JPH0557070B2 - - Google Patents
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- JPH0557070B2 JPH0557070B2 JP59017972A JP1797284A JPH0557070B2 JP H0557070 B2 JPH0557070 B2 JP H0557070B2 JP 59017972 A JP59017972 A JP 59017972A JP 1797284 A JP1797284 A JP 1797284A JP H0557070 B2 JPH0557070 B2 JP H0557070B2
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- JP
- Japan
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- welding
- voltage
- value
- arc
- short circuit
- Prior art date
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- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 129
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 13
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 2
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/06—Arrangements or circuits for starting the arc, e.g. by generating ignition voltage, or for stabilising the arc
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Arc Welding In General (AREA)
- Arc Welding Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はCO2およびMAG溶接等における溶接
作業性を自動的、定量的に判定する方法に関す
る。
作業性を自動的、定量的に判定する方法に関す
る。
CO2およびMAG溶接では、良好な溶接が行な
える電圧値は使用する電流値によつて異なる。ま
た、電圧を適正値に設定しても、アーク状態は電
流値によつて異なる。したがつて、各電流値ごと
に適正な電圧値の設定を行うためには、作業者の
相当な経験・技量等が必要である。
える電圧値は使用する電流値によつて異なる。ま
た、電圧を適正値に設定しても、アーク状態は電
流値によつて異なる。したがつて、各電流値ごと
に適正な電圧値の設定を行うためには、作業者の
相当な経験・技量等が必要である。
しかし、作業者による設定は、作業者自身の経
験、技量、好み等によつて決まる定性的なもので
あり、優秀な作業者であればあるほどその設定は
正しいと言えるが、一般に個人差があり、統一的
な基準を求めることは不可能である。
験、技量、好み等によつて決まる定性的なもので
あり、優秀な作業者であればあるほどその設定は
正しいと言えるが、一般に個人差があり、統一的
な基準を求めることは不可能である。
一方、電流値ごとに適正な電圧設定ができる調
整ツマミ位置を表示する方法、あるいは、前もつ
て電流値に応じた適正電圧値をプリセツトしてお
き、作業者の設定する電圧値と一致した場合にラ
ンプを点灯させる方法等により、未熟練作業者で
も条件設定ができるようになつているのもある。
しかし、これらの適正電圧値は、熟練作業者があ
る一定の作業環境のもとに基準作業を行つて求め
た値であり、種々広範囲な実際の溶接作業条件・
環境においても、すべて満足する値とは限らな
い。すなわち、適正値とされている電圧が、実際
の作業では高過ぎたり低過ぎたりすることがあ
る。
整ツマミ位置を表示する方法、あるいは、前もつ
て電流値に応じた適正電圧値をプリセツトしてお
き、作業者の設定する電圧値と一致した場合にラ
ンプを点灯させる方法等により、未熟練作業者で
も条件設定ができるようになつているのもある。
しかし、これらの適正電圧値は、熟練作業者があ
る一定の作業環境のもとに基準作業を行つて求め
た値であり、種々広範囲な実際の溶接作業条件・
環境においても、すべて満足する値とは限らな
い。すなわち、適正値とされている電圧が、実際
の作業では高過ぎたり低過ぎたりすることがあ
る。
本発明の目的は、CO2およびMAG溶接等にお
ける溶接作業性の良否を自動的、定量的に判定
し、作業者の熟練度、作業環境・条件等が変化し
ても、それに応じた適正な溶接条件を確実に選定
できるようにすることにある。
ける溶接作業性の良否を自動的、定量的に判定
し、作業者の熟練度、作業環境・条件等が変化し
ても、それに応じた適正な溶接条件を確実に選定
できるようにすることにある。
本発明の要点は、CO2あるいはMAG溶接にお
いて、１周期毎の短絡時間およびアーク時間を検
出し、所定時間内での、前記短絡時間の平均値あ
るいは標準偏差（以下Ａとする）及び前記アーク
時間の平均値あるいは標準偏差（以下、Ｂとす
る）を求め、溶接作業性を示す溶接指数（以下、
Ｙとする）を、 Ｙ＝aA＋bB＋ｃ （但し、ａ，ｂ，ｃは定数） として計算し、該Ｙの値により溶接作業性の良否
を定量的に判定するものである。後述するよう
に、適正領域内にＹの最小値があり、アーク溶接
機は、該溶接指数Ｙの値がほぼ最小となるように
溶接電圧を自動設定する。
いて、１周期毎の短絡時間およびアーク時間を検
出し、所定時間内での、前記短絡時間の平均値あ
るいは標準偏差（以下Ａとする）及び前記アーク
時間の平均値あるいは標準偏差（以下、Ｂとす
る）を求め、溶接作業性を示す溶接指数（以下、
Ｙとする）を、 Ｙ＝aA＋bB＋ｃ （但し、ａ，ｂ，ｃは定数） として計算し、該Ｙの値により溶接作業性の良否
を定量的に判定するものである。後述するよう
に、適正領域内にＹの最小値があり、アーク溶接
機は、該溶接指数Ｙの値がほぼ最小となるように
溶接電圧を自動設定する。
一般にCO2あるいはMAG溶接では、母材とワ
イヤが短絡する期間と母材とワイヤの間にアーク
を発生する期間を交互に繰り返して溶接が行われ
る。第１図はその時の溶接電圧波形と溶接電流波
形を示したもので、Tsは短絡時間、Taはアーク
時間、Ｔは短絡から次の短絡までの１周期を示
す。短絡とアークの切り換わりは極く短時間に行
われ、通常、Tsは数mS程度、Taは10〜50mS程
度の値である。
イヤが短絡する期間と母材とワイヤの間にアーク
を発生する期間を交互に繰り返して溶接が行われ
る。第１図はその時の溶接電圧波形と溶接電流波
形を示したもので、Tsは短絡時間、Taはアーク
時間、Ｔは短絡から次の短絡までの１周期を示
す。短絡とアークの切り換わりは極く短時間に行
われ、通常、Tsは数mS程度、Taは10〜50mS程
度の値である。
溶接電流を130Aとしたφ1.2ワイヤのCO2溶接
中の短絡を生じている時間Tsの標準偏差（以下
σTsとする）、およびアークを生じている時間Taの
標準偏差（以下σTaとする）を求めると、それぞ
れ第２図および第３図のようである。前記のよう
に、Tsは数mS程度、Taは10〜50mS程度の値と
なり、両者を同一基準で比較できないため、第２
図および第３図では、溶接電圧が19Vにおける
σTsをk1，σTaをk2とし、k1およびk2に対する比と
してσTs，σTaを表わすことによつて、両者の傾向
をより明確にできるようにしている。又、図中丸
印で示した記号は、熟練作業者が判定した溶接作
業性であり黒い部分が多い程作業性が悪く、白丸
が適正条件であることを意味する。
中の短絡を生じている時間Tsの標準偏差（以下
σTsとする）、およびアークを生じている時間Taの
標準偏差（以下σTaとする）を求めると、それぞ
れ第２図および第３図のようである。前記のよう
に、Tsは数mS程度、Taは10〜50mS程度の値と
なり、両者を同一基準で比較できないため、第２
図および第３図では、溶接電圧が19Vにおける
σTsをk1，σTaをk2とし、k1およびk2に対する比と
してσTs，σTaを表わすことによつて、両者の傾向
をより明確にできるようにしている。又、図中丸
印で示した記号は、熟練作業者が判定した溶接作
業性であり黒い部分が多い程作業性が悪く、白丸
が適正条件であることを意味する。
第２図および第３図において、σTsは低電圧域
で大きな値を示し、Tsのバラツキが大きいこと
を表わしているが、適正電圧域、高電圧域では小
さい値となり、電圧による差は少い。逆にσTaは
低電圧域、適正電圧域では小さい値であり、電圧
による差も少いが、高電圧域では大きい値となり
Taのバラツキが大きいことを表わしている。す
なわちσTsおよびσTa両者の値が小さい領域が適正
電圧領域である。
で大きな値を示し、Tsのバラツキが大きいこと
を表わしているが、適正電圧域、高電圧域では小
さい値となり、電圧による差は少い。逆にσTaは
低電圧域、適正電圧域では小さい値であり、電圧
による差も少いが、高電圧域では大きい値となり
Taのバラツキが大きいことを表わしている。す
なわちσTsおよびσTa両者の値が小さい領域が適正
電圧領域である。
上記の傾向は電流値が変化しても同様である。
溶接電流が250Aでのφ1.2ワイヤのCO2溶接にお
けるσTs，σTaの変化を第４図、第５図に示す。
溶接電流が250Aでのφ1.2ワイヤのCO2溶接にお
けるσTs，σTaの変化を第４図、第５図に示す。
また、上記の傾向はシールドガス組成が変化し
ても同様である。第６図、第７図はそれぞれシー
ルドガスをCO2＋20％Arとし、溶接電流を130A、
φ1.2ワイヤで溶接した場合のσTs，σTaと溶接電圧
の関係を示し、第８図、第９図はシールドガスを
CO2＋50％Arとし、同様の溶接電流、ワイヤ径
で溶接した場合のσTs，σTaの変化である。
ても同様である。第６図、第７図はそれぞれシー
ルドガスをCO2＋20％Arとし、溶接電流を130A、
φ1.2ワイヤで溶接した場合のσTs，σTaと溶接電圧
の関係を示し、第８図、第９図はシールドガスを
CO2＋50％Arとし、同様の溶接電流、ワイヤ径
で溶接した場合のσTs，σTaの変化である。
さらに、上記σTs，σTaの傾向は、ワイヤ径が変
化しても同様である。一例としてφ0.9のワイヤを
用い、溶接電流を100AとしたCO2溶接における
σTs，σTaの溶接電圧の関係を第１０図、第１１図
に示す。
化しても同様である。一例としてφ0.9のワイヤを
用い、溶接電流を100AとしたCO2溶接における
σTs，σTaの溶接電圧の関係を第１０図、第１１図
に示す。
以上は溶接中の短絡を生じている時間Tsの標
準偏差σTsおよびアークを生じている時間Taの標
準偏差σTaに注目した場合であるが、σTs，σTaに比
べ、やゝその変化量は少なくなるが、Ts，Taの
平均値についても適正領域では両者の値はともに
小さくなる。その一例として、溶接電流130A，
250Aにおけるφ1.2ワイヤのCO2溶接時のTs，Ta
の平均値と溶接電圧の関係を第１２図乃至第１５
図に示す。各図とも、σTs，σTaの場合と同様に、
基準条件でのTs，Taの値をそれぞれK1，K2とし
て、Ts、TaのK1，K2に対する比を用いている。
こゝで、第１２図と第１３図は第２図と第３図
に、第１４図と第１５図は第４図と第５図にそれ
ぞれ対応する。
準偏差σTsおよびアークを生じている時間Taの標
準偏差σTaに注目した場合であるが、σTs，σTaに比
べ、やゝその変化量は少なくなるが、Ts，Taの
平均値についても適正領域では両者の値はともに
小さくなる。その一例として、溶接電流130A，
250Aにおけるφ1.2ワイヤのCO2溶接時のTs，Ta
の平均値と溶接電圧の関係を第１２図乃至第１５
図に示す。各図とも、σTs，σTaの場合と同様に、
基準条件でのTs，Taの値をそれぞれK1，K2とし
て、Ts、TaのK1，K2に対する比を用いている。
こゝで、第１２図と第１３図は第２図と第３図
に、第１４図と第１５図は第４図と第５図にそれ
ぞれ対応する。
以上のように、溶接時のTs，Taの平均値ある
いは標準偏差を求めると、溶接電流、シールドガ
ス、ワイヤ径に関係なく、適正領域では両者の値
はともに小さい値をとる。したがつて、標準偏差
σTs，σTaあるいは平均値Ts，Taにより、その条件
下での溶接作業性を評価することができる。例え
ば溶接指数Ｙを Ｙ＝2.1LN（σTs／k1）＋1.6LN（σTa／k2）＋0.3
……(1) とすると、第２図、第３図に示した条件でのＹの
値は第１６図のようである。Ｙが最小値となる電
圧値は適正領域内であり、Ｙの値がその最小値＋
0.5程度の領域が適正領域となる。又、Ｙの値は
低電圧域、高電圧域ともに熟練作業者が判定した
溶接作業性良否の順に応じて増減している。第１
７図は他の機種を用い、第２図、第３図と同様の
溶接を行つて求めたＹの値であるが、第１６図と
同様にＹの最小値は適正領域内にある。
いは標準偏差を求めると、溶接電流、シールドガ
ス、ワイヤ径に関係なく、適正領域では両者の値
はともに小さい値をとる。したがつて、標準偏差
σTs，σTaあるいは平均値Ts，Taにより、その条件
下での溶接作業性を評価することができる。例え
ば溶接指数Ｙを Ｙ＝2.1LN（σTs／k1）＋1.6LN（σTa／k2）＋0.3
……(1) とすると、第２図、第３図に示した条件でのＹの
値は第１６図のようである。Ｙが最小値となる電
圧値は適正領域内であり、Ｙの値がその最小値＋
0.5程度の領域が適正領域となる。又、Ｙの値は
低電圧域、高電圧域ともに熟練作業者が判定した
溶接作業性良否の順に応じて増減している。第１
７図は他の機種を用い、第２図、第３図と同様の
溶接を行つて求めたＹの値であるが、第１６図と
同様にＹの最小値は適正領域内にある。
第１８図は第４図、第５図に示した250Aでの
場合、第１９図は他の機種での同じく250Aでの
場合におけるそれぞれＹの値と溶接電圧の関係を
示す。又、第２０図は第６図、第７図に示した
CO2＋20％Arでの場合、第２１図は第８図、第
９図に示したCO2＋50％Arでの場合におけるＹ
の値である。さらに、第２２図は第１０図、第１
１図に示したφ0.9ワイヤの場合のＹの値である。
いずれの場合についても、第１６図と同様に、適
正領域内にＹの最小値があり、適正領域からはず
れる程、Ｙの値が大きくなることが分かる。
場合、第１９図は他の機種での同じく250Aでの
場合におけるそれぞれＹの値と溶接電圧の関係を
示す。又、第２０図は第６図、第７図に示した
CO2＋20％Arでの場合、第２１図は第８図、第
９図に示したCO2＋50％Arでの場合におけるＹ
の値である。さらに、第２２図は第１０図、第１
１図に示したφ0.9ワイヤの場合のＹの値である。
いずれの場合についても、第１６図と同様に、適
正領域内にＹの最小値があり、適正領域からはず
れる程、Ｙの値が大きくなることが分かる。
(1)式により全電流範囲共通の溶接指数を算出し
たが、アーク状態に応じてＹの算出式を作成すれ
ば、より正確な指数が得られる。
たが、アーク状態に応じてＹの算出式を作成すれ
ば、より正確な指数が得られる。
例えば、溶滴がシヨートアーク移行である小電
流領域では、 Ｙ＝1.8LN（σTs／k1）＋2.2LN（σTa／k2）＋0.2
……(2) とすると、第１６図に示した130AでのＹの値は、
第２３図のようになる。
流領域では、 Ｙ＝1.8LN（σTs／k1）＋2.2LN（σTa／k2）＋0.2
……(2) とすると、第１６図に示した130AでのＹの値は、
第２３図のようになる。
又、溶滴がグロビユラー移行あるいはドロツプ
移行となる大電流域では、 Ｙ＝2.1LN（σTs／k1）＋2.1LN（σTa／k2）−0.5
……(3) とすると、第１８図に示した250AでのＹの値は
第２４図のようになる。
移行となる大電流域では、 Ｙ＝2.1LN（σTs／k1）＋2.1LN（σTa／k2）−0.5
……(3) とすると、第１８図に示した250AでのＹの値は
第２４図のようになる。
さらに電流値ごとに算出式を求めると、例えば
溶接電流130Aの場合には Ｙ＝1.7LN（σTs／k1）＋2.2LN（σTa／k2）＋0.4
……(4) 250Aの場合には Ｙ＝1.9LN（σTs／k1）＋1.8LN（σTa／k2） ……(5) となり、Ｙの値はそれぞれ第２５図、第２６図の
ようになる。
溶接電流130Aの場合には Ｙ＝1.7LN（σTs／k1）＋2.2LN（σTa／k2）＋0.4
……(4) 250Aの場合には Ｙ＝1.9LN（σTs／k1）＋1.8LN（σTa／k2） ……(5) となり、Ｙの値はそれぞれ第２５図、第２６図の
ようになる。
上記算出式はすべて標準偏差であるσTs，σTaを
用いたものであるが、Ts，Taの平均値を用いて
も同様の結果が得られる。例えば溶接指数をZ1と
し、 Z1＝2LN（Ts／K1）＋1.9LN（Ta／K2）＋0.4……
(6) とすると、第１６図のＹに対応するZ1は、第２７
図のように求められる。
用いたものであるが、Ts，Taの平均値を用いて
も同様の結果が得られる。例えば溶接指数をZ1と
し、 Z1＝2LN（Ts／K1）＋1.9LN（Ta／K2）＋0.4……
(6) とすると、第１６図のＹに対応するZ1は、第２７
図のように求められる。
また、(1)〜(6)式はすべて溶接指数を対数の和の
形で求めたが、対数化しなくても同様の指数を求
めることができる。
形で求めたが、対数化しなくても同様の指数を求
めることができる。
例えばTs，Taの平均値を用い、溶接指数をZ2
とすると Z2＝1.4Ts／K1＋0.3Ta／K2−0.4 ……(7) 標準偏差σTs，σTaを用い、溶接指数をZ3とする
と Z3＝1.2σTs／k1＋0.3σTa／k2−0.5 ……(8) などのように求められる。第１６図のＹに対応す
るところの、(7)式、(8)式で求めた指数Z2，Z3はそ
れぞれ第２８図、第２９図のようである。
とすると Z2＝1.4Ts／K1＋0.3Ta／K2−0.4 ……(7) 標準偏差σTs，σTaを用い、溶接指数をZ3とする
と Z3＝1.2σTs／k1＋0.3σTa／k2−0.5 ……(8) などのように求められる。第１６図のＹに対応す
るところの、(7)式、(8)式で求めた指数Z2，Z3はそ
れぞれ第２８図、第２９図のようである。
以上のように、電流値、シールドガス組成、ワ
イヤ径にかかわらず、溶接中の母材とワイヤが短
絡する時間Tsおよび母材とワイヤの間にアーク
を発生させている時間Taに関するデータを用い、
溶接作業性を示す数値（溶接指数）を算出するこ
とにより、その作業性を判定することができる。
又、溶接指数が最小あるいは最小値＋0.5程度の
値となるように、溶接条件の選定を行なえば、未
熟練者でも溶接条件を適正条件に容易に設定でき
る。
イヤ径にかかわらず、溶接中の母材とワイヤが短
絡する時間Tsおよび母材とワイヤの間にアーク
を発生させている時間Taに関するデータを用い、
溶接作業性を示す数値（溶接指数）を算出するこ
とにより、その作業性を判定することができる。
又、溶接指数が最小あるいは最小値＋0.5程度の
値となるように、溶接条件の選定を行なえば、未
熟練者でも溶接条件を適正条件に容易に設定でき
る。
第３０図は本発明の一実施例のブロツク図であ
る。図において、溶接電源１は所定の電圧をワイ
ヤ２と母材４の間に印加せしめる。ワイヤ２は母
材４を溶接するため、送給ローラ３によつて所定
速度で送給される。このワイヤ２の送り速度に溶
接電流がほゞ比例する。図では省略されている
が、ワイヤ２の先端部にはトーチがあり、ワイヤ
の送りとともにCO2やMAGガスが噴出するよう
になつている。５は溶接電源１の出力電圧すなわ
ち溶接電圧を測定し、所定のレベルに増幅するた
めの電圧検出器である。この電圧検出器５の出力
電圧はアナログ・デイジタル変換器（Ａ／Ｄ変換
器）６により所定の間隔でサンプリングされて、
デイジタル信号（電圧データ）に変換され、順
次、中央処理装置（CPU）７に入力される。
CPU７では、入力された電圧データにより短絡
時間、アーク時間を求め、溶接指数を算出する。
８は入力電圧データ、演算の途中データ、各種の
定数、およびCPU７の処理プログラム等を格納
するメモリである。CPU７での処理に必要とす
る各種の定数、初期データ等はキーボード９から
入力され、CPU７の処理結果はデイスプレイ１
０に表示される。又、CPU７は、算出された溶
接指数によつて溶接電圧の変更の可否を判断し、
変更する必要のある場合はその電圧データを出力
する。この電圧データはデイジタル・アナログ変
換器（Ｄ／Ａ変換器）１１でアナログ信号に変換
され、該信号によつて出力制御回路１２が溶接電
源１の出力電圧を増減する。
る。図において、溶接電源１は所定の電圧をワイ
ヤ２と母材４の間に印加せしめる。ワイヤ２は母
材４を溶接するため、送給ローラ３によつて所定
速度で送給される。このワイヤ２の送り速度に溶
接電流がほゞ比例する。図では省略されている
が、ワイヤ２の先端部にはトーチがあり、ワイヤ
の送りとともにCO2やMAGガスが噴出するよう
になつている。５は溶接電源１の出力電圧すなわ
ち溶接電圧を測定し、所定のレベルに増幅するた
めの電圧検出器である。この電圧検出器５の出力
電圧はアナログ・デイジタル変換器（Ａ／Ｄ変換
器）６により所定の間隔でサンプリングされて、
デイジタル信号（電圧データ）に変換され、順
次、中央処理装置（CPU）７に入力される。
CPU７では、入力された電圧データにより短絡
時間、アーク時間を求め、溶接指数を算出する。
８は入力電圧データ、演算の途中データ、各種の
定数、およびCPU７の処理プログラム等を格納
するメモリである。CPU７での処理に必要とす
る各種の定数、初期データ等はキーボード９から
入力され、CPU７の処理結果はデイスプレイ１
０に表示される。又、CPU７は、算出された溶
接指数によつて溶接電圧の変更の可否を判断し、
変更する必要のある場合はその電圧データを出力
する。この電圧データはデイジタル・アナログ変
換器（Ｄ／Ａ変換器）１１でアナログ信号に変換
され、該信号によつて出力制御回路１２が溶接電
源１の出力電圧を増減する。
第３０図におけるCPU７を中心とする処理フ
ローを第３１図に示す。
ローを第３１図に示す。
初め、所定の溶接電流Ipおよび概略の溶接電圧
Vp、サンプリングを行うデータ数Ｎ、溶接電圧
のサンプリング間隔Ｓ、短絡／アークの判定電圧
Vj、溶接指数算出のための初期データｎ、Yp等
をキーボード９より入力する（ステツプ101）。サ
ンプリングデータ数Ｎは、大きければ大きい程正
確なデータを得ることができるが、その分、サン
プリングに時間がかかり、かつメモリ容量も大き
くしなければならないため、500〜1000程度にす
ればよい。サンプリング間隔Ｓは、短かければ短
かい程正確なデータが得られるが、やはりメモリ
容量にも関係するため、小電流域では0.1mS程
度、大電流域では0.2mS程度にすれば、実用上問
題とはならない。短絡／アークの判定電圧Vjは、
電流値に関係なく約10V程度の値としてもよい
が、電流値に応じて短絡電圧、溶滴の移行形態等
が変化するため、例えば Ｉ≦200Aの場合 Vj＝10V 200A＜Ｉ≦250Aの場合 Vj＝15V 250A＜Ｉの場合 Vj＝20V のように、電流値に応じて多少変化させるほうが
良い結果を得ることができる。
Vp、サンプリングを行うデータ数Ｎ、溶接電圧
のサンプリング間隔Ｓ、短絡／アークの判定電圧
Vj、溶接指数算出のための初期データｎ、Yp等
をキーボード９より入力する（ステツプ101）。サ
ンプリングデータ数Ｎは、大きければ大きい程正
確なデータを得ることができるが、その分、サン
プリングに時間がかかり、かつメモリ容量も大き
くしなければならないため、500〜1000程度にす
ればよい。サンプリング間隔Ｓは、短かければ短
かい程正確なデータが得られるが、やはりメモリ
容量にも関係するため、小電流域では0.1mS程
度、大電流域では0.2mS程度にすれば、実用上問
題とはならない。短絡／アークの判定電圧Vjは、
電流値に関係なく約10V程度の値としてもよい
が、電流値に応じて短絡電圧、溶滴の移行形態等
が変化するため、例えば Ｉ≦200Aの場合 Vj＝10V 200A＜Ｉ≦250Aの場合 Vj＝15V 250A＜Ｉの場合 Vj＝20V のように、電流値に応じて多少変化させるほうが
良い結果を得ることができる。
次に溶接を開始するとともに（ステツプ102）、
ｎ＝ｎ＋１として（ステツプ103）、以下のように
溶接指数の算出処理を実行する。なお、ｎは算出
する溶接指数の番号を表わす。
ｎ＝ｎ＋１として（ステツプ103）、以下のように
溶接指数の算出処理を実行する。なお、ｎは算出
する溶接指数の番号を表わす。
まず、電圧検出器５で検出された溶接電圧Ｖを
Ａ／Ｄ変換器６により、所定の間隔Ｓでサンプリ
ングした後、デイジタル変換して溶接電圧データ
Ｖ（ｉ）（ｉはサンプリング番号を示す）を得、該
電圧データＶ（ｉ）をCPU７を通してメモリ８へ
記憶する（ステツプ104〜106）。サンプリング点
ｉの電圧データＶ（ｉ）をメモリ８へ記憶する毎
に、ｉ＝Ｎの判定を行い（ステツプ107）、ｉ＝Ｎ
でなければｉ＝ｉ＋１として（ステツプ108）、ス
テツプ104〜106の処理を繰り返す。ｉ＝Ｎとなり
Ｖ（ｉ）のサンプリングを完了すると、メモリ８
よりＶ（ｉ）を順次読み出してVjと比較すること
により、次々に短絡開始点Ｓ（Ｒ）とアーク開始
点Ｔ（Ｒ）を求め（ステツプ109）、この求めたＳ
（Ｒ）、Ｔ（Ｒ）によつて各短絡周期における短絡
時間Ts（Ｒ）およびアーク時間Ta（Ｒ）を算出す
る（ステツプ110）。
Ａ／Ｄ変換器６により、所定の間隔Ｓでサンプリ
ングした後、デイジタル変換して溶接電圧データ
Ｖ（ｉ）（ｉはサンプリング番号を示す）を得、該
電圧データＶ（ｉ）をCPU７を通してメモリ８へ
記憶する（ステツプ104〜106）。サンプリング点
ｉの電圧データＶ（ｉ）をメモリ８へ記憶する毎
に、ｉ＝Ｎの判定を行い（ステツプ107）、ｉ＝Ｎ
でなければｉ＝ｉ＋１として（ステツプ108）、ス
テツプ104〜106の処理を繰り返す。ｉ＝Ｎとなり
Ｖ（ｉ）のサンプリングを完了すると、メモリ８
よりＶ（ｉ）を順次読み出してVjと比較すること
により、次々に短絡開始点Ｓ（Ｒ）とアーク開始
点Ｔ（Ｒ）を求め（ステツプ109）、この求めたＳ
（Ｒ）、Ｔ（Ｒ）によつて各短絡周期における短絡
時間Ts（Ｒ）およびアーク時間Ta（Ｒ）を算出す
る（ステツプ110）。
第３３図は溶接電圧の変化と短絡開始点、アー
ク開始点の関係を示したものである。第３３図に
示すように、Ｖ（ｉ）は短絡期間ではVjより低
く、アーク期間ではVjより高くなる。そこで、
各サンプリング点のＶ（ｉ）とVjの大小を順次比
較することにより、短絡開始点Ｓ（Ｒ）はＶ（ｉ）
がＶ（ｉ）＞VjからＶ（ｉ）＜Vjに変化する点とし
て、アーク開始点Ｔ（Ｒ）は逆にＶ（ｉ）がＶ（ｉ）
＜VjからＶ（ｉ）＞Vjに変化する点として求まる。
短絡時間Ts（Ｒ）およびアーク時間Ta（Ｒ）は次
のようにして算出する。
ク開始点の関係を示したものである。第３３図に
示すように、Ｖ（ｉ）は短絡期間ではVjより低
く、アーク期間ではVjより高くなる。そこで、
各サンプリング点のＶ（ｉ）とVjの大小を順次比
較することにより、短絡開始点Ｓ（Ｒ）はＶ（ｉ）
がＶ（ｉ）＞VjからＶ（ｉ）＜Vjに変化する点とし
て、アーク開始点Ｔ（Ｒ）は逆にＶ（ｉ）がＶ（ｉ）
＜VjからＶ（ｉ）＞Vjに変化する点として求まる。
短絡時間Ts（Ｒ）およびアーク時間Ta（Ｒ）は次
のようにして算出する。
Ts（Ｒ）＝｛Ｔ（Ｒ）−Ｓ（Ｒ）｝・Ｓ
Ta（Ｒ）＝｛Ｓ（Ｒ＋１）−Ｔ（Ｒ）｝・Ｓ
〔Ｓ；サンプリ
ング間隔〕 第３１図の処理フローに戻り、上記のようにし
て求まつた各短絡周期におけるTs（Ｒ）、Ta（Ｒ）
の平均値Ts，Taを、 Ts＝｛R-1 〓R=0 Ts（Ｒ）｝／Ｒ Ta＝｛R-1 〓R=0 Ta（Ｒ）｝／Ｒ のようにして算出する（ステツプ111）。さらに、
標準偏差σTs，σTaを、 のようにして算出する（ステツプ112）。
ング間隔〕 第３１図の処理フローに戻り、上記のようにし
て求まつた各短絡周期におけるTs（Ｒ）、Ta（Ｒ）
の平均値Ts，Taを、 Ts＝｛R-1 〓R=0 Ts（Ｒ）｝／Ｒ Ta＝｛R-1 〓R=0 Ta（Ｒ）｝／Ｒ のようにして算出する（ステツプ111）。さらに、
標準偏差σTs，σTaを、 のようにして算出する（ステツプ112）。
このσTs，σTaを用い、溶接指数Ynを
Yn＝ａ・LN（σTs）＋ｂ・LN（σTa）＋ｃ ……(9)
のようにして算出する（ステツプ113）。こゝで、
ａ，ｂ，ｃは定数であり、その値は例えば前述の
(1)式のようである。この求まつたYnをメモリ８
に記憶し（ステツプ114）、又、必要に応じてデイ
スプレイ１０に表示する。
ａ，ｂ，ｃは定数であり、その値は例えば前述の
(1)式のようである。この求まつたYnをメモリ８
に記憶し（ステツプ114）、又、必要に応じてデイ
スプレイ１０に表示する。
このようにして、溶接指数Ynが求まると、こ
れを前回求めたYo-1と比較し（ステツプ115）、
Yn＜Yo-1であれば、溶接電圧Ｖを所定量（実施
例では0.5V）増加させた後（ステツプ116）、ス
テツプ103以降の処理を実行し、再度、溶接指数
を求める。又、Yo＜Yo-1でなければ、溶接電圧
Ｖを所定量（実施例では、同じく0.5）減少させ
た後（ステツプ117）、Yoを前々回求めたYo-2と
比較し（ステツプ118）、Yo＝Yo-2でなければ、
同様にステツプ103以降の処理を実行し、再度、
溶接指数を求める。これらの処理をYo＝Yo-2、
すなわち、Yoが最小値となるまで繰り返す。な
お、第３０図において、溶接電圧Ｖの増減はＤ／
Ａ変換器１１、出力制御回路１２の径路で制御さ
れる。
れを前回求めたYo-1と比較し（ステツプ115）、
Yn＜Yo-1であれば、溶接電圧Ｖを所定量（実施
例では0.5V）増加させた後（ステツプ116）、ス
テツプ103以降の処理を実行し、再度、溶接指数
を求める。又、Yo＜Yo-1でなければ、溶接電圧
Ｖを所定量（実施例では、同じく0.5）減少させ
た後（ステツプ117）、Yoを前々回求めたYo-2と
比較し（ステツプ118）、Yo＝Yo-2でなければ、
同様にステツプ103以降の処理を実行し、再度、
溶接指数を求める。これらの処理をYo＝Yo-2、
すなわち、Yoが最小値となるまで繰り返す。な
お、第３０図において、溶接電圧Ｖの増減はＤ／
Ａ変換器１１、出力制御回路１２の径路で制御さ
れる。
溶接指数Yoの最小値が求まると、溶接電圧Ｖ
をその時の値に固定し（ステツプ119）、引き続い
てYoの算出を行うかどうか判定して（ステツプ
120）、継続する場合にはｎ＝ｎ−１とした後（ス
テツプ121）、ステツプ103に戻り、Yoの算出を停
止する場合には溶接を停止して終了とする（ステ
ツプ122）。
をその時の値に固定し（ステツプ119）、引き続い
てYoの算出を行うかどうか判定して（ステツプ
120）、継続する場合にはｎ＝ｎ−１とした後（ス
テツプ121）、ステツプ103に戻り、Yoの算出を停
止する場合には溶接を停止して終了とする（ステ
ツプ122）。
なお、Yo＝Yo-2の判定条件をYo＝Yo-2＋0.5の
ようにして、溶接電圧Ｖが適正領域にあれば、
Yoの最小値を示す電圧値と異つてもＶの値を変
化させないといつた方法を用いてもよい。
ようにして、溶接電圧Ｖが適正領域にあれば、
Yoの最小値を示す電圧値と異つてもＶの値を変
化させないといつた方法を用いてもよい。
また、こゝではLN（σTs）、LN（σTa）を用いて
溶接指数を求めるとしたが、前述したように、
LN（Ts）、LN（Ta）、あるいはTs，Ta、あるい
は、σTs，σTaを用いても同様であることは言うま
でもない。
溶接指数を求めるとしたが、前述したように、
LN（Ts）、LN（Ta）、あるいはTs，Ta、あるい
は、σTs，σTaを用いても同様であることは言うま
でもない。
第３１図におけるステツプ109の短絡／アーク
判定処理の詳細フローを第３２図に示す。第３２
図では短絡開始点Ｓ（Ｒ）を求めることから処理
が始まるとしている。まず、ｉ＝０、Ｒ＝０とし
た後（ステツプ201，202）、メモリ８より最初の
サンプリング点（ｉ＝０）の溶接電圧データＶ
（０）を読み出し、Vjと比較する（ステツプ
203）、そして、Ｖ（０）＞Vjであればステツプ206
に行くが、Ｖ（０）≦Vjであれば、ｉ＝１にして
（ステツプ204）、次のサンプリング点（ｉ＝１）
のＶ（１）を読み出し、Vjと比較する（ステツプ
205）。Ｖ（ｉ）＞Vjの間、ステツプ204，205の処
理を繰り返す。第３３図より、Ｖ（ｉ）≦Vjは短
絡期間を意味する。Ｖ（ｉ）＞Vjになると、ｉ＝
ｉ＋１としてｉ＜Ｎを判定し（ステツプ206，
207）、ｉ＞Ｎであると該判定処理を終了するが、
ｉ＜Ｎの場合は、Ｖ（ｉ）を読み出してＶ（ｉ）＞
Vjを判定する（ステツプ208）。そして、Ｖ（ｉ）
＞Vjの間、ステツプ206〜208の処理を繰り返す。
第３３図より、Ｖ（ｉ）＞Vjはアーク期間を意味
する。ステツプ206〜208の処理を繰り返し、Ｖ
（ｉ）≦Vjになると、その点が短絡開始点Ｓ（Ｒ）
を意味する。このＳ（Ｒ）に対応するサンプリン
グ点（ｉ）をメモリ１３の所定番地に格納する
（ステツプ209）。次に、ｉ＝ｉ＋１としてｉ＜Ｎ
を判定し（ステツプ210，211）、ｉ＞Ｎであると
判定処理を終了するが、ｉ＜Ｎの場合は、Ｖ（ｉ）
を読み出してＶ（ｉ）≦Vjを判定する（ステツプ
212）。そして、Ｖ（ｉ）≦Vjの間、ステツプ210〜
212の処理を繰り返す。このようにしてＶ（ｉ）＞
Vjになると、その点がアーク開始点Ｔ（Ｒ）を意
味する。このＴ（Ｒ）に対応するサンプリング点
（ｉ）をメモリ１３に格納する（ステツプ213）。
その後、Ｒ＝Ｒ＋１として（ステツプ214）、ステ
ツプ206以降の処理を繰り返すことにより、Ｓ
（Ｒ），Ｔ（Ｒ）が次々に求まる。そして、ｉ＞Ｎ
になつて時点で該判定処理を終了とする。
判定処理の詳細フローを第３２図に示す。第３２
図では短絡開始点Ｓ（Ｒ）を求めることから処理
が始まるとしている。まず、ｉ＝０、Ｒ＝０とし
た後（ステツプ201，202）、メモリ８より最初の
サンプリング点（ｉ＝０）の溶接電圧データＶ
（０）を読み出し、Vjと比較する（ステツプ
203）、そして、Ｖ（０）＞Vjであればステツプ206
に行くが、Ｖ（０）≦Vjであれば、ｉ＝１にして
（ステツプ204）、次のサンプリング点（ｉ＝１）
のＶ（１）を読み出し、Vjと比較する（ステツプ
205）。Ｖ（ｉ）＞Vjの間、ステツプ204，205の処
理を繰り返す。第３３図より、Ｖ（ｉ）≦Vjは短
絡期間を意味する。Ｖ（ｉ）＞Vjになると、ｉ＝
ｉ＋１としてｉ＜Ｎを判定し（ステツプ206，
207）、ｉ＞Ｎであると該判定処理を終了するが、
ｉ＜Ｎの場合は、Ｖ（ｉ）を読み出してＶ（ｉ）＞
Vjを判定する（ステツプ208）。そして、Ｖ（ｉ）
＞Vjの間、ステツプ206〜208の処理を繰り返す。
第３３図より、Ｖ（ｉ）＞Vjはアーク期間を意味
する。ステツプ206〜208の処理を繰り返し、Ｖ
（ｉ）≦Vjになると、その点が短絡開始点Ｓ（Ｒ）
を意味する。このＳ（Ｒ）に対応するサンプリン
グ点（ｉ）をメモリ１３の所定番地に格納する
（ステツプ209）。次に、ｉ＝ｉ＋１としてｉ＜Ｎ
を判定し（ステツプ210，211）、ｉ＞Ｎであると
判定処理を終了するが、ｉ＜Ｎの場合は、Ｖ（ｉ）
を読み出してＶ（ｉ）≦Vjを判定する（ステツプ
212）。そして、Ｖ（ｉ）≦Vjの間、ステツプ210〜
212の処理を繰り返す。このようにしてＶ（ｉ）＞
Vjになると、その点がアーク開始点Ｔ（Ｒ）を意
味する。このＴ（Ｒ）に対応するサンプリング点
（ｉ）をメモリ１３に格納する（ステツプ213）。
その後、Ｒ＝Ｒ＋１として（ステツプ214）、ステ
ツプ206以降の処理を繰り返すことにより、Ｓ
（Ｒ），Ｔ（Ｒ）が次々に求まる。そして、ｉ＞Ｎ
になつて時点で該判定処理を終了とする。
次に、溶接指数を求める本発明の他の実施例を
第３４図に示す。図において、２０は溶接電圧Ｖ
を検出する電圧検出器であり、短絡／アーク判定
電圧設定器２１に設定された判定電圧VjよりＶ
の値が低くなつた時、すなわち、短絡開始点Ｓ
（Ｒ）が検出されると、短絡／アーク切換器２２
へ溶接電圧Ｖを送出し始める。短絡／アーク切換
器２２は比較器とクロツク・パルス発生器から構
成され、溶接電圧Ｖと判定電圧Vjの大小を比較
し、Ｖ≦Vjの場合はカウンタ２４にクロツク・
パルスを送り、Ｖ＞Vjの場合はカウンタ２５に
クロツク・パルスを送る。すなわち、カウンタ２
４，２５は短絡／アーク切換器２２から送られる
くるクロツク・パルスを交互にカウントすること
によつて、それぞれ短絡時間Ts、アーク時間Ta
を算出する。短絡／アーク切換器２２の切り換わ
り回数はカウンタ２３でカウントされ、そのカウ
ント値がデータ数設定器２８に設定されたＮに一
致すると、電圧検出器２０から短絡／アーク切換
器２２への溶接電圧Ｖの送出を停止せしめる。
第３４図に示す。図において、２０は溶接電圧Ｖ
を検出する電圧検出器であり、短絡／アーク判定
電圧設定器２１に設定された判定電圧VjよりＶ
の値が低くなつた時、すなわち、短絡開始点Ｓ
（Ｒ）が検出されると、短絡／アーク切換器２２
へ溶接電圧Ｖを送出し始める。短絡／アーク切換
器２２は比較器とクロツク・パルス発生器から構
成され、溶接電圧Ｖと判定電圧Vjの大小を比較
し、Ｖ≦Vjの場合はカウンタ２４にクロツク・
パルスを送り、Ｖ＞Vjの場合はカウンタ２５に
クロツク・パルスを送る。すなわち、カウンタ２
４，２５は短絡／アーク切換器２２から送られる
くるクロツク・パルスを交互にカウントすること
によつて、それぞれ短絡時間Ts、アーク時間Ta
を算出する。短絡／アーク切換器２２の切り換わ
り回数はカウンタ２３でカウントされ、そのカウ
ント値がデータ数設定器２８に設定されたＮに一
致すると、電圧検出器２０から短絡／アーク切換
器２２への溶接電圧Ｖの送出を停止せしめる。
積算器２６、平方積算器２７はカウンタ２４で
求まる各短絡周期毎の短絡時間Tsを入力して、
それぞれΣTs、ΣT2ｓを算出する。同様に、積算
器２９、平方積算器３０でも、カウンタ２５で求
まる各短絡周期毎のアーク時間Taを入力して、
それぞれΣTa、ΣT2ａを算出する。積算器２６、
平方積算器２７の算出結果は演算器３１に、積算
器２９，３０の算出結果は演算器３３にそれぞれ
与えられる。演算器３１，３３は標準偏差σTs，
σTaを算出する回路であり、カウンタ２３が所定
数Ｎをカウントすると、それぞれ のようにしてσTs，σTaを算出する。演算器３１，
３３で求まつたσTs，σTaは、定数設定器３２に設
定されている定数ａ，ｂ，ｃとともに演算器３４
に与えられ、例えば前述の(9)式によつて溶接指数
Ｙが算出される。
求まる各短絡周期毎の短絡時間Tsを入力して、
それぞれΣTs、ΣT2ｓを算出する。同様に、積算
器２９、平方積算器３０でも、カウンタ２５で求
まる各短絡周期毎のアーク時間Taを入力して、
それぞれΣTa、ΣT2ａを算出する。積算器２６、
平方積算器２７の算出結果は演算器３１に、積算
器２９，３０の算出結果は演算器３３にそれぞれ
与えられる。演算器３１，３３は標準偏差σTs，
σTaを算出する回路であり、カウンタ２３が所定
数Ｎをカウントすると、それぞれ のようにしてσTs，σTaを算出する。演算器３１，
３３で求まつたσTs，σTaは、定数設定器３２に設
定されている定数ａ，ｂ，ｃとともに演算器３４
に与えられ、例えば前述の(9)式によつて溶接指数
Ｙが算出される。
以上の動作を、溶接電圧を所定量ずつ増減して
繰り返すことにより、最小となる溶接指数が求ま
る。
繰り返すことにより、最小となる溶接指数が求ま
る。
以上の説明から明らかな如く、本発明によれば
次のような効果が得られる。
次のような効果が得られる。
(1) 従来定性的にとらえられていた溶接作業性
を、統一された数値として定量的に把握するこ
とができる。
を、統一された数値として定量的に把握するこ
とができる。
(2) 相当の経験、技量がなければ把握できなかつ
た溶接作業性を、初心者でも簡単に把握するこ
とができる。
た溶接作業性を、初心者でも簡単に把握するこ
とができる。
(3) 作業条件、環境が変化しても、それに応じた
適正条件を正確に設定することができる。
適正条件を正確に設定することができる。
(4) 適正条件の設定に必要とされていた作業者の
経験、技量が不要となる。
経験、技量が不要となる。
(5) 適正条件の設定を自動化できる。
(6) シールドガス組成、ワイヤ径により微妙に異
なる溶接条件を記憶する必要がない。
なる溶接条件を記憶する必要がない。
(7) 作業者の好み等により多少異なることがある
溶接条件を統一することができ、溶接継手の品
質が向上する。
溶接条件を統一することができ、溶接継手の品
質が向上する。
第１図はアーク溶接の電流・電圧波形の説明
図、第２図乃至第５図は溶接電流を変化させた条
件での短絡／アーク時間の標準偏差と溶接電圧の
関係を示す図、第６図乃至第９図はシールドガス
組成を変化させた条件での同じく標準偏差と溶接
電圧の関係を示す図、第１０図、第１１図はワイ
ヤ径を変化させた条件での同じく標準偏差と溶接
電圧の関係を示す図、第１２図乃至第１５図は短
絡／アーク時間の平均値と溶接電圧の関係を示す
図、第１６図乃至第２２図は全電流域共通の溶接
指数算出式で算出した溶接指数と溶接電圧の関係
を示す図、第２３図は小電流域の算出式で算出し
た溶接指数と溶接電圧の関係を示す図、第２４図
は大電流域の算出式で算出した溶接指数と溶接電
圧の関係を示す図、第２５図は電流値を限定した
場合の溶接指数と溶接電圧の関係を示す図、第２
６図乃至第２９図は他の算出式による場合の溶接
指数と溶接電圧の関係を示す図、第３０図は本発
明の一実施例を示す図、第３１図は第３０図の動
作を説明するフロー図、第３２図は第３１図にお
ける短絡／アーク判定処理ステツプの詳細フロー
図、第３３図は短絡／アーク開始点の説明図、第
３４図は本発明の他の実施例を示す図である。 １……溶接電圧、２……ワイヤ、３……給送ロ
ーラ、４……母材、５……溶接電圧検出器、６…
…Ａ／Ｄ変換器、７……CPU、８……メモリ、
９……キーボード、１０……デイスプレイ、１１
……Ｄ／Ａ変換器、１２……出力制御回路。
図、第２図乃至第５図は溶接電流を変化させた条
件での短絡／アーク時間の標準偏差と溶接電圧の
関係を示す図、第６図乃至第９図はシールドガス
組成を変化させた条件での同じく標準偏差と溶接
電圧の関係を示す図、第１０図、第１１図はワイ
ヤ径を変化させた条件での同じく標準偏差と溶接
電圧の関係を示す図、第１２図乃至第１５図は短
絡／アーク時間の平均値と溶接電圧の関係を示す
図、第１６図乃至第２２図は全電流域共通の溶接
指数算出式で算出した溶接指数と溶接電圧の関係
を示す図、第２３図は小電流域の算出式で算出し
た溶接指数と溶接電圧の関係を示す図、第２４図
は大電流域の算出式で算出した溶接指数と溶接電
圧の関係を示す図、第２５図は電流値を限定した
場合の溶接指数と溶接電圧の関係を示す図、第２
６図乃至第２９図は他の算出式による場合の溶接
指数と溶接電圧の関係を示す図、第３０図は本発
明の一実施例を示す図、第３１図は第３０図の動
作を説明するフロー図、第３２図は第３１図にお
ける短絡／アーク判定処理ステツプの詳細フロー
図、第３３図は短絡／アーク開始点の説明図、第
３４図は本発明の他の実施例を示す図である。 １……溶接電圧、２……ワイヤ、３……給送ロ
ーラ、４……母材、５……溶接電圧検出器、６…
…Ａ／Ｄ変換器、７……CPU、８……メモリ、
９……キーボード、１０……デイスプレイ、１１
……Ｄ／Ａ変換器、１２……出力制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 短絡とアークを繰り返して溶接が実施される
アーク溶接において、１周期毎の短絡時間および
アーク時間を検出し、所定時間内での、前記短絡
時間の平均値あるいは標準偏差（以下Ａとする）
及び前記アーク時間の平均値あるいは標準偏差
（以下、Ｂとする）を求め、溶接作業性を示す溶
接指数（以下、Ｙとする）を、 Ｙ＝aA＋bB＋ｃ （但し、ａ，ｂ，ｃは定数） として計算し、該Ｙの値がほぼ最小値をとるとき
適正に溶接が行われると判定することを特徴とす
るアーク溶接の溶接性判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1797284A JPS60162577A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1797284A JPS60162577A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60162577A JPS60162577A (ja) | 1985-08-24 |
| JPH0557070B2 true JPH0557070B2 (ja) | 1993-08-23 |
Family
ID=11958643
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1797284A Granted JPS60162577A (ja) | 1984-02-03 | 1984-02-03 | ア−ク溶接の溶接性判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60162577A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022044700A1 (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-03 | 株式会社神戸製鋼所 | アーク溶接の制御方法、溶接電源、溶接システム及び検出方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS501051A (ja) * | 1973-05-09 | 1975-01-08 | ||
| JPS5722875A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Arc welding apparatus |
-
1984
- 1984-02-03 JP JP1797284A patent/JPS60162577A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS501051A (ja) * | 1973-05-09 | 1975-01-08 | ||
| JPS5722875A (en) * | 1980-07-11 | 1982-02-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Arc welding apparatus |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022044700A1 (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-03 | 株式会社神戸製鋼所 | アーク溶接の制御方法、溶接電源、溶接システム及び検出方法 |
| JP2022041235A (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-11 | 株式会社神戸製鋼所 | アーク溶接の制御方法、溶接電源、溶接システム及び検出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60162577A (ja) | 1985-08-24 |
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