JPH0580224A - ガーネツト導波路加工方法 - Google Patents
ガーネツト導波路加工方法Info
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- JPH0580224A JPH0580224A JP26550091A JP26550091A JPH0580224A JP H0580224 A JPH0580224 A JP H0580224A JP 26550091 A JP26550091 A JP 26550091A JP 26550091 A JP26550091 A JP 26550091A JP H0580224 A JPH0580224 A JP H0580224A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 イオンビームによるエッチングに際して、マ
スク材が残存しうる比較的短時間のうちにガーネット膜
を深くエッチングする方法を提供する。 【構成】 一般式R3 Fe5 O12で示される磁性ガーネ
ット膜、又は該ガーネットの酸素以外の構成元素の一部
を等価な価数を有する一種以上の元素で置き換えた置換
型ガーネット膜を導波路に加工する方法において、ガス
種にリン酸の蒸気を含む混合ガスを用いて反応性イオン
ビームエッチングあるいは反応性イオンエッチングによ
り加工するガーネット導波路の加工方法。 【効果】 容易に側壁の滑らかな導波路を形成でき、磁
性ガーネット膜を用いたデバイスの作製が容易になり、
産業上の利点が大きい。
スク材が残存しうる比較的短時間のうちにガーネット膜
を深くエッチングする方法を提供する。 【構成】 一般式R3 Fe5 O12で示される磁性ガーネ
ット膜、又は該ガーネットの酸素以外の構成元素の一部
を等価な価数を有する一種以上の元素で置き換えた置換
型ガーネット膜を導波路に加工する方法において、ガス
種にリン酸の蒸気を含む混合ガスを用いて反応性イオン
ビームエッチングあるいは反応性イオンエッチングによ
り加工するガーネット導波路の加工方法。 【効果】 容易に側壁の滑らかな導波路を形成でき、磁
性ガーネット膜を用いたデバイスの作製が容易になり、
産業上の利点が大きい。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性ガーネット膜を用
いたデバイス、例えば導波型アイソレータ等を形成する
ためのガーネットの加工方法に関する。
いたデバイス、例えば導波型アイソレータ等を形成する
ためのガーネットの加工方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、磁性ガーネット膜を用いて導波型
デバイスを作製する場合、ガーネットの化学的安定性、
高硬度であること及び形成温度の高さ〜900℃により
ガーネット導波路の加工が著しく困難であった。まずガ
ーネットが化学的に安定であることから、石英系の導波
路の加工に用いられている反応性イオンエッチングを利
用しようとしても、ガーネットを構成する元素を昇華さ
せて除去しうるだけの昇華性を提供できる反応性のガス
がない。一般に用いられているフルオロカーボン系のガ
スや塩素を用いても格段の効果は認められない。溶液に
よる化学的エッチングを用いる場合、ガーネットを溶解
しうるのは、熱リン酸しか知られていない。熱リン酸を
用いれば、ガーネットの加工は一応可能であるが、等方
的なエッチングであるため、導波路の側面がテーパを持
ち、いわゆるアスペクト比を大きくすることができな
い。しかも、3μm以上深くエッチングしようとする
と、パターンの上部がリン酸にさらされる時間が長くな
るため、幅5μm以下のパターンは、パターンの両側か
らエッチングされて、結局リッジ型の導波路パターンを
形成することが困難であった。ガーネットの形成温度は
〜900℃と高温であるため、あらかじめパターニング
を行うための有機・無機のレジストステンシルを形成し
ておいて、その後ガーネット膜を成長させ、最後にレジ
ストステンシルを溶解して不要な箇所を取去るという、
いわゆるリフトオフ法を適用することはできない。そこ
で、従来は導波路デバイス向けに磁性ガーネット膜を加
工するのにアルゴンや塩素を用いたイオンビームエッチ
ングを適用してきた。イオンビームエッチングは、イオ
ン源により加速されたイオンを衝突させることにより、
イオンが衝突した部分を構成する物質を物理的に叩き出
す、いわゆるスパッタリングによりエッチングを行うも
のである。
デバイスを作製する場合、ガーネットの化学的安定性、
高硬度であること及び形成温度の高さ〜900℃により
ガーネット導波路の加工が著しく困難であった。まずガ
ーネットが化学的に安定であることから、石英系の導波
路の加工に用いられている反応性イオンエッチングを利
用しようとしても、ガーネットを構成する元素を昇華さ
せて除去しうるだけの昇華性を提供できる反応性のガス
がない。一般に用いられているフルオロカーボン系のガ
スや塩素を用いても格段の効果は認められない。溶液に
よる化学的エッチングを用いる場合、ガーネットを溶解
しうるのは、熱リン酸しか知られていない。熱リン酸を
用いれば、ガーネットの加工は一応可能であるが、等方
的なエッチングであるため、導波路の側面がテーパを持
ち、いわゆるアスペクト比を大きくすることができな
い。しかも、3μm以上深くエッチングしようとする
と、パターンの上部がリン酸にさらされる時間が長くな
るため、幅5μm以下のパターンは、パターンの両側か
らエッチングされて、結局リッジ型の導波路パターンを
形成することが困難であった。ガーネットの形成温度は
〜900℃と高温であるため、あらかじめパターニング
を行うための有機・無機のレジストステンシルを形成し
ておいて、その後ガーネット膜を成長させ、最後にレジ
ストステンシルを溶解して不要な箇所を取去るという、
いわゆるリフトオフ法を適用することはできない。そこ
で、従来は導波路デバイス向けに磁性ガーネット膜を加
工するのにアルゴンや塩素を用いたイオンビームエッチ
ングを適用してきた。イオンビームエッチングは、イオ
ン源により加速されたイオンを衝突させることにより、
イオンが衝突した部分を構成する物質を物理的に叩き出
す、いわゆるスパッタリングによりエッチングを行うも
のである。
【0003】従来のイオンビームエッチングにおける問
題点に次のものがある。従来の方法の工程を図2に模式
的に示す。すなわち図2は従来のガーネット膜の加工方
法を示す工程図であり、符号1は基板、例えばガドニウ
ムガリウムガーネット、2は磁性ガーネット膜、例えば
約4.5μmの厚さのイットリウム鉄ガーネット膜、3
はフォトレジスト、例えば約4μmの厚さのフォトレジ
ストである。図2に示すように、基板(例えばガドニウ
ムガリウムガーネット結晶)上に成長した磁性ガーネッ
ト膜(例えばイットリウム鉄ガーネットYIG)の上に
必要な部分を保護するためのマスク材をフォトレジスト
により1〜3μmの厚さに形成する(図2Aの工程)。
続いて、イオンビームエッチング装置内に基板を持ち込
み、アルゴンあるいは塩素イオン等を基板に照射するこ
とにより、磁性ガーネット膜を堀り下げる(図2B)。
この時、ガーネット膜が機械的硬度が高く、イオンビー
ムに対するスパッタ効率(収量)が小さいため、ガーネ
ットのエッチング深さに比べて、マスク材がいち早く除
去されてしまい、マスク材が丁度完全に除去された状態
でのガーネットのエッチング深さは、たかだか1μm程
度であった(図2C)。
題点に次のものがある。従来の方法の工程を図2に模式
的に示す。すなわち図2は従来のガーネット膜の加工方
法を示す工程図であり、符号1は基板、例えばガドニウ
ムガリウムガーネット、2は磁性ガーネット膜、例えば
約4.5μmの厚さのイットリウム鉄ガーネット膜、3
はフォトレジスト、例えば約4μmの厚さのフォトレジ
ストである。図2に示すように、基板(例えばガドニウ
ムガリウムガーネット結晶)上に成長した磁性ガーネッ
ト膜(例えばイットリウム鉄ガーネットYIG)の上に
必要な部分を保護するためのマスク材をフォトレジスト
により1〜3μmの厚さに形成する(図2Aの工程)。
続いて、イオンビームエッチング装置内に基板を持ち込
み、アルゴンあるいは塩素イオン等を基板に照射するこ
とにより、磁性ガーネット膜を堀り下げる(図2B)。
この時、ガーネット膜が機械的硬度が高く、イオンビー
ムに対するスパッタ効率(収量)が小さいため、ガーネ
ットのエッチング深さに比べて、マスク材がいち早く除
去されてしまい、マスク材が丁度完全に除去された状態
でのガーネットのエッチング深さは、たかだか1μm程
度であった(図2C)。
【0004】このように、従来のガーネット膜加工方法
では、溶液を用いた化学的エッチングでは、パターン幅
5μm以下の導波路の形成はできず、またイオンビーム
による物理的エッチングではたかだか1μm程度しかエ
ッチングできないため、磁性ガーネットを用いた導波路
デバイスの構成に著しい制約があった。
では、溶液を用いた化学的エッチングでは、パターン幅
5μm以下の導波路の形成はできず、またイオンビーム
による物理的エッチングではたかだか1μm程度しかエ
ッチングできないため、磁性ガーネットを用いた導波路
デバイスの構成に著しい制約があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図2に示す、従来の磁
性ガーネット膜加工方法では、マスク材の耐性が低く、
導波路の構成を容易にするために期待されている4μm
以上のエッチング深さを得ることは困難であった。本発
明の目的は、この問題点を解決すべく、イオンビームに
よるエッチングに際して、マスク材が残存しうる比較的
短時間のうちにガーネット膜を深くエッチングする方法
を提供することにある。
性ガーネット膜加工方法では、マスク材の耐性が低く、
導波路の構成を容易にするために期待されている4μm
以上のエッチング深さを得ることは困難であった。本発
明の目的は、この問題点を解決すべく、イオンビームに
よるエッチングに際して、マスク材が残存しうる比較的
短時間のうちにガーネット膜を深くエッチングする方法
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明を概説すれば、本
発明はガーネット導波路の加工方法に関する発明であっ
て、一般式R3 Fe5 O12で示される磁性ガーネット
膜、又は該ガーネットの酸素以外の構成元素の一部を等
価な価数を有する一種以上の元素で置き換えた置換型ガ
ーネット膜を導波路に加工する方法において、ガス種に
リン酸の蒸気を含む混合ガスを用いて反応性イオンビー
ムエッチングあるいは反応性イオンエッチングにより加
工することを特徴とする。
発明はガーネット導波路の加工方法に関する発明であっ
て、一般式R3 Fe5 O12で示される磁性ガーネット
膜、又は該ガーネットの酸素以外の構成元素の一部を等
価な価数を有する一種以上の元素で置き換えた置換型ガ
ーネット膜を導波路に加工する方法において、ガス種に
リン酸の蒸気を含む混合ガスを用いて反応性イオンビー
ムエッチングあるいは反応性イオンエッチングにより加
工することを特徴とする。
【0007】前記のような目的を達成すために、本発明
では、リン酸を含む溶液をキャリアガスでバブリングす
ることによりイオン(ビーム)エッチング装置内にリン
酸を含む混合ガスを導入し、イオン(ビーム)により不
要な部分のガーネット膜を取去る。リン酸の蒸気をイオ
ン(ビーム)に混入させることにより、ガーネットを化
学的に除去する効果が物理的エッチングに重畳されるこ
とにより、方向性のある深いエッチングが可能となり、
従来の技術では加工が困難であった数μm以上の膜厚を
有するガーネット膜に対しても十分適用可能であること
を特徴とする。
では、リン酸を含む溶液をキャリアガスでバブリングす
ることによりイオン(ビーム)エッチング装置内にリン
酸を含む混合ガスを導入し、イオン(ビーム)により不
要な部分のガーネット膜を取去る。リン酸の蒸気をイオ
ン(ビーム)に混入させることにより、ガーネットを化
学的に除去する効果が物理的エッチングに重畳されるこ
とにより、方向性のある深いエッチングが可能となり、
従来の技術では加工が困難であった数μm以上の膜厚を
有するガーネット膜に対しても十分適用可能であること
を特徴とする。
【0008】また、当然にキャリアガスと別系統で他の
ガスを導入したり、キャリアガスに実施例にないガスを
混入したりしたものによりガーネットの加工を行うもの
は、本発明の領域に含まれる。
ガスを導入したり、キャリアガスに実施例にないガスを
混入したりしたものによりガーネットの加工を行うもの
は、本発明の領域に含まれる。
【0009】
【実施例】以下に本発明の具体的実施例について説明す
るが、本発明はこれら実施例に限定されない。
るが、本発明はこれら実施例に限定されない。
【0010】実施例1 図1に、本発明によるガーネット膜加工の一例を示す。
すなわち図1は本発明による磁性ガーネット膜の加工方
法の一例を示す工程図であり、符号1〜3は図2と同
義、4はリン酸を含む混合ガスをイオン化することによ
って生ずる活性種を模式的に示したものである。まず、
例えばガドニウムガリウムガーネット〔GGG基板(1
11)方向〕上にイットリウム鉄ガーネット膜を液層エ
ピタキシャル成長法(LPE法)により、約4.5μm
の厚さに形成し、ガーネット膜のパターンを得るための
約4μm厚のフォトレジストのマスクを通常のフォトリ
ソグラフィ技術を用いて形成した(図1A)。次にこの
基板を2つに分割して、1枚の基板はガス種をアルゴン
に選んで、アルゴンイオンビームによりガーネット膜の
加工を行い、残りの1枚は、アルゴンガスでリン酸をバ
ブリングしてリン酸の蒸気を含む混合ガスのイオンビー
ムにより行った。アルゴンイオンビームでエッチングし
た基板は、約4μmのレジストがほぼなくなるまで加工
を行ったが、ガーネット膜の加工深さは、わずかに1.
1μmであり、導波路の加工はできなかった。一方、リ
ン酸の蒸気を含む混合ガスイオンビームにより加工した
基板では、図1B及びCに模式的に示すように、ガーネ
ットのエッチング速度が飛躍的に高くなり、4.5μm
のガーネット膜を完全に掘り下げた状態で約1.7μm
の厚さのマスク材のフォトレジストが残っていた。アル
ゴンイオンビームに比較して、約10倍程度速く、ガー
ネット膜を加工できることがわかった。最後に、プラズ
マリアクタを用いて、残っているレジストを酸素プラズ
マによりアッシングして取去り、図1Dに示すリッジ型
のイットリウム鉄ガーネット膜導波路を形成した。その
後、LPE法によりイットリウムの一部をランタンに、
鉄の一部をガリウムに置換したクラッド層を形成して導
波損失を調べたところ、リン酸の蒸気を含むイオンビー
ムは、物理化学的エッチッグであるため、導波路側壁が
極めて滑らかになっており、〜1dB/cmの低損失導波
路が形成できることが分かった。
すなわち図1は本発明による磁性ガーネット膜の加工方
法の一例を示す工程図であり、符号1〜3は図2と同
義、4はリン酸を含む混合ガスをイオン化することによ
って生ずる活性種を模式的に示したものである。まず、
例えばガドニウムガリウムガーネット〔GGG基板(1
11)方向〕上にイットリウム鉄ガーネット膜を液層エ
ピタキシャル成長法(LPE法)により、約4.5μm
の厚さに形成し、ガーネット膜のパターンを得るための
約4μm厚のフォトレジストのマスクを通常のフォトリ
ソグラフィ技術を用いて形成した(図1A)。次にこの
基板を2つに分割して、1枚の基板はガス種をアルゴン
に選んで、アルゴンイオンビームによりガーネット膜の
加工を行い、残りの1枚は、アルゴンガスでリン酸をバ
ブリングしてリン酸の蒸気を含む混合ガスのイオンビー
ムにより行った。アルゴンイオンビームでエッチングし
た基板は、約4μmのレジストがほぼなくなるまで加工
を行ったが、ガーネット膜の加工深さは、わずかに1.
1μmであり、導波路の加工はできなかった。一方、リ
ン酸の蒸気を含む混合ガスイオンビームにより加工した
基板では、図1B及びCに模式的に示すように、ガーネ
ットのエッチング速度が飛躍的に高くなり、4.5μm
のガーネット膜を完全に掘り下げた状態で約1.7μm
の厚さのマスク材のフォトレジストが残っていた。アル
ゴンイオンビームに比較して、約10倍程度速く、ガー
ネット膜を加工できることがわかった。最後に、プラズ
マリアクタを用いて、残っているレジストを酸素プラズ
マによりアッシングして取去り、図1Dに示すリッジ型
のイットリウム鉄ガーネット膜導波路を形成した。その
後、LPE法によりイットリウムの一部をランタンに、
鉄の一部をガリウムに置換したクラッド層を形成して導
波損失を調べたところ、リン酸の蒸気を含むイオンビー
ムは、物理化学的エッチッグであるため、導波路側壁が
極めて滑らかになっており、〜1dB/cmの低損失導波
路が形成できることが分かった。
【0011】実施例2 実施例1で示したリン酸の蒸気を含むガスによるガーネ
ット膜加工方法を用いて、イットリウム鉄ガーネットの
イットリウムの一部をビスマスあるいは希土類元素に、
鉄の一部をガリウムあるいはアルミに置換した磁性ガー
ネット膜を加工して、約4μmのフォトレジストのマス
ク材がなくなる時点での加工深さの測定を行った。その
結果を、下記表1に示す。
ット膜加工方法を用いて、イットリウム鉄ガーネットの
イットリウムの一部をビスマスあるいは希土類元素に、
鉄の一部をガリウムあるいはアルミに置換した磁性ガー
ネット膜を加工して、約4μmのフォトレジストのマス
ク材がなくなる時点での加工深さの測定を行った。その
結果を、下記表1に示す。
【0012】
【表1】 表1 各ガーネット膜に対する加工深さ イットリウムを置換する元素 最大加工深さ(μm) ビスマス 17.5 ランタン 16.7 ガドリニウム 16.3 ルテチウム 16.4
【0013】表1から分かるように、本発明による加工
方法により、各種磁性ガーネット膜を十分深く加工でき
る。また、希土類の中でセリウム、プラセオジム、ネオ
ジム、サマリウム、ユーロピウム、テルビウム、ジスプ
ロシウム、ホルミウム、エルビウム、ツリウム、イッテ
ルビウムが適宜混合された原料を用いて作製したガーネ
ット膜についても、16.9μmの加工深さを得た。な
お、鉄の一部を置換していないガーネット膜についても
加工深さが少なくとも10μm以上取れることは容易に
類推できる。
方法により、各種磁性ガーネット膜を十分深く加工でき
る。また、希土類の中でセリウム、プラセオジム、ネオ
ジム、サマリウム、ユーロピウム、テルビウム、ジスプ
ロシウム、ホルミウム、エルビウム、ツリウム、イッテ
ルビウムが適宜混合された原料を用いて作製したガーネ
ット膜についても、16.9μmの加工深さを得た。な
お、鉄の一部を置換していないガーネット膜についても
加工深さが少なくとも10μm以上取れることは容易に
類推できる。
【0014】実施例3 実施例1と同一の条件で約4μmの厚さのフォトレジス
トのマスクパターンまで形成したイットリウム鉄ガーネ
ット膜基板を反応性イオンエッチング装置にセットし
て、アルゴン、酸素、窒素、塩素等を含む混合ガスをキ
ャリアガスとしてリン酸を含む溶液をバブリングして真
空槽内に導入し、高周波電力を印加して、ガーネット膜
の加工を試みた。同時にセットしたフォトレジストを全
面にコートしたシリコン基板をモニターとして、フォト
レジストがほとんどなくなるまでエッチングを行った結
果、4.5μmのガーネット膜は完全に加工できている
上、更に基板材料のガドリウムガリウムガーネットまで
約3μmほどエッチングされていた。加工した側壁を走
査電子顕微鏡で観察したところ、非常に滑らかな加工面
であった。
トのマスクパターンまで形成したイットリウム鉄ガーネ
ット膜基板を反応性イオンエッチング装置にセットし
て、アルゴン、酸素、窒素、塩素等を含む混合ガスをキ
ャリアガスとしてリン酸を含む溶液をバブリングして真
空槽内に導入し、高周波電力を印加して、ガーネット膜
の加工を試みた。同時にセットしたフォトレジストを全
面にコートしたシリコン基板をモニターとして、フォト
レジストがほとんどなくなるまでエッチングを行った結
果、4.5μmのガーネット膜は完全に加工できている
上、更に基板材料のガドリウムガリウムガーネットまで
約3μmほどエッチングされていた。加工した側壁を走
査電子顕微鏡で観察したところ、非常に滑らかな加工面
であった。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
磁性ガーネット膜の加工方法において、リン酸の蒸気を
含む混合ガスを用いて、反応性イオンビームエッチング
あるいは反応性イオンエッチングによりガーネット膜を
エッチングすればリン酸の化学的効果をそのままドライ
工程に持込むことが可能となり、容易に側壁の滑らかな
導波路を形成でき、磁性ガーネット膜を用いたデバイス
の作製が容易になり、産業上の利点が大きいものであ
る。
磁性ガーネット膜の加工方法において、リン酸の蒸気を
含む混合ガスを用いて、反応性イオンビームエッチング
あるいは反応性イオンエッチングによりガーネット膜を
エッチングすればリン酸の化学的効果をそのままドライ
工程に持込むことが可能となり、容易に側壁の滑らかな
導波路を形成でき、磁性ガーネット膜を用いたデバイス
の作製が容易になり、産業上の利点が大きいものであ
る。
【図1】本発明による磁性ガーネット膜の加工方法の一
例を示す工程図である。
例を示す工程図である。
【図2】従来のガーネット膜の加工方法を示す工程図で
ある。
ある。
1…基板、2…磁性ガーネット膜、3…フォトレジス
ト、4…リン酸を含む混合ガスをイオン化することによ
って生ずる活性種を模式的に示したもの
ト、4…リン酸を含む混合ガスをイオン化することによ
って生ずる活性種を模式的に示したもの
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渋川 篤 東京都千代田区内幸町一丁目1番6号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 一般式R3 Fe5 O12で示される磁性ガ
ーネット膜、又は該ガーネットの酸素以外の構成元素の
一部を等価な価数を有する一種以上の元素で置き換えた
置換型ガーネット膜を導波路に加工する方法において、
ガス種にリン酸の蒸気を含む混合ガスを用いて反応性イ
オンビームエッチングあるいは反応性イオンエッチング
により加工することを特徴とするガーネット導波路の加
工方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26550091A JPH0580224A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | ガーネツト導波路加工方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26550091A JPH0580224A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | ガーネツト導波路加工方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0580224A true JPH0580224A (ja) | 1993-04-02 |
Family
ID=17418039
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26550091A Pending JPH0580224A (ja) | 1991-09-18 | 1991-09-18 | ガーネツト導波路加工方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0580224A (ja) |
-
1991
- 1991-09-18 JP JP26550091A patent/JPH0580224A/ja active Pending
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