JPH055289B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH055289B2 JPH055289B2 JP60147737A JP14773785A JPH055289B2 JP H055289 B2 JPH055289 B2 JP H055289B2 JP 60147737 A JP60147737 A JP 60147737A JP 14773785 A JP14773785 A JP 14773785A JP H055289 B2 JPH055289 B2 JP H055289B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical element
- laser
- thermocouple
- laser power
- laser beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 7
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 1
- 238000004026 adhesive bonding Methods 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はレーザパワーメータに関するものであ
る。
る。
(従来技術)
従来のレーザパワーメータは、第3図及び第4
図に示すように、金属製の熱伝導性基板1の一方
の面の中央に黒化吸収膜2が設けられ、該熱伝導
性基板1の反対側の面には黒化吸収膜2の外側に
位置するようにしてリング状に熱電対3が設けら
れ、更にその外側には冷却器4が設けられてセン
サー部5が構成された構造になつていた。
図に示すように、金属製の熱伝導性基板1の一方
の面の中央に黒化吸収膜2が設けられ、該熱伝導
性基板1の反対側の面には黒化吸収膜2の外側に
位置するようにしてリング状に熱電対3が設けら
れ、更にその外側には冷却器4が設けられてセン
サー部5が構成された構造になつていた。
このようなセンサー部5をもつレーザパワーメ
ータは、測定すべきレーザ光が黒化吸収膜2に入
射されると、熱エネルギーに変換され、その熱エ
ネルギーは基板1の径方向に伝達され、冷却器4
で冷却される。このとき、基板1に配設されてい
る熱電対3の温接点部の温度上昇はレーザ光のパ
ワーに比例するので、これが増幅器で増幅されて
レーザパワーとして表示される。
ータは、測定すべきレーザ光が黒化吸収膜2に入
射されると、熱エネルギーに変換され、その熱エ
ネルギーは基板1の径方向に伝達され、冷却器4
で冷却される。このとき、基板1に配設されてい
る熱電対3の温接点部の温度上昇はレーザ光のパ
ワーに比例するので、これが増幅器で増幅されて
レーザパワーとして表示される。
この時の熱伝導性基板1の温度分布を第5図に
示す。第5図はレーザ光のパワー密度がガウシア
ンの場合であつて、横軸は基板1上の位置(中心
部O、冷却部R1)、縦軸は温度を示す。図より、
中心部O付近では急激に高温になつていることが
わかる。中心部O付近の温度は、レーザパワーに
比例し、基板1の熱伝導率と厚さに反比例する。
それ故、大出力の測定には熱伝導率が大きく、厚
い基板1を使用しなければならない。
示す。第5図はレーザ光のパワー密度がガウシア
ンの場合であつて、横軸は基板1上の位置(中心
部O、冷却部R1)、縦軸は温度を示す。図より、
中心部O付近では急激に高温になつていることが
わかる。中心部O付近の温度は、レーザパワーに
比例し、基板1の熱伝導率と厚さに反比例する。
それ故、大出力の測定には熱伝導率が大きく、厚
い基板1を使用しなければならない。
しかしながら、熱伝導性基板1はその材料にも
制限があり、厚さも無制限に大きくすることはで
きない問題点がある。
制限があり、厚さも無制限に大きくすることはで
きない問題点がある。
また、ハイパワーを冷却器4で安定に冷却する
際に、電気的出力に影響を与えないようにする点
でも困難がある。
際に、電気的出力に影響を与えないようにする点
でも困難がある。
更に、ハイパワーになると、黒化吸収膜2の厚
さ方向でも温度差が大きくなり、黒化吸収膜2の
表面温度は基板1の温度上昇よりも高温になり、
黒化吸収膜2を損焼する危険がある。
さ方向でも温度差が大きくなり、黒化吸収膜2の
表面温度は基板1の温度上昇よりも高温になり、
黒化吸収膜2を損焼する危険がある。
かつまた、このような構造では、レーザ加工作
業中に並行してレーザパワーの測定が行えない問
題点がある。
業中に並行してレーザパワーの測定が行えない問
題点がある。
このような問題点を解決するため、反射鏡の如
き反射型光学素子の裏面に熱電対を取り付けてレ
ーザパワーを測定することが提案されている。
き反射型光学素子の裏面に熱電対を取り付けてレ
ーザパワーを測定することが提案されている。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、このような反射型光学素子を用
いたレーザパワーメータでは、光学系中に反射型
光学素子が存在しないと実施できない問題点があ
る。
いたレーザパワーメータでは、光学系中に反射型
光学素子が存在しないと実施できない問題点があ
る。
また、反射型光学素子では、光路を変更してし
まうため、光学系に自由に設けることができない
問題点がある。
まうため、光学系に自由に設けることができない
問題点がある。
本発明の目的は、光路を曲げることなく、また
反射型光学素子を持たない光学系でもレーザパワ
ーの測定が行え、しかもレーザ加工作業中に並行
してレーザパワーの測定を行えるレーザパワーメ
ータを提供することにある。
反射型光学素子を持たない光学系でもレーザパワ
ーの測定が行え、しかもレーザ加工作業中に並行
してレーザパワーの測定を行えるレーザパワーメ
ータを提供することにある。
(問題点を解決するための手段)
上記の目的を達成するための本発明の構成を、
実施例に対応する第1図及び第2図を参照して説
明すると、本発明はレーザ光6が透過する透光性
光学素子7の周辺部に熱電対3が設けられ、更に
その外側に冷却器4が設けられていることを特徴
とするものである。
実施例に対応する第1図及び第2図を参照して説
明すると、本発明はレーザ光6が透過する透光性
光学素子7の周辺部に熱電対3が設けられ、更に
その外側に冷却器4が設けられていることを特徴
とするものである。
(作用)
このようなセンサー部5によれば、測定すべき
レーザ光6は従来のセンサー部とは違つて透光性
光学素子7を透過し、その一部が該透光性光学素
子7に吸収されて熱エネルギーとなり、該熱エネ
ルギーは透光性光学素子7を冷却器4の方向へ伝
達され、その過程で熱電対3で検出される。
レーザ光6は従来のセンサー部とは違つて透光性
光学素子7を透過し、その一部が該透光性光学素
子7に吸収されて熱エネルギーとなり、該熱エネ
ルギーは透光性光学素子7を冷却器4の方向へ伝
達され、その過程で熱電対3で検出される。
(実施例)
以下本発明の実施例を図面を参照して詳細に説
明する。第1図は本発明の一実施例を示したもの
である。本実施例では、レーザ光6が透過する平
板状の透光性光学素子7の周辺部に熱電対3が接
着時により取り付けられて設けられ、更にその外
側には冷却器4が設けられてセンサー部5が構成
されている。熱電対3から出力されるレーザパワ
ーに比例した電気信号は、増幅器8で増幅されて
表示部9で表示されるようになつている。
明する。第1図は本発明の一実施例を示したもの
である。本実施例では、レーザ光6が透過する平
板状の透光性光学素子7の周辺部に熱電対3が接
着時により取り付けられて設けられ、更にその外
側には冷却器4が設けられてセンサー部5が構成
されている。熱電対3から出力されるレーザパワ
ーに比例した電気信号は、増幅器8で増幅されて
表示部9で表示されるようになつている。
レーザ光6のパワー測定のみを行うときには、
透光性光学素子7を通過したレーザ光6は危険な
ので吸収器10を用い、その黒化吸収膜11で吸
収し、冷却ジヤケツト12で冷却するようになつ
ている。
透光性光学素子7を通過したレーザ光6は危険な
ので吸収器10を用い、その黒化吸収膜11で吸
収し、冷却ジヤケツト12で冷却するようになつ
ている。
このようなレーザパワーメータにおいては、測
定すべきレーザ光6は透光性光学素子7に直角に
入射されて該透光性光学素子7を透過し、その一
部が該透光性光学素子7で吸収されて熱エネルギ
ーになり、該透光性光学素子7の周辺部側に伝達
され、冷却器4で冷却される。この伝熱の際に生
ずる温度勾配を透光性光学素子7の周辺部に配置
された熱電対3で検出すれば、該透光性光学素子
7で吸収された熱エネルギーは透過したレーザパ
ワーに比例し、温度勾配は熱流に比例するので、
結局、熱電対3からは通過レーザパワーに比例し
た電気信号が取り出されることになる。この電気
信号が増幅器8で増幅され、表示部9で表示され
る。
定すべきレーザ光6は透光性光学素子7に直角に
入射されて該透光性光学素子7を透過し、その一
部が該透光性光学素子7で吸収されて熱エネルギ
ーになり、該透光性光学素子7の周辺部側に伝達
され、冷却器4で冷却される。この伝熱の際に生
ずる温度勾配を透光性光学素子7の周辺部に配置
された熱電対3で検出すれば、該透光性光学素子
7で吸収された熱エネルギーは透過したレーザパ
ワーに比例し、温度勾配は熱流に比例するので、
結局、熱電対3からは通過レーザパワーに比例し
た電気信号が取り出されることになる。この電気
信号が増幅器8で増幅され、表示部9で表示され
る。
レーザパワーの測定のみを行う場合には、透光
性光学素子7を通過したレーザ光6は、黒化吸収
膜11で吸収され、冷却ジヤケツト12で冷却さ
れるが、ここではパワー検出とは無関係なので、
冷却ジヤケツト12としては十分に厚い金属材料
を使用することができ、自由に冷却することがで
きる。
性光学素子7を通過したレーザ光6は、黒化吸収
膜11で吸収され、冷却ジヤケツト12で冷却さ
れるが、ここではパワー検出とは無関係なので、
冷却ジヤケツト12としては十分に厚い金属材料
を使用することができ、自由に冷却することがで
きる。
第2図は本発明の他の実施例を示したものであ
る。本実施例は、レーザ加工機のレーザパワー測
定に本発明を適用した例を示したものである。即
ち、本実施例では、レーザ加工機の集束レンズを
レーザパワーメータの透光性光学素子7として兼
用し、冷却器4はレーザ加工機の光学筒13の先
端に設けた例を示したものである。
る。本実施例は、レーザ加工機のレーザパワー測
定に本発明を適用した例を示したものである。即
ち、本実施例では、レーザ加工機の集束レンズを
レーザパワーメータの透光性光学素子7として兼
用し、冷却器4はレーザ加工機の光学筒13の先
端に設けた例を示したものである。
このようにすると、レーザ加工作業中に並行し
てレーザパワーの測定を行うことができる。
てレーザパワーの測定を行うことができる。
ただし、この場合、集束レンズが短焦点レンズ
の場合に、レーザビーム径が大きく変化すると誤
差が大きくなるので、長焦点レンズか、測定用の
平板状で透光性の光学素子を使つて測定を行うこ
とが好ましい。
の場合に、レーザビーム径が大きく変化すると誤
差が大きくなるので、長焦点レンズか、測定用の
平板状で透光性の光学素子を使つて測定を行うこ
とが好ましい。
また、レンズよりなる透光性光学素子7を用い
た場合には、熱電対3はレンズに直接取り付けて
も、或いは第2図に示すようにレンズの他の材料
7Aを密着させて、その材料7Aに取り付けても
よい。
た場合には、熱電対3はレンズに直接取り付けて
も、或いは第2図に示すようにレンズの他の材料
7Aを密着させて、その材料7Aに取り付けても
よい。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明に係るレーザパワ
ーメータによれば、下記のような効果を得ること
ができる。
ーメータによれば、下記のような効果を得ること
ができる。
(A) 光学系中に反射型光学素子が存在しなくても
実施することができる。
実施することができる。
(B) 光路を変更しないで実施することができる。
(C) レーザ光を通過させつつそのパワーの測定を
行うので、レーザ加工作業中にレーザパワーの
測定も並行して行うことができる。
行うので、レーザ加工作業中にレーザパワーの
測定も並行して行うことができる。
(D) 透光性光学素子に吸収される熱エネルギーは
僅かなので、その冷却も容易に行うことがで
き、且つハイパワーの測定でも容易に行うこと
ができる。
僅かなので、その冷却も容易に行うことがで
き、且つハイパワーの測定でも容易に行うこと
ができる。
第1図は本発明に係るレーザパワーメータの一
実施例の縦断面図、第2図は本発明の他の実施例
の縦断面図、第3図及び第4図は従来のレーザパ
ワーメータの縦断面図及び正面図、第5図は従来
のセンサー部における熱伝導性基板の温度分布図
である。 3……熱電対、4……冷却器、5……センサー
部、6……レーザ光、7……透光性光学素子、8
……増幅器、9……表示部。
実施例の縦断面図、第2図は本発明の他の実施例
の縦断面図、第3図及び第4図は従来のレーザパ
ワーメータの縦断面図及び正面図、第5図は従来
のセンサー部における熱伝導性基板の温度分布図
である。 3……熱電対、4……冷却器、5……センサー
部、6……レーザ光、7……透光性光学素子、8
……増幅器、9……表示部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 レーザ光が透過する透光性光学素子の周辺部
に熱電対が設けられ、更にその外側に冷却器が設
けられてセンサー部が構成されていることを特徴
とするレーザパワーメータ。 2 前記透光性光学素子がレンズである特許請求
の範囲第1項に記載のレーザパワーメータ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14773785A JPS629229A (ja) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | レ−ザパワ−メ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14773785A JPS629229A (ja) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | レ−ザパワ−メ−タ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS629229A JPS629229A (ja) | 1987-01-17 |
JPH055289B2 true JPH055289B2 (ja) | 1993-01-22 |
Family
ID=15437000
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14773785A Granted JPS629229A (ja) | 1985-07-05 | 1985-07-05 | レ−ザパワ−メ−タ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS629229A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5172200A (en) * | 1990-01-12 | 1992-12-15 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | MOS memory device having a LDD structure and a visor-like insulating layer |
EP2678709B1 (en) | 2011-02-21 | 2018-03-28 | Transrobotics, Inc. | System and method for sensing distance and/or movement |
CN116625553B (zh) * | 2023-07-19 | 2023-09-29 | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 | 一种水吸收式全吸收高能激光功率能量测量装置及方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3738168A (en) * | 1971-11-16 | 1973-06-12 | Us Air Force | Laser beam scanning device |
-
1985
- 1985-07-05 JP JP14773785A patent/JPS629229A/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3738168A (en) * | 1971-11-16 | 1973-06-12 | Us Air Force | Laser beam scanning device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS629229A (ja) | 1987-01-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11255723B2 (en) | Beam power measurement with widening | |
JP2740206B2 (ja) | 熱放射形低温度測定器 | |
US3898605A (en) | Integrated optical bolometer for detection of infrared radiation | |
US4286873A (en) | Refractometer cell with integral lens | |
JPH055289B2 (ja) | ||
US3508056A (en) | Radiation power indicator | |
JPH0249124A (ja) | サーモパイル | |
CN114543988B (zh) | 一种激光功率计 | |
CN106525249A (zh) | 一种镜面红外测温装置及测温方法 | |
JP3085830B2 (ja) | 輻射熱センサ | |
JPH0829262A (ja) | 放射検出器 | |
US6408651B1 (en) | Method of manufacturing optical fibers using thermopiles to measure fiber energy | |
US3971940A (en) | Detector absorptivity measuring method and apparatus | |
JPS6219943Y2 (ja) | ||
CN109297591A (zh) | 万瓦功率计 | |
US20060289721A1 (en) | Device for detecting optical parameters of a laser beam | |
JPS6255529A (ja) | 放射温度計 | |
JP3103338B2 (ja) | 放射温度計 | |
JPS6215416A (ja) | レ−ザ光エネルギ分布測定器 | |
JP2002107229A (ja) | 赤外線放射器及びそれを用いた赤外線放射装置 | |
JP4400156B2 (ja) | レーザ用出力モニタ | |
SU1613882A1 (ru) | Датчик теплового потока | |
Cheng et al. | Method and apparatus for determination of the total directional emissivity of opaque materials in the temperature range 300 to 600 K | |
JPS6015145Y2 (ja) | レ−ザ出力計 | |
SU783603A1 (ru) | Устройство дл бесконтактного измерени радиационной температуры движущейс проволоки |