JPH06109781A - Power reset circuit and display error prevention device using the circuit - Google Patents

Power reset circuit and display error prevention device using the circuit

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JPH06109781A
JPH06109781A JP5102724A JP10272493A JPH06109781A JP H06109781 A JPH06109781 A JP H06109781A JP 5102724 A JP5102724 A JP 5102724A JP 10272493 A JP10272493 A JP 10272493A JP H06109781 A JPH06109781 A JP H06109781A
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power supply
voltage
reference voltage
ref2
transistor
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Hirokazu Tagiri
宏和 田切
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Abstract

PURPOSE:To constitute a power reset circuit without using either of enhancement and depression type processes. CONSTITUTION:Reference voltage REF2 is generated, by use of a transistor Tr incidental to an MOS process, and a Zener diode connected thereto. This reference voltage REF2 drops at a gradient approximately equal to the case of power voltage VDD, when the voltage VDD is equal to or above the breakdown voltage of another Zener diode ZD. In this case, another reference voltage REF1 is available from the division of the voltage VDD with resistors R3 and R4. The reference voltage REF1 is compared with the reference voltage RE2 via a comparator 10. When the reference voltage REF1 is higher than the reference voltage REF2, a power reset signal RESET is generated at high level.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、電源電圧の低下に応じ
て搭載機器の動作をリセットする電源リセット回路に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a power supply reset circuit that resets the operation of an on-board device in response to a decrease in power supply voltage.

【0002】[0002]

【従来の技術】マイクロコンピュータ等の機器において
は、電源電圧の低下が生じるとそれに伴い誤動作が生じ
てしまうため、通常、電源リセット回路が搭載されてい
る。この電源リセット回路は、IC又はその一部として
構成され、例えば図10に示されるような構成を有して
いる。
2. Description of the Related Art In equipment such as a microcomputer, a power supply reset circuit is usually mounted because a malfunction occurs when the power supply voltage drops. This power supply reset circuit is configured as an IC or a part thereof, and has a configuration as shown in FIG. 10, for example.

【0003】この図に示されるのは、エンハンスメント
形NMOS FET及びデプレション形NMOS FE
Tにより二種類の参照電圧を発生させ、これらを比較す
ることにり電源リセット信号を生成する回路である。
This figure shows an enhancement type NMOS FET and a depletion type NMOS FE.
This is a circuit that generates two kinds of reference voltages by T and compares them to generate a power supply reset signal.

【0004】すなわち、デプレション形NMOS FE
TであるTr1とエンハンスメント形NMOS FET
であるTr2を用いて電源電圧VDDの低下を検出し参
照電圧REF1を生成する一方で、エンハンスメント形
NMOS FETであるTr3及びデプレション形NM
OS FETであるTr4を用いて電源電圧VDDの低
下を検出し参照電圧REF2を生成する。比較器10
は、これら参照電圧REF1とREF2とを比較し、前
者が大である場合に電源リセット信号RESETをHと
する。すなわち、このような回路によって生成される参
照電圧REF1及びREF2は、図11に示されるよう
に電源電圧VDDが高い領域ではREF1<REF2で
あるが、電源電圧VDDが低下するとREF1>REF
2となる。従って、この様な参照電圧の変化を利用し、
REF1とREF2を比較器10において比較すること
により電源電圧VDDの低下を検出することができる。
こうして得られた電源リセット信号RESETをマイク
ロコンピュータ等の各部回路に供給することにより、リ
セットを加え、誤動作を防止することができる。
That is, a depletion type NMOS FE
Tr1 which is T and enhancement type NMOS FET
While using Tr2 that is a transistor to detect a decrease in the power supply voltage V DD to generate a reference voltage REF1, an enhancement type NMOS FET, Tr3, and a depletion type NM are used.
Tr4, which is an OS FET, is used to detect a decrease in the power supply voltage V DD and generate a reference voltage REF2. Comparator 10
Compares these reference voltages REF1 and REF2 and sets the power supply reset signal RESET to H when the former is high. That is, the reference voltages REF1 and REF2 generated by such a circuit are REF1 <REF2 in a region where the power supply voltage V DD is high as shown in FIG. 11, but REF1> REF when the power supply voltage V DD is reduced.
It becomes 2. Therefore, using such a change in the reference voltage,
By comparing REF1 and REF2 in the comparator 10, it is possible to detect a decrease in the power supply voltage V DD .
By supplying the power supply reset signal RESET thus obtained to each circuit of the microcomputer or the like, it is possible to reset and prevent malfunction.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにエンハンスメント形NMOS FETとデプレショ
ン形NMOS FETとを用いて回路を構成しようとす
る場合、エンハンスメント形とデプレション形それぞれ
についてマスク等を用意し対応する製造工程を設ける必
要があるため、製造コストが高くなってしまう。また、
エンハンスメント形とデプレション形のNMOS FE
Tは別の拡散工程で作成されるため、そのしきい値電圧
は各々異なる傾向でばらついてしまう。更に、このしき
い値は温度に応じて変化するが、この変化の傾向はエン
ハンスメント形とデプレション形とで異なる傾向であ
る。従って、従来においては、製造コストが高いという
問題点に加え、しきい値のばらつきやその温度特性によ
って電源リセット信号の電圧値が変化してしまうという
問題点があった。
However, when a circuit is to be constructed by using the enhancement type NMOS FET and the depletion type NMOS FET in this way, a mask or the like is prepared for each of the enhancement type and the depletion type. Since it is necessary to provide a manufacturing process for this, the manufacturing cost increases. Also,
Enhancement type and depletion type NMOS FE
Since T is formed by another diffusion process, its threshold voltage varies with different tendencies. Further, although this threshold value changes with temperature, the tendency of this change is different between the enhancement type and the depletion type. Therefore, in the related art, in addition to the problem that the manufacturing cost is high, there is a problem that the voltage value of the power supply reset signal changes due to the variation of the threshold value and its temperature characteristic.

【0006】本発明は、このような問題点を解決するこ
とを課題としてなされたものであり、エンハンスメント
形NMOS FETとデプレション形NMOS FET
等を併せて用いることなくMOSプロセスで電源リセッ
ト回路を製造可能とし、以て製造コストの低減、電源リ
セット信号のばらつきやその温度変化の抑制を実現する
ことを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and it is an enhancement type NMOS FET and a depletion type NMOS FET.
An object of the present invention is to make it possible to manufacture a power supply reset circuit by a MOS process without using the above and the like, thereby reducing the manufacturing cost and suppressing variations in power supply reset signals and temperature changes thereof.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明の請求項1に係る電源リセット回路
は、電源電圧VDDを分圧して第1の参照電圧REF1
を発生させる分圧手段と、オフ時に電源電圧VDDとほ
ぼ同じ勾配で低下する電圧を第2の参照電圧REF2と
して出力するスイッチング素子と、第1の参照電圧RE
F1と第2の参照電圧REF2とを比較し第1の参照電
圧REF1が高い場合に電源リセット信号RESETを
出力する比較手段と、を備え、第1の参照電圧REF1
と第2の参照電圧REF2の比較により電源電圧VDD
の低下を検出することを特徴とする。
In order to achieve such an object, a power supply reset circuit according to a first aspect of the present invention divides a power supply voltage V DD into a first reference voltage REF1.
A voltage dividing means for generating a voltage, a switching element that outputs a voltage that drops at a gradient substantially the same as the power supply voltage V DD when turned off as a second reference voltage REF2, and a first reference voltage RE.
Comparing means for comparing F1 with the second reference voltage REF2 and outputting the power supply reset signal RESET when the first reference voltage REF1 is high, the first reference voltage REF1
And the second reference voltage REF2 are compared, the power supply voltage VDD
Is detected.

【0008】また、本発明の請求項2に係る電源リセッ
ト回路は、電源電圧VDDを分圧して第1の参照電圧R
EF1を発生させる分圧手段と、オン時に電源電圧V
DDとほぼ同じ勾配で低下する電圧を第2の参照電圧R
EF2として出力するスイッチング素子と、第1の参照
電圧REF1と第2の参照電圧REF2とを比較し第2
の参照電圧REF2が高い場合に電源リセット信号RE
SETを出力する比較手段と、を備え、第1の参照電圧
REF1と第2の参照電圧REF2の比較により電源電
圧VDDの低下を検出することを特徴とする。
In the power supply reset circuit according to the second aspect of the present invention, the power supply voltage V DD is divided to generate the first reference voltage R.
Voltage dividing means for generating EF1 and power supply voltage V when turned on
The second reference voltage R is a voltage that decreases with almost the same gradient as DD.
The switching element that outputs as EF2 is compared with the first reference voltage REF1 and the second reference voltage REF2, and the second reference voltage REF2 is compared.
Power supply reset signal RE when the reference voltage REF2 of
And comparing means for outputting SET, and detecting a decrease in the power supply voltage V DD by comparing the first reference voltage REF1 and the second reference voltage REF2.

【0009】さらに、本発明の請求項3に係る電源リセ
ット回路は、スイッチング素子が、MOSプロセスで発
生する寄生トランジスタであることを特徴とする。
Further, the power supply reset circuit according to a third aspect of the present invention is characterized in that the switching element is a parasitic transistor generated in a MOS process.

【0010】そして、本発明の請求項4に係る画面誤表
示防止システムは、揮発性記憶素子上に格納されたデー
タに基づき表示装置の画面上に文字等を重畳表示させる
オンスクリーンディスプレイ制御手段と、電源電圧V
DDが低下した場合に電源リセット信号を出力し少なく
とも上記揮発性記憶素子に供給する本発明の電源リセッ
ト回路と、を備えることを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided an on-screen display control means for displaying characters on a screen of a display device in a superimposed manner based on data stored in a volatile storage element. , Power supply voltage V
And a power supply reset circuit of the present invention which outputs a power supply reset signal and supplies at least the volatile memory element when DD is lowered.

【0011】[0011]

【作用】本発明の請求項1又は2に係る電源リセット回
路においては、第1の参照電圧REF1が電源電圧V
DDの分圧によって生成される。従って、この第1の参
照電圧REF1は、電源電圧VDDの低下勾配より小さ
い勾配で低下する。一方で、スイッチング素子は、オフ
又はオン時に、電源電圧VDDとほぼ同じ勾配で低下す
る電圧を第2の参照電圧REF2として出力する。従っ
て、スイッチング素子のオフ又はオン時には、第2の参
照電圧REF2の低下勾配は、第1の参照電圧REF1
の低下勾配より急であるため、電源電圧VDDがある値
を取る時に両者は等しい値となる。従って、第1の参照
電圧REF1と第2の参照電圧REF2の大小関係を比
較することにより、電源電圧VDDの低下を検出するこ
とができ、これを用いて電源リセット信号を生成するこ
とができる。また、このような構成を有する電源リセッ
ト回路は、スイッチング素子としては第2の参照電圧R
EF2発生用のスイッチング素子しか用いないため、製
造時にデプレション形とエンハンスメント形の両方のプ
ロセスを用いる必要がない。
In the power reset circuit according to the first or second aspect of the present invention, the first reference voltage REF1 is the power supply voltage V.
It is generated by the partial pressure of DD . Therefore, the first reference voltage REF1 drops with a slope smaller than the slope with which the power supply voltage V DD drops. On the other hand, the switching element outputs, as the second reference voltage REF2, a voltage that drops at a gradient substantially equal to the power supply voltage V DD when it is off or on. Therefore, when the switching element is off or on, the slope of decrease of the second reference voltage REF2 is the same as the first reference voltage REF1.
Since the power supply voltage V DD has a certain value, the both values are equal. Therefore, by comparing the magnitude relationship between the first reference voltage REF1 and the second reference voltage REF2, it is possible to detect a decrease in the power supply voltage V DD and use this to generate a power supply reset signal. . Further, the power supply reset circuit having such a configuration uses the second reference voltage R as the switching element.
Since only the switching element for generating EF2 is used, it is not necessary to use both the depletion type process and the enhancement type process during manufacturing.

【0012】請求項3においては、請求項1又は2にお
けるスイッチング素子が寄生トランジスタとして構成さ
れる。すなわち、MOSプロセスにおいて寄生的に発生
するトランジスタを請求項1乃至5におけるトランジス
タとして用いることができるため、トランジスタ構成の
ために製造工程が増加することがない。
In a third aspect, the switching element according to the first or second aspect is configured as a parasitic transistor. That is, since a transistor that is parasitically generated in the MOS process can be used as the transistor according to the first to fifth aspects, the number of manufacturing steps does not increase due to the transistor configuration.

【0013】そして、請求項4においては、電源リセッ
ト回路が、電源電圧VDDが低下した場合に少なくとも
揮発性記憶素子に電源リセット信号を供給する。この揮
発性記憶素子は、表示装置の画面上に重畳表示させるべ
き文字等を示すデータを格納している。したがって、電
源電圧が低下しその後復旧した場合にも、オンスクリー
ンディスプレイに係る文字等が、乱れて表示されること
がなくなる。
According to another aspect of the present invention, the power supply reset circuit supplies the power supply reset signal to at least the volatile storage element when the power supply voltage V DD drops. This volatile storage element stores data indicating a character or the like to be superimposed and displayed on the screen of the display device. Therefore, even when the power supply voltage is lowered and then restored, the characters and the like relating to the on-screen display are not disturbed and displayed.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の好適な実施例について図面に
基づき説明する。なお、図10及び図11に示される従
来例と同様の構成には同一の記号を付し説明を省略す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. The same components as those of the conventional example shown in FIGS. 10 and 11 are designated by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0015】図1には、本発明の第1実施例に係る電源
リセット回路の構成が示されている。この図に示される
ように、本実施例には、従来例におけるTr1〜Tr4
に代え、トランジスタTr、ツェナーダイオードZD、
抵抗R1〜R4が用いられている。また、この実施例
は、PサブNウェルのMOSプロセスで製造される回路
である。
FIG. 1 shows the configuration of a power supply reset circuit according to the first embodiment of the present invention. As shown in this figure, this embodiment includes Tr1 to Tr4 in the conventional example.
Instead of transistor Tr, Zener diode ZD,
Resistors R1 to R4 are used. In addition, this embodiment is a circuit manufactured by a P sub N well MOS process.

【0016】抵抗R3及びR4は、電源電圧VDDを分
圧することにより参照電圧REF1を発生させる。この
参照電圧REF1は、比較器10の非反転入力端子に入
力される。また、トランジスタTrのエミッタは比較器
10の反転入力端子に接続されている。このトランジス
タTrのエミッタからは参照電圧REF2が出力され
る。
The resistors R3 and R4 generate the reference voltage REF1 by dividing the power supply voltage V DD . The reference voltage REF1 is input to the non-inverting input terminal of the comparator 10. The emitter of the transistor Tr is connected to the inverting input terminal of the comparator 10. The reference voltage REF2 is output from the emitter of the transistor Tr.

【0017】参照電圧REF2を発生させるトランジス
タTrは、後述するようにMOSプロセスにおいて寄生
的に発生するトランジスタである。トランジスタTrの
ベースは、ツェナーダイオードZDを介して電源に接続
されており、また、抵抗R2を介して接地されている。
トランジスタTrのコレクタは接地され、エミッタは抵
抗R1を介して電源に接続されている。
The transistor Tr for generating the reference voltage REF2 is a transistor parasitically generated in the MOS process as described later. The base of the transistor Tr is connected to the power supply via the Zener diode ZD, and is also grounded via the resistor R2.
The collector of the transistor Tr is grounded, and the emitter is connected to the power supply via the resistor R1.

【0018】図2には、この実施例の動作が示されてい
る。この図に示されるように、参照電圧REF1は、電
源電圧VDDを抵抗R3及びR4によって分圧して得ら
れた電圧であるため、電源電圧VDDに比例して低下す
る。一方、参照電圧REF2は、トランジスタTrの動
作によって非線形に低下し、電源電圧VDDがツェナー
ダイオードZDの降伏電圧V以上の領域C及びトラン
ジスタTrがオンするベースエミッタ間電圧V以下の
領域Aでは、電源電圧VDDと同一勾配で低下する。電
源電圧VDDがV以上V以下の領域Bでは、参照電
圧REF2は一定の値をとる。
The operation of this embodiment is shown in FIG. As shown in this figure, the reference voltage REF1 is a voltage obtained by dividing the power supply voltage V DD by the resistors R3 and R4, and therefore decreases in proportion to the power supply voltage V DD . On the other hand, the reference voltage REF2 decreases non-linearly by the operation of the transistor Tr, and the region C in which the power supply voltage V DD is equal to or higher than the breakdown voltage V Z of the Zener diode ZD and the region A in which the transistor Tr is turned on and the voltage between base and emitter is V F or lower. Then, the voltage decreases with the same gradient as the power supply voltage V DD . In the power supply voltage V DD V F or V Z the following areas see B, voltage REF2 takes a constant value.

【0019】このように参照電圧REF2が非線形に低
下するのは、次の様な動作による。すなわち、電源電圧
DDがV以下の領域Aにおいては、トランジスタT
rがオフ状態であるためそのベースエミッタ間電圧は電
源電圧VDDと等しい。参照電圧REF2は、トランジ
スタTrのエミッタ電位であるため、従って、図に示さ
れるように参照電圧REF1より大きな勾配で増加す
る。
The non-linear decrease of the reference voltage REF2 is due to the following operation. That is, in the region A where the power supply voltage V DD is lower than V F , the transistor T
Since r is off, its base-emitter voltage is equal to the power supply voltage V DD . Since the reference voltage REF2 is the emitter potential of the transistor Tr, it increases with a larger gradient than the reference voltage REF1 as shown in the figure.

【0020】次に電源電圧VDDがVを超えると、ト
ランジスタTrがオンするため、参照電圧REF2は、
この時点での電源電圧VDDの値に維持される。すなわ
ち、電源電圧VDDが電圧V以上の領域Bでは、参照
電圧REF2は、Vに維持される。この後、電源電圧
DDがツェナーダイオードZDの降伏電圧Vに至る
と、トランジスタTrのベース電位が電源電圧VDD
プルアップされるため、トランジスタTrは再びオフ状
態となる。従って、電源電圧VDDがツェナーダイオー
ドZD降伏電圧V以上の領域Cにおいては、参照電圧
REF2は電源電圧VDDと同じ勾配で増加する。この
様に参照電圧REF2は、電源電圧V に対して非線
形である。
Next, when the power supply voltage V DD exceeds V F , the transistor Tr is turned on, so that the reference voltage REF2 becomes
The value of the power supply voltage V DD at this point is maintained. That is, in the region B where the power supply voltage V DD is equal to or higher than the voltage V F , the reference voltage REF2 is maintained at V F. After that, when the power supply voltage V DD reaches the breakdown voltage V Z of the Zener diode ZD, the base potential of the transistor Tr is pulled up to the power supply voltage V DD , so that the transistor Tr is turned off again. Therefore, the power supply voltage V DD in the Zener diode ZD breakdown voltage V Z or more regions C, the reference voltage REF2 is increased at the same slope as the power supply voltage V DD. Reference voltage REF2 in this manner, a non-linear with respect to power supply voltage V D D.

【0021】このような参照電圧REF1及びREF2
の傾向から明らかな様に、両者は、領域B及びC内のあ
る一点において等しい値となる。この2点により挟まれ
る電源電圧VDDの領域においては、参照電圧REF1
>REF2であるため、比較器10の出力はHとなる。
本実施例は、この特性を利用して電源リセット信号RE
SETを発生させるものである。
Such reference voltages REF1 and REF2
As is clear from the tendency of, both have the same value at a certain point in the regions B and C. In the region of the power supply voltage V DD sandwiched by these two points, the reference voltage REF1
Since> REF2, the output of the comparator 10 becomes H.
In this embodiment, the power supply reset signal RE is utilized by utilizing this characteristic.
This is to generate SET.

【0022】すなわち、図1に示されるような構成を有
する電気回路をマイクロコンピュータ等の機器に搭載し
た場合、電源電圧VDDの低下に伴い参照電圧REF1
とREF2の関係がREF2>REF1からREF1>
REF2に変化する。この時点で比較器10の出力はL
値からH値に変化するため、比較器10の出力を電源リ
セット信号RESETとして用いることにより、電源電
圧VDDの低下に応じてマイクロコンピュータ等の機器
の各部にリセットを加えることができる。
That is, when the electric circuit having the configuration shown in FIG. 1 is mounted on a device such as a microcomputer, the reference voltage REF1 is accompanied by a decrease in the power supply voltage V DD.
And REF2 have a relationship of REF2> REF1 to REF1>
Change to REF2. At this time, the output of the comparator 10 is L
Since the value changes from the H value to the H value, by using the output of the comparator 10 as the power supply reset signal RESET, it is possible to apply a reset to each part of the device such as the microcomputer according to the decrease of the power supply voltage V DD .

【0023】図3には、トランジスタTrの発生態様が
示されている。この図に示されるように、Pサブ上にN
ウェルをドープし、更にNウェルにP+ 及びN+ をドー
プした場合、Pサブをコレクタ、Nウェルをベース、N
ウェル上にドープしたP+ をエミッタとして、寄生トラ
ンジスタが構成される。本実施例におけるトランジスタ
Trは、このような寄生トランジスタを用いて構成され
るものであり、従って、格別の製造プロセスを必要とし
ない。
FIG. 3 shows how the transistor Tr is generated. As shown in this figure, N on the P-sub
When the well is doped and the N well is further doped with P + and N + , the P sub is the collector, the N well is the base, and the N well is N.
A parasitic transistor is formed by using P + doped on the well as an emitter. The transistor Tr in the present embodiment is configured by using such a parasitic transistor, and therefore does not require any special manufacturing process.

【0024】この様に、本実施例によればエンハンスメ
ント形とデプレション形の両方のプロセスを用いること
なく電源リセット回路を構成することが可能であるた
め、製造プロセスが簡素化され、製造コストが低減され
る。また、エンハンスメント形とデプレション形の閾値
のばらつきやその温度変化といった電源リセット信号R
ESETの変化要因が排除されるため、電源リセット信
号をより安定的に発生可能となる。加えて、トランジス
タTrの製造にあたって格別のプロセスが必要とされな
いため、製造工程の増加は生じない。
As described above, according to this embodiment, since the power supply reset circuit can be constructed without using both the enhancement type and the depletion type processes, the manufacturing process is simplified and the manufacturing cost is reduced. Will be reduced. In addition, the power supply reset signal R such as the variation in the threshold value between the enhancement type and the depletion type and the temperature change thereof.
Since the change factor of ESET is eliminated, the power supply reset signal can be generated more stably. In addition, since no special process is required for manufacturing the transistor Tr, the number of manufacturing steps does not increase.

【0025】また、この実施例においては、ツェナーダ
イオードZDがトランジスタTrのベースに接続されて
いた。しかし、本発明はこのような構成に限定されるも
のではない。例えば図4に第2実施例として示されるよ
うに、トランジスタTrのベースに端子12を設け、こ
の端子12の外部からリセット信号RESET(−)を
加えるようにしても良い。このような構成とした場合に
は、リセット信号RESET(−)がHのとき、トラン
ジスタTrが降伏する動作となる。
Further, in this embodiment, the Zener diode ZD is connected to the base of the transistor Tr. However, the present invention is not limited to such a configuration. For example, as shown in FIG. 4 as the second embodiment, the terminal 12 may be provided at the base of the transistor Tr and the reset signal RESET (-) may be applied from the outside of the terminal 12. With such a configuration, when the reset signal RESET (-) is H, the transistor Tr operates in a breakdown manner.

【0026】図5には、本発明の第3実施例に係る電源
リセット回路の構成が示されている。この実施例は、N
サブPウェルのMOSプロセスで製造される回路であ
る。
FIG. 5 shows the configuration of a power supply reset circuit according to the third embodiment of the present invention. In this embodiment, N
It is a circuit manufactured by the sub-P well MOS process.

【0027】この実施例では、参照電圧REF1は、比
較器10の反転入力端子に入力される。また、トランジ
スタTrのエミッタは比較器10の非反転入力端子に接
続されている。
In this embodiment, the reference voltage REF1 is input to the inverting input terminal of the comparator 10. The emitter of the transistor Tr is connected to the non-inverting input terminal of the comparator 10.

【0028】参照電圧REF2を発生させるトランジス
タTrは、図7に示されるようにPサブNウェルのMO
Sプロセスにおいて寄生的に発生するトランジスタであ
る。すなわち、図7に示されるように、Nサブ上にPウ
ェルをドープし、更にPウェルにN+ 及びP+ をドープ
した場合、Nサブをコレクタ、Pウェルをベース、Pウ
ェル上にドープしたN+ をエミッタとして、寄生トラン
ジスタが構成される。本実施例におけるトランジスタT
rも、このような寄生トランジスタを用いて構成される
ものであり、従って、格別の製造プロセスを必要としな
い。
The transistor Tr for generating the reference voltage REF2 is a P-sub N-well MO transistor as shown in FIG.
It is a transistor that is parasitically generated in the S process. That is, as shown in FIG. 7, when the P well is doped on the N sub, and the P well is further doped with N + and P + , the N sub is doped on the collector, the P well on the base, and the P well on the P well. A parasitic transistor is formed using N + as an emitter. Transistor T in this embodiment
r is also constructed by using such a parasitic transistor, and thus does not require a special manufacturing process.

【0029】図6には、この実施例の動作が示されてい
る。この図に示されるように、参照電圧REF2は、ト
ランジスタTrの動作によって非線形に低下し、電源電
圧VDDがツェナーダイオードZDの降伏電圧V以上
の領域C及びトランジスタTrがオンするベースエミッ
タ間電圧V以下の領域Aでは、一定の値をとる。電源
電圧VDDがV以上V以下の領域Bでは、参照電圧
REF2は電源電圧VDDと同一勾配で低下する。
FIG. 6 shows the operation of this embodiment. As shown in this figure, the reference voltage REF2 is non-linearly lowered by the operation of the transistor Tr, and the region C in which the power supply voltage V DD is equal to or higher than the breakdown voltage V Z of the Zener diode ZD and the base-emitter voltage at which the transistor Tr is turned on. In a region A below V F , it takes a constant value. In the power supply voltage V DD V F or V Z the following areas see B, voltage REF2 is reduced by the same gradient and the power supply voltage V DD.

【0030】このように参照電圧REF2が非線形に低
下するのは、次の様な動作による。すなわち、電源電圧
DDがV以下の領域Aにおいては、トランジスタT
rがオフ状態であるためそのベース電位は接地電位と等
しい。参照電圧REF2は、トランジスタTrのエミッ
タ電位であるため、従って、図に示されるように一定と
なる。
The non-linear decrease of the reference voltage REF2 is due to the following operation. That is, in the region A where the power supply voltage V DD is lower than V F , the transistor T
Since r is off, its base potential is equal to ground potential. The reference voltage REF2 is the emitter potential of the transistor Tr and is therefore constant as shown in the figure.

【0031】次に電源電圧VDDがVを超えると、ト
ランジスタTrがオンするため、参照電圧REF2は、
電源電圧VDDと比例して上昇を開始する。すなわち、
電源電圧VDDが電圧V以上の領域Bでは、参照電圧
REF2は、参照電圧REFより急勾配で増加する。こ
の後、電源電圧VDDがツェナーダイオードZDの降伏
電圧Vに至ると、トランジスタTrのベース電位が接
地電圧にプルダウンされるため、トランジスタTrは再
びオフ状態となる。従って、電源電圧VDDがツェナー
ダイオードZD降伏電圧V以上の領域Cにおいては、
参照電圧REF2は一定になる。この様に参照電圧RE
F2は、電源電圧VDDに対して非線形である。
[0031] Referring now supply voltage V DD is greater than V F, the transistor Tr is turned on, the reference voltage REF2 is
The rise starts in proportion to the power supply voltage V DD . That is,
In the region B in which the power supply voltage V DD is equal to or higher than the voltage V F , the reference voltage REF2 increases more steeply than the reference voltage REF. After that, when the power supply voltage V DD reaches the breakdown voltage V Z of the Zener diode ZD, the base potential of the transistor Tr is pulled down to the ground voltage, so that the transistor Tr is turned off again. Therefore, in the region C where the power supply voltage V DD is equal to or higher than the Zener diode ZD breakdown voltage V Z ,
The reference voltage REF2 becomes constant. In this way, the reference voltage RE
F2 is non-linear with respect to the power supply voltage V DD .

【0032】このような参照電圧REF1及びREF2
の傾向から明らかな様に、両者は、領域B及びC内のあ
る一点において等しい値となる。この2点により挟まれ
る電源電圧VDDの領域においては、参照電圧REF1
<REF2であるため、比較器10の出力はHとなる。
本実施例は、この特性を利用して電源リセット信号RE
SETを発生させるものである。
Such reference voltages REF1 and REF2
As is clear from the tendency of, both have the same value at a certain point in the regions B and C. In the region of the power supply voltage V DD sandwiched by these two points, the reference voltage REF1
Since <REF2, the output of the comparator 10 becomes H.
In this embodiment, the power supply reset signal RE is utilized by utilizing this characteristic.
This is to generate SET.

【0033】すなわち、図5に示されるような構成を有
する電気回路をマイクロコンピュータ等の機器に搭載し
た場合、電源電圧VDDの低下に伴い参照電圧REF1
とREF2の関係がREF2<REF1からREF1<
REF2に変化する。この時点で比較器10の出力はL
値からH値に変化するため、比較器10の出力を電源リ
セット信号RESETとして用いることにより、電源電
圧VDDの低下に応じてマイクロコンピュータ等の機器
の各部にリセットを加えることができる。
That is, when the electric circuit having the structure shown in FIG. 5 is mounted on a device such as a microcomputer, the reference voltage REF1 is accompanied by a decrease in the power supply voltage V DD.
And REF2 have a relationship of REF2 <REF1 to REF1 <
Change to REF2. At this time, the output of the comparator 10 is L
Since the value changes from the H value to the H value, by using the output of the comparator 10 as the power supply reset signal RESET, it is possible to apply a reset to each part of the device such as the microcomputer according to the decrease of the power supply voltage V DD .

【0034】この様に、本実施例においてもエンハンス
メント形とデプレション形の両方のプロセスを用いるこ
となく電源リセット回路を構成することが可能である。
As described above, also in this embodiment, the power supply reset circuit can be constructed without using both the enhancement type process and the depletion type process.

【0035】また、この実施例においては、ツェナーダ
イオードZDがトランジスタTrのベースに接続されて
いた。しかし、本発明はこのような構成に限定されるも
のではない。例えば図8に第4実施例として示されるよ
うに、トランジスタTrのベースに端子12を設け、こ
の端子12の外部からリセット信号RESET(−)を
加えるようにしても良い。
Further, in this embodiment, the Zener diode ZD is connected to the base of the transistor Tr. However, the present invention is not limited to such a configuration. For example, as shown in FIG. 8 as the fourth embodiment, the terminal 12 may be provided at the base of the transistor Tr and the reset signal RESET (−) may be applied from the outside of the terminal 12.

【0036】なお、本発明の各実施例に係る電源リセッ
ト回路は、上述したようにMOSプロセスによりICと
して製造することが可能であるとともに、ディスクリー
トやバイポーラプロセスによっても製造可能であること
はいうまでもない。加えて、第1又は第3実施例におけ
るツェナーダイオードZDを第2又は第4実施例におけ
る端子12に接続するような形で、すなわちIC外付け
で用いても良い。
The power reset circuit according to each embodiment of the present invention can be manufactured as an IC by the MOS process as described above, and can also be manufactured by the discrete or bipolar process. Nor. In addition, the Zener diode ZD in the first or third embodiment may be used in a form connected to the terminal 12 in the second or fourth embodiment, that is, externally attached to the IC.

【0037】図9には、本発明の各実施例の用途の一例
が示されている。この図に示される装置は、ディスプレ
イ13の画面上に文字等を重畳表示させるオンスクリー
ンディスプレイ機能を有するビデオテープレコーダ(V
TR)14である。オンスクリーンディスプレイ機能と
は、例えば、ディスプレイ13の画面上にチャネルや音
量を示す文字や記号を表示させる機能である。この機能
は、通常、オンスクリーンディスプレイIC(OSDI
C)により実現される。この図においては、OSDIC
は符号16で示されている。
FIG. 9 shows an example of application of each embodiment of the present invention. The device shown in this figure is a video tape recorder (V) having an on-screen display function for superimposing characters and the like on the screen of the display 13.
TR) 14. The on-screen display function is, for example, a function of displaying characters or symbols indicating a channel and a volume on the screen of the display 13. This function is normally performed by an on-screen display IC (OSDI
It is realized by C). In this figure, OSDIC
Is indicated by reference numeral 16.

【0038】OSDIC16は、ディスプレイ13の画
面上に表示すべき映像を示す映像信号を入力する。この
映像信号は、例えば、図示しないビデオ再生回路から供
給されるテープ再生映像や、他の機器(例えばテレビジ
ョン受像機)から供給される映像を示している。OSD
IC16は、内蔵するRAMから、重畳表示させるべき
文字等のデータを読みだし、このデータに基づき映像信
号に処理を加え、文字等の映像を含む映像信号VIDE
Oを生成する。その際、同期信号を用いることにより、
文字等に係る信号を混合するタイミングを制御する。し
たがって、映像信号VIDEOに基づきディスプレイ1
3の画面上に映像を表示させた場合、その画面上の所定
位置に文字等が重畳表示されることになる。
The OSDIC 16 inputs a video signal indicating a video to be displayed on the screen of the display 13. This video signal represents, for example, a tape playback video supplied from a video playback circuit (not shown) or a video supplied from another device (for example, a television receiver). OSD
The IC 16 reads out data such as characters to be superimposed and displayed from the built-in RAM, processes the video signal based on this data, and outputs a video signal VIDE including images such as characters.
Generate O. At that time, by using the synchronization signal,
Controls the timing of mixing signals related to characters and the like. Therefore, the display 1 is based on the video signal VIDEO.
When an image is displayed on the screen of No. 3, characters or the like will be superimposed and displayed at a predetermined position on the screen.

【0039】この図のVTR14は、さらに、本発明の
いずれかの実施例に係る電源リセット回路18を搭載し
ている。電源リセット回路18は、先に説明した動作に
より電源電圧をモニタし、電源電圧の低下に応じてリセ
ット信号RESETをOSDIC16に供給する。した
がって、電源電圧が低下すると、文字等を示すRAM上
のデータがクリアされる。
The VTR 14 in this figure further includes a power supply reset circuit 18 according to any one of the embodiments of the present invention. The power supply reset circuit 18 monitors the power supply voltage by the operation described above, and supplies the reset signal RESET to the OSDIC 16 according to the decrease in the power supply voltage. Therefore, when the power supply voltage decreases, the data on the RAM indicating the characters and the like is cleared.

【0040】このように、本発明の各実施例に係る回路
をVTR14のOSDIC16のリセット、特にRAM
データのリセットに使用する場合、電源復旧に伴う画面
の乱れを防止できる。すなわち、電源電圧低下の後にR
AMにリセットを加えずに電源復旧を迎えた場合、電源
復旧時のRAM上のデータは保証の限りではなく、した
がって、ディスプレイ13の画面上に重畳表示される文
字等も、暫くの間乱れるが、この図のようにリセットを
加えた場合、画面の乱れは生じることがなく、ディスプ
レイ13を見ている人に不快感を与えることもない。ま
た、必要なデータは、図示しないマイクロコンピュータ
等から送信を受けることができる。
As described above, the circuits according to the respective embodiments of the present invention are applied to the reset of the OSDIC 16 of the VTR 14, especially the RAM.
When used for resetting data, it is possible to prevent screen disturbance due to power restoration. That is, after the power supply voltage drops, R
When the power is restored without resetting the AM, the data on the RAM at the time of power restoration is not guaranteed, and therefore the characters etc. superimposed on the screen of the display 13 are disturbed for a while. When the reset is added as shown in this figure, the screen is not disturbed, and the person watching the display 13 is not uncomfortable. Also, necessary data can be received from a microcomputer or the like (not shown).

【0041】[0041]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
スイッチング素子のオフ又はオン時に出力され電源電圧
とほぼ同じ勾配で低下する電圧を第2の参照電圧REF
2とするようにしたため、エンハンスメント形及びデプ
レッション形の双方のプロセスを用いることなく電源リ
セット回路を製造可能となり、製造工程の簡素化、製造
コストの低減が実現できる。また、デプレッション形と
エンハンスメント形のMOS FETを共に用いた場合
のように各FETのしきい値のばらつきやその温度特性
に影響されることがないため、電源リセット信号が安定
化する。
As described above, according to the present invention,
The second reference voltage REF is a voltage that is output when the switching element is turned off or on and that drops with a slope that is substantially the same as the power supply voltage.
Since it is set to 2, the power reset circuit can be manufactured without using both the enhancement type and depletion type processes, and the manufacturing process can be simplified and the manufacturing cost can be reduced. Further, unlike the case where both the depletion type and enhancement type MOS FETs are used, the power source reset signal is stabilized because it is not affected by the variation in threshold value of each FET and its temperature characteristic.

【0042】さらに、本発明によれば、スイッチング素
子をオフ又はオンさせる電圧を、内蔵するツェナーダイ
オード、外付のツェナーダイオード等から与えることが
できる。また、外付けした場合、その動作を、外付けす
るツェナーダイオードの選択によって設定することがで
きる。
Further, according to the present invention, the voltage for turning off or turning on the switching element can be given from a built-in Zener diode, an external Zener diode or the like. Further, when externally attached, the operation can be set by selecting the Zener diode to be externally attached.

【0043】本発明の請求項3によれば、第2の参照電
圧REF2を発生させるトランジスタをMOSプロセス
で寄生的に発生するトランジスタとして構成するように
したため、製造工程を増加させることなく当該トランジ
スタを構成することができる。
According to the third aspect of the present invention, since the transistor for generating the second reference voltage REF2 is configured as a transistor parasitically generated in the MOS process, the transistor can be formed without increasing the number of manufacturing steps. Can be configured.

【0044】そして、本発明の請求項4によれば、電源
が低下しその後復旧した場合に、オンスクリーンディス
プレイに係るデータをリセットするようにしたため、画
面の乱れが生じることがなく、より見やすい画面を実現
できる。
According to the fourth aspect of the present invention, when the power supply is lowered and then restored, the data relating to the on-screen display is reset, so that the screen is not disturbed and the screen is easier to see. Can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例に係る電源リセット回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply reset circuit according to a first embodiment of the present invention.

【図2】この実施例の動作を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an operation of this embodiment.

【図3】本実施例における寄生トランジスタの発生メカ
ニズムを示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a generation mechanism of a parasitic transistor in this embodiment.

【図4】本発明の第2実施例に係る電源リセット回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply reset circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施例に係る電源リセット回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply reset circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図6】この実施例の動作を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing the operation of this embodiment.

【図7】本実施例における寄生トランジスタの発生メカ
ニズムを示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a generation mechanism of a parasitic transistor in this embodiment.

【図8】本発明の第4実施例に係る電源リセット回路の
構成を示す回路図である。
FIG. 8 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply reset circuit according to a fourth embodiment of the present invention.

【図9】各実施例の用途例を示すブロック図である。FIG. 9 is a block diagram showing an application example of each embodiment.

【図10】一従来例に係る電源リセット回路の構成を示
す回路図である。
FIG. 10 is a circuit diagram showing a configuration of a power supply reset circuit according to a conventional example.

【図11】この従来例の動作を示す図である。FIG. 11 is a diagram showing the operation of this conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 比較器 12 端子 13 ディスプレイ 14 ビデオテープレコーダ(VTR) 16 オンスクリーンディスプレイIC(OSDIC) 18 電源リセット回路 REF1,REF2 参照電圧 VDD 電源電圧 Tr トランジスタ ZD ツェナーダイオード R1〜R4 抵抗10 comparator 12 terminal 13 display 14 video tape recorder (VTR) 16 on-screen display IC (OSDIC) 18 power reset circuit REF1, REF2 reference voltage V DD power supply voltage Tr transistor ZD Zener diode R1 to R4 resistance

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 17/22 G 9184−5J ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location H03K 17/22 G 9184-5J

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 電源電圧を分圧して第1の参照電圧を発
生させる分圧手段と、 オフ時に電源電圧とほぼ同じ勾配で低下する電圧を第2
の参照電圧として出力するスイッチング素子と、 第1の参照電圧と第2の参照電圧とを比較し第1の参照
電圧が高い場合に電源リセット信号を出力する比較手段
と、 を備え、 第1の参照電圧と第2の参照電圧の比較により電源電圧
の低下を検出することを特徴とする電源リセット回路。
1. A voltage dividing means for dividing a power supply voltage to generate a first reference voltage, and a second voltage dividing means for decreasing a voltage which is substantially the same as the power supply voltage when turned off.
A switching element that outputs as a reference voltage, and a comparison unit that compares the first reference voltage and the second reference voltage and outputs a power supply reset signal when the first reference voltage is high. A power supply reset circuit characterized by detecting a decrease in a power supply voltage by comparing a reference voltage and a second reference voltage.
【請求項2】 電源電圧を分圧して第1の参照電圧を発
生させる分圧手段と、 オン時に電源電圧とほぼ同じ勾配で低下する電圧を第2
の参照電圧として出力するスイッチング素子と、 第1の参照電圧と第2の参照電圧とを比較し第2の参照
電圧が高い場合に電源リセット信号を出力する比較手段
と、 を備え、 第1の参照電圧と第2の参照電圧の比較により電源電圧
の低下を検出することを特徴とする電源リセット回路。
2. A voltage dividing means for dividing a power supply voltage to generate a first reference voltage, and a voltage dividing means for decreasing a voltage which is substantially the same as the power supply voltage when turned on.
A switching element that outputs as a reference voltage, and a comparison unit that compares the first reference voltage and the second reference voltage and outputs a power supply reset signal when the second reference voltage is high. A power supply reset circuit characterized by detecting a decrease in a power supply voltage by comparing a reference voltage and a second reference voltage.
【請求項3】 請求項1又は2記載の電源リセット回路
において、スイッチング素子が、MOSプロセスで発生
する寄生トランジスタであることを特徴とする電源リセ
ット回路。
3. The power supply reset circuit according to claim 1, wherein the switching element is a parasitic transistor generated in a MOS process.
【請求項4】 揮発性記憶素子上に格納されたデータに
基づき表示装置の画面上に文字等を重畳表示させるオン
スクリーンディスプレイ制御手段と、 電源電圧が低下した場合に電源リセット信号を出力し少
なくとも上記揮発性記憶素子に供給する請求項1乃至3
記載の電源リセット回路と、 を備えることを特徴とする画面誤表示防止システム。
4. An on-screen display control means for superimposing and displaying characters and the like on a screen of a display device based on data stored in a volatile storage element, and at least a power supply reset signal is output when a power supply voltage drops. Supplying to said volatile memory element.
A power supply reset circuit described above, and a screen erroneous display prevention system.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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