JPH06100450B2 - ひずみ測定装置 - Google Patents

ひずみ測定装置

Info

Publication number
JPH06100450B2
JPH06100450B2 JP2753987A JP2753987A JPH06100450B2 JP H06100450 B2 JPH06100450 B2 JP H06100450B2 JP 2753987 A JP2753987 A JP 2753987A JP 2753987 A JP2753987 A JP 2753987A JP H06100450 B2 JPH06100450 B2 JP H06100450B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
strain
optical path
measured
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2753987A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63195508A (ja
Inventor
証英 原田
清記 須山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Harada Electronics Industry Co Ltd
Original Assignee
Harada Electronics Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Harada Electronics Industry Co Ltd filed Critical Harada Electronics Industry Co Ltd
Priority to JP2753987A priority Critical patent/JPH06100450B2/ja
Publication of JPS63195508A publication Critical patent/JPS63195508A/ja
Publication of JPH06100450B2 publication Critical patent/JPH06100450B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、ひずみ測定装置に関する。
(従来の技術) 一般に、ひずみの測定は、測定基準位置と不動の位置に
配置されたダイアルゲージの測定針を測定対象物に当接
させたり、測定対象物から垂下された水糸を測定基準位
置で測定することによって行われている。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながらたとえば橋床版、構造物等のひずみを測定
しようとした場合には、ダイアルゲージを測定基準位置
と不動の位置に配置するための支柱が必要とされ、しか
も測定の正確を期すためにはこの支柱は非常に大掛りな
ものになるという欠点を有する。また、水糸を用いた場
合には、野外では使用できないという欠点を有する。
本発明はこのような事情に対処してなされたもので、い
ずれの場所においても容易にかつ正確にひずみの測定が
行えるひずみ測定装置を提供することを目的としてい
る。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段とその作用) すなわち本発明のひずみ測定装置は、基準点に配置され
るレーザビーム発光手段と、このレーザビーム発光手段
から発光されるレーザビームの光路に沿ってこの光路と
傾斜させて測定対象物に複数配置されたハーフミラー
と、各ハーフミラーから反射される前記レーザビームの
光路に配置された固体撮像手段とを備えていることによ
り、いずれの場所においても容易にかつ正確にひずみの
測定が行われる。
(実施例) 以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づいて説明す
る。
第1図は橋床版のひずみ測定および振動解析に本発明を
適用した一実施例を示す図である。
同図において、符号1は橋下駄2…によって支えられて
いる橋床版を示している。
そして、橋下駄2の所定の位置の測定基準点にレーザビ
ーム発振器3を配置するとともに、このレーザビーム発
振器3から発光されるレーザビームの光路4に沿ってこ
の光路4とたとえば45゜傾斜させて測定対象物である橋
床版1にハーフミラー5を複数配置し、さらに各ハーフ
ミラー5…から反射されるレーザビームの光路6にそれ
ぞれ2次元のCCDカメラ7を配置する。
しかして、この橋床版1にひずみが生じ、たとえば第2
図に示すように、橋床版1の位置が図中実線から図中破
線の位置に変位したとすると、各位置に配置されたハー
フミラーおよびCCDカメラ7の位置も図中実線から図中
破線の位置に変位する。一方、レーザビームの光路4は
不動であるため、ハーフミラー5から反射されるレーザ
ビームの光路6のCCDカメラ7に照射される位置は、第
3図に示す(イ)の位置から(ロ)に示す位置に変位す
る。しかるに、CCDカメラ7によってレーザビームの光
路6の変位を検出しそのデータを解析することによりそ
のひずみ量が測定される。また、各位置における変位を
時系列的に測定し、これによって得られたデータから常
法によって振動解析を行うことができる。
なお、上述した例は橋床版1が上下に変位したものを示
すものであったが、たとえばこの橋床版1が左右に変位
する場合であっても同様に測定することができる。この
場合、ハーフミラー5から反射されるレーザビームの光
路6のCCDカメラ7に照射される位置は、第3図に示す
(ハ)〜(ニ)方向に変位する。
また、1組の2次元CCDカメラ7を測定対象物である橋
下駄2の所定の位置に配置し、レーザビーム発振器3を
測定基準点である地上に配置し、このレーザビーム発振
器3から発光されるレーザビームをCCDカメラに照射す
ることによって橋下駄2のひずみの測定が行える。な
お、この値を時系列的に測定していくことによって上述
の橋床版1の振動解析における測定基準点を地上とする
補正が行える。
次に、本発明を適用した他の実施例について説明する。
第4図は加力載荷システムにおけるひずみ測定に本発明
を適用したものを示すもので、図中符号8は構造物であ
って、この構造物8は加力載荷システム9によってひず
みが加えられるようになっている。そして、地上の所定
の位置の測定基準点にレーザビーム発振器3を配置する
とともに、複数のハーフミラー5および2次元のCCDカ
メラ7を上述した実施例と同様に測定対象物である構造
物8に配置することによって上述した実施例と同様にそ
のひずみを測定することができる。
第5図は地震予知のための水平、垂直ボーリング孔内の
ひずみ測定に本発明を適用したものを示すもので、この
場合においても図中符号10で示すボーリングの孔内の所
定の測定基準点にレーザビーム発振器3を配置するとと
もに、複数のハーフミラー5および2次元のCCDカメラ
7を測定対象物であるボーリング10の孔内の所定の位置
に配置することによって上述した実施例と同様にそのひ
ずみを測定することができる。
第6図はレッカー車のレッカーの金属疲労によるひずみ
測定に本発明を適用したものを示すもので、この場合に
おいても図中符号11で示すレッカーの基部の測定基準点
にレーザビーム発振器3を配置するとともに、複数のハ
ーフミラー5および2次元のCCDカメラ7を測定対象物
であるレッカー11の所定の位置に配置することによって
上述した実施例と同様にそのひずみを測定することがで
きる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明のひずみ測定装置によれば、
測定対象物にハーフミラーと固体撮像手段を配置し、基
準点にレーザビーム発振器を配置するだけで、いずれの
場所においても容易にかつ正確にひずみの測定が行われ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は本発明の一実施例の説明図、第4
図ないし第6図は本発明の他の実施例の説明図である。 3……レーザビーム発振器 5……ハーフミラー 7……CCDカメラ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基準点に配置されるレーザビーム発光手段
    と、このレーザビーム発光手段から発光されるレーザビ
    ームの光路に沿ってこの光路と傾斜させて測定対象物に
    複数配置されたハーフミラーと、各ハーフミラーから反
    射される前記レーザビームの光路に配置された固体撮像
    手段とを備えていることを特徴とするひずみ測定装置。
JP2753987A 1987-02-09 1987-02-09 ひずみ測定装置 Expired - Fee Related JPH06100450B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2753987A JPH06100450B2 (ja) 1987-02-09 1987-02-09 ひずみ測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2753987A JPH06100450B2 (ja) 1987-02-09 1987-02-09 ひずみ測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63195508A JPS63195508A (ja) 1988-08-12
JPH06100450B2 true JPH06100450B2 (ja) 1994-12-12

Family

ID=12223893

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2753987A Expired - Fee Related JPH06100450B2 (ja) 1987-02-09 1987-02-09 ひずみ測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06100450B2 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100437259B1 (ko) * 2002-01-19 2004-06-23 한국표준과학연구원 대형 구조물의 진동 측정장치 및 측정방법
KR20030080162A (ko) * 2002-04-06 2003-10-11 김희식 촬상소자 센서를 이용한 실시간 구조물 변위 계측기
JP2006258613A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 National Institute Of Occupation Safety & Health Japan レーザー光と光センサを利用した変位計測及び変位検知システム。
KR101250007B1 (ko) * 2011-02-15 2013-04-03 서봉민 피반사체 수평측정장치 및 수평측정방법
CN103196384B (zh) * 2013-03-26 2016-12-28 辽宁工程技术大学 一种用于危险边坡变形监测的棱镜装置
KR101497939B1 (ko) * 2013-12-20 2015-03-03 삼성중공업(주) 구조물의 직진도를 계산하는 장치 및 방법
CN103822580B (zh) * 2014-02-12 2016-07-06 上海交通大学 超长框架变形与姿态的多点实时测量系统与方法
JP5998324B2 (ja) * 2015-02-27 2016-09-28 計測技研株式会社 変状測定装置及び変状測定方法
CN115112092A (zh) * 2022-07-12 2022-09-27 道冲裕和(深圳)光电技术有限公司 一种激光光电沉降仪

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63195508A (ja) 1988-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7075661B2 (en) Apparatus and method for obtaining three-dimensional positional data from a two-dimensional captured image
JP2979431B2 (ja) レーザビームを偏向させるための制御装置を較正するための方法および装置
JP3189500B2 (ja) 電子部品の外観検査装置および外観検査方法
US4490617A (en) Optical width measuring system using two cameras
CN109070221A (zh) 对增材制造设备中的多个扫描器的校准方法
JP7294778B2 (ja) 製造中または他の作業中における対象物のライブ計測
JPH06100450B2 (ja) ひずみ測定装置
US7391523B1 (en) Curvature/tilt metrology tool with closed loop feedback control
US4207002A (en) Apparatus for detecting an output image of an optical correlation
JPH04503866A (ja) 対象物を写真測量するための装置
JPH05322562A (ja) 電子レベルと電子レベル用標尺
JPS63302304A (ja) 1次元から3次元までの位置を定める信号処理系を一体化したセンサ
JP3596561B2 (ja) X線応力測定方法及びその装置
JP6967203B2 (ja) 変位計測方法、変位計測装置、変位観測方法
JP2793931B2 (ja) 光の二次元測定方法および表面粗さ測定方法と測定装置
JPS6117007A (ja) コンクリート製造装置の組立方法
JPH07190773A (ja) 光学式3次元位置検出装置
JP5383983B2 (ja) レンズメータおよびレンズ測定方法
JPH04315005A (ja) レーザ変位計
Guerra et al. Holographic Wide-Angle System for Deformation Measurement of Extended Structures. Optics 2022, 3, 79–87
JPS63138204A (ja) 形状測定方法
JPH06300525A (ja) 位置計測システム用テレビカメラ装置
JPH11118483A (ja) 写真計測装置及び写真計測方法
JP2818250B2 (ja) 半導体基板の評価方法およびその評価装置
JPH0139041B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees