JPH0593615A - 断面形状測定方法 - Google Patents
断面形状測定方法Info
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- JPH0593615A JPH0593615A JP3255141A JP25514191A JPH0593615A JP H0593615 A JPH0593615 A JP H0593615A JP 3255141 A JP3255141 A JP 3255141A JP 25514191 A JP25514191 A JP 25514191A JP H0593615 A JPH0593615 A JP H0593615A
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- JP
- Japan
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- light
- cutting line
- measured
- optical axis
- cutting
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02T—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO TRANSPORTATION
- Y02T10/00—Road transport of goods or passengers
- Y02T10/60—Other road transportation technologies with climate change mitigation effect
- Y02T10/7072—Electromobility specific charging systems or methods for batteries, ultracapacitors, supercapacitors or double-layer capacitors
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 断面の形状を測定する装置において、角部と
平坦部の境界を検出して該境界の幅である平坦部寸法を
正確に測定する。 【構成】 各測定ユニットの各々の投光光軸は被測定物
の長手方向に斜めにし、複数の光切断線をつくり、１つ
の光切断線と他の光切断線とで光切断線交差点をつく
り、各測定ユニットの各々の撮像光軸は投光光軸に対し
て垂直方向になるようにし、各々の撮像装置の視野は被
測定物の隣接する平担面に現れた２つの光切断線交差点
が入るようにし、該投光光軸と該撮像光軸の両光軸で決
まる平面は、被測定物の隣接する平担面がなす角度を２
等分する面とほぼ一致させ、かつ前記平担面がなす角部
を該平面がとおるようにし、各々の撮像装置から得た２
つの光切断線交差点の位置と、ある隣の各々の撮像装置
から得た対応する前記光切断線交差点の位置を等しくす
るように座標変換処理する。
平坦部の境界を検出して該境界の幅である平坦部寸法を
正確に測定する。 【構成】 各測定ユニットの各々の投光光軸は被測定物
の長手方向に斜めにし、複数の光切断線をつくり、１つ
の光切断線と他の光切断線とで光切断線交差点をつく
り、各測定ユニットの各々の撮像光軸は投光光軸に対し
て垂直方向になるようにし、各々の撮像装置の視野は被
測定物の隣接する平担面に現れた２つの光切断線交差点
が入るようにし、該投光光軸と該撮像光軸の両光軸で決
まる平面は、被測定物の隣接する平担面がなす角度を２
等分する面とほぼ一致させ、かつ前記平担面がなす角部
を該平面がとおるようにし、各々の撮像装置から得た２
つの光切断線交差点の位置と、ある隣の各々の撮像装置
から得た対応する前記光切断線交差点の位置を等しくす
るように座標変換処理する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は平角鋼材の断面形状を測
定する方法に関する。
定する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、物体の立体形状を計測する方法と
して三角測量法を利用したスリット光投光方式が利用さ
れている。この方法は、直線状に引き延ばした光（以
下”スリット光平面”と称す）をあたかも物体を切断す
るがごとく物体表面に照射し、物体表面とスリット光が
交わる部分に発生する光線のパターン（以下”光切断
線”と称す）をスリット光平面と異なる方向から例えば
２次元センサーで観察、撮像し、物体表面の形状が原因
で生じた光切断線の曲がり度合いから、ワーク表面の形
状を求める方法である。例えば、「Ｐｒｏｆｉｌｅ ｇ
ａｇｅ Ｍｏｎｉｔｏｒｓ Ｂａｒ Ｓｈａｐｅｓ」
［Ｍｅｔａｌ Ｐｒｏｄｕｃｉｎｇ１９９１］がある。
して三角測量法を利用したスリット光投光方式が利用さ
れている。この方法は、直線状に引き延ばした光（以
下”スリット光平面”と称す）をあたかも物体を切断す
るがごとく物体表面に照射し、物体表面とスリット光が
交わる部分に発生する光線のパターン（以下”光切断
線”と称す）をスリット光平面と異なる方向から例えば
２次元センサーで観察、撮像し、物体表面の形状が原因
で生じた光切断線の曲がり度合いから、ワーク表面の形
状を求める方法である。例えば、「Ｐｒｏｆｉｌｅ ｇ
ａｇｅ Ｍｏｎｉｔｏｒｓ Ｂａｒ Ｓｈａｐｅｓ」
［Ｍｅｔａｌ Ｐｒｏｄｕｃｉｎｇ１９９１］がある。
【０００３】図４の被測定物１００は建築用鋼材であ
る。スリット光平面１０１は被測定物長手方向１０２に
直交で、即ち、被測定物断面に合致している。該スリッ
ト光平面１０１に合致させて４方向からスリット光１０
３、１０４、１０５、１０６を投光させ、被測定物表面
にスリット光を当全部当てる。撮像はスリット光平面に
斜めの方向から撮像する４台のテレビカメラ１０７、１
０８、１０９、１１０で行い、被測定物全周に現れた光
切断線を切れ目なくすべて撮像する。
る。スリット光平面１０１は被測定物長手方向１０２に
直交で、即ち、被測定物断面に合致している。該スリッ
ト光平面１０１に合致させて４方向からスリット光１０
３、１０４、１０５、１０６を投光させ、被測定物表面
にスリット光を当全部当てる。撮像はスリット光平面に
斜めの方向から撮像する４台のテレビカメラ１０７、１
０８、１０９、１１０で行い、被測定物全周に現れた光
切断線を切れ目なくすべて撮像する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、平角鋼
材のように角が丸みを帯びていて、角部と平坦面の境界
が不明瞭な測定物に対して、該境界の幅、即ち、平坦面
の寸法を計測することを目的とする装置においては、該
境界を正確に求める必要があり、以下に示す問題があ
る。
材のように角が丸みを帯びていて、角部と平坦面の境界
が不明瞭な測定物に対して、該境界の幅、即ち、平坦面
の寸法を計測することを目的とする装置においては、該
境界を正確に求める必要があり、以下に示す問題があ
る。
【０００５】ピントのあった撮像について、平坦面方向
から撮像すると被測定物の角部は視野から外れてしまう
部分があり光切断線像は不完全で、したがって、正確な
境界を検出することができない。角部近傍の光切断線を
切れ目なく撮像するには角部方向から撮像する方が都合
がよい。しかしながら、スリット光平面は被測定物長手
方向に直交で撮像はスリット光平面に斜めであるため、
角部方向からの撮像は光切断線の撮像光軸方向の変化を
大きくさせてしまう。視野全体に渡ってピントのあった
状態で撮像するためにはカメラレンズの被写体深度を深
くしなければならない。したがって、上述方法ではピン
トのあった光切断線をとることは非常に困難である。
から撮像すると被測定物の角部は視野から外れてしまう
部分があり光切断線像は不完全で、したがって、正確な
境界を検出することができない。角部近傍の光切断線を
切れ目なく撮像するには角部方向から撮像する方が都合
がよい。しかしながら、スリット光平面は被測定物長手
方向に直交で撮像はスリット光平面に斜めであるため、
角部方向からの撮像は光切断線の撮像光軸方向の変化を
大きくさせてしまう。視野全体に渡ってピントのあった
状態で撮像するためにはカメラレンズの被写体深度を深
くしなければならない。したがって、上述方法ではピン
トのあった光切断線をとることは非常に困難である。
【０００６】各測定ユニットの関連付けについて、各々
の測定ユニットは測定して求めた座標値をそれぞれ独立
した座標（以下”ローカル座標”と称す）で持ってお
り、被測定物の断面形状を求めるためには各々の測定ユ
ニットの座標の関係ずけを行い一つの座標（以下”ワー
ク座標”と称す）に変換しなければならない。そのため
には、例えば測定ユニット毎のローカル座標原点をワー
ク座標で表す等の各々のローカル座標を関係ずけておく
必要がある。各々の測定ユニットから出力されたスリッ
ト光平面は一つの平面に合致しており、各々のスリット
光平面の識別は不可能で、光切断線からローカル座標の
位置関係を求めることはできないので、即ち、各々の測
定ユニットの位置を別途求めておかなければならず、そ
れだけ装置も複雑になる。
の測定ユニットは測定して求めた座標値をそれぞれ独立
した座標（以下”ローカル座標”と称す）で持ってお
り、被測定物の断面形状を求めるためには各々の測定ユ
ニットの座標の関係ずけを行い一つの座標（以下”ワー
ク座標”と称す）に変換しなければならない。そのため
には、例えば測定ユニット毎のローカル座標原点をワー
ク座標で表す等の各々のローカル座標を関係ずけておく
必要がある。各々の測定ユニットから出力されたスリッ
ト光平面は一つの平面に合致しており、各々のスリット
光平面の識別は不可能で、光切断線からローカル座標の
位置関係を求めることはできないので、即ち、各々の測
定ユニットの位置を別途求めておかなければならず、そ
れだけ装置も複雑になる。
【０００７】テレビカメラ画素サイズの変化について、
一般に、画素サイズは、撮像光軸に直行する面では等し
く、カメラレンズに近くなるにともない小さくなり、逆
に遠くなるほど大きくなる。従って、角部方向から光切
断線を撮像すると、角部に現れる光切断線が最も手前に
来ることになるから画素サイズは最も小さく、平坦面に
現れる光切断線は角部から遠ざかるほどカメラレンズか
ら離れていくので画素サイズは大きくなる。画素サイズ
は変化するので光切断線の現れる部位により補正を行う
必要がある。
一般に、画素サイズは、撮像光軸に直行する面では等し
く、カメラレンズに近くなるにともない小さくなり、逆
に遠くなるほど大きくなる。従って、角部方向から光切
断線を撮像すると、角部に現れる光切断線が最も手前に
来ることになるから画素サイズは最も小さく、平坦面に
現れる光切断線は角部から遠ざかるほどカメラレンズか
ら離れていくので画素サイズは大きくなる。画素サイズ
は変化するので光切断線の現れる部位により補正を行う
必要がある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】投光光軸をもつ１つのス
リット光投光器と、撮像光軸をもつ１つの撮像装置から
なる測定ユニットを複数設け、丸みある複数の角部と凹
凸ある複数の平坦面からなる長物の被測定物について、
その断面形状を測定する方法において、各測定ユニット
の各々の投光光軸は被測定物の長手方向に斜めにし、複
数の光切断線をつくり、１つの光切断線と他の光切断線
とで光切断線交差点をつくり、各測定ユニットの各々の
撮像光軸は投光光軸に対して垂直方向になるようにし、
各々の撮像装置の視野は被測定物の隣接する平担面に現
れた２つの光切断線交差点が入るようにし、該投光光軸
と該撮像光軸の両光軸で決まる平面は、被測定物の隣接
する平担面がなす角度を２等分する面とほぼ一致させ、
かつ前記平担面がなす角部を該平面がとおるようにし、
各々の撮像装置から得た２つの光切断線交差点の位置
と、ある隣の各々の撮像装置から得た対応する前記光切
断線交差点の位置を等しくするように座標変換処理す
る。
リット光投光器と、撮像光軸をもつ１つの撮像装置から
なる測定ユニットを複数設け、丸みある複数の角部と凹
凸ある複数の平坦面からなる長物の被測定物について、
その断面形状を測定する方法において、各測定ユニット
の各々の投光光軸は被測定物の長手方向に斜めにし、複
数の光切断線をつくり、１つの光切断線と他の光切断線
とで光切断線交差点をつくり、各測定ユニットの各々の
撮像光軸は投光光軸に対して垂直方向になるようにし、
各々の撮像装置の視野は被測定物の隣接する平担面に現
れた２つの光切断線交差点が入るようにし、該投光光軸
と該撮像光軸の両光軸で決まる平面は、被測定物の隣接
する平担面がなす角度を２等分する面とほぼ一致させ、
かつ前記平担面がなす角部を該平面がとおるようにし、
各々の撮像装置から得た２つの光切断線交差点の位置
と、ある隣の各々の撮像装置から得た対応する前記光切
断線交差点の位置を等しくするように座標変換処理す
る。
【００９】スリット光平面と撮像光軸は直交しているた
め、光切断線は常に撮像光軸方向一定の距離にあり、従
って、画素サイズは変わらない。又、被写体深度はスリ
ット光平面が非常に薄いから浅くてよい。角から撮像し
ているので角部に現れる光切断線は確実に撮像でき、し
たがって、形状測定は信頼性が高い。更に、両角部から
観察した該光切断線交差点を共通点として利用し両角部
の測定ヘッド座標の対応ずけを行うので、簡単な構成で
正確な断面の測定が可能となる。
め、光切断線は常に撮像光軸方向一定の距離にあり、従
って、画素サイズは変わらない。又、被写体深度はスリ
ット光平面が非常に薄いから浅くてよい。角から撮像し
ているので角部に現れる光切断線は確実に撮像でき、し
たがって、形状測定は信頼性が高い。更に、両角部から
観察した該光切断線交差点を共通点として利用し両角部
の測定ヘッド座標の対応ずけを行うので、簡単な構成で
正確な断面の測定が可能となる。
【０１０】
【実施例】本発明の実施例を図１から図３を用いて説明
する。図１は本発明の構成を示している。測定ユニット
１は例えば半導体レーザーの出力光を平凸レンズで線状
に引き延ばしたスリット光平面１１を出力するスリット
光投光器１０と、スリット光平面１１に垂直で且つ所定
距離をおいて設置された撮像装置２０とで構成されてい
る。スリット光投光器１０の投光光軸１２と撮像光軸２
１の２軸で決まる平面２（以下”ユニット基準面”と称
す）は角ａ３１の場合には両側の平坦面３３、３４を２
分割するように設置する。スリット光平面１１とユニッ
ト基準面２は投光光軸１２で直角に交わっている。
する。図１は本発明の構成を示している。測定ユニット
１は例えば半導体レーザーの出力光を平凸レンズで線状
に引き延ばしたスリット光平面１１を出力するスリット
光投光器１０と、スリット光平面１１に垂直で且つ所定
距離をおいて設置された撮像装置２０とで構成されてい
る。スリット光投光器１０の投光光軸１２と撮像光軸２
１の２軸で決まる平面２（以下”ユニット基準面”と称
す）は角ａ３１の場合には両側の平坦面３３、３４を２
分割するように設置する。スリット光平面１１とユニッ
ト基準面２は投光光軸１２で直角に交わっている。
【０１１】即ち、投光光軸１２をもつ１つのスリット光
投光器１０と、撮像光軸２１をもつ１つの撮像装置２０
からなる測定ユニット１を複数設け、丸みある複数の角
部と凹凸ある複数の平坦面からなる長物の被測定物につ
いて、その断面形状を測定する方法において、各測定ユ
ニット１の各々の投光光軸１２は被測定物長手方向４０
に斜めにし、複数の光切断線をつくり、１つの光切断線
と他の光切断線とで光切断線交差点をつくり、各測定ユ
ニット１の各々の撮像光軸２１は投光光軸１２に対して
垂直方向になるようにし、各々の撮像装置２０の視野は
被測定物の隣接する平担面に現れた２つの光切断線交差
点が入るようにし、該投光光軸１２と該撮像光軸２１の
両光軸で決まる平面は、被測定物の隣接する平担面がな
す角度を２等分する面とほぼ一致させ、かつ前記平担面
がなす角部を該平面がとおるようにし、各々の撮像装置
２０から得た２つの光切断線交差点の位置と、ある隣の
各々の撮像装置から得た対応する前記光切断線交差点の
位置を等しくするように座標変換処理するのである。
投光器１０と、撮像光軸２１をもつ１つの撮像装置２０
からなる測定ユニット１を複数設け、丸みある複数の角
部と凹凸ある複数の平坦面からなる長物の被測定物につ
いて、その断面形状を測定する方法において、各測定ユ
ニット１の各々の投光光軸１２は被測定物長手方向４０
に斜めにし、複数の光切断線をつくり、１つの光切断線
と他の光切断線とで光切断線交差点をつくり、各測定ユ
ニット１の各々の撮像光軸２１は投光光軸１２に対して
垂直方向になるようにし、各々の撮像装置２０の視野は
被測定物の隣接する平担面に現れた２つの光切断線交差
点が入るようにし、該投光光軸１２と該撮像光軸２１の
両光軸で決まる平面は、被測定物の隣接する平担面がな
す角度を２等分する面とほぼ一致させ、かつ前記平担面
がなす角部を該平面がとおるようにし、各々の撮像装置
２０から得た２つの光切断線交差点の位置と、ある隣の
各々の撮像装置から得た対応する前記光切断線交差点の
位置を等しくするように座標変換処理するのである。
【００１２】したがって、測定ユニット１から出力され
るスリット光平面１１は被測定物長手方向４０に対して
斜め、即ち、スリット光投光角１３で投光しており、更
に、両側の平坦面ａ３３、平坦面ｂ３４と等距離の関係
にある。撮像においても同様に、被測定物長手方向４０
に斜め、即ち、撮像角２２で撮像し、更に、両側の平坦
面ａ３３、平坦面ｂ３４を同じ距離から撮像することに
なる。角ａ３１を測定する測定ユニットの光切断線５
１、図示していない角ｂ３２を測定する測定ユニットの
光切断線５２はそれぞれ、被測定物長手方向４０に対し
て斜めのパターンとなる。
るスリット光平面１１は被測定物長手方向４０に対して
斜め、即ち、スリット光投光角１３で投光しており、更
に、両側の平坦面ａ３３、平坦面ｂ３４と等距離の関係
にある。撮像においても同様に、被測定物長手方向４０
に斜め、即ち、撮像角２２で撮像し、更に、両側の平坦
面ａ３３、平坦面ｂ３４を同じ距離から撮像することに
なる。角ａ３１を測定する測定ユニットの光切断線５
１、図示していない角ｂ３２を測定する測定ユニットの
光切断線５２はそれぞれ、被測定物長手方向４０に対し
て斜めのパターンとなる。
【００１３】鋼材のような被測定物は長手方向の形状変
化度合は極めて微小で形状検査は断面において重要であ
り、本発明のように一定の長手方向の形状をもって断面
としてもさしつかえないのである。
化度合は極めて微小で形状検査は断面において重要であ
り、本発明のように一定の長手方向の形状をもって断面
としてもさしつかえないのである。
【００１４】平坦面には両側の角部から光切断線が延び
ているので平面部のほぼ中央で光切断線は交差する。撮
像は光切断線交差点を含み角部を中央とする視野で行
う。以上で構成される測定ユニットを被測定物の角の数
に相当する数程用いて被測定物を一周する全ての表面に
光切断線が現れるようにする。
ているので平面部のほぼ中央で光切断線は交差する。撮
像は光切断線交差点を含み角部を中央とする視野で行
う。以上で構成される測定ユニットを被測定物の角の数
に相当する数程用いて被測定物を一周する全ての表面に
光切断線が現れるようにする。
【００１５】図２を用いて撮像結果について説明する。
図２は角ａ３１の光切断線の撮像例である。角ａ３１に
相当する部分で大きく曲がった角ａ光切断線５１があっ
て、その他に、光切断線交差点ｆ５３で交差する角ｂ光
切断線５２と、光切断線交差点ｅ５４で交差する角ｃ光
切断線５５があり、合わせて３つの種類の光切断線があ
る。このように、各々の測定ユニットには自分のユニッ
トのスリット光平面による光切断線の他に隣の測定ユニ
ットの光切断線も含まれており、且つ、それらは交差点
で区別することができる。なお、角ａ３１には被測定物
特有の丸みがあり角部６０と平坦面６１、６２との境界
は明瞭でない。
図２は角ａ３１の光切断線の撮像例である。角ａ３１に
相当する部分で大きく曲がった角ａ光切断線５１があっ
て、その他に、光切断線交差点ｆ５３で交差する角ｂ光
切断線５２と、光切断線交差点ｅ５４で交差する角ｃ光
切断線５５があり、合わせて３つの種類の光切断線があ
る。このように、各々の測定ユニットには自分のユニッ
トのスリット光平面による光切断線の他に隣の測定ユニ
ットの光切断線も含まれており、且つ、それらは交差点
で区別することができる。なお、角ａ３１には被測定物
特有の丸みがあり角部６０と平坦面６１、６２との境界
は明瞭でない。
【００１６】図３を用いて、交差点の検出例について説
明する。（ａ）は光切断線の撮像結果である。横軸は画
像のｙ軸で縦軸はｘ軸である。（ｂ）は（ａ）からそれ
ぞれのｙ値におけるｘ値の大きい方の値を選んだ結果で
ある。（ｃ）は（ｂ）をｙで微分した結果を、（ｄ）は
（ｃ）を更にｙで微分した結果をあらわす。交差点５
３、５４の２次微分は正の値を、角６０の２次微分は負
の値をもつことから正の値をさがせば光切断線交差点ｆ
５３、光切断線交差点ｅ５４の位置を検出することがで
きる。
明する。（ａ）は光切断線の撮像結果である。横軸は画
像のｙ軸で縦軸はｘ軸である。（ｂ）は（ａ）からそれ
ぞれのｙ値におけるｘ値の大きい方の値を選んだ結果で
ある。（ｃ）は（ｂ）をｙで微分した結果を、（ｄ）は
（ｃ）を更にｙで微分した結果をあらわす。交差点５
３、５４の２次微分は正の値を、角６０の２次微分は負
の値をもつことから正の値をさがせば光切断線交差点ｆ
５３、光切断線交差点ｅ５４の位置を検出することがで
きる。
【００１７】このようにして求めた交差点は別の該当す
る測定ユニットでも同様の処理で求めており、従って、
被測定物表面上の同じ交差点をそれぞれの測定ユニット
の座標で表したことに相当し、該交差点を用いて測定ユ
ニットの対応ずけを行うことができる。即ち、よく知ら
れた三角測量法を用いて画像座標から形状の座標に座標
変換することは可能であるが、測定ユニットは一義的に
決まる座標がなく、仮の座標をもっているにすぎない。
従って、測定ユニットの対応ずけが行えることは、それ
ぞれの仮の座標を関連ずけて一つの座標に変換できるこ
とであり、従って他の助けをかりなくても被測定物の断
面形状を求めることができるのである。
る測定ユニットでも同様の処理で求めており、従って、
被測定物表面上の同じ交差点をそれぞれの測定ユニット
の座標で表したことに相当し、該交差点を用いて測定ユ
ニットの対応ずけを行うことができる。即ち、よく知ら
れた三角測量法を用いて画像座標から形状の座標に座標
変換することは可能であるが、測定ユニットは一義的に
決まる座標がなく、仮の座標をもっているにすぎない。
従って、測定ユニットの対応ずけが行えることは、それ
ぞれの仮の座標を関連ずけて一つの座標に変換できるこ
とであり、従って他の助けをかりなくても被測定物の断
面形状を求めることができるのである。
【００１８】次に、角部と平面部の境界を求める処理の
一例について説明する。（ｄ）には図示していない小さ
なノイズが重畳しており、本実施例では、より再現性の
よい境界を求めるために２次微分分布の角部近傍を例え
ば２次の回帰曲線式７０で表し、そして、ある定まった
しきい値７１にある位置を境界とすることにより求め
る。
一例について説明する。（ｄ）には図示していない小さ
なノイズが重畳しており、本実施例では、より再現性の
よい境界を求めるために２次微分分布の角部近傍を例え
ば２次の回帰曲線式７０で表し、そして、ある定まった
しきい値７１にある位置を境界とすることにより求め
る。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば下記２点の効果が期待で
きる。 （１）角部と平坦部の境界を高精度で検出できる。 （２）交差点が視野に収まる程度の測定ユニット位置決
め精度で高精度の断面形状が測定できる。
きる。 （１）角部と平坦部の境界を高精度で検出できる。 （２）交差点が視野に収まる程度の測定ユニット位置決
め精度で高精度の断面形状が測定できる。
【図１】本発明を実施する構成の立体図
【図２】図１にての光切断線撮像例図
【図３】図２に対する処理実施例図
【図４】従来例を示す図
１ 測定ユニット ２ ユニット基準面 １１ スリット光平面 １２ 投光光軸 ２０ 撮像装置 ２１ 撮像光軸 ３０ 被測定物 ３１ 角ａ ３２ 角ｂ ３３ 平坦面ａ ３４ 平坦面ｂ ４０ 被測定物長手方向 ５１ 角ａ光切断線 ５２ 角ｂ光切断線 ５３ 光切断線交差点
Claims (1)
- 【請求項１】 投光光軸をもつ１つのスリット光投光器
と、撮像光軸をもつ１つの撮像装置からなる測定ユニッ
トを複数設け、丸みある複数の角部と凹凸ある複数の平
坦面からなる長物の被測定物について、その断面形状を
測定する方法において、 各測定ユニットの各々の投光光軸は被測定物の長手方向
に斜めにし、複数の光切断線をつくり、１つの光切断線
と他の光切断線とで光切断線交差点をつくり、各測定ユ
ニットの各々の撮像光軸は投光光軸に対して垂直方向に
なるようにし、各々の撮像装置の視野は被測定物の隣接
する平担面に現れた２つの光切断線交差点が入るように
し、該投光光軸と該撮像光軸の両光軸で決まる平面は、
被測定物の隣接する平担面がなす角度を２等分する面と
ほぼ一致させ、かつ前記平担面がなす角部を該平面がと
おるようにし、各々の撮像装置から得た２つの光切断線
交差点の位置と、ある隣の各々の撮像装置から得た対応
する前記光切断線交差点の位置を等しくするように座標
変換処理することを特徴とする断面形状測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3255141A JPH0593615A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 断面形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3255141A JPH0593615A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 断面形状測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0593615A true JPH0593615A (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=17274661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3255141A Pending JPH0593615A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 断面形状測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0593615A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018087328A1 (de) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | New Np Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur erfassung und/oder untersuchung eines abtrages an einer oberfläche eines zylindrischen bauteiles |
-
1991
- 1991-10-02 JP JP3255141A patent/JPH0593615A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018087328A1 (de) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | New Np Gmbh | Vorrichtung und verfahren zur erfassung und/oder untersuchung eines abtrages an einer oberfläche eines zylindrischen bauteiles |
| CN109997202A (zh) * | 2016-11-11 | 2019-07-09 | 法马通股份有限公司 | 用于检测和/或检查圆柱形部件表面上的磨耗的设备和方法 |
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