JPH0552454B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 イ 産業上の利用分野 本発明は薄膜クロマツグラフイとかゾーン電気
泳動法で展開された試料成分を定量成分する場合
等に用いられるデンシトメータに関する。

ロ 従来の技術 従来のデンシトメータは試料成分が展開された
プレート上の試料スポツトを光ビームで走査する
際、光ビームを固定しておいてプレートの方をジ
グザグ運動させていた。この構成によるときは往
復運動を行う部分がプレートとプレートを保持す
る台とで慣性が大きいから、余り高速の往復運動
を行うことができず、走査速度を上げる場合のネ
ツクになつていた。このため走査速度を上げるに
は他の方法を用いる必要があり、プレートには一
方向の送りだけを与え、光ビームの方を右左に振
らせるフライングスポツト方式の装置が用いられ
ている。しかしフライングスポツト方式はプレー
トからの反射光を測定する場合、光検出器に入射
するプレートから反射光に対して光スポツトのフ
レート上の位置による入射角の違い等の補正を行
えばよいが、透過光を測定する場合には、透過光
の位置の移動が大きいため一つの光検出器では検
出そのものが困難であつた。

ハ 発明が解決しようとする問題点 本発明はフライングスポツト方式のデンシトメ
ータで透過光を測定する場合における上述した問
題を解決し、透過光測定を可能にしようとするも
のである。

ニ 問題点を解決するための手段 本発明は第１図に示すようにプレートＰを透過
した走査光を非結像性のビームコレクタＣを用い
て光検出器Ｄに導くようにした。またビームコレ
クタは光の入射方向及び位置によつて光を検出器
Ｄに導く効率が異るから測定に先立ち補正データ
を採取する初期動作を行わせるようにした。

ホ 作用 第１図でＢは試料であるプレートＰを走査する
光ビームでミラーｍの揺動により角度θの範囲を
往復する。これに対してプレートＰは図の紙面に
垂直の方向に移送される。ビームコレクタは内面
が反射面になつているラツパ状の筒で底部位置に
光検出器Ｄが配置される。ビームコレクタＣに対
してプレート透過光はＴからT′の範囲で入射位
置及び方向が変化する。ビームコレクタＣに入射
した光はビームコレクタＣの内面で反射され、結
局は光検出器Ｄに入射せしめられる。ビームコレ
クタＣがない状態を考えると、透過光のＴ，
T′等は点線のように進み、検出器Ｄに入射でき
るのはＱ，Q′点における散乱光の一部だけであ
り、実際上測定はできないが、ビームコレクタＣ
を設けることにより、Ｔ，T′のような位置の透
過光も測定可能となる。また例えばT₀のような
透過光とＴ，T′のような透過光とでは光検出器
Ｄに導かれる効率が異る。このため予めプレート
がない状態で光ビームＢを角θの範囲で振らせて
そのときの光ビームの位置と光検出器Ｄの出力と
の関数関係を記憶しておき、測定時に補正演算を
行つて、この効率の差を消去する。

ヘ 実施例 第２図は本発明の一実施例を示す。１，１′は
高原のランプで一方はタングステン電球、他方は
D2ランプで測定波長域により何れかゞ選択点灯
される。２は集光ミラーで光源１，１′の光を分
光器３の入射スリツト位置に集光させる。４は揺
動ミラーで第１図にｍで示したものに相当し、パ
ルスモータ５によつて揺動駆動される。６は試料
ステージでｘ，y2方向に駆動することができる。
分光器３の出射光はミラー４で反射され、試料ス
テージ面でＱ，Q′の範囲を往復せしめられる。
図では省略されているが、分光器３とミラー４と
の間に集光光学系があつて、分光器３の出射光は
試料ステージ面に集光せしめられ光のスポツトを
形成している。７はビームコレクタで内面が鏡面
の偏平なラツパ状の筒で、方物面鏡のような結像
性がないものであつて、その偏平な方向が光ビー
ムＢの移動範囲と平行に配置されている。８はビ
ームコレクタ７の底部開口にセツトされた光検出
器である。このビームコレクタは光の入射口から
出射口に向つて断面が縮小して行く形であり、入
射口の長径に比し、深さが比較的大きく、非結像
性であるから、或る角度範囲であればどのような
方向から入射した光を繰返し反射によつて出射口
に到達するものである。

試料のプレートは試料ステージ６上に載置さ
れ、ｙ方向に移送されて一定幅の帯状範囲が光ス
ポツトによつてジグザグに走査される。一定幅の
帯状範囲の走査が終ると、試料ステージはｘ方向
に動いて、プレート上の別の範囲を光スポツトの
走査位置に持つて来る。

第３図は上述実施例における信号処理系の構成
を示す。光検出器８の出力はプリアンプ９を経て
対数増幅器１０で対数変換されて吸光度信号とな
り、Ａ／Ｄ変換器１１でデイジタルデータとなり
コンピユータ（CPU）１２に続込まれる。CPU
１２ではこのデータに対して補正演算を施して積
分を行い、その結果をプリンタ等の表示装置１３
に出力する。CPU１２はステージ駆動装置１４
に制御信号を送り、試料ステージ６を動かしてい
る。またパルスモータ駆動回路１５にも信号を送
つて、パルスモータ５を正逆転させてミラー４を
傾動させ光ビームを揺動させている。このとき、
CPUはパルスモータ５に供給されたパルスをカ
ウントしてミラー４の傾きを検出しており、この
傾きのデータから試料ステージ６上における光ス
ポツトの位置を算出している。CPU１２は測定
に先立ち初期動作として、試料スデーシ６をその
上に載置されたプレートが光ビームを切らない位
置まで移動させ、ミラー４を傾動させて、上述し
た光スポツトの位置と、そのときのＡ／Ｄ変換器
の出力、即ち検出器８の検出信号を対数変換した
データとをメモリ１６に記憶させる。この動作に
おいては、試料のプレートが光ビームの通路にな
いから、このときの光検出器８の出力はビームコ
レクタ７の導光効率の情報を与える。CPU１２
は以上の初期動作を行つた後、試料ステージ６を
動かしてプレートの走査開始点を所定位置に持つ
て来、測定を開始する。測定時における補正演算
は測定時の対数増幅器１０の出力をlogS、同じ
光スポツト位置に対する初期動作時の対数増幅器
出力をlogBとすると、補正演算は Ａ＝logS−logB であつて、この補正演算を測定走査を行つている
間各光スポツト位置において行う。

第４図は本発明の他の一実施例を示す。この図
においても、第２図の各部と対応する部分には同
じ番号が付けてある。この実施例は光ビームを往
復偏向させる手段として分光器の出口スリツトを
Ｓを往復運動させこのスリツトの像を固定ミラー
Ｍ，M′によつて試料ステージ面に形成させるよ
うにしたものであり、ミラーＭが結像用の凹面鏡
になつている。結像用ミラーＭに対して物点であ
る出口スリツトＳが往復運動するので、それに応
じて試料ステージ面の像も往復運動する。このと
き試料ステージから見るとき、ミラーＭのミラー
M′による虚像m′の中心を中心として試料ステー
ジ面への入射光ビームが振れているように見える
ので、光ビームの振れ角θは第２の実施例に比し
小さくはできるが、それでも、往復範囲の中央付
近以外の光ビームのプレート透過光を直接有効に
光検出器８に入射させることはできずビームコレ
クタ７を用いる。

ビームコレクタ７はガラス或はプラスチツクで
作られ、内面にミラーコーテイングを施したもの
であるが、内部のつまつたガラス或は石英で第２
図のような形にし表面にミラーコーテイングを行
つたものでもよい。

ト 発明の効果 本発明デンシトメータは光ビーム走査方式であ
るから高速走査が可能であり、ビームコレクタを
用いて異る方向に向う試料透過光を光検出器に導
くようにしたから、光検出器に対して光ビームの
試料照射位置が動くにもかゝわらず試料透過光を
検出することができ、従来困難であつた透過光に
よる試料測定も可能となり、またビームコレクタ
が非結像性であるから工作精度が低くてもよく、
かつどのような入射方向の光でも光検出器の所へ
導かれるので、試料の直透過光だけでなく、散乱
光も補足でき、しかも初期動作によつて補正デー
タを採取しておくことにより光ビームの方向の変
化による光検出器の受光効率の変化に対する補正
を行うことで光ビームの方向変化の影響が除去さ
れ正確な定量測定ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の概要を示す図、第２図は本発
明の一実施例装置の構造斜視図、第３図は同実施
例の信号処理系の構成を示すブロツク図、第４図
は本発明の他の一実施例の構造斜視図である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 光ビームを往復偏向させる手段と、試料ステ
   ージの光ビーム入射側とは反対側に配置され、上
   記光ビームが入射する非結像性のビームコレクタ
   と、同ビームコレクタの底部に配置された光検出
   器とを有し、測定に先立つ初期動作として、試料
   がない状態における光ビームの偏向位置と、その
   ときの光検出器出力との関係を記憶しておき、測
   定動作において、光検出器出力に対し、上記記憶
   されているデータを用いて、光ビームの位置によ
   る光検出器の受光効率の変化に対する補正演算を
   行う信号処理系を備えたデンシトメータ。