JPH0552886A - Setting method for sampling period for measurement of harmonic by use of memory recorder - Google Patents

Setting method for sampling period for measurement of harmonic by use of memory recorder

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JPH0552886A
JPH0552886A JP24279591A JP24279591A JPH0552886A JP H0552886 A JPH0552886 A JP H0552886A JP 24279591 A JP24279591 A JP 24279591A JP 24279591 A JP24279591 A JP 24279591A JP H0552886 A JPH0552886 A JP H0552886A
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JP
Japan
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sampling
data
period
cycle
total number
Prior art date
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Pending
Application number
JP24279591A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuhiro Kodaira
康浩 小平
Kazuhiro Seki
和洋 関
Yoshiki Hondo
良樹 本道
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Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
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Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To execute an FFT operation accurately by a method wherein the quotient obtained by dividing the total number of data corresponding to one period by the total number of sampling data extracted from the data corresponding to one period is made to be a sampling period. CONSTITUTION:As to waveform data taken in on the body 11 of an apparatus, first the number of the data corresponding to one period is determined in accordance with a program stored in an external storage medium 20 and then a majority number of sampling data are extracted from the data at the highest sampling speed which a clock 13 in the body 11 has. Then, the quotient obtained by dividing the total number of the data corresponding to one period by the total number of the extracted sampling data is made to be a sampling period for setting the position of a sampling point for an FET operation out of the sampling data. At the position of this sampling period, the probability of existence of the sampling data corresponding exactly is high, and thereby the FET operation can be executed accurately.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、メモリレコーダによ
る高調波測定のためのサンプリング周期設定方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sampling period setting method for measuring harmonics by a memory recorder.

【0002】[0002]

【従来の技術】高調波測定は、一周期の波形をフーリエ
変換して周波数成分を求めることにより行なわれる。そ
して、この場合のフーリエ変換は、FFTアルゴリズム
を用いると高速で演算処理できることが知られている。
但し、FFTアルゴリズムで効率よく演算することがで
きる波形データのサンプリングポイントの個数は常に2
の累乗個に限られることになる。
2. Description of the Related Art Harmonic measurement is performed by Fourier transforming a waveform of one cycle to obtain frequency components. It is known that the Fourier transform in this case can be processed at high speed by using the FFT algorithm.
However, the number of sampling points of waveform data that can be efficiently calculated by the FFT algorithm is always 2
It will be limited to powers of.

【0003】したがって、測定する波形データの周期が
ちょうど2の累乗個に相当するサンプリングポイントの
個数(例えば、27=128, 28 =256,29=512, …のポイ
ントについてのデータ)であれば問題はない。
Therefore, the number of sampling points (for example, data for 2 7 = 128, 2 8 = 256, 2 9 = 512, ...) Points where the period of the waveform data to be measured corresponds to exactly a power of 2. If there is no problem.

【0004】しかし、既存のメモリレコーダにおけるよ
うにサンプリングのためのクロック周波数が固定されて
いる場合には、サンプリング後の波形データを2の累乗
個に一致させることがほとんどの場合困難となる不都合
があった。
However, when the clock frequency for sampling is fixed as in the existing memory recorder, it is difficult in most cases to match the sampled waveform data with a power of 2. there were.

【0005】一方、従来からある高調波測定器は、入力
信号周波数を2の累乗個を含む任意数に分周したクロッ
クを得ることができ、したがって、サンプリング速度を
決定するクロック周波数の変更が可能となっているの
で、ちょうど一周期に2の累乗個のデータのサンプリン
グとなるように調整することができた。
On the other hand, a conventional harmonic measuring device can obtain a clock obtained by dividing an input signal frequency into an arbitrary number including a power of 2, and thus the clock frequency that determines the sampling rate can be changed. Therefore, it was possible to adjust so that the power of 2 data was sampled in one cycle.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記高調波
測定器によれば、サンプリング速度を決定するクロック
周波数の変更が可能となっているので、一周期を2の累
乗個のサンプリングポイントの個数と一致させることが
でき、FFT演算によく馴染む。
By the way, according to the above-mentioned harmonic measuring device, since it is possible to change the clock frequency which determines the sampling speed, one cycle is set to the number of sampling points of power of 2 They can be matched and are well adapted to FFT operations.

【0007】しかし、上記高調波測定器とは異なり、メ
モリレコーダによる場合には、クロック周波数が固定さ
れているので、波形データの周波数に応じてサンプリン
グ速度を可変とすることができず、一連の波形データ1
から抽出されたサンプリングデータにおける一周期分に
対応する波形データの個数Tをサンプリングポイントの
個数Nで除して得られるサンプリング周期T/Nとは、
図4に示すような対応関係を示すことになる。
However, unlike the above-described harmonic measuring device, in the case of using a memory recorder, the clock frequency is fixed, so that the sampling rate cannot be varied according to the frequency of the waveform data, and a series of Waveform data 1
The sampling period T / N obtained by dividing the number T of waveform data corresponding to one period in the sampling data extracted from
The correspondence relationship as shown in FIG. 4 is shown.

【0008】すなわち、同図に示すように、波形データ
1から抽出されたサンプリングデータA1 〜A8 の位置
とサンプリング周期T/Nにより定まるサンプリングポ
イントP1 〜P3 の位置とが一致しない場合も生じる結
果、例えばサンプリングポイントP1 の位置にはサンプ
リングデータA2 が位置しているので問題はないが、サ
ンプリングポイントP2 やP3 の位置にはサンプリング
データが存在していず、したがって、サンプリングポイ
ントP2 についてはサンプリングデータA4 が、サンプ
リングポイントP3 についてはサンプリングデータA7
がそれぞれの対応データとして取扱われることになる。
That is, as shown in the figure, when the positions of the sampling data A 1 to A 8 extracted from the waveform data 1 and the positions of the sampling points P 1 to P 3 determined by the sampling cycle T / N do not match. As a result, for example, since the sampling data A 2 is located at the position of the sampling point P 1 , there is no problem, but the sampling data does not exist at the positions of the sampling points P 2 and P 3 , and therefore, the sampling is performed. The sampling data A 4 for the point P 2 and the sampling data A 7 for the sampling point P 3
Will be treated as corresponding data.

【0009】このため、FFT演算は、サンプリング周
期T/Nの位置に対応するサンプリングデータのほか、
サンプリング周期T/Nの位置に近接するサンプリング
データをも混在させた状態のデータを用いることで行な
わざるを得ず、演算結果が不正確になり、何らかの事後
的な補正処理が必要になる不都合があった。
Therefore, in the FFT calculation, in addition to the sampling data corresponding to the position of the sampling cycle T / N,
Inevitably, it is necessary to use data in a state in which sampling data that is close to the position of the sampling cycle T / N is also mixed, the calculation result becomes inaccurate, and some kind of posterior correction process is required. there were.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この発明は、従来手法に
見られた上記課題に鑑みてなされたものであり、その構
成上の特徴は、機器本体との間で格納データの送受が可
能に形成された外部記憶媒体を備えてなるメモリレコー
ダにおいて、前記機器本体の側に取り込まれた波形デー
タについては、まず、前記外部記憶媒体に格納されてい
るプログラムに従いその一周期対応データの個数を求
め、しかる後、これら一周期対応データの中から機器本
体が備える最速サンプリング速度のもとで多数個のサン
プリングデータを抽出するとともに、この際に抽出され
たサンプリングデータの総個数で前記一周期対応データ
の総個数を除して得られる商を前記サンプリングデータ
中からFFT演算用サンプリングポイントの位置を定め
るためのサンプリング周期とすることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems found in the conventional method, and its structural feature is that stored data can be transmitted / received to / from a device body. In a memory recorder having a formed external storage medium, regarding the waveform data captured on the device body side, first, the number of data corresponding to one cycle is calculated according to the program stored in the external storage medium. After that, a large number of sampling data are extracted from the data corresponding to one cycle at the fastest sampling speed provided in the device main body, and the total number of sampling data extracted at this time corresponds to the data corresponding to one cycle. Is a sample for determining the position of the sampling point for FFT operation from the sampling data by dividing the total number of It is to the period.

【0011】[0011]

【作用】このため、波形データにおける一周期対応デー
タ中から多数個のサンプリングデータを抽出することが
でき、この抽出後の多数個のサンプリングデータの総個
数で前記一周期対応データの総個数を除して得られる商
がサンプリング周期となるので、このサンプリング周期
の位置には、正確に対応するサンプリングデータが存在
する蓋然性が高くなり、それだけFFT演算を正確に行
なうことができる。
Therefore, a large number of sampling data can be extracted from the data corresponding to one cycle in the waveform data, and the total number of sampling data after this extraction is used to divide the total number of the data corresponding to one cycle. Since the quotient thus obtained becomes the sampling period, there is a high probability that the sampling data corresponding to the sampling period exactly exists, and the FFT calculation can be performed accurately accordingly.

【0012】[0012]

【実施例】以下、図面を参酌してこの発明の実施例を説
明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】図2は、この発明の実施に供されるメモリ
レコーダの概略構成を示すブロック図であり、機器本体
11は、アナログユニット15とロジックユニット16
とからなる入力ユニット17を備え、入力データは、操
作部19の操作によりROM25に記憶されているプロ
グラムにより作動するCPU12を介して演算制御さ
れ、プリンタやLCDディスプレイなどからなる出力部
18への測定結果の出力表示が可能となっている。
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a memory recorder used for implementing the present invention. The device body 11 includes an analog unit 15 and a logic unit 16.
The input data is provided to the input unit 17, and the input data is arithmetically controlled via the CPU 12 operated by the program stored in the ROM 25 by the operation of the operation unit 19, and measured to the output unit 18 such as a printer or an LCD display. The output display of the result is possible.

【0014】また、機器本体11には、RAMカードや
ROMカードやICカードなどの外部記憶媒体20の装
着が可能となっており、この外部記憶媒体20に格納さ
れているデータの機器本体11側へのロードを可能にし
て形成されている。
An external storage medium 20 such as a RAM card, a ROM card or an IC card can be attached to the device body 11, and the device body 11 side of the data stored in the external storage medium 20 can be mounted. Is formed to allow loading into.

【0015】なお、同図中、符号13はクロックを、1
4は分周回路を、21はインターフェースを、22はメ
モリコントローラを、23は内蔵されているRAMを、
24はトリガ部をそれぞれ示す。
In the figure, reference numeral 13 indicates a clock.
4 is a frequency dividing circuit, 21 is an interface, 22 is a memory controller, 23 is a built-in RAM,
Reference numerals 24 respectively indicate trigger parts.

【0016】図1は、例えば図2に示されるようなメモ
リレコーダを介して実施されるこの発明の一実施例とし
ての処理手順を示すフローチャートである。同図によれ
ば、サンプリング周期を設定するに先立ち、サンプリン
グ速度の設定と、一周期以上の波形データを取り込むこ
とができるようにするための記録長の設定とがまず行な
われる。
FIG. 1 is a flow chart showing a processing procedure as one embodiment of the present invention which is carried out via a memory recorder as shown in FIG. 2, for example. According to the figure, prior to setting the sampling cycle, the sampling speed is set and the recording length is set so that the waveform data of one cycle or more can be captured.

【0017】次いで、設定されたサンプリング速度は、
機器本体11におけるクロック13が備えるクロック周
波数のもとでの最速のものであるか否かの判別が行なわ
れる。
Next, the set sampling rate is
It is determined whether or not it is the fastest one under the clock frequency of the clock 13 in the device body 11.

【0018】この場合、サンプリング速度が最速である
と判別された場合には、ROM25に格納されている既
存のソフトを用い、前記入力ユニット17を介して機器
本体11に波形データが取り込まれる。
In this case, when it is determined that the sampling speed is the fastest, the existing software stored in the ROM 25 is used to load the waveform data into the device main body 11 via the input unit 17.

【0019】このようにして波形データが取り込まれた
後は、予め前記外部記憶媒体20から機器本体11の側
にロードされている高調波測定のためのプログラムに基
づいて、まず、当該波形データの一周期対応データの総
個数Tが求められる。
After the waveform data is captured in this way, first, based on a program for measuring harmonics that is loaded in advance from the external storage medium 20 to the device body 11, the waveform data The total number T of data corresponding to one cycle is obtained.

【0020】次いで、図3に示すように、これら一周期
対応データの中から既に設定されている最速サンプリン
グ速度のもとで多数個のサンプリングデータ5,5,・
・・を抽出するとともに、この際に抽出されたサンプリ
ングデータ5の総個数Nで前記一周期対応データの総個
数Tを除してサンプリング周期T/Nを求める。
Next, as shown in FIG. 3, a large number of sampling data 5, 5, ...
.. is extracted, and the total number N of the sampling data 5 extracted at this time is divided by the total number T of the data corresponding to one cycle to obtain the sampling cycle T / N.

【0021】このようにして求められたサンプリング周
期T/Nによりサンプリングポイント6,6,・・・の
位置が定まり、これらの各サンプリングポイント6の位
置に対応する位置関係にあるサンプリングデータ5が多
数個の前記サンプリングデータ5中から間引かれ、FF
T演算用サンプリングデータとして確保されることにな
る。
The positions of the sampling points 6, 6, ... Are determined by the sampling cycle T / N thus obtained, and a large number of sampling data 5 having a positional relationship corresponding to the positions of these sampling points 6 are obtained. FFs are thinned out from the sampling data 5
It is secured as sampling data for T calculation.

【0022】かくして、このように間引いて確保される
サンプリングデータ5は、FFT演算を行なうためのデ
ータとして用いられ、これにより高調波測定に必要な計
算等の処理が行なわれた後、その処理結果を出力部18
に表示するための表示ルーチンへと移行することで、サ
ンプリング周期設定のための処理を終える。
Thus, the sampling data 5 thus thinned out and secured is used as data for performing the FFT operation, and after the processing such as the calculation necessary for the harmonic measurement is performed, the processing result is obtained. Output section 18
The process for setting the sampling period is completed by shifting to the display routine for displaying.

【0023】この発明は、上述したようにして構成され
ているので、入力ユニット17を介して機器本他11の
側に取り込まれた波形データに対しては、クロック13
に同期させた最速のサンプリング速度のもとでその一周
期対応データ中から多数個のサンプリングデータ5,
5,・・・が抽出される。
Since the present invention is configured as described above, the clock 13 is applied to the waveform data taken into the device main body 11 side via the input unit 17.
A large number of sampling data 5, among the data corresponding to one cycle, under the fastest sampling speed synchronized with
5, ... are extracted.

【0024】既に判別している前記一周期対応データの
総個数Tは、抽出された多数個のサンプリングデータ5
の総個数Nで除され、その商であるサンプリング周期T
/Nが得られる。
The total number T of data corresponding to one cycle that has already been determined is the number of extracted sampling data 5
Is divided by the total number N of
/ N is obtained.

【0025】FFT演算のために必要なサンプリングデ
ータ5は、サンプリング周期T/Nにより定まるサンプ
リングポイント6の各位置との対応関係で定まることに
なる。
The sampling data 5 required for the FFT calculation is determined by the correspondence relationship with each position of the sampling point 6 determined by the sampling cycle T / N.

【0026】つまり、FFT演算に用いられるサンプリ
ングデータ5のそれぞれは、予め抽出されている他数個
のサンプリングデータ5,5,・・・中からサンプリン
グポイント6の各位置との対応関係のもとでで間引かれ
ることになる。
That is, each of the sampling data 5 used for the FFT calculation is based on the corresponding relationship with each position of the sampling point 6 from the other several sampling data 5, 5 ,. Will be thinned out at.

【0027】したがって、FFT演算には、サンプリン
グ周期T/Nと正確に対応している波形データとしての
サンプリングデータ5を用いることができる蓋然性が極
めて高くなり、結果的に精度の高い演算結果を得ること
ができるので、メモリレコーダによる高調波測定の精度
を高めることができる。
Therefore, it is highly probable that the sampling data 5 as the waveform data that exactly corresponds to the sampling cycle T / N can be used in the FFT calculation, and as a result, a highly accurate calculation result can be obtained. Therefore, the accuracy of harmonic measurement by the memory recorder can be improved.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、従
来タイプのメモリレコーダによっても、波形データにお
ける一周期対応データ中から多数個のサンプリングデー
タを抽出することができ、この抽出後の多数個のサンプ
リングデータの総個数で前記一周期対応データの総個数
を除して得られる商がサンプリング周期となるので、こ
のサンプリング周期の位置には、正確に対応するサンプ
リングデータが存在する蓋然性が高くなり、それだけF
FT演算を正確に行なうことができる。
As described above, according to the present invention, a large number of sampling data can be extracted from the data corresponding to one cycle in the waveform data even by the memory recorder of the conventional type, and a large number of the extracted data can be extracted. Since the quotient obtained by dividing the total number of data corresponding to one cycle by the total number of sampling data is the sampling cycle, it is highly probable that the sampling data corresponding to the sampling cycle exists exactly at this sampling cycle position. And F
The FT calculation can be performed accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例としての処理手順を示すフ
ローチャート。
FIG. 1 is a flowchart showing a processing procedure as an embodiment of the present invention.

【図2】この発明の実施に供される機器本体の概要を示
すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram showing an outline of a device body used for implementing the present invention.

【図3】この発明方法により実現されるサンプリングデ
ータとサンプリング周期との対応関係を模式的に示す説
明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram schematically showing a correspondence relationship between sampling data and a sampling period realized by the method of the present invention.

【図4】波形データから抽出したサンプリングデータと
サンプリング周期との従来手法による対応関係を示す説
明図。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a correspondence relationship between sampling data extracted from waveform data and a sampling period by a conventional method.

【符号の説明】 11 機器本体 17 入力ユニット 18 出力部 20 外部記憶媒体[Explanation of reference numerals] 11 device main body 17 input unit 18 output unit 20 external storage medium

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 機器本体との間で格納データの送受が可
能に形成された外部記憶媒体を備えてなるメモリレコー
ダにおいて、前記機器本体の側に取り込まれた波形デー
タについては、まず、前記外部記憶媒体に格納されてい
るプログラムに従いその一周期対応データの個数を求
め、しかる後、これら一周期対応データの中から機器本
体が備える最速サンプリング速度のもとで多数個のサン
プリングデータを抽出するとともに、この際に抽出され
たサンプリングデータの総個数で前記一周期対応データ
の総個数を除して得られる商を前記サンプリングデータ
中からFFT演算用サンプリングポイントの位置を定め
るためのサンプリング周期とすることを特徴とするメモ
リレコーダによる高調波測定のためのサンプリング周期
設定方法。
1. A memory recorder comprising an external storage medium capable of transmitting and receiving stored data to and from a device body, wherein the waveform data fetched on the device body side is first stored in the external device. According to the program stored in the storage medium, determine the number of data corresponding to one cycle, and then extract a large number of sampling data from the data corresponding to one cycle at the fastest sampling speed provided in the device main body. The quotient obtained by dividing the total number of the one-cycle correspondence data by the total number of the sampling data extracted at this time is used as the sampling period for determining the position of the sampling point for FFT calculation from the sampling data. A sampling period setting method for measuring harmonics by a memory recorder.
JP24279591A 1991-08-28 1991-08-28 Setting method for sampling period for measurement of harmonic by use of memory recorder Pending JPH0552886A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6731265B1 (en) 1997-03-27 2004-05-04 Sharp Kabushiki Kaisha Display apparatus and method for driving the same
JP2006098287A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Yokogawa Electric Corp Harmonic component measuring apparatus
JP2008256426A (en) * 2007-04-03 2008-10-23 Yokogawa Electric Corp Digital oscilloscope

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6731265B1 (en) 1997-03-27 2004-05-04 Sharp Kabushiki Kaisha Display apparatus and method for driving the same
JP2006098287A (en) * 2004-09-30 2006-04-13 Yokogawa Electric Corp Harmonic component measuring apparatus
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