JPH0593716A - 超音波測定装置 - Google Patents

超音波測定装置

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JPH0593716A
JPH0593716A JP3204462A JP20446291A JPH0593716A JP H0593716 A JPH0593716 A JP H0593716A JP 3204462 A JP3204462 A JP 3204462A JP 20446291 A JP20446291 A JP 20446291A JP H0593716 A JPH0593716 A JP H0593716A
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JP
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wave
sample
phase
reflection
acoustic lens
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Withdrawn
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JP3204462A
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English (en)
Inventor
Tomio Endo
富男 遠藤
Mitsugi Sakai
貢 酒井
Takeshi Yamagishi
毅 山岸
Yasuo Sasaki
靖夫 佐々木
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、周波数に限定されず、直接距離Z変
化による位相変化を検出し位相補正された複素V(Z)
曲線を測定できる超音波測定装置を提供することを目的
とする。 【構成】本発明は超音波測定装置において、音響レンズ
26の送受信部に測定時に超音波を微小スポットに収束
させる凹部と、平面部を設け、前記音響レンズ26と試
料28との間の距離の相対変化によって生じる位相変化
を、前記平面部から試料28に送受信される平面波の位
相から直接距離測定する超音波測定装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は試料の微小部分の弾性的
性質を超音波を利用して測定する超音波測定装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、収束された超音波を試料に入射
させて試料からの反射波を受波して超音波画像を作成
し、またはV(Z)曲線を利用して試料の微小部分のヤ
ング率等の弾性的性質を測定する超音波顕微鏡等の超音
波測定装置が知られている。
【0003】このような超音波顕微鏡は試料からの反射
波の強度をのみを測定している。これに対して、試料の
弾性的性質についてのより多くの情報を得るために反射
波の強度と位相を検出する超音波測定装置が考案されて
いる。以下に反射波の強度と位相を検出する超音波測定
装置について説明する。図8は従来の位相検出可能な超
音波測定装置の構成を示す図である。
【0004】この構成において、一定の周波数の連続波
を発生する基準信号発振部1に、前記連続波(以下、基
準信号と称する)の一部を切りとり、バースト波を出力
するためのアナログスイッチ2の入力側端子を接続す
る。前記アナログスイッチ2の出力側端子の一方には、
信号を一方向にのみ流すサーキュレータ3を介して、前
記バースト波を電気音響変換するトランスデューサ4及
び前置増幅器5が接続され、該出力側端子の他方には、
50Ωの抵抗R1が接続される。
【0005】前記トランスデューサ4には、微小なスポ
ットに超音波を収束させる音響レンズ6が取り付けられ
る。この音響レンズ6の焦点付近には、移動可能な試料
台7が設けられ、その上に試料8が載置される。そして
前記音響レンズ6と試料8との間が、超音波を伝播する
ためのカプラ液体9で満たされている。
【0006】そして前記前置増幅器5には、2つの乗算
部10、11がそれぞれ接続される。前記乗算部10
は、基準信号発振部1と基準信号が参照信号(第1参照
信号)として入力するように直接的に接続され、乗算部
11は、前記基準信号の位相を90°変化させた参照信
号(第2参照信号)を生成する90°移相部12を介し
て、基準信号発振部1と接続される。これらの乗算部1
0、11の出力端には、高周波成分を除去するローパス
フィルタ(LPF)13、14が接続される。これらL
PF13、14は、少なくとも基準信号発振部1の出力
する連続波の周波数の2倍の周波数が除去できる特性の
ものが採用されている。
【0007】これらの乗算部10、11及び、LPF1
3、14により、位相敏感検波(PSD)が行われる。
そして前記LPF13,14の出力側には、A/D変換
部15、16が接続されて、ここからの変換出力はデジ
タル化され、コンピュータ17にそれぞれ入力される。
前記コンピュータ17には、全体のタイミングを制御す
る制御部18が接続され、V(Z)測定時は、Z走査部
19によって前記試料9と前記音響レンズ17との間の
距離を変化させ、その変化を検出するZ検出部20と、
試料と音響レンズの距離をZ軸方向に変化させるZ走査
部19とが接続されている。このような従来の超音波測
定装置の動作を説明する。
【0008】前記基準信号発振部1は常時、一定周波数
の連続波を出力し、コンピュータ17及び制御部18の
制御信号により、アナグロスイッチ2を切替え動作さ
せ、送信バースト信号を生成する。
【0009】この送信バースト信号は、サーキュレータ
3を介してトランスデューサ4に印加されて超音波に変
換された後、この超音波は音響レンズ6を伝搬して、か
ら試料8に入射する。試料8で反射された反射波(以
下、受信信号と称する)は、音響レンズ6を伝搬しトラ
ンスデューサ4で電気信号に変換された後、この受信信
号は、前記サーキュレータ3を介して、前置増幅器5に
入力され、増幅されて前記乗算部10、11にそれぞれ
入力される。前記乗算部10では基準信号と同位相の参
照信号と前記受信信号との乗算を行ないインフェーズ成
分を出力する、また前記乗算部11は前記基準信号の位
相を移相部12で90°変化させた参照信号と受信信号
との乗算を行ないクワドラチャーフェーズ成分を出力す
る。
【0010】前記基準信号発振部1からの基準信号を、
sin (ωt )とする。ただし、ωは周波数、tは時間と
する。また前記受信信号は、試料の弾性的性質、音響レ
ンズとカプラ液体中を伝搬することによる時間等によっ
て、位相が送信に対して遅れているため、この位相遅れ
をφとすると、B sin(ωt −φ)と書ける。ただし、
Bは受信信号の強度とする。従って、乗算部10のイン
フェーズ出力u1 と乗算部11のクワドラチャーフェー
ズ出力u2 は次のようになる。
【0011】
【数1】
【0012】ここで、φは定数であり、sin φ、cos φ
も定数であるため、u1 、u2 はD.C成分と2ωの周
波数成分を持っており、2ω成分を除けば受信信号の位
相遅れφに関するsin 、cos成分(B/2 sinφ,B/
2 cosφ)を取り出すことができる。
【0013】前記乗算部10からのインフェーズ出力と
乗算部11からのクワドラチャーフェーズ出力は、それ
ぞれLPF13、14により2ω成分が除去され、 sin
φ、cosφに相当するDC成分のみが残る。
【0014】そしてA/D変換部15、16により前記
インフェーズ、クワドラチャーフェーズの各検波出力を
デジタル信号化し、前記受信信号の位相検波出力をデジ
タル信号に変換してコンピュータ17内のメモリに記憶
する。前記コンピュータ17では記憶された受信信号の
sin φ、cos φ成分から位相と反射強度を演算する。前
記Z走査部19は、コンピュータ17の制御により前記
音響レンズ6と前記試料8の距離を可変させ合焦等の調
節を行なう。
【0015】Z検出部20は音響レンズ6と試料8との
間の距離を相対的に検出して、その値をコンピュータ1
7に送信する。V(Z)測定時は、Z走査部19によっ
て前記試料9と前記音響レンズ17との間の距離を変化
させ、その変化をZ検出部20で検出し、距離が一定変
化するごとにコンピュータ17が送信トリガを出力し前
述した動作によってV(Z)測定を行う。
【0016】複素V(Z)曲線を逆フーリエ変換するこ
とにより、反射関数を求められることに関しては、文献
K.K.Liang G.S.Kino andB.
T.Khuri−Yakub:“Material C
haracterization by Invers
ion of V(Z)”:IEEE Trans.S
onics and Ultrason.,SU−32
2(1985)に記載されている。この反射関数の計
算によって横波音速、レーリー波音速、ラム波音速等を
求めることができ、試料の弾性的性質を知ることができ
る。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述した従来
例の方法により、測定された複素V(Z)には音響レン
ズと試料の距離Zの変化による位相変化分が含まれてい
る。ここで、V(Z)の位相をφv (Z)、測定された
位相をφ(Z)とし、周波数をω、カプラ液体の音速を
cL とすると、φの距離Zに依存する変化分は、
【0018】
【数2】 となる。
【0019】つまり、V(Z)曲線の位相は第1項であ
るため、第2項を消去する必要がある。ここで周波数ω
とカプラ液体の音速cは、既知であるため、距離Zがわ
かれば第2項を消去できる。このために従来例ではZ検
出部で検出した距離Zを使用していた。しかしZ検出部
は、試料または音響レンズが取り付けられているZ走査
部の変位を測定するため、直接音響レンズと試料の距離
の変化を測定していない。
【0020】従って位相角の測定精度が1°であれば、
周波数200MHz、カプラの音速1500m/s とし
て、距離Zの測定精度は10nmが必要となるが、上記の
ような間接測定では精度で測距できない問題があった。
また距離Zを測定してそれに対応する位相を計算する必
要があった。
【0021】また、試料の反射部分と表面波の部分に音
路長の差があることを利用して時間分割して別に取り出
し試料反射の部分によって距離Zの変化による位相を補
正する例もあるが100MHz 以上の周波数では音響レン
ズの焦点距離が短くなるため音路長の差が小さく時間分
離することは不可能で周波数が低いときにしか使用でき
ない。
【0022】そこで本発明は、周波数に限定されず、直
接距離Z変化による位相変化を検出し位相補正された複
素V(Z)曲線を測定できる超音波測定装置を提供する
ことを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、高周波の連続波を発生する基準発振手段
と、前記基準発振手段が発生した連続波の一部を切りと
りバースト波を生成するバースト波生成手段と、前記バ
ースト波生成手段により発生されたバースト波を超音波
に変換し試料からの反射波を再び電気信号に変換して受
信信号を出力する電気音響変換手段と、前記電気音響変
換手段により生成された超音波を収束球面波にすると共
に平面波を試料に入射させる音響レンズと、前記基準発
振手段が発生した連続波の位相を変化させる位相手段
と、前記位相手段により位相が変化された信号を参照信
号として、前記受信信号を直接位相敏感検波する位相検
波手段と、前記位相検波手段からの検波出力の収束球面
波試料反射と平面波試料反射を個別にデジタル信号に変
換し複素振幅を得るA/D変換手段と、前記A/D変換
手段によりデジタル信号化された平面波試料反射の複素
振幅から位相を演算する手段と、前記A/D変換手段に
よりデジタル信号化された平面波試料反射の位相によっ
て収束波試料反射の複素振幅から前記音響レンズと前記
試料間の相対距離変化による位相の変化を演算し補正す
る演算補正手段と、前記演算補正手段により補正された
収束波試料反射の複素振幅を逆フーリエ変換して反射関
数を演算する手段と、対向する前記音響レンズと前記試
料の垂直方向をZ軸とし、Z軸方向に該音響レンズと試
料の相対距離を変化させる距離手段と、前記音響レンズ
と前記試料の相対距離を検出する相対距離検出手段と、
前記相対距離検出手段により検出された距離からA/D
変換のタイミングを演算する手段とで構成される超音波
測定装置を提供する。
【0024】
【作用】以上のような構成の超音波測定装置により、基
準発信器からの連続波を切りとったバースト波を電気音
響変換し、また前記連続波を位相変化させた参照波によ
り位相敏感検波する構成とし、電気音響変換された超音
波を音響レンズにより収束球面波と共に平面波として試
料に入射させる。この試料からの反射波を位相検波し、
検波出力から音響レンズによって収束した反射波の複素
振幅と、音響レンズの平面の部分からの平面波の試料反
射の位相を得られ、この平面波の位相から前記収束波試
料反射の位相を補正する構成にすることで複素V(Z)
曲線が求められる。
【0025】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図1に本発明による第1実施例の超音波測
定装置の構成を示し、説明する。
【0026】この超音波測定装置において、例えば10
MH以上で好ましくは100〜200MHz程度の一定
の周波数の連続波(以下、基準信号と称する)を発生す
る発振部21に、前記基準信号の一部を切りとり、バー
スト波を出力するためのアナログスイッチ22の入力側
端子を接続する。前記アナログスイッチ22の出力側端
子の一方には、高速切替え可能な切替えスイッチ23の
入力端子が接続し、他方には、例えば50Ωの抵抗R1
が接続される。
【0027】前記切替えスイッチ23の切替え端子は、
バースト波を電気音響変換するトランスデューサ24に
接続され、その出力端子には前置増幅器25が接続され
る。前記アナログスイッチ22及び前記切替えスイッチ
23は、後述するコンピュータ39の指令に基づいた制
御部40からの制御信号により、切り替え動作が行われ
る。
【0028】前記トランスデューサ24には、微小スポ
ットに超音波を収束させる音響レンズ26が取り付けら
れる。この音響レンズ26の焦点付近には、移動可能な
試料台27が設けられ、その上に試料28が載置され
る。そして前記音響レンズ26と試料28との間が、超
音波を収束及び伝播するためのカプラ液体29で接続す
るように満たされている。
【0029】前記音響レンズ26は、前記トランスデュ
ーサ24が発生した超音波をカプラ液体29内で収束さ
せると共に平面波をカプラ液体29に伝播させ、前記試
料28に入射する。また前記トランスデューサ24には
前記切替えスイッチ23の切替えによって、該トランス
デューサ24からの出力が前記前置増幅器25に出力さ
れる。
【0030】そして前記前置増幅器25には、2つの乗
算部30、31がそれぞれ接続される。前記乗算部30
は、発振部21からの基準信号が参照信号(第1参照信
号)として入力するように直接的に接続され、前記乗算
部31は、前記基準信号の位相を90°変化させた参照
信号(第2参照信号)を生成する90°移相部32を介
して、発振部21と接続される。これらの乗算部30、
31の出力端には、高周波成分を除去するローパスフィ
ルタ(LPF)33、34が接続される。これらLPF
33、34は、少なくとも発振部21の出力する連続波
の周波数の2倍の周波数が除去できる特性のものが採用
されている。
【0031】これらの乗算部30、31及び、LPF3
3、34により、位相敏感検波(PSD)が行われる。
そして前記LPF33の出力側にはA/D変換部35、
36が接続され、前記LPF34の出力側にはA/D変
換部37、38が接続され、ここで変換出力がデジタル
化され、コンピュータ39にそれぞれ入力される。前記
コンピュータ39には、全体のタイミングを制御する制
御部40が接続され、V(Z)測定時は、Z走査部41
によって前記試料28と前記音響レンズ26との間の距
離を変化させ、その変化を検出するZ検出部42が接続
されている。また、コンピュータ39には、該コンピュ
ータ39の指令で文字やグラフを表示する表示部43が
接続されている。次に図2のタイムチャートを参照し
て、第1実施例の動作について説明する。
【0032】まず、コンピュータ39から発振部21に
ユーザーが所望する周波数を設定する。前記発振部21
は、図2(a)に示すような設定された周波数で、常時
一定周波数の連続波を出力する。
【0033】そして、前記コンピュータ39から、図2
(b)に示すような送信トリガが、制御部40に入力さ
れると、該制御部40は、送信トリガに同期して、図2
(c)に示す発振部21の連続波の周波数の数十周期分
の時間幅の矩形(オン・オフ)信号をアナログスイッチ
22に、該矩形信号より早くオンになり遅くオフになる
図2(d)に示す切替え信号を切替えスイッチ23に出
力する。
【0034】前記アナログスイッチ22は、前記矩形信
号のオン・オフに対応して切替わり、オンの時は、前記
発振部21の発生した信号が切替えスイッチ23に出力
される。このように図2(e)に示す送信バースト信号
が生成される。前記切替えスイッチ23は、前記制御部
40からの切替え信号がオンの時は、前記アナログスイ
ッチ22の側へ、オフのときは前置増幅器25側へ切替
わる。
【0035】そして、前記送信バースト信号は、前記切
替えスイッチ23を介して、トランスデューサ24に印
加される。この送信バースト波が前記トランスデューサ
24で電気音響変換され超音波に変換される。この超音
波は、音響レンズ26内を伝播し、一部はカプラ液体2
9内で微小スポットに収束され、一部は平面波としてカ
プラ液体29を通り試料28に入射する。入射した超音
波は、試料28で反射され、再びカプラ液体29、音響
レンズ26を伝播して、トランスデューサ24で電気信
号に変換された反射信号(以下、受信信号と称する)
が、すでに前置増幅器25側に切り替わっている切替え
スイッチ23を介して、前置増幅器25に入力されて増
幅され、前記乗算部30、31に入力される。
【0036】前記乗算部30では、前記基準信号の第1
参照信号と受信信号との乗算を行ないインフェーズ成分
を出力する、前記乗算部31では前記基準信号の位相を
90°変化させた第2参照信号と受信信号の乗算を行な
いクワドラチャーフェーズ成分を出力する。
【0037】前記乗算部30のインフェーズ出力と乗算
部31のクワドラチャーフェーズ出力は、それぞれLP
F33、34により、2ω成分が除去され、sin φ、co
s φに相当するD.C成分のみが残る。そして、検波前
の受信信号を図2(f)に示し、前記LPF33、34
を通過した後の検波出力のインフェーズ出力u1 の信号
波形を図2(g)に示し、クワドラチャーフェーズ出力
u2 の信号波形を図2(h)に示す。
【0038】図3に示すように、試料28の面と対向す
る前記音響レンズ26の面が凹面と平面からなる場合
は、トランスデューサ24から発生した超音波のうち、
音響レンズ26の凹面に達した超音波は、経路Aのよう
に収束されて試料28で反射して戻ってくる。一方、音
響レンズ26の平面部分に達した超音波は、経路Bのよ
うに平面波として試料28に入射し、試料28の表面で
反射して戻ってくる。経路Bの波の方が経路Aの波より
音路長が短いため、早くトランスデューサ24に戻るこ
とを利用すれば、2つの反射波を容易に分離することが
できる。
【0039】以後、経路Aのように音響レンズ26の凹
面に入射して収束し試料で反射した波を収束試料反射と
し、経路Bのように音響レンズ26の平面部分に入射し
平面波として試料で反射した波を平面試料反射と称す
る。
【0040】しかし実際の受信信号においては、検波前
では図2(f)に示すように、収束試料反射と平面試料
反射の他に送信漏れ、レンズ第1反射、レンズ第2反射
等が含まれ、反射波(受信信号)がバースト波であるた
め、位相検波出力は図2(g),(h)のようなそれぞ
れの反射に対応したき矩形波として出力される。
【0041】この反射波中から収束試料反射のみを取り
出すために、図2(i)に示すような送信に対して、遅
延時間Td1だけ遅れたタイミングでトリガ信号を制御部
40で生成し、A/D変換部35、37を駆動させるト
リガ信号として用いる。このトリガ信号により、インフ
ェーズ及び、クワドラチャーフェーズの各検波出力がA
/D変換されて収束試料反射のみの位相検波出力をデジ
タル信号に変換して、前記コンピュータ39内のメモリ
に記憶する。
【0042】さらに平面試料反射を取り出すために図2
(j)に示すような送信に対して、遅延時間Td2だけ遅
れたタイミングでトリガ信号を制御部40で生成し、A
/D変換部36、38を駆動させるトリガ信号として用
いる。このトリガ信号により、インフェーズ,クワドラ
チャフェーズの各平面試料反射のみの位相検波出力をデ
ジタル信号に変換して、前記コンピュータ39に入力す
る。前記送信とA/D変換されたトリガ信号の遅延時間
Td1、Td2は、前記コンピュータ39により任意の値に
設定可能である。
【0043】以上のようにして、試料28上の1点の反
射の位相が測定できる。V(Z)曲線の測定には、前記
試料28と音響レンズ26との間の距離を変化させ、前
述したような測定動作を繰り返す。
【0044】この時、前記A/D変換部35〜38が駆
動するタイミングは、前記試料28と音響レンズ26と
の間の距離が変化すると反射波のタイミングがずれる。
そのため遅延時間Td1、Td2は、測定の最初のオシロス
コープ等に表示される反射信号に基づき設定され、その
後はZ検出部42によって初期の位置からの相対動作距
離ΔZを求め、以下のようにして計算する。反射の時間
のズレをΔTとするとΔTは次のように計算される。
【0045】
【数3】 ここで、cL はカプラ液体の音速である。コンピュータ
ではこの式からΔTを演算し初期の送信トリガからの時
間遅延Td1、Td2を制御部40に送信する。この測定値
から複素V(Z)の位相補正をするには以下のようにす
る。
【0046】前記収束試料反射波の位相変化は、音響レ
ンズ26と試料28の往復の距離分カプラ液体29を伝
播することや音響レンズ26内の伝播時間、試料28の
反射関数による位相変化であるV(Z)の位相がある。
これらの中で試料28と音響レンズ26との間の距離に
依存するものは、カプラ内の伝播とV(Z)の位相であ
る。図3に示すように音響レンズ26の凹面部と試料2
8との距離をZ1 、V(Z)の位相をφV (Z)とする
と収束波の位相φSは定数項を無視して(3)式から、
【0047】
【数4】
【0048】となる。ここで平面試料反射は垂直入射で
あるから、反射関数による位相への影響は無く、前記音
響レンズ26と前記試料28との間の距離が変化するこ
とにより、カプラ内を超音波が伝播する距離が変わるこ
とによる時間遅延による位相変化だけである。従って、
前記音響レンズ26の平面部と前記試料28との間の距
離をZ2 とおくと平面試料反射の位相φF は次のように
表される。
【0049】
【数5】 しかし、V(Z)の位相だけを知るために(5)式から
(6)式を除して、
【0050】
【数6】
【0051】この(7)式では、音響レンズ26の凹面
部と試料28の距離Z1 と音響レンズ26の平面部と試
料28の距離Z2 の差(Z1 −Z2 )は、前記音響レン
ズ26と試料28との間の距離に関係なく、一定値であ
るから第2項を定数と見なすと無視することができ、
(7)式からV(Z)の位相を求めることができる。前
述した文献によれば、このようにして位相が補正された
複素V(Z)曲線を逆フーリエ変換すると、
【0052】
【数7】 となる。ここで、Pは瞳関数で、Rは反射関数、θは超
音波の試料への入射角とする。
【0053】従って、瞳関数Pが分かれば反射関数を算
出できる。瞳関数Pは、例えば鉛のように周期的なV
(Z)を示さない試料から求められる。このようにして
計算された反射関数からは、縦波、横波、表面波の音速
を求めることができ、試料の弾性定数が測定できたこと
になる。
【0054】次に図4に本発明の第2実施例の超音波測
定装置の構成を示し、説明する。図5には、第2実施例
の超音波測定装置に用いられる音響レンズとトランスデ
ューサの構成を示し、同図(a)は上面図、同図(b)
は側面図である。ここで、図4の構成部材は特徴的なも
ののみを示しており、図1の破線Aに囲まれた構成部材
に相当し、図4に図示されない構成部材は図1の部材と
同じ参照番号を付し、その説明は省略する。
【0055】この音響レンズとトランスデューサの構成
は、音響レンズ26の上面に、バースト波を電気音響変
換するトランスデューサ24a、24bが、同心円状に
2つに分割して付けられ、内側のトランスデューサ24
aは収束球面波を試料に照射しその反射を検出し、外側
のトランスデューサ24bは平面波を試料に照射しその
反射を検出する構成となっている。
【0056】前記超音波測定装置の構成は、まずアナロ
グスイッチ22の出力側端子に、2つの切替えスイッチ
45、46の各入力端子が接続されている。前記切替え
スイッチ46の切替え端子は、前記トランスデューサ2
4aに接続され、その出力端子には前置増幅器25aが
接続される。また前記切替えスイッチ45の切替え端子
は、前記トランスデューサ24bに接続され、その出力
端子には前置増幅器25bが接続される。これらのアナ
ログスイッチ22及び前記切替えスイッチ46、45
は、第1実施例と同様にコンピュータの指令に基づいた
制御部からの制御信号により、切り替え動作が行われ
る。
【0057】前記音響レンズ26に取り付けられた前記
トランスデューサ24aは入出力を切替えスイッチ46
により発振器21と前置増幅器25aを切り替え、前記
トランスデューサ24bは入出力を切替えスイッチ45
により前記発振器21と前置増幅器25bを切り替え
る。そして前置増幅器25a、25bはそれぞれ乗算部
30、31に接続される。次に前述したように構成され
た第2実施例の動作について説明する。
【0058】前記バースト波が印加された前記トランス
デューサ24aでは、このバースト波を超音波に電気音
響変換して、変換された超音波は音響レンズ26の凹面
部を通りカプラ液体29中で微小スポットに収束され試
料28に入射する。この収束波は試料28で反射しカプ
ラ液体29、音響レンズ26を通り前記トランスデュー
サ24aにより、再び電気信号に変換されて収束試料反
射信号(受信信号)として、前置増幅器25a側に切り
替わっている切替えスイッチ46を通り、前置増幅器2
5aに出力される。前記受信信号は、前記前置増幅器2
5aにより増幅され、前記乗算部30に入力され位相検
波される。
【0059】一方、前記トランスデューサ24bでは、
同様に前記バースト波が超音波に電気音響変化され、変
換された超音波は音響レンズ26の平面部を通り、平面
波として試料28に入射する。この平面波は前記試料2
8で反射され、カプラ液体29、音響レンズ26を通り
トランスデューサ24bにより、再び電気信号に変換さ
れて平面試料反射信号として、前置増幅器25b側に切
り替わっている切替えスイッチ45を通り、前置増幅器
25bに出力される。前記平面試料反射信号は、前記前
置増幅器25bにより増幅され、前記乗算部31に入力
され位相検波される。第1実施例と同様にして球面反射
の位相から平面波の位相を除算して、複素V(Z)曲線
を求める。第2実施例では、トランスデューサを2分割
することで球面反射と平面反射を別々に検出することが
できる。
【0060】尚、この第2実施例では、2つのトランス
デューサ24a、24bに、同じバースト波を入力して
いるが、個々に発振部を2つ設けて、測距側のトランス
デューサ24bでは、弾性的性質の測定に用いる周波数
と全く異なる周波数を用いて測距することもできる。
【0061】次に図6に本発明の第3実施例として、超
音波測定装置に用いられる音響レンズとトランスデュー
サの構成を示し、説明する。同図(a)は上面図、同図
(b)は側面図である。
【0062】この第3実施例では、音響レンズが内周部
50aと外周部50bに分割され、内周部50aは、試
料28(図示せず)に収束球面波を入射させる音響レン
ズ部分であり、外周部50bは、前記試料28に平面波
を入射させる音響レンズ部分である。
【0063】前記外周部50bは、円筒状で上面部にト
ランスデューサ51bが形成され、内部面に内周部50
aが接着剤等で接着され一体化されている。また内周部
50aの上面部にも、トランスデューサ51aが形成さ
れている。この様に構成された音響レンズとトランスデ
ューサは第2実施例と同様に組み込まれて用いられる。
【0064】この第3実施例では、収束超音波を送受信
する内周部50aと平面超音波を送受信する外周部50
bが全く、独立して形成されているため、互いに影響を
及ぼすことがなくなる。さらに第1実施例で述べた球面
部分の試料間距離Z1 と平面の部分の試料間距離Z2 を
等しくすることができるので(7)式の定数項の部分も
削除することができる。
【0065】次に図7に本発明の第4実施例の超音波測
定装置の構成を示し、説明する。ここで、図7の構成部
材は特徴的なもののみを示しており、図7に図示されな
い構成部材は図1の部材と同じ参照番号を付し、その説
明は省略する。この第4実施例は、前置増幅器25から
出力される受信信号を位相検波の参照波として用いるた
めに、前記受信波を遅延させて用いるものである。
【0066】前置増幅器25の出力は、乗算部30、3
1と遅延部52に入力される。前記遅延部52では、第
1実施例で述べた音響レンズ26の凹面部分と試料28
の距離Z1 及び、平面部分と試料との距離Z2 の差に相
当する分の時間Δt=(Z1−Z2 )/cL だけ受信信
号を時間遅延させる。遅延された信号は移相部53と乗
算部30に入力される。前記移相部53では入力された
信号を90°位相変化させて乗算部31に入力する。
【0067】前記乗算部31では、受信信号とその信号
を時間遅延させた信号の乗算が行われる。この遅延時間
が上記Δtであるから収束試料反射波と平面試料反射波
の乗算がとられることになる。
【0068】同様に乗算部31では収束試料反射波と平
面試料反射波を90°位相変化した信号との乗算が行わ
れる。すなわち(7)式で示した平面反射と試料反射の
位相の差分の位相sin 、cos に比例した値が、直接位相
敏感検波の出力として得られる。本実施例では参照波と
して反射信号を時間遅延させた信号を使用することによ
り、平面試料反射が参照波となって収束試料反射を位相
敏感検波しているため、直接複素V(Z)曲線を測定す
ることができる。
【0069】本発明の参照波としては本実施例に限定さ
れるものではなく、音響レンズを第2実施例や第3実施
例のように平面波の反射が、個々に出力される構成とし
平面波の部分を遅延させることも考えられる。特に第3
実施例で平面反射と球面試料反射のタイミングを同時に
なるようにすれば遅延部も不要となる。
【0070】以上に説明したように本発明によれば複素
V(Z)曲線の測定時の音響レンズと試料の距離の相対
変化によって生じる位相変化を、音響レンズと一体化し
た平面波を試料に送受信する手段を設け、その位相から
距離測定無しに直接除去することができる。さらに直接
音響レンズと試料の距離に起因する位相を求めているの
で、これまでの間接的な距離測定よりもはるかに精度良
く位相の除去を行える。さらに参照波として平面波の試
料反射を使用することで直接に複素V(Z)曲線を測定
可能となるといった効果がある。
【0071】尚本発明は、各実施例に限定されるもので
はなく、例えば、参照波として基準発振出力の代わりに
レンズ内反射を使用することも考えられる。この場合は
送信には従来と同じくバースト波発振部を用いることも
可能である。また、トランスデューサの入出力の切り替
えにはアナログスイッチの代わりにサーキュレータを使
用しても良い。参照波として発振部の波を0°、90°
位相変化した波を使用する必要もなく自由な位相でよ
い。検波器も本出願人が出願した特願平3−18264
5号に記載されるように2つ以上の検波器で構成にし
て、さらに位相の測定精度を向上させることも考えられ
る。発振部を周波数可変の構成として様々な周波数のV
(Z)曲線を測定可能とすれば本出願人が出願した特願
平3−091022号で示されているように試料の膜厚
の測定もできる。また本発明は、前述した実施例に限定
されるものではなく、他にも発明の要旨を逸脱しない範
囲で種々の変形や応用が可能であることは勿論である。
【0072】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、周
波数に限定されず、直接距離Z変化による位相変化を検
出し位相補正された複素V(Z)曲線を測定できる超音
波測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明による第1実施例の超音波測定装
置の構成を示す図である。
【図2】図2は第1実施例の超音波測定装置の動作を示
すタイムチャートである。
【図3】図3は、第1実施例の超音波測定装置の音響レ
ンズの凹面部と試料との距離を示す図である。
【図4】図4は、本発明の第2実施例の超音波測定装置
の構成を示す図である。
【図5】図5は、第2実施例の超音波測定装置に用いら
れる音響レンズとトランスデューサの構成を示す図であ
る。
【図6】図6は、第3実施例の超音波測定装置に用いら
れる音響レンズとトランスデューサの構成を示す図であ
る。
【図7】図7は、第4実施例の超音波測定装置の構成を
示す図である。
【図8】図8は従来の位相検出可能な超音波測定装置の
構成を示す図である。
【符号の説明】
1…基準信号発振部、2,22…アナログスイッチ、3
…サーキュレータ、4,24,24a,24b,51
a,51b…トランスデューサ、5,25,25a,2
5b…前置増幅器、6,26,50a,50b…音響レ
ンズ、7,27…試料台、8,28…試料、9,29…
カプラ液体、10,11,30,31…乗算部、12,
32,53…移相部、13,14,33,34…ローパ
スフィルタ、15,16,35,36,37,38…A
/D変換部、17,39…コンピュータ、18,40…
制御部、19,41…Z走査部、20,42…Z検出
部、21…発振部、23,45,46…切替えスイッ
チ、43…表示部、52…遅延部、R1…抵抗。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐々木 靖夫 東京都渋谷区幡ケ谷2丁目43番2号 オリ ンパス光学工業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高周波の連続波を発生させる基準発振手
    段と、 前記発振手段が発生した連続波の一部を切りとりバース
    ト波を生成するバースト波生成手段と、 前記バースト波生成手段により発生されたバースト波を
    超音波に変換し試料からの反射波を再び電気信号に変換
    して受信信号を出力する電気音響変換手段と、 前記電気音響変換手段により生成された超音波を収束球
    面波にすると共に平面波を試料に入射させる音響レンズ
    と、 前記基準発振手段が発生した連続波の位相を変化させる
    位相手段と、 前記位相手段により位相が変化された信号を参照信号と
    して、前記受信信号を直接位相敏感検波する位相検波手
    段と、 前記位相検波手段からの検波出力の収束球面波試料反射
    と平面波試料反射を個別にデジタル信号に変換し複素振
    幅を得るA/D変換手段と、 前記A/D変換手段によりデジタル信号化された平面波
    試料反射の複素振幅から位相を演算する手段と、 前記A/D変換手段によりデジタル信号化された平面波
    試料反射の位相によって収束波試料反射の複素振幅から
    前記音響レンズと前記試料間の相対距離変化による位相
    の変化を演算し補正する演算補正手段と、 前記演算補正手段により補正された収束波試料反射の複
    素振幅を逆フーリエ変換して反射関数を演算する手段
    と、 対向する前記音響レンズと前記試料の垂直方向をZ軸と
    し、Z軸方向に該音響レンズと試料の相対距離を変化さ
    せる距離手段と、 前記音響レンズと前記試料の相対距離を検出する相対距
    離検出手段と、 前記相対距離検出手段により検出された距離からA/D
    変換のタイミングを演算する手段とを具備することを特
    徴とする超音波測定装置。
  2. 【請求項2】 高周波の連続波を発生する基準発振手段
    と、 前記基準発振手段が発生した連続波の一部を切りとりバ
    ースト波を生成するバースト波生成手段と、 前記バースト波生成手段により発生されたバースト波を
    超音波に変換し試料からの反射波を再び電気信号に変換
    して受信信号を出力する電気音響変換手段と、 前記電気音響変換手段により生成された超音波を収束球
    面波にすると共に平面波を試料に入射させる音響レンズ
    と、 前記電気音響変換手段からの平面波の試料反射の位相を
    変化させる位相手段と、 前記電気音響変換手段からの平面波反射信号を前記位相
    手段により位相変化された平面波試料反射位相を参照信
    号として、受信信号を直接位相敏感検波する位相検波手
    段と、 前記位相検波手段からの検波出力の収束波試料反射をデ
    ジタル信号に変換し複素振幅を得るA/D変換手段と、 前記A/D変換手段からの収束波試料反射の複素振幅を
    逆フーリエ変換して反射関数を演算する演算手段と、 対向する前記音響レンズと前記試料の垂直方向をZ軸と
    し、Z軸方向に音響レンズと試料の相対距離を変化させ
    る手段と、 前記音響レンズと前記試料の相対距離を検出する相対距
    離検出手段と、 前記相対距離検出手段により検出された距離からA/D
    変換のタイミングを演算する手段とを具備することを特
    徴とする超音波測定装置。
  3. 【請求項3】 高周波バースト波を発生する発生手段
    と、 前記発生手段により発生されたバースト波を超音波に変
    換し試料からの反射波を再び電気信号に変換する電気音
    響変換手段と、 前記超音波を収束球面波にすると共に平面波を試料に入
    射させる音響レンズと、 前記電気音響変換手段からの平面波の試料反射信号を遅
    延させ、第1参照波を生成する遅延手段と、 前記遅延手段により生成された第1参照波の位相を変化
    させ、第2参照信号を生成する位相手段と、 前記遅延手段及び前記位相手段からの第1,第2参照信
    号により、受信信号を直接位相敏感検波する位相検波手
    段と、 前記位相検波手段により検波出力された受信信号から収
    束波試料反射を選択し、該収束波試料反射をデジタル信
    号に変換し複素振幅を得るA/D変換手段と、 球面波試料反射の複素振幅を逆フーリエ変換して反射関
    数を演算する手段と、 対向する前記音響レンズと前記試料の垂直方向をZ軸と
    し、Z軸方向に音響レンズと試料の相対距離を変化させ
    る手段と、 前記音響レンズと前記試料の相対距離を検出する距離検
    出手段と、 前記距離検出手段により検出された相対距離からA/D
    変換手段を駆動し、前記選択動作させるタイミングを演
    算する手段とを具備することを特徴とする超音波測定装
    置。
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