JPH06111218A - 磁気記憶装置のエラー再試行方法および装置 - Google Patents
磁気記憶装置のエラー再試行方法および装置Info
- Publication number
- JPH06111218A JPH06111218A JP25785092A JP25785092A JPH06111218A JP H06111218 A JPH06111218 A JP H06111218A JP 25785092 A JP25785092 A JP 25785092A JP 25785092 A JP25785092 A JP 25785092A JP H06111218 A JPH06111218 A JP H06111218A
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- Japan
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- reading
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Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気ヘッドコアの磁区の不安定性から生じるデ
ータエラーを再書き込みを行うことにより救済する。 【構成】磁気記憶装置におけるデータ読み出し時にエラ
ーが発生し、その再試行の際に当該アドレスの一部また
は特定のアドレスにダミーの書き込みを行い、再度読み
出しを実施する。
ータエラーを再書き込みを行うことにより救済する。 【構成】磁気記憶装置におけるデータ読み出し時にエラ
ーが発生し、その再試行の際に当該アドレスの一部また
は特定のアドレスにダミーの書き込みを行い、再度読み
出しを実施する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記憶装置のエラー再
試行方法に関する。
試行方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、磁気記憶装置等におけるエラー再
試行方法は、エラー発生を検出するとそのままの状態
で再度読み出しを行う。データ弁別ウィンドを変化さ
せて再度読み出しを行う。磁気ヘッドをオフセットさ
せて（オントラックの位置から若干ずらして）再読み出
しを行う等の方法が用いられている。
試行方法は、エラー発生を検出するとそのままの状態
で再度読み出しを行う。データ弁別ウィンドを変化さ
せて再度読み出しを行う。磁気ヘッドをオフセットさ
せて（オントラックの位置から若干ずらして）再読み出
しを行う等の方法が用いられている。
【０００３】そのままの状態で再度読み出しを行う方法
は、例えば、外来ノイズ等の瞬間的なエラーに対応する
ものである。また、データ弁別ウィンドを変化させて再
度読み出を行う方法は、読み出し余裕度の低下等に対応
するものである。そして、オフセットさせて再読み出し
を行う方法は、外気温の変化等が原因で発生する熱的オ
フセットに対応するものである。
は、例えば、外来ノイズ等の瞬間的なエラーに対応する
ものである。また、データ弁別ウィンドを変化させて再
度読み出を行う方法は、読み出し余裕度の低下等に対応
するものである。そして、オフセットさせて再読み出し
を行う方法は、外気温の変化等が原因で発生する熱的オ
フセットに対応するものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来のエラー再試行方
法においては、再試行の際は何れの場合も読み出しのみ
であるため、磁気ヘッドコアの磁区の不安定性から発生
すると言われているバルクハウゼンノイズ等に起因する
エラーに対しては救済ができないという重大な欠点があ
る。
法においては、再試行の際は何れの場合も読み出しのみ
であるため、磁気ヘッドコアの磁区の不安定性から発生
すると言われているバルクハウゼンノイズ等に起因する
エラーに対しては救済ができないという重大な欠点があ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上述したバルクハウゼン
ノイズ等に起因するエラ−に対しては、磁気ヘッドコア
の磁区の不安定性を解消するために再度書き込みを実施
するのが有効な手段といわれている。従って、磁気記憶
装置における読み出し時にエラーが発生した場合の再試
行を行う際に、当該アドレスに一部または特定アドレス
にダミーの書き込みを行ってから再度読み出しを実施す
ることによって目的が達成される。
ノイズ等に起因するエラ−に対しては、磁気ヘッドコア
の磁区の不安定性を解消するために再度書き込みを実施
するのが有効な手段といわれている。従って、磁気記憶
装置における読み出し時にエラーが発生した場合の再試
行を行う際に、当該アドレスに一部または特定アドレス
にダミーの書き込みを行ってから再度読み出しを実施す
ることによって目的が達成される。
【０００６】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００７】図１は磁気記憶装置のエラー再試行方法を
示すフローチャートである。図２及び図３は当該レコー
ドおよびトラックに書き込みを行う場合のタイミングチ
ャートである。図４は本発明のエラー再試行方法を適用
した磁気記憶装置を示すブロック図である。
示すフローチャートである。図２及び図３は当該レコー
ドおよびトラックに書き込みを行う場合のタイミングチ
ャートである。図４は本発明のエラー再試行方法を適用
した磁気記憶装置を示すブロック図である。
【０００８】まず、読み出し時にエラーが発生した場
合、最初に再書き込みを行う。再書き込みは、図２また
は図３に示したように、当該トラックの特定部分に対し
て実施される。その後再度読み出しを行いエラーの有無
をチェックする。そして、再度エラーが発生した場合
は、従来と同様に弁別ウィンドウのシフトあるいはオフ
セットを付与して再読み出しを行う。図１の実施例では
再書き込みを最初に行っているが、従来通り最初に弁別
ウィンドウやオフセットによる試行を行った後に再書き
込みを実施して再度読み出しを行うことも可能である．
図２は再度書き込みを行う箇所が当該レコードの場合を
示しており、図３は当該トラックの場合を示している。
１レコードは図２に示すように、ＩＤ部１０１とＤＡＴ
Ａ部１０２とがＧＡＰ１〜ＧＡＰ３（１０３〜１０５）
を挟んで配置されている。ＩＤ部１０１は当該レコード
のアドレスや欠陥情報が記録されており、ＤＡＴＡ部１
０２は所望のデータが記録されている。通常、読み出し
を行う場合、図２に示す読み出し信号１０のタイミグで
行う。図２の場合ＤＡＴＡ部１０エラーが発生している
が、ＩＤ部１０１でもエラーの発生があり得る。
合、最初に再書き込みを行う。再書き込みは、図２また
は図３に示したように、当該トラックの特定部分に対し
て実施される。その後再度読み出しを行いエラーの有無
をチェックする。そして、再度エラーが発生した場合
は、従来と同様に弁別ウィンドウのシフトあるいはオフ
セットを付与して再読み出しを行う。図１の実施例では
再書き込みを最初に行っているが、従来通り最初に弁別
ウィンドウやオフセットによる試行を行った後に再書き
込みを実施して再度読み出しを行うことも可能である．
図２は再度書き込みを行う箇所が当該レコードの場合を
示しており、図３は当該トラックの場合を示している。
１レコードは図２に示すように、ＩＤ部１０１とＤＡＴ
Ａ部１０２とがＧＡＰ１〜ＧＡＰ３（１０３〜１０５）
を挟んで配置されている。ＩＤ部１０１は当該レコード
のアドレスや欠陥情報が記録されており、ＤＡＴＡ部１
０２は所望のデータが記録されている。通常、読み出し
を行う場合、図２に示す読み出し信号１０のタイミグで
行う。図２の場合ＤＡＴＡ部１０エラーが発生している
が、ＩＤ部１０１でもエラーの発生があり得る。
【０００９】エラー発正後再度書き込みを行う場合は、
図２の場合ＧＡＰ３（１０５）に設定されている。ＧＡ
Ｐ３（１０５）の後は次にレコードにＧＡＰ１（１０
３）であるため、比較的ＧＡＰ長が長いことを利用して
この部分に再書き込みを行うことにより、通常の書き込
み読み出し動作に影響を与えないで処理すること可能で
ある。
図２の場合ＧＡＰ３（１０５）に設定されている。ＧＡ
Ｐ３（１０５）の後は次にレコードにＧＡＰ１（１０
３）であるため、比較的ＧＡＰ長が長いことを利用して
この部分に再書き込みを行うことにより、通常の書き込
み読み出し動作に影響を与えないで処理すること可能で
ある。
【００１０】次に、図３の場合は、当該トラックの１レ
コードを再書き込み領域に設定した場合を示している。
各レコード２００〜２０５は図２に示した構造と同一で
あり、各レコード毎にＩＤ部及びＤＡＴＡ部を順に読み
出している。そして、１トラック内に０〜ｎまでの複数
レコードが配置され、その中の最終レコードｎ２０５に
再書き込みを行っている。即ち、レコードｎ（２０５）
は再書き込み専用のコードであり、通常データの記録に
は使用されない。
コードを再書き込み領域に設定した場合を示している。
各レコード２００〜２０５は図２に示した構造と同一で
あり、各レコード毎にＩＤ部及びＤＡＴＡ部を順に読み
出している。そして、１トラック内に０〜ｎまでの複数
レコードが配置され、その中の最終レコードｎ２０５に
再書き込みを行っている。即ち、レコードｎ（２０５）
は再書き込み専用のコードであり、通常データの記録に
は使用されない。
【００１１】従って、実行記憶内量は低下するが、レコ
ードｎ（２０５）の長さは他のレコード０〜ｎ−２（２
００〜２０４）と同一である必要はなく、図２に示した
ＧＡＰ３（１０５）の長さ程度でも構わないために実質
上殆ど問題にはならない。また、再書き込み領域の長さ
はそれほど必要ではなく、単に磁気ヘッドコアの磁区の
不安性定を解消するためであることから数バイトもあれ
ば十分である。
ードｎ（２０５）の長さは他のレコード０〜ｎ−２（２
００〜２０４）と同一である必要はなく、図２に示した
ＧＡＰ３（１０５）の長さ程度でも構わないために実質
上殆ど問題にはならない。また、再書き込み領域の長さ
はそれほど必要ではなく、単に磁気ヘッドコアの磁区の
不安性定を解消するためであることから数バイトもあれ
ば十分である。
【００１２】図２及び図３は当該レコード及び当該トラ
ックに再書き込みを行う場合を示しているが、他の方法
として特定アドレスに再書き込みを行う方法が考えられ
る。例えば、特定のシリンダを再書き込み用に割り当て
る方法が考えられる。この場合は再試行当該シリンダに
移動して再読み出しを実施する。その後は図１に示した
フローチャートに従って処理を行う。
ックに再書き込みを行う場合を示しているが、他の方法
として特定アドレスに再書き込みを行う方法が考えられ
る。例えば、特定のシリンダを再書き込み用に割り当て
る方法が考えられる。この場合は再試行当該シリンダに
移動して再読み出しを実施する。その後は図１に示した
フローチャートに従って処理を行う。
【００１３】さらに他の例としては特定のシリンダの特
定トラックを再書き込み用に割り当てる方法が考えられ
る。この場合も再試行の前に特定シリンダに移動するこ
とになるのに加えてトラックの切り替えを行う必要があ
る。その後特定トラックに移動して再読み出しを実施す
る。その後は前例と同様に図１に示したフローチャート
に従って処理を行う。
定トラックを再書き込み用に割り当てる方法が考えられ
る。この場合も再試行の前に特定シリンダに移動するこ
とになるのに加えてトラックの切り替えを行う必要があ
る。その後特定トラックに移動して再読み出しを実施す
る。その後は前例と同様に図１に示したフローチャート
に従って処理を行う。
【００１４】次に、図４を参照して本発明のエラー再試
行方法を磁気記憶装置に適用した場合について説明す
る。
行方法を磁気記憶装置に適用した場合について説明す
る。
【００１５】本実施例の構成は従来と同様に制御装置
１，インターフェース回路２，リードライト回路３，サ
ーボ回路４，スピンドル駆動回路５及びヘッド・ディス
ク組み立体（以下ＨＤＡ６という）からなっている。制
御装置１はインターフェース回路３，サーボ回路及びス
ピンドル駆動回路５を制御し、書き込み読み出しを行う
アドレスへのアクセス制御、書き込み読み出しのタイミ
ング制御、スピンドルの回転制御等に加えて、読み出し
たデータのチェックや再試行の制御を行っている。
１，インターフェース回路２，リードライト回路３，サ
ーボ回路４，スピンドル駆動回路５及びヘッド・ディス
ク組み立体（以下ＨＤＡ６という）からなっている。制
御装置１はインターフェース回路３，サーボ回路及びス
ピンドル駆動回路５を制御し、書き込み読み出しを行う
アドレスへのアクセス制御、書き込み読み出しのタイミ
ング制御、スピンドルの回転制御等に加えて、読み出し
たデータのチェックや再試行の制御を行っている。
【００１６】ここで、データの読み出しを行う場合に
は、まず、制御装置１からサーボ回路４を制御して所望
のシリンダに移動を行い、次いでリードライト回路３を
制御して所望のトラックを選択する。そして、図２およ
び図３に示したタイミングでデータの読み出しを行い、
読み出したデータにエラーが無ければ、読み出し動作は
終了したエラーが発生した場合には再試行を行う。
は、まず、制御装置１からサーボ回路４を制御して所望
のシリンダに移動を行い、次いでリードライト回路３を
制御して所望のトラックを選択する。そして、図２およ
び図３に示したタイミングでデータの読み出しを行い、
読み出したデータにエラーが無ければ、読み出し動作は
終了したエラーが発生した場合には再試行を行う。
【００１７】次に、再試行の方法が図１に示すフローチ
ャート，図２に示すタイミングチャートの場合、制御装
置１は、まず、当該レコードのＧＡＰ３（１０５）の一
部に再書き込みを行う命令をリードライト回路３に送出
し、これに従ってリードライト回路３がＨＤＡ６内のデ
ィスク媒体にデータを書き込む。書き込むデータは特に
意味は無く、この場合ＧＡＰパターン（通常オール
“０”）である。
ャート，図２に示すタイミングチャートの場合、制御装
置１は、まず、当該レコードのＧＡＰ３（１０５）の一
部に再書き込みを行う命令をリードライト回路３に送出
し、これに従ってリードライト回路３がＨＤＡ６内のデ
ィスク媒体にデータを書き込む。書き込むデータは特に
意味は無く、この場合ＧＡＰパターン（通常オール
“０”）である。
【００１８】次に、図２に示した読み出し信号１０のタ
イミングでデータの読み出しを行い、エラ−の有無をチ
ェックする。ここで、再びエラーが発生した場合は、図
１のフローチャートに従い弁別ウィンドのシフトを行
う。この弁別ウィンドのシフトは通常アーリイ／レート
と呼ぶ、そして、データと弁別ウィンドとのタイミング
を故意にずらす行為がなされる。この場合、弁別ウィン
ドを固定して考えると、アーリイはデータを進相に、レ
ートはデータを遅相にずらしている。
イミングでデータの読み出しを行い、エラ−の有無をチ
ェックする。ここで、再びエラーが発生した場合は、図
１のフローチャートに従い弁別ウィンドのシフトを行
う。この弁別ウィンドのシフトは通常アーリイ／レート
と呼ぶ、そして、データと弁別ウィンドとのタイミング
を故意にずらす行為がなされる。この場合、弁別ウィン
ドを固定して考えると、アーリイはデータを進相に、レ
ートはデータを遅相にずらしている。
【００１９】制御装置１がウィンドのシフト命令を読み
出し命令と共にリードライト回路３に送出すると、リー
ドライト回路３の中にある弁別ウィンドとデータのタイ
ミングとがシフトし、読み出し余裕度が変化した状態で
データの読み出しを行う。これでもまだエラーが発生す
る場合は、次にオフセットによる再試行を行う。
出し命令と共にリードライト回路３に送出すると、リー
ドライト回路３の中にある弁別ウィンドとデータのタイ
ミングとがシフトし、読み出し余裕度が変化した状態で
データの読み出しを行う。これでもまだエラーが発生す
る場合は、次にオフセットによる再試行を行う。
【００２０】制御装置１がオフセット命令をサーボ回路
４に送出すると、ターボ回路４は書き込み読み出しを行
う磁気ヘッドをオントラックの位置から僅かにオフセッ
トさせる。オフセットの量は通常トラックピッチの１／
１０程度である。この状態で制御装置１がリードライト
回路３に読み出し命令を送出し、データの読み出しを行
う。
４に送出すると、ターボ回路４は書き込み読み出しを行
う磁気ヘッドをオントラックの位置から僅かにオフセッ
トさせる。オフセットの量は通常トラックピッチの１／
１０程度である。この状態で制御装置１がリードライト
回路３に読み出し命令を送出し、データの読み出しを行
う。
【００２１】通常はここまで再試行を行えばエラーは無
くなるはずであるあるが、まだエラ−が発生する場合
は、再び最初に実施した再書き込みを行うことになり、
上述の処理を繰り返しエラーが無くなるまで続ける。
くなるはずであるあるが、まだエラ−が発生する場合
は、再び最初に実施した再書き込みを行うことになり、
上述の処理を繰り返しエラーが無くなるまで続ける。
【００２２】
【発明の効果】本発明は上述したように、読み出し時に
エラーが発生した場合の再試行を行う際に、当該アドレ
スの一部または特定アドレスにダミーの書き込みを行っ
てから再度読み出しを実施することにより、磁気ヘッド
コアの磁区の不安定性から発生するバルクハウゼンノイ
ズ等に起因するデータエラーの救済が確実に行われると
いう優れた効果が得られる。
エラーが発生した場合の再試行を行う際に、当該アドレ
スの一部または特定アドレスにダミーの書き込みを行っ
てから再度読み出しを実施することにより、磁気ヘッド
コアの磁区の不安定性から発生するバルクハウゼンノイ
ズ等に起因するデータエラーの救済が確実に行われると
いう優れた効果が得られる。
【図１】本発明の処理の流れを示すフローチャートであ
る。
る。
【図２】当該レコードに書き込みを行う場合のタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図３】当該トラックに書き込みを行う場合のタイミン
グチャートである。
グチャートである。
【図４】本発明を適用した磁気記憶装置を示すブロック
図である。
図である。
１ 制御装置 ２ インターフェース ３ リードライト回路 ４ サーボ回路 ５ スピンドル駆動回路 ６ ＨＤＡ １０ 読み出し信号 ２０ エラー信号 ３０ ライト信号 ４０ ライトデータ １０１ ＩＤ部 １０２ ＤＡＴＡ部 １０３〜１０５ ＧＡＰ１〜ＧＡＰ３ ２００〜２０５ レコード０〜レコードｎ
Claims (2)
- 【請求項１】 磁気記憶装置におけるデータ読み出し時
にエラーが発生した場合の再試行を行う際に、当該アド
レスの一部または特定アドレスにダミーデータを書き込
んだ後、再度データ読み出しを実施することを特徴とす
る磁気記憶装置のエラー再試行方法。 - 【請求項２】 請求項１記載のエラー再試行方法を適用
したことを特徴とする磁気記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25785092A JPH06111218A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 磁気記憶装置のエラー再試行方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25785092A JPH06111218A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 磁気記憶装置のエラー再試行方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06111218A true JPH06111218A (ja) | 1994-04-22 |
Family
ID=17312028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25785092A Pending JPH06111218A (ja) | 1992-09-28 | 1992-09-28 | 磁気記憶装置のエラー再試行方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06111218A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5995310A (en) * | 1996-03-19 | 1999-11-30 | Hitachi, Ltd. | Magnetic disk device with dummy write function |
| KR100745204B1 (ko) * | 2005-11-07 | 2007-08-01 | 한양대학교 산학협력단 | 강제 기록을 이용한 대용량 저장 장치의 배드 블록 처리방법 및 장치 |
| KR100882904B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-02-10 | 한양대학교 산학협력단 | 저장 장치의 오류 발생 시스템 |
-
1992
- 1992-09-28 JP JP25785092A patent/JPH06111218A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5995310A (en) * | 1996-03-19 | 1999-11-30 | Hitachi, Ltd. | Magnetic disk device with dummy write function |
| US6151181A (en) * | 1996-03-19 | 2000-11-21 | Hitachi, Ltd. | Magnetic disk device with dummy write function |
| KR100745204B1 (ko) * | 2005-11-07 | 2007-08-01 | 한양대학교 산학협력단 | 강제 기록을 이용한 대용량 저장 장치의 배드 블록 처리방법 및 장치 |
| KR100882904B1 (ko) * | 2007-11-02 | 2009-02-10 | 한양대학교 산학협력단 | 저장 장치의 오류 발생 시스템 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19990105 |