JPH0572033A - 光スペクトラムアナライザ - Google Patents
光スペクトラムアナライザInfo
- Publication number
- JPH0572033A JPH0572033A JP23652191A JP23652191A JPH0572033A JP H0572033 A JPH0572033 A JP H0572033A JP 23652191 A JP23652191 A JP 23652191A JP 23652191 A JP23652191 A JP 23652191A JP H0572033 A JPH0572033 A JP H0572033A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- ferrule
- spectroscope
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 レーザモジュール（ＬＤ）への戻り光がな
く、しかもノイズによる乱れのない正確なスペクトラム
特性を測定できる様な光スペクトラムアナライザを提供
する。 【構成】 アナライザの測定光入力部に、一端が凸球面
状に加工され、他端面が斜めに加工された光ファイバ内
蔵フェルールを備え、光ファイバの斜め加工面から出射
される光の光軸線上に、測定用の機器類が配置されてい
る。
く、しかもノイズによる乱れのない正確なスペクトラム
特性を測定できる様な光スペクトラムアナライザを提供
する。 【構成】 アナライザの測定光入力部に、一端が凸球面
状に加工され、他端面が斜めに加工された光ファイバ内
蔵フェルールを備え、光ファイバの斜め加工面から出射
される光の光軸線上に、測定用の機器類が配置されてい
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信或いは光ファイ
バ計測用光源の波長強度分布を測定する光スペクトラム
アナライザに関し、特に光通信用レーザダイオード・モ
ジュール（以下、ＬＤモジュールと呼ぶ）における光源
の波長強度分布を測定する光スペクトラムアナライザに
関する。
バ計測用光源の波長強度分布を測定する光スペクトラム
アナライザに関し、特に光通信用レーザダイオード・モ
ジュール（以下、ＬＤモジュールと呼ぶ）における光源
の波長強度分布を測定する光スペクトラムアナライザに
関する。
【０００２】
【従来の技術】光通信システムに光源として使用される
ＬＤモジュールの特性の一つに、その波長強度分布（ス
ペクトラム特性）がある。
ＬＤモジュールの特性の一つに、その波長強度分布（ス
ペクトラム特性）がある。
【０００３】光ファイバに変調信号光を伝送する場合、
図４（ａ）に示すように、伝送光のスペクトラム半値幅
が大きかったり、或いは、図４（ｂ）に示すように、ス
ペクトラムが二つに分離していると、光ファイバの材料
分散の影響で変調信号が乱れてしまう。
図４（ａ）に示すように、伝送光のスペクトラム半値幅
が大きかったり、或いは、図４（ｂ）に示すように、ス
ペクトラムが二つに分離していると、光ファイバの材料
分散の影響で変調信号が乱れてしまう。
【０００４】そのため、光通信用光源としてＬＤモジュ
ールを使用する際には、そのスペクトラム特性を確認す
る必要がある。このようなＬＤモジュールのスペクトラ
ム特性の測定には、光スペクトラムアナライザが使用さ
れるのが一般的である。
ールを使用する際には、そのスペクトラム特性を確認す
る必要がある。このようなＬＤモジュールのスペクトラ
ム特性の測定には、光スペクトラムアナライザが使用さ
れるのが一般的である。
【０００５】図２に示された従来の光スペクトラムアナ
ライザを第１従来例として説明する。図中、ＬＤモジュ
ール９の出力側光コネクタ４から出射された測定光１
は、放物面鏡２で反射し平行光線３に変換される。
ライザを第１従来例として説明する。図中、ＬＤモジュ
ール９の出力側光コネクタ４から出射された測定光１
は、放物面鏡２で反射し平行光線３に変換される。
【０００６】平行光線３は、スリット５によって絞ら
れ、透過光線６が分光器７及び受光器８に達する。分光
器７と、受光器８とを組合わせることによって測定光１
の波長強度分布（スペクトラム特性）が測定される。こ
の測定方法によって測定された1.3 μｍファブリペロー
（ＦＰ）型ＬＤモジュールのスペクトラム特性例を図３
(a) に示す。
れ、透過光線６が分光器７及び受光器８に達する。分光
器７と、受光器８とを組合わせることによって測定光１
の波長強度分布（スペクトラム特性）が測定される。こ
の測定方法によって測定された1.3 μｍファブリペロー
（ＦＰ）型ＬＤモジュールのスペクトラム特性例を図３
(a) に示す。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の光スペ
クトラムアナライザで、ＬＤモジュールのスペクトラム
特性を測定する場合、ＬＤモジュールの光出力側のコネ
クタ端面で一部の光が反射してＬＤモジュールへ戻る。
クトラムアナライザで、ＬＤモジュールのスペクトラム
特性を測定する場合、ＬＤモジュールの光出力側のコネ
クタ端面で一部の光が反射してＬＤモジュールへ戻る。
【０００８】反射光がＬＤ素子へ戻ると、ＬＤ素子の発
信光が乱され、正規のスペクトラム特性が得られないと
いう欠点がある。反射戻り光がある場合のスペクトラム
特性例が図３(b) に示されており、波長強度が著しく低
下したＡ部分（所謂ハヌケ部分）が生じている。
信光が乱され、正規のスペクトラム特性が得られないと
いう欠点がある。反射戻り光がある場合のスペクトラム
特性例が図３(b) に示されており、波長強度が著しく低
下したＡ部分（所謂ハヌケ部分）が生じている。
【０００９】上記の欠点を解決するため、第２従来例と
して図５に示す様に、ＬＤモジュール９の出力側コネク
タ４と光スペクトラムアナライザとの間に、片側端面が
斜めに加工された光コネクタ１２を有する光ファイバコ
ード10を接続して測定する方法がある。
して図５に示す様に、ＬＤモジュール９の出力側コネク
タ４と光スペクトラムアナライザとの間に、片側端面が
斜めに加工された光コネクタ１２を有する光ファイバコ
ード10を接続して測定する方法がある。
【００１０】この場合、ＬＤモジュール９の出力側光コ
ネクタ４と、光ファイバコード10の光コネクタ11とは、
光ファイバ同士を直接接続するフィジカルコンタクト
（ＰＣ）加工することによって接続されている。これに
よって、ＬＤモジュールへの反射戻り光を防ぐことがで
きる。
ネクタ４と、光ファイバコード10の光コネクタ11とは、
光ファイバ同士を直接接続するフィジカルコンタクト
（ＰＣ）加工することによって接続されている。これに
よって、ＬＤモジュールへの反射戻り光を防ぐことがで
きる。
【００１１】然しながら、図５に示した測定方法の場
合、光スペクトラムアナライザの入射側光コネクタ12の
端面が斜めに加工されているため、出射光13の方向が光
軸に対して傾き、放物面鏡２を反射した平行光線14は、
スリット５に対して片側に寄る。上記の結果、平行光線
14はスリット５の側面で反射され、その反射光15が分光
器７へ傾いて入射される。
合、光スペクトラムアナライザの入射側光コネクタ12の
端面が斜めに加工されているため、出射光13の方向が光
軸に対して傾き、放物面鏡２を反射した平行光線14は、
スリット５に対して片側に寄る。上記の結果、平行光線
14はスリット５の側面で反射され、その反射光15が分光
器７へ傾いて入射される。
【００１２】傾いて入射した光は、図３(C) に示すよう
に、迷光としてスペクトラム特性の雑音（ノイズ）を増
加させるため、正しい特性が得られないという欠点があ
る。
に、迷光としてスペクトラム特性の雑音（ノイズ）を増
加させるため、正しい特性が得られないという欠点があ
る。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明の、光スペクトラ
ムアナライザの測定光入力部では、ＬＤモジュールの出
射側光コネクタと、光ファイバ内蔵のフェルールとがＰ
Ｃ加工によって直接接続されている。
ムアナライザの測定光入力部では、ＬＤモジュールの出
射側光コネクタと、光ファイバ内蔵のフェルールとがＰ
Ｃ加工によって直接接続されている。
【００１４】この場合、測定光の光軸とフェルールの光
軸は一致しており、且つ、フェルールの光コネクタ側の
端面は凸球面状にＰＣ加工されており、他端面は斜めに
加工されている。
軸は一致しており、且つ、フェルールの光コネクタ側の
端面は凸球面状にＰＣ加工されており、他端面は斜めに
加工されている。
【００１５】斜め加工された内蔵光ファイバの端面から
出射される光線は、スネルの法則によって、内蔵光ファ
イバの光軸線に対し傾斜して出射される。
出射される光線は、スネルの法則によって、内蔵光ファ
イバの光軸線に対し傾斜して出射される。
【００１６】上記の傾斜した方向を基準として、同一の
光軸線上に放物面鏡、スリット、分光器、受光器が配置
されている。
光軸線上に放物面鏡、スリット、分光器、受光器が配置
されている。
【００１７】
【実施例】本発明の一実施例に係る光スペクトラムアナ
ライザを図１を参照して説明する。図中、９は測定する
ＬＤモジュール光源であり、此処では、シングルモード
光ファイバ付き1.3 μｍＦＰ型ＬＤモジュールが使用さ
れている。４は、ＬＤモジュール９の出射光側光コネク
タで、フィジカルコンタクト（ＰＣ）型光コネクタを用
いた。21は、光ファイバ内蔵のフェルールであり、他の
部材は図２で使用されている部材と同様である。したが
って、対応する部材には図２と同様な参照番号が付され
ている。
ライザを図１を参照して説明する。図中、９は測定する
ＬＤモジュール光源であり、此処では、シングルモード
光ファイバ付き1.3 μｍＦＰ型ＬＤモジュールが使用さ
れている。４は、ＬＤモジュール９の出射光側光コネク
タで、フィジカルコンタクト（ＰＣ）型光コネクタを用
いた。21は、光ファイバ内蔵のフェルールであり、他の
部材は図２で使用されている部材と同様である。したが
って、対応する部材には図２と同様な参照番号が付され
ている。
【００１８】次に、本発明の光スペクトラムアナライザ
の測定手順について説明する。ＬＤモジュール９の出力
側光コネクタ４から出射された測定光20は、フェルール
21を通過し、放物面鏡２で反射され、光は平行光線３に
変換される。平行光線３は、スリット５によって絞り込
まれ、透過光６は分光器７に達する。分光器７は、入射
する光の波長によって反射角度が異なる光の特性を利用
して、図２の場合と同様に、光をスペクトルに分ける。
この分光器７を回転させて特定波長の光を受光器８へ送
ることによって、測定光20の波長強度分布（スペクトラ
ム特性）を測定する。
の測定手順について説明する。ＬＤモジュール９の出力
側光コネクタ４から出射された測定光20は、フェルール
21を通過し、放物面鏡２で反射され、光は平行光線３に
変換される。平行光線３は、スリット５によって絞り込
まれ、透過光６は分光器７に達する。分光器７は、入射
する光の波長によって反射角度が異なる光の特性を利用
して、図２の場合と同様に、光をスペクトルに分ける。
この分光器７を回転させて特定波長の光を受光器８へ送
ることによって、測定光20の波長強度分布（スペクトラ
ム特性）を測定する。
【００１９】尚、受光器８には演算処理装置（ＭＰ
Ｕ）、記録装置などが接続され、測定データの処理と表
示及び記録が行なわれるが、これらについては図示を省
略した。
Ｕ）、記録装置などが接続され、測定データの処理と表
示及び記録が行なわれるが、これらについては図示を省
略した。
【００２０】光ファイバ内蔵フェルール21の、コネクタ
４側の一端面は、曲率半径60mmに凸球面状にＰＣ加工さ
れており、他端面は、端面に対し10度傾斜して加工さ
れ、傾斜面が形成されている。
４側の一端面は、曲率半径60mmに凸球面状にＰＣ加工さ
れており、他端面は、端面に対し10度傾斜して加工さ
れ、傾斜面が形成されている。
【００２１】フェルール21に内蔵されている光ファイバ
22として、コア径10μｍのシングルモード光ファイバを
用い、フェルールの長さは10mmとした。
22として、コア径10μｍのシングルモード光ファイバを
用い、フェルールの長さは10mmとした。
【００２２】この構成では、光の入射角と屈折角に関す
るスネルの法則により、内蔵光ファイバ22の傾斜面から
の出射光（測定光）20は傾いて出射される。
るスネルの法則により、内蔵光ファイバ22の傾斜面から
の出射光（測定光）20は傾いて出射される。
【００２３】光ファイバの屈折率は1.46、空気の屈折率
は１.00 であるから、出射光20は内蔵光ファイバの光軸
線に対して4.7度傾いて出射される。
は１.00 であるから、出射光20は内蔵光ファイバの光軸
線に対して4.7度傾いて出射される。
【００２４】この方向を基準として、同一光軸線上に放
物面鏡２、スリット５、分光器７、受光器８が配置され
ている。
物面鏡２、スリット５、分光器７、受光器８が配置され
ている。
【００２５】上記したように、光コネクタ４の光ファイ
バと、フェルール21の内蔵光ファイバ22とを、ＰＣ加工
により直接接続することにより、光スペクトラムアナラ
イザへの入力部が構成されている。このため、屈折率整
合ができており、しかも、内蔵光ファイバ22の他端面は
斜め加工されているため、測定するＬＤモジュール９へ
反射光が戻ることはない。
バと、フェルール21の内蔵光ファイバ22とを、ＰＣ加工
により直接接続することにより、光スペクトラムアナラ
イザへの入力部が構成されている。このため、屈折率整
合ができており、しかも、内蔵光ファイバ22の他端面は
斜め加工されているため、測定するＬＤモジュール９へ
反射光が戻ることはない。
【００２６】また、内蔵光ファイバ22の斜め加工面か
ら、傾いて出射される光の光軸線上に、放物面鏡２、ス
リット５、分光器７、受光器８とか配置されているた
め、迷光が発生しない。
ら、傾いて出射される光の光軸線上に、放物面鏡２、ス
リット５、分光器７、受光器８とか配置されているた
め、迷光が発生しない。
【００２７】
【発明の効果】本発明による光スペクトラムアナライザ
は、測定光入力部において、外側の一端面を凸球面状に
加工し、他端面を斜めに加工した光ファイバ内蔵フェル
ールと、ＬＤモジュールの出射側コネクタとをＰＣ接続
することにより、測定するＬＤモジュールへの反射戻り
光を防ぐことができる。 従って、戻り光によるスペク
トラム特性の乱れが発生せず、正確な特性が測定でき
る。
は、測定光入力部において、外側の一端面を凸球面状に
加工し、他端面を斜めに加工した光ファイバ内蔵フェル
ールと、ＬＤモジュールの出射側コネクタとをＰＣ接続
することにより、測定するＬＤモジュールへの反射戻り
光を防ぐことができる。 従って、戻り光によるスペク
トラム特性の乱れが発生せず、正確な特性が測定でき
る。
【００２８】また、斜め加工された内蔵光ファイバの端
面から、フェルールの光軸に対して傾斜して出射された
測定光の光軸線上に、放物面鏡、スリット、分光器、受
光器が配置されているため、迷光によるノイズが発生せ
ず、正確なスペクトラム特性が測定できる。
面から、フェルールの光軸に対して傾斜して出射された
測定光の光軸線上に、放物面鏡、スリット、分光器、受
光器が配置されているため、迷光によるノイズが発生せ
ず、正確なスペクトラム特性が測定できる。
【図１】本発明による一実施例の光学系の構成図であ
る。
る。
【図２】第１の従来例による光学系の構成図である。
【図３】（ａ）はＬＤモジュールのスペクトラム特性の
例である。 （ｂ）は反射戻り光がある場合の、スベクトラム特性の
例である。 （ｃ）はノイズがある場合の、スペクトラム特性の例で
ある。
例である。 （ｂ）は反射戻り光がある場合の、スベクトラム特性の
例である。 （ｃ）はノイズがある場合の、スペクトラム特性の例で
ある。
【図４】（ａ）はスペクトラム特性における半値幅の説
明である。 （ｂ）はスペクトラム特性における分離の説明である。
明である。 （ｂ）はスペクトラム特性における分離の説明である。
【図５】第２の従来例による光学系の構成図である。
１ 測定光 ２ 放物面鏡 ３ 平行光線 ４ 光コネクタ（出射側） ５ スリット ６ 透過光 ７ 分光器 ８ 受光器 ９ ＬＤモジュール 10 光ファイバコード 11 光コネクタ（出射側） 12 光コネクタ（入射側） 13 出射光（測定光） 14 平行光線 15 反射光 20 出射光（測定光） 21 フェルール 22 内蔵光ファイバ
Claims (2)
- 【請求項１】 入射光ビームを平行光線に変換する手段
と、スリット、分光器、及び受光器とによって構成され
る光スペクトラムアナライザにおいて、測定光源の出射
光側に設けられたフィジカルコンタクト型コネクタ（以
下、ＰＣコネクタと呼ぶ）と、該ＰＣコネクタの光軸線
上に接続された光ファイバ内蔵フェルールとを備え、該
フェルールの一端面は凸球面に加工され、且つ、他端面
は斜め加工されていることを特徴とする光スペクトラム
アナライザ。 - 【請求項２】 前記光ファイバ内蔵フェルールの斜め加
工面から、フェルールの光軸に対し傾いて出射される光
線の光軸上に、前記入射光ビームを平行光線に変換する
手段と、前記スリット、前記分光器、及び前記受光器と
を配置したことを特徴とする請求項１の光スペクトラム
アナライザ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23652191A JPH0572033A (ja) | 1991-09-17 | 1991-09-17 | 光スペクトラムアナライザ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23652191A JPH0572033A (ja) | 1991-09-17 | 1991-09-17 | 光スペクトラムアナライザ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572033A true JPH0572033A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=17001934
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23652191A Pending JPH0572033A (ja) | 1991-09-17 | 1991-09-17 | 光スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572033A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5642090A (en) * | 1993-06-01 | 1997-06-24 | Soc Corporation | Chip fuse |
| GB2404980A (en) * | 2003-08-15 | 2005-02-16 | Photon Inc | Goniospectrophotometer for the simultaneous measurement of the angular spectrum of a source |
-
1991
- 1991-09-17 JP JP23652191A patent/JPH0572033A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5642090A (en) * | 1993-06-01 | 1997-06-24 | Soc Corporation | Chip fuse |
| US5726620A (en) * | 1993-06-01 | 1998-03-10 | Soc Corporation | Chip fuse |
| GB2404980A (en) * | 2003-08-15 | 2005-02-16 | Photon Inc | Goniospectrophotometer for the simultaneous measurement of the angular spectrum of a source |
| US7321423B2 (en) | 2003-08-15 | 2008-01-22 | Photon, Inc. | Real-time goniospectrophotometer |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000809 |