JPH0579139B2 - - Google Patents

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JPH0579139B2
JPH0579139B2 JP61280380A JP28038086A JPH0579139B2 JP H0579139 B2 JPH0579139 B2 JP H0579139B2 JP 61280380 A JP61280380 A JP 61280380A JP 28038086 A JP28038086 A JP 28038086A JP H0579139 B2 JPH0579139 B2 JP H0579139B2
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JP
Japan
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annular
light source
inspected
optical element
annular light
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP61280380A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63133045A (ja
Inventor
Tetsuya Kimoto
Hidekazu Harima
Toshihiko Sakaguchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
Priority to JP28038086A priority Critical patent/JPS63133045A/ja
Publication of JPS63133045A publication Critical patent/JPS63133045A/ja
Publication of JPH0579139B2 publication Critical patent/JPH0579139B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 この発明は、外観検査などのたえに使用する検
査用照明器具に関するものである。
〔背景技術〕
従来より、製品の形状認識や傷、汚れを検出す
るには、被検査物に光を照射して、その像をカメ
ラで捕らえて画像処理を行つたり、フオトセンサ
で光信号を検知して判別したり、あるいは目視に
よる外観検査を行つている。
その際、被検査物への照明方法が非常に重要な
課題となり、被検査物の形状や大きさ、さらに検
査対象箇所によつて最適な照明方向は変化するの
で、そのための検査用照明を多数用意する必要が
あつた。
従来、検査用照明器具としては、第3図に示す
ように、光フアイバ束20をリング状保持台21
にその全周にわたつて傾斜姿勢で保持させた環状
光源29を用い、この環状光源29から被検査物
に向けて斜め方向から光線(矢印で示す)を照射
することが提案されたが、高い精度で照射角度を
設定することが非常に困難であつた。そこで、第
4図および第5図に示すようにリング状保持台2
1に垂直に光フアイバ束20を保持させた環状光
源30を用い、この環状光源30の光照射面側に
プリズム22や反射ミラー23等の光学素子を配
置し、この光学素子を変えることにより任意の照
射角度を精度よく得ることが提案された。
また、他の検査用照明器具として、第6図に示
すような照明器具が提案されていた。このもの
は、内部にハロゲン電球等の光源25を収容した
内円筒部材26と外円筒部材27とから環状光源
31を構成し、内円筒部材26を外円筒部材7に
対して上下動可能にし、その上下動により下部の
開口28の幅を調整しうるようになつており、こ
の開口28の幅調整により照明光の指向性を変え
ることができる。さらに、環状光源31はその全
体がびん口等の被検査物24に対して上下動し
て、照明光の角度調整ができるように構成されて
いた。なお、第6図において、23は受光センサ
である。
しかしながら、これらの検査用照明器具では、
被検査物の大きさが変わつた場合あるいは照射方
向をできる限り水平方向に変更したい場合に環状
光源30,31の径を大きくしなければならない
という問題があつた。すなわち、第4図に示した
検査用照明器具を例にあげて説明すると、正常な
検査状態では、第7図に示すように、光フアイバ
束20を垂直に保持してなる環状光源30を所定
の被検査物32の上方に位置させ、環状光源30
の下面側に所定のプリズム22を配置して環状光
源30から下向きに照射された光線を屈折透過さ
せて半径方向内向きに変えて被検査物32の外方
から照射し、光を上方に反射させて環状光源30
の内方を通過させている。
しかしながら、被検査物の大きさが変わると、
第8図に示すように、同じ環状光源30では被検
査物32′から反射した反射光が上方に向かず外
向きに逃げてしまい、反射光を上方に向けるに
は、第9図に示すように径のより大きな環状光源
30′を用いる必要があり、これに応じてプリズ
ム22′も変える必要があつた。
また、第10図に示すように、円環状の保持筒
36内に環形ランプである環状光源34を収容し
この保持筒36の下面に設けたスリツト35より
光線を放射させ、その下方に設けた反射ミラー3
7にて光線を反射して半径方向内向きに変えて被
検査物32に照射し、被検査物32反射した光線
を上方に反射させるようにした検査用照明器具に
おいて、被検査物32に対する光の照射方向をで
きるだけ水平方向に変更したい場合、第11図に
示すように環状光源34を被検査物32にできる
だけ接近させる必要があるが、これでは被検査物
32が反射ミラー37に当たつて移動できなくな
り、一連の製造ラインの流れの中で製品の外観検
査を行うことができなくなる。このため、反射ミ
ラーを被検査物32より上方に配置するために
は、第12図に示すように反射ミラー37′とと
もに環状光源34′の径を大きくする必要がある。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、単一の環状光源を用いて被
検査物の大きさや形状等に応じて光の照射方向を
任意に制御できる検査用照明器具を提供すること
である。
〔発明の開示〕 この発明の検査用照明器具は、被検査物の方向
へ環状の光線を照射する環状光源と、この環状光
源より照射された環状の光線を半径方向外向きに
変える環状の第1の光学素子と、この第1の光学
素子と前記被検査物との間に介在し第1の光学素
子で半径方向外向きに変えた環状の光線を半径方
向内向きに変えて被検査物を照射する環状の第2
の光学素子とを備えたものである。
このように、この発明におれば、環状光源と被
検査物との間に環状の第1の光学素子および第2
の光学素子を配設し、環状光源から照射された環
状の光線を第1の光学素子で半径方向外向きに変
え、ついで第2の光学素子で半径方向内向きに変
えるようにしたので、被検査物の大きさや形状等
に応じて第1の光学素子および第2の光学素子を
種々の光学特性のものから選択使用することによ
り、環状光源から照射した光線の向きを自由自在
に変えることができ、その結果1つの環状光源で
種々の被検査物の検査に対応することができ、検
査用照明器具の小型化および低コスト化を図るこ
とができる。
前記環状光源としては、前記第1および第2の
光学素子により光線の向きの制御が簡単に行われ
るため、光線の指向性の強いものが好ましく、た
とえばリング状の光フアイバや環状のスリツト光
線などがあげられる。
前記第1および第2の光学素子としては、たと
えばプリズム、レンズ、反射ミラー等が使用可能
である。
実施例 この発明の一実施例を第1図に基づいて説明す
る。すなわち、この検査用照明器具は、被検査物
1の方向へ環状の光線を照射する環状光源2と、
この環状光源より照射された環状の光線を半径方
向外向きに変える環状の第1の光学素子3と、こ
の第1の光学素子3と前記被検査物1との間に介
在し第1の光学素子3で半径方向外向きに変えた
環状の光線を半径方向内向きに変えて被検査物1
を照射する環状の第2の光学素子4とを備えたも
のである。
前記環状光源2はその円環状の保持台5に垂直
に光フアイバ束6を取付け、光を下方の被検査物
1に向かつて照射するようにしたものである。
かかる環状光源2の下面には環状光源2とほぼ
同心円状に第1の光学素子3が配置される。この
実施例では、第1の光学素子3とし環状のプリズ
ムを使用しているが、レンズ等の他の光学素子を
使用してもよい。いずれの場合も、第1の光学素
子3において、光線は半径方向外向きに向きを変
えることが必要である。
このようにして向きを変えた光線を第2の光学
素子4で受け、半径方向内向きに向きを変えさせ
て被検査物1をほとんど水平に近い方向から照射
し、反射光を上方に反射させている。この実施例
では、第2の光学素子4として反射ミラーを用い
ているが、必要に応じてプリズムやレンズ等を用
いてもよい。
被検査物1から反射した反射光は環状の第2の
光学素子4、第1の光学素子3および環状光源2
の各リング内を通つて上方に設けた受光センサ
(図示せず)等で受けられ、被検査物の外観が検
査される。
このように構成したため、被検査物1の形状や
大きさ等が変わり光の照射方向を調整する必要が
生じた場合には、環状光源2をそのままにして、
第1の光学素子3および第2の光学素子4を交換
するだけで最適な照射角度を簡単に得ることがで
きる。したがつて、環状光源2を被検査物1の大
きさや形状等に関係なく、コンパクトなものにす
ることができ、各種検査用照明器具を安価に提供
することができる。
また、環状光源2の光学特性が判つていれば、
幾何光学的設計手法を用いて設計・製作された第
1および第2の光学素子3,4を交換するだけ
で、光の照射方向を自由自在に変えることができ
る。
この発明の他の実施例を第2図に基づいて説明
する。すなわち、この検査用照明器具は、第2図
に示すように、環状光源7として環形ランプを用
いて環状光源7を円環状保持筒8で保持するとと
もに保持筒8の下面に設けたスリツト9より光線
を照射させ、第1の光学素子10(反射ミラー)
で光線を外向きに反射させ、これを第2の光学素
子11(プリズムまたはレンズ)で受け、光線を
内向きに変えて被検査物12を照射するものであ
る。
この実施例の検査用照明器具においても、前述
の指令と同様な効果を得ることができる。
〔発明の効果〕
この発明によれば、環状光源と被検査物との間
に環状の第1の光学素子および第2光学素子を配
設し、環状光源から照射された環状の光線を第1
の光学素子で半径方向外向きに変え、ついで第2
の光学素子で半径方向内向きに変えるようにした
ので、被検査物の大きさや形状等に応じて第1の
光学素子および第2の光学素子を種々の光学特性
のものから選択使用することにより、環状光源か
ら照射した光線の向きを自由自在に変えることが
でき、その結果1つの環状光源で種々の被検査物
に対応することができ、検査用照明器具の小型化
および低コスト化を図ることができるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の断面図、第2図
はこの発明の他の実施例の断面図、第3図は従来
の検査用照明器具の断面図、第4図および第5図
はそれぞれ第3図に示す照明器具を改良した従来
の検査用照明器具、第6図は従来の他の検査用照
明器具の説明図、第7図〜第9図はそれぞれ被検
査物の大きさに対応する照明器具の構成を示す説
明図、第10図〜第12図は被検査物に対して光
を水平方向に近い方向から照射する場合の構成を
示す説明図である。 1,12……被検査物、2,7……環状光源、
3,10……第1の光学素子、4,11……第2
の光学素子。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被検査物の方向へ環状の光線を照射する環状
    光源と、この環状光源より照射された環状の光線
    を半径方向外向きに変える環状の第1の光学素子
    と、この第1の光学素子と前記被検査物との間に
    介在し第1の光学素子で半径方向外向きに変えた
    環状の光線を半径方向内向きに変えて被検査物を
    照射する環状の第2の光学素子とを備えた検査用
    照明器具。
JP28038086A 1986-11-25 1986-11-25 検査用照明器具 Granted JPS63133045A (ja)

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JP28038086A JPS63133045A (ja) 1986-11-25 1986-11-25 検査用照明器具

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JPS63133045A JPS63133045A (ja) 1988-06-04
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102713506B (zh) * 2009-12-17 2014-09-17 新日铁住金株式会社 管状物的检查装置及其检查方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5821146A (ja) * 1981-07-30 1983-02-07 Kirin Brewery Co Ltd 欠陥検査方法および装置
JPS5858020A (ja) * 1981-09-30 1983-04-06 松下電工株式会社 洗面化粧台
JPS60217325A (ja) * 1984-04-13 1985-10-30 Nippon Kogaku Kk <Nikon> エピダ−ク用対物レンズ

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