JPH06109538A - 分光分析装置 - Google Patents

分光分析装置

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JPH06109538A
JPH06109538A JP26185892A JP26185892A JPH06109538A JP H06109538 A JPH06109538 A JP H06109538A JP 26185892 A JP26185892 A JP 26185892A JP 26185892 A JP26185892 A JP 26185892A JP H06109538 A JPH06109538 A JP H06109538A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
polychromator
detector
slit plate
height
Prior art date
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Pending
Application number
JP26185892A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Ando
修 安藤
Yasuro Tsukuda
康郎 佃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 近赤外波長域の測定装置であって後分光ポリ
クロメータ方式の適用を可能にした分光分析装置を提供
する。 【構成】 波長分散手段により分散結像された波長分散
スペクトルを検出する検出器が、測定波長範囲の全域を
カバーする単一素子の検出面を備え、かつ検出面の前面
に少なくとも1つの開口を有するスリット板を着脱可能
に取付けた分光分析装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、食品、化学薬品等を定
量的または定性的に分析するための装置であって、特に
近赤外波長域(およそ900〜3000nm程度)の光
を測定光として利用する分光分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】試料に測定光を照射しその反射または透
過特性の波長依存性から試料を定量的または定性的に分
析する方法には種々の方式のものがあるが、その1つの
方式として、白色光で試料を照射し、その透過光または
反射光を入口スリット上に結像させ、これを波長分散手
段(たとえば回折格子)により、測定波長範囲を所定の
データ(波長)間隔で測定できるだけの素子数を有する
アレー形検出器上に分散結像させて測定する後分光ポリ
クロメータ方式の装置が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の後分光ポリクロ
メータ方式の装置にあっては、高精度、高価な回折格子
(波長分散手段)駆動機構を必要としないし、半導体プ
ロセスによってアレー化および周辺回路の一体化が比較
的容易なシリコンフォトダイオードを用いることができ
る可視・紫外域では有用な方式であったが、シリコンフ
ォトダイオードが感度をもたない近赤外波長域ではそれ
ほど有用ではなかった。
【0004】すなわち、近赤外波長域の測定用としては
光導電形の素子であるPbs検出器が主として用いられ
ているが、Pbs素子はその製造プロセス上の制約から
ポリクロメータ方式分光器に最適な形状の素子を多数配
列したアレー状素子の製造がきわめて困難であると共
に、プリアンプ、マルチプレクサなどの周辺回路の一体
化を行うことができず、周辺の外付け回路も含めた検出
器部のコストがきわめて高価なものになるという問題点
があった。
【0005】本発明は、近赤外波長域の測定装置であっ
て後分光ポリクロメータ方式の適用を可能にした分光分
析装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の分光分析装置においては、波長分散手段に
より分散結像された波長分散スペクトルを検出する検出
器は、測定波長範囲の全域をカバーする単一の検出面を
備え、かつ検出面の前面には少なくとも1つの開口を有
するスリット板が着脱可能に取付けられるものである。
【0007】スリット板上の開口を少なくとも2つ以上
の測定波長位置に対応して設けると共に、シャッタ機構
によりその複数開口のうちのいずれか1つを選択的に開
き、その他の開口を遮蔽するようにすることにより、複
数の波長での測定を順次行うことができ効果的である。
【0008】
【作用】上記のように構成された分光分析装置の検出器
の検出面前面(ポリクロメータ結像面上)に配置される
スリット板を交換して、測定対象に合わせた最適波長で
の測定を行う。
【0009】さらに、測定波長が複数である場合には、
スリット板上の開口をその測定波長に対応して設けると
共に、シャッタ機構によりその複数開口の1つを順次選
択すればよい。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
て説明すると、第1図において、光源1からの光束を集
光系2により試料3に照射し、その透過光を集光レンズ
4で入口スリット5上に結像させ、これを凹面回折格子
6によって検出器7上に分散結像させる。検出器7は単
一素子の検出面を有するもので、測定波長を1100n
m〜2500nmとすれば、この波長領域で好適なもの
としてPbs検出器を用いることができる。8はPbs
検出器7の検出面の前面、すなわちポリクロメータの結
像面上に設置されたスリット板で、このスリット板8に
は1つの開口9が穿設されている。検出器7の信号は周
辺回路10で増幅などの電気的処理をした上で信号処理
回路(図示せず)へ送られる。
【0011】Pbs検出器7およびスリット板8の詳細
を図2により説明するに、Pbs検出器取付け用の開口
12を有するホルダ11にPbs検出器7がネジなど適
宜の緊締手段により取付けられる。Pbs検出器7の検
出面7aはホルダ11の開口12を通してポリクロメー
タからの単色光を受光する。
【0012】Pbs検出器7の検出面7aの長さは、測
定波長の全域をカバーするのに十分な長さを有する。実
施例では、使用する凹面回折格子のパラメータとして、
格子定数d=1/300(1/mm)、焦点距離f=2
00mm、入射角i=0°とし、使用波長範囲を110
0nm〜2500nmの近赤外域として、逆線分散の平
均値をおよそ13(nm/mm)とすると、その広がり
は108mm程度とすることができるので、120mm
もあれば十分である。また、検出面7aの高さは測定光
量、ポリクロメータの収差、入口スリットの高さなどに
合わせて適宜設計される。このような長さのPbs素子
としては特殊な寸法であるが、多数の微少な検出器を配
列したアレー状素子よりは製作も容易であり、また、素
子自体は単一であるから、バイアス回路やプリアンプ回
路など周辺回路の構成も容易である。なお、検出器7に
は位置決め穴やピン(図示せず)などが設けられ、組立
時に素子の位置がホルダ11に対して正確に位置決めさ
れるようになっている。
【0013】ホルダ11の反対面には、スリット板位置
決め用のピン13a、13bが突設されている。一方、
スリット板8には位置決め用の穴14a、14bが穿設
されており、ホルダ11の位置決め用のピン13a、1
3bと嵌合して位置決めされるようになっている。スリ
ット板8の固定はネジなど適宜の緊締手段により行われ
る。
【0014】スリット板8上にはスリット開口9が穿設
されており、開口9は入口スリット5と相似の一般的に
は矩形である。開口9の高さは検出面7aの高さやポリ
クロメータの収差などの諸条件を勘案して決定されてい
る。また、スリット幅は装置の設計バンド幅によって決
められる。さらに、当然のことながらスリット開口9の
位置は、計算により測定波長の分散光が開口9に一致す
るように決められている。
【0015】このようなスリット板8は、エッチングま
たは電気鋳造などの方法によって高精度かつ容易に製作
することが可能である。これらの方法によれば、取付け
基準穴14a、14b、スリット開口9などの位置精
度、寸法精度を1/100mmのオーダで確保すること
が比較的容易である。波長精度を決める要素としてスリ
ット板8の寸法精度が考えられるが、例えば上記加工精
度によれば、1〜数nmの波長精度は容易に達成可能で
あり、さらに基準光源などを用いて校正すれば、これ以
上に精度を上げることもできる。
【0016】スリット板8は、ピン13a、13bによ
って位置決めされているから、容易に脱着することが可
能であり、従って、他の測定波長に対応するスリット板
を別に用意しておけば、これを付け替えることにより同
一のポリクロメータ部を利用して異なる波長に対応した
分析装置を製作することができる。
【0017】図3に本発明の他の実施例を示す。この実
施例では先の実施例と異なり、測定波長は3つである。
【0018】スリット板8には3つの波長に対応するス
リット開口9a、9b、9cが穿設されている。スリッ
ト板8自体の取付けは前記実施例の場合と同様であり、
従って、測定波長が異なる試料に対しては別のスリット
板を用意し、これを付け替えればよい。
【0019】スリット板8の全面部には遮光板15がホ
ルダ11に対して回転可能に取付けられ、モータ16で
駆動されるようになっている。遮光板15はスリット板
8の全面を覆うのに十分な大きさを持ち、かつ開口9a
〜9cに対応する位置に矩形の開口16a、16b、1
6cが設けられている。モータ16は制御回路(図示せ
ず)によって制御され、スリット開口9a〜9cと遮光
板15の開口16a〜16cのうちの1つとが一致する
よう3段階に切り替えられる。従って、モータ16の駆
動を制御することにより検出器7(検出面7a)に入射
する単色光の波長を3段階に切り替えることが可能であ
る。勿論、機械的寸法の許容する範囲でスリット開口の
数および遮光板の開口数を増やすことにより、さらに多
くの測定波長に対応することも可能である。
【0020】遮光板15の駆動機構は回折格子走査機構
とは異なり、スリット開口を完全に遮蔽または開放する
ことのみが要求され、その回転位置決め精度は比較的低
くてもよい。さらに、遮光板上の開口寸法はスリット開
口の幅、高さに対して十分な余裕を持ち、かつ他のスリ
ット開口を遮蔽できる範囲の大きさであればよく、高い
精度を要しない。従って、その設計、製造も容易であ
る。
【0021】なお、上記実施例ではスリット板の前面に
遮光板を挿入する構造としたが、これをスリット板と検
出器(検出面)の間に入れてもよい。また、遮光板機構
として機械的シャッタを回転切替える構造としたが、こ
れは直進的な移動機構であってもよく、あるいは液晶シ
ャッタなどの電気的なシャッタを適切に利用することに
より、さらに測定の高速化が可能となる。
【0022】本発明のPbs検出器7の検出面7aは単
一の大面積の素子であり、ある程度の感度の場所むらは
避けられないが、この種分析装置の場合、特に重要なの
は、測光値の絶対値ではなく再現性である。従って、固
定されたスリット開口9a〜9cのいずれかを通過する
光束が常に検出器の同じ位置で測定され、また再現性に
影響を与える駆動部を必要としないので、このような分
析目的に好適である。
【0023】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、ポリクロメータ結像面上に配置したスリッ
ト開口を適宜交換することにより測定対象に合わせた最
適波長での測定が可能となり、また、測定波長が複数で
ある場合にはスリット開口をスリット列とし、複数開口
のうちの1つを順次選択することにより簡易、迅速な測
定が可能となる。さらに、駆動部分がないため、測定の
精度、安定性を向上することができ、検出器は単一素子
であるから、素子自体およびその周辺回路の構成も容易
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す概念図である。
【図2】本発明の一実施例の検出器部の詳細を示す斜視
図である。
【図3】本発明の他の実施例における検出器部を示す斜
視図である。
【符号の説明】
1 光源 3 試料 5 入口スリット 6 凹面回
折格子 7 検出器 7a 検出面 8 スリット板 9 開口 11 ホルダ 15 遮光板

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入口スリットと、この入口スリット像を
    波長スペクトルに分散結像させる手段と、分散スペクト
    ルを検出する検出器からなるポリクロメータ方式の測光
    部を有する分光分析装置であって、前記検出器は測定波
    長範囲の全域をカバーする単一の検出面を備え、かつ検
    出面の前面には少なくとも1つの開口を有するスリット
    板が着脱可能に取付けられることを特徴とする分光分析
    装置。
JP26185892A 1992-09-30 1992-09-30 分光分析装置 Pending JPH06109538A (ja)

Priority Applications (1)

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JP26185892A JPH06109538A (ja) 1992-09-30 1992-09-30 分光分析装置

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JPH06109538A true JPH06109538A (ja) 1994-04-19

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ID=17367733

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JP26185892A Pending JPH06109538A (ja) 1992-09-30 1992-09-30 分光分析装置

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JP (1) JPH06109538A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7193707B2 (en) 2004-02-02 2007-03-20 Ube Industries, Ltd. Small sized wide wave-range spectroscope
JP2012002672A (ja) * 2010-06-17 2012-01-05 Shimadzu Corp 分光器
JP2013113583A (ja) * 2011-11-24 2013-06-10 Shimadzu Corp 分光器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7193707B2 (en) 2004-02-02 2007-03-20 Ube Industries, Ltd. Small sized wide wave-range spectroscope
JP2012002672A (ja) * 2010-06-17 2012-01-05 Shimadzu Corp 分光器
JP2013113583A (ja) * 2011-11-24 2013-06-10 Shimadzu Corp 分光器

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