである。第４図において、１はタッ
チパネル、２１，２２…２４はアナログスイッチボー
ド、３は中央処理装置、４は容量測定回路、５は座標容
量変換回路、６は測定辺の切替用アナログスイッチ、１
０はガラス基板、１１はＩＴＯ透明抵抗膜、１２は絶縁
膜、１３はシールド電極、１４は反射防止膜を示してい
る。アナログスイッチボードはそれぞれ複数のスイッチ
を並列させるが、図では３〜４個で示している。スイッ
チボード２２，２３について、全てのスイッチをオフと
したとき、スイッチボード２１，２４について全てのス
イッチをオンとする。次に２２，２３のスイッチをオン
とし、２１，２４をオフとする。容量測定はこれを交互
に繰り返す。絶縁膜１２を介して例えば人間の手がパネ
ルに触れたとき、抵抗膜１１に人間の手と接地間の静電
容量が、ＩＴＯ透明抵抗膜と接地間の静電容量に付加さ
れるが、座標変換回路５に加わる前記付加容量は座標位
置に比例するので、静電容量の測定により手が触れたこ
とと、場所が検出できる。
ロック図で示すものである。第４図において、１はタッ
チパネル、２１，２２…２４はアナログスイッチボー
ド、３は中央処理装置、４は容量測定回路、５は座標容
量変換回路、６は測定辺の切替用アナログスイッチ、１
０はガラス基板、１１はＩＴＯ透明抵抗膜、１２は絶縁
膜、１３はシールド電極、１４は反射防止膜を示してい
る。アナログスイッチボードはそれぞれ複数のスイッチ
を並列させるが、図では３〜４個で示している。スイッ
チボード２２，２３について、全てのスイッチをオフと
したとき、スイッチボード２１，２４について全てのス
イッチをオンとする。次に２２，２３のスイッチをオン
とし、２１，２４をオフとする。容量測定はこれを交互
に繰り返す。絶縁膜１２を介して例えば人間の手がパネ
ルに触れたとき、抵抗膜１１に人間の手と接地間の静電
容量が、ＩＴＯ透明抵抗膜と接地間の静電容量に付加さ
れるが、座標変換回路５に加わる前記付加容量は座標位
置に比例するので、静電容量の測定により手が触れたこ
とと、場所が検出できる。
容量測定回路４では例えばＣＲ発振器により高周波交流
を作り、タイマ回路では発振器の発振周波数を正確に測
定し、静電容量を測定する。中央処理装置３では容量測
定回路４のデータを基に座標と共にタッチを検出し、記
憶装置に格納する。
を作り、タイマ回路では発振器の発振周波数を正確に測
定し、静電容量を測定する。中央処理装置３では容量測
定回路４のデータを基に座標と共にタッチを検出し、記
憶装置に格納する。
なお静電容量測定時の状況を説明する。従来は第２図に
示すように、人間がタッチパネル１にタッチする前の状
態で、基準容量値と測定用しきい値とを定めていた。即
ち、後で定義する測定用しきい値以下の範囲内でおこる
温度など環境条件の普通の変化範囲のときタッチパネル
の透明抵抗膜と接地間の静電容量値の変化を平均化して
みてその値を基準容量値とする。その容量変化のチェッ
クのため、測定を繰り返す周期は例えば３秒のように、
人間がタッチパネルにタッチしている時間と略同じ程度
の時間の間隔とする。また人間がタッチパネルにタッチ
するとき起こる急激な容量変化を検出して人体のタッチ
とするため、前記基準容量値に対しタッチのときの変化
以下の値を「しきい値ＴＨ」と設定する。そして 「前記基準容量値＋しきい値」 の値（第２図の点線）を「測定用しきい値」と定めてい
た。
示すように、人間がタッチパネル１にタッチする前の状
態で、基準容量値と測定用しきい値とを定めていた。即
ち、後で定義する測定用しきい値以下の範囲内でおこる
温度など環境条件の普通の変化範囲のときタッチパネル
の透明抵抗膜と接地間の静電容量値の変化を平均化して
みてその値を基準容量値とする。その容量変化のチェッ
クのため、測定を繰り返す周期は例えば３秒のように、
人間がタッチパネルにタッチしている時間と略同じ程度
の時間の間隔とする。また人間がタッチパネルにタッチ
するとき起こる急激な容量変化を検出して人体のタッチ
とするため、前記基準容量値に対しタッチのときの変化
以下の値を「しきい値ＴＨ」と設定する。そして 「前記基準容量値＋しきい値」 の値（第２図の点線）を「測定用しきい値」と定めてい
た。
［発明が解決しようとする問題点］ 第４図の構成ではタッチパネル１の環境条件、特に温度
が急激に変化したとき、タッチパネル１に人体が接触し
てなくても、測定した静電容量値は恰も接触したと同様
な値を示し、しかもその値が異常に長く保持される。従
来の容量測定では、測定用しきい値以上の容量変化を測
定したとき、人体がタッチしたと見て、変動した容量を
測定した時点で測定動作を一旦停止し、座標入力処理に
移っている。そのため前述のような環境条件により状態
変化が発生したとき、その時点で測定を中止し、それが
継続することは、座標入力の動作に極めて不都合であっ
た。
が急激に変化したとき、タッチパネル１に人体が接触し
てなくても、測定した静電容量値は恰も接触したと同様
な値を示し、しかもその値が異常に長く保持される。従
来の容量測定では、測定用しきい値以上の容量変化を測
定したとき、人体がタッチしたと見て、変動した容量を
測定した時点で測定動作を一旦停止し、座標入力処理に
移っている。そのため前述のような環境条件により状態
変化が発生したとき、その時点で測定を中止し、それが
継続することは、座標入力の動作に極めて不都合であっ
た。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、環境による変化が
タッチ状態による変化か、どうか明確に判らないとき、
正確にタッチ状態を測定できる座標入力装置を提供する
ことにある。
タッチ状態による変化か、どうか明確に判らないとき、
正確にタッチ状態を測定できる座標入力装置を提供する
ことにある。
［問題点を解決するためにの手段］ 第１図は本発明の原理構成を示す図である。第１におい
て、１はタッチパネル、２１〜２４はアナログスイッチ
ボード、３は中央処理装置、４は容量測定回路、５は座
標容量変換回路、６は測定辺の切替用アナログスイッ
チ、３１は基準容量値を設定する手段で、タッチパネル
１について測定した静電容量を所定間隔でチェックし、
基準とする容量値を設定するもの、３２はしきい値を設
定する手段で、前記手段３１で設定した値に対し予め設
定され固定値であるしきい値を加算し、測定用しきい値
を設定するもの、３３はタイマで、測定した静電容量が
前記しきい値を超えたときからの経過時間を測定する手
段、３４は経過時間が所定値を超過したとき、その時の
容量測定値を新基準容量値に設定し直す手段を示す。
て、１はタッチパネル、２１〜２４はアナログスイッチ
ボード、３は中央処理装置、４は容量測定回路、５は座
標容量変換回路、６は測定辺の切替用アナログスイッ
チ、３１は基準容量値を設定する手段で、タッチパネル
１について測定した静電容量を所定間隔でチェックし、
基準とする容量値を設定するもの、３２はしきい値を設
定する手段で、前記手段３１で設定した値に対し予め設
定され固定値であるしきい値を加算し、測定用しきい値
を設定するもの、３３はタイマで、測定した静電容量が
前記しきい値を超えたときからの経過時間を測定する手
段、３４は経過時間が所定値を超過したとき、その時の
容量測定値を新基準容量値に設定し直す手段を示す。
ノンパッド型タッチパネルへの物体の接触により、該タ
ッチパネルに付加されている静電容量に変化が起こった
ことを検出して、接触した点の座標を中央処理装置に入
力する接触点の座標入力装置において、タッチパネルに
付加されている静電容量を一定間隔でチェックし、チェ
ックした該静電容量を基準容量値として設定する手段
と、該基準容量値に特定値を加算して得られた値を測定
用しきい値として設定する手段と、前記チェックにおい
て、タッチパネルに付加されている静電容量が、該しき
い値を超えた値に変化したことを検出したとき、該しき
い値を超えた状態での経過時間を測定する手段と、測定
した経過時間が予め決めた時間を超過しないときは、該
しきい値を超えた該静電容量は前記基準容量値として設
定することなくタッチパネルへの物体の接触として認識
し、予め決めた時間を超過したことを検出したときは、
該しきい値を超えた値を前記基準容量値として設定する
手段と、を具備することである。
ッチパネルに付加されている静電容量に変化が起こった
ことを検出して、接触した点の座標を中央処理装置に入
力する接触点の座標入力装置において、タッチパネルに
付加されている静電容量を一定間隔でチェックし、チェ
ックした該静電容量を基準容量値として設定する手段
と、該基準容量値に特定値を加算して得られた値を測定
用しきい値として設定する手段と、前記チェックにおい
て、タッチパネルに付加されている静電容量が、該しき
い値を超えた値に変化したことを検出したとき、該しき
い値を超えた状態での経過時間を測定する手段と、測定
した経過時間が予め決めた時間を超過しないときは、該
しきい値を超えた該静電容量は前記基準容量値として設
定することなくタッチパネルへの物体の接触として認識
し、予め決めた時間を超過したことを検出したときは、
該しきい値を超えた値を前記基準容量値として設定する
手段と、を具備することである。
第１図における中央処理装置３は処理開始前に、前記従
来技術と同様に、間接的に接地状態を有する物体例えば
人間が、タッチしない前の状態で基準容量設定手段３１
により「基準容量値」を設定する。次に「測定用しきい
値設定手段」３２により、基準容量値としきい値との
「和の値」を測定用しきい値と設定する。
来技術と同様に、間接的に接地状態を有する物体例えば
人間が、タッチしない前の状態で基準容量設定手段３１
により「基準容量値」を設定する。次に「測定用しきい
値設定手段」３２により、基準容量値としきい値との
「和の値」を測定用しきい値と設定する。
タッチパネルの容量測定を開始し、第２図に示すように
時刻ｔ１においてしきい値を超えたとき、タッチパネル
１に人間がタッチしたと中央処理装置３が一応判断す
る。そして容量の測定処理は従来と異なり続行する。そ
してタイマ３３により時刻ｔ１以後の経過時間を測定す
る。時刻ｔ２として例えば約５秒後に容量測定のチェッ
クを行う。そのとき前記タッチが人間の場合であれば通
常は接触解除のため時刻ｔ２における測定容量値は測定
用しきい値以下となる。そうであれば、時刻ｔ１におけ
る測定容量値により正式な座標を求めるための演算処理
を中央処理装置３が実行する。若し時刻ｔ２においても
測定容量値が測定用しきい値を超えているときは、タイ
マ３３により更に長い時間の後ｔ３（例えば３０秒後）
に測定容量値をチェックする。時刻ｔ３において測定容
量値が測定用しきい値を超えているときは、人間の接触
による容量変化ではないと判断し、座標を求める演算処
理をせずに、測定容量値について次の処理をする。即
ち、新基準容量設定手段３４により、前記測定容量値を
新「基準容量値」とする。更にこの新基準容量値をもと
に測定用しきい値設定手段３２により、新「測定用しき
い値」が設定される。その後容量測定を繰り返し、新測
定用しきい値を超えたときに人間のタッチがあったと判
断して、当初の処理を繰り返す。
時刻ｔ１においてしきい値を超えたとき、タッチパネル
１に人間がタッチしたと中央処理装置３が一応判断す
る。そして容量の測定処理は従来と異なり続行する。そ
してタイマ３３により時刻ｔ１以後の経過時間を測定す
る。時刻ｔ２として例えば約５秒後に容量測定のチェッ
クを行う。そのとき前記タッチが人間の場合であれば通
常は接触解除のため時刻ｔ２における測定容量値は測定
用しきい値以下となる。そうであれば、時刻ｔ１におけ
る測定容量値により正式な座標を求めるための演算処理
を中央処理装置３が実行する。若し時刻ｔ２においても
測定容量値が測定用しきい値を超えているときは、タイ
マ３３により更に長い時間の後ｔ３（例えば３０秒後）
に測定容量値をチェックする。時刻ｔ３において測定容
量値が測定用しきい値を超えているときは、人間の接触
による容量変化ではないと判断し、座標を求める演算処
理をせずに、測定容量値について次の処理をする。即
ち、新基準容量設定手段３４により、前記測定容量値を
新「基準容量値」とする。更にこの新基準容量値をもと
に測定用しきい値設定手段３２により、新「測定用しき
い値」が設定される。その後容量測定を繰り返し、新測
定用しきい値を超えたときに人間のタッチがあったと判
断して、当初の処理を繰り返す。
第３図は本発明による中央処理装置３の動作処理フロー
チャートを示す。容量測定を開始し、ステップ(1)にお
いて測定用しきい値を超えたかどうか判断する。測定容
量値が測定用しきい値を超えてなく、従前の基準容量値
とも異なるときは、即ち測定容量値が従前の基準容量値
と測定用しきい値との間にある場合、あるいは測定容量
値が従前の基準容量値より小さい値である場合には、基
準容量値を測定容量値に更新する。また超えているとき
はステップ(2)に老いて、人間のタッチであるかどうか
を判断する。即ちタッチ時間の経過をタイマで測定し、
第２図で示される時間測定開始時刻ｔ１からの短い時間
経過後の時刻ｔ２における測定容量値が、測定用しきい
値を超えていないとき人間のタッチと判断し、座標の検
出と演算を行う。一方、測定容量値が測定用しきい値を
超える状態を継続するときは、人間のタッチではないと
判断し、ステップ(3)において更に長時間の経過をみ
る。そして時刻ｔ３においてなお継続中のときは、時刻
ｔ３における測定容量値を新基準容量値として新しく設
定する。
チャートを示す。容量測定を開始し、ステップ(1)にお
いて測定用しきい値を超えたかどうか判断する。測定容
量値が測定用しきい値を超えてなく、従前の基準容量値
とも異なるときは、即ち測定容量値が従前の基準容量値
と測定用しきい値との間にある場合、あるいは測定容量
値が従前の基準容量値より小さい値である場合には、基
準容量値を測定容量値に更新する。また超えているとき
はステップ(2)に老いて、人間のタッチであるかどうか
を判断する。即ちタッチ時間の経過をタイマで測定し、
第２図で示される時間測定開始時刻ｔ１からの短い時間
経過後の時刻ｔ２における測定容量値が、測定用しきい
値を超えていないとき人間のタッチと判断し、座標の検
出と演算を行う。一方、測定容量値が測定用しきい値を
超える状態を継続するときは、人間のタッチではないと
判断し、ステップ(3)において更に長時間の経過をみ
る。そして時刻ｔ３においてなお継続中のときは、時刻
ｔ３における測定容量値を新基準容量値として新しく設
定する。
以上の設定する手段３１から手段３４まではファームウ
ェアにより実行することが出来る。またハードウェアに
より構成しても良い。
ェアにより実行することが出来る。またハードウェアに
より構成しても良い。
［発明の効果］ このようにして本発明によると、測定容量値の変化が環
境変化によるものか、人体がタッチしたことによるか
を、経過時間により判断するから、人体のタッチを他と
区別して判断することが容易にできる。また環境変化に
よる容量の測定値が変動しても、しきい値以下の変動の
ときは基準値を更新しながら判断するため、タッチの判
断がより正確にできる。そのため座標入力の能率が向上
できる。
境変化によるものか、人体がタッチしたことによるか
を、経過時間により判断するから、人体のタッチを他と
区別して判断することが容易にできる。また環境変化に
よる容量の測定値が変動しても、しきい値以下の変動の
ときは基準値を更新しながら判断するため、タッチの判
断がより正確にできる。そのため座標入力の能率が向上
できる。
第１図は本発明の原理構成を示すブロック図、 第２図は本発明の動作説明用の図、 第３図は本発明における中央処理装置の動作フローチャ
ート、 第４図は従来の座標入力装置の構成を示す図である。 １……タッチパネル、２１〜２４……アナログスイッチ
ボード、３……中央処理装置、４……容量測定回路、５
……座標容量変換回路、６……測定辺の切替用アナログ
スイッチ、３１……基準容量設定手段、３２……しきい
値設定手段、３３……タイマ、３４……新基準容量設定
手段
ート、 第４図は従来の座標入力装置の構成を示す図である。 １……タッチパネル、２１〜２４……アナログスイッチ
ボード、３……中央処理装置、４……容量測定回路、５
……座標容量変換回路、６……測定辺の切替用アナログ
スイッチ、３１……基準容量設定手段、３２……しきい
値設定手段、３３……タイマ、３４……新基準容量設定
手段
Claims (1)
- 【請求項１】ノンパッド型タッチパネルへの物体の接触
により、該タッチパネルに付加されている静電容量に変
化が起こったことを検出して、接触した点の座標を中央
処理装置に入力する接触点の座標入力装置において、 タッチパネルに付加されている静電容量を一定間隔でチ
ェックし、チェックした該静電容量を基準容量値として
設定する手段と、 該基準容量値に特定値を加算して得られた値を測定用し
きい値として設定する手段と、 前記チェックにおいて、タッチパネルに付加されている
静電容量が、該しきい値を超えた値に変化したことを検
出したとき、該しきい値を超えた状態での経過時間を測
定する手段と、 測定した経過時間が予め決めた時間を超過しないとき
は、該しきい値を超えた該静電容量は前記基準容量値と
して設定することなくタッチパネルへの物体の接触とし
て認識し、予め決めた時間を超過したことを検出したと
きは、該しきい値を超えた値を前記基準容量値として設
定する手段と、 を具備することを特徴とする座標入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61221078A JPH0612510B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 座標入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61221078A JPH0612510B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 座標入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375919A JPS6375919A (ja) | 1988-04-06 |
| JPH0612510B2 true JPH0612510B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=16761140
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61221078A Expired - Lifetime JPH0612510B2 (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 座標入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612510B2 (ja) |
Families Citing this family (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007208682A (ja) * | 2006-02-02 | 2007-08-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | タッチパネル |
| KR100802656B1 (ko) * | 2006-06-22 | 2008-02-14 | 주식회사 애트랩 | 접촉 감지 센서 및 이의 동작 방법 |
| US8456434B2 (en) | 2006-06-22 | 2013-06-04 | Atlab Inc. | Touch sensor and operating method thereof |
| KR100938879B1 (ko) * | 2007-06-28 | 2010-01-27 | 주식회사 애트랩 | 접촉 감지 센서 및 이 센서의 자동 감도 조절방법 |
| JP5176108B2 (ja) * | 2008-05-16 | 2013-04-03 | 株式会社フジクラ | 位置検出装置 |
| JP5267932B2 (ja) | 2008-11-11 | 2013-08-21 | 株式会社フジクラ | 位置検出装置 |
| JP5426429B2 (ja) * | 2010-02-24 | 2014-02-26 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 入力装置及びそれを備えた表示装置 |
| JP5566808B2 (ja) * | 2010-07-30 | 2014-08-06 | 三洋電機株式会社 | ディスプレイ装置、自動販売機 |
| JP5618703B2 (ja) * | 2010-08-25 | 2014-11-05 | 京セラ株式会社 | 携帯端末 |
| JP5656666B2 (ja) * | 2011-01-21 | 2015-01-21 | 三菱電機株式会社 | タッチパネル装置 |
| JP5998661B2 (ja) * | 2012-06-11 | 2016-09-28 | 富士通株式会社 | 情報端末装置及び押下判定方法 |
| CN103677452B (zh) * | 2012-08-30 | 2017-05-24 | 华为终端有限公司 | 一种电容式触摸屏的校准方法和电容式触摸装置 |
| JP6006591B2 (ja) * | 2012-09-13 | 2016-10-12 | キヤノン株式会社 | 電子機器 |
| JP6571030B2 (ja) * | 2016-03-15 | 2019-09-04 | アルプスアルパイン株式会社 | 入力装置とその制御方法及びプログラム |
| JP6748026B2 (ja) * | 2017-04-28 | 2020-08-26 | シャープ株式会社 | タッチパネル入力装置 |
| JP2021090475A (ja) * | 2019-12-06 | 2021-06-17 | 三菱電機株式会社 | 電気機器、及び食器洗い機 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5886670A (ja) * | 1981-08-29 | 1983-05-24 | Pentel Kk | タブレツト入力装置 |
| JPS60229132A (ja) * | 1984-04-26 | 1985-11-14 | Asahi Glass Co Ltd | タツチセンサ |
-
1986
- 1986-09-19 JP JP61221078A patent/JPH0612510B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6375919A (ja) | 1988-04-06 |
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