JPH06103114A - Method for evaluating test program - Google Patents

Method for evaluating test program

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Publication number
JPH06103114A
JPH06103114A JP4066660A JP6666092A JPH06103114A JP H06103114 A JPH06103114 A JP H06103114A JP 4066660 A JP4066660 A JP 4066660A JP 6666092 A JP6666092 A JP 6666092A JP H06103114 A JPH06103114 A JP H06103114A
Authority
JP
Japan
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hardware
unit
test
working
setting
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4066660A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kitsuya Tsuchiya
喫哉 土屋
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH06103114A publication Critical patent/JPH06103114A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To evaluate whether the interference of all test programs is present or not without executing all test units and all test programs by altering a working HW(hardware) part whose initial value is indefinite, used by the test program, at the time of starting to execute a test. CONSTITUTION:An SW(software) simulator 13 detects the start notice of a test unit from the test unit start informing part 111 of a monitor 11, as a processing at the time of starting a test unit, and by an HW state setting part 132, whether the start notice of the test unit is present or not is detected, and in the case the start notice is not present, a processing is not executed, and in the case the start notice is prevent, a specific pattern is set to the working HW part of HW model information 131 in accordance with the instruction of a working HW instructing part 133. In this case, since the working HW part whose initial value is indefinite, for which a test program may be used is altered, when the test unit uses it and is not setting an expected initial value, an abnormal operation is generated, and it is decided that an interference problem is present on the test unit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、情報処理システムの試
験を行うための試験プログラムの評価方法に関し、特
に、複数の試験プログラムの間に相互干渉がないことを
確認するための試験プログラムの評価方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test program evaluation method for testing an information processing system, and more particularly to a test program evaluation for confirming that there is no mutual interference between a plurality of test programs. Regarding the method.

【0002】[0002]

【従来の技術】複数の試験プログラムを用いて情報処理
システムの試験を行うときに試験プログラムの間に相互
干渉がないことを確認するための従来の評価方法は、一
つの試験プログラムを実行するとき、その試験プログラ
ムが他の試験プログラムに影響を及ぼしていないことを
確認するため、確認しようとする試験ユニットを実行し
た後、その試験ユニットを含む試験プログラムの全ての
試験ユニットを実行し、また、確認しようとする試験プ
ログラムを実行した後、全ての試験プログラムを実行し
て異常がないことを確認するという手段を用いている。
2. Description of the Related Art A conventional evaluation method for confirming that there is no mutual interference between test programs when testing an information processing system using a plurality of test programs is performed when one test program is executed. , To confirm that the test program does not affect other test programs, after executing the test unit to be checked, execute all the test units of the test program including the test unit, and After executing the test program to be confirmed, all test programs are executed to confirm that there is no abnormality.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したような試験プ
ログラム間に相互干渉がないことを確認するための従来
の試験プログラムの評価方法は、ソフトウエアシミュレ
ータ(SWシミュレータ)における評価に適用すると、
SWシミュレータは、ハードウエア(HW)における実
行時間に比べて桁違いに低速であるため、ターンアラウ
ンドタイムが長くかかり、また、CPU資源を多く必要
とするため、現実的には、評価が行えないという欠点を
有している。
A conventional test program evaluation method for confirming that there is no mutual interference between test programs as described above is applied to evaluation in a software simulator (SW simulator).
Since the SW simulator is orders of magnitude slower than the execution time in hardware (HW), it takes a long turnaround time and requires a large amount of CPU resources, so that the evaluation cannot be realistically performed. It has the drawback of

【0004】本発明の目的は、SWシミュレータを用い
て試験プログラムの相互干渉の評価を行ったとき、ター
ンアラウンドタイムが長くかからず、また、CPU資源
も多くを必要としない試験プログラムの評価方法を提供
することにある。
An object of the present invention is to evaluate a mutual interference of test programs by using a SW simulator, which does not take a long turnaround time and requires a large amount of CPU resources. To provide.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の試験プログラム
の評価方法は、少なくとも一つの試験ユニットを有する
複数の試験プログラムを実行するモニタを有するソフト
ウエアシュミレータをアプリケーションプログラムとし
て実行するオペレーティングシステムによって前記試験
プログラムの相互干渉に関する評価を行う試験プログラ
ムの評価方法であって、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記試験プログラムが使用する初期値不定のワーキン
グハードウエアモデル情報を指定するワーキングハード
ウア指示部と前記ワーキングハードウエアモデル情報中
の指定されたハードウエア部分に特定のパターンを設定
するハードウエア状態設定部とを設け、前記モニタに前
記試験ユニットの開始を検出して前記ソフトウエアシュ
ミレータに通知する試験ユニット開始通知部を設け、前
記ソフトウエアシュミレータが前記モニタ中の前記試験
ユニット開始通知部から前記試験ユニットの開始の通知
を受けたとき、前記ハードウエア状態設定部によって前
記ワーキングハードウエア指示部の指示に従って前記試
験プログラムのワーキングハードウエア部分に前記特定
のパターンを設定することを含むものであり、更に、前
記ソフトウエアシュミレータにワーキングハードウア指
示部によって指示された試験プログラムのワーキングハ
ードウエア部分に設定するための特定のパターンを指定
するパターン指定部を設け、前記試験ユニットの開始時
に前記ワーキングハードウア指示部によって指示された
前記ワーキングハードウエア部分に前記特定のパターン
を設定するようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION A test program evaluation method according to the present invention comprises a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit and an operating system for executing the software simulator as an application program. A method for evaluating a test program for evaluating mutual interference between programs, comprising a working hardware instruction section for designating to the software simulator working hardware model information with an undefined initial value used by the test program, and the working hardware. A hardware state setting unit that sets a specific pattern in a designated hardware portion in the model information is provided, and the monitor detects the start of the test unit and notifies the software simulator. A test unit start notification unit is provided, and when the software simulator receives a notification of the start of the test unit from the test unit start notification unit in the monitor, the hardware state setting unit causes the working hardware instruction unit to Setting the specific pattern in the working hardware portion of the test program according to an instruction, and further setting in the working hardware portion of the test program instructed by the working hardware instruction unit in the software simulator. A pattern designating section for designating a specific pattern is provided, and the particular pattern is set in the working hardware portion designated by the working hardware designating section at the start of the test unit. .

【0006】また、本発明の試験プログラムの評価方法
は、少なくとも一つの試験ユニットを有する複数の試験
プログラムを実行するモニタを有するソフトウエアシュ
ミレータをアプリケーションプログラムとして実行する
オペレーティングシステムによって前記試験プログラム
の相互干渉に関する評価を行う試験プログラムの評価方
法であって、前記ソフトウエアシュミレータに前記試験
プログラムが使用する初期値不定のワーキングハードウ
エアモデル情報中の指定されたハードウエア部分に特定
のパターンを設定するハードウエア状態設定部を設け、
前記モニタに前記試験ユニットの開始を検出して前記ソ
フトウエアシュミレータに通知する試験ユニット開始通
知部を設け、前記ソフトウエアシュミレータにディスク
装置を接続して前記ディスク装置に前記ワーキングハー
ドウエアモデル情報を指定するワーキングハードウア指
示部を設け、前記ソフトウエアシュミレータが前記モニ
タ中の前記試験ユニット開始通知部から前記試験ユニッ
トの開始の通知を受けたとき、前記ハードウエア状態設
定部によって前記ワーキングハードウエア指示部の指示
に従って前記試験プログラムのワーキングハードウエア
に前記特定のパターンを設定することを含むものであ
り、更に、前記ソフトウエアシュミレータにワーキング
ハードウア指示部によって指示された試験プログラムの
ワーキングハードウエア部分に設定するための特定のパ
ターンを指定するパターン指定部を設けて、試験ユニッ
トの開始時に前記ワーキングハードウア指示部によって
指示された前記ワーキングハードウエア部分に前記特定
のパターンを設定するようにしたものである。
Further, the test program evaluation method of the present invention is such that mutual interference of the test programs is caused by an operating system which executes a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. A method for evaluating a test program for evaluating the hardware, wherein the software simulator sets a specific pattern in a specified hardware portion in working hardware model information with an undefined initial value used by the test program. Provide a state setting section,
The monitor is provided with a test unit start notification unit that detects the start of the test unit and notifies the software simulator, a disk device is connected to the software simulator, and the working hardware model information is specified to the disk device. When the software simulator receives a notification of the start of the test unit from the test unit start notification unit in the monitor, the working hardware instruction unit is provided by the hardware status setting unit. The setting of the specific pattern in the working hardware of the test program according to the instructions of the above, and further, the working hardware of the test program instructed by the working hardware instruction section in the software simulator. A pattern designating section for designating a specific pattern to be set in the part, so as to set the specific pattern in the working hardware section designated by the working hardware designating section at the start of the test unit. It was done.

【0007】また、本発明の試験プログラムの評価方法
は、少なくとも一つの試験ユニットを有する複数の試験
プログラムを実行するモニタを有するソフトウエアシュ
ミレータをアプリケーションプログラムとして実行する
オペレーティングシステムによって前記試験プログラム
の相互干渉に関する評価を行う試験プログラムの評価方
法であって、前記ソフトウエアシュミレータに前記試験
プログラムが使用する初期値不定のワーキングハードウ
エアモデル情報を指定するワーキングハードウア指示部
と前記ワーキングハードウエアモデル情報中の指定され
たハードウエア部分に特定のパターンを設定するハード
ウエア状態設定部と、前記ハードウエア状態設定部に設
定するデータを格納するハードウエア状態設定値と、前
記ハードウエア状態設定値に前記データが格納されてい
ない場合に試験ユニットの開始の通知を受けて前記ハー
ドウエア部分の状態値を取出して加工して前記ハードウ
エア状態設定値に格納するハードウエア状態設定値設定
部とを設け、前記モニタに前記試験ユニットの開始を検
出して前記ソフトウエアシュミレータに通知する試験ユ
ニット開始通知部を設け、前記ソフトウエアシュミレー
タが前記モニタ中の前記試験ユニット開始通知部から前
記試験ユニットの開始の通知を受けたとき、前記ハード
ウエア状態設定値にデータが格納されていない場合は前
記ハードウエア状態設定値設定部によって設定し、前記
ハードウエア状態設定部によって前記ワーキングハード
ウエア指示部の指示に従って前記試験プログラムのワー
キングハードウエア部分に前記特定のパターンを設定す
ることを含むものであり、更に、ソフトウエアシュミレ
ータに前記ハードウエア状態設定値設定部においてハー
ドウエア部分の状態値を取出して加工するときの加工方
法を指示する加工指示部を設け、前記ソフトウエアシュ
ミレータがモニタ中の試験ユニット開始通知部から前記
試験ユニットの開始の通知を受けて前記ハードウエア状
態設定値に設定するとき、前記加工指示部からの指示に
よって加工するようにしたものである。
Further, the test program evaluation method of the present invention is characterized in that a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit executes mutual interference of the test programs by an operating system which executes the software simulator as an application program. A method of evaluating a test program for performing an evaluation, comprising: a working hardware instruction section that specifies working hardware model information with an undefined initial value used by the test program in the software simulator, and the working hardware model information. A hardware status setting unit that sets a specific pattern on a designated hardware part, a hardware status setting value that stores data to be set in the hardware status setting unit, and the hardware status. A hardware state set value setting unit that receives the notification of the start of the test unit when the set value does not store the data, extracts the state value of the hardware part, processes it, and stores it in the hardware state set value. And a test unit start notification unit that detects the start of the test unit and notifies the software simulator to the monitor, and the software simulator starts the test unit from the test unit start notification unit in the monitor. When the hardware state setting value is not stored, the hardware state setting value setting unit sets the data, and the hardware state setting unit sets the working hardware instruction unit to As specified in the working hardware part of the test program according to the instructions Including the setting of a pattern, further, the software simulator is provided with a processing instructing section for instructing a processing method when extracting and processing the state value of the hardware portion in the hardware state setting value setting section, When the software simulator receives a notification of the start of the test unit from the test unit start notification unit being monitored and sets the hardware state set value, the processing is performed by an instruction from the processing instruction unit. is there.

【0008】また、本発明の試験プログラムの評価方法
は、少なくとも一つの試験ユニットを有する複数の試験
プログラムを実行するモニタを有するソフトウエアシュ
ミレータをアプリケーションプログラムとして実行する
オペレーティングシステムによって前記試験プログラム
の相互干渉に関する評価を行う試験プログラムの評価方
法であって、前記ソフトウエアシュミレータに前記試験
プログラムが使用する初期値不定のワーキングハードウ
エアモデル情報中の指定されたハードウエア部分に特定
のパターンを設定するハードウエア状態設定部と、ハー
ドウエア状態設定値にデータが格納されていない場合に
試験ユニットの開始の通知を受けて前記ハードウエア部
分の状態値を取出して加工してディスク装置のハードウ
エア状態設定値に格納するハードウエア状態設定値設定
部とを設け、前記ソフトウエアシュミレータに前記ディ
スク装置を接続して前記ディスク装置に前記ワーキング
ハードウエアモデル情報を指定するワーキングハードウ
ア指示部と前記ハードウエア状態設定部に設定するデー
タを格納する前記ハードウエア状態設定値とを設け、前
記モニタに前記試験ユニットの開始を検出して前記ソフ
トウエアシュミレータに通知する試験ユニット開始通知
部を設け、前記ソフトウエアシュミレータが前記モニタ
中の前記試験ユニット開始通知部から前記試験ユニット
の開始の通知を受けたとき、前記ハードウエア状態設定
値にデータが格納されていない場合は前記ハードウエア
状態設定値設定部によって設定し、前記ハードウエア状
態設定部によって前記ワーキングハードウエア指示部の
指示に従って前記試験プログラムのワーキングハードウ
エア部分に前記特定のパターンを設定することを含むも
のであり、さらに、ソフトウエアシュミレータに前記ハ
ードウエア状態設定値設定部においてハードウエア部分
の状態値を取出して加工するときの加工方法を指示する
加工指示部を設け、前記ソフトウエアシュミレータがモ
ニタ中の試験ユニット開始通知部から前記試験ユニット
の開始の通知を受けて前記ハードウエア状態設定値に設
定するとき、前記加工指示部からの指示によって加工す
るようにしたものである。
Further, the test program evaluation method of the present invention is such that mutual interference of the test programs is caused by an operating system that executes a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. A method for evaluating a test program for evaluating the hardware, wherein the software simulator sets a specific pattern in a specified hardware portion in working hardware model information with an undefined initial value used by the test program. When the status setting unit and the hardware status setting value do not store data, the status value of the hardware part is extracted and processed by receiving the notification of the start of the test unit and the hardware status setting value of the disk device is set. And a hardware status setting value setting section for storing the hardware status setting value, and a working hardware instruction section for connecting the disk apparatus to the software simulator to specify the working hardware model information to the disk apparatus and the hardware status setting section. The hardware state setting value for storing the data to be set is provided, and the monitor is provided with a test unit start notification unit that detects the start of the test unit and notifies the software simulator of the start of the test unit. When a notification of the start of the test unit is received from the test unit start notification unit being monitored, if no data is stored in the hardware state set value, the hardware state set value setting unit sets the data. The working status is set by the hardware status setting unit. It includes setting the specific pattern in the working hardware part of the test program according to the instruction of the hardware instructing part, and further, in the software simulator, the state value of the hardware part in the hardware state setting value setting part. A machining instructing section is provided for instructing a machining method when taking out and machining, and the software simulator receives the notification of the start of the test unit from the test unit start notifying section being monitored and sets the hardware state set value. In doing so, processing is performed according to an instruction from the processing instruction section.

【0009】[0009]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0010】図1は本発明の第一の実施例の構成を示す
模式図、図9は図1〜図8の試験プログラムの詳細を示
すブロック図、図10は図1〜図8のモニタの動作を示
すフローチャート、図11は図1〜図8のSWシミュレ
ータの動作を示すフローチャート、図12は図1〜図4
のSWシミュレータのHW状態設定部の動作を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of the first embodiment of the present invention, FIG. 9 is a block diagram showing the details of the test program of FIGS. 1 to 8, and FIG. 10 is a monitor of FIGS. FIG. 11 is a flowchart showing the operation, FIG. 11 is a flowchart showing the operation of the SW simulator of FIGS. 1 to 8, and FIG.
5 is a flowchart showing the operation of the HW state setting unit of the SW simulator of FIG.

【0011】図1の実施例は、SWシミュレータ13
と、オペレーティングシステム(OS)12とを備えて
構成されている。SWシミュレータ13は、OS12上
のアプリケーションプログラムとして実行され、SWシ
ミュレータ13上には、モニタ11が実行される。ま
た、試験プログラム91は、モニタ11の制御の下で実
行される。
In the embodiment shown in FIG. 1, the SW simulator 13 is used.
And an operating system (OS) 12. The SW simulator 13 is executed as an application program on the OS 12, and the monitor 11 is executed on the SW simulator 13. Further, the test program 91 is executed under the control of the monitor 11.

【0012】SWシミュレータ13は、ハードウエアモ
デル情報(HWモデル情報)131と、ハードウエア状
態設定部(HW状態設定部)132と、ワーキングハー
ドウア指示部(ワーキングHW指示部)133とを含ん
でいる。
The SW simulator 13 includes hardware model information (HW model information) 131, a hardware state setting section (HW state setting section) 132, and a working hardware instruction section (working HW instruction section) 133. There is.

【0013】試験プログラム91は、図9に示すよう
に、試験プログラム91〜9mの一つであり、試験ユニ
ット911〜91nを含んでいる。
As shown in FIG. 9, the test program 91 is one of the test programs 91 to 9m and includes test units 911 to 91n.

【0014】試験ユニット911〜91nの動作は、図
10のステップ1002に例示するように、まず試験実
行のための環境を設定し(ステップ9111)、次に試
験を実行し(ステップ9112)、続いてこの実行した
試験の環境が次の試験に影響を与えないように復旧する
処理を行う(ステップ9113)。
The operation of the test units 911 to 91n first sets an environment for executing the test (step 9111), then executes the test (step 9112), as illustrated in step 1002 of FIG. A process is performed to restore the environment of the executed test so as not to affect the next test (step 9113).

【0015】モニタ11は、試験ユニット開始通知部1
11を含んでおり、図10に示すように、ステップ(試
験ユニット)1002の実行前に共通的に行うステップ
(モニタ処理)1001の処理を行った後、ステップ
(試験ユニット)1002の試験ユニット911の実行
を行い、続いて試験ユニット911の実行後の共通的な
モニタ処理を行う(ステップ1003)。
The monitor 11 includes a test unit start notification unit 1
As shown in FIG. 10, after performing the step (monitor processing) 1001 commonly performed before the execution of the step (test unit) 1002, the test unit 911 of the step (test unit) 1002 is included. Is executed, and then a common monitor process after the execution of the test unit 911 is executed (step 1003).

【0016】ステップ(モニタ処理)1001のモニタ
処理においては、モニタ11は、試験ユニット開始通知
部111によって試験ユニット911の開始をSWシミ
ュレータ13に通知する。SWシミュレータ13は、H
W状態設定部132を有しており、図11に示すよう
に、HWモデル情報131の中にある命令カウンタ(I
C)が示すメモリにある命令を取出す命令フェッチ処理
を行い(ステップ1101)、続いてそのフェッチした
命令のコードをチェックする命令デコード処理を行い
(ステップ1102)、次に、その命令コードに従った
個別の命令を実行する個別命令処理を行い(ステップ1
103)、次に、今実行した命令の命令語長をICに加
算し(ステップ1104)、続いてタイマやプログラム
割込み等のイベントをチェックしてこれらのイベントに
対するイベントポーリング処理を行う(ステップ110
5)。以上の処理を反復する。
In the monitor processing of step (monitor processing) 1001, the monitor 11 notifies the SW simulator 13 of the start of the test unit 911 by the test unit start notification unit 111. SW simulator 13 is H
The W state setting unit 132 is provided, and as shown in FIG. 11, the instruction counter (I
The instruction fetch process for fetching the instruction in the memory indicated by C) is performed (step 1101), the instruction decode process for checking the code of the fetched instruction is performed (step 1102), and then the instruction code is followed. Performs individual instruction processing to execute individual instructions (step 1
103) Next, the instruction word length of the instruction just executed is added to the IC (step 1104), and then events such as timer and program interrupt are checked and event polling processing for these events is performed (step 110).
5). The above process is repeated.

【0017】SWシミュレータ13は、上記のステップ
1105におけるイベントポーリング処理において、試
験ユニット開始のときの処理として、図12に示すよう
に、モニタ11の試験ユニット開始通知部111からの
試験ユニット911の開始通知を検出し、HW状態設定
部132によって試験ユニットの開始通知の有無を検出
し(ステップ1201)、開始通知がなければ試験開始
時の処理を行わずに次の処理に移行し、開始通知があっ
たときは、ワーキングHW指示部133の指示に従って
HWモデル情報131のワーキングHW部分に特定のパ
ターンを設定する(ステップ1204)。
As shown in FIG. 12, the SW simulator 13 starts the test unit 911 from the test unit start notification unit 111 of the monitor 11 as the process at the time of starting the test unit in the event polling process in step 1105 described above. The notification is detected, and the presence or absence of the start notification of the test unit is detected by the HW state setting unit 132 (step 1201). If there is no start notification, the process at the start of the test is not performed and the next process is performed. If there is, a specific pattern is set in the working HW portion of the HW model information 131 according to the instruction of the working HW instruction unit 133 (step 1204).

【0018】一般に、試験プログラムが使用するかもし
れない初期値不定のワーキングHW部分が改変されてい
ることから、試験ユニット911がこれを使用して期待
する初期値設定を行っていないときは、試験ユニット9
11においてエラー検出報告をする等の異常動作や異常
状態か発生するため、試験ユニット911に干渉問題あ
ることが判る。この干渉問題をなくして試験ユニット9
11によって正常に終了することを確認するか、もとも
と干渉問題がないことを正常に終了することで確認する
ことにより、試験ユニット911の干渉に関する評価が
できる。この処理を他の試験ユニットにも適用して全て
の試験ユニットの干渉に関する評価を行う。
In general, since the working HW part with an undefined initial value which may be used by the test program has been modified, the test unit 911 does not use this to set the desired initial value. Unit 9
It is understood that the test unit 911 has an interference problem because an abnormal operation such as an error detection report or an abnormal state occurs at 11. Test unit 9 eliminates this interference problem
It is possible to evaluate the interference of the test unit 911 by confirming that the test unit 911 normally terminates or by confirming that there is no interference problem originally. This process is also applied to other test units to evaluate interference of all test units.

【0019】図2は本発明の第二の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 2 is a schematic diagram showing the configuration of the second embodiment of the present invention.

【0020】図2の実施例は、SWシミュレータ23に
パターン指定部236を加えた以外は図1の実施例と同
じ構成である。パターン指定部236は、アプリケーシ
ョンプログラムとしてのSMシミュレータ23を起動す
るための起動パラメータ、または、SMシミュレータ2
3がOS12を経由して受取るパラメータとして、HW
状態設定部232にワーキングHWに対する状態設定を
するパターン指示を行ようにしたものである。このパタ
ーン指示をもとに、図12のステップ1204における
ワーキングHW部分に対する特定パターンの設定を行う
ことにより、試験プログラムの評価者が意図する状態設
定、または複数のパターンによる評価が可能な試験プロ
グラム評価システムとなる。
The embodiment of FIG. 2 has the same configuration as that of the embodiment of FIG. 1 except that a pattern designating section 236 is added to the SW simulator 23. The pattern designation unit 236 is a start parameter for starting the SM simulator 23 as an application program, or the SM simulator 2
HW as a parameter that 3 receives via OS12
The pattern setting unit 232 is designed to give a pattern instruction for setting a state for the working HW. By setting a specific pattern for the working HW portion in step 1204 of FIG. 12 based on this pattern instruction, the state setting intended by the evaluator of the test program is set, or the test program evaluation that allows evaluation by a plurality of patterns is performed. Become a system.

【0021】図3は本発明の第三の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing the configuration of the third embodiment of the present invention.

【0022】図3の実施例は、図1の実施例のSMシミ
ュレータ13のワーキングHW指示部133を削除し、
代りにディスク装置14を接続し、ディスク装置14に
ワーキングHW指示部141を設けた構成としたもので
ある。ワーキングHW指示部141は、OS12上のエ
ディタ等の標準のツールを用いて容易に変更することが
できるため、モニタ11や試験プログラム91〜9mが
使用する初期値不定のワーキングHW部が変っても、容
易にしかもSMシミュレータ33の変更なしに対応する
ことが可能な試験プログラム評価システムとなる。
In the embodiment of FIG. 3, the working HW instruction section 133 of the SM simulator 13 of the embodiment of FIG. 1 is deleted,
Instead, the disk device 14 is connected, and the disk device 14 is provided with a working HW instruction section 141. Since the working HW instruction unit 141 can be easily changed by using a standard tool such as an editor on the OS 12, even if the working HW unit with undefined initial values used by the monitor 11 or the test programs 91 to 9m changes. Thus, the test program evaluation system can be easily coped with without changing the SM simulator 33.

【0023】図4は本発明の第四の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 4 is a schematic diagram showing the structure of the fourth embodiment of the present invention.

【0024】図4の実施例は、図2の実施例のSMシミ
ュレータ23のワーキングHW指示部133を削除し、
代りにディスク装置14を接続し、ディスク装置14に
ワーキングHW指示部141を設けた構成としたもので
あり、図3の実施例にパターン指定部236を加えた構
成としたものでもある。パターン指定部236は、図2
の実施例と同様に、アプリケーションプログラムとして
のSMシミュレータ43を起動するための起動パラメー
タ、または、SMシミュレータ43がOS12を経由し
て受取るパラメータとして、HW状態設定部232にワ
ーキングHWに対する状態設定をするパターン指示を行
ようにしたものである。このパターン指示をもとに、図
12のステップ1204におけるワーキングHW部分に
対する特定パターンの設定を行うことにより、試験プロ
グラムの評価者が意図する状態設定、または複数のパタ
ーンによる評価が可能な試験プログラム評価システムと
なる。ワーキングHW指示部141は、図3の実施例と
同様に、OS12上のエディタ等の標準のツールを用い
て容易に変更することができるため、モニタ11や試験
プログラム91〜9mが使用する初期値不定のワーキン
グHW部が変っても、容易にしかもSMシミュレータ4
3の変更なしに対応することが可能な試験プログラム評
価システムとなる。
In the embodiment of FIG. 4, the working HW instructing section 133 of the SM simulator 23 of the embodiment of FIG. 2 is deleted,
Instead, the disk device 14 is connected and the working HW instructing section 141 is provided in the disk apparatus 14, and the pattern specifying section 236 is added to the embodiment of FIG. The pattern designation unit 236 is shown in FIG.
In the same manner as in the first embodiment, the HW state setting unit 232 sets the state for the working HW as a start parameter for starting the SM simulator 43 as an application program or a parameter received by the SM simulator 43 via the OS 12. This is a pattern instruction. By setting a specific pattern for the working HW portion in step 1204 of FIG. 12 based on this pattern instruction, the state setting intended by the evaluator of the test program is set, or the test program evaluation that allows evaluation by a plurality of patterns is performed. Become a system. The working HW instructing unit 141 can be easily changed by using a standard tool such as an editor on the OS 12 as in the embodiment of FIG. 3, so that the initial values used by the monitor 11 and the test programs 91 to 9m can be changed. Even if the indefinite working HW part changes, it is easy and SM simulator 4
It becomes a test program evaluation system that can cope with 3 changes.

【0025】図5は本発明の第五の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing the structure of the fifth embodiment of the present invention.

【0026】図5の実施例は、図1の実施例のSWシミ
ュレータ13に、ハードウエア状態設定値設定部(HW
状態設定値設定部)534と、ハードウエア状態設定値
(HW状態設定値)535とを加えた構成としたもので
えあり、その他の構成は図1の実施例と同じである。本
実施例は、試験ユニット開始のときの処理ととき、図1
3に示すように、試験開始の通知があると(ステップ1
301)、ワーキングHWに対する状態設定をHW状態
設定値535の値を用いて行う(ステップ1304)。
このとき、HW状態設定値535の値が未設定のときは
(ステップ1302)、ワーキングHW指示部533の
指示に従ってHWモデル情報531のワーキングHW部
分からHWモデル状態を取出し、HW状態設定値設定部
534において反転データを書込む等の加工を加えてH
W状態設定値535に格納する(ステップ1303)。
In the embodiment shown in FIG. 5, the SW simulator 13 of the embodiment shown in FIG.
It may have a configuration in which a state setting value setting unit) 534 and a hardware state setting value (HW state setting value) 535 are added, and other configurations are the same as those in the embodiment of FIG. In the present embodiment, the process at the start of the test unit and the process shown in FIG.
As shown in step 3, when there is a notification of the start of the test (step 1
301), the status setting for the working HW is performed using the value of the HW status setting value 535 (step 1304).
At this time, when the value of the HW state set value 535 is not set (step 1302), the HW model state is extracted from the working HW portion of the HW model information 531 according to the instruction of the working HW instruction unit 533, and the HW state set value setting unit is set. At 534, processing such as writing inversion data is performed and H
The value is stored in the W state set value 535 (step 1303).

【0027】図6は本発明の第六の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing the structure of the sixth embodiment of the present invention.

【0028】図6の実施例は、SWシミュレータ63に
加工指示部637を加えた以外は図5の実施例と同じ構
成である。加工指示部637は、アプリケーションプロ
グラムとしてのSMシミュレータ63を起動するための
起動パラメータ、または、SMシミュレータ63がOS
12を経由して受取るパラメータとして、HW状態設定
値設定部634に対してHW状態設定値535に設定す
るパターンの加工を指示する。ワーキングHW指示部5
33に従ってHWモデル情報131のワーキングHW部
からHWモデル状態を取出し、この取出したデータをも
とに、反転化等の指定された加工規則に従った加工を行
ってそれをHW状態設定値535に格納する。これによ
り、試験プログラムの評価者が意図する状態設定、また
は複数のパターンによる評価が可能な試験プログラム評
価システムとなる。
The embodiment of FIG. 6 has the same configuration as that of the embodiment of FIG. 5, except that a processing instruction section 637 is added to the SW simulator 63. The processing instruction unit 637 is a start parameter for starting the SM simulator 63 as an application program, or the SM simulator 63 is an OS.
As a parameter received via 12, the HW state set value setting unit 634 is instructed to process the pattern to be set to the HW state set value 535. Working HW instruction section 5
According to 33, the HW model state is taken out from the working HW part of the HW model information 131, based on the fetched data, processing is performed according to a designated processing rule such as inversion and the HW state set value 535 is set. Store. As a result, the test program evaluation system is capable of setting the state intended by the evaluator of the test program or performing evaluation based on a plurality of patterns.

【0029】図7は本発明の第七の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 7 is a schematic diagram showing the structure of the seventh embodiment of the present invention.

【0030】図7の実施例は、図5の実施例のSMシミ
ュレータ53のワーキングHW指示部533およびHW
状態設定値535を削除し、代りにディスク装置74を
接続し、ディスク装置74にワーキングHW指示部74
1およびHW状態設定値742を設けた構成としたもの
である。また、ワーキングHW指示部741の変更に伴
ってサイズの変更があっても、SMシミュレータ53を
変更せずにHW状態設定値742のサイズをディスク装
置74上で拡大できるが、SMシミュレータ53のデー
タエリアとして定義してあってもよい。このとき、この
領域を大きめに設定したり、ダイナミックアサインする
方式を採用することにより、サイズの変更に対して柔軟
に対応できる方式とすることができる。
In the embodiment of FIG. 7, the working HW instructing section 533 and the HW of the SM simulator 53 of the embodiment of FIG.
The status set value 535 is deleted, the disk device 74 is connected instead, and the working HW instruction unit 74 is connected to the disk device 74.
1 and the HW state set value 742 are provided. Further, even if the size is changed due to the change of the working HW instruction unit 741, the size of the HW state set value 742 can be expanded on the disk device 74 without changing the SM simulator 53. It may be defined as an area. At this time, it is possible to flexibly deal with the size change by setting a large area or adopting a dynamic assigning method.

【0031】図8は本発明の第八の実施例の構成を示す
模式図である。
FIG. 8 is a schematic diagram showing the structure of the eighth embodiment of the present invention.

【0032】図8の実施例は、図6の実施例のSMシミ
ュレータ63のワーキングHW指示部533およびHW
状態設定値535を削除し、代りにディスク装置74を
接続し、ディスク装置74にワーキングHW指示部74
1およびHW状態設定値742を設けた構成としたもの
であり、図7の実施例に加工指示部637を加えた構成
としたものでもある。加工指示部637は、図6の実施
例と同様に、アプリケーションプログラムとしてのSM
シミュレータ83を起動するための起動パラメータ、ま
たは、SMシミュレータ83がOS12を経由して受取
るパラメータとして、HW状態設定値設定部734に対
してHW状態設定値742に設定するパターンの加工を
指示する。ワーキングHW指示部741に従ってHWモ
デル情報131のワーキングHW部からHWモデル状態
を取出し、この取出したデータをもとに、反転化等の指
定された加工規則に従った加工を行ってそれをHW状態
設定値742に格納する。これにより、試験プログラム
の評価者が意図する状態設定、または複数のパターンに
よる評価が可能な試験プログラム評価システムとなる。
また、ワーキングHW指示部741は、図7の実施例と
同様に、OS12上のエディタ等の標準のツールを用い
て容易に変更することができるため、モニタ11や試験
プログラム91〜9mが使用する初期値不定のワーキン
グHW部が変っても、容易にしかもSMシミュレータ8
3の変更なしに対応することが可能な試験プログラム評
価システムとなる。
In the embodiment of FIG. 8, the working HW instruction section 533 and the HW of the SM simulator 63 of the embodiment of FIG. 6 are used.
The status set value 535 is deleted, the disk device 74 is connected instead, and the working HW instruction unit 74 is connected to the disk device 74.
1 and the HW state set value 742 are provided, and the processing instruction section 637 is added to the embodiment of FIG. The processing instruction unit 637 is an SM as an application program, as in the embodiment of FIG.
As a starting parameter for starting the simulator 83 or a parameter received by the SM simulator 83 via the OS 12, the HW state set value setting unit 734 is instructed to process the pattern set to the HW state set value 742. The HW model state is extracted from the working HW section of the HW model information 131 according to the working HW instruction section 741, and based on the extracted data, processing is performed according to a specified processing rule such as inversion and the HW state is set. It is stored in the set value 742. As a result, the test program evaluation system is capable of setting the state intended by the evaluator of the test program or performing evaluation based on a plurality of patterns.
Further, the working HW instructing unit 741 can be easily changed by using a standard tool such as an editor on the OS 12 as in the embodiment shown in FIG. 7, and is therefore used by the monitor 11 and the test programs 91 to 9m. Even if the working HW part with undefined initial values changes, it is easy and the SM simulator 8
It becomes a test program evaluation system that can cope with 3 changes.

【0033】上記の各実施例は、従来のように全試験ユ
ニットおよび全試験プログラムを実行しなくても、一つ
の試験ユニットを実行することによって、全試験ユニッ
トの干渉の有無、すなわち全試験プログラムの干渉の有
無を評価できる。
In each of the above-mentioned embodiments, by executing one test unit without executing all the test units and all the test programs as in the conventional case, the presence or absence of interference of all the test units, that is, all the test programs. The presence or absence of interference can be evaluated.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験プロ
グラムの評価方法は、試験プログラムが使用する初期値
不定のワーキングHW部を試験実行の開始時に改変する
ことにより、初期値不定のHWの設定をせず、偶然に期
待する値になって、正常終了している試験ユニットがエ
ーラー検出報告を行う等の異常動作や異常状態になるこ
とにより、全試験ユニットおよび全試験プログラムを実
行しなくても、一つの試験ユニットを実行することによ
って全試験ユニットの干渉の有無、すなわち全試験プロ
グラムの干渉の有無を評価できるという効果があり、従
って、CPU資源を多く必要とせず、またターンアラウ
ンドタイムを短くできるという効果がある。また、一つ
の試験ユニットで変更して次の試験ユニットでもとの値
に戻しているため、従来の評価方法では発見できなかっ
たケースについても評価できるという効果もある。
As described above, the evaluation method of the test program of the present invention changes the working HW part with an undefined initial value by changing the working HW part with undefined initial value at the start of the test execution. Without setting, accidentally the expected value causes abnormal operation or abnormal status such as a normally ended test unit to report error detection, so all test units and all test programs are not executed. However, there is an effect that it is possible to evaluate the presence / absence of interference of all test units by executing one test unit, that is, the presence / absence of interference of all test programs. Therefore, a lot of CPU resources are not required and the turnaround time Has the effect of shortening Further, since the value is changed in one test unit and returned to the original value in the next test unit, there is an effect that it is possible to evaluate a case that cannot be found by the conventional evaluation method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第一の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of a first exemplary embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第二の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a configuration of a second exemplary embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第三の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a configuration of a third exemplary embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第四の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 4 is a schematic diagram showing a configuration of a fourth exemplary embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第五の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 5 is a schematic diagram showing a configuration of a fifth exemplary embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第六の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a configuration of a sixth exemplary embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第七の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 7 is a schematic diagram showing a configuration of a seventh exemplary embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第八の実施例の構成を示す模式図であ
る。
FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of an eighth exemplary embodiment of the present invention.

【図9】図1〜図8の試験プログラムを示すブロック図
である。
9 is a block diagram showing the test program of FIGS. 1 to 8. FIG.

【図10】図1〜図8のモニタの動作を示すフローチャ
ートである。
FIG. 10 is a flowchart showing the operation of the monitor of FIGS.

【図11】図1〜図8のSWシミュレータの動作を示す
フローチャートである。
FIG. 11 is a flowchart showing the operation of the SW simulator shown in FIGS.

【図12】図1〜図4のSWシミュレータのHW状態設
定部の動作を示すフローチャートである。
FIG. 12 is a flowchart showing the operation of the HW state setting unit of the SW simulator shown in FIGS.

【図13】図5〜図8のSWシミュレータのHW状態設
定部とHW状態設定値設定部の動作を示すフローチャー
トである。
FIG. 13 is a flowchart showing the operations of the HW state setting unit and the HW state setting value setting unit of the SW simulator of FIGS.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 モニタ 12 オペレーティングシステム(OS) 13・23・33・43・53・63・73・83
SWシミュレータ 14・74 ディスク装置 91〜9m 試験プログラム 111 試験ユニット開始通知部 131・531 ハードウエアモデル情報(HWモデ
ル情報) 132・232・532・732 ハードウエア状態
設定部(HW状態設定部) 133・141・533・741 ワーキングハード
ウア指示部(ワーキングHW指示部) 236 パターン指定部 534・634・734 ハードウエア状態設定値設
定部(HW状態設定値設定部) 535・742 ハードウエア状態設定値(HW状態
設定値) 637 加工指示部 911〜91n 試験プログラム 1001〜1003・1101〜1105・1201・
1204・1301〜1104・9111〜9113
ステップ
11 Monitor 12 Operating System (OS) 13.23.33.43.53.63.73.83
SW simulator 14 ・ 74 Disk device 91-9m Test program 111 Test unit start notification unit 131 ・ 531 Hardware model information (HW model information) 132 ・ 232 ・ 532 ・ 732 Hardware state setting unit (HW state setting unit) 133 ・141/533/741 Working hardware instruction section (working HW instruction section) 236 Pattern designation section 534/634/734 Hardware state set value setting section (HW state set value setting section) 535/742 Hardware state set value (HW State setting value) 637 Processing instruction section 911 to 91n Test program 1001 to 1003.1101 to 1105.1201.
1204/1301 to 1104/9111 to 9113
Step

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 少なくとも一つの試験ユニットを有する
複数の試験プログラムを実行するモニタを有するソフト
ウエアシュミレータをアプリケーションプログラムとし
て実行するオペレーティングシステムによって前記試験
プログラムの相互干渉に関する評価を行う試験プログラ
ムの評価方法であって、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記試験プログラムが使用する初期値不定のワーキン
グハードウエアモデル情報を指定するワーキングハード
ウア指示部と前記ワーキングハードウエアモデル情報中
の指定されたハードウエア部分に特定のパターンを設定
するハードウエア状態設定部とを設け、前記モニタに前
記試験ユニットの開始を検出して前記ソフトウエアシュ
ミレータに通知する試験ユニット開始通知部を設け、前
記ソフトウエアシュミレータが前記モニタ中の前記試験
ユニット開始通知部から前記試験ユニットの開始の通知
を受けたとき、前記ハードウエア状態設定部によって前
記ワーキングハードウエア指示部の指示に従って前記試
験プログラムのワーキングハードウエア部分に前記特定
のパターンを設定することを含むことを特徴とする試験
プログラムの評価方法。
1. A test program evaluation method for evaluating mutual interference between test programs by an operating system executing a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. There is a specific pattern in the specified hardware part in the working hardware model information and the working hardware model information that specifies the working hardware model information in which the initial value is indefinite to be used by the test program in the software simulator. And a hardware state setting unit for setting, and a monitor unit start notification unit for detecting the start of the test unit and notifying the software simulator to the monitor. When the mirator receives the notification of the start of the test unit from the test unit start notification unit in the monitor, the hardware state setting unit causes the working hardware portion of the test program to follow the instruction of the working hardware instruction unit. A method for evaluating a test program, comprising setting the specific pattern.
【請求項2】 ソフトウエアシュミレータにワーキング
ハードウア指示部によって指示された試験プログラムの
ワーキングハードウエア部分に設定するための特定のパ
ターンを指定するパターン指定部を設け、試験ユニット
の開始時に前記ワーキングハードウア指示部によって指
示された前記ワーキングハードウエア部分に前記特定の
パターンを設定することを含むことを特徴とする請求項
1記載の試験プログラムの評価方法。
2. A software simulator is provided with a pattern designating section for designating a specific pattern to be set in the working hardware portion of the test program designated by the working hardware designating section, and the working hardware is provided at the start of the test unit. The test program evaluation method according to claim 1, further comprising setting the specific pattern in the working hardware portion instructed by a war instruction unit.
【請求項3】 少なくとも一つの試験ユニットを有する
複数の試験プログラムを実行するモニタを有するソフト
ウエアシュミレータをアプリケーションプログラムとし
て実行するオペレーティングシステムによって前記試験
プログラムの相互干渉に関する評価を行う試験プログラ
ムの評価方法であって、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記試験プログラムが使用する初期値不定のワーキン
グハードウエアモデル情報中の指定されたハードウエア
部分に特定のパターンを設定するハードウエア状態設定
部を設け、前記モニタに前記試験ユニットの開始を検出
して前記ソフトウエアシュミレータに通知する試験ユニ
ット開始通知部を設け、前記ソフトウエアシュミレータ
にディスク装置を接続して前記ディスク装置に前記ワー
キングハードウエアモデル情報を指定するワーキングハ
ードウア指示部を設け、前記ソフトウエアシュミレータ
が前記モニタ中の前記試験ユニット開始通知部から前記
試験ユニットの開始の通知を受けたとき、前記ハードウ
エア状態設定部によって前記ワーキングハードウエア指
示部の指示に従って前記試験プログラムのワーキングハ
ードウエアに前記特定のパターンを設定することを含む
ことを特徴とする試験プログラムの評価方法。
3. A test program evaluation method for evaluating mutual interference between the test programs by an operating system executing a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. Therefore, the software simulator is provided with a hardware state setting unit for setting a specific pattern in a specified hardware portion in the working hardware model information of which the initial value is indefinite to be used by the test program, and the monitor is provided with the hardware state setting unit. A test unit start notification unit for detecting the start of a test unit and notifying the software simulator is provided, and a disk device is connected to the software simulator to connect the working hardware to the disk device. A working hardware instruction section for designating model information is provided, and when the software simulator receives a notification of the start of the test unit from the test unit start notification section being monitored, the working state is set by the hardware state setting section. An evaluation method of a test program, comprising setting the specific pattern in the working hardware of the test program according to an instruction of a hardware instruction unit.
【請求項4】 ソフトウエアシュミレータにワーキング
ハードウア指示部によって指示された試験プログラムの
ワーキングハードウエア部分に設定するための特定のパ
ターンを指定するパターン指定部を設け、試験ユニット
の開始時に前記ワーキングハードウア指示部によって指
示された前記ワーキングハードウエア部分に前記特定の
パターンを設定することを含むことを特徴とする請求項
3記載の試験プログラムの評価方法。
4. The software simulator is provided with a pattern designating unit for designating a specific pattern to be set in the working hardware portion of the test program designated by the working hardware designating unit, and the working hardware is provided at the start of the test unit. 4. The test program evaluation method according to claim 3, further comprising setting the specific pattern in the working hardware portion instructed by a war instruction unit.
【請求項5】 少なくとも一つの試験ユニットを有する
複数の試験プログラムを実行するモニタを有するソフト
ウエアシュミレータをアプリケーションプログラムとし
て実行するオペレーティングシステムによって前記試験
プログラムの相互干渉に関する評価を行う試験プログラ
ムの評価方法であって、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記試験プログラムが使用する初期値不定のワーキン
グハードウエアモデル情報を指定するワーキングハード
ウア指示部と前記ワーキングハードウエアモデル情報中
の指定されたハードウエア部分に特定のパターンを設定
するハードウエア状態設定部と、前記ハードウエア状態
設定部に設定するデータを格納するハードウエア状態設
定値と、前記ハードウエア状態設定値に前記データが格
納されていない場合に試験ユニットの開始の通知を受け
て前記ハードウエア部分の状態値を取出して加工して前
記ハードウエア状態設定値に格納するハードウエア状態
設定値設定部とを設け、前記モニタに前記試験ユニット
の開始を検出して前記ソフトウエアシュミレータに通知
する試験ユニット開始通知部を設け、前記ソフトウエア
シュミレータが前記モニタ中の前記試験ユニット開始通
知部から前記試験ユニットの開始の通知を受けたとき、
前記ハードウエア状態設定値にデータが格納されていな
い場合は前記ハードウエア状態設定値設定部によって設
定し、前記ハードウエア状態設定部によって前記ワーキ
ングハードウエア指示部の指示に従って前記試験プログ
ラムのワーキングハードウエア部分に前記特定のパター
ンを設定することを含むことを特徴とする試験プログラ
ムの評価方法。
5. A test program evaluation method for evaluating mutual interference between test programs by an operating system executing a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. There is a specific pattern in the specified hardware part in the working hardware model information and the working hardware model information that specifies the working hardware model information in which the initial value is indefinite to be used by the test program in the software simulator. A hardware status setting unit that sets the value, a hardware status setting value that stores data to be set in the hardware status setting unit, and the data is not stored in the hardware status setting value. And a hardware state set value setting unit that receives the notification of the start of the test unit, extracts the state value of the hardware portion, processes it, and stores it in the hardware state set value, and provides the monitor with the hardware state set value setting unit. A test unit start notification unit that detects a start and notifies the software simulator is provided, and when the software simulator receives a notification of the start of the test unit from the test unit start notification unit in the monitor,
If no data is stored in the hardware status setting value, the hardware status setting value setting unit sets the data, and the hardware status setting unit operates the working hardware of the test program according to the instruction of the working hardware instruction unit. A method for evaluating a test program, comprising setting the specific pattern in a portion.
【請求項6】 ソフトウエアシュミレータにハードウエ
ア状態設定値設定部においてハードウエア部分の状態値
を取出して加工するときの加工方法を指示する加工指示
部を設け、前記ソフトウエアシュミレータがモニタ中の
試験ユニット開始通知部から前記試験ユニットの開始の
通知を受けてハードウエア状態設定値に設定するとき、
前記加工指示部からの指示によって加工することを含む
ことを特徴とする請求項5記載の試験プログラムの評価
方法。
6. A software simulator is provided with a machining instructing section for instructing a machining method when a hardware state set value setting section takes out a state value of a hardware portion to machine the test, and the software simulator conducts a test under monitoring. When receiving the notification of the start of the test unit from the unit start notification unit and setting the hardware state setting value,
The evaluation method of a test program according to claim 5, further comprising processing according to an instruction from the processing instruction unit.
【請求項7】 少なくとも一つの試験ユニットを有する
複数の試験プログラムを実行するモニタを有するソフト
ウエアシュミレータをアピリケーションプログラムとし
て実行するオペレーティングシステムによって前記試験
プログラムの相互干渉に関する評価を行う試験プログラ
ムの評価方法であって、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記試験プログラムが使用する初期値不定のワーキン
グハードウエアモデル情報中の指定されたハードウエア
部分に特定のパターンを設定するハードウエア状態設定
部と、ハードウエア状態設定値にデータが格納されてい
ない場合に試験ユニットの開始の通知を受けて前記ハー
ドウエア部分の状態値を取出して加工してディスク装置
のハードウエア状態設定値に格納するハードウエア状態
設定値設定部とを設け、前記ソフトウエアシュミレータ
に前記ディスク装置を接続して前記ディスク装置に前記
ワーキングハードウエアモデル情報を指定するワーキン
グハードウア指示部と前記ハードウエア状態設定部に設
定するデータを格納する前記ハードウエア状態設定値と
を設け、前記モニタに前記試験ユニットの開始を検出し
て前記ソフトウエアシュミレータに通知する試験ユニッ
ト開始通知部を設け、前記ソフトウエアシュミレータが
前記モニタ中の前記試験ユニット開始通知部から前記試
験ユニットの開始の通知を受けたとき、前記ハードウエ
ア状態設定値にデータが格納されていない場合は前記ハ
ードウエア状態設定値設定部によって設定し、前記ハー
ドウエア状態設定部によって前記ワーキングハードウエ
ア指示部の指示に従って前記試験プログラムのワーキン
グハードウエア部分に前記特定のパターンを設定するこ
とを含むことを特徴とする試験プログラムの評価方法。
7. A test program evaluation method for evaluating mutual interference between the test programs by an operating system which executes a software simulator having a monitor for executing a plurality of test programs having at least one test unit as an application program. And a hardware state setting unit for setting a specific pattern in a specified hardware portion in the working hardware model information of which the initial value is indefinite which is used by the test program in the software simulator, and a hardware state setting A hardware status setting value setting section that receives the notification of the start of the test unit when the data is not stored in the value, extracts the status value of the hardware part, processes it, and stores it in the hardware status setting value of the disk device. And set The hardware state storing the data to be set in the working hardware instruction section for designating the working hardware model information in the disk apparatus by connecting the disk apparatus to the software simulator and the hardware state setting section. A set value is provided, and a test unit start notification unit that detects the start of the test unit and notifies the software simulator to the monitor is provided, and the software simulator notifies the test unit start notification unit in the monitor from the test unit start notification unit. Upon receiving the notification of the start of the test unit, if no data is stored in the hardware state set value, the hardware state set value setting unit sets the data, and the hardware state setting unit sets the working hardware instruction. Follow the instructions of the department Evaluation of the test program, characterized in that it comprises setting the specific pattern in the working hardware portion of the ram.
【請求項8】 ソフトウエアシュミレータにハードウエ
ア状態設定値設定部においてハードウエア部分の状態値
を取出して加工するときの加工方法を指示する加工指示
部を設け、前記ソフトウエアシュミレータがモニタ中の
試験ユニット開始通知部から前記試験ユニットの開始の
通知を受けてハードウエア状態設定値に設定するとき、
前記加工指示部からの指示によって加工することを含む
ことを特徴とする請求項7記載の試験プログラムの評価
方法。
8. The software simulator is provided with a machining instructing unit for instructing a machining method when a hardware state set value setting unit extracts a state value of a hardware portion and performs machining, and the software simulator conducts a test under monitoring. When receiving the notification of the start of the test unit from the unit start notification unit and setting the hardware state setting value,
8. The test program evaluation method according to claim 7, further comprising: processing according to an instruction from the processing instruction unit.
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