JPH0583443B2 - - Google Patents

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JPH0583443B2
JPH0583443B2 JP60126201A JP12620185A JPH0583443B2 JP H0583443 B2 JPH0583443 B2 JP H0583443B2 JP 60126201 A JP60126201 A JP 60126201A JP 12620185 A JP12620185 A JP 12620185A JP H0583443 B2 JPH0583443 B2 JP H0583443B2
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JP
Japan
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transport
conveyance
rail
upper guide
guide body
Prior art date
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JP60126201A
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Japanese (ja)
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JPS61287606A (en
Inventor
Hiroshi Ichikawa
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Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Seiki Co Ltd filed Critical Toshiba Seiki Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、IC、LSI等の電子部品を搬送可能と
する電子部品の搬送装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an electronic component transport device that can transport electronic components such as ICs and LSIs.

[従来の技術] IC、LSI等の電子部品を、例えば測定装置ある
いは所定の給送位置に搬送するためには、通常電
子部品の搬送装置が用いられる。電子部品の搬送
装置としては、従来例えば実公昭54−4941号や実
公昭54−7741号に示す装置が提案されている。こ
れらの装置は、電子部品を滑走可能とする長手状
の搬送面を備えてなる搬送レールと、搬送レール
に支持され、搬送面の上方を被覆する状態で該搬
送レールに沿つて配設される上ガイド体を備え、
該搬送レールの搬送面と上ガイド体間に形成され
る搬送路に沿つて電子部品を滑送状態で搬送可能
としている。この結果、該搬送路を介して測定装
置や所定の給送位置等に電子部品を供給すること
が可能となる。
[Prior Art] In order to transport electronic components such as ICs and LSIs to, for example, a measuring device or a predetermined feeding position, an electronic component transport device is usually used. As a conveyance device for electronic components, devices shown in, for example, Japanese Utility Model Publication No. 54-4941 and Japanese Utility Model Publication No. 54-7741 have been proposed. These devices include a transport rail comprising a longitudinal transport surface on which electronic components can slide, and are supported by the transport rail and arranged along the transport rail so as to cover the upper part of the transport surface. Equipped with an upper guide body,
Electronic components can be transported in a sliding state along a transport path formed between the transport surface of the transport rail and the upper guide body. As a result, it becomes possible to supply electronic components to a measuring device, a predetermined feeding position, etc. via the conveyance path.

[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来の電子部品の搬送装置
にあつては、搬送面の上方に配設される上ガイド
体を搬送レールに対し固定状態で支持しているた
め、例えば、搬送路に滑走される電子部品が搬送
面と上ガイド体との間に詰まる場合、その都度上
ガイド体を搬送レールに対して取外さなければな
らなかつた。また、搬送面の摩耗状態をチエツク
したり、搬送面に修繕を施こす場合など種々のメ
ンテナンスを行なう際にも、その都度上ガイド体
を取外さなければならず、円滑な搬送状態を確保
するため多くの手間がかかるものとされた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the conventional electronic component transport device described above, the upper guide body disposed above the transport surface is supported in a fixed state with respect to the transport rail. For example, if an electronic component sliding on the conveyance path becomes jammed between the conveyance surface and the upper guide body, the upper guide body must be removed from the conveyance rail each time. In addition, when performing various maintenance such as checking the wear condition of the conveying surface or repairing the conveying surface, the guide body must be removed each time, ensuring a smooth conveying condition. It was thought that it would take a lot of effort.

なお、実開昭51−56770号公報には、電子部品
6の搬送空間12を金属片10,11で形成する
とともに、金属片11の途中を切断して回動片1
1bを形成し、この回動片11bを蝶番14を介
して開閉可能としたものが開示されている。しか
しながら、この回動片11bには、電子部品6の
頭部6a下面の摺動案内面を有するため、この回
動片11bの回動に伴い、この回動片11bに支
持されていた電子部品は不用意に搬送空間12か
ら落下してしまう。さらに、回動片11bに電子
部品6の摺動案内面の一部が形成されていること
から、この回動片11bが有する案内面と、金属
片11における回動片11b以外の案内面との間
には段部または〓間が形成され、これが電子部品
の円滑な搬送を妨げる原因となつてしまう。
In addition, in Japanese Utility Model Application Publication No. 51-56770, the transport space 12 for the electronic component 6 is formed by the metal pieces 10 and 11, and the metal piece 11 is cut in the middle to form the rotary piece 1.
1b, and this rotating piece 11b can be opened and closed via a hinge 14. However, since this rotating piece 11b has a sliding guide surface on the lower surface of the head 6a of the electronic component 6, as the rotating piece 11b rotates, the electronic component supported by this rotating piece 11b may fall from the conveyance space 12 carelessly. Furthermore, since a part of the sliding guide surface of the electronic component 6 is formed on the rotating piece 11b, the guide surface of this rotating piece 11b and the guide surface of the metal piece 11 other than the rotating piece 11b are A stepped portion or gap is formed between the two, and this becomes a cause of hindering smooth transportation of electronic components.

本発明は、電子部品の搬送装置において、搬送
レールによる電子部品の円滑な搬送を妨げること
なく、搬送路の詰まりや搬送面のメンテナンス時
等に搬送レール上での電子部品や整列状態を乱す
ことなく容易に対処可能とすることを目的とす
る。
The present invention provides an electronic component transport device that does not disturb the smooth transportation of electronic components by the transport rail, and prevents the electronic components and alignment state on the transport rail from being disturbed due to clogging of the transport path or during maintenance of the transport surface. The purpose is to make it possible to deal with it easily without any problems.

[課題を解決するための手段] 本発明は、電子部品20,21を滑走可能とす
る長手状の搬送面を備えてなる搬送レール12
と、搬送面の上方を被覆する状態で該搬送レール
12に沿つて配設され搬送レール12に支持され
ながら滑走する電子部品20,21の上部をガイ
ドする上ガイド体23,51を備え、該搬送レー
ル12の搬送面と上ガイド体23,51間に形成
される搬送路29に沿つて電子部品20,21を
滑走状態で搬送可能とする電子部品の搬送装置1
0,50において、上ガイド体23,51を搬送
レール12とは別体とするとともに、この上ガイ
ド体23,51を搬送レール12の搬送面に対し
接離方向に開閉自在に支持したものである。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a transport rail 12 comprising a longitudinal transport surface that allows electronic components 20 and 21 to slide.
and an upper guide body 23, 51 that is disposed along the transport rail 12 so as to cover the upper part of the transport surface and guides the upper part of the electronic components 20, 21 sliding while being supported by the transport rail 12. Electronic component transport device 1 that can transport electronic components 20 and 21 in a sliding state along a transport path 29 formed between the transport surface of a transport rail 12 and upper guide bodies 23 and 51
0,50, the upper guide bodies 23, 51 are separate from the conveyance rail 12, and the upper guide bodies 23, 51 are supported so as to be openable and closable in the direction toward and away from the conveyance surface of the conveyance rail 12. be.

[作用] 電子部品が搬送路に詰まつた時や搬送面のメ
ンテナンス時等に対しては、上ガイド体を搬送
レールに対して離隔させることにより容易に対
処することが可能となる。
[Function] By separating the upper guide body from the transport rail, it is possible to easily deal with cases such as when an electronic component becomes clogged in the transport path or during maintenance of the transport surface.

上ガイド体が電子部品の搬送面を有する搬送
レールと別体とされるために、この上ガイド体
を搬送レールに対して離隔動させたときにも電
子部品は搬送レールに支持された状態が保た
れ、上ガイド体の開閉動によつて電子部品の整
列状態が乱れることもない。
Since the upper guide body is separate from the transport rail that has the electronic component transport surface, even when the upper guide body is moved away from the transport rail, the electronic components remain supported by the transport rail. The alignment of the electronic components is not disturbed by the opening and closing movement of the upper guide body.

上ガイド体が電子部品の搬送面を有する搬送
レールと別体とされるため、搬送レールの長手
状の搬送面は、上ガイド体の開閉構造に伴う段
部、〓間等を伴うことなく、電子部品の円滑な
搬送を妨げることがない。
Since the upper guide body is separate from the conveyance rail that has the electronic component conveyance surface, the longitudinal conveyance surface of the conveyance rail does not have any steps, gaps, etc. associated with the opening/closing structure of the upper guide body. Smooth transportation of electronic components is not hindered.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例に係り、ICの搬送
装置を示す一部破断の側面図、第2図は第1図の
−線に沿う拡大断面図、第3図は上ガイド体
の開放状態を示す断面図である。
Fig. 1 is a partially cutaway side view showing an IC transfer device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an enlarged sectional view taken along the - line in Fig. 1, and Fig. 3 is an upper guide body. It is a sectional view showing an open state.

ICの搬送装置10は、所定の傾斜角度状態で
配設される長手状の基台11上に配置される。
ICの搬送装置10は長手状の基台11の上部に
配設される長手状の搬送レール12を備えてな
り、該搬送レール12は主フレーム13と搬送フ
レーム14とから構成される。主フレーム13の
長手方向〔A方向〕の両側部には、フランジ部1
5が形成され、該フランジ部15はボルト16を
介して基台11に取着される。これにより、主フ
レーム13は、基台11上に支持され、長手方向
〔A方向〕を傾斜状態にして配設されることにな
る。一方、搬送フレーム14は、主フレーム13
の上面に配設され、ボルト17を介して主フレー
ム13に取着される。搬送フレーム14の長手方
向〔A方向〕上面には、凹部18が形成され、さ
らに凹部18の中心には、長手方向〔A方向〕に
沿つて配設される長孔19が形成される。この凹
部18の底部は、IC20または21の搬送面2
2とされ、IC20または21は、上方から下方
に向け傾斜方向〔A方向〕に沿つて搬送面22上
を滑走可能とされる。
The IC transport device 10 is arranged on a longitudinal base 11 arranged at a predetermined inclination angle.
The IC transport device 10 includes a longitudinal transport rail 12 disposed above a longitudinal base 11, and the transport rail 12 is composed of a main frame 13 and a transport frame 14. Flange portions 1 are provided on both sides of the main frame 13 in the longitudinal direction [direction A].
5 is formed, and the flange portion 15 is attached to the base 11 via bolts 16. Thereby, the main frame 13 is supported on the base 11 and arranged with the longitudinal direction [direction A] inclined. On the other hand, the transport frame 14 is
It is arranged on the upper surface of the main frame 13 and attached to the main frame 13 via bolts 17. A recess 18 is formed in the upper surface of the transport frame 14 in the longitudinal direction [direction A], and a long hole 19 is formed in the center of the recess 18 along the longitudinal direction [direction A]. The bottom of this recess 18 is the transfer surface 2 of the IC 20 or 21.
2, and the IC 20 or 21 is allowed to slide on the conveying surface 22 along the inclined direction [direction A] from above to below.

IC20または21を滑走可能とする搬送面2
2の上方には、該搬送面22を被覆する状態で上
ガイド体23が配設される。上ガイド体23は、
支持片24と長手状のガイドフレーム25から構
成され、このうち、支持片24は主フレーム13
の一側部側にヒンジ部材26を介して支持されて
なる。ガイドフレーム25は、支持片24に対し
てボルト27を介して取着され、長手方向〔A方
向〕を傾斜状態にして配設される。ガイドフレー
ム25の長手方向〔A方向〕には、上下方向〔第
2図B方向〕に穿設される長孔28が形成され、
該長孔28は、搬送面22を上方より視認可能と
している。
Conveyance surface 2 that allows IC20 or 21 to slide
An upper guide body 23 is disposed above the transport surface 22 so as to cover the conveyance surface 22 . The upper guide body 23 is
It is composed of a support piece 24 and a longitudinal guide frame 25, of which the support piece 24 is attached to the main frame 13.
It is supported via a hinge member 26 on one side. The guide frame 25 is attached to the support piece 24 via bolts 27, and is arranged with the longitudinal direction [direction A] inclined. A long hole 28 is formed in the longitudinal direction (direction A) of the guide frame 25, and is bored in the vertical direction (direction B in FIG. 2).
The elongated hole 28 allows the conveying surface 22 to be viewed from above.

このようにして、上ガイド体23のガイドフレ
ーム25と搬送フレーム14の搬送面22との間
に滑走されるIC20または21の搬送路29が
形成されることとなり、IC20または21は該
搬送路29に沿つて矢印C方向に搬送されること
となる。
In this way, a conveyance path 29 for the IC 20 or 21 to be slid is formed between the guide frame 25 of the upper guide body 23 and the conveyance surface 22 of the conveyance frame 14, and the IC 20 or 21 is moved along the conveyance path 29. It will be transported in the direction of arrow C along.

搬送路29を搬送するIC20または21のう
ち、IC20は小サイズ、IC21は大サイズのも
のとされる。IC20は、本体部30の両側部上
方に端子31を突出状態で備えてなる。またIC
21も同様に本体部32の両側部上方に端子33
を突出状態で備えてなる。小サイズのIC20の
搬送は、各端子31をガイドフレーム25の各ガ
イド面34に沿わせる状態で行なわれ、このた
め、両ガイド面34間の幅は、本体部30の両側
部間の端子31の幅T1よりも幾分小さなものと
される。この結果、IC20は各端子31がガイ
ド面34にガイドされる状態で搬送面22上を滑
走され、順次下方へと搬送されることとなる。一
方、大サイズのIC21の搬送は、本体部32の
両側部のそれぞれを凹部18の2つの対応するガ
イド面36に沿わせる状態で行なわれる。このた
め、両ガイド面36間の幅は、両側部間の幅T2
よりも幾分大きなものとされる。この結果、IC
21は両側部のそれぞれをガイド面36にガイド
される状態で滑走され、順次下方へと搬送される
こととなる。
Of the ICs 20 or 21 conveyed through the conveyance path 29, the IC 20 is of a small size, and the IC 21 is of a large size. The IC 20 includes terminals 31 projecting above both sides of a main body 30. Also IC
21 similarly has terminals 33 above both sides of the main body 32.
It is equipped with a protruding state. The small-sized IC 20 is transported with each terminal 31 along each guide surface 34 of the guide frame 25. Therefore, the width between both guide surfaces 34 is equal to the width of the terminal 31 between both sides of the main body 30. The width T1 is assumed to be somewhat smaller than the width T1. As a result, the IC 20 slides on the transport surface 22 with each terminal 31 being guided by the guide surface 34, and is sequentially transported downward. On the other hand, the large-sized IC 21 is transported with each side of the main body 32 along two corresponding guide surfaces 36 of the recess 18 . Therefore, the width between both guide surfaces 36 is the width T2 between both side parts.
It is considered to be somewhat larger than As a result, the IC
21 is slid along each of the two sides while being guided by the guide surfaces 36, and is sequentially conveyed downward.

搬送路29の下方には、第1図に示すように搬
送されるIC20または21の測定装置37が備
えられ、該測定装置37は、搬送されるIC20
または21の停止手段38と、測定部39とから
構成される。停止手段38は、主フレーム13に
支持されるシリンダ装置40から構成され、該シ
リンダ装置40はピストンロツド41を搬送面2
2に突出自在としているい。この結果、シリンダ
装置40は、ピストンロツド41の突出駆動によ
り、搬送されるIC20または21を順次測定位
置42に停留させることが可能となる。一方、測
定部39は、測定位置42における搬送面22の
対向位置に配設され、複数の接触子43を備えて
なる。測定部39は、矢印D方向に上下動可能と
され、接触子43を測定位置42に停留される
IC20または21の各端子31または33に接
離可能としている。測定部39は、接触子43の
各端子31または33に対する接触状態におい
て、IC20または21に対し測定信号を送受可
能としている。この結果、該測定信号の送受によ
り測定位置42に停留されるIC20または21
の各特性が測定されることとなる。測定の完了し
たIC20または21は、順次下方へと搬送され
ることとなる。
A measuring device 37 for the IC 20 or 21 to be transported is provided below the transport path 29, as shown in FIG.
or 21 stopping means 38 and a measuring section 39. The stopping means 38 comprises a cylinder device 40 supported by the main frame 13, which moves the piston rod 41 onto the conveying surface 2.
I want to be able to stand out in 2. As a result, the cylinder device 40 can sequentially stop the transported ICs 20 or 21 at the measurement position 42 by driving the piston rod 41 to protrude. On the other hand, the measuring section 39 is disposed at a position facing the conveying surface 22 at the measuring position 42 and includes a plurality of contacts 43 . The measuring unit 39 is movable up and down in the direction of arrow D, and the contact 43 is stopped at the measuring position 42.
Each terminal 31 or 33 of the IC 20 or 21 can be contacted or separated. The measurement unit 39 is capable of transmitting and receiving measurement signals to and from the IC 20 or 21 when the contactor 43 is in contact with each terminal 31 or 33. As a result, the IC 20 or 21 is stopped at the measurement position 42 by transmitting and receiving the measurement signal.
Each characteristic will be measured. The ICs 20 or 21 for which the measurement has been completed are sequentially transported downward.

搬送路29を搬送するIC20または21は、
順次下方へと滑走され、上記のように各特性が測
定される。この際、凹部18には、長孔19が形
成されるため、搬送面22と滑走されるIC20
または21との摩擦抵抗を軽減することが可能と
なる。さらに、搬送面22上のゴミ、ホコリなど
も長孔19内に落下されるのでIC20または2
1の円滑な滑走状態を確保することが可能とな
る。また、ガイドフレーム25に穿設される長孔
28により、搬送面22を視認することが可能と
なり、これにより滑走されるIC20または21
の詰まりや搬送面22の摩耗状態等を確認するこ
とが可能となる。
The IC 20 or 21 conveying the conveyance path 29 is
It is slid downward one after another, and each characteristic is measured as described above. At this time, since a long hole 19 is formed in the recess 18, the IC 20 sliding on the conveying surface 22
Or it becomes possible to reduce the frictional resistance with 21. Furthermore, since dirt, dust, etc. on the conveyance surface 22 are also dropped into the elongated hole 19, IC20 or
This makes it possible to ensure a smooth sliding condition. Furthermore, the elongated hole 28 formed in the guide frame 25 makes it possible to visually check the conveyance surface 22, and thereby allows the IC 20 or 21 to slide.
This makes it possible to check for clogging, wear of the conveyance surface 22, etc.

上ガイド体23は、ヒンジ部材26を介して主
フレーム13に支持され、矢示E方向に回動可能
とされる。この結果、上ガイド体23は搬送面2
2に対し開閉自在となる。上記のように滑走され
るIC20または21の詰まりや搬送面22の摩
耗状態が確認されると、第3図に示すように上ガ
イド体23が搬送面22に対して開放される。こ
れにより、該開放状態においてIC20または2
1の詰まりを解消する作業や搬送面22の修繕を
行なうことが可能となる。また、搬送フレーム1
4の交換も上ガイド体23の開放状態で行なうこ
とが可能となり、該交換は搬送面22により一定
の滑走状態が得られなくなつた状態において行な
われる。このようにして、IC20または21の
詰まりの解消、搬送面22の修繕等の作業が完了
すると上ガイド体23は第2図に示すように閉状
態とされ、再びIC20または21の搬送が行な
われることとなる。
The upper guide body 23 is supported by the main frame 13 via a hinge member 26 and is rotatable in the direction of arrow E. As a result, the upper guide body 23
2, it can be opened and closed freely. When it is confirmed that the sliding IC 20 or 21 is clogged or the conveyance surface 22 is worn out as described above, the upper guide body 23 is opened to the conveyance surface 22 as shown in FIG. As a result, IC20 or 2
It becomes possible to perform work to clear the blockage 1 and repair the conveyance surface 22. In addition, transport frame 1
4 can also be replaced with the upper guide body 23 in an open state, and this replacement is performed in a state where a constant sliding state cannot be obtained due to the conveying surface 22. In this way, when the work such as clearing the blockage of the IC 20 or 21 and repairing the conveying surface 22 is completed, the upper guide body 23 is closed as shown in FIG. 2, and the IC 20 or 21 is conveyed again. It happens.

次に、上記実施例の作用を説明する。 Next, the operation of the above embodiment will be explained.

上記実施例に係るICの搬送装置10によれば、
上ガイド体23が搬送レール12の搬送面22に
対して開閉自在となるため、搬送路29を容易に
開放することが可能となる。このため、IC20
または21が搬送路29に詰まつた時や搬送面2
2のメンテナンス時等に対しても容易に対処する
ことが可能となる。これにより、IC20または
21を確実かつ円滑に搬送可能とすることができ
る。
According to the IC transport device 10 according to the above embodiment,
Since the upper guide body 23 can be opened and closed with respect to the transport surface 22 of the transport rail 12, the transport path 29 can be easily opened. For this reason, IC20
21 is clogged in the conveyance path 29 or when the conveyance surface 2
It becomes possible to easily cope with the maintenance, etc. described in No. 2. Thereby, the IC 20 or 21 can be transported reliably and smoothly.

また、上ガイド体23がIC20または21の
搬送面を有する搬送レール12と別体とされるた
めに、この上ガイド体23を搬送レール12に対
して離隔動させた時にもIC20または21は搬
送レール12に支持された状態が保たれ、上ガイ
ド体23の開閉動によつてIC20または21の
整列状態が乱れることもない。
Furthermore, since the upper guide body 23 is separate from the conveyance rail 12 having a conveyance surface for the IC 20 or 21, even when the upper guide body 23 is moved away from the conveyance rail 12, the IC 20 or 21 is conveyed. The IC 20 or 21 remains supported by the rail 12, and the alignment of the IC 20 or 21 is not disturbed by the opening and closing movement of the upper guide body 23.

また、上ガイド体23がIC20または21の
搬送面を有する搬送レール12と別体とされるた
め、搬送レール12の長手状の搬送面は、上ガイ
ド体23の開閉構造に伴う段部、〓間等を伴うこ
となくIC20または21の円滑な搬送を妨げる
ことがない。
In addition, since the upper guide body 23 is separate from the conveyance rail 12 having the conveyance surface of the IC 20 or 21, the longitudinal conveyance surface of the conveyance rail 12 has a stepped portion due to the opening/closing structure of the upper guide body 23. Smooth transportation of the IC 20 or 21 is not hindered without any interruption.

第4図および第5図は上記実施例の変形例に係
り、ICの搬送装置を示す断面図である。このIC
の搬送装置50は、搬送面22の上方に一対の上
ガイド体51を備えてなる。各上ガイド体51
は、支持片52と断面L字状のガイドフレーム5
3から構成され、このうち、各支持片52は主フ
レーム13のそれぞれの側部にヒンジ部材54を
介して支持されてなる。各ガイドフレーム53
は、対応する支持片52に対してボルト55を介
して取着される。各ガイドフレーム53の先端部
には、滑走されるIC20または21のうち小サ
イズのIC20の端子31をガイド可能とするガ
イド部56が備えられてる。各ガイド部56間の
幅はIC20の端子31間の幅T1よりも幾分小さ
なものとされ、また、各ガイド部56の間には、
搬送面22を視認可能とする間隙57が形成され
る。これにより、IC20は、端子31をガイド
部56にガイドされる状態で搬送面22上を滑走
されることとなり、さらに滑走される各IC20
または21は、間隙57より確認されることとな
る。
FIGS. 4 and 5 are cross-sectional views showing an IC transport device according to a modification of the above embodiment. This IC
The transport device 50 includes a pair of upper guide bodies 51 above the transport surface 22. Each upper guide body 51
is a support piece 52 and a guide frame 5 having an L-shaped cross section.
3, of which each support piece 52 is supported on each side of the main frame 13 via a hinge member 54. Each guide frame 53
are attached to the corresponding support pieces 52 via bolts 55. A guide portion 56 is provided at the tip of each guide frame 53 and is capable of guiding the terminal 31 of the smaller IC 20 among the ICs 20 or 21 being slid. The width between each guide portion 56 is made somewhat smaller than the width T1 between the terminals 31 of the IC 20, and between each guide portion 56,
A gap 57 is formed that allows the transport surface 22 to be viewed. As a result, the IC 20 is slid on the conveyance surface 22 with the terminal 31 guided by the guide portion 56, and each IC 20 that is slid further
or 21 will be confirmed from the gap 57.

各上ガイド体51は、ヒンジ部材54により主
フレーム13に対して矢示F方向に回動可能とさ
れ、この結果、各上ガイド体51は搬送面22に
対し開閉自在となる。搬送面22を滑走するIC
20または21の詰まりや搬送面22の摩耗状態
が間隙57の部分より確認されると、第5図に示
すように各上ガイド体51さ搬送面22に対し開
放される。これにより、該開放状態においてIC
20または21の詰まりの解消作業や搬送面22
の修繕、さらに搬送フレーム14の交換を行なう
ことが可能となる。その他の構成および作用は、
前記実施例と同様である。
Each upper guide body 51 is rotatable in the direction of arrow F with respect to the main frame 13 by a hinge member 54, and as a result, each upper guide body 51 can be opened and closed with respect to the conveyance surface 22. IC sliding on conveyance surface 22
When clogging of 20 or 21 or wear of the conveying surface 22 is confirmed from the gap 57, each upper guide body 51 is opened to the conveying surface 22, as shown in FIG. As a result, in the open state, the IC
20 or 21 for clearing the jam or the conveyance surface 22
It becomes possible to repair the transport frame 14 and replace the transport frame 14. Other configurations and effects are as follows:
This is the same as in the previous embodiment.

[発明の効果] 以上のように本発明によれば、電子部品の搬送
装置において、搬送レールによる電子部品の円滑
な搬送を妨げることなく、搬送路の詰まりや搬送
面のメンテナンス時等に搬送レール上での電子部
品の整列状態を乱すことなく容易に対処可能とす
ることができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, in an electronic component conveyance device, the conveyance rail can be removed when the conveyance path is clogged or during maintenance of the conveyance surface, etc., without interfering with the smooth conveyance of electronic components by the conveyance rail. This can be easily handled without disturbing the alignment of the electronic components above.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例に係り、ICの搬送
装置を示す一部破断の側面図、第2図は第1図の
−線に沿う拡大断面図、第3図は上ガイド体
の開放状態を示す断面図、第4図および第5図は
第1図に示すICの搬送装置の変形例に係り、第
4図は第2図と同様の断面図、第5図は第3図と
同様の断面図である。 10,50……ICの搬送装置、12……搬送
レール、20,21……IC、22……搬送面、
23,51……上ガイド体、29……搬送路、2
6,54……ヒンジ部材。
Fig. 1 is a partially cutaway side view showing an IC transfer device according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is an enlarged sectional view taken along the - line in Fig. 1, and Fig. 3 is an upper guide body. 4 and 5 are cross-sectional views showing an open state, and FIGS. 4 and 5 relate to a modification of the IC transport device shown in FIG. 1. FIG. 4 is a sectional view similar to FIG. 2, and FIG. FIG. 10, 50... IC transport device, 12... Transport rail, 20, 21... IC, 22... Transport surface,
23, 51... Upper guide body, 29... Conveyance path, 2
6, 54... Hinge member.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 電子部品20,21を滑走可能とする長手状
の搬送面を備えてなる搬送レール12と、搬送面
の上方を被覆する状態で該搬送レール12に沿つ
て配設され搬送レール12に支持されながら滑走
する電子部品20,21の上部をガイドする上ガ
イド体23,51を備え、該搬送レール12の搬
送面と上ガイド体23,51間に形成される搬送
路29に沿つて電子部品20,21を滑走状態で
搬送可能とする電子部品の搬送装置10,50に
おいて、 上ガイド体23,51を搬送レール12とは別
体とするとともに、この上ガイド体23,51を
搬送レール12の搬送面に対し接離方向に開閉自
在に支持したことを特徴とする電子部品の搬送装
置10,50。
[Scope of Claims] 1. A transport rail 12 comprising a longitudinal transport surface on which the electronic components 20, 21 can slide, and a transport rail 12 disposed along the transport rail 12 so as to cover the upper part of the transport surface. A transport path 29 is provided with upper guide bodies 23 and 51 that guide the upper parts of the electronic components 20 and 21 that slide while being supported by the transport rail 12, and is formed between the transport surface of the transport rail 12 and the upper guide bodies 23 and 51. In the electronic component transport device 10, 50 that can transport the electronic components 20, 21 in a sliding state along the transport rail 12, the upper guide bodies 23, 51 is supported so as to be freely openable and closable in the direction toward and away from the conveyance surface of the conveyance rail 12.
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