JPH0592757U - プロ−ビング機構 - Google Patents
プロ−ビング機構Info
- Publication number
- JPH0592757U JPH0592757U JP4053392U JP4053392U JPH0592757U JP H0592757 U JPH0592757 U JP H0592757U JP 4053392 U JP4053392 U JP 4053392U JP 4053392 U JP4053392 U JP 4053392U JP H0592757 U JPH0592757 U JP H0592757U
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- JP
- Japan
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- plate
- prober
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- lcd
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- Pending
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被検物を損傷することなく、正確に導通検査
をする。 【構成】 LCD等の被検物7を載置する受台1の上方
に押え板4が配置され、受台1の下方にプロ−バ−6が
配置されている。受台1はバネ3を備えた昇降軸2に沿
って上下動する。押え板4と受台1で被検物7を挟んだ
状態でこれらを降下させ、被検物導通端子をプロ−バ−
6と接触させる。
をする。 【構成】 LCD等の被検物7を載置する受台1の上方
に押え板4が配置され、受台1の下方にプロ−バ−6が
配置されている。受台1はバネ3を備えた昇降軸2に沿
って上下動する。押え板4と受台1で被検物7を挟んだ
状態でこれらを降下させ、被検物導通端子をプロ−バ−
6と接触させる。
Description
【0001】
本考案は、LCD(Liquid-crystal display)等のような導通端子を有する被 検物の導通検査に供されるプロ−ビング機構に関するものである。
【0002】
例えばLCDは、カメラ等の製品に組み込む前に、導通検査がなされる。LC Dは一般に、表示部となるガラス板の両端部に多数の導電端子(蒸着端子)を有 しており、従来では、LCDの下方に導電ゴムを配置し、上方から所定の圧力を 加えて導通端子と導電ゴムを接触させることにより導通検査をしている。
【0003】 しかしながら、このような方法は、上からの圧力が全体に均一に加わらないた め、導電ゴムとLCD導通端子が接触不良となることがあり、正確な導通検査を 行うことができない。このため上からの圧力を強くすることも考えられるが、被 検物がガラス板であり、破損の恐れがあるため、その圧力にも限度がある。
【0004】
本考案は、上述した問題に鑑み、被検物を破損することなく正確に導通検査す るためのプロ−ビング機構を提供することを目的とする。
【0005】
上記課題を解決するために採用した本考案の手段は、 導通端子を有するガラス製被検物の導通検査に供せられるプロ−ビング機構
で あって、 上下方向に付勢され、前記被検物を載置するための受台と、 前記受台の上方に配置され、上下方向に移動可能な被検物の押え部材と、 前記受台の下方に配置され、前記被検物の導通端子と接触するプロ−バ−とを 備えてなることを特徴とする。
で あって、 上下方向に付勢され、前記被検物を載置するための受台と、 前記受台の上方に配置され、上下方向に移動可能な被検物の押え部材と、 前記受台の下方に配置され、前記被検物の導通端子と接触するプロ−バ−とを 備えてなることを特徴とする。
【0006】
以下、本考案の実施例を添付図面に従って説明する。図1及び図2は本実施例 の装置を簡略化して示した構成図であり、図1は検査前の状態、図2は検査中の 作動状態を示している。
【0007】 受台1は昇降軸2に摺動可能となるよう支持されており、昇降軸2に配設され たバネ3によって、上下方向に弾性力が付与されている。受台1の上方には被検 物7を押えるための押え板4が配置されており、下方には、被検物7の導通端子 と対応させてプロ−バ−6が保持台5に保持されている。
【0008】 導通検査のときは、受台1にLCD等の被検物7を載置した後、押え板4を降 下させ、被検物7を押えながら受台1を押し下げる。このとき受台1にはバネ3 により上下方向に弾性力を有しているため、被検物7は押え板4との間に適度な 圧力で保持される。受台1を所定の位置まで降下させると、被検物7の導通端子 にプロ−バ−6が接触し、このプロ−バ−6を介して被検物導通端子に通電する ことにより導通検査を行う。
【0009】 図3乃至図6は、本実施例の具体的な検査装置を示したもので、図3は検査前 の状態を示す正面図、図4は検査中の作動状態の正面図、図5は作動状態直前の 左側面図、図6は図3の状態における平面図である。
【0010】 テ−ブル架台11には図6に示すように基台14が固定ボルト16によって固 定されており、この基台14に検査装置本体10が設置されている。検査装置本 体10は、図1及び図2と同じように受台1と、押え板4と、保持台5に保持さ れたプロ−バ−6を備えている。受台1は昇降軸2に摺動可能に支持されており 、バネ3により上下方向に弾性力が付与されている。なお、昇降軸2の上端部に は、図4及び図6に示すように受台ストッパ−用E型リング2aが固定されてい る。
【0011】 受台1は、図5及び図6に示すように中央部が切り欠かれたコ字形状となって おり、その切欠部の側縁部には、被検物載置用の段部1aが形成されている。受 台1の両端部には摺動軸受15が嵌入されており、この摺動軸受15に上述の昇 降軸2が挿通されている。なお、昇降軸2は基台14に立設されている。
【0012】 プロ−バ−保持台5は基台14に固定されており、その保持台5には、被検物 の導通端子と対応させて複数のプロ−バ−6が保持されている。プロ−バ−の構 成は従来と同じであり、接触ピンと、その接触ピンを上下方向に出し入れ自在に 保持する保持筒と、接触ピンを上向きに付勢するバネ等から構成されている。
【0013】 押え板4は上板4aと下板4bから構成されており、図5及び図6に示すよう に、中央部が切り欠かれたコ字形状となっている。上板4aと下板4bは、固定 ボルト18により固定され、上板4aは固定ボルト17により昇降台20に固定 されている。
【0014】 昇降台20は前板20aと後板20bとから構成され、これらは図5に示す固 定ボルト21によって固定されている。また昇降台20は、基台14の起立板1 4aに対して上下方向に摺動可能に支持されている。即ち、起立板14aには図 5及び図6に示すように高さ方向にガイドレ−ル22が固定され、昇降台後板2 0bには図6に示すようにガイド溝20cが形成されている。そして昇降台20 は、ガイド溝20cがガイドレ−ル22に合わさって上下方向に摺動する。
【0015】 昇降台20の一側部には図6に示すように、上下方向に調整可能なストッパ2 5を保持した側板23が固定されており、基台起立板14aの一側面と摺接する ようになっている。
【0016】 昇降台20の他側部には図3及び図4に詳示するように操作レバ−13が設け られている。操作レバ−13は、クランク13a及び13bを介して昇降台20 を上下動させるものであり、クランク13aの一端部はピン24により昇降台2 0に枢着され、クランク13bの一端部はピン24bにより基台起立面14aの 側面部に枢着される。そしてこれらクランク13a,13bの他端部はピン24 により連結されている。
【0017】 側板23の下面には、昇降台20の下降位置を規制するためのストッパ25が 突設されている。このストッパ25の突出量は被検物の高さやプロ−バ−の接触 圧等に応じて調節可能となっている。また昇降台20の上部に固定された支持ア −ム26にはスイッチ押圧部材27が固定されており、昇降台20が降下したと き、基台起立面14aに固定されたマイクロスイッチ28のスイッチ釦を押圧す るようになっている。
【0018】 次に上述した実施例の使用例について説明する。まず図3に示すように押え板 4を上昇させた状態で、受台1の段部1aに被検物であるLCDを載置する。こ のとき、LCDの導通端子は切欠部下方のプロ−バ−6と対応する。
【0019】 その後、操作レバ−13を押し下げると、クランク13a,13bの回転作用 により昇降台20が降下し、その昇降台20に固定された押え板4も降下する。 押え板4は、受台段部1aに載置されたLCDの端縁部を押圧すると同時に受台 1を押し下げる。受台1はバネ3の反発力に抗して昇降軸2に沿って下がり、昇 降台20に固定された側板23ののストッパ25が基台14の上面に当たるまで 下降する。
【0020】 受台1が所定位置まで下降すると、プロ−バ−6の先端がLCDの導通端子と 接触する。昇降台20をさらに降下させると、プロ−バ−6の先端部がLCDの 導通端子に接触した状態のまま、バネによる押圧に抗してプロ−バ−6が押し込 まれる一方で、スイッチ押圧部材27がマイクロスイッチ28のスイッチ釦を押 圧し、プロ−バ−6を介してLCD導通端子に通電する。これによりLCDの液 晶表示部への出力表示状態又は、別に設けられた出力表示装置等からLCDの導 通検査がなされる。
【0021】 導通検査を終えた後は、操作レバ−13を押しあげると、昇降台20と押え板 4が所定位置まで上昇し、スイッチ押圧部材27がマイクロスイッチ28のスイ ッチ釦から離れる。また受台1もバネ3の反発力により、所定の位置まで押し戻 される。
【0022】 上述した実施例は、本考案の一例であり、例えば昇降台20は、駆動モ−タ等 使用して昇降させてもよい。また受台1や押え板4等の構成も被検物の構成等に 応じて任意に変更することができる。本考案の被検物としてはLCDのみならず 、LED(Light-emitting Diodes)等、ガラス板のような破損しやすい部材を備 えた電気部品の通電検査に有効である。
【0023】
以上説明した本考案によれば、被検物の導通検査を、その被検物を損傷するこ となく、正確に行うことができる。
【図1】本考案の実施例を示した押し板を上昇させた状
態の概略構成図である。
態の概略構成図である。
【図2】本考案の実施例を示した押し板を降下させた状
態の概略構成図である。
態の概略構成図である。
【図3】本考案の実施例を示した押し板を上昇させた状
態の正面図である。
態の正面図である。
【図4】本考案の実施例を示した押し板を降下させた状
態の正面図である。
態の正面図である。
【図5】本考案の実施例を示した左側面図である。
【図6】本考案の実施例を示した平面図である。
1 受台 2 昇降軸 3 バネ 4 押え板 5 プロ−バ−保持台 6 プロ−バ− 7 被検物 10 装置本体 11 テ−ブル架台 13 操作レバ− 14 基台 20 昇降台 22 ガイドレ−ル 23 側板 27 スイッチ押圧部材 28 マイクロスイッチ
Claims (1)
- 【請求項1】 導通端子を有する被検物の導通検査に供
せられるプロ−ビング機構であって、 上下方向に付勢され、前記被検物を載置するための受台
と、 前記受台の上方に配置され、上下方向に移動可能な被検
物の押え部材と、 前記受台の下方に配置され、前記被検物の導通端子と接
触するプロ−バ−とを備えてなるプロ−ビング機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4053392U JPH0592757U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | プロ−ビング機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4053392U JPH0592757U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | プロ−ビング機構 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0592757U true JPH0592757U (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=12583102
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4053392U Pending JPH0592757U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | プロ−ビング機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0592757U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001133491A (ja) * | 1999-08-23 | 2001-05-18 | Onishi Denshi Kk | プリント基板のインピーダンス測定用プロービング装置 |
JP2010048701A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Asuka Denshi Kk | 電子部品試験台 |
-
1992
- 1992-05-22 JP JP4053392U patent/JPH0592757U/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001133491A (ja) * | 1999-08-23 | 2001-05-18 | Onishi Denshi Kk | プリント基板のインピーダンス測定用プロービング装置 |
JP2010048701A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Asuka Denshi Kk | 電子部品試験台 |
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