JPH0569642U - マイケルソン干渉計 - Google Patents

マイケルソン干渉計

Info

Publication number
JPH0569642U
JPH0569642U JP1695792U JP1695792U JPH0569642U JP H0569642 U JPH0569642 U JP H0569642U JP 1695792 U JP1695792 U JP 1695792U JP 1695792 U JP1695792 U JP 1695792U JP H0569642 U JPH0569642 U JP H0569642U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
container
transparent
thin film
air bearing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1695792U
Other languages
English (en)
Inventor
茂行 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jasco Corp
Original Assignee
Jasco Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jasco Corp filed Critical Jasco Corp
Priority to JP1695792U priority Critical patent/JPH0569642U/ja
Publication of JPH0569642U publication Critical patent/JPH0569642U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 計測結果の安定性並びに再現性の向上を図る
と共に、それを長期にわたって維持することのできるマ
イケルソン干渉計を提供すること。 【構成】 半透鏡10は、使用する波長に対して透明な
部材10aの一面に薄膜10bを蒸着などにより付着す
ることにより形成され、その透明な部材側所定位置に固
定鏡14を配置すると共に、薄膜側所定位置に移動鏡1
5を配置している。この移動鏡は、エアーベアリング1
6を介して駆動源17に連繋され、前後進移動可能とな
っている。そして、その移動鏡とエアーベアリングとを
密閉された容器18内に収納配置し、他の光学系とが空
間的に分離する。さらに容器の前面所定位置に開口18
aを形成すると共に、その開口を前記透明な部材と同一
材料・形状からなる補償板11を装着する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、マイケルソン干渉計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2は、従来の一般的な走査型のマイケルソン干渉計を示している。同図に示 すように、この干渉計は、まず、使用される波長領域で透明な部材例えばガラス 板1aの片面に、入射光のほぼ50%を透過し、残りを反射する所定の誘電体か らなる薄膜1bを蒸着などにて付着することにより半透鏡1を形成し、その半透 鏡1の薄膜1b側に上記ガラス板1aと同一材質でかつ同一厚さからなるガラス 板2を密着或いは極近接して平行に配置することによりビームスプリッタユニッ トを構成する。そして、一方のガラス板1a側には固定鏡3を配置し、他方のガ ラス板2側には移動鏡4を配置している。具体的には、光軸に対してビームスプ リッタユニットが45度で交叉するように配置された場合、固定鏡3の配置方向 と移動鏡4の配置方向とが直交するようにする。
【0003】 そして、移動鏡4を前後進移動させると、移動鏡4とビームスプリッタユニッ トの間の光学的距離と、固定鏡3とビームスプリッタユニットの間の光学的距離 との間に差が生じるため、それに応じて出射される干渉光の強度も変化する。そ して、上記両距離が等しい時が最大強度となる。
【0004】 さらに、上記移動鏡4を前後進移動させる手段、すなわち走査機構としては、 一定速度で安定的に、しかも再現性良好に移動させる必要から、ボイスコイルモ ータ等の駆動源5の出力軸をエアーベアリング6等を介して移動鏡4の裏面に連 繋するようにしていた。
【0005】 そしてそれら各部品1〜6が図2のように配置されることにより、マイケルソ ン干渉計が構成される。さらに通常は光源8から出射された光をレンズ9等を介 して平行光にした後ビームスプリッタユニットに入射されるようにしている。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上記した従来のマイケルソン干渉計では、以下に示すような問 題を有している。すなわち、エアーベアリング6は、前後端が開口された中空の 固定部6a内に中空の可動部6bがほぼ10μm程度の間隙を介して挿入配置さ れ、その可動部6bが空中に浮上した状態を保たせる。そのために外部からこの 可動部6b内に加圧(2〜3kg/cm2 )された空気或いは窒素ガス等を常時供給 し、その供給されたガスが可動部6bの周壁面に形成された多数の透孔6cを介 して6aと6bの間隙に排出され、静圧軸受を形成させている。従って可動部6 bが非接触状態で浮上し、スラスト方向のスムーズな移動が担保される。しかし 、上述のごとく、エアーベアリング6からは、圧縮ガスが常時外部に排出されて いるため、その排出されたガスが、干渉計の光路内、とくに移動鏡4とビームス プリッタユニットとの間に流れ込み、それが係る場の擾乱を発生させ、光学的不 均一場が形成されてしまう。その結果、計測結果の安定性並びに再現性が低下し てしまう。
【0007】 また、エアーベアリング6の替りに精密直動ベアリングを用い、固定部に可動 部を低摩擦状態で機械的に支持することにより、上記のような排出されるガスに よる擾乱の発生を抑制したものもある。しかし、この精密直動ベアリングの場合 には、固定部と移動部とが直接接触されているため、両者間に埃等の異物が付着 すると、スムーズな移動が図れなくなり、計測結果の安定性並びに再現性が低下 してしまう。
【0008】 本考案は、上記した背景に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、 計測結果の安定性並びに再現性の向上を図ると共に、それを長期にわたって維持 することのできるマイケルソン干渉計を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】 上記した目的を達成するために、本考案では、使用する波長に対して透明な部 材の一面に所定の誘電体の薄膜を形成してなる半透鏡と、この薄膜形成面側に補 償板を対向させてなるビームスプリッタユニット、駆動源と軸受手段により前後 進移動する移動鏡、及び固定鏡により構成されたマイケルソン干渉計において、 少なくとも前記移動鏡と、前記軸受手段を略密閉された容器内に収納配置し、か つ、前記移動鏡と前記半透鏡間の光路と交差する前記容器の壁面を開口すると共 に、その開口部位に、光路の位相差が補正できるように前記補償板を装着した。
【0010】
【作用】
移動鏡並びに軸受け手段が容器内に収納されているため、両者が他の光学系並 びに外部と分離される。よって、光学系は軸受け手段等の作動状態に影響される ことがなく、常に安定した空間内に存在する。すなわち、擾乱により場が乱れる ことはない。また、容器内部も安定空間となり、外部の埃等が容器内に入り込む ことがなく、軸受け手段も外乱の影響を受けること無く長期にわたり安定的に作 動する。
【0011】
【実施例】
以下、本考案に係るマイケルソン干渉計について添付図面を参照にして詳述す る。
【0012】 図1は、本考案の好適な一実施例を示している。同図に示すように、本考案で はまず、使用される波長領域に対して透明な部材(例えばガラス板)10aの一 面に所定の薄膜10bを蒸着,メッキその他の手段で付着させることにより形成 される半透鏡10と、前記透明な部材10aと同一材質でかつ同一形状(特に同 一厚さ)からなる補償板11とを所定距離隔てて平行状態で分離配置している。 そして、これら半透鏡10と補償板11とでビームスプリッタユニットが構成さ れる。
【0013】 そして、半透鏡10は、薄膜10bを裏面側にして、光源12から出射された 光束をレンズ13を介して得られる平行光束の光軸に対して、45度に傾斜状に 配置している。これにより、光源12から出射された光束は、その半透鏡10の 透明な部材10a内に入射され、そこにおいて所定方向に屈折された後裏面側の 薄膜10bに照射され、そのうちの約50%が透過するとともに残りが反射され る。そして、その反射光は、再度透明な部材10a内を屈折しながら進み、前記 光軸に対して進路が90度変換されて出射される。そして、その出射された反射 光の光路上所定位置に固定鏡14が配置されている。また、上記反射光は固定鏡 14で再度反射されて、通ってきた光路を逆方向に進み半透鏡10の透明な部材 10a内を屈折しながら進み、薄膜10bを透過して出射される。
【0014】 一方、半透鏡10を透過した透過光の光束の光路上には、上記補償板11並び に移動鏡15が配置されており、その透過光は、補償板11内を屈折しながら進 み移動鏡15に照射されるようになっている。そして移動鏡15に照射された光 束は、反射されて逆方向に進む。すなわち、補償板11内を屈折しながら逆進し 、薄膜10bにて反射され、その進路が90度変換され、上記固定鏡14で反射 されてきた光束と干渉しあい、干渉光が出射される。
【0015】 すなわち、本例では、光源から出射された光束は、干渉計から出射されるまで の間に透明な部材10a内或いは補償板11内を計3回透過する。これに対して 、上記した従来の干渉計では、計4回透過した後出射される。そして、各部材に おける透過率が90%とすると、本発明の干渉計のほうが透過する回数が1回分 だけ少ないため、エネルギー透過において約10%向上する。
【0016】 一方、上記移動鏡15は、従来と同様に軸受け手段たるエアーベアリング16 (具体的な構成は、図2に示す従来のものと同様であるため、その図示並びに説 明は省略する)を介してボイスコイルモータ等の駆動源17に連繋されて、これ によりスムーズな前後進移動がされる。ここで、本考案では、移動鏡15とエア ーベアリング16とを、略密閉された容器18内に収納配置している。そして、 移動鏡15と半透鏡10間の光束の通路を確保するために、容器18の所定位置 に設けた開口部18a内に、上記補償板11を装着し、閉塞している。これによ り、容器18内を略密閉状態に保ちながら光の行き来を可能としている。すなわ ち、容器18に形成する窓板を補償板11で兼用している。
【0017】 さらに、本例では、エアーベアリング16に連繋された駆動源17は、発熱に よる悪影響を抑制するために容器18の外側に配置するとともに、連結するロッ ド17aの周囲を蛇腹状の筒体19等にて囲繞し、容器18の密封性を保持して いる。また、容器18の所定位置には、エアーベアリング16に加圧(2〜3kg /cm2 )されたガス(例えば窒素ガス)を供給するための導入管20と、エアー ベアリング16から排出されたガスを容器18の外に排出するための排気管21 とが設けられている。
【0018】 次に、上記した実施例におけるエアーベアリング16から排出されるガスの干 渉計(計測)への影響について説明する。エアーベアリング16は、略密閉され た容器18内に収納されており、しかも、エアーベアリング16へのガスの供給 は、上記したごとく導入管20を介して行われ、また、エアーベアリング16か ら排出されたガスは、排気管21を介して容器18の外側に排出される。したが って、係るガスが補償板11と半透鏡10との間の空間等の計測空間側にまで行 き渡り、その場の擾乱を生じさせることはない。
【0019】 また、容器18内は、エアーベアリング16から排出された加圧状態のガスで 充満されており、しかも、そのガスは常時一定量が排出され続けている。さらに 容器18の内部空間の容積は、エアーベアリング16と移動鏡15を収納するだ けであるため、比較的小さい。よって、内部空間は、外気圧に比し高圧の状態で 安定化しており、エアーベアリング16から排出されるガスによって擾乱を生じ ることがなく、容器18内に位置する移動鏡15と補償板11との間の空間にお ける上記ガスの影響もない。
【0020】 すなわち、本例では、エアーベアリング16により安定状態でスムーズに移動 鏡15を前後進移動させることができると共に、従来計測結果を低下させていた ガスによる場の擾乱もなく、測定精度の向上が図られる。
【0021】 なお、上記した実施例では軸受け手段としてエアーベアリング16を用いた例 について説明したが、本考案ではこれに限ること無く、従来例で説明した精密直 動ベアリングを用いることもできる。この場合には、加圧したガスの供給が不要 であるため、上記した容器に連結された導入管や排気管を設けること無く、当該 部位を閉塞することにより、容器の密封度を向上することである。かかる構成に することにより、外部の埃等が容器内に入り込むことがないため、精密直動ベア リングに埃等の異物が付着することがなく、長期にわたって、安定駆動をするこ とができる。
【0022】 なおまた、上記した実施例では、駆動源としてボイスコイルモータを使用した 例について説明したが、本考案はこれに限ること無く、例えば圧電アクチュエー タや、その他種々の機構のものを用いることができ、さらにその駆動源の動力を 移動鏡に伝える軸受け手段も上記したエアーベアリング並びに精密直動ベアリン グに限ること無く種々のものを用いることができる。さらにまた、各光学部品の 材質(形状),並びに配置構成等も、従来から用いられている種々のものを適用 することができる。すなわち、本考案では、要は半透鏡と補償板とを分離配置す ると共に、移動鏡とその移動鏡を動かす軸受け手段とが容器内に収納されて他の 光学系と分離され、しかも、その容器に形成された開口部に、上記補償板が装着 されるようになっていれば良いのである。 さらにまた、上記した各実施例では、いずれも駆動源を容器の外に配置する例 について説明したが、本考案では容器内に収納しても構わない。
【0023】
【考案の効果】
以上のように、本考案に係るマイケルソン干渉計では、移動鏡並びに軸受け手 段が容器内に収納されたため、両者と他の光学系とが空間的に分離される。その 結果、光学系は軸受け手段等の作動状態に影響されることがなく、常に安定した 空間内に存在し、擾乱等により乱れることがなく、測定精度(安定性や再現性を 含む)が向上する。しかも、容器内部も外部と遮断されて比較的小さな空間で安 定状態となり、軸受け手段も外部の埃などによる外乱の影響を受けること無く長 期にわたり安定的に作動させることができ、上記効果による測定精度の向上を長 期間維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るマイケルソン干渉計の好適な一実
施例を示す構成図である。
【図2】従来のマイケルソン干渉計の一例を示す構成図
である。
【符号の説明】
10 半透鏡 10a 透明な部材 10b 薄 膜 11 補償板 14 固定鏡 15 移動鏡 16 エアーベアリング(軸受け手段) 17 駆動源 18 容 器

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 使用する波長に対して透明な部材の一面
    に所定の誘電体の薄膜を形成してなる半透鏡と、この薄
    膜形成面側に補償板を対向させてなるビームスプリッタ
    ユニット、駆動源と軸受手段により前後進移動する移動
    鏡、及び固定鏡により構成されたマイケルソン干渉計に
    おいて、 少なくとも前記移動鏡と、前記軸受手段を略密閉された
    容器内に収納配置し、かつ、前記移動鏡と前記半透鏡間
    の光路と交差する前記容器の壁面を開口すると共に、そ
    の開口部位に、光路の位相差が補正できるように前記補
    償板を装着したマイケルソン干渉計。
JP1695792U 1992-02-24 1992-02-24 マイケルソン干渉計 Pending JPH0569642U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1695792U JPH0569642U (ja) 1992-02-24 1992-02-24 マイケルソン干渉計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1695792U JPH0569642U (ja) 1992-02-24 1992-02-24 マイケルソン干渉計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0569642U true JPH0569642U (ja) 1993-09-21

Family

ID=11930598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1695792U Pending JPH0569642U (ja) 1992-02-24 1992-02-24 マイケルソン干渉計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0569642U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011518312A (ja) * 2007-12-14 2011-06-23 インテクプラス カンパニー、リミテッド 立体形状測定装置
JP2012107962A (ja) * 2010-11-16 2012-06-07 Konica Minolta Holdings Inc 干渉計およびそれを備えた分光器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6222083A (ja) * 1985-07-22 1987-01-30 Nec Corp Icテスタ用電源

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6222083A (ja) * 1985-07-22 1987-01-30 Nec Corp Icテスタ用電源

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011518312A (ja) * 2007-12-14 2011-06-23 インテクプラス カンパニー、リミテッド 立体形状測定装置
JP2012107962A (ja) * 2010-11-16 2012-06-07 Konica Minolta Holdings Inc 干渉計およびそれを備えた分光器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4383762A (en) Two-beam interferometer for Fourier spectroscopy with rigid pendulum
Connes et al. Astronomical fourier spectrometer
US20060238769A1 (en) Tilt compensated interferometers
US4798462A (en) Auto-boresight technique for self-aligning phase conjugate laser
CN104713649B (zh) 一种傅里叶变换光谱仪用干涉仪
US9557221B1 (en) Interferometer for Fourier transform infrared spectrometry
US20070146724A1 (en) Vibration-resistant interferometer apparatus
JPS5815729B2 (ja) タジユウカンシヨウケイ
JPH0569642U (ja) マイケルソン干渉計
US6243191B1 (en) Optical path length modulator
JPS6086520A (ja) ビ−ムスプリツタ用補償板調整ユニツトおよび干渉計
US5457529A (en) Rotating mirror interferometer
US6559951B2 (en) Air refractometer
JPH03179420A (ja) 光学装置
US5438412A (en) Phase conjugate interferometer for testing paraboloidal mirror surfaces
JP4081317B2 (ja) 波長較正用干渉測定装置
JP3639655B2 (ja) 差動光路干渉計及びこの差動光路干渉計を用いたフーリエ変換分光器
RU175219U1 (ru) Лазерный генератор изображений для работы в полярной системе координат
US5459572A (en) Mirror arrangement in a focusing interferometer
US5457531A (en) Movable mirror mounting mechanism in a scanning interferometer
JPS631221Y2 (ja)
US3820902A (en) Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error
Vagin et al. Parallelogram interferometer for Fourier spectrometers
JP3484146B2 (ja) 干渉測長機
CN116719095A (zh) 一种适用于动态测量的紧凑型冷原子绝对重力仪

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19981027