JPH0558868B2 - - Google Patents

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JPH0558868B2
JPH0558868B2 JP5608286A JP5608286A JPH0558868B2 JP H0558868 B2 JPH0558868 B2 JP H0558868B2 JP 5608286 A JP5608286 A JP 5608286A JP 5608286 A JP5608286 A JP 5608286A JP H0558868 B2 JPH0558868 B2 JP H0558868B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
disk substrate
polishing
tape
abrasive tape
pressure head
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP5608286A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS62213957A (en
Inventor
Yoshio Morita
Yasunori Fukuyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication of JPS62213957A publication Critical patent/JPS62213957A/en
Publication of JPH0558868B2 publication Critical patent/JPH0558868B2/ja
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、磁気デイスク、光デイスク等のデイ
スク基板の表面を平滑に仕上げるために用いられ
るデイスク基板の研摩装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a disk substrate polishing apparatus used for smoothing the surface of a disk substrate such as a magnetic disk or an optical disk.

[従来の技術] デイスク基板として、例えば磁気デイスクは、
アルミニウム等からなるデイスク基板の表面に蒸
着等の手段で磁性体の被膜を形成することによつ
て製造されるが、この磁性体被膜を均一に形成す
るために、該被膜の形成前にデイスク基板の表面
を極めて平滑となるように研摩仕上げがなされ
る。また、この磁性体被膜を形成した後も該磁性
体被膜の膜厚を一定にするために、その研摩が行
われるが、かかる磁性体被膜の形成前または形成
後におけるデイスク基板の研摩を行うために、デ
イスク基板の研摩装置が用いられる。
[Prior Art] For example, a magnetic disk is used as a disk substrate.
It is manufactured by forming a magnetic coating on the surface of a disk substrate made of aluminum or the like by means such as vapor deposition.In order to uniformly form this magnetic coating, the disk substrate is coated before forming the coating. The surface is polished to an extremely smooth surface. Further, even after the magnetic coating is formed, polishing is performed to keep the thickness of the magnetic coating constant; however, polishing the disk substrate before or after the formation of the magnetic coating A disk substrate polishing device is used for this purpose.

このデイスク基板の研摩装置としては、第5図
に示したものが従来から用いられている。図中に
おいて、1はデイスク基板を示し、該デイスク基
板1はその内周縁をチヤツク部材2に支持させる
ようになつており、該チヤツク部材2はモータ等
の駆動手段3に連結されて、該駆動手段3によつ
てチヤツク部材2を回転駆動することによりデイ
スク基板1が回転せしめられるようになつてい
る。そして、デイスク基板1の表面を研摩するた
めに、ラツピングテープ等からなる研摩テープ4
が用いられ、該研摩テープ4を加圧ヘツド5によ
つてデイスク基板1の表面に押し付けるようにな
し、該研摩テープ4とそれをデイスク基板1に押
し付ける加圧ヘツド5とを往復動部材6によつて
デイスク基板1の半径方向に往復動可能に支持さ
せて設けるように構成されている。そして、この
研摩テープ4によるデイスク基板1の研摩を効率
的に行うために、加圧ヘツド5のデイスク基板1
への押圧面を所定の面積を有する長方形または正
方形の形状となるように形成している。
As a polishing apparatus for this disk substrate, the one shown in FIG. 5 has conventionally been used. In the figure, reference numeral 1 denotes a disk substrate, and the inner peripheral edge of the disk substrate 1 is supported by a chuck member 2. The chuck member 2 is connected to a driving means 3 such as a motor to drive the disk. By rotationally driving the chuck member 2 by means 3, the disk substrate 1 is rotated. Then, in order to polish the surface of the disk substrate 1, a polishing tape 4 made of wrapping tape or the like is used.
The abrasive tape 4 is pressed against the surface of the disk substrate 1 by a pressure head 5, and the abrasive tape 4 and the pressure head 5 that presses it against the disk substrate 1 are connected to a reciprocating member 6. Therefore, it is configured to be supported so as to be able to reciprocate in the radial direction of the disk substrate 1. In order to efficiently polish the disk substrate 1 with the polishing tape 4, the disk substrate 1 of the pressure head 5 is
The pressing surface is formed into a rectangular or square shape having a predetermined area.

前述のように構成される研摩装置を使用してデ
イスク基板1の研摩を行うには、加圧ヘツド5に
よつて研摩テープ4をデイスク基板1の表面に押
し当てた状態で、該加圧ヘツド5を往復動部材6
によりデイスク基板1の半径方向に往復動させる
と共に、研摩テープ4を加圧ヘツド5の移動方向
と直交する方向に走行させ、またデイスク基板1
をその駆動手段3によつて回転駆動することによ
つてデイスク基板1の表面の研摩を行うようにし
ている。
To polish the disk substrate 1 using the polishing device configured as described above, the polishing tape 4 is pressed against the surface of the disk substrate 1 by the pressure head 5, and then the pressure head 5 is pressed against the surface of the disk substrate 1. 5 as reciprocating member 6
The abrasive tape 4 is caused to reciprocate in the radial direction of the disk substrate 1, and the abrasive tape 4 is made to run in a direction perpendicular to the moving direction of the pressure head 5.
The surface of the disk substrate 1 is polished by rotating it by the driving means 3.

[発明が解決しようとする問題点] ところで、研摩テープによるデイスク基板の表
面研摩を効率的に行うためには、該研摩テープを
デイスク基板に面接触させる必要があり、このた
めに、前述した従来技術の研摩装置にあつては、
その加圧ヘツド5における研摩テープ4への押圧
部を長方形または正方形の平面形状となるように
形成している。従つて、この加圧ヘツド5の押圧
部はデイスク基板1の半径方向において一定の長
さを以つて当接することになるが、該押圧部にお
けるデイスク基板1の内周側に位置する側縁部と
外周側に位置する側縁部との間に周速の差が生
じ、この周速の差によりデイスク基板1の半径方
向において単位面積当りの研摩量が僅かに異なる
ことになり、このためにデイスク基板1の表面研
摩に微小ではあるが、研摩むらが発生する欠点が
あつた。特に、近年においては、記憶容量の増
大、アクセスタイムの高速化等の要請から、デイ
スク基板1に形成される磁性体被膜は増々薄膜化
されるようになつており、このような薄膜化に対
処するためには、前述したような微小な研摩むら
をも排除する必要がある。
[Problems to be Solved by the Invention] Incidentally, in order to efficiently polish the surface of a disk substrate with an abrasive tape, it is necessary to bring the abrasive tape into surface contact with the disk substrate. Regarding technical polishing equipment,
A portion of the pressure head 5 that presses the abrasive tape 4 is formed to have a rectangular or square planar shape. Therefore, the pressing portion of the pressing head 5 comes into contact with the disk substrate 1 over a certain length in the radial direction, and the side edge portion of the pressing portion located on the inner peripheral side of the disk substrate 1 A difference in circumferential speed occurs between the disk substrate 1 and the side edge located on the outer circumferential side, and this difference in circumferential speed causes a slight difference in the amount of polishing per unit area in the radial direction of the disk substrate 1. The surface polishing of the disk substrate 1 had a drawback in that polishing unevenness occurred, although it was minute. In particular, in recent years, the magnetic coating formed on the disk substrate 1 has become thinner and thinner due to demands for increased storage capacity and faster access times. In order to do this, it is necessary to eliminate even the minute polishing unevenness mentioned above.

また、加圧ヘツド5の移動方向と研摩テープ4
の走行方向とは相互に直交しているために、加圧
ヘツド5の押圧部を研摩テープ4の幅方向に均一
な長さを有する平面形状となした従来技術のもの
にあつては、研摩テープ4が加圧ヘツド5に対し
て平行にずれるおそれがあり、このようなずれが
生じると、加圧ヘツド5の一部が研摩テープ4か
ら外れて研摩むらの発生を助長するだけでなく、
甚だしい場合には研摩テープ4が加圧ヘツド5か
ら逸脱してしまい、該研磨テープ4によるデイス
ク基板1の研摩を行うことができなくなる不都合
があつた。
Also, the moving direction of the pressure head 5 and the abrasive tape 4
Since the running direction of the abrasive tape 4 is perpendicular to the running direction of the abrasive tape 4, the pressing part of the pressure head 5 has a planar shape having a uniform length in the width direction of the abrasive tape 4. There is a risk that the tape 4 may shift parallel to the pressure head 5. If such a shift occurs, a portion of the pressure head 5 may come off from the abrasive tape 4, which not only promotes uneven polishing, but also
In extreme cases, the polishing tape 4 may come off the pressure head 5, making it impossible to polish the disk substrate 1 with the polishing tape 4.

本発明は叙上の点に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、デイスク基板の半径方向
における周速の差に基づく研摩むらの発生を防止
すると共に、研摩テープを加圧ヘツドによつて安
定した状態にデイスク基板に押し当てるようにな
し、もつてデイスク基板を円滑でしかも高精度に
研摩仕上げを行うことができるようにしたデイス
ク基板の研摩装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above points, and its purpose is to prevent the occurrence of uneven polishing due to the difference in circumferential speed in the radial direction of a disk substrate, and to apply an abrasive tape to a pressure head. To provide a polishing device for a disk substrate, which can press the disk substrate in a stable state and polish the disk substrate smoothly and with high precision.

[問題点を解決するための手段] 前述の目的を達成するために、本発明に係るデ
イスク基板の研摩装置は、加圧ヘツドのテープ押
圧面を略直角三角形の形状となし、この三角形の
相互に直角なす2辺のうちの1辺が研摩テープの
走行方向とほぼ平行であつて、かつデイスク基板
の外周側に位置し、また他の1辺は該研摩テープ
の走行方向の後方側で、この走行方向とほぼ直交
する方向に位置するように構成したことをその特
徴とするものである。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above-mentioned object, the disk substrate polishing device according to the present invention has a tape pressing surface of the pressure head in the shape of a substantially right triangle, and the mutual contact between the triangles is One side of the two sides perpendicular to is substantially parallel to the running direction of the abrasive tape and located on the outer peripheral side of the disk substrate, and the other side is on the rear side in the running direction of the abrasive tape, It is characterized by being configured to be located in a direction substantially perpendicular to the running direction.

[作用] 本発明は前述のように構成されるもので、この
研摩装置を使用してデイスク基板の研摩を行うに
は、デイスク基板を適宜の回転駆動手段に支持さ
せた状態に設置する。そして、このデイスク基板
の一側または両側の表面に研摩テープを供給し、
該研摩テープを加圧部材の加圧ヘツドの押圧面に
よつてデイスク基板の表面に押し付けるようにす
る。この状態で、デイスク基板を回転させると共
に、研摩テープ及び加圧部材を往復動部材によつ
て該デイスク基板の半径方向に往復動させ、さら
に研摩テープを前記加圧部材の移動方向と直交す
る方向に走行させることにより、デイスク基板の
表面の研摩を行うことができるようになる。
[Operation] The present invention is constructed as described above, and in order to polish a disk substrate using this polishing apparatus, the disk substrate is placed in a state where it is supported by an appropriate rotational drive means. Then, supply abrasive tape to the surface of one or both sides of this disk substrate,
The abrasive tape is pressed against the surface of the disk substrate by the pressing surface of the pressing head of the pressing member. In this state, the disk substrate is rotated, the abrasive tape and the pressure member are reciprocated in the radial direction of the disk substrate by the reciprocating member, and the abrasive tape is moved in a direction perpendicular to the moving direction of the pressure member. The surface of the disk substrate can be polished by running the disk substrate.

而して、加圧ヘツドをデイスク基板に押し付け
る押圧面は、該デイスク基板の半径方向内側にお
いて狭くなる略直角三角形状となつているので、
デイスク基板の周速の早い外周側部分の接触面積
が大きく、また周速の遅い内周側部分は小さな接
触面積をもつて接触するようになり、このために
単位面積当りの研摩量が均一となり、デイスク基
板の回転周速の差に基づく研摩むらの発生が防止
される。
Since the pressing surface for pressing the pressure head against the disk substrate has a substantially right triangular shape that becomes narrower on the inside in the radial direction of the disk substrate,
The contact area is large on the outer circumferential side of the disk substrate where the circumferential speed is fast, and the contact area is small on the inner circumferential side where the circumferential speed is slow, so that the amount of polishing per unit area is uniform. , the occurrence of polishing unevenness due to differences in the rotational peripheral speeds of the disk substrates is prevented.

また、前述した如く、加圧ヘツドの押圧面はデ
イスク基板の半径方向内側に向けて狭くなるだけ
でなく、研摩テープの走行方向前方に向けても狭
くなるような形状となつているので、研摩テープ
と加圧ヘツドとの間における摩擦力及び摩擦抵抗
によつて該研摩テープがデイスク基板の半径方向
に平行してずれたり、著しく曲がつたりして加圧
ヘツドの押圧面の一部または全部が研摩テープか
ら外れるような不都合がなく、研摩テープは安定
した状態で加圧ヘツドの押圧面と接触した状態を
保持し、研摩むらの発生や研摩不能となる自体の
発生を確実に防止することができるようになる。
Furthermore, as mentioned above, the pressing surface of the pressure head is shaped not only to become narrower toward the inside in the radial direction of the disk substrate, but also to become narrower toward the front in the running direction of the abrasive tape. Due to the frictional force and frictional resistance between the tape and the pressure head, the abrasive tape may be displaced in parallel to the radial direction of the disk substrate, or may be significantly bent, resulting in damage to a part of the pressing surface of the pressure head or There is no inconvenience that the entire polishing tape comes off, and the polishing tape remains in stable contact with the pressing surface of the pressure head, reliably preventing the occurrence of uneven polishing or the occurrence of polishing failure itself. You will be able to do this.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に
説明する。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail based on the drawings.

まず、第1図及び第2図において、10はデイ
スク基板を示し、該デイスク基板10はアルミニ
ウム等の部材を円環状に形成してなるもので、そ
の表裏の各面には磁性体の被膜が形成されるよう
になつている。そして、研摩装置を使用して、こ
のデイスク基板10の表面に磁性体被膜の形成前
における研摩仕上げが行われるようになつてい
る。この研摩装置としては、該デイスク基板10
の内周縁部を支持するチヤツク部材11を有し、
該チヤツク部材11は回転駆動手段としてのモー
タ12の出力軸12aに取付けられて、該モータ
12を回転駆動することによつて、デイスク基板
10を回転させることができるようになつてい
る。
First, in FIGS. 1 and 2, reference numeral 10 indicates a disk substrate, and the disk substrate 10 is made of a member such as aluminum formed into an annular shape, and each of its front and back surfaces is coated with a magnetic material. It is starting to form. A polishing device is used to finish polishing the surface of the disk substrate 10 before forming the magnetic coating. As this polishing device, the disk substrate 10
It has a chuck member 11 that supports the inner peripheral edge of the
The chuck member 11 is attached to an output shaft 12a of a motor 12 serving as rotational driving means, and by driving the motor 12 to rotate, the disk substrate 10 can be rotated.

次に、13はラツピングテープ等からなる研摩
テープ、14は加圧部材をそれぞれ示し、該加圧
部材14は研摩テープ13と当接して該研摩テー
プ13をデイスク基板10の表面に押し付ける押
圧面15aを備えた加圧ヘツド15と、該加圧ヘ
ツド15のデイスク基板10に対する摺動トルク
を生じさせる平行板ばね16と、支持ブロツク1
7とからなり、該支持ブロツク17はボールねじ
装置等の往復動部材18に取付けられて、該往復
動部材18を駆動することによつて、加圧部材1
4はデイスク基板10の半径方向に往復動せしめ
られるようになつている。また、研摩テープ13
はその送り出しリール19から供給されて、加圧
部材14によりデイスク基板10の表面に押し当
てられて、その研摩を行なつた後には巻取りリー
ル20に巻取られるようになつており、該研摩テ
ープ13はテープ送りローラ21によつて前記加
圧部材14の移動方向と直交する方向に走行せし
められるようになつている。
Next, reference numeral 13 indicates an abrasive tape made of wrapping tape or the like, and 14 indicates a pressure member. 15a, a parallel leaf spring 16 that generates a sliding torque of the pressure head 15 with respect to the disk substrate 10, and a support block 1.
7, the support block 17 is attached to a reciprocating member 18 such as a ball screw device, and by driving the reciprocating member 18, the pressurizing member 1
4 is adapted to be reciprocated in the radial direction of the disk substrate 10. In addition, the abrasive tape 13
is supplied from the feed reel 19, pressed against the surface of the disk substrate 10 by the pressure member 14, and after polishing, is wound onto the take-up reel 20, and the polishing The tape 13 is made to run in a direction perpendicular to the moving direction of the pressure member 14 by a tape feed roller 21.

前述の加圧ヘツド15における押圧面15a
は、第3図に示したように、それによつて研摩テ
ープ13をデイスク基板10の表面に押し当てた
ときに、該研摩テープ13のデイスク基板10の
外周側に位置する側縁部に沿つた辺Bと、研摩テ
ープ13の走行方向後方において該研摩テープ1
3の幅方向に伸びる辺Aと、該研磨テープ13の
走行方向に向けてデイスク基板10の内周側から
外周側に向かつて研摩テープ13を斜めに横切る
辺Cとを有す略直角三角形状となつている。
Pressing surface 15a in the aforementioned pressing head 15
As illustrated in FIG. Side B and the abrasive tape 1 at the rear in the running direction of the abrasive tape 13
3, and a side C that diagonally crosses the abrasive tape 13 from the inner circumferential side to the outer circumferential side of the disk substrate 10 in the running direction of the abrasive tape 13. It is becoming.

本実施例は前述のように構成されるもので、こ
の研摩装置を使用してデイスク基板10の研摩を
行うには、該デイスク基板10をチヤツク部材1
1に嵌合することによつて、その内周縁部を支持
させた状態に設置する。そして、このデイスク基
板10の表面に研摩テープ13を送り込み、該研
摩テープ13を加圧部材14の加圧ヘツド15に
よつてデイスク基板10の表面に押し付けるよう
になし、この状態で、モータ12を作動させるこ
とによつてデイスク基板10を回転させる。これ
と同時に、往復動部材18を作動させて、加圧部
材14をデイスク基板10の半径方向に往復動さ
せると共に、テープ送りローラ21によつて研摩
テープ13をその送り出しリール14側から巻取
りリール15側に向けて、前述の加圧部材の移動
方向と直交する方向に走行させるようにすること
により、該研摩テープ13でデイスク基板10の
表面に対する研摩を行うことができるようにな
る。
This embodiment is constructed as described above, and in order to polish the disk substrate 10 using this polishing device, the disk substrate 10 is first placed on the chuck member 1.
1, the inner peripheral edge is supported. Then, the abrasive tape 13 is fed onto the surface of the disk substrate 10, and the abrasive tape 13 is pressed against the surface of the disk substrate 10 by the pressure head 15 of the pressure member 14. In this state, the motor 12 is turned on. By operating the disk substrate 10, the disk substrate 10 is rotated. At the same time, the reciprocating member 18 is operated to reciprocate the pressure member 14 in the radial direction of the disk substrate 10, and the tape feed roller 21 moves the abrasive tape 13 from the feed reel 14 side to the take-up reel. By running the polishing tape 13 in a direction perpendicular to the moving direction of the pressure member 15, the surface of the disk substrate 10 can be polished with the polishing tape 13.

ここで、加圧ヘツド15をデイスク基板10に
押し付ける押圧面15aは、該デイスク基板10
の半径方向内側において狭くなる略三角形状とな
つているので、それをデイスク基板10に押し当
てたときに、押圧面15aは該デイスク基板10
の外周側が最も接触面積が大きく、内周側に向か
つて接触面積が小さくなるような形状となつてい
る。従つて、デイスク基板10における周速の早
い外周側部分の接触面積が大きく、周速の遅い内
周側部分の接触面積は小さくなつており、このた
めにデイスク基板10の単位面積当りの研摩量を
その半径方向において均一にすることができるよ
うになり、デイスク基板10の半径方向における
回転周速の差に基づく研摩むらの発生を防止する
ことができるようになる。
Here, the pressing surface 15a that presses the pressure head 15 against the disk substrate 10 is
Since it has a substantially triangular shape that becomes narrower on the inside in the radial direction, when it is pressed against the disk substrate 10, the pressing surface 15a is pressed against the disk substrate 10.
The contact area is largest on the outer circumference side, and becomes smaller toward the inner circumference side. Therefore, the contact area on the outer peripheral side of the disk substrate 10 where the circumferential speed is high is large, and the contact area on the inner peripheral side where the peripheral speed is slow is small, and for this reason, the amount of polishing per unit area of the disk substrate 10 is reduced. It becomes possible to make the polishing uniform in the radial direction, and it becomes possible to prevent the occurrence of polishing unevenness due to a difference in the rotational circumferential speed of the disk substrate 10 in the radial direction.

また、加圧ヘツド15の押圧面15aは、前述
したように、デイスク基板10の半径方向内側に
向けて狭くなるだけでなく、研摩テープ10の走
行方向前方に向けても狭くなるような形状となつ
ているので、研摩テープ13と押圧面15aとの
間の摩擦力及び摩擦抵抗が位置によつて異なるこ
とになる。而して、第4図に研摩テープ13によ
るデイスク基板10の研摩加工を行う際の作動状
態を示す。同図において、摩擦テープ13の走行
方向を矢印Fで示し、デイスク基板10の回転方
向を矢印Rで示す。また、デイスク基板10の回
転中心は同図における紙面の左側に位置するもの
とする。従つて、加圧ヘツド15の押圧面15a
を構成する3辺のうち、相互に直交する2辺A、
Bのうち、辺Bは研摩テープ13におけるデイス
ク基板10の外周側の側部に沿うようにこの研摩
テープ13の走行方向とほぼ平行に配置され、ま
た辺Aは研摩テープ10の走行方向後方側におい
て、幅方向、即ち走行方向とほぼ直交する方向に
向くように位置している。以上のようにして研摩
テープ13を走行させると、その幅方向の面積差
に基づく摩擦抵抗の違いによつて該研摩テープ1
3は第4図に矢示Xで示した如く、その走行方向
における前方側が辺Aと辺Bとで形成する頂点T
を中心としてデイスク基板10の外周方向に回動
するように振られようとする。一方、加圧部材1
4が往復動する際に、押圧面15aの研摩テープ
13の長さ方向における接触面積に差異があるた
めに、該研摩テープ13は頂点Tを中心として第
4図中に矢示Y方向(加圧部材14が内周側から
外周側に向けて移動する場合)、または矢示Z方
向(加圧部材14が外周側から内周側に向けて移
動する場合)に回動するようにずれようとする。
従つて、加圧部材14が外周側に向けて移動する
ときには、X方向への振れとYへのずれが相互に
打消し合つて、研摩テープ13は安定した状態で
加圧部材14の移動方向と直交する方向に確実に
走行せしめられることになる。また、加圧部材1
4が内周側に向けて移動するときには、研摩テー
プ13の振れの方向Xとずれの方向Zとが一致す
るために、該研磨テープ13はその走行方向前方
側が、第4図に一転鎖線で示したように、外周側
に向けて若干振れることがある。しかしながら、
研摩テープ13がこの方向に振れても、そのデイ
スク基板10の内周側の側縁部が押圧面15aに
おける辺Cより外周側に変位する程度に極端にな
らない限り(研摩テープ13はその前後位置にお
いてガイドローラに支持されている等の関係か
ら、かかる変位は起ることはない。)、押圧面15
aはその全体が研摩テープ13と接触した状態を
保持するために、その研摩作業に支障を来たすこ
とはない。
Further, as described above, the pressing surface 15a of the pressing head 15 has a shape that not only becomes narrower toward the inside in the radial direction of the disk substrate 10, but also narrows toward the front in the running direction of the abrasive tape 10. Therefore, the frictional force and frictional resistance between the abrasive tape 13 and the pressing surface 15a differ depending on the position. FIG. 4 shows the operating state when polishing the disk substrate 10 using the polishing tape 13. In the figure, the running direction of the friction tape 13 is indicated by an arrow F, and the rotating direction of the disk substrate 10 is indicated by an arrow R. It is also assumed that the center of rotation of the disk substrate 10 is located on the left side of the paper in the figure. Therefore, the pressing surface 15a of the pressing head 15
Among the three sides composing, two mutually orthogonal sides A,
Of B, the side B is arranged almost parallel to the running direction of the abrasive tape 13 so as to follow the side of the abrasive tape 13 on the outer peripheral side of the disk substrate 10, and the side A is arranged on the rear side in the running direction of the abrasive tape 10. It is located so as to face in the width direction, that is, in a direction substantially perpendicular to the traveling direction. When the abrasive tape 13 is run as described above, the abrasive tape 1
3 is a vertex T formed by side A and side B on the front side in the running direction, as shown by arrow X in Fig. 4.
The disk substrate 10 is about to be swung so as to rotate in the outer circumferential direction about the center. On the other hand, pressure member 1
4 reciprocates, since there is a difference in the contact area of the pressing surface 15a in the length direction of the abrasive tape 13, the abrasive tape 13 moves in the direction of arrow Y in FIG. (when the pressure member 14 moves from the inner circumference side toward the outer circumference side) or in the direction of arrow Z (when the pressure member 14 moves from the outer circumference side toward the inner circumference side) shall be.
Therefore, when the pressure member 14 moves toward the outer circumference, the deflection in the X direction and the shift in the Y direction cancel each other out, and the abrasive tape 13 remains stable in the direction of movement of the pressure member 14. This will ensure that the vehicle will run in a direction perpendicular to the . In addition, the pressure member 1
When the abrasive tape 13 moves toward the inner circumference, the deflection direction X and the deviation direction Z of the abrasive tape 13 coincide, so that the front side of the abrasive tape 13 in its traveling direction is indicated by the dashed line in FIG. As shown, it may swing slightly toward the outer circumference. however,
Even if the abrasive tape 13 swings in this direction, as long as the inner side edge of the disk substrate 10 is not so extreme as to be displaced from the side C of the pressing surface 15a toward the outer periphery (the abrasive tape 13 is ), the pressing surface 15 is supported by guide rollers, etc., so such displacement does not occur.
Since the entire portion of a is kept in contact with the polishing tape 13, it does not interfere with the polishing operation.

前述したように、研摩テープ13を加圧ヘツド
15の往復動方向と直交する方向に走行させて
も、該加圧ヘツド15における押圧面15aは研
摩テープ13からその一部分または全部が外れた
りすることがなくなるため、円滑かつ確実にデイ
スク基板10の表面を極めて精密に研摩仕上げを
行うことができるようになる。
As described above, even if the abrasive tape 13 is run in a direction perpendicular to the reciprocating direction of the pressure head 15, a portion or all of the pressing surface 15a of the pressure head 15 may come off from the abrasive tape 13. Therefore, it becomes possible to polish the surface of the disk substrate 10 smoothly and reliably with extremely high precision.

なお、前述の各実施例においては、磁性体被膜
を形成する前のデイスク基板を研摩するための装
置として説明したが、この磁性体被膜形成後にお
いて、その膜厚を一定にするための研磨を行うた
めの装置としても用いることができ、また光デイ
スク等他のデイスク部材の研摩にも使用すること
ができるのはいうまでもない。さらに、デイスク
基板の片面を研摩するように構成したものを示し
たが、該デイスク基板の両面に研摩装置を設ける
ようにすれば、両面同時研摩を行うことができる
ようになる。さらにまた、加圧ヘツドにおける押
圧面の斜辺は必ずしも直線で形成する必要はな
く、所定の曲率を持つた円弧状等の曲線で形成し
てもよい。
In each of the above-mentioned embodiments, the explanation was given as an apparatus for polishing the disk substrate before forming the magnetic coating, but after the magnetic coating is formed, polishing is performed to make the film thickness constant. Needless to say, it can also be used as a polishing device for polishing other disk members such as optical disks. Further, although a configuration has been shown in which one side of the disk substrate is polished, if polishing devices are provided on both sides of the disk substrate, both sides can be polished simultaneously. Furthermore, the oblique side of the pressing surface of the pressing head does not necessarily have to be formed in a straight line, but may be formed in a curved line having a predetermined curvature, such as an arcuate shape.

[発明の効果] 以上詳述した如く、本発明に係るデイスク基板
の研摩装置は、研摩テープをデイスク基板に押し
付ける加圧ヘツドの押圧面をデイスク基板の半径
方向内側に向けて狭くなると共に、研摩テープの
走行方向前方に向けても狭くなるような三角形状
の平面状に形成したから、デイスク基板の回転時
における半径方向の周速の差に基づく研摩むらの
発生を防止することができ、また該研摩テープを
加圧ヘツドの往復動方向と直交する方向に走行さ
せながら研摩を行うに当つて、研摩テープの位置
部分またはその全体が該加圧ヘツドの押圧面から
外れた状態で研摩する不都合を確実に防止でき、
円滑かつ確実にデイスク基板の精密・高精度な研
摩仕上げを行うことができるようになる。
[Effects of the Invention] As detailed above, in the disk substrate polishing apparatus according to the present invention, the pressing surface of the pressure head that presses the polishing tape against the disk substrate becomes narrower toward the inside in the radial direction of the disk substrate, and the polishing Since it is formed into a triangular planar shape that becomes narrower toward the front in the running direction of the tape, it is possible to prevent the occurrence of polishing unevenness due to the difference in circumferential speed in the radial direction when the disk substrate rotates. When polishing is carried out while the abrasive tape is traveling in a direction perpendicular to the reciprocating direction of the pressure head, it is inconvenient to perform the polishing with a portion of the abrasive tape or its entirety removed from the pressing surface of the pressure head. can be reliably prevented,
It becomes possible to perform precise and high-precision polishing of disk substrates smoothly and reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す研摩装置の全
体構成図、第2図は第1図の平面図、第3図は加
圧部材の拡大斜視図、第4図は加圧部材の作動説
明図、第5図は従来技術の研摩装置の構成説明図
である。 10:デイスク基板、13:研摩テープ、1
4:加圧部材、15:加圧ヘツド、15a:押圧
面、18:往復動部材。
FIG. 1 is an overall configuration diagram of a polishing apparatus showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of FIG. 1, FIG. 3 is an enlarged perspective view of a pressure member, and FIG. 4 is a diagram of a pressure member. FIG. 5 is an explanatory diagram of the structure of a conventional polishing apparatus. 10: disk substrate, 13: polishing tape, 1
4: Pressure member, 15: Pressure head, 15a: Pressure surface, 18: Reciprocating member.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 デイスク基板に加圧部材の加圧ヘツドによつ
て研摩テープを押し当て、該デイスク基板を回転
させながら、前記加圧ヘツドをデイスク基板の半
径方向に往復動させると共に、前記研摩テープを
該加圧ヘツドの移動方向と直交する方向に走行さ
せることによつて前記デイスク基板の表面を研摩
するものにおいて、前記加圧ヘツドのテープ押圧
面を略直角三角形の形状となし、この三角形の相
互に直角となる2辺のうちの1辺が前記研摩テー
プの走行方向とほぼ平行であつて、かつ前記デイ
スク基板の外周側に位置し、また他の1辺は該研
摩テープの走行方向の後方側で、この走行方向と
ほぼ直交する方向に位置するように構成したこと
を特徴とするデイスク基板の研摩装置。
1. Press the abrasive tape against the disk substrate by the pressure head of the pressure member, and while rotating the disk substrate, move the pressure head back and forth in the radial direction of the disk substrate, and apply the pressure to the abrasive tape. In the device for polishing the surface of the disk substrate by running the tape in a direction perpendicular to the direction of movement of the pressure head, the tape pressing surface of the pressure head has a substantially right triangle shape, and the triangles are at right angles to each other. One of the two sides is substantially parallel to the running direction of the abrasive tape and is located on the outer peripheral side of the disk substrate, and the other side is on the rear side in the running direction of the abrasive tape. , a disk substrate polishing device characterized in that it is configured to be located in a direction substantially perpendicular to the traveling direction.
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