JPH0612502A - Microcomputer with built-in a/d conversion circuit - Google Patents

Microcomputer with built-in a/d conversion circuit

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Publication number
JPH0612502A
JPH0612502A JP4162353A JP16235392A JPH0612502A JP H0612502 A JPH0612502 A JP H0612502A JP 4162353 A JP4162353 A JP 4162353A JP 16235392 A JP16235392 A JP 16235392A JP H0612502 A JPH0612502 A JP H0612502A
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JP
Japan
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conversion circuit
conversion
output
microcomputer
signal
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4162353A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinji Kashiwagi
伸次 柏木
Yasunori Sawai
康則 澤井
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP4162353A priority Critical patent/JPH0612502A/en
Publication of JPH0612502A publication Critical patent/JPH0612502A/en
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Abstract

PURPOSE:To verify in a short time the conversion precision of an A/D conversion circuit built in the microcomputer. CONSTITUTION:The input signals of a D/A converter 6 in an A/D conversion circuit 2 built in a microcomputer 1 are switched by providing a switching circuit 5. This switches whether an arbitrary digital signal D7 is impressed from the outside of the A/D conversion circuit 2 or register data D5 of a successive comparative register 8 are impressed. On the other hand, a means (control circuit 9) is provided to extract an output signal D4 of a comparator 7 to a CPU 3 outside the A/D conversion circuit 2.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はマイクロコンピュータに
関し、特に内蔵されるA/D変換回路の動作テストを容
易ならしめるA/D変換回路内蔵マイクロコンピュータ
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a microcomputer, and more particularly to a microcomputer with a built-in A / D conversion circuit that facilitates an operation test of the built-in A / D conversion circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近のマイクロコンピュータはLSI技
術の進歩により高集積化が進み、各種の周辺ハードウェ
アをワンチップ内に搭載するようになっている。その中
でも、A/D変換回路を内蔵したマイクロコンピュータ
は、自動車制御やA/Cサーボ制御などの分野に不可欠
なものであり、その需要は非常に高いものである。
2. Description of the Related Art Recent microcomputers have been highly integrated due to the progress of LSI technology, and various kinds of peripheral hardware have been mounted in one chip. Among them, a microcomputer incorporating an A / D conversion circuit is indispensable in the fields of automobile control, A / C servo control and the like, and its demand is extremely high.

【0003】従来のマイクロコンピュータに内蔵された
かかるA/D変換回路の変換精度を検証するにあたって
は、マイクロコンピュータに内蔵されたデジタル回路と
外部に付加されたD/A変換器とにより、検証する手段
が用いられている。以下に、A/D変換精度について説
明する。
In verifying the conversion accuracy of such an A / D conversion circuit built in a conventional microcomputer, it is verified by a digital circuit built in the microcomputer and a D / A converter externally added. Means are used. The A / D conversion accuracy will be described below.

【0004】このA/D変換回路は任意のアナログ入力
信号をディジタル信号に変換するが、A/D変換後のデ
ィジタル値と任意のアナログ入力信号に対するA/D変
換回路の理想のディジタル値との間には、誤差が生じ
る。A/D変換精度とは、任意に定めるこの誤差の許容
範囲のことである。無限の有効桁数をもつアナログ信号
は、量子化単位振幅で離散化された振幅値の中近傍のも
のに、四捨五入などによって丸められる。この振幅の離
散値を量子化レベル、量子化レベルの総数を分解能、量
子化レベルの最大値と最小値の差をフルスケールとい
う。量子化レベルの最小値を量子化ステップと呼び、こ
れを1LSBで表す。例えば、8ビット分解能は、28
=256個の量子化レベル数をもち、フルスケールが5
Vであれば、1LSBは約19.5mVである。つま
り、通常のA/D変換の許容誤差は±1LSBというよ
うな表現がされる。
This A / D conversion circuit converts an arbitrary analog input signal into a digital signal, but the digital value after A / D conversion and the ideal digital value of the A / D conversion circuit for the arbitrary analog input signal An error occurs between them. The A / D conversion accuracy is a permissible range of this error that is arbitrarily determined. An analog signal with an infinite number of significant digits is rounded off to something close to the middle of the amplitude value discretized by the quantization unit amplitude by rounding or the like. The discrete value of this amplitude is called the quantization level, the total number of quantization levels is called the resolution, and the difference between the maximum value and the minimum value of the quantization level is called the full scale. The minimum value of the quantization level is called a quantization step, which is represented by 1 LSB. For example, 8-bit resolution is 2 8
= 256 quantization levels, full scale is 5
For V, 1 LSB is about 19.5 mV. That is, the permissible error of normal A / D conversion is expressed as ± 1LSB.

【0005】図6は従来の一例を示す逐次比較型A/D
変換回路内蔵マイクロコンピュータのブロック図であ
る。図6に示すように、従来のマイクロコンピュータ1
は、逐次比較型A/D変換回路2と、命令処理を実行す
るセントラル・プロセッシング・ユニット(CPU)3
と、このCPU3の動作を制御するためのCPU3に対
して順次命令を与えるリード・オンリー・メモリー(R
OM)4と、マイクロコンピュータ1の外部に対してC
PU3が任意のデジタル信号を出力する外部出力端子D
・OUT1,マイクロコンピュータ1の外部よりアナロ
グ信号を入力するアナログ入力端子A・IN,マイクロ
コンピュータ1の外部に対してA/D変換精度の検証結
果を出力する外部出力端子D・OUT2とにより構成さ
れる。また、A/D変換回路2は、アナログ信号S1,
S2を比較するコンパレータ7と、このコンパレータ7
の出力信号D4にり確定する逐次比較レジスタ8と、A
/D変換回路2の全体の動作を制御信号D1〜D3によ
り制御する制御回路9と、逐次比較レジスタ8の出力D
5を変換するD/A変換器6とを含む。
FIG. 6 is a successive approximation type A / D showing an example of the prior art.
It is a block diagram of a microcomputer with a built-in conversion circuit. As shown in FIG. 6, a conventional microcomputer 1
Is a successive approximation A / D conversion circuit 2 and a central processing unit (CPU) 3 that executes instruction processing.
And a read-only memory (R that gives sequential commands to the CPU 3 for controlling the operation of the CPU 3
OM) 4 and C outside the microcomputer 1
External output terminal D from which PU3 outputs an arbitrary digital signal
OUT1, an analog input terminal A.IN for inputting an analog signal from the outside of the microcomputer 1, and an external output terminal D.OUT2 for outputting a verification result of A / D conversion accuracy to the outside of the microcomputer 1. It Further, the A / D conversion circuit 2 uses the analog signals S1,
Comparator 7 for comparing S2 and this comparator 7
A successive approximation register 8 which is determined by the output signal D4 of
The control circuit 9 for controlling the overall operation of the / D conversion circuit 2 by the control signals D1 to D3, and the output D of the successive approximation register 8
And a D / A converter 6 for converting 5

【0006】図7は図6に示すマイクロコンピュータ内
A/D変換回路の変換精度を検証するためのブロック構
成図である。図7に示すように、マイクロコンピュータ
1の外部のディジタル出力端子D・OUT1とアナログ
入力端子A・INには、ディジタル出力端子D・OUT
1から出力される信号を入力し、出力信号をアナログ入
力端子A・INに入力するD/A変換器10を接続す
る。このD/A変換器10は、マイクロコンピュータ1
に含まれているA/D変換回路2よりも十分高分解能が
保証されている。
FIG. 7 is a block diagram for verifying the conversion accuracy of the A / D conversion circuit in the microcomputer shown in FIG. As shown in FIG. 7, the digital output terminal D.OUT1 and the analog input terminal A.IN outside the microcomputer 1 are connected to the digital output terminal D.OUT.
The D / A converter 10 for inputting the signal output from 1 and inputting the output signal to the analog input terminal A · IN is connected. The D / A converter 10 is a microcomputer 1
A sufficiently high resolution is guaranteed as compared with the A / D conversion circuit 2 included in.

【0007】次に、再び図6を用いて、マイクロコンピ
ュータ1におけるA/D変換回路2の動作を説明する。
まず、CPU3がA/D変換回路2の制御回路9に対
し、A/D変換動作スタート信号D8を出力する。この
A/D変換スタート信号D8により、制御回路9はコン
パレータ7,逐次比較レジスタ8およびD/A変換器6
に対してタイミング信号D1を出力し、逐次比較レジス
タ8に対して制御信号D2を出力する。次に、A/D変
換スタート直後の制御信号D2を入力した逐次比較レジ
スタ8は、最上位ビットを論理値“1”にセットし、残
りのビットを論理値“0”にセットする。更に、D/A
変換器6は、逐次比較レジスタ8のレジスタデータD5
をアナログ信号に変換する。これにより、コンパレータ
7はD/A変換器6のアナログ出力信号S2と、アナロ
グ入力端子A・INより入力されたアナログ信号S1を
比較し、比較結果D4を出力する。すなわち、アナログ
入力端子A・INから入力されたアナログ信号S1の入
力電圧がD/A変換器6から出力されたアナログ信号S
2の入力電圧より高いと判断すれば、論理値“1”を出
力し、低いと判断すれば論理値“0”を出力する。この
コンパレータ7が論理値を出力すると、制御回路9は制
御信号D2を逐次比較レジスタ8に対して出力する。こ
れにより、コンパレータ7の出力信号D4を逐次比較レ
ジスタ8の最上位ビットに入力し、逐次比較レジスタ8
の最上位ビットの次の下位ビットを論理値“1”にセッ
トする。このように、D/A変換回路6がD/A変換を
開始してから、逐次比較レジスタ8に1ビットが設定さ
れるまでの期間をA/D変換動作の1サイクルTとして
考える。
Next, the operation of the A / D conversion circuit 2 in the microcomputer 1 will be described with reference to FIG. 6 again.
First, the CPU 3 outputs the A / D conversion operation start signal D8 to the control circuit 9 of the A / D conversion circuit 2. By the A / D conversion start signal D8, the control circuit 9 causes the comparator 7, the successive approximation register 8 and the D / A converter 6 to operate.
To the successive approximation register 8 and the control signal D2 to the successive approximation register 8. Next, the successive approximation register 8 which receives the control signal D2 immediately after the start of A / D conversion sets the most significant bit to the logical value "1" and the remaining bits to the logical value "0". Furthermore, D / A
The converter 6 uses the register data D5 of the successive approximation register 8
To an analog signal. As a result, the comparator 7 compares the analog output signal S2 of the D / A converter 6 with the analog signal S1 input from the analog input terminal A · IN, and outputs the comparison result D4. That is, the input voltage of the analog signal S1 input from the analog input terminal A · IN is the analog signal S output from the D / A converter 6.
If it is judged to be higher than the input voltage of 2, the logical value "1" is outputted, and if judged to be lower, the logical value "0" is outputted. When the comparator 7 outputs a logical value, the control circuit 9 outputs the control signal D2 to the successive approximation register 8. As a result, the output signal D4 of the comparator 7 is input to the most significant bit of the successive approximation register 8 and the successive approximation register 8
The lower bit next to the most significant bit of is set to a logical value "1". In this way, the period from when the D / A conversion circuit 6 starts the D / A conversion to when 1 bit is set in the successive approximation register 8 is considered as one cycle T of the A / D conversion operation.

【0008】以上の動作を逐次比較レジスタ8の最上位
ビットから最下位ビットまで、即ちTのサイクルを逐次
比較レジスタ8のビット数だけ繰返す。この逐次比較レ
ジスタ8の全ビットが確定すると、制御回路9はA/D
変換終了信号D3をCPU3に対して出力することによ
り、A/D変換動作が終了する。これにより、逐次比較
レジスタ8のレジスタデータD5がマイクロコンピュー
タ1のアナログ入力端子A・INより入力されたアナロ
グ信号S1の入力電圧に対応するデジタル値として確定
する。最後に、A/D変換終了信号D3がCPU3に入
力されると、逐次比較レジスタ8のレジスタデータD5
はCPU3により引取られる。
The above operation is repeated from the most significant bit to the least significant bit of the successive approximation register 8, that is, the cycle of T is repeated by the number of bits of the successive approximation register 8. When all the bits of the successive approximation register 8 are confirmed, the control circuit 9 causes the A / D
By outputting the conversion end signal D3 to the CPU 3, the A / D conversion operation ends. As a result, the register data D5 of the successive approximation register 8 is determined as a digital value corresponding to the input voltage of the analog signal S1 input from the analog input terminal A • IN of the microcomputer 1. Finally, when the A / D conversion end signal D3 is input to the CPU 3, the register data D5 of the successive approximation register 8
Are collected by the CPU 3.

【0009】次に、マイクロコンピュータ1に内蔵され
ている逐次比較型A/D変換回路2のA/D変換精度を
検証する動作を図7を参照して説明する。CPU3がデ
ィジタル出力D9を外部端子D・OUT1から出力する
と、D/A変換器10に入力されるので、ディジタル信
号D9をD/A変換する。このアナログ信号に変換され
た出力Sはマイクロコンピュータ1のアナログ入力端子
A・INに印加される。アナログ入力端子A・INに印
加されたアナログ値は、A/D変換回路2に入力され、
デジタル値に変換される。CPU3は、最初に出力した
ディジタル出力D9とA/D変換の変換結果D5とを演
算し、両ディジタル値の誤差が任意の範囲内なら論理値
“1”、範囲外なら論理値“0”を外部端子D・OUT
2に出力する。これにより、A/D変換精度が検証され
る。
Next, the operation of verifying the A / D conversion accuracy of the successive approximation A / D conversion circuit 2 built in the microcomputer 1 will be described with reference to FIG. When the CPU 3 outputs the digital output D9 from the external terminal D.OUT1, it is input to the D / A converter 10, so that the digital signal D9 is D / A converted. The output S converted into the analog signal is applied to the analog input terminal A · IN of the microcomputer 1. The analog value applied to the analog input terminal A • IN is input to the A / D conversion circuit 2,
Converted to digital value. The CPU 3 calculates the first digital output D9 and the conversion result D5 of the A / D conversion, and outputs a logical value "1" if the error between both digital values is within an arbitrary range, and a logical value "0" if it is out of the range. External terminal D / OUT
Output to 2. Thereby, the A / D conversion accuracy is verified.

【0010】図8は図6における遂次比較レジスタのデ
ータの遷移とA/D変換回路のアナログ入力に対するデ
ィジタル値が確定するまでに要する時間を示すタイミン
グ図でる。図8に示すように、ここではマイクロコンピ
ュータ1内部のA/D変換回路2の特性の確認に要する
時間について説明する。すなわち、ここでのタイミング
はマイクロコンピュータ1内部のA/D変換回路2の逐
次比較レジスタ8が8ビット、CPU3の出力デジタル
値D9を“3E”、制御回路9から出力されるA/D変
換タイミング信号D1の1サイクルをTとした場合、A
/D変換回路2における逐次比較レジスタ8のデータの
遷移と、A/D変換回路2においてアナログ入力に対す
るディジタル値が確定するまでに要する時間とを示して
いる。タイミングT1からT8の期間に、逐次比較レジ
スタ8の最上位ビットから最下位ビットまでが決定す
る。次に、T9のタイミングでアナログ入力に対するデ
ィジタル値が確定し、確定されたディジタル値はCPU
3により引きとられる。このように、1個の量子化レベ
ルの検証動作には、T×(分解能+1)サイクルが必要
である。
FIG. 8 is a timing chart showing the time required for the transition of the data of the successive comparison register in FIG. 6 and the establishment of the digital value for the analog input of the A / D conversion circuit. As shown in FIG. 8, the time required to confirm the characteristics of the A / D conversion circuit 2 inside the microcomputer 1 will be described here. That is, the timing here is 8 bits in the successive approximation register 8 of the A / D conversion circuit 2 in the microcomputer 1, the output digital value D9 of the CPU 3 is "3E", and the A / D conversion timing output from the control circuit 9 If one cycle of the signal D1 is T, A
The data transition of the successive approximation register 8 in the / D conversion circuit 2 and the time required for the A / D conversion circuit 2 to determine the digital value for the analog input are shown. During the period from timing T1 to T8, the most significant bit to the least significant bit of the successive approximation register 8 are determined. Next, the digital value for the analog input is fixed at the timing of T9, and the fixed digital value is stored in the CPU.
Taken by 3. In this way, one quantization level verification operation requires T × (resolution + 1) cycles.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマイク
ロコンピュータは、内部の逐次比較型A/D変換回路に
おける逐次比較レジスタのビット数の増加に伴い、A/
D変換動作検証時間が大幅に増加する。このため、従来
のA/D変換回路内蔵マイクロコンピュータは、A/D
変換回路のA/D変換動作検証時間に多大な時間が必要
になり、多大なコストアップを招くという欠点がある。
The conventional microcomputer described above has a problem that the A / D conversion circuit in the internal successive approximation A / D conversion circuit has an
The D conversion operation verification time is significantly increased. Therefore, the conventional microcomputer with a built-in A / D conversion circuit is
It takes a long time to verify the A / D conversion operation of the conversion circuit, which has a drawback of causing a large increase in cost.

【0012】本発明の目的は、かかるA/D変換器の精
度を短時間で検証することができるA/D変換回路内蔵
マイクロコンピュータを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a microcomputer with a built-in A / D conversion circuit, which can verify the accuracy of the A / D converter in a short time.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明のA/D変換回路
内蔵マイクロコンピュータは、同一半導体基板上にA/
D変換回路を内蔵するマイクロコンピュータにおいて、
内部システムクロックにより同期化される前記A/D変
換回路の動作タイミングを制御する手段と、所定の逐次
比較基準電圧を発生する基準電圧発生手段と、前記所定
の逐次比較基準電圧と任意のアナログ電圧を比較する比
較手段と、前記比較手段の比較結果を入力する逐次比較
レジスタと、前記基準電圧発生手段に対し任意のディジ
タル信号および前記逐次比較レジスタのデータを選択的
に切り換えて入力するスイッチ手段と、前記比較手段の
比較結果を前記A/D変換回路の外部に出力する手段と
を有して構成される。
A microcomputer with a built-in A / D conversion circuit according to the present invention has an A / D conversion circuit on the same semiconductor substrate.
In a microcomputer with a built-in D conversion circuit,
Means for controlling the operation timing of the A / D conversion circuit synchronized by an internal system clock, reference voltage generating means for generating a predetermined successive approximation reference voltage, the predetermined successive approximation reference voltage and an arbitrary analog voltage Comparing means for comparing, a successive approximation register for inputting a comparison result of the comparing means, and a switch means for selectively switching and inputting an arbitrary digital signal and data of the successive approximation register to the reference voltage generating means. , Means for outputting the comparison result of the comparison means to the outside of the A / D conversion circuit.

【0014】[0014]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。図1は本発明の一実施例を示す逐次比較型
A/D変換回路内蔵マイクロコンピュータのブロック図
である。図1に示すように、本実施例はマイクロコンピ
ュータ1を形成するにあたり、A/D変換回路2と、命
令処理を実行するCPU3と、CPU3の動作を制御す
るためにCPU3に対して順次命令を与えるROM4
と、CPU3が任意のデジタル信号を出力する外部出力
端子D・OUT1と、アナログ信号を入力するアナログ
入力端子A・INと、A/D変換回路2の動作モードを
切り換える切り換え信号を入力する外部入力端子SW・
INと、A/D変換精度の検証結果D10を出力する外
部出力端子D・OUT2とを有している。特に、A/D
変換回路2は、コンパレータ7と、コンパレータ7の出
力信号D4によってデータを確定する逐次比較レジスタ
8と、A/D変換回路2の動作を制御する制御回路9
と、D/A変換器6とを有する他に、D/A変換器6に
入力するディジタル値を切り換える切換回路5を備えて
いる。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram of a microcomputer with built-in successive approximation type A / D conversion circuit showing an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 1, in the present embodiment, when forming a microcomputer 1, an A / D conversion circuit 2, a CPU 3 for executing instruction processing, and a sequential instruction to the CPU 3 for controlling the operation of the CPU 3. ROM4 to give
And an external output terminal D / OUT1 for outputting an arbitrary digital signal by the CPU 3, an analog input terminal A / IN for inputting an analog signal, and an external input for inputting a switching signal for switching the operation mode of the A / D conversion circuit 2. Terminal SW
It has IN and an external output terminal D.OUT2 for outputting a verification result D10 of A / D conversion accuracy. Especially A / D
The conversion circuit 2 includes a comparator 7, a successive approximation register 8 that determines data by the output signal D4 of the comparator 7, and a control circuit 9 that controls the operation of the A / D conversion circuit 2.
And a D / A converter 6, and a switching circuit 5 for switching the digital value input to the D / A converter 6.

【0015】図2は図1に示すマイクロコンピュータ内
A/D変換回路のA/D変換精度を検証するためのブロ
ック構成図である。図2に示すように、ここではマイク
ロコンピュータ1の外部のディジタル出力端子D・OU
T1とアナログ入力端子A・INに、ディジタル出力信
号D・OUT1から出力される信号を入力し且つその出
力信号をアナログ入力端子A・INに入力するD/A変
換器10を接続している。このD/A変換器10はマイ
クロコンピュータ1に含まれているA/D変換回路2よ
り十分な高分解能が保証されている。
FIG. 2 is a block diagram for verifying the A / D conversion accuracy of the A / D conversion circuit in the microcomputer shown in FIG. As shown in FIG. 2, here, an external digital output terminal D · OU of the microcomputer 1 is provided.
A D / A converter 10 for inputting the signal output from the digital output signal D.OUT1 and inputting the output signal to the analog input terminal A.IN is connected to T1 and the analog input terminal A.IN. The D / A converter 10 is guaranteed to have a sufficiently high resolution as compared with the A / D conversion circuit 2 included in the microcomputer 1.

【0016】次に、図1と図2を用いて、上述したマイ
クロコンピュータ1に内蔵されているA/D変換回路2
の動作を説明する。本実施例において、通常のA/D変
換動作時は外部入力端子SW・INに論理値“1”の信
号D6を印加し、切換回路5は逐次比較レジスタ8のレ
ジスタデータD5をD/A変換器6に入力する一方、テ
スト動作時は外部入力端子SW・INに論理値“0”を
印加することで切換回路5はCPU3から出力されたデ
ィジタルデータD7をD/A変換器6に入力するような
構成になっている。
Next, referring to FIGS. 1 and 2, an A / D conversion circuit 2 built in the microcomputer 1 described above.
The operation of will be described. In this embodiment, during the normal A / D conversion operation, the signal D6 having the logical value "1" is applied to the external input terminal SW.IN, and the switching circuit 5 performs the D / A conversion on the register data D5 of the successive approximation register 8. On the other hand, the switching circuit 5 inputs the digital data D7 output from the CPU 3 to the D / A converter 6 by applying a logical value "0" to the external input terminal SW.IN during the test operation. It is structured like this.

【0017】まず、通常のA/D変換動作について説明
する。A/D変換回路2では、まずCPU3よりA/D
変換スタート信号D8を制御回路9へ出力する。制御回
路9はコンパレータ7,変換比較レジスタ8,D/A変
換器6に対してそれぞれタイミング信号D1を出力し、
逐次比較レジスタ8に対しては、更に制御信号D2を出
力する。A/D変換スタート直後の制御信号D2を入力
した逐次比較レジスタ8は、最上位ビットを論理値
“1”に、また残りのビットを論理値“0”にそれぞれ
セットする。次に、逐次比較レジスタ8のレジスタデー
タD5が切換回路5を通してD/A変換器6に入力さ
れ、D/A変換器6はアナログ信号S2に変換する。次
に、コンパレータ7はD/A変換器6のアナログ出力信
号S2と、アナログ入力端子A・INより入力されたア
ナログ信号S1を比較し、アナログ入力端子A・INか
ら入力されたアナログ信号S1の入力電圧がD/A変換
器6から出力されたアナログ信号S2の入力電圧よりも
高いと判断すれば、論理値“1”を出力し、低いと判断
すれば、論理値“0”を出力する。コンパレータ7が論
理値を出力すると、制御回路9は、次に制御信号D2を
逐次比較レジスタ8に対して出力することにより、コン
パレータ7の出力信号D4を逐次比較レジスタ8の最上
位ビットに入力し、逐次比較レジスタ8の最上位ビット
の次の下位ビットを論理値“1”にセットする。
First, a normal A / D conversion operation will be described. In the A / D conversion circuit 2, first, the A / D conversion is performed by the CPU 3.
The conversion start signal D8 is output to the control circuit 9. The control circuit 9 outputs the timing signal D1 to the comparator 7, the conversion comparison register 8, and the D / A converter 6, respectively,
A control signal D2 is further output to the successive approximation register 8. The successive approximation register 8 which receives the control signal D2 immediately after the start of A / D conversion sets the most significant bit to the logical value "1" and the remaining bits to the logical value "0". Next, the register data D5 of the successive approximation register 8 is input to the D / A converter 6 through the switching circuit 5, and the D / A converter 6 converts the analog signal S2. Next, the comparator 7 compares the analog output signal S2 of the D / A converter 6 with the analog signal S1 input from the analog input terminal A · IN, and compares the analog signal S1 input from the analog input terminal A · IN. If it is determined that the input voltage is higher than the input voltage of the analog signal S2 output from the D / A converter 6, a logical value "1" is output, and if it is determined that the input voltage is low, a logical value "0" is output. . When the comparator 7 outputs the logical value, the control circuit 9 then outputs the control signal D2 to the successive approximation register 8 to input the output signal D4 of the comparator 7 to the most significant bit of the successive approximation register 8. , The lower bit next to the most significant bit of the successive approximation register 8 is set to the logical value "1".

【0018】かかるD/A変換器6がD/A変換を開始
してから逐次比較レジスタ8に1ビット設定されるまで
の期間を、A/D変換動作の1サイクルTとして考え
る。以上の動作を逐次比較レジスタ8の最上位ビットか
ら最下位ビットまで、すなわちTのサイクルを逐次比較
レジスタ8のビット数だけ繰返し、逐次比較レジスタ8
の全ビットが確定すると、制御回路9がA/D変換終了
信号D3をCPU3に対して出力することによりA/D
変換動作を終了し、逐次比較レジスタ8のレジスタデー
タD5がマイクロコンピュータ1のアナログ入力端子A
・INより入力されたアナログ信号S1の入力電圧に対
応するデジタル値として確定する。A/D変換終了信号
D3がCPU3に入力されると、逐次比較レジスタ8の
レジスタデータD5はCPU3により引取られる。
The period from when the D / A converter 6 starts the D / A conversion to when one bit is set in the successive approximation register 8 is considered as one cycle T of the A / D conversion operation. The above operation is repeated from the most significant bit to the least significant bit of the successive approximation register 8, that is, the cycle of T is repeated by the number of bits of the successive approximation register 8.
When all the bits of A / D are determined, the control circuit 9 outputs the A / D conversion end signal D3 to the CPU 3 to cause A / D conversion.
After the conversion operation is completed, the register data D5 of the successive approximation register 8 is transferred to the analog input terminal A of the microcomputer 1.
-It is decided as a digital value corresponding to the input voltage of the analog signal S1 input from IN. When the A / D conversion end signal D3 is input to the CPU 3, the register data D5 of the successive approximation register 8 is taken by the CPU 3.

【0019】次に、テスト動作について説明する。テス
ト動作時は外部入力端子SW・INに論理値“0”を印
加することにより、切換回路5はCPU3から出力され
たディジタルデータD7をD/A変換器6に入力する。
まず、切換回路5はCPU3のディジタル出力D9から
A/D変換の許容誤差の限界であるディジタル値をディ
ジタル出力D7として、D/A変換器6に入力する。
Next, the test operation will be described. During the test operation, the switching circuit 5 inputs the digital data D7 output from the CPU 3 to the D / A converter 6 by applying a logical value "0" to the external input terminal SW.IN.
First, the switching circuit 5 inputs a digital value, which is the limit of the allowable error of A / D conversion, from the digital output D9 of the CPU 3 to the D / A converter 6 as a digital output D7.

【0020】例えば、逐次比較レジスタ8が8ビット、
CPU3の出力デジタル値D9を“3E”、A/D変換
の許容誤差を±2LSBであるとした場合、ディジタル
出力D7として、CPU3の出力ディジタル値“3E”
から2LSBを増減したディジタル値“40”“3C”
を印加する。っつまり、最初にCPU3はディジタル出
力D9にA/D変換の許容誤差2LSBを減らしたディ
ジタル値“3C”を、切換回路5を介してD/A変換器
6に出力する。
For example, the successive approximation register 8 has 8 bits,
When the output digital value D9 of the CPU 3 is "3E" and the allowable error of the A / D conversion is ± 2LSB, the output digital value D3 of the CPU 3 is "3E" as the digital output D7.
Digital value "40""3C" with 2LSB increased or decreased from
Is applied. That is, first, the CPU 3 outputs to the D / A converter 6 via the switching circuit 5, the digital value "3C" obtained by reducing the allowable error 2LSB of the A / D conversion to the digital output D9.

【0021】次に、D/A変換器6はディジタル値D7
をアナログ信号に変換する。同時に、CPU3はディジ
タル出力D9を外部端子D・OUT1から出力し、外部
端子D・OUT1から出力されたディジタル信号はD/
A変換器10に入力される。このD/A変換器10はデ
ィジタル信号をD/A変換し、アナログ信号に変換した
出力Sをマイクロコンピュータ1のアナログ入力端子A
・INに印加する。
Next, the D / A converter 6 outputs the digital value D7.
To an analog signal. At the same time, the CPU 3 outputs the digital output D9 from the external terminal D.OUT1, and the digital signal output from the external terminal D.OUT1 is D /
It is input to the A converter 10. The D / A converter 10 D / A-converts a digital signal, converts the output S into an analog signal, and outputs the output S from an analog input terminal A of the microcomputer 1.
・ Apply to IN.

【0022】これにより、コンパレータ7はアナログ入
力端子A・INから入力されたアナログ信号S1と、D
/A変換器6のアナログ出力信号S2とを比較し、アナ
ログ信号S1の入力電圧がアナログ出力信号S2より高
いと判断すれば、論理値“1”を出力し、低いと判断す
れば、論理値“0”を出力する。コンパレータ7が出力
信号D4を出力すると、制御回路9はA/D変換終了信
号D3をCPU3に出力するので、CPU3はコンパレ
ータ7の出力信号D4を保存する。
As a result, the comparator 7 receives the analog signals S1 and D input from the analog input terminals A and IN.
The analog output signal S2 of the A / A converter 6 is compared, and if it is determined that the input voltage of the analog signal S1 is higher than the analog output signal S2, a logical value "1" is output, and if it is determined to be low, a logical value Output "0". When the comparator 7 outputs the output signal D4, the control circuit 9 outputs the A / D conversion end signal D3 to the CPU 3, so that the CPU 3 stores the output signal D4 of the comparator 7.

【0023】ここで、A/D変換回路2に対しては、デ
ィジタル値D7としてA/D変換の許容誤差の下限値を
入力したのであるから、コンパレータ7の出力信号D4
が論理値“1”を出力すれば許容誤差範囲内、論理値
“0”を出力すれば許容誤差範囲外ということになる。
Here, since the lower limit value of the allowable error of A / D conversion is input to the A / D conversion circuit 2 as the digital value D7, the output signal D4 of the comparator 7 is output.
If it outputs a logical value "1", it means that it is within the allowable error range, and if it outputs a logical value "0", it means that it is outside the allowable error range.

【0024】次に、CPU3はディジタル出力D9にA
/D変換の許容誤差2LSBを加えたディジタル値“4
0”を、切換回路5を介してD/A変換器6に出力する
ので、D/A変換器6はディジタル値D7をアナログ信
号に変換し、コンパレータ7に対しアナログ信号S2を
出力する。このコンパレータ7はアナログ入力端子A・
INより入力されたアナログ信号S1と、D/A変換器
6のアナログ出力信号S2とを比較し、アナログ信号S
1の入力電圧がアナログ出力信号S2の入力電圧よりも
高いと判断すれば論理値“0”を出力し、低いと判断す
れば論理値“1”を出力する。
Next, the CPU 3 outputs A to the digital output D9.
A digital value of "4" that is obtained by adding 2LSB of the allowable error of D / D conversion
Since 0 "is output to the D / A converter 6 via the switching circuit 5, the D / A converter 6 converts the digital value D7 into an analog signal and outputs the analog signal S2 to the comparator 7. Comparator 7 has analog input terminal A
The analog signal S1 input from IN is compared with the analog output signal S2 of the D / A converter 6, and the analog signal S
If it is determined that the input voltage of 1 is higher than the input voltage of the analog output signal S2, the logical value "0" is output, and if it is determined to be low, the logical value "1" is output.

【0025】次に、コンパレータ7が出力信号D4を出
力すると、制御回路9はA/D変換終了信号D1をCP
U3に対して出力する。CPU3は最初に出力されたコ
ンパレータ7の出力信号D4が論理値“1”、次に入力
された信号D4が論理値“0”ならば、論理値“1”で
ある検証結果D10を出力端子D・OUT2を介してマ
イクロコンピュータ1の外部に出力し、それ以外なら論
理値“0”である比較結果D10を出力端子D・OUT
2を介してマイクロコンピュータ1の外部に出力する。
Next, when the comparator 7 outputs the output signal D4, the control circuit 9 outputs the A / D conversion end signal D1 as CP.
Output to U3. If the output signal D4 of the comparator 7 output first is the logical value "1" and the signal D4 input next is the logical value "0", the CPU 3 outputs the verification result D10 having the logical value "1" to the output terminal D. Outputting the comparison result D10, which is output to the outside of the microcomputer 1 via OUT2 and is logical value "0" otherwise, to the output terminal DOUT.
It is output to the outside of the microcomputer 1 via 2.

【0026】図3は図1における1個の量子化レベルを
検証するために要する時間を示すタイミング図である。
図3に示すように、ここではマイクロコンピュータ1内
部のA/D変換回路2の特性の確認に要する時間につい
て、一例として、マイクロコンピュータ1内部のA/D
変換回路2における逐次比較レジスタ8が8ビット、C
PU3の出力デジタル値D9を“3E”、A/D変換精
度を±2LSB、制御回路9から出力されるA/D変換
タイミング信号D1の1サイクルをTとした場合に、1
個の量子化レベルを検証するために要する時間を示して
いる。まず、T1期間にCPU3の出力ディジタル値
“3E”に対して、2LSBを減らしたデジタル値“3
C”をアナログ変換した信号と、CPU3の出力デジタ
ル値“3E”をアナログ変換した信号を比較する。次
に、T2期間にCPU3の出力デジタル値“3E”に対
して2LSBを加えたデジタル値“40”をアナログ変
換した信号と、CPU3の出力デジタル値“3E”をア
ナログ変換した信号を比較する。このように、本実施例
による1個の量子化レベルの検証動作は、常にT×2サ
イクルで終了することが可能である。
FIG. 3 is a timing diagram showing the time required to verify one quantization level in FIG.
As shown in FIG. 3, here, as an example of the time required to confirm the characteristics of the A / D conversion circuit 2 inside the microcomputer 1, the A / D inside the microcomputer 1
The successive approximation register 8 in the conversion circuit 2 has 8 bits, C
When the output digital value D9 of PU3 is "3E", the A / D conversion accuracy is ± 2LSB, and one cycle of the A / D conversion timing signal D1 output from the control circuit 9 is T, 1
The time required to verify each quantization level is shown. First, the digital value "3E" obtained by reducing 2LSB with respect to the output digital value "3E" of the CPU 3 in the period T1.
A signal obtained by analog-converting C "and a signal obtained by analog-converting the output digital value" 3E "of the CPU 3 are compared. Next, a digital value" 2 "added to the output digital value" 3E "of the CPU 3 during the period T2 A signal obtained by converting 40 "into an analog signal is compared with a signal obtained by converting the output digital value" 3E "of the CPU 3 into an analog signal. As described above, the verification operation of one quantization level according to this embodiment is always T × 2 cycles. It is possible to end with.

【0027】図4は本発明の第二の実施例を示すA/D
変換回路内蔵マイクロコンピュータのブロック図であ
る。図4に示すように、本実施例のマイクロコンピュー
タ1はA/D変換回路2とCPU3およびROM4と、
CPU3が任意のデジタル信号を出力する外部出力端子
D・OUT1と、アナログ信号を入力するアナログ入力
端子A・INと、A/D変換回路2の動作モードを切換
える切換信号D6を入力する外部入力端子SW・INと
を有する。しかも、A/D変換回路2を形成するコンパ
レータ7,逐次比較レジスタ8,制御回路9,D/A変
換器6および切換回路5は、前述した第一の実施例と同
様である。本実施例が第一の実施例と比較して異なる点
は、コパレータ7の出力信号D4を外部へ出力する外部
出力端子D・OUT3を設けたことにある。
FIG. 4 is an A / D showing a second embodiment of the present invention.
It is a block diagram of a microcomputer with a built-in conversion circuit. As shown in FIG. 4, the microcomputer 1 of this embodiment includes an A / D conversion circuit 2, a CPU 3 and a ROM 4,
An external output terminal D.OUT1 from which the CPU 3 outputs an arbitrary digital signal, an analog input terminal A.IN to input an analog signal, and an external input terminal to input a switching signal D6 for switching the operation mode of the A / D conversion circuit 2. It has SW and IN. Moreover, the comparator 7, the successive approximation register 8, the control circuit 9, the D / A converter 6 and the switching circuit 5 forming the A / D conversion circuit 2 are the same as those in the first embodiment. This embodiment is different from the first embodiment in that an external output terminal D.OUT3 for outputting the output signal D4 of the comparator 7 to the outside is provided.

【0028】図5は図4に示すマイクロコンピュータ内
A/D変換回路の変換精度を検証するためのブロック構
成図である。図5に示すように、マイクロコンピュータ
1の内蔵A/D変換回路2におけるA/D変換精度を検
証するために、マイクロコンピュータ1の外部のディジ
タル出力端子D・OUT1とアナログ出力端子A・IN
には、ディジタル出力端子D・OUT1から出力される
信号D9を入力し且つ出力信号Sをアナログ入力端子A
・INに入力するD/A変換器10を接続する。また、
マイクロコンピュータ1に付加されているD/A変換器
10は、第一の実施例と同様である。
FIG. 5 is a block diagram for verifying the conversion accuracy of the A / D conversion circuit in the microcomputer shown in FIG. As shown in FIG. 5, in order to verify the A / D conversion accuracy in the built-in A / D conversion circuit 2 of the microcomputer 1, the digital output terminal D.OUT1 and the analog output terminal A.IN outside the microcomputer 1 are verified.
, The signal D9 output from the digital output terminal DOUT1 is input to the analog input terminal A
-Connect the D / A converter 10 that inputs to IN. Also,
The D / A converter 10 added to the microcomputer 1 is the same as in the first embodiment.

【0029】図4および図5に示すように、本実施例
は、A/D変換回路2のコンパレータ7の出力信号D4
を、マイクロコンピュータ1の外部にも出力する構成で
あり、またCPU3はD・OUT1だけに出力する構成
となっており、他の動作については前述した第一の実施
例と同一である。以下異なる部分に着目して、マイクロ
コンピュータ1におけるA/D変換回路2の1個の量子
化レベルを検証する動作を説明する。
As shown in FIGS. 4 and 5, in this embodiment, the output signal D4 of the comparator 7 of the A / D conversion circuit 2 is output.
Is also output to the outside of the microcomputer 1, and the CPU 3 outputs only to D.OUT1. Other operations are the same as those in the first embodiment. The operation of verifying one quantization level of the A / D conversion circuit 2 in the microcomputer 1 will be described below, focusing on different parts.

【0030】まず、CPU3は任意のディジタル出力D
9を出力し、このディジタル出力D9からA/D変換の
許容誤差を減らした値、つまりA/D変換の許容誤差を
含む下限ディジタル値D7をA/D変換回路2に出力す
る。外部出力端子D・OUT1から出力されたディジタ
ル出力D9はマイクロコンピュータ1の外部に付加され
たD/A変換器10により、またA/D変換回路2に印
加されたディジタル値D7は、D/A変換器6により、
それぞれアナログ値に変換される。これらはアナログ値
S1,S2としてA/D変換回路2内のコンパレータ7
に印加され、コンパレータ7で値の大小が比較される。
コンパレータ7で比較された結果としての出力信号D4
は、外部出力端子D・OUT3を介して、マイクロコン
ピュータ1の外部に出力される。ここで、A/D変換回
路2に対しては、ディジタル値D7としてA/D変換の
許容誤差の下限値を入力したのであるから、コンパレー
タ7の出力信号D4が論理値“1”を出力すれば許容誤
差範囲内、論理値“0”を出力すれば許容誤差範囲外と
いうことになる。
First, the CPU 3 outputs an arbitrary digital output D
9 is output, and a lower limit digital value D7 including a value obtained by reducing the A / D conversion tolerance from this digital output D9, that is, the A / D conversion tolerance is output to the A / D conversion circuit 2. The digital output D9 output from the external output terminal D.OUT1 is supplied to the outside of the microcomputer 1 by the D / A converter 10, and the digital value D7 applied to the A / D conversion circuit 2 is D / A. With the converter 6,
Each is converted to an analog value. These are analog values S1 and S2, and the comparator 7 in the A / D conversion circuit 2
And the magnitude of the value is compared by the comparator 7.
Output signal D4 as a result of comparison by the comparator 7.
Is output to the outside of the microcomputer 1 through the external output terminal D.OUT3. Here, since the lower limit value of the allowable error of A / D conversion is input to the A / D conversion circuit 2 as the digital value D7, the output signal D4 of the comparator 7 outputs the logical value "1". If it is within the allowable error range, and if the logical value "0" is output, it means that it is outside the allowable error range.

【0031】次に、CPU3のディジタル出力D9から
A/D変換の許容誤差を加えた値、つまりA/D変換の
許容誤差を含む上限ディジタル値D7をA/D変換回路
2に出力する。次に、先程のディジタル値D7が下限値
である場合と同じように、コンパレータ7で比較された
結果としての出力信号D4は、外部出力端子D・OUT
3を介して、マイクロコンピュータ1の外部に出力され
る。ここで、A/D変換回路2に対しては、ディジタル
値D7としてA/D変換の許容誤差の上限値を入力した
のであるから、コンパレータ7の出力信号D4が論理値
“0”を出力すれば許容誤差範囲内、論理値“1”を出
力すれば許容誤差範囲外ということになる。
Next, a value obtained by adding the A / D conversion tolerance to the digital output D9 of the CPU 3, that is, the upper limit digital value D7 including the A / D conversion tolerance is output to the A / D conversion circuit 2. Next, as in the case where the digital value D7 is the lower limit value, the output signal D4 as a result of comparison by the comparator 7 is output to the external output terminal D.OUT.
It is output to the outside of the microcomputer 1 via Here, since the upper limit value of the allowable error of A / D conversion is input to the A / D conversion circuit 2 as the digital value D7, the output signal D4 of the comparator 7 outputs a logical value "0". If it is within the permissible error range, and if a logical value "1" is output, then it is outside the permissible error range.

【0032】即ち、本実施例では、A/D変換の許容誤
差の限界であるディジタル値D7が上限値の場合と、A
/D変換の許容誤差の限界であるディジタルD7が下限
値の場合とのそれぞれの検証結果D4をマイクロコンピ
ュータ1の外部に出力し、マイクロコンピュータ1の外
部で確認できるため、1個の量子化レベルに対する漠然
とした検証結果ではなく、詳細な検証結果を得ることが
可能である。
That is, in the present embodiment, when the digital value D7 which is the limit of the allowable error of A / D conversion is the upper limit value,
Since each verification result D4 when the digital D7 which is the limit of the allowable error of the / D conversion is the lower limit value is output to the outside of the microcomputer 1 and can be confirmed outside the microcomputer 1, one quantization level is obtained. It is possible to obtain detailed verification results instead of vague verification results for.

【0033】[0033]

【発明の効果】以上説明したように、本発明は1個の量
子化レベルを検証するために要する時間を逐次比較型A
/D変換回路における逐次比較レジスタのビット数に関
係なく一定とすることができるので、A/D変換動作の
検証時間を大幅に削減でき、検査を容易にするととも
に、低価格化を実現できるという効果がある。
As described above, according to the present invention, the time required to verify one quantization level is set to the successive approximation type A
Since it can be fixed regardless of the number of bits of the successive approximation register in the / D conversion circuit, the verification time of the A / D conversion operation can be significantly reduced, the inspection can be facilitated, and the cost can be reduced. effective.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一の実施例を示すA/D変換回路内
蔵マイクロコンピュータのブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a microcomputer with a built-in A / D conversion circuit showing a first embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すマイクロコンピュータ内A/D変換
回路の変換精度を検証するためのブロック構成図であ
る。
FIG. 2 is a block configuration diagram for verifying conversion accuracy of the A / D conversion circuit in the microcomputer shown in FIG.

【図3】図1における1個の量子化レベルを検証するた
めに要する時間を示すタイミング図である。
FIG. 3 is a timing diagram showing the time required to verify one quantization level in FIG.

【図4】本発明の第二の実施例を示すA/D変換回路内
蔵マイクロコンピュータのブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram of a microcomputer with a built-in A / D conversion circuit showing a second embodiment of the present invention.

【図5】図4に示すマイクロコンピュータ内A/D変換
回路の変換精度を検証するためのブロック構成図であ
る。
5 is a block configuration diagram for verifying conversion accuracy of the microcomputer A / D conversion circuit shown in FIG. 4;

【図6】従来の一例を示すA/D変換回路内蔵マイクロ
コンピュータのブロック図である。
FIG. 6 is a block diagram of a conventional microcomputer with a built-in A / D conversion circuit.

【図7】図6に示すマイクロコンピュータ内A/D変換
回路の変換精度を検証するためのブロック構成図であ
る。
FIG. 7 is a block configuration diagram for verifying conversion accuracy of the A / D conversion circuit in the microcomputer shown in FIG.

【図8】図6における逐次比較レジスタのデータの遷移
とA/D変換回路のアナログ入力に対するディジタル値
が確定するまでに要する時間を示すタイミング図であ
る。
8 is a timing chart showing a time required for transition of data of the successive approximation register in FIG. 6 and determination of a digital value with respect to an analog input of an A / D conversion circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 マイクロコンピュータ 2 A/D変換回路 3 CPU 4 ROM 5 切換回路 6,10 D/A変換器 7 コンパレータ 8 逐次比較レジスタ 9 制御回路 D・OUT1〜D・OUT3 ディジタル信号外部出
力端子 A・IN アナログ信号外部入力端子
1 Microcomputer 2 A / D conversion circuit 3 CPU 4 ROM 5 switching circuit 6,10 D / A converter 7 comparator 8 successive approximation register 9 control circuit D / OUT1 to D / OUT3 digital signal external output terminal A / IN analog signal External input terminal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 同一半導体基板上にA/D変換回路を内
蔵するマイクロコンピュータにおいて、内部システムク
ロックにより同期化される前記A/D変換回路の動作タ
イミングを制御する手段と、所定の逐次比較基準電圧を
発生する基準電圧発生手段と、前記所定の逐次比較基準
電圧と任意のアナログ電圧を比較する比較手段と、前記
比較手段の比較結果を入力する逐次比較レジスタと、前
記基準電圧発生手段に対し任意のディジタル信号および
前記逐次比較レジスタのデータを選択的に切り換えて入
力するスイッチ手段と、前記比較手段の比較結果を前記
A/D変換回路の外部に出力する手段とを有することを
特徴とするA/D変換回路内蔵マイクロコンピュータ。
1. In a microcomputer having an A / D conversion circuit built in on the same semiconductor substrate, means for controlling the operation timing of the A / D conversion circuit synchronized by an internal system clock, and a predetermined successive approximation reference. Reference voltage generating means for generating a voltage, comparing means for comparing the predetermined successive approximation reference voltage with an arbitrary analog voltage, successive approximation register for inputting the comparison result of the comparing means, and for the reference voltage generating means. Switch means for selectively switching and inputting an arbitrary digital signal and data of the successive approximation register, and means for outputting the comparison result of the comparison means to the outside of the A / D conversion circuit. A microcomputer with a built-in A / D conversion circuit.
JP4162353A 1992-06-22 1992-06-22 Microcomputer with built-in a/d conversion circuit Withdrawn JPH0612502A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011041231A (en) * 2009-08-18 2011-02-24 Renesas Electronics Corp Successive approximation type ad (analog/digital) converter and testing method thereof
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