JPH0611459Y2 - Tweezers type probe - Google Patents

Tweezers type probe

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JPH0611459Y2
JPH0611459Y2 JP15788788U JP15788788U JPH0611459Y2 JP H0611459 Y2 JPH0611459 Y2 JP H0611459Y2 JP 15788788 U JP15788788 U JP 15788788U JP 15788788 U JP15788788 U JP 15788788U JP H0611459 Y2 JPH0611459 Y2 JP H0611459Y2
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JP
Japan
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casing
probe
sliding contact
contact
side wall
Prior art date
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JP15788788U
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Japanese (ja)
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JPH0277671U (en
Inventor
博司 水出
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Hioki EE Corp
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Hioki EE Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案は、ピンセット形プローブに係り、さらに詳し
くは、微小な被測定素子を挟持して測定したり、測定の
ため必要な微細な被測定点に接触させて用いられるプロ
ーブ端子の接触子相互を常に正しい位置関係をとって対
面させることができるようにピンセット形プローブに関
する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial field of application] The present invention relates to a tweezers type probe, and more specifically, it holds a minute device to be measured for measurement, or a minute measured device required for measurement. The present invention relates to a tweezers type probe so that contacts of probe terminals used in contact with points can always face each other in a correct positional relationship.

[従来の技術] ピンセット形プローブは、それぞれの基端部を介して1
対のプローブ部相互を略V字状に一体連結することで、
被測定点に接触させる際に用いるプローブ端子の接触子
相互を予め開方向に付勢させた状態のもので形成されて
おり、このような構造のものは、例えば、低抵抗の測定
に好適ないわゆる四端子法に用いられる四端子プローブ
などとして既に提供されている。
[Prior Art] Tweezers type probes are
By integrally connecting the pair of probe parts in a substantially V shape,
The probe terminals used when contacting the measured point are formed in a state in which the contact elements of the probe terminals are pre-energized in the opening direction, and such a structure is suitable for low resistance measurement, for example. It has already been provided as a four-terminal probe used in the so-called four-terminal method.

このような用いられ方をする上記ピンセット形プローブ
は、プローブ形の中央部を把持しながら押圧すること
で、対向する位置関係にあるプローブ端子における接触
子相互に対し挟持力を付与することができ、この挟持力
により微小な抵抗素子等の被測定素子を挟持したり、そ
の被測定点に前記接触子を接触させて所要の測定を行な
うことができるようになっている。
The tweezers type probe thus used can apply a clamping force to the contacts of the probe terminals in the facing positional relationship by pressing while holding the center portion of the probe type. By this clamping force, it is possible to clamp a device to be measured such as a minute resistance element or to bring the contactor into contact with the measured point to perform a required measurement.

また、上記ピンセット形プローブは、通常、ケーシング
内にプローブ端子を収納固定させた構造のもとで形成さ
れている。
Further, the tweezers type probe is usually formed under a structure in which probe terminals are housed and fixed in a casing.

[考案の解決しようとする課題] ところで、ピンセット形プローブにおいて、前記ケーシ
ングが剛性に富む金属材料により形成されている場合に
は、その操作時に横方向への捩れが生じ、接触子相互の
対面関係が位置ズレするといったことは比較的生じ難
い。
[Problems to be Solved by the Invention] In the tweezers-type probe, when the casing is made of a metal material having high rigidity, a lateral twist occurs during the operation, and the facing relationship between the contacts is increased. It is relatively unlikely that will be displaced.

しかし、軽量化や加工の容易性、さらには低コスト性を
重視する結果、近時、ピンセット形プローブの前記ケー
シングを合成樹脂等の非金属材料を用いて形成されたも
のも多く提供されるに至っている。このように、ピンセ
ット形プローブのケーシングとして合成樹脂などのよう
な非金属材料を用いて形成したものを用いる場合には、
プローブ端子の接触子相互を介して被測定素子の被測定
点等を比較的過大な押圧力により挟持した際、金属材料
を用いて形成されている場合に比較して不都合が生じが
ちである。つまり、本来は接触子相互が正しい位置関係
をとって対面挟持するはずのものが、ケーシング自体が
剛性に劣るが故に接触子相互間に横方向への捩れ現象が
生じてしまい、一旦は挟持した微小な被測定素子を弾き
落してしまったり、あるいは、被測定素子の正しい被測
定点に接触子を接触させることができなくなるなどとい
った不都合の生じることが多かった。
However, as a result of emphasizing weight reduction, easiness of processing, and low cost, a lot of those in which the casing of the tweezers type probe is formed using a non-metal material such as a synthetic resin are recently provided. Has arrived. Thus, when using a non-metallic material such as synthetic resin as the casing of the tweezers probe,
When the measured point or the like of the element to be measured is sandwiched by the contact terminals of the probe terminal with a relatively large pressing force, inconvenience tends to occur as compared with the case where it is formed of a metal material. In other words, although the contactors should originally sandwich each other in the correct positional relationship, since the casing itself is inferior in rigidity, a twisting phenomenon occurs in the lateral direction between the contactors, and the contactors are once sandwiched. In many cases, inconveniences have occurred in that the minute element to be measured is flipped off, or the contact cannot be brought into contact with the correct point to be measured of the element to be measured.

この考案は、ピンセット形プローブにおけるケーシング
を合成樹脂等の非金属材料を用いて形成した場合にみら
れる上記不都合に鑑み、対面する接触子相互に対し常に
正しい位置関係を保持させることで、微小な被測定素子
を確実に挟持することができるほか、微細な被測定点へ
の確実な接触をも可能としたピンセット形プローブを提
供することをその目的とする。
In view of the above inconvenience that occurs when the casing of the tweezers type probe is formed of a non-metallic material such as a synthetic resin, the present invention makes it possible to maintain a precise positional relationship between the facing contacts. It is an object of the present invention to provide a tweezers-type probe that can securely hold a device under test and can also reliably contact a fine measurement point.

[課題を解決するための手段] この考案は、上記目的を達成しようとするものであり、
その構成上の特徴は、接触子を先端部から突出させたプ
ローブ端子が収容され、かつ、基端部側に位置する連結
部を介して略V字状となって前記先端部相互の開閉を可
能にして連結される1対のケーシングのそれぞれには、
相互に相手側ケーシングの側壁部の内側面にて常に摺接
可能とした部位を有してなる摺接案内部を設け、この摺
接案内部と前記側壁部との間で位置規制させることで、
常に前記接触子相互の対面関係の保持を可能としたこと
にある。
[Means for Solving the Problems] This invention is intended to achieve the above object,
Its structural feature is that a probe terminal having a contact protruding from the tip is housed, and a substantially V shape is formed via a connecting portion located on the base end side so that the tip can be opened and closed with respect to each other. Each of the pair of casings that is operably connected includes:
By providing a sliding contact guide portion having a portion capable of sliding contact with each other on the inner side surfaces of the side wall portions of the mating casings, and regulating the position between the sliding contact guide portion and the side wall portion. ,
It is always possible to maintain the face-to-face relationship between the contacts.

[作用] このため、微小な被測定素子に対し、プローブ端子にお
ける接触子相互を介してこれを挟持し、もしくはその被
測定点にこれを接触させようとするときには、ケーシン
グのそれぞれに設けられている摺接案内部を相手側の側
壁部の内側面を介して摺接させることで位置規制させな
がら閉方向へと操作することができ、したがって、これ
らケーシングに収容固定されているプローブ端子もその
接触子相互を正しい位置関係をとって対面させた状態の
もとで、前記被測定素子を確実に挟持し、もしくは被測
定点に接触させることができる。
[Operation] For this reason, when it is attempted to pinch a small element to be measured through the contacts of the probe terminal or to bring it into contact with the point to be measured, the element is provided in each of the casings. By sliding the sliding contact guide part through the inner side surface of the side wall part on the other side, it is possible to operate in the closing direction while restricting the position. Therefore, the probe terminals housed and fixed in these casings are also It is possible to reliably hold the element to be measured or bring it into contact with the point to be measured under a state where the contactors face each other in a correct positional relationship.

[実施例] 以下、図面に基づいてこの考案の実施例を詳細に説明す
る。
[Embodiment] An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

第1図は、この考案をピンセット形四端子プローブに適
用した場合の一実施例を示す全体正面図であり、左右対
称となって配置される1対のケーシング1,1には、そ
れぞれその先端部2から接触子22を突出させてプローブ
端子21が収容固定されている。また、これらのケーシン
グ1は、その基端部側に位置する連結部3を介すること
で、前記先端部2相互の開閉が可能な略V字状となって
相互に連結されている。
FIG. 1 is an overall front view showing an embodiment in which the present invention is applied to a tweezers type four-terminal probe, and a pair of casings 1 and 1 symmetrically arranged has tip ends respectively. A probe 22 is housed and fixed by projecting a contact 22 from the portion 2. Further, these casings 1 are connected to each other in a substantially V-shape that allows the front end portions 2 to be opened and closed by way of a connecting portion 3 located on the base end side thereof.

さらに、前記1対のケーシング1,1のそれぞれには、
第3図に示す底面図からも明らかなように、相互に相手
側ケーシング1の側壁部4の内側面5にて常に摺接可能
とした部位を有する摺接案内部6が形成されている。こ
の摺接案内部6は、相手側ケーシング1の前記側壁部4
の内側面5に摺接させることで相互間の位置関係を規制
しており、これにより常に前記接触子22相互の対面関係
の保持が可能となっている。
Further, in each of the pair of casings 1, 1,
As is clear from the bottom view shown in FIG. 3, there is formed a sliding contact guide portion 6 having a portion capable of always sliding contact with the inner side surface 5 of the side wall portion 4 of the counterpart casing 1. The sliding contact guide portion 6 is provided on the side wall portion 4 of the counterpart casing 1.
The positional relationship between the contact elements 22 is regulated by slidingly contacting the inner surface 5 thereof, so that the facing relationship between the contact elements 22 can always be maintained.

第2図は、第1図に示すケーシング1の内部構造を明ら
かにするものであり、板状となって形成されているプロ
ーブ端子21は、接触子22を突出させてケーシング1内に
収容固定されている。
FIG. 2 clarifies the internal structure of the casing 1 shown in FIG. 1, and the probe terminal 21 formed in a plate shape is housed and fixed in the casing 1 by projecting the contact 22. Has been done.

これらケーシング1のそれぞれは、底壁部7と、この底
壁部7の長さ方向での両側に沿わせて立設させた側壁部
4と、これらの側壁部4のいずれか一方の側の内側に位
置させて立設した摺接案内部6とを有し、合成樹脂材に
より略舟型形状を呈して一体形成されている。
Each of these casings 1 includes a bottom wall portion 7, side wall portions 4 erected along both sides of the bottom wall portion 7 in the longitudinal direction, and one of the side wall portions 4 on one side. It has a sliding contact guide portion 6 standing upright inside and is integrally formed of a synthetic resin material in a substantially boat shape.

また、底壁部7と左右の側壁部4とにより囲繞形成され
ているケーシング1の内底面8には、その左側に位置す
る側壁部4の内側面5の側に相手側のケーシング1に設
けてある前記摺接案内部6の上端部を収容するための溝
部9を形成すべく前記側壁部4に沿わせて隔壁部10が立
設されている。さらには、この隔壁部10と前記摺接案内
部6との間には、適宜の間隔で連結部11が一体となって
立設されており、突設されている止着用突起部12を熱カ
シメするなどにより前記プローブ端子21を内底面8と非
接触状態のもので収容して固定することを可能としてい
る。
Further, the inner bottom surface 8 of the casing 1 surrounded by the bottom wall portion 7 and the left and right side wall portions 4 is provided on the mating casing 1 on the inner side surface 5 side of the side wall portion 4 located on the left side thereof. A partition wall portion 10 is provided upright along the side wall portion 4 so as to form a groove portion 9 for accommodating the upper end portion of the sliding contact guide portion 6 which is formed. Further, a connecting portion 11 is integrally erected upright at an appropriate interval between the partition wall portion 10 and the sliding contact guide portion 6, and the protruding fastening attachment projection portion 12 is heated. By crimping or the like, the probe terminal 21 can be housed and fixed in a non-contact state with the inner bottom surface 8.

第4図と第5図とは、ケーシング1相互の開閉時におけ
る関わり合いの状態を示す断面図であり、分岐された芯
線31のそれぞれが各別のプローブ端子21に対しはんだ付
け部32を介することで導通された状態となって相互に組
み合わされている。
FIG. 4 and FIG. 5 are cross-sectional views showing a state in which the casing 1 is engaged with each other when the casing 1 is opened and closed. Each of the branched core wires 31 has a soldering portion 32 for each probe terminal 21. As a result, they are electrically connected and are combined with each other.

このうち、第4図は、ケーシング1相互への押圧力が解
除された開状態を示すものであり、この場合、一方の側
のケーシング1に立設されている摺接案内部6は、その
一部、具体的には前記連結部3側に位置している部分に
て相手側のケーシング1の側壁部4の内側面5と常に摺
接状態を保持することを可能にして形成されている。
Of these, FIG. 4 shows an open state in which the pressing force on the casings 1 is released, and in this case, the sliding contact guide portion 6 erected on the casing 1 on one side is It is formed so as to be able to always maintain a slidable contact state with the inner side surface 5 of the side wall portion 4 of the casing 1 of the other side at a part, specifically, a portion located on the side of the connecting portion 3. .

また、第5図は、ケーシング1相互を押圧した閉状態を
示すものであり、この場合、一方の側のケーシング1に
立設されている摺接案内部6は、その全長にわたり相手
側のケーシング1の側壁部4の内側面5と摺接状態が保
持されており、プローブ端子21の接触子22相互の対面関
係をより確実に保持することができる。
Further, FIG. 5 shows a closed state in which the casings 1 are pressed against each other. In this case, the sliding contact guide portion 6 erected on the casing 1 on one side extends over the entire length of the casing on the other side. Since the sliding contact state with the inner side surface 5 of the side wall portion 1 of the probe terminal 21 is maintained, the face-to-face relationship between the contactors 22 of the probe terminal 21 can be more reliably maintained.

なお、図中の符号33はケーシング1相互を固定している
支柱材を、34はコードをそれぞれ示す。
In the figure, reference numeral 33 indicates a pillar member that fixes the casings 1 to each other, and 34 indicates a cord.

この考案は、上述したようにして構成されているので、
ケーシング1,1相互に押圧力を付与しない不使用状
態、つまり第1図もしくは第4図に示す状態にあって
も、一方の側のケーシング1に設けてある摺接案内部6
の一部は、常に他方の側のケーシング1の前記溝部9
に、他方の側のケーシング1に設けてある摺接案内部6
の一部は、常に一方の側のケーシング1の前記溝部9
に、それぞれの側壁部4の内側面5に摺接させながら収
容させておくことができる。
Since this device is constructed as described above,
Even when the casings 1 and 1 are not in use, in which no pressing force is applied to each other, that is, in the state shown in FIG. 1 or 4, the sliding contact guide portion 6 provided on the casing 1 on one side.
Part of the groove portion 9 of the casing 1 on the other side is always
The sliding contact guide portion 6 provided on the casing 1 on the other side.
Part of the groove 9 of the casing 1 on one side is always
In addition, it can be housed while being in sliding contact with the inner side surface 5 of each side wall portion 4.

また、その使用に際し、ケーシング1,1相互に押圧力
を付与した使用状態、つまり、第5図に示す状態にあっ
ては、前記摺接案内部6のそれぞれは、その全長にわた
り、相手側ケーシング1の側壁部4の内側面5に摺接さ
せながら前記溝部9内に収容することができるので、こ
れらケーシング1内に収容して固定されているプローブ
端子21の接触子22相互も、常に正しい位置関係のもとで
対面させることができる。
Further, in the use state in which the casings 1 and 1 are pressed against each other in use, that is, in the state shown in FIG. 5, each of the sliding contact guide portions 6 extends over the entire length thereof and the other side casing. Since it can be housed in the groove portion 9 while being in sliding contact with the inner side surface 5 of the side wall portion 4 of No. 1, the contacts 22 of the probe terminals 21 housed and fixed in the casing 1 are always correct. They can be face-to-face in a positional relationship.

したがって、前記接触子22を介して微小な被測定素子を
挟持したり、微細な被測定点に接触させようとするとき
であっても、これらの接触子22相互が互い違いの横方向
へと捩れ変形することを防止することができ、被測定素
子を弾き飛ばしてしまうといったような不都合を未然に
防ぐことができる。
Therefore, even when a small element to be measured is sandwiched via the contactor 22 or when an attempt is made to make contact with a minute point to be measured, these contactors 22 are twisted in alternate lateral directions. It is possible to prevent deformation, and it is possible to prevent inconvenience such as flipping the device under test.

[考案の効果] 以上述べたように、この考案によれば、ピンセット形プ
ローブを構成する1対のケーシングを剛性に劣り可撓性
のある合成樹脂材により形成しても、ケーシングのそれ
ぞれには、相手側ケーシングとの間で位置規制を行なう
ことができる摺接案内部を設けてあるので、これらケー
シング相互を閉方向へと押圧しても、常にプローブ端子
の接触子相互に対し正しく対面させた位置関係を保持さ
せることができ、微小な被測定素子であっても前記接触
子を介して確実に挟持したり、被測定点に接触させたり
することができる。
[Advantage of the Invention] As described above, according to the present invention, even if a pair of casings forming the tweezers type probe is formed of a synthetic resin material having poor rigidity and flexibility, each casing has Since there is a sliding contact guide that can regulate the position with the mating casing, even if these casings are pressed in the closing direction, they must always be correctly faced to each other. The positional relationship can be maintained, and even a small element to be measured can be reliably sandwiched via the contactor or can be brought into contact with the point to be measured.

しかも、1対のケーシングは、同一の形状のものを左右
対称とした状態のもとで相互に組み合わせて形成するこ
とができ、製品コストの低減化に寄与させることができ
る。
In addition, the pair of casings can be formed by mutually combining the same shapes in a state of being bilaterally symmetrical, which can contribute to reduction of product cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、この考案の一実施例を示す正面図、第2図
は、その内部構造を示す右側面図、第3図は、第1図の
底面図、第4図は、第1図の縦断面図、第5図は、第1
図を閉状態にした場合の縦断面図である。 1…ケーシング、2…先端部、 3…基端部、4…側壁部、 5…内側面、6…摺接案内部、 7…底壁部、8…内底面、 9…溝部、10…隔壁部、 11…連結部、12…止着用突起部、 21…プローブ端子、22…接触子
FIG. 1 is a front view showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a right side view showing its internal structure, FIG. 3 is a bottom view of FIG. 1, and FIG. FIG. 5 is a longitudinal sectional view of FIG.
It is a longitudinal cross-sectional view at the time of making a figure into a closed state. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Casing, 2 ... Tip part, 3 ... Base end part, 4 ... Side wall part, 5 ... Inner side surface, 6 ... Sliding contact guide part, 7 ... Bottom wall part, 8 ... Inner bottom surface, 9 ... Groove part, 10 ... Partition wall Part, 11 ... connecting part, 12 ... fixing projection part, 21 ... probe terminal, 22 ... contactor

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】接触子を先端部から突出させたプローブ端
子が収容され、かつ、基端部側に位置する連結部を介し
て略V字状となって前記先端部相互の開閉を可能にして
連結される1対のケーシングのそれぞれには、相互に相
手側ケーシングの側壁部の内側面にて常に摺接可能とし
た部位を有してなる摺接案内部を設け、この摺接案内部
と前記側壁部との間で位置規制させることで、常に前記
接触子相互の対面関係の保持を可能としたことを特徴と
するピンセット形プローブ。
1. A probe terminal, in which a contact is projected from a tip end portion, is accommodated, and is formed into a substantially V shape through a connecting portion located on a base end portion side so that the tip end portions can be opened and closed. Each of the pair of casings connected to each other is provided with a sliding contact guide portion having a portion capable of always sliding contact with the inner side surface of the side wall portion of the mating casing. A tweezers-shaped probe characterized in that it is possible to always maintain a facing relationship between the contacts by controlling the position between the contact and the side wall portion.
JP15788788U 1988-12-03 1988-12-03 Tweezers type probe Expired - Lifetime JPH0611459Y2 (en)

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JPH0277671U JPH0277671U (en) 1990-06-14
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JP15788788U Expired - Lifetime JPH0611459Y2 (en) 1988-12-03 1988-12-03 Tweezers type probe

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Families Citing this family (2)

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KR100709356B1 (en) * 2005-10-31 2007-04-20 주식회사 테스코 Multi probe instrument for testing electric device
JP6144984B2 (en) * 2013-07-16 2017-06-07 日置電機株式会社 Correction jig

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